JP2015513758A - 多目的動作及び高効率rf電力結合用のリボンアンテナ - Google Patents

多目的動作及び高効率rf電力結合用のリボンアンテナ Download PDF

Info

Publication number
JP2015513758A
JP2015513758A JP2014554727A JP2014554727A JP2015513758A JP 2015513758 A JP2015513758 A JP 2015513758A JP 2014554727 A JP2014554727 A JP 2014554727A JP 2014554727 A JP2014554727 A JP 2014554727A JP 2015513758 A JP2015513758 A JP 2015513758A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
antenna
plasma
leg
switch
generating apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2014554727A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6309899B2 (ja
JP2015513758A5 (ja
Inventor
ビロイウ コステル
ビロイウ コステル
チェニー クレイグ
チェニー クレイグ
Original Assignee
ヴァリアン セミコンダクター イクイップメント アソシエイツ インコーポレイテッド
ヴァリアン セミコンダクター イクイップメント アソシエイツ インコーポレイテッド
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ヴァリアン セミコンダクター イクイップメント アソシエイツ インコーポレイテッド, ヴァリアン セミコンダクター イクイップメント アソシエイツ インコーポレイテッド filed Critical ヴァリアン セミコンダクター イクイップメント アソシエイツ インコーポレイテッド
Publication of JP2015513758A publication Critical patent/JP2015513758A/ja
Publication of JP2015513758A5 publication Critical patent/JP2015513758A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6309899B2 publication Critical patent/JP6309899B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/321Radio frequency generated discharge the radio frequency energy being inductively coupled to the plasma
    • H01J37/3211Antennas, e.g. particular shapes of coils
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32082Radio frequency generated discharge
    • H01J37/32174Circuits specially adapted for controlling the RF discharge

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Plasma Technology (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Abstract

E動作モードとH動作モードとの切り換えを可能にし、RF電力のプラズマへの結合効率も増加させるプラズマ処理装置及び方法を開示する。この装置は、所定の電力出力に対して、プラズマ密度を約1.25〜1.65倍に増加させることができる。同時に、この高い効率により、アンテナを冷却する必要を解消することができる。所定体積に対する表面積を増加させる新たなアンテナの幾何学的形状を用いて、RF電流に関連する表皮効果を利用する。一部の好適例では、アンテナがシングルターンを有して、近接効果を低減する。アンテナをフェライト材料中に埋め込んで、その性能をさらに最適化することもできる。

Description

プラズマ処理装置はプラズマをチャンバ内に発生させ、このプラズマを用いて、プロセスチャンバ内でプラテンによって支持される加工片(ワークピース)を処理することができる。一部の具体例では、内部にプラズマが発生するチャンバがプロセスチャンバである。こうしたプラズマ処理装置は、ドーピングシステム、エッチングシステム、及び蒸着システムを含むことができるが、これらに限定されない。イオンアシスト蒸着装置のような一部のプラズマ処理装置では、プラズマからイオンが抽出されて、加工片に向けて導かれる。プラズマドーピング装置では、イオンを所望エネルギーまで加速させて、半導体基板のような加工片の物理構造中に特定のドーパント深度プロファイルを生成することができる。
一部の注入装置では、1つのチャンバ内にプラズマを発生させることができ、そこからイオンを抽出して、加工片は異なるプロセスチャンバ内で処理される。こうした構成の一例はビームライン・イオン注入装置とすることができ、ここではイオン源が、誘導結合プラズマ(ICP:inductively coupled plasma)源を利用する。
図1を参照すれば、1つの代表的なプラズマ処理装置100が例示され、これは誘導結合を用いる。プラズマドーピング装置100は、イオンを発生するために使用されるプラズマチャンバ101、及び半導体ウェハーに注入するために使用される処理チャンバ104を含む。誘電体窓102(通常は石英、アルミナ、またはサファイア製)を用いて、RF発生器151からの電力を作動ガスに結合する。プラズマチャンバ101の反対側では、抽出スリット105、または異なる幾何学的形状の抽出スリットを有する抽出プレート103を用いて、イオンを抽出する。作動ガスは、抽出スリット105に対して対称に分布したガス入口106を通ってプラズマチャンバ101内に導入され、こうした幾何学的形状では、プラズマチャンバ101の断面内で均一なガス流が保証される。
プラズマは、RF発生器151からのRF電力を、パンケーキ型または平面アンテナ152に結合させることによって、プラズマチャンバ101の内部に発生する。可変のプラズマ・インピーダンスが、整合回路網(マッチング・ネットワーク)153によって、50Ωの発生器インピーダンスと整合する。
プラズマの均一性は、磁石107で構成される磁気マルチカスプ構成によって改善することができ、これらの磁石は永久磁石とすることができる。磁石107の磁界強度は、スチールヨーク108によって増強され、スチールヨーク108は、プラズマチャンバ101外の磁力線を閉じるように作用する。磁石107は交互するパターンで配置され、これにより磁化方向が交互に、プラズマチャンバ101の内向きと外向きに向く。このようにして、マルチカスプ磁力線の幾何学的形状が、荷電粒子が壁面で失われることを防止し、これにより、プラズマの密度及び均一性を増加させる。壁面のスパッタリングから生じ得るプラズマ中の不純物のレベルを低減するために、SiC、石英、またはSiを噴霧したAl製の薄いライナー109を用いることができる。
所望のドーパント種(一般に、n型ドーピング用にはP、p型ドーピング用にはBであるが、As、Ge、Ga、In等のような他の種も用いることができる)に応じて、そのドーパント原子を含むフィードバックガスを、ガス・マニホールド(連結管)111によって可変の流量で、プラズマチャンバ101内に供給することができる。このガス・マニホールドは、ガスコンテナ112、バルブ113、及びマスフロー(質量流量)コントローラ114で構成される。真空ポンピング(ポンプ動作)は、ロータリーポンプ116によって支援されるターボ分子ポンプ115によって、抽出スリット105を通して行われる。プラズマチャンバ101内の流量及び圧力の独立制御が望まれる他の具体例では、プラズマチャンバ101用に別個のポンピング・ラインを使用することができる。ウェハー上に存在するフォトレジストが、注入プロセス中に大量の水素を放出するので、ターボ分子ポンプ115及びロータリーポンプ116に加えて冷凍ポンプ117を用いて、水素の排出におけるその高い効率により、処理チャンバをポンプで排気することができる。プラズマチャンバ101内及び処理チャンバ104内の圧力は、それぞれバラトロン(Baratron)圧力計及びベイヤード・アルパート(Bayard-Alpert)圧力計によって監視される。
正イオンを抽出するために、抽出電源121によってプラズマチャンバを正電位に維持し、その間に処理チャンバ104は接地電位にすることができる。高電圧ブッシング122が、プラズマチャンバ101と処理チャンバ104との間の電気絶縁を保証する。
イオンビーム130は、三極管(三電極の静電レンズ)によってプラズマ源から抽出され、この三極管は、フェースプレート(面板)103、サプレッション(抑制)電極131、及び接地電極132で構成され、これらはセラミック高電圧絶縁体133によって互いに電気絶縁されている。他の具体例では、四極管(四電極レンズ)または五極管(五電極レンズ)を、イオンビーム抽出に用いることができる。プラズマチャンバ101が正電位であるので、正イオンが接地電極132によってチャンバ101から引き出される。抽出されるイオンの大部分は、接地電極132内のスリット134を通過するが、一部は接地電極132に当たる。こうした事象が発生すると、二次電子が発生する。二次電子がイオン源に向かって流れ戻ることを防止するために、抽出電極103と接地電極132との間に挿入されたサプレッション電極131を、サプレッション電源135によって負電位に分極させる。サプレッション電源135のサプレッション電極132との接続は、高電圧給電線136を通して実現される。
抽出されたイオンビーム130は、プラテン142上に配置されたウェハー143に向けて導かれ、プラテン142は接地することができる。プラテン142は、往復運動して、ウェハーの全面にイオンビーム130を当てることができるように構成することができる。
RFシステム全体は、イオン源側にあるので、抽出電位で浮動(フローティング)状態にある。アンテナ152は、一方の脚部が整合回路網(マッチング・ネットワーク)153の出力端子に接続され、他方の脚部は昇圧された接地電位にある。一部の具体例では、高電圧コンデンサ(図示せず)を接地脚部内に挿入して、アンテナ152の全長にわたって均一な電圧分布にする。一旦、RF電力が供給されると、RF電流がアンテナ152を通って流れ始める。RF電流は、時間的に変化する磁界を発生させ、この磁界は、マックスウェルの第3電気力学法則によれば、アンテナ152の近傍に電界を誘導する。プラズマチャンバ101内のより低い圧力による長い平均自由行程により、電界が自由電子を、気体粒子(原子、分子)との衝突によってイオン化プロセスが生じるようなエネルギーまで加速させることができる。蒸着用のRF電力、及び間接的にイオン化プロセスの大部分は、誘電体窓102の付近の、2、3デバイ(Debye)長の表面薄層(スキン層)内で発生する。
連続動作がウェハー電荷の確立をもたらし、その後にウェハー143上の特徴に対する壊滅的損傷が生じることがある。従って、一部の具体例では、イオンビーム130をパルス化する。パルス変調器161が、抽出電源121とサプレッション電源135の両者を同期させて駆動し、これによりパルス周波数及びデューティサイクルの変化を可能にすることができる。
一部の具体例では、プラズマアンテナ152が、図2Aに示すようなスパイラル(螺旋)形状、あるいは図2Bに示すような形状を有することができる。すべての場合に、アンテナ152は、アルミニウム、銅、または銀メッキした銅のような導電材料製であり、ウェハー冷却を可能にすべく管状であることが好ましい。他の具体例では、アンテナ152の全体が誘電体樹脂中に浸漬され、これにより、アンテナ152と誘電体窓102との直接接触を可能にする。
誘導結合されたプラズマ源の動作は、RF電力発生器151から、アンテナ152を介したプラズマ電子へのエネルギー伝達に基づく。しかし、放電の初期段階では、RF電力は容量結合され(Eモード動作)、従って、アンテナ152はコンデンサの極板として機能する。こうした場合に、電子は、アンテナ152を含む面に直交する方向の電界から、オーム加熱または確率的加熱のいずれかによってエネルギーを獲得する。より大きな極板面積によって、より良好な誘導結合が生じ、間接的に、より容易な気体絶縁破壊が生じる。一旦、プラズマが点孤されると、RF結合は誘導結合モード(Hモード動作)に向けて進展するが、幾分の容量結合がまだ残る。アンテナ152及び整合回路153には固有の損失が存在するので、アンテナ152の結合効率(η)は通常、0.6〜0.8の範囲内である。より高い結合効率は、より良好な電子加熱、より多数のイオン化事象、そして実際には、より高いプラズマ密度、及び間接的に、より高い抽出イオンビーム電流を意味する。完全なRF整合(即ち、0の反射電力)、及び整合コンデンサにおける損失が無視できるものと仮定すれば、アンテナ効率は、発生器によって供給される電力の総量(PG)に対する、プラズマに伝達される電力の量(Pp)の比率によって与えられる。アンテナ効率は、アンテナにおける電力損失(Ploss)に関係付けることができる。
式(1)より、電力結合効率を増加させる1つの方法は、電力損失の量(Ploss)を減少させることによるものであることがわかる。
図3に示すように、Hモード動作は、高いプラズマ密度(>5×1010〜1×1012cm-3)、低いプラズマ電位、及び低い電子温度(<3eV)によって特徴付けられるのに対し、Eモード動作は、低いプラズマ密度(<1×1010cm-3)、高いプラズマ電位、及び高い電子温度によって特徴付けられる。図3中の三角形がプラズマ電位を表す(電子温度に比例したスケールである)。プラズマ電位の値は、右側の目盛り上で読み取ることができる。図3中の円はプラズマ密度を表し、その値は左側の目盛り上で読み取ることができる。特定用途については、一部のプロセスはHモードで実行すると共に、他のプロセスはEモードで実行することが望ましい。
従って、そのままで、HモードからEモードへの切り換え、及びその逆を可能にするシステムが存在すれば有益である。また、Hモードで動作する際には、結合効率を増加させ、従ってプラズマ密度を上昇させるシステム及び方法を有することが有益である。こうしたシステムは、アンテナを冷却する必要性を有利に減らすこともできる。
E動作モードとH動作モードとの切り換えを可能にし、RF電力のプラズマへの結合効率も大幅に増加させる、プラズマ処理装置及び方法を開示する。この装置は、所定の電力出力に対して、プラズマ密度を約1.25〜1.65倍に増加させることができる。同時に、高い効率により、アンテナを冷却する必要性を解消することができる。所定体積に対する表面積を増加させる新たなアンテナの幾何学的形状を用いて、RF電流に関連する表皮効果を利用する。一部の好適例では、アンテナをシングルターンにして、近接効果を低減する。このアンテナをフェライト材料に埋め込んで、その性能をさらに最適化することができる。
本発明をより良く理解するために、以下の図面を参照し、図面中では、同様の要素は同様の番号で参照する。
従来技術のプラズマドーピング装置のブロック図である。 従来技術のスパイラル型平面アンテナを例示する図である。 従来技術の蛇行型平面アンテナを例示する図である。 E及びHモードにおけるプラズマ密度及びプラズマ電位を、電力の関数として例示する図である。 図4A〜Bは、2つの異なるアンテナの構成を示す図である。 図5A〜Cは、図4A〜Bのアンテナが発生する磁界を例示する図である。 図6A〜Bは、図4A〜Bのアンテナが発生する磁界強度の二次元等高線マップであり、数字は、磁界強度をガウス単位で表す。 リボンアンテナの他の実施形態を示す図であり、フェライトを用いてプラズマ中の磁界を増強する。 図8A〜Bは、アンテナがHまたはEモードで選択的に動作することのできる実施形態を示す図である。
上述したように、従来のICPイオン源は一般に、RF電力発生器から作動ガスへのアンテナを介したエネルギー伝達を基に、プラズマを生成する。アンテナからプラズマへの電力伝達は、マックスウェルの第3電気力学法則に基づく:
プラズマ中に誘導される電界
は、アンテナが発生する磁界
の時間的変化に比例し、この磁界は、アンテナを通って流れる電流に比例する。従って、非常に低い抵抗を有するアンテナを持つことが好ましいことがある、というのは、アンテナ全体の抵抗が小さくなるからである。通常、RFアンテナは銅管から構成される。銅は、非常に良好な導電性及び熱伝導性を有する。さらに、管の使用は、水冷の可能性をもたらす。管壁を厚さ2、3mmにして、屈曲を可能にし、かつ電気抵抗を減少させる。しかし、よく見落とされることは、DCとは異なり、RF周波数範囲では、電流が導体の断面全体を通って流れず、深さ
の表層を通って流れることであり、ここに、ρ、f、及びμは、それぞれ抵抗率、RF周波数、及び透磁率を表す。13.56MHzについては、銅の表皮深さは〜18μmである。従って、表面積が大きい形状の導体は、断面積は大きいが表面積はより小さい導体よりも低い電気抵抗を有する。換言すれば、薄型のアンテナは、より厚いアンテナよりも優れた特性を有する。
