JP2015226011A - Circuit board - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は回路基板に関する。 The present invention relates to a circuit board.
昨今ベースフィルム上に半導体チップが搭載されたCOF(Chip On Film)等のフレキシブル基板が工業製品に広く利用されている。COFと呼ばれるフレキシブル基板はテープ状に形成されたベースフィルムの長手方向に沿って複数が一体的に形成され、所定の打ち抜き位置で個別に金型で打ち抜かれることにより単体となる。このようなフレキシブル基板を有する回路基板に係る従来技術が例えば特許文献1に開示されている。
Recently, a flexible substrate such as a COF (Chip On Film) in which a semiconductor chip is mounted on a base film is widely used for industrial products. A plurality of flexible substrates called COFs are integrally formed along the longitudinal direction of a base film formed in a tape shape, and become a single unit by being individually punched with a die at a predetermined punching position. For example,
特許文献1に記載された従来の回路基板(電子部品の実装基板)はCOFからなるフレキシブル基板と表面実装用のリジッド型のプリント配線基板とが熱圧着により電気的に接続されている。熱圧着には異方性導電フィルム(ACF:Anisotropic Conductive Film)と呼ばれる主に複数の微細配線の電気的接続に用いられる接続部材を使用している。異方性導電フィルムは導電性を有する複数の粒子が混入された熱硬化性樹脂をフィルム状に形成した接続部材である。
In a conventional circuit board (electronic component mounting board) described in
しかしながら、上記従来の回路基板では、異方性導電フィルムの熱硬化性樹脂の溶融時に、異方性導電フィルムの導電性粒子が移動してフレキシブル基板やリジッド基板の端部に集中し易くなることが懸念されていた。そして、基板の端部に集中した導電性粒子がつながり、隣り合う導電体の間で意図しない電気的な短絡(ショート)が発生する虞があるという問題があった。 However, in the above conventional circuit board, when the thermosetting resin of the anisotropic conductive film is melted, the conductive particles of the anisotropic conductive film move and easily concentrate on the end of the flexible board or rigid board. There was concern. And there existed a problem that the electroconductive particle concentrated on the edge part of a board | substrate connected, and there exists a possibility that the electrical short (short) which an unintentional may generate | occur | produce between adjacent conductors may generate | occur | produce.
本発明は、上記の点に鑑みなされたものであり、複数の基板間における導電体の電気的接続に対して導電性を有する複数の粒子が混入された熱硬化性樹脂からなる接続部材を用いる場合に、導電性粒子の集中に起因する隣り合う導電体の間の意図しない電気的な短絡の発生を抑制することが可能な回路基板を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above points, and uses a connection member made of a thermosetting resin in which a plurality of particles having conductivity are mixed with respect to electrical connection of a conductor between a plurality of substrates. In this case, an object is to provide a circuit board capable of suppressing the occurrence of an unintended electrical short circuit between adjacent conductors due to the concentration of conductive particles.
上記の課題を解決するため、本発明の回路基板は、導電性を有する複数の粒子が混入された熱硬化性樹脂からなる接続部材を用いて他部材の導電体と電気的に接続される並行して延びる複数の導電体と、前記導電体に設けられて前記粒子を捕捉するための粒子捕捉部と、を備える。 In order to solve the above problems, the circuit board of the present invention is a parallel connection that is electrically connected to a conductor of another member using a connection member made of a thermosetting resin mixed with a plurality of conductive particles. And a plurality of conductors extending, and a particle capturing part provided on the conductor for capturing the particles.
