JP2015524063A - 試験シーケンス中に、被試験デバイス（ｄｕｔ）に規定のデータを伝送し、伝送を確認する方法 - Google Patents

Abstract

試験シーケンス中に被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する方法。一実施形態に従って、規則的な規定の試験シーケンス中において、ＤＵＴの識別パラメーター、ＤＵＴの動作特性、及びデータの要求、のうちの少なくとも１つに関連するデータを含む、データパケットがテスターから被試験デバイス（ＤＵＴ）に伝送される。このような伝送されたデータの例としては、ＤＵＴを識別するためのアドレスデータ（例えば、固有のメディアアクセス制御（ＭＡＣ）データ）、ＤＵＴの動作特性を制御するための較正データ（例えば、信号電力レベル、信号周波数、又は信号変調特性）が挙げられる。別の実施形態に従って、ＤＵＴは、データの要求に応答して、又はテスターとの同期への予めプログラミングされた応答として、データを呼び出して、テスターに伝送する。

Description

本発明は、試験シーケンス中に、試験システムにより規定のデータを被試験デバイス（ＤＵＴ）に伝送し、伝送を確認するための方法に関する。

非常に大きく発展することが予想される、ＩＥＥＥ ８０２．１１基準に準拠する無線技術の１つの使用方法は、機械同士の通信をもたらすいわゆる「インターネット・オブ・シングス（Internet of Things）」（ＩｏＴ）デバイスでものある。あらゆる無線デバイスと同様に、ＩｏＴデバイスは、これらが機能し、基準を規定した仕様（他の無線デバイスとの干渉を最小化することを意図する）を満たすことを確実にするため、製造中に試験されなくてはならない。

このようなＩｏＴデバイスには、これらの送信される信号以外に、情報を伝送するいくらかの方法をもたらす、低コストのデバイスであることが期待される。それでも、ＩｏＴ無線環境において動作するために、ＩｏＴデバイスは例えば、これに割り当てられた固有のメディアアクセス制御（ＭＡＣ）アドレスを有さなくてはならない。このアドレスは例えば、標準的な伝送制御プロトコル（ＴＣＰ）、及びインターネット・プロトコル（ＩＰ）（ＴＣＰ／ＩＰ）パケットのヘッダフィールドで使用される。これは、送信機から送信したパケットを受信する別の機械までを特定する。加えて、製造試験中に、較正データなどの他の値もまた伝送及び使用され得る。

通常の規定の試験シーケンス中に、固有のＭＡＣアドレス及び他の値を伝送することができ、このことにより、試験時間及び費用が最小化され、別個の情報伝送工程が回避される方法を考案することが課題である。（規定の試験シーケンスに従って既存の試験環境内において試験するためのシステム及び方法が開発されてきたが、ＭＡＣアドレス若しくは他のデバイスアドレス、又は伝送データの割り当てには対処していない。例えば、米国特許番号第７，５６７，５２１号、同第７，６８９，２１３号、同第８，０３６，６１７号、及び同第８，０８５，６８５号、並びに米国特許出願第１２／８７３，３９９号、及び同第１３／４３７，６５２号を参照のため、これらは本明細書に組み込まれる）加えて、多様な制御及びインターフェース機能を備える大型のデバイスにおいては、各別個のデバイスタイプに特化した方法よりも、このようなデバイス全てに対処する方法を有する方が有利である。

本発明に従って、試験シーケンス中において、被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するための方法が提供される。一実施形態に従って、通常の規定の試験シーケンス中において、ＤＵＴの識別パラメーター、ＤＵＴの動作特性、及びデータの要求のうちの少なくとも１つに関連するデータを含む、データパケットがテスターから被試験デバイス（ＤＵＴ）に伝送される。このような伝送されたデータの例としては、ＤＵＴを識別するためのアドレスデータ（例えば、固有のメディアアクセス制御（ＭＡＣ）データ）、ＤＵＴの動作特性を制御するための較正データ（例えば、信号電力レベル、信号周波数、又は信号変調特性）が挙げられる。別の実施形態に従って、ＤＵＴは、データの要求に応答して、又はテスターとの同期への予めプログラミングされた応答として、データを呼び出して、テスターに伝送する。