一実施形態では、アンテナが薄いリボンの形状に構成され、このリボンは、およそ幅1インチ×厚さ1/8インチ(即ち、1”×1/8”)にすることができる。このリボンアンテナは、図4A〜Bに示すように、略平行な2つの部分を、半円形の端部と共に含むことができる。一部の実施形態では、半円形端部の一方が不連続部分を有し、これにより、図8Bに最も良く示すように、アンテナの2つの脚部を作ることができる。このアンテナは、銅または銀メッキされた銅のような導電材料で構成することができる。広幅のリボン形状は、誘電体窓400を大きな表面積で露出させ、これは全体積のうちの大きな部分である。この形状は、より低いアンテナ抵抗を可能にし、このことは、より高い電流及び低い消散電力(低熱)を意味する。図4A〜Bに示す2つのアンテナについて、シミュレーションをOPERA(登録商標)で実行した。各アンテナはシングルターンで構成され、同じ外表面積であり、同量の電流を搬送する。図5Aのリボンアンテナ410は、薄い平らな断面を有するのに対し、図5Bの方形アンテナ420は、四角形の断面を有する。各アンテナ410、420は、誘電体窓400に対して配置されている。両シミュレーションにおいて、同一の20μmのRF表皮深さを考慮した。
図5Aに、このシミュレーションの結果を示す。この図は、磁界の大きさを、アンテナからの(z方向の)距離の関数として示す。この図5では、アンテナがz=0に(即ち、図4A〜Bの誘電体窓400に対して)配置されているものと仮定し、磁界は、プラズマ源内に移動するように測定した。線430は、リボンアンテナ410についての磁界を示すのに対し、線431は、方形アンテナ420についての磁界を示す。図5Aにおけるシミュレーションは、アンテナからz方向に約1.5”〜2”の所(これは、電力集中の大部分が発生する箇所である、というのは、プラズマの表皮深さに相当するからである)で、平面アンテナ410が発生する磁界誘導の値が、四角形断面のアンテナ420が発生する対応する磁界の値のおよそ2倍であることを示している。
図5B〜5Cに、アンテナからの異なる距離に対する(Y軸に沿った)磁界強度分布を示す。点線は、方形アンテナ420に対応する磁界を表す。実線は、リボンアンテナ410が発生する磁界を表す。明瞭にするために、図5Bは、リボンアンテナ410が発生する磁界のみを示す。線440は、0インチのz(方向の)距離における磁界であるのに対し、線441は、リボンアンテナから1インチの磁界を表し、線442は、リボンアンテナから2インチの磁界を表す。リボンアンテナの位置も示し、リボンアンテナ410のループ内で磁界が最強であり、アンテナから遠ざかると共に減衰することを示している。なお、線442によれば、2インチのz距離において、磁界は、アンテナの中心(即ち、Y=0)で5ガウスである。図5Cは、方形アンテナ420が発生する磁界強度のみを示す。明瞭に比較するために、目盛りの大きさは図5Bと同じである。線443は、0インチのz距離における磁界であるのに対し、線444は、方形アンテナから1インチの磁界を表し、線445は、方形アンテナから2インチの磁界を表す。方形アンテナ420の位置も示し、磁界は方形アンテナ420のループ内で最強であり、アンテナから遠ざかると共に減衰することを示している。なお、線445によれば、2インチのz距離において、磁界はアンテナの中心(即ちY=0)で約2.5ガウスである。換言すれば、同一のRF電力値及び空間位置に対して、リボンアンテナ410は、方形アンテナ420のおよそ2倍の磁界強度を与える。
図6A〜Bは、それぞれ方形アンテナ420及びリボンアンテナ410が発生する磁界を示す二次元輪郭マップである。これらの輪郭線に数字を付け、それらの数字は磁界強度をガウス単位で表す。図6Bは、アンテナのループ内に含まれる領域内で、図6Aと比べてずっと大きい磁界強度を示している。なお、両アンテナには同じ電力を供給しており、図6Bでは、より大きい効率及び結合が達成されていることを示している。
従って、リボンアンテナの設計により、発生する磁界の強度が大幅に増加する。このことは、上述したように、アンテナが電流を、その表皮深さ内のみで搬送するからである。従って、表皮深さを超える追加的な厚さは有益でない。これに加えて、RF誘電体窓400に接する電流搬送材料の量を最適化することが重要になり得る。例えば、銅管は電流を搬送する内径を有するが、内径は絶縁窓に接していない。さらに、管の形状も、外径のうち少ししか実際に絶縁窓に接していないことを意味する。リボン形状を利用することによって、誘電体窓に実際に接触するアンテナの量が最大になる。さらに、リボンの幅がリボンの厚さよりもずっと大きくなるようにリボンを構成することによって、電流搬送材料の比率が最適化される。リボンの厚さは、周波数及び材料の電気抵抗率に依存する表皮深さによって設定される。2MHzの駆動周波数及び銅については、表皮深さは約46ミクロンであり、より高い周波数に対してより小さくなる。90%の減衰について、2×(表皮深さ)をとれば、約200ミクロンの厚さとなる。しかし、誘電ポッティング(樹脂)内に埋め込まれていなければ、こうした薄い構造は、広幅のアンテナを支持するのに十分な機械的強度を有しないことがある。従って、必要な機械的強度が与えられれば、表皮深さ/リボンの厚さの比率の最適値は、約0.05〜0.1となり得る。
一実施形態では、リボンアンテナが大きな平坦面を有して誘電体窓に接すると共に、アンテナの厚さを最小化することによって電流搬送能力を最適化することができる。
上述したように、重要な考慮事項は、誘電体窓に接するアンテナによって搬送される電流である。従って、大径の管状アンテナは低効率であり得る、というのは、アンテナが実際には少ししか誘電体窓に近接していないからである。従って、電力伝達を最大にするためには、アンテナの総断面積に対する、誘電体窓に接する有効な電流搬送断面積(誘電体窓に直交する面内)の比率を最大にすることが有利であり得る。異なる表現をすれば、有効な電流搬送断面積は、アンテナが誘電体窓に接している幅に表皮深さを乗じた値として定義することができる。この比率からわかるように、円形断面を有するアンテナは非常に低い比率を達成するのに対し、平らなアンテナはずっと高い比率を達成する。理想的には、最良の電力伝達は、総断面積に対する有効な電流搬送断面積の比率が約1である際に達成される。しかし、およそ46ミクロンの表皮深さでは、このことは不可能である。従って、一実施形態では約0.001を超える比率を用い、他の実施形態では約0.01を超える比率を用い、他の実施形態では約0.05を超える比率を用いる。アンテナがポッティング材料中に埋め込まれている場合には、アンテナ構造を支持するための機械的強度を必要としないことがある。従って、リボンの厚さは、約2〜3の表皮深さにまで小さくすることができ、この値は、約0.3〜0.5の、表皮深さ/リボンの厚さの比率を意味する。