この構成によれば、接続部材の熱硬化性樹脂の溶融時に、導電性粒子が隣り合う導電体の間で移動しても、導電性粒子は粒子捕捉部で捕捉される。したがって、隣り合う導電体の間の領域における導電性粒子の分散量が減少し、導電性粒子が基板の端部に集中することが抑制される。その結果、導電性粒子の集中に起因する隣り合う導電体の間の意図しない電気的な短絡の発生が抑制される。 According to this configuration, even when the conductive particles move between adjacent conductors when the thermosetting resin of the connection member is melted, the conductive particles are captured by the particle capturing unit. Therefore, the dispersion amount of the conductive particles in the region between the adjacent conductors is reduced, and the conductive particles are suppressed from concentrating on the end portion of the substrate. As a result, the occurrence of an unintended electrical short circuit between adjacent conductors due to the concentration of conductive particles is suppressed.
また、上記構成の回路基板において、前記粒子捕捉部は隣り合う前記導電体が互いに対向する側面に設けられ、前記導電体が延びる方向と交差する方向に前記導電体の内側に向かって窪んだ凹部からなる。 Further, in the circuit board configured as described above, the particle trapping portion is provided on a side surface where the adjacent conductors face each other, and is a recess recessed toward the inside of the conductor in a direction intersecting with the direction in which the conductor extends. Consists of.
この構成によれば、接続部材の熱硬化性樹脂の溶融時に、隣り合う導電体の間で移動する導電性粒子を粒子捕捉部で捕捉し易くなる。したがって、隣り合う導電体の間の領域における導電性粒子の分散量がさらに減少し、基板の端部に集中することが一層抑制される。 According to this configuration, when the thermosetting resin of the connection member is melted, the conductive particles that move between adjacent conductors can be easily captured by the particle capturing unit. Therefore, the dispersion amount of the conductive particles in the region between the adjacent conductors is further reduced, and it is further suppressed that the conductive particles are concentrated on the edge of the substrate.
また、上記構成の回路基板は、隣り合う前記導電体に設けられた前記粒子捕捉部各々が互いに対向する。 In the circuit board configured as described above, the particle trapping portions provided on the adjacent conductors face each other.
この構成によれば、隣り合う導電体の間において、粒子捕捉部として他の部分と比較して間隔が大きく広がる部分が形成される。したがって、接続部材の熱硬化性樹脂の溶融時に、隣り合う導電体の間で移動する導電性粒子が広がった部分で滞留し易くなり、例えば隣り合う導電体の間隔が比較的狭い場合に有効である。 According to this configuration, a portion where the interval is widened as a particle trapping portion as compared with other portions is formed between adjacent conductors. Therefore, when the thermosetting resin of the connection member is melted, the conductive particles moving between the adjacent conductors are likely to stay in the expanded portion, which is effective when, for example, the interval between the adjacent conductors is relatively narrow. is there.
また、上記構成の回路基板は、隣り合う前記導電体に設けられた前記粒子捕捉部各々が互いに対向しない。 In the circuit board configured as described above, the particle trapping portions provided on the adjacent conductors do not face each other.
この構成によれば、隣り合う導電体の間において、粒子捕捉部各々が、導電体が延びる方向に沿って並ぶような構成となる。したがって、接続部材の熱硬化性樹脂の溶融時に、導電性粒子が隣り合う導電体の間で移動する過程において粒子捕捉部に遭遇する機会が増加し、例えば導電体が延びる方向に関する接続部材の長さが比較的長い場合に有効である。 According to this configuration, between the adjacent conductors, the particle trapping units are arranged along the direction in which the conductor extends. Accordingly, when the thermosetting resin of the connection member is melted, the chance of encountering the particle trapping portion increases in the process in which the conductive particles move between adjacent conductors. For example, the length of the connection member in the direction in which the conductor extends. This is effective when the length is relatively long.
また、上記構成の回路基板において、前記粒子捕捉部は前記他部材の導電体と接続される前記導電体の表面に設けられ、前記導電体の内側に向かって窪んだ凹部からなる。 In the circuit board configured as described above, the particle trapping portion is provided on the surface of the conductor connected to the conductor of the other member, and includes a recess that is recessed toward the inside of the conductor.