本発明の一実施形態に従って、試験シーケンス中に被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する方法は、
テスターと被試験デバイス（ＤＵＴ）を同期させる工程と、
同期に応答して、ＤＵＴで、
ＤＵＴの識別パラメーター、及びＤＵＴの動作特性のうちの少なくとも一方に関するデータを保存する工程、
データを呼び出す工程、及び
データパケットを送信する工程のうちの少なくとも１つを実行する工程と、を含む。

本発明の別の実施形態に従って、試験シーケンス中に、被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するためにテスターを操作する方法は、
テスターで、同期開始信号を送信する工程と、
テスターで、ＤＵＴからの同期確認信号を受信する工程と、
テスターで、ＤＵＴの識別パラメーター、ＤＵＴの動作特性、及びデータの要求のうちの少なくとも１つに関連するデータを含む、１つ以上のデータパケットを含むデータ信号を送信する工程と、
ＤＵＴからテスターで、データ信号に関するデータパケットを受信する工程と、を含む。

本発明の別の実施形態に従って、試験シーケンス中に、被試験デバイス（ＤＵＴ）を操作する方法は、
ＤＵＴで、テスターから同期開始信号を受信する工程と、
ＤＵＴで、同期確認信号を送信する工程と、
同期に応答して、ＤＵＴで、
ＤＵＴの識別パラメーター、及びＤＵＴの動作特性のうちの少なくとも一方に関するデータを保存する工程、
データを呼び出す工程、及び
データパケットを送信する工程のうちの少なくとも１つを実行する工程と、を含む。

図１は、製造試験環境における無線データ通信の機能ブロック図を示す。 図２は、本発明の代表的な実施形態に従って、テスターとＩｏＴＤＵＴとの間の信号及び情報の交換を示す。 図３は、本発明の別の実施形態に従って、テスターとＩｏＴＤＵＴとの間の信号及び情報の交換を示す。 図４は、本発明の別の実施形態に従って、テスターとＩｏＴＤＵＴとの間の信号及び情報の交換を示す。 図５は、本発明の別の実施形態に従って、テスターとＩｏＴＤＵＴとの間の信号及び情報の交換を示す。 図６は、本発明の別の実施形態に従って、テスターとＩｏＴＤＵＴとの間の信号及び情報の交換を示す。

試験システムとＤＵＴとの間のデータ伝送方法は、規定の試験シーケンスの関連で記載される。このような規定の試験シーケンスの例は、米国特許番号第７，６８９，２１３号に記載される。ここで、試験パケットの規定のシーケンスがテスターとＤＵＴとの間で伝達される。これらは典型的には、いわゆる「ブロック」に分割される。記載の方法は、この規定の試験シーケンス及びそのブロック構造を利用し、試験シーケンスブロックを規定の試験シーケンスの関連において利用する。

本明細書において記載される実施例は、例であることが意図されるもので、規定の試験シーケンスの一部として試験システムからＤＵＴにデータを伝送する方法を含む、本発明の範囲を制限するべきものではない。開示される実施例において、データは、デバイスネットワーク識別において重要な役割を果たすＭＡＣアドレスであってよく、テスターがＭＡＣアドレス割り当て工程を省略し、較正データなどの操作データをＤＵＴ伝送する方法を含み得る。

本発明の開示を通じて、内容から反対であるという明確な指示がなければ、説明するような個々の回路要素は、数において単数の場合もあれば複数の場合もあることが理解されるであろう。例えば「回路（circuit）」及び「回路（circuitry）」という用語は、説明される機能を提供するために能動的及び／又は受動的であり、かつ互いに接続されるか又は他の方法で結合されている単一の構成要素又は複数の構成要素のいずれかを含み得る。更には、「信号」という用語は、１つ以上の電流、１つ以上の電圧、又はデータ信号を指す場合がある。図面内では、同様又は関連する要素は、同様又は関連する英字、数字、若しくは英数字の指示子を有する。更には、本発明は、個別の電子回路機構（好ましくは、１つ以上の集積回路チップの形態）を使用する実装に関連して論じられているが、そのような回路機構のいかなる部分の機能も、処理される信号周波数又はデータ転送速度に応じて、適切にプログラムされた１つ以上のプロセッサを使用して、代替的に実装することができる。

