JP2015230194A - 位置同定型検出器を用いた放射線撮像装置 - Google Patents

Abstract

【課題】
実装が簡易でコストを抑えながら、高感度と高分解能を両立した放射線撮像装置を提供する。
【解決手段】
放射線を測定する検出器を複数配列した検出器群と、前記検出器群の前面に配置して、セプタで仕切られた貫通穴により前記放射線の入射方向を制限するコリメータと、前記検出器群からのデータを処理するデータ処理装置とを備えた放射線撮像装置において、前記検出器の前記放射線の入射面に平行方向に前記放射線の検出位置を同定し、
前記検出位置を同定する方向の前記検出器ピッチは前記コリメータの前記貫通穴ピッチの半分よりも大きく、前記位置同定によって定められた検出位置毎に予め求められていた線源領域との応答関数を画像再構成に組み込むことで空間分解能を補正することを特徴とする。
【選択図】 図１

Description

本発明は、ピクセル型の放射線検出器を用いた被検体の断層画像を取得する放射線撮像装置に代表される断層像撮像装置に関するものである。

放射線計測装置を核医学分野に応用した装置として、ガンマカメラ及びこのガンマカメラを用いた単一光子放射型コンピュータ断層撮影装置（以下、ＳＰＥＣＴ(Single Photon Emission Computed Tomography)装置と称する）がある。ガンマカメラは一般的に、放射性同位体を含む化合物の分布を測定し透過画像イメージ（プラナー画像）を提供するのに対し、ＳＰＥＣＴ装置はガンマカメラを回転計測することにより断層面のイメージを提供するものである。

これまでのガンマカメラに使用されている放射線検出器は、一枚の大きな結晶からなるシンチレータと複数の光電子増倍管とを組み合わせたものが主流であった。また、このガンマカメラは放射線の位置決定を複数の光電子増倍管の出力信号から重心演算により行っている。しかしながら、この方法では分解能１０ｍｍ程度が限界であり、臨床現場で用いるには不十分であるため、より高い分解能を持つガンマカメラが求められている。

近年、より高い分解能をもつものとして、ピクセル型の放射線検出器（以下、検出器と称する）が開発されてきている。ピクセル型の検出器には、シンチレータとフォトダイオードで構成されたものや、放射線を電気信号に変換する半導体で構成されたもの等がある。いずれも、小さな検出器単位、すなわちピクセル単位で位置信号を取得する。従って、検出器の固有分解能は、ピクセルサイズで決定され、空間的に離散した計測を行う。また、ピクセルサイズが１、２ｍｍ程度のピクセル型検出器も開発され、分解能は１０ｍｍ以下を達成し、大幅に改善されてきた。

一方、ＳＰＥＣＴ装置における断層面の再構成方法も開発・改良され、分解能向上に大きく貢献している。これまでは、フィルタ補正逆投影法（ＦＢＰ法：filtered back-projection法）、分解能補正なしの逐次近似法（最尤推定期待値最大化法（ＭＬＥＭ法：Maximum Likelihood Expectation Maximization法）、サブセット化による期待値最大化法（ＯＳＥＭ法：Ordered Subset Expectation Maximization法））等が用いられていた。近年、分解能補正ありの逐次近似法が開発されている。この方法により、コリメータや検出器の幾何学的形状、散乱線等の物理的要因を考慮して画像を再構成することができ、より正確な画像を提供することができる。

なお、以下のピクセル型の検出器の説明において、「検出器」と「検出器群」という用語を用いるが、検出器は任意の形状の１ピクセルを構成するものをいい、検出器群は検出器が配列された集合体をいうものとする。

一般に、検出器の形状は矩形であり、放射線入射側から検出器群を見ると長方形が稠密に詰まった構成となっている。検出器群をなす全ての検出器において、感度を一様にするために、コリメータの貫通穴と検出器とが、一対一対応となるように配置されることが多い。また扱いやすさの点から、検出器の形状に合わせて、コリメータの貫通穴の形状も矩形であるのが一般的である。ここで、検出器が矩形であるとき、１つの検出器は４つの面で隣の検出器と接している。この隣の検出器と接している面を「検出器同士の境界面」と定義するものとする。また、検出器の入射面に対して垂直方向から平面視した際の検出器同士の境界面を「検出器同士の間の境界線」と定義するものとする。従来のガンマカメラでは、検出器の入射面に対して垂直方向から平面視した際、この検出器同士の間の境界線上にコリメータのセプタがくるように配置される。

