JP2015512560A - Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット - Google Patents
Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015512560A JP2015512560A JP2015500838A JP2015500838A JP2015512560A JP 2015512560 A JP2015512560 A JP 2015512560A JP 2015500838 A JP2015500838 A JP 2015500838A JP 2015500838 A JP2015500838 A JP 2015500838A JP 2015512560 A JP2015512560 A JP 2015512560A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mirror
- individual
- illumination
- facet
- group
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005286 illumination Methods 0.000 title claims abstract description 132
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 42
- 238000001459 lithography Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 46
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims abstract description 26
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 50
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 18
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 15
- 238000003491 array Methods 0.000 description 11
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000009304 pastoral farming Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 2
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 2
- 238000010008 shearing Methods 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 2
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000001393 microlithography Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000008521 reorganization Effects 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/702—Reflective illumination, i.e. reflective optical elements other than folding mirrors, e.g. extreme ultraviolet [EUV] illumination systems
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0833—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a micromechanical device, e.g. a MEMS mirror, DMD
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70075—Homogenization of illumination intensity in the mask plane by using an integrator, e.g. fly's eye lens, facet mirror or glass rod, by using a diffusing optical element or by beam deflection
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/70058—Mask illumination systems
- G03F7/70083—Non-homogeneous intensity distribution in the mask plane
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/0816—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements
- G02B26/0825—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light by means of one or more reflecting elements the reflecting element being a flexible sheet or membrane, e.g. for varying the focus
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
- Lenses (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
20 瞳ファセットミラー
24a、24a’ 個々のミラー群
34 瞳ファセット
45 ターゲット場所経路
Claims (14)
- リソグラフィマスク(7)を配置することができる物体視野(5)に向けて照明光(16)を案内するためのEUV投影リソグラフィのための照明光学ユニット(4)であって、
前記照明視野(5)に向けて照明光部分ビーム(16i)を案内するための個々のミラー照明チャネル(43)を提供する複数の個々のミラー(26)を有する第1のファセットミラー(19)を含み、
前記照明光(16)のビーム経路内で前記第1のファセットミラー(19)の下流に配置され、かつ群ミラー照明チャネル(35)を通じた前記物体視野(5)内への該第1のファセットミラー(19)の前記個々のミラー(26)の群(24a)の結像に各々が寄与する複数のファセット(34)を有する第2のファセットミラー(20)を含み、該群ミラー照明チャネル(35)は、該個々のミラー群(24a)の前記個々のミラー照明チャネル(43)を含み、
前記第1のファセットミラー(19)の前記個々のミラー(26)の配置及び前記第2のファセットミラー(20)の前記ファセット(34)の配置は、異なる前記個々のミラー群(24a)の像(36)が、割り当てられた前記群ミラー照明チャネル(35)を通じて前記物体視野(5)内で互いに重ね合わされるようなものであり、