製造試験の最近のイノベーションの中でもとりわけ、試験システムと被試験デバイス（ＤＵＴ）との間で調整される、規定の試験シーケンスが使用され、試験システムとＤＵＴとの間で必要とされる非試験通信相互作用の量が最小化される。このようなイノベーションは、米国特許第７，６８９，２１３号に記載される。

ＩｏＴデバイスに関する傾向として、ＭＡＣアドレス識別値、及び他の情報をこれらのデバイスに伝送することが必要とされるであろう。試験中、及びより具体的には、所定の試験シーケンスを含む試験中にこれを行うことが利点である（例えば、米国特許第７，６８９，２１３号に記載される）。

ＩｏＴデバイスが、広範な様々な能力及び制御プロセッサを有することが予測される。したがって、制御プロセッサーインターフェースを使用して、ＭＡＣアドレス、及び例えば、較正データを伝送するプロセスが、多くの異なりかつ適合しない手順を必要とする。したがって、例えば、テスターからＩｏＴデバイスへと送信された試験パケットを使用し、この値をパケットのペイロードの一部として伝送させることにより、全てのＩｏＴデバイスにわたって一貫した方法により、このデータを伝送することが好ましいであろう。

図１に示されているように、一般的な製造試験環境における無線データ通信は、ＤＵＴ １００、試験の制御のためのコンピュータ１５０、及び試験機器１６０（例えば、それぞれ、試験信号を生成し、ＤＵＴに送信するためのベクトル信号発生器（ＶＳＧ）１６０ｇ、及びＤＵＴ １００からの信号を受信及び処理するベクトル信号分析器（ＶＳＡ）１６０ａ）を含み、これらは全て、図示されるように実質的に相互接続されている。ＤＵＴ １００は、ホストプロセッサ１１０、メモリ１２０（例えば、不揮発性メモリ）、ワイヤレス送受信機１３０、及び１つ以上の周辺デバイス１４０を含む、多くの埋め込まれたサブシステムを有し、これらは図示されるように実質的に相互接続されている。ホストプロセッサ１１０は、様々な制御インターフェース１２１、１１１、１１３を介して、メモリ１２０、無線送受信機１３０、及び周辺デバイス１４０を制御する。典型的には、メモリ１２０は、ファームウェアとして、ＤＵＴ １００によって使用されるプログラムを記憶する。制御コンピュータ１５０は一般的に、例えば、ユニバーサルシリアルバス（ＵＳＢ）、シリアル周辺インターフェース（ＳＰＩ）、ＲＳ−２３２シリアルインターフェースなどの外部インターフェース１５１を介して、ＤＵＴ １００を制御する製造試験ソフトウェアを実行する。制御コンピュータ１５０はまた、例えば、ＵＳＢ、汎用インターフェースバス（ＧＰＩＢ）、イーサネット（登録商標）などの別のインターフェース１６１を介して、試験機器１６０を制御する。テスター機器１６０はインターフェース１０１（これは無線インターフェースであってもよいが、製造試験目的においては通常、有線インターフェースである）により、無線送受信機１３０と通信する。

典型的な送信機試験シナリオにおいて、制御コンピュータ１５０は、１つ以上の命令をホストプロセッサ１１０に送信し、このホストプロセッサ１１０はこの命令を無線送受信機１３０のための対応する命令へと変換する。試験インターフェース１０１により、試験信号を送信した後、制御コンピュータ１５０は、無線送受信機１３０がそのプログラミングされた出力周波数及び電力で安定するまでの適切な遅延の後に、試験機器１６０から（そのインターフェース１６１を介して）測定結果を呼び出す。