現在、高空間分解能かつ高感度であるＳＰＥＣＴ装置が、臨床において求められている。分解能や感度を決定する要因としては、放射線源と検出器との距離、セプタの厚さ、放射線のエネルギ、散乱、吸収等多くの要因がある。これらの要因のうち、コリメータのセプタの高さとコリメータの貫通穴の大きさが、分解能と感度の決定に大きく関与している。すなわち、高分解能を得るためには、検出器に入射する放射線の到来方向をコリメータで制限する必要がある。このためには、検出器が測定対象物を見込む視野を、コリメータによって狭めればよい。このようなコリメータとして、ＬＥＨＲ(Low Energy High Resolution)コリメータが知られている。しかし、この制限によって、感度が犠牲になる。一方、高感度を得るために、コリメータの貫通穴のサイズを大きくする必要がある。このようなコリメータとして、ＬＥＧＰ(Low Energy General Purpose)コリメータやＬＥＨＳ(Low Energy High Sensitivity)コリメータが知られている。しかし、貫通穴のサイズを大きくすることによって、分解能が悪化する。このように、従来のＳＰＥＣＴ装置では、高分解能と高感度が両立しないため、用途に応じてコリメータを入れ替える必要があり、臨床現場の負担となっている。

そこで、感度と分解能を両立するＳＰＥＣＴ装置として、一つの矩形貫通穴に複数の検出器が含まれる、ＳＰＥＣＴ装置が発明された。このＳＰＥＣＴ装置では、貫通穴のサイズが同じとき、貫通穴と検出器とが一対一対応である従来のＳＰＥＣＴ装置よりも、高い分解能が得られることが実証されている（特許文献１、非特許文献１）。

国際公開第２００８／０４６９７１号

C. Robert et al. (2008) 2008 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record Vol6 pp.4246-4251

上述のように貫通穴サイズを大きくした高感度コリメータを用いて、一つの矩形貫通穴に複数のピクセル型の検出器を配置して、更に応答関数を逐次近似画像再構成に組み込んで位置分解能を補正した画像再構成を実施することによりＳＰＥＣＴ装置において高感度と高分解能を実現したが、特にピクセル型の検出器技術に関して以下の課題がある。

一つ目の課題は、検出器のピクセル化の課題であり、技術的課題と共にコストが増加していることである。技術的には、空間分解能を向上させるために検出器ピッチを稠密化する必要があり、それに伴い検出器加工や実装の高精度化が要求され、また計測チャンネル数が膨大となり発熱や実装面積等で回路設計が困難となっている。これらの技術的難易度の上昇に伴い開発費用が増加し、更には実装等の工作費も上昇して装置のコストが大幅に上昇している。

二つ目の課題は、ピクセル検出器とコリメータの位置合わせである。ピクセル検出器の境界面にコリメータのセプタを配置する必要があるが、位置がずれると検出器上にセプタが配置されるものと配置されないものが発生し、大きな感度差が生じてしまう。また、セプタ厚（0.2mm程度）程の位置合わせ精度が必要となるので、コリメータ製作やその固定方法等の高精度化が要求されると共に、その位置合わせ作業自体も困難となる。

そこで本発明は、実装が簡易でコストを抑えながら、高感度と高分解能を両立した放射線撮像装置を提供することを課題とする。

このような課題を解決するために、本発明に係る放射線撮像装置は、放射線を測定する検出器を複数配列した検出器群と、前記検出器群の前面に配置して、セプタで仕切られた貫通穴により前記放射線の入射方向を制限するコリメータと、前記検出器群からのデータを処理するデデータ処理装置とを備えた放射線撮像装置において、前記検出器の前記放射線の入射面に平行方向に前記放射線の検出位置を同定し、前記検出位置を同定する方向の前記検出器ピッチは前記コリメータの前記貫通穴ピッチの半分よりも大きく、前記位置同定によって定められた検出位置毎に予め求められていた線源領域との応答関数を画像再構成に組み込むことで空間分解能を補正することを特徴とする。