この構成によれば、接続部材の熱硬化性樹脂の溶融時に、導電体の表面において移動する導電性粒子を粒子捕捉部で捕捉し易くなる。したがって、導電体の表面において留まる導電性粒子が増加し、隣り合う導電体の間の領域において分散する導電性粒子が減少する。 According to this configuration, when the thermosetting resin of the connection member is melted, the conductive particles that move on the surface of the conductor can be easily captured by the particle capturing unit. Accordingly, the number of conductive particles remaining on the surface of the conductor increases, and the number of conductive particles dispersed in the region between adjacent conductors decreases.
また、上記構成の回路基板において、前記粒子捕捉部は隣り合う前記導電体が互いに対向する側面に設けられ、前記導電体が延びる方向に対して傾斜をなす方向に前記導電体の外側に向かって突出する枝状部からなる。 Further, in the circuit board having the above-described configuration, the particle trapping portion is provided on a side surface where the adjacent conductors face each other, and toward the outside of the conductor in a direction inclined with respect to a direction in which the conductor extends. It consists of projecting branches.
この構成によれば、接続部材の熱硬化性樹脂の溶融時に、隣り合う導電体の間で移動する導電性粒子を枝状部で、特に枝状部の鋭角な箇所で捕捉し易くなる。したがって、導電性粒子が枝状部に挟まって移動し難くなり、隣り合う導電体の間の領域で分散する導電性粒子が減少する。 According to this configuration, when the thermosetting resin of the connection member is melted, the conductive particles that move between adjacent conductors can be easily captured at the branch portions, particularly at the acute angle portions of the branch portions. Therefore, it becomes difficult for the conductive particles to move between the branch portions, and the conductive particles dispersed in the region between the adjacent conductors are reduced.
本発明の構成によれば、複数の基板間における導電体の電気的接続に対して導電性を有する複数の粒子が混入された熱硬化性樹脂からなる接続部材を用いる場合に、導電性粒子の集中に起因する隣り合う導電体の間の意図しない電気的な短絡の発生を抑制することが可能な回路基板を提供することができる。 According to the configuration of the present invention, when using a connection member made of a thermosetting resin mixed with a plurality of particles having conductivity for electrical connection of conductors between a plurality of substrates, The circuit board which can suppress generation | occurrence | production of the unintended electrical short circuit between the adjacent conductors resulting from concentration can be provided.
以下、本発明の実施形態を図1〜図11に基づき説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to FIGS.
<第1実施形態>
最初に、本発明の第1実施形態の回路基板について、図1及び図2を用いてその概略を説明する。図1は第1実施形態の回路基板と他の回路基板との接続状態を示す部分断面図であり、図2は第1実施形態の回路基板の概略平面図である。
<First Embodiment>
First, the outline of the circuit board according to the first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 is a partial cross-sectional view showing a connection state between the circuit board of the first embodiment and another circuit board, and FIG. 2 is a schematic plan view of the circuit board of the first embodiment.