しかしながら、このような製造試験環境は、多くの種類のＤＵＴを試験するために実行可能である一方で、ＩｏＴデバイスは（殆どの場合においては必然的に）コンピュータ／コントローラー１５０と通信するためのインターフェースが制限されているか、場合により有さないことが予想される。更に、このようなインターフェースが提供されたとしても、標準的な通信プロトコルが現在存在しない。したがって、通信及び制御経路は、通常のデバイス動作中に使用される無線データ信号経路により可能であるもののみに限定され得る。

図２に示されているように、代表的な実施形態２００ａに従って、テスター１６０の動作２００ａｔ、及びデバイス１００の動作２００ａｄが以下のように実行される。（上記の特許及び出願に記載される試験技術と同様に、データパケットの規定のブロックが、テスター１６０とＤＵＴ １００との間で交換される）テスター１６０は、同期開始信号２０２を送信し、これに応答して、デバイス１００は、同期を確認する確認応答信号２０４を送信する。一度同期が確立されると、テスター１６０は、一連の送受信機が送受信した信号試験に関連する、様々なブロックを構成する試験パケット（図示されない）の規定のシーケンスを送信する。一度このようなブロックは、規定の試験シーケンス内における位置および内容に関し、テスター１６０及びデバイス１００の双方が一度同意すると、物理層サービスデータユニット（ＰＳＤＵ）２０６として、ＶＳＧ １６０ｇ（図１）により送信されるが、これはＭＡＣアドレスを含む。デバイス１００がＭＡＣアドレスと共にパケットを受信した後、これは確認応答パケット２０８を送信して、テスター１６０に、ＣＲＣ（周期性の冗長性チェック）エラーなしにパケットが受信されたことを知らせる。ＶＳＡ １６０（図１）は、確認応答パケット２１０を受信する。

ＰＳＤＵ ２０８を受信すると、デバイス１００はその後、その内部不揮発性メモリ２１２（一般的には、ワンタイムプログラマブル（ＯＴＰ）メモリの形態）に、受信したＭＡＣアドレスをプログラミングする。デバイス１００はその後、典型的には単純なデバイスリセットによって、プログラミングしたＭＡＣアドレス２１４をアクティブにする。これがプログラミングされたＭＡＣアドレスを有効化し、これが今度は送信されたデータパケット２１６の一部となり、その１つがテスター１６０に戻される。

テスター１６０は、この標準的なデータパケット２１８を受信及び復号し、デバイス１００のメモリ内に保存され、データパケット２１６の一部として送信されたＭＡＣアドレスを呼び出す。テスター１６０は、この受信したＭＡＣアドレスを、ＰＳＤＵ ２０６の部分としてＶＳＧ １６０ｇにより元々送信されたＭＡＣアドレスと比較する（２２０）。これらの２つのＭＡＣアドレスが同一のものとして確認されると、この確認はデバイス１００が指定された送信ブロックの処理が完了し、規定の試験シーケンスを継続するために準備完了していることを、テスター１６０に指示するものとして機能する。

図３に示されているように、別の代表的な実施形態２００ｂに従って、テスター１６０の動作２００ｂｔ及びデバイス１００の動作２００ｂｄが相互作用して、同期２０２、２０４の形成の後に、ＶＳＧ １６０ｇはＰＳＤＵ ２０６ａを送信し、ここでＭＡＣアドレスを識別するために使用されるデータパケット部分に割り当てられるビットの選択によってＭＡＣアドレスは省略され得る。デバイス１００は、ＰＳＤＵを受信し、確認応答２０８を送信し、これはＶＳＡ １６０ａにより受信される（２１０）。デバイス１００はまた、ＭＡＣアドレス割り当て（２２２）の識別のためのデータパケットビットをチェックする。これらのビットが、ＭＡＣアドレスが割り当てられるべきであることを示す場合（２２３ｎ）、このようなＭＡＣアドレスは、上記のようにＯＴＰメモリに書き込まれ（２１２）、アクティブにされる（２１４）。このアクティブ化（２１４）の後、標準的なデータパケットが送信されて（２１６）、ＶＳＡ １６０ａにより受信される（２１８ａ）。