本発明によれば、高空間分解能かつ高感度を実現する放射線撮像装置を提供することができる。

本実施形態に係るＳＰＥＣＴ装置の構成図である。 本実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるカメラに内蔵するピクセル型の検出器を示す斜視図である。 本実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるカメラに内蔵するコリメータを示す斜視図である。 本実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるコリメータの１つの貫通穴と検出器の配置を放射線照射方向から見た図である。 本実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるコリメータの１つの貫通穴と検出器の配置を放射線照射方向から見た図４の断面図である。 本実施形態の半導体検出器による放射線検出原理と出力信号の概念図である。 本実施形態の半導体出力信号をファースト系とスロー系で計測し２次元にマッピングした概念図である。 本実施形態の図５において、実検出器番号から模擬検出器番号への変換方法を示した概念図である。 第２の実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるコリメータの１つの貫通穴と検出器の配置を放射線照射方向から見た図である。 第２の実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるコリメータの１つの貫通穴と検出器の配置を放射線照射方向から見た図９の断面図である。 第二の実施形態における、実検出器番号から模擬検出器番号への変換方法を示した概念図である。 第三の実施形態における、セプタと検出器の位置関係を示した断面図である。

以下、本発明を実施するための形態（以下「実施形態」という）について、適宜図面を参照しながら詳細に説明する。

（第一実施形態）
本実施形態に係るＳＰＥＣＴ装置（放射線撮像装置）１の全体の構成について図１を用いて説明する。
＜ＳＰＥＣＴ装置（放射線撮像装置）＞
図１は、本実施形態に係るＳＰＥＣＴ装置の構成図である。

ＳＰＥＣＴ装置１は、ガントリ１０、カメラ（撮像装置）１１Ａ、１１Ｂ、データ処理装置１２、表示装置１３、ベッド１４を含んで構成されている。

被検者１５は、放射性薬剤、例えば、半減期が６時間の99mＴｃを含んだ薬剤を投与される。ベッド１４に載せられた被検者１５の体内の99mＴｃから放出されるγ線（放射線）をガントリ１０に支持されたカメラ１１（１１Ａ、１１Ｂ）で検出してプラナー画像及び断層画像を撮像するようになっている。

カメラ１１は、コリメータ２６と多数の検出器２１を内蔵している。コリメータ２６は、貫通穴２７と貫通穴２７を仕切るセプタ２８とを有し、被検者１５の体内の99mＴｃから放出されるγ線を選別（入射角を規制）し、一定方向のγ線のみを通過させる役割を有している。コリメータ２６（貫通穴２７）を通過したγ線を検出器２１で検出する。

カメラ１１は、γ線の検出信号を計測するための特定用途向け集積回路（以下、ＡＳＩＣ(Application Specific Integrated Circuit)と称する）（放射線計測回路）２５を備える。γ線の微小な検出信号は、検出器基板２３、ＡＳＩＣ基板２４を介して、ＡＳＩＣ２５に入力されて増幅する。ＡＳＩＣ２５にて増幅された検出器信号は、ＡＤＣ（図示せず）によりデジタル信号化されたのち、ＦＰＧＡ（図示せず）等のデジタル回路素子により、γ線を検出した検出器２１のＩＤ、検出したγ線の波高値や検出時刻及び検出位置（または検出位置を同定するのに必要な測定データ）を検出する。これらはカメラ１１を構成するアルミニウム、鉄、鉛等でできた遮光・γ線・電磁シールド２９によって囲まれており、光、γ線、電磁波を遮断している。

カメラ１１は、固定して撮像することによりプラナー画像を撮像する。カメラ１１は、ガントリ１０との取り付け部（図示せず）を軸として回転させることもでき、２つのカメラ１１Ａ、１１Ｂを並べて固定して、プラナー画像を撮像させることもできる。また、カメラ１１は、ガントリ１０の中央部分に設けられた円筒形開口部の中心軸の半径方向及び周方向に可動させることができる。ＳＰＥＣＴ撮像時には、カメラ１１は被検者１５の周りに最近接軌道を描いて撮像していく。

データ処理装置１２は、記憶装置（図示せず）及び断層像情報作成装置（図示せず）を有する。データ処理装置１２は、検出したγ線の波高値、検出時刻のデータ及び検出器（チャンネル）ＩＤと検出器内の検出位置（または検出位置を同定するのに必要な測定データ）を含むパケットデータをＦＰＧＡ（図示せず）等のデジタル回路素子から取り込み、プラナー画像を生成もしくはサイノグラムデータに変換して断層像情報を生成し、表示装置１３に表示する。
＜検出器及びコリメータ＞
次に、カメラ１１に用いられる検出器２１及びコリメータ２６について図２、図３、図４及び図５を用いて説明する。

