KR20150020590A - 테스트 시퀀스 동안 피시험 장치(dut)로 사전 결정된 데이터를 전송하고 확인하는 방법 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 78
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 30
- 238000012546 transfer Methods 0.000 title description 4
- 230000004044 response Effects 0.000 claims abstract description 13
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims abstract description 5
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 claims description 4
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 claims 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 abstract description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 230000009471 action Effects 0.000 description 7
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 6
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/273—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G06F11/2733—Test interface between tester and unit under test
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/22—Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
- G06F11/26—Functional testing
- G06F11/263—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences ; with adaptation of the tested hardware for testability with external testers
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Quality & Reliability (AREA)
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Abstract
Description
도 2는 청구된 본 발명의 한 예시적인 실시예에 따른 테스터와 IoT DUT 간의 신호 및 정보의 교환을 도시한다.
도 3은 청구된 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스터와 IoT DUT 간의 신호 및 정보의 교환을 도시한다.
도 4는 청구된 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스터와 IoT DUT 간의 신호 및 정보의 교환을 도시한다.
도 5는 청구된 본 발명의 다른 실시예에 따른 테스터와 IoT DUT 간의 신호 및 정보의 교환을 도시한다.
Claims (14)
- 테스트 시퀀스 동안 피시험 장치(DUT)를 테스트하는 방법으로서,
테스터와 DUT를 동기화시키는 단계; 및
상기 동기화에 응답하여, 상기 DUT를 통해:
상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성 중 적어도 하나와 관련된 데이터를 저장하는 단계,
데이터를 추출하는 단계, 및
데이터 패킷을 전송하는 단계 중 적어도 하나의 단계를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 방법. - 제 1 항에 있어서, 상기 테스터와 DUT를 동기화시키는 단계는:
상기 테스터를 통해, 동기화 개시 신호를 전송하는 단계; 및
상기 DUT를 통해, 동기화 확인 신호를 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 방법. - 제 1 항에 있어서,
상기 동기화 단계 이후, 상기 테스터를 통해, 상기 DUT의 상기 식별정보 파라미터, 상기 DUT의 상기 동작 특성, 및 데이터에 대한 요청 중 적어도 하나와 관련된 데이터를 담고 있는 하나 이상의 데이터 패킷을 포함하는 데이터 신호를 전송하는 단계; 및
상기 DUT를 통해, 상기 DUT에 의한 상기 데이터 신호의 수신을 알리는 응답 신호를 전송하는 단계를 더 포함하고,
상기 데이터를 추출하는 단계는 상기 데이터에 대한 요청에 응답하여 상기 데이터를 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 방법. - 제 3 항에 있어서, 상기 테스터를 통해, 상기 DUT의 상기 식별정보 파라미터, 상기 DUT의 상기 동작 특성, 및 데이터에 대한 요청 중 적어도 하나와 관련된 데이터를 담고 있는 하나 이상의 데이터 패킷을 포함하는 데이터 신호를 전송하는 단계는, 상기 테스터를 통해,
상기 DUT를 식별하기 위한 어드레스 데이터; 및
상기 DUT의 동작 특성을 제어하기 위한 교정 데이터 중 적어도 하나를 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 방법. - 제 3 항에 있어서, 상기 DUT를 통해, 상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성 중 적어도 하나와 관련된 상기 데이터를 활성화하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 방법.
- 제 3 항에 있어서. 상기 DUT에 의해 전송된 상기 데이터 패킷은 상기 DUT의 식별정보 파라미터, 상기 DUT의 동작 특성 중 적어도 하나와 관련된 상기 데이터에 대응하는 데이터를 포함하고,
상기 테스터를 통해, 상기 DUT에 의해 전송된 상기 데이터 패킷을 디코딩하는 단계; 및
상기 테스터를 통해, 상기 디코딩된 데이터 패킷과, 상기 데이터 신호의 일부로서 상기 테스터에 의해 전송된 상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성 중 적어도 하나와 관련된 상기 데이터를 비교하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 방법. - 제 1 항에 있어서, 상기 테스터를 통해, 상기 DUT에 의해 전송된 상기 데이터 패킷을 수신하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 방법.