これに代えて、ＭＡＣアドレスデータは、定められたアドレス、又は所望により他の規定のＭＡＣアドレスとして、全て１６進法の値Ｆ、又は００から始まるアドレスを含む、ブロードキャストアドレスであってもよい。これらのデータビットがこのようなＭＡＣアドレスを示す場合（２２３ｙ）、ＭＡＣアドレスはＯＴＰメモリに書き込まれず、このメモリからアクティブ化されない。代わりに、デバイス１００は標準的なデータパケット２１６を送信し、ＶＳＡ １６０ａにより受信される（２１８ａ）。

更に代替的に、他の規定のＭＡＣアドレスが、他の動作を割り当てるためにも使用され得る。このような選択肢は、同じデバイス１００により複数の試験の実行を可能にするため、又は試験が失敗し、有効なＭＡＣアドレスを割り当てるのがまだ望ましくなく、後により良好な試験を達成するためにデバイス１００の再動作を待つ場合に使用され得る。

上記のように、標準的なデータパケット２１６の送信は、デバイス１００による送信ブロックの処理の完了を示し、ＶＳＡ １６０ａによる受信２１８によりこのブロック動作が完了する。

図４に示されているように、別の代表的な実施形態２００ｃにより、テスター１６０の動作２００ｃｔ、及びデバイス１００の動作２００ｃｄが以下のように実行される。ＶＳＧ １６０ｇは、デバイス１００が対応する目的（例えば、送信信号電力、信号周波数、ビットレート、変調種類などの較正）で使用するために、規定のシーケンス中において、送信されるパケットブロックのペイロードの一部として、デバイス１００の較正データなどの他の動作データを含むＰＳＤＵ ２０６ｂを送信する。上記のように、ＰＳＤＵの受信及び確認応答（２０８）の後、ＯＴＰメモリに動作データが書き込まれ（２１２）、そこでアクティブ化（２１４）され、その後標準的なデータパケットが送信されて（２１６）、ＶＳＡ １６０ａにより受信される（２１８ａ）。標準的なデータパケットの送信（２１６）は、動作データが受信及び保存され、指定のブロックが完了したことを示す。

あるいは、このシーケンス中に、ＯＴＰメモリ内に動作データを保存するのが望ましくない場合（例えば、較正が失敗し、このデータが有効でない場合）、デバイス１００は、ＯＴＰメモリの内容のデフォルト値を送信する（２１６）か、又は１つ以上の指定のデータパケットビットを使用して、データが書き込まれるべきかどうかを指示する（図３の実施形態２００ｂに記載されるシーケンスと同様）。

図５に示されているように、別の代表的な実施形態２００ｄに従って、テスター１６０の動作２００ｄｔ、及びデバイス１００の動作２００ｄｄが以下のように実行される。ＯＴＰメモリ２１２に書き込まれる動作データは、デバイス１００により送信される（２１６ａ）標準的なデータパケット内のデータパケットペイロードの一部として含まれ得る。ＶＳＡ １６０ａによりこのデータパケットを受信及び復号（２１８ｂ）した後、復号された動作データを有するペイロードが、ＰＳＤＵ ２０６ｂの一部として元々送信された動作データと比較され得る。これにより、保存された動作データが更に検証される（図２にシーケンス２００ａと同様）。これにより、テスター１６０は動作データが良好に伝送され、デバイス１００に保存されたことを確認し、一方でまたブロックの完了を確認することができる。

図６に示されているように、代替的な実施形態２００ｅに従い、ＶＳＧ １６０ｇがＯＴＰメモリに書き込まれる（２１２）ＭＡＣ又は動作データを備えるＰＳＤＵ ２０６ａ／２０６ｂを送信する代わりに、又はこれに加えて、ＰＳＤＵ ２０６ｃは、送信される標準的なデータパケット（２１６）内のデータパケットペイロードの一部として含めるために、他のデータがデバイス１００により呼び出されるための要求を（代わりに又は更に）含み得る。例えば、ＯＴＰメモリ内にデータを書き込み（２１２）、アクティブ化する（２１４）代わりに、又はこれに加えて、デバイス１００は、局所的に利用可能なデータ（２２２）を呼び出し、送信（２１６）される１つ以上のペイロードパケットの一部としてこれを含む。このようなデータは実質的にあらゆるソースからの実質的にあらゆる形態のもの、例えば、デバイス動作データ（例えば、メモリ１２０に保存される、テスター１６０から受信される信号の強度を識別するＲＳＳＩデータ、デバイス１００の電力消費を識別する電力データなど）又はデバイス環境データ（例えば、１つ以上の周辺デバイス１４０により供給される、温度、高度、湿度、地理的な位置などの、現地で測定される環境パラメーターを識別するセンサーデータ）であり得る。

更に、このような代替的な実施形態２００ｅに従って、デバイス１００は、同期の達成（２０２、２０４）に応答し、所望のデータが呼び出され（２２１、２２２）、標準的なデータパケット（２１６）のデータパケットペイロードの一部として送信されるようにしてプログラミングされ得る。還元すれば、ＶＳＧ １６０ｇが、ＶＳＧ １６０ｇがデータ要求（２０６ｃ）を送信し、これがデバイス１００により確認応答される（２０８）ことが必要ではない。

本発明の範囲及び思想から逸脱することなく、本発明の動作の構造及び方法における様々な他の修正並びに代替が、当業者には明らかであろう。本発明は、特定の好ましい実施形態に関連して説明したが、本発明は、このような特定的な実施形態に不当に限定されるべきではないことを理解すべきである。以下の「特許請求の範囲」が本発明の範囲を規定し、かつこれらの請求項及びその均等物の範囲内の構造及び方法がそれによって包含されることを意図している。

Claims (14)

1. 試験シーケンス中に被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験する方法であって、
   テスター及びＤＵＴを同期する工程と、
   前記同期に応答して、前記ＤＵＴで、
   前記ＤＵＴの識別パラメーター、及び前記ＤＵＴの動作特性、のうちの少なくとも一方に関するデータを保存する工程、
   データを呼び出す工程、及び
   前記データパケットを送信する工程、のうちの少なくとも１つを実行する工程と、を含む、方法。
2. 前記テスター及びＤＵＴを同期させる工程が、
   前記テスターで、同期開始信号を送信する工程と、
   前記ＤＵＴで、同期確認信号を送信する工程と、を含む、請求項１に記載の方法。
3. 前記同期の後に、前記テスターで、前記ＤＵＴの前記識別パラメーター、前記ＤＵＴの前記動作特性、及びデータの要求のうちの少なくとも１つに関するデータを含む１つ以上のデータパケットを含むデータ信号を送信する工程と、
   前記ＤＵＴで、前記ＤＵＴが前記データ信号を受信したことを確認する応答信号を送信する工程と、を更に含み、
   前記データを呼び出す工程は、前記データの前記要求に応答して前記データを呼び出す工程、を更に含む、請求項１に記載の方法。
4. 前記テスターで、前記ＤＵＴの識別パラメーター、前記ＤＵＴの動作特性、及びデータの要求のうちの少なくとも１つに関するデータを含む１つ以上のデータパケットを含むデータ信号を送信する前記工程は、前記テスターで、
   前記ＤＵＴを識別するアドレスデータ、及び
   前記ＤＵＴの動作特性を制御する較正データの少なくとも１つを送信する工程を含む、請求項３に記載の方法。
5. 前記ＤＵＴで、前記ＤＵＴの識別パラメーター、及び前記ＤＵＴの動作特性のうちの少なくとも一方と関連する前記データをアクティブ化する工程を更に含む、請求項３に記載の方法。
6. 前記ＤＵＴにより送信される前記データパケットは、前記ＤＵＴの識別パラメーター、及び前記ＤＵＴの動作特性のうちの少なくとも一方と関連する前記データと対応するデータを含み、
   前記テスターで、前記ＤＵＴにより送信される前記データパケットを復号する工程と、
   前記テスターで、前記復号されたデータパケットと、前記データ信号の一部として、前記テスターにより送信される、前記ＤＵＴの識別パラメーター及び前記ＤＵＴの動作特性のうちの少なくとも一方と関連する前記データとを比較する工程とを更に含む、請求項３に記載の方法。
7. 前記テスターで、前記ＤＵＴにより送信される前記データパケットを受信する工程を更に含む、請求項１に記載の方法。
8. 試験シーケンスの間に被試験デバイス（ＤＵＴ）を試験するためのテスターを操作する方法であって、
   テスターで、同期開始信号を送信する工程と、
   前記テスターで、ＤＵＴからの同期確認信号を受信する工程と、
   前記テスターで、前記ＤＵＴの識別パラメーター、前記ＤＵＴの動作特性、及びデータの要求、のうちの少なくとも１つに関連するデータを含む、１つ以上のデータパケットを含むデータ信号を送信する工程と、
   前記テスターで、前記ＤＵＴから、前記データ信号に関するデータパケットを受信する工程と、を含む方法。
9. 前記テスターで、前記ＤＵＴの識別パラメーター、前記ＤＵＴの動作特性、及びデータの要求、のうちの少なくとも１つに関するデータを含む１つ以上のデータパケットを含むデータ信号を送信する前記工程は、前記テスターで、
   前記ＤＵＴを識別するアドレスデータ、及び
   前記ＤＵＴの動作特性を制御する較正データ、のうちの少なくとも１つを送信する工程を含む、請求項８に記載の方法。
10. 前記ＤＵＴにより送信される前記データパケットは、前記ＤＵＴの識別パラメーター、及び前記ＤＵＴの動作特性のうちの少なくとも一方と関連する前記データと対応するデータを含み、
    前記テスターで、前記ＤＵＴにより送信される前記データパケットを復号する工程と、
    前記テスターで、前記復号されたデータパケットと、前記データ信号の一部として、前記テスターにより送信される、前記ＤＵＴの識別パラメーター及び前記ＤＵＴの動作特性のうちの少なくとも一方と関連する前記データとを比較する工程とを更に、含む請求項８に記載の方法。
11. 試験シーケンス中に被試験デバイス（ＤＵＴ）を操作する方法であって、
    ＤＵＴで、テスターから同期開始信号を受信する工程と、
    前記ＤＵＴで、同期確認信号を送信する工程と、
    前記同期に応答して、ＤＵＴで、
    前記ＤＵＴの識別パラメーター、及び前記ＤＵＴの動作特性、のうちの少なくとも一方に関するデータを保存する工程、
    データを呼び出す工程、及び
    データパケットを送信する工程、のうちの少なくとも１つを実行する工程と、を含む方法。
12. 前記ＤＵＴで、前記テスターから、前記ＤＵＴの前記識別パラメーター、前記ＤＵＴの前記動作特性、及びデータの要求のうちの少なくとも１つに関するデータを含む１つ以上のデータパケットを含むデータ信号を受信する工程と、
    前記ＤＵＴで、前記ＤＵＴが前記データ信号を受信したことを確認する応答信号を送信する工程と、を更に含み、
    前記データを呼び出す工程は、前記データの前記要求に応答して前記データを呼び出す工程含む、請求項１１に記載の方法。
13. 前記ＤＵＴで、前記テスターから、前記ＤＵＴの前記識別パラメーター、前記ＤＵＴの前記動作特性、及びデータの要求のうちの少なくとも１つに関するデータを含む１つ以上のデータパケットを含むデータ信号を受信する工程は、前記ＤＵＴで、前記テスターから、
    前記ＤＵＴを識別するアドレスデータ、及び
    前記ＤＵＴの動作特性を制御するための較正データ、のうちの少なくとも一方を受信する工程を含む、請求項１２に記載の方法。
14. 前記ＤＵＴで、前記ＤＵＴの識別パラメーター、及び前記ＤＵＴの動作特性のうちの少なくとも一方と関連する前記データをアクティブ化する工程を更に含む、請求項１２に記載の方法。

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