図２は、本実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるカメラに内蔵するピクセル型の検出器を示す斜視図、図３は、本実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるカメラに内蔵するコリメータを示す斜視図、図４は、本実施形態のＳＰＥＣＴ装置に用いるコリメータの１つの貫通穴と検出器の配置を放射線照射方向から見た図、図５は図４のＡ−Ａ断面図である。

検出器基板２３（図１参照）に、ＣｄＴｅ半導体を用いた検出器２１を２次元に配列し検出器群２１Ａを構成している。また、個々の検出器２１が１つのピクセルを構成する。

図２において、上面側が検出器２１の入射面２１ｆであり、電圧を印加する電極２２ａ、２２ｂは検出器２１の側面に配置される。このように、１枚の大きな結晶からなるシンチレータと異なり、検出信号は、各検出器２１単位、つまりピクセル単位で収集される。

更に、検出器内の放射線出位置の同定は、電極２２ａ、２２ｂ間で行う。つまり位置検出方向は、図２におけるｙ軸方向である。

ただし、検出器形状はこれに限定されない。一体ものの検出素子の入射面に電極によりピクセル化しても良い。この時の検出位置同定は基本的には電極分割されたピクセル単位となるが、隣接する電極に信号が出力されることを利用し、ピクセル内についても検出位置を同定することが可能である。

コリメータ２６は鉛製であり、図３に示すように、検出器２１の入射面２１ｆに対して垂直方向から平面視した際、見通せる方向に貫通穴２７を有し、貫通穴２７は碁盤目状に配置されている。また、各貫通穴２７は、セプタ２８によって仕切られている。

図４及び図５に示すように、本実施形態のＳＰＥＣＴ装置１では、位置検出方向と垂直方向（ｘ軸方向）には、１つの貫通穴２７に対し２個分の検出器２１が含まれる構成となっている（貫通穴２７ピッチの半分と検出器２１ピッチが等しい）。なお、位置検出方向と垂直方向（ｘ軸方向）においては、これに限定されない。１つの貫通穴２７に対し２個以上の検出器２１を配置しても良いし、1個の検出器２１を配置してもよい。一方、位置検出方向（ｙ軸方向）に関しては、本実施形態では、検出器ピッチｄが貫通穴ピッチの半分の長さｈよりも大きい場合であり、特に図は検出器４ピッチで貫通穴３ピッチと等しくなっている場合（４ｄ＝６ｈ）を示している。

＜位置検出＞
図６に半導体検出器での放射線（ガンマ線）検出原理と出力信号の概念図を示す。ガンマ線が陰極近くで反応した場合は、発生した電子と正孔のペアのうち正孔は陰極にすぐに達して消滅し、電子のみが移動して出力信号を発生する。一方、陽極近くでガンマ線が反応した場合は、正孔のみの移動による出力信号となる。電子と正孔では移動速度が異なるために、上記のそれぞれの信号は立ち上がりの異なる信号として計測されることになる。そこで、電子の立ちあがりとほぼ一致した周波数を計測するファースト系と正孔よりも遅い周波数のスロー系の２種の計測により信号を計測し、図７に示すように２次元マッピングすると、電子と正孔の寄与率（検出位置）の違いをマッピングすることが可能となる。この３次元マッピングデータから検出位置を同定することができる。本処理は、ＦＰＧＡ（図示せず）で実施しても良いし、ＦＰＧＡからは検出位置同定に必要なファースト系とスロー系のそれぞれのデータを出力してデータ処理装置１２にて実施してもよい。

次に各検出器２１の検出位置からコリメータ２６のセプタ２８との相対位置を同定する必要がある。図５において例えば一番左の検出器２１の端部がセプタ２８の直下に来るように位置決めしておけば、そこを基準点として代数的に、各検出器２１の検出位置からコリメータ２６のセプタ２８との相対位置を同定することが可能となる。相対位置の同定方法はこの方法に限定されるものではなく、事前に何らかの方法で位置を計測し、換算テーブルを作成しておく方法等でも良い。