前記個々のミラー群(24a)の前記個々のミラー(26)は、一方で前記第2のファセットミラー(20)の前記ファセット(34)に対する前記第1のファセットミラー(19)の前記個々のミラー群(24a)のそれぞれの割り当てに依存して発生し、かつ他方で前記物体視野(5)内への該個々のミラー群(24a)の結像中に発生する結像収差が少なくとも部分的に補償されるように配置される、
ことを特徴とする照明光学ユニット。 - 前記個々のミラー群(24a)の前記個々のミラー(26)は、それによって予め定められた該個々のミラー群(24a)の前記個々のミラー照明チャネル(43)が、該個々のミラー群(24a)に割り当てられた前記第2のファセットミラー(20)の前記ファセット(34)上の異なるターゲット場所(44i)に向けて案内されるような向きに置かれることを特徴とする請求項1に記載の照明光学ユニット。
- リソグラフィマスク(7)を配置することができる物体視野(5)に向けて照明光(16)を案内するためのEUV投影リソグラフィのための照明光学ユニット(4)であって、
前記照明視野(5)に向けて照明光部分ビーム(16i)を案内するための個々のミラー照明チャネル(43)を提供する複数の個々のミラー(26)を有する第1のファセットミラー(19)を含み、
前記照明光(16)のビーム経路内で前記第1のファセットミラー(19)の下流に配置され、かつ群ミラー照明チャネル(35)を通じた前記物体視野(5)内への該第1のファセットミラー(19)の前記個々のミラー(26)の群(24a)の結像に各々が寄与する複数のファセット(34)を有する第2のファセットミラー(20)を含み、該群ミラー照明チャネル(35)は、該個々のミラー群(24a)の前記個々のミラー照明チャネル(43)を含み、
前記第1のファセットミラー(19)の前記個々のミラー(26)の配置及び前記第2のファセットミラー(20)の前記ファセット(34)の配置は、異なる前記個々のミラー群(24a)の像(36)が、割り当てられた前記群ミラー照明チャネル(35)を通じて前記物体視野(5)内で互いに重ね合わされるようなものであり、
前記個々のミラー群(24a)の前記個々のミラー(26)は、それによって予め定められた該個々のミラー群(24a)の前記個々のミラー照明チャネル(43)が、該個々のミラー群(24a)に割り当てられた前記第2のファセットミラー(20)の前記ファセット(34)上の異なるターゲット場所(44i)に向けて案内されるような向きに置かれる、
ことを特徴とする照明光学ユニット。 - 前記個々のミラー(26)は、前記個々のミラー照明チャネル(43)がそれに向けて案内される前記第2のファセットミラー(20)の前記ファセット(34)上の前記異なるターゲット場所(44i)が、該ファセット(34)にわたって延びるターゲット場所経路(45)に沿って配置されるような向きに置かれることを特徴とする請求項2又は請求項3に記載の照明光学ユニット。
- 前記個々のミラー(26)は、前記ターゲット場所経路(45)が直線的に延びるように配置されることを特徴とする請求項4に記載の照明光学ユニット。
- 前記第2のファセットミラー(20)の前記ファセット(34)の反射面(49)が、前記ターゲット場所経路(45)に沿ってそれに対して垂直な方向よりも大きい広がりを有することを特徴とする請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の照照明光学ユニット。
- 前記第2のファセットミラー(20)は、前記ターゲット場所経路(45)に沿ったその広がりに関して異なる広がりを有するファセット(34)を有することを特徴とする請求項6に記載の照明光学ユニット。
- 前記物体視野(5)は、2つの物体視野座標(x,y)によって張られ、
前記2つの物体視野座標(x,y)の一方の同じ座標値(x)に属し、すなわち、他方の物体視野座標(y)においてのみ異なる個々のミラー群(24a)の前記個々のミラー(26)は、それによって予め定められた該個々のミラー(26)の前記個々のミラー照明チャネル(43i)が、該個々のミラー群(24a)に割り当てられた前記第2のファセットミラー(20)の前記ファセット(34)上の同じターゲット場所(44i)に向けて案内されるような向きに置かれる、
ことを特徴とする請求項2から請求項7のいずれか1項に記載の照照明光学ユニット。 - 前記第1のファセットミラー(19)上での前記個々のミラー(26)の空間配置が、前記物体視野(5)内への前記個々のミラー群(24a’)の結像の結像スケールを考慮した該第1のファセットミラー(19)上の該個々のミラー群(24a’)のサイズ及び/又は縁部輪郭(38’)が該物体視野(5)のサイズ及び/又は縁部輪郭からずれることによってこのずれが結像収差を補償するように選択されることを特徴とする請求項1に記載の照明光学ユニット。
- 請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の照明光学ユニット(4)を含み、
物体視野(5)を像視野(11)に結像するための投影光学ユニット(10)を含む、
ことを特徴とする照明系(3)。 - 請求項10に記載の照明系(3)を含み、
EUV光源(2)を含み、
物体変位ドライブ(9)を用いて変位方向(y)に沿って変位可能であり、物体視野(5)内に物体(7)を装着するための物体ホルダ(8)を含み、
ウェーハ変位ドライブ(15)を用いて前記変位方向(y)に沿って変位可能であり、像視野(11)内にウェーハ(13)を装着するためのウェーハホルダ(14)を含む、
ことを特徴とする投影露光装置(1)。 - ターゲット場所経路(45)が、前記変位方向(y)と平行に延びることを特徴とする請求項11に記載の投影露光装置。
- 投影露光の方法であって、
請求項11又は請求項12に記載の投影露光装置(1)を与える段階と、
ウェーハ(13)を与える段階と、
リソグラフィマスク(7)を与える段階と、
前記投影露光装置(1)の投影光学ユニット(10)を用いて前記リソグラフィマスク(7)の少なくとも一部を前記ウェーハ(13)の感光層の領域上に投影する段階と、
を含むことを特徴とする方法。 - 請求項13に記載の方法によって生成された微細又はナノ構造化構成要素。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201261612450P | 2012-03-19 | 2012-03-19 | |
US61/612,450 | 2012-03-19 | ||
DE102012204273.3 | 2012-03-19 | ||
DE102012204273.3A DE102012204273B4 (de) | 2012-03-19 | 2012-03-19 | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie |
PCT/EP2013/054856 WO2013139635A1 (en) | 2012-03-19 | 2013-03-11 | Illumination optical unit for euv projection lithography |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018037623A Division JP6493584B2 (ja) | 2012-03-19 | 2018-03-02 | Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015512560A true JP2015512560A (ja) | 2015-04-27 |
JP6348478B2 JP6348478B2 (ja) | 2018-06-27 |
Family
ID=49043999