回路基板1は、図1に示すように他部材である他の回路基板101と接続される。回路基板1と他の回路基板101とは異方性導電フィルムFを用いて互いに電気的に接続される。
As shown in FIG. 1, the
異方性導電フィルムFは導電性を有する複数の粒子Fb(図4参照)が混入された熱硬化性樹脂Frをフィルム状に形成した接続部材である。異方性導電フィルムFは熱圧着されて回路基板1と他の回路基板101とを電気的に接続する。熱圧着の際、異方性導電フィルムFは熱硬化性樹脂Frが溶融して一時的に液化し、例えば170〜180℃の温度で再び固化して2つの基板を接続する。このとき、回路基板1と他の回路基板101との各々の導電体の間に挟まれた粒子Fbを介して各々の導電体が電気的に接続される。
The anisotropic conductive film F is a connection member in which a thermosetting resin Fr mixed with a plurality of conductive particles Fb (see FIG. 4) is formed in a film shape. The anisotropic conductive film F is thermocompression bonded to electrically connect the
回路基板1は例えばCOF等のフレキシブル基板からなり、回路基板101に取り付けられる。回路基板1は、図2に示すように複数がテープ状のベースフィルム2に一体的に形成されて所定の打ち抜き位置1P(図2の二点鎖線)で個別に不図示の金型で打ち抜かれることにより単体となる。
The
ベースフィルム2は例えばポリイミドなどといった絶縁性樹脂からなり、図2において上下方向に延びるテープ状に形成されて不図示のリール等に巻き掛けられる。ベースフィルム2の幅方向(図2の左右横方向、幅方向)の両端にはテープの送りに使用されるパーフォレーション2aが貫通して開口する。
The
回路基板1はその略中央部に設けられた半導体チップ3と、先端が半導体チップ3から基板の周縁部まで延びる導電体4とを備える。
The
導電体4は、図2に示すように回路基板1の周縁部において、後に金型で打ち抜かれる打ち抜き位置1Pの外側まで直線状に延びるようベースフィルム2に形成される。そして、導電体4は、回路基板1が金型によって単体として打ち抜かれる際に、打ち抜き位置1Pでその先端部が切断される。導電体4は複数設けられ、導電体4が延びる方向と交差する回路基板1の端面が延びる方向に所定の間隔を隔てて並べられている。また、回路基板1の表面は、導電体4の回路基板101との接続箇所を除いて絶縁膜であるソルダーレジスト5で覆われ、回路パターンを保護している。
As shown in FIG. 2, the
回路基板101は例えばガラスエポキシ基板などといったリジッド基板からなる。回路基板101はその基材102の表面に設けられ、先端が基板の周縁部まで延びる導電体103を備える。
The
回路基板1及び回路基板101は導電体4と導電体103とを介して互いに電気的に接続される。したがって、導電体103は導電体4の数に対応して複数設けられて直線状に延び、導電体103が延びる方向と交差する方向に所定の間隔を隔てて並べられている。また、回路基板101の表面は、導電体103の回路基板1との接続箇所を除いて絶縁膜であるソルダーレジスト104で覆われ、回路パターンを保護している。
The
続いて、回路基板1の導電体4の詳細な構成について、図3及び図4を用いて説明する。図3は導電体4の部分平面図であり、図4は導電体4と回路基板101の導電体103との接続箇所を示す断面図である。
Subsequently, a detailed configuration of the
導電体4の先端部であって異方性導電フィルムFが設けられる範囲には、図3に示す粒子捕捉部4aが設けられる。粒子捕捉部4aは隣り合う導電体4が互いに対向する側面4Sに設けられる。
3 is provided in a range where the anisotropic conductive film F is provided at the tip of the
粒子捕捉部4aは導電体4が延びる方向(図3の上下方向、長手方向)と交差する方向(図3の左右横方向、幅方向)に導電体4の内側に向かって窪んだ凹部からなる。粒子捕捉部4aは導電体4が延びる方向と平行な二辺と導電体4が延びる方向と交差する二辺とを有する長方形状をなし、導電体4が延びる方向の長さよりも導電体4が延びる方向と交差する方向の長さのほうが短い。
The