プラズマチャンバ断面の大部分をカバーし、従って、比較的均一な電力集中及び結果的に均一なプラズマ密度及び均一な抽出イオンビーム電流を可能にするために、通常は、図2Aに示すように、2〜3ターンを有するアンテナを使用する。なお、図2Aでは、複数のターン201a、201b、及び201cが存在する。複数のターンは均一性を増加させるが、2つ以上のターンは、いわゆる「近接」効果も生じさせる。201bのような隣接する分枝内に同方向に流れる電流によって201aのようなアンテナ分枝内に誘導される渦電流は、他の分枝に対面する側に流れる全電流を減少させ、反対側(誘導分枝に対面しない側)に流れる電流を増加させる。抵抗の意味では、この効果は、導体断面積の減少、及び間接的に、より高いアンテナ抵抗として見られる。
ターン数(N)を減少させることは、Q値Qを減少させることにも役立ち得る。インダクタンスはN2に対応し、抵抗はNに対応するので、全体のQ値はより小さくなり、より広範囲のアンテナ調整能力を可能にする。このことは、プラズマ整合が広範囲の電力、圧力、及びガス種にわたって必要である際に、特に有用である。
従って、一部の実施形態では、リボンアンテナが1ターンのみを有する。このことはX方向に沿った対称な電圧降下を可能にする、というのは、給電脚部と接地脚部とが同じ空間位置にあるからである。さらに、このことは、有害な「近接」効果の大幅な低減を可能にする。
こうしたアンテナの推定抵抗値は0.05Ω未満であり得る。こうした低い抵抗値については、4〜5kW以上のような高電力の動作レベルでも、アンテナは少量の熱(約5〜10W)を消散する。従って、一部の実施形態では、アンテナを能動的に冷却する必要がない。しかし、>10kWといった極めて高い電力レベルのような他の実施形態では、リボンアンテナへの冷却ブラケットの取り付けを実行して、過剰な熱を排除することができる。
他の実施形態では、図7に示すように、リボンアンテナ410をフェライト材料480中に埋め込むことができる。誘電体窓400上のリボンアンテナ410は、ポッティング材料470中に封入することができる。ポッティング材料470は、アンテナ410をフェライト材料480から絶縁する働きをする。この構成では、プラズマと逆の方に向かう磁力線471がフェライト材料480によって捕捉されて、プラズマに向けて方向転換され、これにより、より高い電力集中効率を可能にし、さもなければ、こうした磁力線は消失する。フェライト材料480は、M61またはM67のような、10-4未満の損失係数及び少なくとも20の透磁率を有する材料とすることができる。フェライト材料480は、アンテナ形状に追従し、かつ誘電体窓400上に適合すべきである。ポッティング材料470は、ダウケミカル社の伝熱性接着剤3−6751のような材料とすることができ、高い絶縁耐力(>10kV/mm)、低い誘電損失(<1×10-4)を有し、気泡なしに硬化することができる。
図1に示すように、プラズマチャンバは仮想的な(昇圧された)電気接地であり、これは、抽出電源121が発生する出力電位である。RF発生器151からのRF電力を供給することによってアンテナ152上に展開するRF電圧は、この電位を上回る。従って、イオン源として動作するためには、プラズマチャンバ101、ガス・マニホールド111、及びアンテナ152がアース接地(GND)から絶縁されているべきである。
一部の実施形態では、アンテナをEモードでもHモードでも動作可能にすることが有益であり得る。図8Aに示すように、Hモードで動作することを望む際には、アンテナ152の一方の脚部154は、整合回路網153のホット線(図8A中にRFで表す太線)から給電するのに対し、他方の脚部155は仮想接地にする(VGNDで表す細線、抽出電源121の出力DC電位である)。スイッチ155は、遠隔操作することができ、他方の脚部155を仮想接地(抽出電源121の電位)に接続するか、仮想接地から切り離すことができる。図8Aに示すように、脚部155が仮想電位である際には、アンテナ152がICPモードで動作する。他のモードでは、図8Bに示すように、脚部155が給電脚部154に電気的に短絡され、システムは容量結合プラズマ(CCP:capacitively coupled plasma)モードで動作する。遠隔操作スイッチ156は、「接地」脚部155を抽出電源121から切り離して、他方の脚部154に接続することができる。このようにして、アンテナ152は給電電極として機能し、チャンバ壁は接地電極として機能する。
一部の実施形態では、コントローラ(図示せず)を用いて、スイッチ156を作動させる。一部の実施形態では、動作中に、コントローラがHモードからEモードへ切り換えること、またはその逆を行うことができる。換言すれば、プラズマを発生しながら、プラズマ発生モードを変更することができる。この変更は、そのままで、例えば、プラズマ点孤段階では一方のモードが好ましいのに対し、一旦、プラズマが高い電力レベルで動作すると他方のモードが好ましい場合に用いることができる。上述したことは、リボンアンテナを説明用の例として用いているが、本発明は、この実施形態に限定されない。2つの端部を有するあらゆるアンテナを用いて、上述したように、一方の端部をRF電源に電気接続し、他方の端部を、少なくとも2つの位置を有するスイッチに電気接続することができる。
本発明は、本明細書に記載した特定実施形態による範囲内に限定されない。実際に、本明細書に記載したものに加えて、本発明の他の種々の変形例、及び本発明に対する他の種々の変更は、以上の説明及び添付した図面より、当業者にとって明らかである。従って、こうした他の実施形態及び変更は実際に、本発明の範囲内に入る。さらに、本明細書では、本発明を、特定環境における特定目的での特定の実現に関連して説明してきたが、本発明の有用性はそれらに限定されず、本発明は、多数の環境において多数の目的で有益に実現できることは、通常の当業者の認める所である。従って、以下に記載する特許請求の範囲は、本明細書に記載する本発明の範囲及び精神全体を考慮して解釈すべきものである。

Claims (12)

  1. 誘電体窓を有するチャンバと;
    前記誘電体窓に接するアンテナと;
    ある周波数で動作し、前記アンテナと通信する電源とを具え、
    前記アンテナは、ある材料で構成され、厚さ、幅、及び前記厚さと前記幅との積として定義される断面積を有し、
    前記材料、及び前記周波数が表皮深さを定め、この表皮深さにおいて、前記アンテナ内の電流の大部分が搬送され、
    前記表皮深さと前記幅との積が、0.001に前記アンテナの前記断面積を乗じた値よりも大きいことを特徴とするプラズマ発生装置。
  2. 前記積が、0.01に前記断面積を乗じた値よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載のプラズマ発生装置。
  3. 前記積が、0.05に前記断面積を乗じた値よりも大きいことを特徴とする請求項1に記載のプラズマ発生装置。
  4. 前記アンテナを包囲するフェライト材料をさらに具えていることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ発生装置。
  5. 前記アンテナと前記フェライト材料との間に配置されたポッティング材料をさらに具えていることを特徴とする請求項4に記載のプラズマ発生装置。
  6. 前記アンテナが、略平行な2つの部分、及び2つの半円形端部を具えていることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ発生装置。
  7. 前記半円形端部の一方が不連続部分を具え、これにより、前記アンテナの2つの脚部を構成することを特徴とする請求項6に記載のプラズマ発生装置。
  8. 前記脚部のうち第1の脚部が、前記電源と通信し、前記脚部のうち第2の脚部が、スイッチと通信し、前記スイッチの第1位置において、前記第1の脚部と前記第2の脚部とが電気接続され、前記スイッチの第2位置において、前記第2の脚部が前記第1の脚部とは異なる電位に電気接続されることを特徴とする請求項7に記載のプラズマ発生装置。
  9. プラズマを発生している間に、前記スイッチを、前記第1位置と前記第2位置との間で作動させることができることを特徴とする請求項8に記載のプラズマ発生装置。
  10. 前記アンテナがリボン形状のアンテナから成ることを特徴とする請求項1に記載のプラズマ発生装置。
  11. 誘電体窓を有するチャンバと;
    第1端部及び第2端部を有するアンテナと;
    ある周波数で動作し、前記アンテナの前記第1端部と通信する電源と;
    前記アンテナの前記第2端部と通信する出力端子を有するスイッチとを具え、
    前記スイッチが第1位置及び第2位置を有し、前記第1位置において、前記出力端子が前記電源に接続され、前記第2位置において、前記出力端子が前記電源の接地端子に接続されることを特徴とするプラズマ発生装置。
  12. プラズマを発生させている間に、前記スイッチを、前記第1位置と前記第2位置との間で作動させることができることを特徴とする請求項11に記載のプラズマ発生装置。
JP2014554727A 2012-01-31 2013-01-08 プラズマ発生装置 Active JP6309899B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US13/362,052 2012-01-31
US13/362,052 US8901820B2 (en) 2012-01-31 2012-01-31 Ribbon antenna for versatile operation and efficient RF power coupling
PCT/US2013/020645 WO2013115945A1 (en) 2012-01-31 2013-01-08 Ribbon antenna for versatile operation and efficient rf power coupling