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015500838A Active JP6348478B2 (ja) | 2012-03-19 | 2013-03-11 | Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
JP2018037623A Active JP6493584B2 (ja) | 2012-03-19 | 2018-03-02 | Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018037623A Active JP6493584B2 (ja) | 2012-03-19 | 2018-03-02 | Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9280061B2 (ja) |
JP (2) | JP6348478B2 (ja) |
DE (1) | DE102012204273B4 (ja) |
WO (1) | WO2013139635A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102012204273B4 (de) | 2012-03-19 | 2015-08-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie |
NL2015073A (en) * | 2014-07-15 | 2016-04-12 | Asml Netherlands Bv | Lithography apparatus and method of manufacturing devices. |
DE102014217620A1 (de) * | 2014-09-03 | 2016-03-03 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für eine Projektionsbelichtungsanlage |
DE102014223452A1 (de) * | 2014-11-18 | 2016-05-19 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Teilsystem für die Projektionslithographie sowie Beleuchtungsoptik für die Projektionslithographie |
KR102605161B1 (ko) * | 2015-02-11 | 2023-11-23 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | Euv 투영 리소그라피를 위한 조명 광학기기 |
JP6712372B2 (ja) | 2015-03-02 | 2020-06-24 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | 放射システム |
DE102016205624B4 (de) | 2016-04-05 | 2017-12-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie, Beleuchtungssystem, Projektionsbelichtungsanlage und Verfahren zur Projektionsbelichtung |
DE102019214269A1 (de) * | 2019-09-19 | 2021-03-25 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Facettenspiegel für eine Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage |
US10989601B1 (en) * | 2020-05-01 | 2021-04-27 | J.A. Woollam Co., Inc. | Beam focusing and reflective optics |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009535827A (ja) * | 2006-05-04 | 2009-10-01 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | Euvリソグラフィ用照明システム及びこの種の照明システムに使用する第1及び第2の光学要素 |
JP2010219522A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-30 | Nikon Corp | オプティカルインテグレータ、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
JP2011512659A (ja) * | 2008-02-15 | 2011-04-21 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのための投影露光装置に使用するファセットミラー |
JP2013533632A (ja) * | 2010-07-28 | 2013-08-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ファセットミラーデバイス |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE10053587A1 (de) | 2000-10-27 | 2002-05-02 | Zeiss Carl | Beleuchtungssystem mit variabler Einstellung der Ausleuchtung |
US6859515B2 (en) | 1998-05-05 | 2005-02-22 | Carl-Zeiss-Stiftung Trading | Illumination system, particularly for EUV lithography |
US6438199B1 (en) | 1998-05-05 | 2002-08-20 | Carl-Zeiss-Stiftung | Illumination system particularly for microlithography |
US20070030948A1 (en) * | 1998-05-05 | 2007-02-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Illumination system with field mirrors for producing uniform scanning energy |
DE10138313A1 (de) | 2001-01-23 | 2002-07-25 | Zeiss Carl | Kollektor für Beleuchtugnssysteme mit einer Wellenlänge < 193 nm |
DE102006014380A1 (de) * | 2006-03-27 | 2007-10-11 | Carl Zeiss Smt Ag | Projektionsobjektiv und Projektionsbelichtungsanlage mit negativer Schnittweite der Eintrittspupille |
JP5077724B2 (ja) | 2007-06-07 | 2012-11-21 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィツール用の反射照明システム |