- 테스트 시퀀스 동안 피시험 장치(DUT)를 테스트하는 테스터의 동작 방법으로서,
테스터를 통해, 동기화 개시 신호를 전송하는 단계;
상기 테스터를 통해, 동기화 확인 신호를 DUT로부터 수신하는 단계;
상기 테스터를 통해, 상기 DUT의 식별정보 파라미터, 상기 DUT의 동작 특성, 및 데이터에 대한 요청 중 적어도 하나와 관련된 데이터를 담고 있는 하나 이상의 데이터 패킷을 포함하는 데이터 신호를 전송하는 단계; 및
상기 테스터를 통해, 상기 데이터 신호와 관련된 데이터 패킷을 상기 DUT로부터 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 테스터의 동작 방법. - 제 8 항에 있어서, 상기 테스터를 통해, 상기 DUT의 식별정보 파라미터, 상기 DUT의 동작 특성, 및 데이터에 대한 요청 중 적어도 하나와 관련된 데이터를 담고 있는 하나 이상의 데이터 패킷을 포함하는 데이터 신호를 전송하는 단계는:
상기 테스터를 통해,
상기 DUT를 식별하기 위한 어드레스 데이터; 및
상기 DUT의 동작 특성을 제어하기 위한 교정 데이터 중 적어도 하나를 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 테스터의 동작 방법. - 제 8 항에 있어서, 상기 DUT에 의해 전송된 상기 데이터 패킷은 상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성 중 적어도 하나와 관련된 상기 데이터에 대응하는 데이터를 포함하고,
상기 테스터를 통해, 상기 DUT에 의해 전송된 상기 데이터 패킷을 디코딩하는 단계; 및
상기 테스터를 통해, 상기 디코딩된 데이터 패킷과, 상기 데이터 신호의 일부로서 상기 테스터에 의해 전송된 상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성 중 적어도 하나와 관련된 상기 데이터를 비교하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT를 테스트하는 테스터의 동작 방법. - 테스트 시퀀스 동안 피시험 장치(DUT)의 동작 방법으로서,
DUT를 통해, 테스터로부터 동기화 개시 신호를 수신하는 단계;
상기 DUT를 통해, 동기화 확인 신호를 전송하는 단계; 및
상기 동기화에 응답하여, 상기 DUT를 통해:
상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성 중 적어도 하나와 관련된 데이터를 저장하는 단계,
데이터를 수신하는 단계, 및
데이터 패킷을 전송하는 단계 중 적어도 하나의 단계를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT의 동작 방법. - 제 11 항에 있어서,
상기 DUT를 통해, 상기 테스터로부터, 상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성, 및 데이터에 대한 요청 중 적어도 하나와 관련된 데이터를 담고 있는 하나 이상의 데이터 패킷을 포함하는 데이터 신호를 수신하는 단계; 및
상기 DUT를 통해, 상기 DUT에 의한 상기 데이터 신호의 수신을 알리는 응답 신호를 전송하는 단계를 더 포함하고,
상기 데이터를 추출하는 단계는 상기 데이터에 대한 요청에 응답하여 상기 데이터를 추출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT의 동작 방법. - 제 12 항에 있어서, 상기 DUT를 통해, 상기 테스터로부터, 상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성, 및 데이터에 대한 요청 중 적어도 하나와 관련된 데이터를 담고 있는 하나 이상의 데이터 패킷을 포함하는 데이터 신호를 수신하는 단계는 상기 DUT를 통해 상기 테스터로부터,
상기 DUT를 식별하기 위한 어드레스 데이터; 및
상기 DUT의 동작 특성을 제어하기 위한 교정 데이터 중 적어도 하나를 수신하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT의 동작 방법. - 제 12 항에 있어서, 상기 DUT를 통해, 상기 DUT의 식별정보 파라미터 및 상기 DUT의 동작 특성 중 적어도 하나와 관련된 상기 데이터를 활성화는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트 시퀀스 동안 DUT의 동작 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US13/486,471 | 2012-06-01 | ||
US13/486,471 US10296433B2 (en) | 2012-06-01 | 2012-06-01 | Method for transferring and confirming transfer of predefined data to a device under test (DUT) during a test sequence |
PCT/US2013/038209 WO2013180861A1 (en) | 2012-06-01 | 2013-04-25 | Method for transferring and confirming transfer of predefined data to a device under test (dut) during a test sequence |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20150020590A true KR20150020590A (ko) | 2015-02-26 |
Family
ID=49671816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR20147035875A KR20150020590A (ko) | 2012-06-01 | 2013-04-25 | 테스트 시퀀스 동안 피시험 장치(dut)로 사전 결정된 데이터를 전송하고 확인하는 방법 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10296433B2 (ko) |
JP (1) | JP6309510B2 (ko) |
KR (1) | KR20150020590A (ko) |
CN (1) | CN104471544B (ko) |
TW (1) | TWI595798B (ko) |
WO (1) | WO2013180861A1 (ko) |
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- 2012-06-01 US US13/486,471 patent/US10296433B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2013
- 2013-04-25 JP JP2015515004A patent/JP6309510B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2013-04-25 WO PCT/US2013/038209 patent/WO2013180861A1/en active Application Filing
- 2013-04-25 KR KR20147035875A patent/KR20150020590A/ko active IP Right Grant
- 2013-04-25 CN CN201380028843.6A patent/CN104471544B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2013-05-21 TW TW102117868A patent/TWI595798B/zh not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TW201352049A (zh) | 2013-12-16 |
JP2015524063A (ja) | 2015-08-20 |
WO2013180861A1 (en) | 2013-12-05 |
CN104471544A (zh) | 2015-03-25 |
CN104471544B (zh) | 2017-03-08 |
US10296433B2 (en) | 2019-05-21 |
JP6309510B2 (ja) | 2018-04-11 |
US20130326274A1 (en) | 2013-12-05 |
TWI595798B (zh) | 2017-08-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0105 | International application |
Patent event date: 20141222 Patent event code: PA01051R01D Comment text: International Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
A201 | Request for examination | ||
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20180411 Comment text: Request for Examination of Application |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20190318 Patent event code: PE09021S01D |
|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20190911 |
|
PC1904 | Unpaid initial registration fee |