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2015513758A true JP2015513758A (ja) 2015-05-14
JP2015513758A5 JP2015513758A5 (ja) 2016-02-25
JP6309899B2 JP6309899B2 (ja) 2018-04-11

Family

ID=47631713

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2014554727A Active JP6309899B2 (ja) 2012-01-31 2013-01-08 プラズマ発生装置

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8901820B2 (ja)
JP (1) JP6309899B2 (ja)
KR (1) KR102013333B1 (ja)
CN (1) CN104081492B (ja)
TW (1) TWI516176B (ja)
WO (1) WO2013115945A1 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10727089B2 (en) * 2016-02-12 2020-07-28 Lam Research Corporation Systems and methods for selectively etching film
US10206273B2 (en) 2017-01-18 2019-02-12 Phoenix Llc High power ion beam generator systems and methods
US20210020405A1 (en) * 2019-07-18 2021-01-21 Tokyo Electron Limited Equipment and methods for plasma processing

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08203695A (ja) * 1995-01-24 1996-08-09 Aneruba Kk プラズマ処理装置
JPH09245993A (ja) * 1996-03-04 1997-09-19 Anelva Corp プラズマ処理装置及びアンテナの製造方法
WO1999003313A1 (en) * 1997-07-09 1999-01-21 Surface Technology Systems Limited Plasma processing apparatus
US20040060517A1 (en) * 2002-09-26 2004-04-01 Tokyo Electron Limited Of Tbs Broadcast Center Process apparatus and method for improving plasma production of an inductively coupled plasma
US20070251451A1 (en) * 2001-09-10 2007-11-01 Tegal Corporation Nanolayer Thick Film Processing System
WO2011022612A2 (en) * 2009-08-21 2011-02-24 Mattson Technology, Inc. Inductive plasma source
WO2011058608A1 (ja) * 2009-11-13 2011-05-19 日新電機株式会社 プラズマ処理装置

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6036878A (en) * 1996-02-02 2000-03-14 Applied Materials, Inc. Low density high frequency process for a parallel-plate electrode plasma reactor having an inductive antenna
US6534922B2 (en) * 1996-09-27 2003-03-18 Surface Technology Systems, Plc Plasma processing apparatus
KR100505176B1 (ko) * 1996-09-27 2005-10-10 서페이스 테크놀로지 시스템스 피엘씨 플라즈마가공장치
JP2929275B2 (ja) * 1996-10-16 1999-08-03 株式会社アドテック 透磁コアを有する誘導結合型−平面状プラズマの発生装置
JP4441038B2 (ja) * 2000-02-07 2010-03-31 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波プラズマ処理装置
KR20030041217A (ko) * 2001-11-19 2003-05-27 주성엔지니어링(주) Icp 발생 장치의 안테나 전극
KR101038204B1 (ko) 2004-02-25 2011-05-31 주성엔지니어링(주) 플라즈마 발생용 안테나
CN101395973B (zh) * 2006-03-07 2013-03-13 国立大学法人琉球大学 等离子体发生装置以及使用它的等离子体产生方法
JP5108489B2 (ja) * 2007-01-16 2012-12-26 株式会社日立ハイテクノロジーズ プラズマ処理方法
EP2299789A4 (en) * 2008-05-22 2013-11-06 Emd Corp PLASMA GENERATING APPARATUS AND PLASMA PROCESSING APPARATUS
US8142607B2 (en) * 2008-08-28 2012-03-27 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. High density helicon plasma source for wide ribbon ion beam generation
US8438990B2 (en) * 2008-09-30 2013-05-14 Applied Materials, Inc. Multi-electrode PECVD source
JP5554099B2 (ja) * 2010-03-18 2014-07-23 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法
US8590485B2 (en) * 2010-04-26 2013-11-26 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Small form factor plasma source for high density wide ribbon ion beam generation
JP5800547B2 (ja) * 2011-03-29 2015-10-28 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理装置及びプラズマ処理方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08203695A (ja) * 1995-01-24 1996-08-09 Aneruba Kk プラズマ処理装置
JPH09245993A (ja) * 1996-03-04 1997-09-19 Anelva Corp プラズマ処理装置及びアンテナの製造方法
WO1999003313A1 (en) * 1997-07-09 1999-01-21 Surface Technology Systems Limited Plasma processing apparatus
US20070251451A1 (en) * 2001-09-10 2007-11-01 Tegal Corporation Nanolayer Thick Film Processing System
US20040060517A1 (en) * 2002-09-26 2004-04-01 Tokyo Electron Limited Of Tbs Broadcast Center Process apparatus and method for improving plasma production of an inductively coupled plasma
WO2011022612A2 (en) * 2009-08-21 2011-02-24 Mattson Technology, Inc. Inductive plasma source
WO2011058608A1 (ja) * 2009-11-13 2011-05-19 日新電機株式会社 プラズマ処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
KR102013333B1 (ko) 2019-08-22
CN104081492B (zh) 2016-05-25
KR20140126351A (ko) 2014-10-30
JP6309899B2 (ja) 2018-04-11
US20130193848A1 (en) 2013-08-01
WO2013115945A1 (en) 2013-08-08
TW201336357A (zh) 2013-09-01
TWI516176B (zh) 2016-01-01
US8901820B2 (en) 2014-12-02
CN104081492A (zh) 2014-10-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5645178B2 (ja) 高密度ワイドリボンイオンビーム生成のための小型プラズマソース
US7673583B2 (en) Locally-efficient inductive plasma coupling for plasma processing system
JP5747231B2 (ja) プラズマ生成装置およびプラズマ処理装置
KR101826843B1 (ko) B-필드 집중기를 사용하는 금속성 샤워헤드를 구비한 유도 플라즈마 소오스
US20090189083A1 (en) Ion-beam source
US9984857B2 (en) Plasma generation device
KR102031578B1 (ko) 자기 한정 및 패러데이 차폐를 갖는 유도 결합형 rf 플라즈마 소스
EP2103197A2 (en) Plasma reactor with inductive excitation of plasma and efficient removal of heat from the excitation coil
TW201113923A (en) Conjugated ICP and ECR plasma sources for wide ribbon ion beam generation and control
KR101720373B1 (ko) 플라즈마 처리 장치, 플라즈마 생성 장치, 안테나 구조체, 및 플라즈마 생성 방법
JP6309899B2 (ja) プラズマ発生装置
KR20090037343A (ko) 자화된 유도결합형 플라즈마 처리장치 및 플라즈마 발생방법
US7667208B2 (en) Technique for confining secondary electrons in plasma-based ion implantation
JP2013020871A (ja) プラズマ処理装置
JP2015513758A5 (ja) プラズマ発生装置
KR20110006070U (ko) 자화된 유도결합형 플라즈마 처리장치
WO2009048294A2 (en) Magnetized inductively coupled plasma processing apparatus and generating method
KR100731994B1 (ko) 매설된 외부 페라이트 코어를 구비하는 플라즈마 처리 챔버
KR101446554B1 (ko) 다중 방전관 어셈블리를 갖는 플라즈마 챔버
KR102584240B1 (ko) 집속 유도 결합 플라즈마용 페라이트 쉴드를 포함하는 플라즈마 발생장치
KR101446185B1 (ko) 고효율 유도 결합 플라즈마 반응기
JP2023506867A (ja) プラズマの生成に使用するための方法および装置
JP2023506866A (ja) プラズマの生成に使用するための方法および装置
TW202145291A (zh) 電漿處理裝置及其導磁組件與方法
KR20000005015A (ko) 유도 결합식 플라즈마 소스를 포함하는 플라즈마 발생 방법 및장치

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160105

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160105

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20161026

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20170202

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170801

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20171016

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180213

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180315

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6309899

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250