JP2015527591A5

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Publication number: JP2015527591A5
Application number: JP2015530392A
Authority: JP
Filing date: 2013-09-05
Publication date: 2016-10-06
Anticipated expiration: 2033-09-05

Claims

光反射率測定装置（１０）において、分析試験エレメント上の試料塗布を判定する方法であって、
ａ．体液試料の塗布のために使い捨て可能な試験エレメント（１２）を提供するステップと、
ｂ．前記試験エレメント（１２）から、ブランク測定値から開始する反射率測定値のシーケンスを取得するステップと、
ｃ．試料が塗布されているかどうかを判定するために、試料認識サイクルにおいて、試料塗布条件に対する前記反射率測定値の変化を監視するステップと
を含み、
ｄ．試料塗布前に、前記反射率測定値から算出されるドリフト補正にしたがって、前記試料塗布条件を調整することであって、前記試料塗布条件が、反射率の減少または反射率の閾値に関する限界によって定められ、ドリフト補正値が、前記試料認識サイクルを中断することなく前記試料塗布条件を調整するために提供される、前記試料塗布条件を調整すること、および
ｅ．前記試料塗布条件が満たされた後、さらなる反射率測定値によって、前記試料の塗布を確認すること
を特徴とする方法。
前記光反射率測定装置（１０）が、グルコース測定用である請求項１記載の方法。
前記反射率測定値のシーケンスにおける、前記ブランク測定値と実際の反射率測定値との差が、所定の反射率の減少よりも大きい場合に、前記試料塗布条件が満たされたとみなされる請求項１または２記載の方法。
前記所定の反射率の減少を得るために、ドリフト補正値が所定の信号の減少に加算される請求項３記載の方法。
前記反射率測定値のシーケンスにおける実際の反射率測定値が、所定の反射率の閾値よりも小さい場合に、前記試料塗布条件が満たされたとみなされる請求項１または２記載の方法。
前記所定の反射率の閾値を得るために、ドリフト補正値が所定の信号閾値から減算される請求項５記載の方法。
前記試料塗布条件が満たされる前に取得される前記ブランク測定値および１つまたは２つ以上の反射率測定値から、ドリフト補正値を算出することをさらに含む請求項１〜６のいずれか１項に記載の方法。
実際の反射率の平均値が、前記シーケンスの所定数の最新の反射率測定値の平均値として算出され、ドリフト補正値を得るために前記ブランク測定値から減算される請求項１〜７のいずれか１項に記載の方法。
前記試料塗布条件が満たされた後、少なくとも１つの反射率測定値を用いて、前記試料中の分析物濃度を決定することをさらに含む請求項１〜８のいずれか１項に記載の方法。
前記ドリフト補正の限界を定めること、および前記限界を超える場合に測定を終了することをさらに含む請求項１〜９のいずれか１項に記載の方法。
前記反射率測定値のドリフトが、周囲測定条件によって引き起こされる請求項１〜１０のいずれか１項に記載の方法。
前記反射率測定値のドリフトが、周囲の湿度、温度または紫外線によって引き起こされる請求項１１記載の方法。
試料塗布時の前記試験エレメント（１２）の反射率の落ち込みが、前記反射率測定値のドリフトよりも著しく速く起きる請求項１〜１２のいずれか１項に記載の方法。
分析試験エレメント上への試料塗布を判定するように構成される光測定装置（１０）であって、
ａ．体液試料を塗布することができる使い捨て可能な試験エレメント（１２）を受容するように構成される受容ユニット（１４）と、
ｂ．前記試験エレメント（１２）から、ブランク測定値から開始する反射率測定値のシーケンスを取得するように構成される検出器（１６）と、
ｃ．試料が塗布されているかどうかを判定するために、試料認識サイクルにおいて、試料塗布条件に対する反射率測定値の変化を監視するように構成される信号プロセッサ（２２）と
を備え、
ｄ．試料塗布前の前記反射率測定値からドリフト補正を算出し、前記ドリフト補正にしたがって前記試料塗布条件を調整するように構成される演算ユニット（２４）を備え、前記試料塗布条件が、反射率の減少または反射率の閾値に関する限界によって定められ、ドリフト補正値が、前記試料認識サイクルを中断することなく前記試料塗布条件を調整するために提供され、前記演算ユニット（２４）が、さらに、前記試料塗布条件が満たされた後、さらなる反射率測定値によって、前記試料の塗布を確認するように構成されること
を特徴とする光測定装置（１０）。
前記分析試験エレメントが、グルコース測定用である請求項１４記載の光学測定装置（１０）。
前記試験エレメント（１２）が、前記試料中の分析物と反応し、前記試験エレメント（１２）の試験フィールド（１８）の反射率を変更する試薬を備える請求項１４または１５記載の光測定装置（１０）。
前記試験エレメント（１２）が、使い捨て可能な試験ストリップであり、前記受容ユニット（１４）が、前記検出器（１６）に対して前記試験ストリップを配置するためのストリップ把持部として形成される請求項１４〜１６のいずれか１項に記載の光測定装置（１０）。