また、次に説明するように点応答関数を用いて画像再構成を行うが、点応答関数は、検出器２１とコリメータ２６の相対位置関係で決定されるもので、求める画像の分解能等から、その点応答関数を必要以上に細かい位置関係で把握しても意味が無い。また、上記の検出位置の同定自体にも誤差があるので、相対位置をデジタル化して処理すればよく、本実施例では、図８に示すように、貫通穴２７に２個の擬似的な検出器を配置するように、実際の検出器２１の番号（位置）と検出位置のデータから模擬検出器番号に変換する。

＜画像再構成＞
次にデータ処理装置１２で実行される画像再構成について説明する。

検出器群２１Ａから上述のように変換した模擬検出器群２１Ｂにおいて、測定対象に対してある角度をなしているとき、模擬検出器ｉのカウント数ｙi は、検出再構成画素ｊのカウント数をλj として、式（１）で表される。ここで、Ｃijは、模擬検出器ｉで検出される確率を表す。

ｙi ＝ΣＣij λj ・・・（１）
上式から、逐次近似再構成法等(ＭＬＥＭ法、ＯＳＥＭ法、ＭＡＰ法等)を用いて画像を再構成する。さらに模擬検出器の点応答関数を逐次近似画像再構成に組み込むことにより、空間分解能を補正することが可能である。点応答関数とは、点線源から発生した放射線を模擬検出器群２１Ｂが検出する確率であり、式（1）の検出確率Cijに等しい。この点応答関数を用いることで、MLEM、OSEM等の逐次近似再構成法からより正確な画像を再構成することができる。

本実施例により、コリメータ２６の貫通穴２７の半分のピッチｈよりも大きな検出器ピッチｄにて、模擬的に貫通穴２７に２個（面では４個）の体系を実現することが可能となり、高感度、高分解能を両立するＳＰＥＣＴ装置が実現可能となる。貫通穴２７に配置する模擬検出器の個数は２個に限定されるものではなく、３個、４個でも可能であり、より高分解能が期待できる。

上記のようにより粗いピッチの検出器配置で性能が向上可能となるので、検出器の稠密配置による技術的な難易度を低減し、コスト増加を抑えられる。

また、本実施例では検出器２１のピッチとコリメータ２６の貫通穴２７のピッチを合わせる必要が無く、複数のコリメータ形状に対応可能となる。ＳＰＥＣＴ撮像では、撮像プロトコルにより、感度や分解能の異なるコリメータに交換することが有効であり、本実施例によりピクセル型のコリメータでもコリメータの交換を可能とする。

（第二実施形態）
本実施形態は、検出器ピッチが貫通穴ピッチの半分の長さの２以上の整数倍であることを特徴とする。図９は特に、検出器ピッチが貫通穴ピッチと等しい場合（ｄ＝２ｈ）であり、これを例に説明する。もちろんこれに限定されずに、検出器ピッチが貫通穴ピッチの半分の長さの２以上の整数倍であれば良い。

本実施例の位置検出方法及び画像再構成方法は、基本的には第一の実施形態と同様である。特徴は、図１１に示すように、実際の検出器番号と模擬検出器群２１Ｂへの変換方法が異なることである。本実施例では、実検出器の番号を考慮する必要が無く、個々の検出器内を２分割すればよい。模擬検出器は偶数番目と奇数番目の２種に分類可能で、それぞれセプタとの位置関係は同じなので、同一の応答関を使用すれば良いことに対応している。ただし、検出器ピッチが貫通穴ピッチの半分の長さの奇数倍の時は注意が必要で、例えば３倍の長さの検出器で検出器内を位置検出により３分割する場合は、実際の検出器番号が偶数の時と奇数のときで、模擬検出器位置が異なることを考慮する必要がある。ただしこの場合でも、実検出器番号に依存せずに検出器内を３分割すれば良いことに変わりは無く、模擬検出器番号への変換時に実検出器番号が偶数か奇数かに注意すればよい。

本実施例により、上述のように模擬検出器番号への変換が簡易になる。ＦＰＧＡ内で処理を行うことも容易に実行可能となり、データ処理の高速化が実現され、断層画像出力までの時間も短縮可能となり、診断のスループット向上にも寄与する。

また、本実施例では、コリメータ２６と検出器２１間の位置合わせが容易となる。第一の実施例では、１点（１辺）のみの位置合わせであったが、本実施例では周期的にセプタ２８と検出器境界（電極）が一致するので、その周期性を利用すれば良い。具体的には、例えば面線源からのデータを収集し、その分布により位置合わせすることが可能であるが、本実施例では周期性を考慮して足しわせることにより、少ない収集時間でも十分な統計データの画像を得られるので短時間での位置合わせが可能となる。