DE102008009600A1 (de) * | 2008-02-15 | 2009-08-20 | Carl Zeiss Smt Ag | Facettenspiegel zum Einsatz in einer Projektionsbelichtungsanlage für die Mikro-Lithographie |
DE102008049586A1 (de) | 2008-09-30 | 2010-04-08 | Carl Zeiss Smt Ag | Feldfacettenspiegel zum Einsatz in einer Beleuchtungsoptik einer Projektionsbelichtungsanlage für die EUV-Mikrolithographie |
DE102012204273B4 (de) * | 2012-03-19 | 2015-08-13 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik für die EUV-Projektionslithografie |
-
2012
- 2012-03-19 DE DE102012204273.3A patent/DE102012204273B4/de active Active
-
2013
- 2013-03-11 WO PCT/EP2013/054856 patent/WO2013139635A1/en active Application Filing
- 2013-03-11 JP JP2015500838A patent/JP6348478B2/ja active Active
-
2014
- 2014-08-21 US US14/465,135 patent/US9280061B2/en active Active
-
2016
- 2016-01-21 US US15/002,823 patent/US9612537B2/en active Active
-
2018
- 2018-03-02 JP JP2018037623A patent/JP6493584B2/ja active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009535827A (ja) * | 2006-05-04 | 2009-10-01 | カール・ツァイス・エスエムティー・アーゲー | Euvリソグラフィ用照明システム及びこの種の照明システムに使用する第1及び第2の光学要素 |
JP2011512659A (ja) * | 2008-02-15 | 2011-04-21 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | マイクロリソグラフィのための投影露光装置に使用するファセットミラー |
JP2010219522A (ja) * | 2009-03-12 | 2010-09-30 | Nikon Corp | オプティカルインテグレータ、照明光学系、露光装置、およびデバイス製造方法 |
JP2013533632A (ja) * | 2010-07-28 | 2013-08-22 | カール・ツァイス・エスエムティー・ゲーエムベーハー | ファセットミラーデバイス |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102012204273A1 (de) | 2013-09-19 |
US20160154316A1 (en) | 2016-06-02 |
WO2013139635A1 (en) | 2013-09-26 |
JP6348478B2 (ja) | 2018-06-27 |
US9280061B2 (en) | 2016-03-08 |
US9612537B2 (en) | 2017-04-04 |
JP2018101150A (ja) | 2018-06-28 |
JP6493584B2 (ja) | 2019-04-03 |
US20140362361A1 (en) | 2014-12-11 |
DE102012204273B4 (de) | 2015-08-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6493584B2 (ja) | Euv投影リソグラフィのための照明光学ユニット | |
JP6121581B2 (ja) | マイクロリソグラフィのための投影露光装置に使用するファセットミラー | |
TWI397786B (zh) | 用於投影微影之照明光學單元 | |
US9791784B2 (en) | Assembly for a projection exposure apparatus for EUV projection lithography | |
TWI539240B (zh) | 用於微影之照明光學系統以及具有此類型之照明光學系統的投射曝光系統 | |
JP2015518277A (ja) | リソグラフィ投影露光装置の照明視野にわたる照明強度を予め定めるための照明強度補正デバイス | |
JP6423419B2 (ja) | 投影露光装置のためのファセットミラー | |
US10126658B2 (en) | Illumination optical unit for EUV projection lithography | |
JP6987817B2 (ja) | Euv投影リソグラフィのための照明系及び照明光学ユニット | |
TW201702637A (zh) | 光瞳琢面反射鏡 | |
US8514372B1 (en) | Method for setting an illumination geometry for an illumination optical unit for EUV projection lithography | |
CN111656245B (zh) | 投射光刻的照明光学单元 | |
JP6457754B2 (ja) | 投影リソグラフィのための照明光学ユニット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160310 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20161130 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20170207 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170530 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20171106 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180302 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20180312 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180501 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180531 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6348478 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |