JP2015522172A - 液体媒質に浸された回折物体の光学的特性を復元する方法、及びシステム - Google Patents
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Abstract
Description
− 空間的にコヒーレントな光源を用いて媒質に光照射すること、
− マトリックス型光検出器を用いて、鉛直方向に光照射を受けた媒質を透過した回折パターンの強度を測定し、その又は各回折パターンが、媒質に光照射する間の一つ又は複数の回折物体によって回折した波に対応していること、及び
−物体の光学的特性を、測定された強度に基づき復元高さに応じた復元アルゴリズムに従って復元すること
を含む。
復元方法は、以下の、
− 空間的にコヒーレントな光源を用いて媒質に光照射するステップと、
− マトリックス型光検出器を用いて、鉛直方向に光照射を受けた媒質を透過した回折パターンの強度を測定するステップであって、その又は各回折パターンは、媒質に光照射する間に一つ又は複数の回折物体によって回折した波に対応している、ステップと、
− 物体の光学的特性を、測定された強度に基づき、復元アルゴリズムに従って復元するステップであって、復元アルゴリズムが復元高さに依存している、ステップと、
を含み、
復元ステップの間、復元高さは、鉛直方向での媒質とマトリックス型光検出器との距離よりも厳密に低い、好ましくは前記距離の0.9倍未満、より好ましくは前記距離の0.8倍未満の値を有する。
− 復元ステップの間、復元アルゴリズムは、以下の式、
x、yは、鉛直方向に対して垂直な面における座標を表し、*は、畳み込み積を示し、
Zrは、復元高さを表し、
λは、光源の波長を表し、jは、ユニタリな虚数を表し、
aは、物体の複素不透明度関数を表し、a*は、aの共役複素数を表し、そして
hzは、以下の式、
− 復元ステップの間、物体の光学的特性は、異なる値の復元高さについて復元され、それぞれの高さは、鉛直方向での媒質とマトリックス型光検出器との間の距離の値よりも厳密に低いことと、
− 少なくとも一つの物体は、第1の構造及び第2の構造を含み、第1の構造の光学的特性は、復元高さの第1の値について復元され、第2の構造の光学的特性は、復元高さの第2の値について復元され、第2の値は、第1の値とは異なることと、
− 物体は、核と細胞質とを含む細胞であり、核を表す画像は、第1の値の区間について復元され、細胞質を表す画像は、第2の値の区間について復元され、第2の区間は、第1の区間とは異なり、第2の区間は、好ましくは第1の区間から離れており、第1の区間の値は、より好ましくは第2の区間の値よりも低いことと、
− 鉛直方向での媒質とマトリックス型光検出器との間の距離は、実質的に500μmに等しく、第1の区間は、240μmと280μmとの間に含まれる値の区間であり、第2の区間は、380μmと420μmとの間に含まれる値の区間であることと、
− 各回折パターンの強度は、マトリックス型光検出器により直接的に測定され、媒質と光検出器との間に置かれる拡大レンズは用いないことと、
− 復元された光学的特性は、物体の吸収、及び/又は物体により生成された位相の遅れを含むことと、
のうち一つ又は複数を含む。
− 媒質に光照射することが可能な、光空間的にコヒーレントな光源と、
− 鉛直方向に光照射を受けた媒質を透過した少なくとも一つの回折パターンの強度を測定することが可能なマトリックス型光検出器であって、その又は各回折パターンが、媒質に光照射する間に一つ又は複数の回折物体によって回折した波に対応している、マトリックス型光検出器と、
− 物体の光学的特性を、測定された強度に基づき復元アルゴリズムに従って復元する手段と、を備え、復元アルゴリズムは復元高さに応じたものであり、復元高さは、鉛直方向での媒質とマトリックス型光検出器との間の距離よりも厳密に低い、好ましくは媒質と光検出器との間の前記距離の0.9倍未満、より好ましくは前記距離の0.8倍未満の値を有する。
− 発光ダイオードと、発光ダイオードに接触して置かれる絞りとを含む光源と、
− マトリックス型光検出器はCCDセンサー、又はCMOSセンサーであることと、
のうち一つ又は複数を備える。
Iは、マトリックス型光検出器28により測定された強度を表し、
x、yは、鉛直方向に対して垂直な面における座標を表し、*は畳み込み積を示し、
Zrは、復元高さを表し、
λは、光源26の波長を表し、jは、ユニタリな虚数を表し、
aは、物体22の複素不透明度関数を表し、a*は、aの共役複素数を表し、そして
hzは、以下の式:
a*h2z=ti
ti*h2z=a
となることを考える。
− Iminitialで表され、Iminitial=I*h-zとなる初期画像を記憶するステップ
− 反復iを開始するステップ
− Imiの振幅閾値化を実行し、例えば二重像の平均値よりも閾値を高くして、閾値未満のピクセルを隠すようにするステップ。この閾値化は、自動的に、又は手動で行う。第1の反復の間、Imi=1=Iminitialの等式が成り立っている。このように閾値化された画像Imiは、反復iでの不透明度aの良好な見積もり値であり、aiで示される。
− 反復iにおいて二重像の信号を評価するステップ:tii=Imi−ai
− 新たな画像Imi+1=tii*h2zを記憶するステップ
− 以降の反復を実行するが、反復アルゴリズムを、所定の停止基準に従って停止させるステップ。そのような基準は、例えば、事前に定義された回数の反復、又はImiとaiとの、若しくはImiとImi-1との間の比較である。
Claims (11)
- 空間的にコヒーレントな光源(26)と、マトリックス型光検出器(28)とを備える復元システム(20)を使用して、液体媒質(24)に浸された回折物体(22)の光学的特性を復元し、前記液体媒質(24)が透明な面(42)により区切られており、前記回折物体(22)が透明な面(42)に接触している復元方法であって、以下の、
− 前記空間的にコヒーレントな光源(26)を用いて前記媒質(24)に光照射するステップ(100)と、
− 前記マトリックス型光検出器(28)を用いて、鉛直方向(Z)に光照射を受けた前記媒質(24)を透過した少なくとも一つの回折パターンの強度(I)を測定するステップ(110)であって、前記又は各回折パターンは、前記媒質(24)に光照射する間に一つ又は複数の前記回折物体(22)によって回折した波に対応している、ステップと、
− 前記復元高さ(Zr)において、前記物体(22)の光学的特性を、復元アルゴリズムに従って、測定強度(I)に基づき復元するステップ(120)と、を含み、
前記復元ステップ(120)の間、前記復元高さ(Zr)が、前記鉛直方向(Z)での、前記媒質(24)と前記マトリックス型光検出器(28)との間の距離(D2)より厳密に低い、好ましくは前記媒質(24)と前記光検出器(28)との間の前記距離(D2)の0.9倍未満、より好ましくは前記距離(D2)の0.8倍未満の値を有する、方法。 - 前記復元ステップ(120)の間、前記物体(22)の光学的特性が、前記復元高さ(Zr)の異なる値について復元され、それぞれが、前記鉛直方向(Z)での、前記媒質(24)と前記マトリックス型光検出器(28)との間の前記距離(D2)の値よりも厳密に低い、請求項1又は請求項2に記載の方法。
- 前記少なくとも一つの物体(22)が、第1の構造(41A)及び第2の構造(41B)を備え、前記第1の構造(41A)の光学的特性が、前記復元高さ(Zr)の第1の値(Zr1)について復元され、前記第2の構造(41B)の光学的特性が、前記復元高さ(Zr)の第2の値(Zr2)について復元され、前記第2の値(Zr2)が前記第1の値(Zr1)とは異なる、請求項3に記載の方法。
- 前記物体(22)が、核(41A)と細胞質(41B)とを含む細胞であり、前記核(41A)を表す画像が、第1の値の区間([Zr1min;Zr1max])について復元され、前記細胞質(41B)を表す画像が、第2の値の区間([Zr2min;Zr2max])について復元され、前記第2の区間([Zr2min;Zr2max])は、前記第1の区間([Zr1min;Zr1max])とは異なり、前記第2の区間([Zr2min;Zr2max])は、好ましくは前記第1の区間([Zr1min;Zr1max])から離れており、前記第1の区間([Zr1min;Zr1max])の値は、より好ましくは前記第2の区間([Zr2min;Zr2max])の値より低い、請求項4に記載の方法。
- 前記鉛直方向(Z)での、前記媒質(24)と前記マトリックス型光検出器(28)との間の前記距離(D2)が、実質的に500μmに等しく、前記第1の区間([Zr1min;Zr1max])が、240μmと280μmとの間に含まれる値の区間であり、前記第2の区間([Zr2min;Zr2max])が、380μmと420μmとの間に含まれる値の区間である、請求項5に記載の方法。
- 前記又は各回折パターンの強度(I)を、前記マトリックス型光検出器(28)により直接的に、前記媒質(24)と前記光検出器(28)との間に置かれる拡大レンズを用いずに測定する、請求項1から請求項6の何れか一項に記載の方法。
- 前記復元された光学的特性が、前記物体(22)の吸収、及び/又は前記物体(22)により生成された位相の遅れを含む、請求項1から請求項7の何れか一項に記載の方法。
- 液体媒質(24)に浸された回折物体(22)の光学的特性を復元し、前記液体媒質(24)が透明な面(42)により区切られており、前記回折物体(22)が前記透明な面(42)に接触している復元システム(20)であって、
− 前記媒質(24)に光照射することが可能な空間的にコヒーレントな光源(26)と、
− 鉛直方向(Z)に光照射を受けた前記媒質(24)を透過した少なくとも一つの回折パターンの強度(I)を測定することが可能であって、前記又は各回折パターンは、前記媒質(24)に光照射する間に一つ又は複数の回折物体(22)によって回折した波に対応するパターンである、マトリックス型光検出器(28)と、
− 復元高さ(Zr)において、前記物体(22)の光学的特性を、復元アルゴリズムに従って、前記測定された強度(I)に基づき復元する手段(36)と、
を備え、前記復元高さ(Zr)が、鉛直方向(Z)での、前記媒質(22)と前記マトリックス型光検出器(28)との間の距離(D2)よりも厳密に低い、好ましくは前記媒質(24)と前記光検出器(28)の間の前記距離(D2)の0.9倍未満、より好ましくは前記距離(D2)の0.8倍未満の値を有するシステム。 - 前記光源(26)が、発光ダイオード(46)と、発光ダイオード(46)に接触して置かれた絞り(48)とを含む、請求項9に記載のシステム(20)。
- 前記マトリックス型光検出器(28)が、CCDセンサー、又はCMOSセンサーである、請求項9又は請求項10に記載のシステム(20)。
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