（第三実施形態）
本実施形態では、検出器ピッチ、位置検出方法及び画像再構成等は第一及び第二の実施形態と基本的には同様である。本実施例の特徴は、セプタの検出器に対する位置関係と予め求めておき、それをもとに模擬検出器への変換を実施することである。

セプタと検出器間の位置関係は、第２の実施形態の位置合わせ方法で述べたように面線源を利用してその非対称性から測定しても良いし、ラインソースをコリメータに対して斜めに配置して、やはりその分布の非対称性を利用して測定すること等も可能であり、線源はこれだけに限定されない。また、線源を使用せずにレーザ距離計等を利用して直接位置を計測しても良い。

本実施例では、図１２に示すように、セプタ２８と検出器２１の電極面が一致するところが無くても良い。また、言い換えるならセプタ２８と検出器２１の相対的位置関係を求める為の基準点や位置合わせが不要となる。予め求めておいたセプタの検出器に対する位置関係を用いて模擬検出器番号へ変換すればよい。

本実施例により、コリメータの位置合わせが不要となる。コリメータと検出器の相対的位置関係を予め測定しておく必要がるが、その方法はコリメータ位置合わせ時に実施するのと同様な測定であり、コリメータをずらして位置合わせを実施する手間が省けることは大きな意味がある。従来はコリメータの位置合わせに熟練作業員が必要であったがそれが不要となり、メーカ出荷時の調整が簡素化できるし、ユーザによるコリメータ交換も容易に実施できるようになる。

１ ＳＰＥＣＴ装置（放射線撮像装置）
１０ ガントリ
１１Ａ、１１Ｂ カメラ（撮像装置）
１２ データ処理装置（（検出位置同定手段）、点応答関数計算手段、空間分解能補正手段）
１３ 表示装置
１４ ベッド
１５ 被検者
２１ 検出器
２１Ａ 検出器群
２１Ｂ 模擬検出器群
２１ｆ 入射面
２２ａ、２２ｂ 電極
２３ 検出器基板
２４ ＡＳＩＣ基板
２５ ＡＳＩＣ（放射線計測回路）
２６ コリメータ
２７ 貫通穴
２８ セプタ
２９ 遮光・γ線・電磁シールド
３０ 境界線

Claims (5)

1. 放射線を測定する検出器を複数配列した検出器群と、
   前記検出器群の前面に配置して、セプタで仕切られた貫通穴により前記放射線の入射方向を制限するコリメータと、
   前記検出器群からのデータを処理するデータ処理装置とを備えた放射線撮像装置において、
   前記検出器の前記放射線の入射面に平行方向に前記放射線の検出位置を同定し、
   前記検出位置を同定する方向の前記検出器ピッチは前記コリメータの前記貫通穴ピッチの半分よりも大きく、
   前記位置同定によって定められた検出位置毎に予め求められていた線源領域との応答関数を画像再構成に組み込むことで空間分解能を補正することを特徴とする放射線撮像装置。
2. 請求項１において、
   前記検出位置を同定する方向の前記検出器ピッチは前記コリメータの前記貫通穴ピッチの半分の長さの２以上の整数倍であることを特徴とする放射線撮像装置。
3. 請求項１または２において、
   予め求めておいた前記セプタの前記検出器に対する位置を用いて、前記位置同定によって定められた前記検出位置を補正することを特徴とする放射線撮像装置。
4. 請求項１から３の何れかにおいて、
   前記放射線撮像装置とは単一光子放射型コンピュータ断層撮影装置である、放射線撮像装置。
5. 放射線を測定する検出器を複数配列した検出器群と、
   前記検出器群の前面に配置して、セプタで仕切られた貫通穴により前記放射線の入射方向を制限するコリメータと、
   前記検出器群からのデータを処理するデータ処理装置とを備え、
   前記検出器の前記放射線の入射面に平行方向に前記放射線の検出位置を同定し、
   前記検出位置を同定する方向の前記検出器ピッチは前記コリメータの前記貫通穴ピッチの半分よりも大きい放射線撮像装置を運用する方法において、
   前記位置同定によって定められた検出位置毎に予め求められていた線源領域との応答関数を画像再構成に組み込むことで空間分解能を補正することを特徴とする放射線撮像装置の運用方法。