粒子捕捉部4aは、1本の導電体4に関して導電体4の幅方向両側の側面4S各々に設けられ、それら各々が、導電体4が延びる方向に関して同じ位置に形成される。そして、隣り合う導電体4に設けられた粒子捕捉部4a各々が互いに対向する。
The
ここで、例えば導電体4の幅Wは20μmであり、隣り合う導電体4のピッチは35μmである。そして、例えば異方性導電フィルムFの粒子Fbの粒径が約3μmである場合、粒子捕捉部4aの幅Waは3μm以上、すなわち異方性導電フィルムFの粒子Fbの粒径以上であることが好ましい。なお、ここで述べた導電体4及び異方性導電フィルムFの寸法に用いた数値は一例であり、これらの数値に限定されるわけではない。
Here, for example, the width W of the
このような導電体4を備える回路基板1と他の回路基板101とを異方性導電フィルムFを用いて互いに電気的に接続すると図4に示す状態となる。図4の左側及び中央の導電体4には粒子捕捉部4aが形成され、粒子捕捉部4aが異方性導電フィルムFの粒子Fbを捕捉している。なお、導電体4と導電体103との間に描画した上下方向に潰れた粒子Fbは熱圧着時に潰れた状態を示している。
When the
一方、他の回路基板101も本発明に係る回路基板として、回路基板101に粒子捕捉部103aを形成しても良い。図4の中央及び右側の導電体103には導電体4の粒子捕捉部4aと同様の粒子捕捉部103aが形成され、粒子捕捉部103aが異方性導電フィルムFの粒子Fbを捕捉している。
On the other hand, the
なお、図4では、粒子捕捉部4a、103aによる粒子Fbの捕捉状態を確認し易くするため、粒子捕捉部4a、103aに熱硬化性樹脂Frが侵入していない状態を図示している。しかしながら実際には、熱硬化性樹脂Frの溶融時に粒子捕捉部4a、103aに熱硬化性樹脂Frが侵入する。以下、図7及び図9においても同様に図示している。
FIG. 4 shows a state where the thermosetting resin Fr does not enter the
上記のように、第1実施形態の回路基板1は導電性を有する複数の粒子Fbが混入された熱硬化性樹脂Frからなる接続部材である異方性導電フィルムFを用いて他部材である他の回路基板101の導電体103と電気的に接続される並行して延びる複数の導電体4と、導電体4に設けられて異方性導電フィルムFの粒子Fbを捕捉するための粒子捕捉部4aと、を備える。
As described above, the
この構成によれば、異方性導電フィルムFの熱硬化性樹脂Frの溶融時に、異方性導電フィルムFの粒子Fbが隣り合う導電体4の間で移動しても、粒子Fbを粒子捕捉部4aで捕捉することができる。したがって、隣り合う導電体4の間の領域における粒子Fbの分散量が減少し、粒子Fbが基板の端部に集中することを抑制することができる。その結果、粒子Fbの集中に起因する隣り合う導電体4の間の意図しない電気的な短絡の発生を抑制することが可能である。
According to this configuration, when the thermosetting resin Fr of the anisotropic conductive film F is melted, the particles Fb are captured even if the particles Fb of the anisotropic conductive film F move between the
また、粒子捕捉部4aは隣り合う導電体4が互いに対向する側面4Sに設けられ、導電体4が延びる方向と交差する方向に導電体4の内側に向かって窪んだ凹部からなる。この構成によれば、異方性導電フィルムFの熱硬化性樹脂Frの溶融時に、隣り合う導電体4の間で移動する粒子Fbを粒子捕捉部4aで捕捉し易くすることができる。したがって、隣り合う導電体4の間の領域における粒子Fbの分散量がさらに減少し、粒子Fbが基板の端部に集中することを一層抑制することが可能である。
Moreover, the particle | grain capture |
また、回路基板1は隣り合う導電体4に設けられた粒子捕捉部4a各々が互いに対向する。この構成によれば、隣り合う導電体4の間において、粒子捕捉部4aとして他の部分と比較して間隔が大きく広がる部分を形成することができる。したがって、異方性導電フィルムFの熱硬化性樹脂Frの溶融時に、隣り合う導電体4の間で移動する粒子Fbが広がった部分で滞留し易くすることができる。これにより、例えば隣り合う導電体4の間隔が比較的狭い場合に、隣り合う導電体4の間の意図しない電気的な短絡の発生を抑制する効果を高めることが可能である。
Further, in the
<第2実施形態>
次に、本発明の第2実施形態の回路基板について、図5を用いて説明する。図5は回路基板の導電体の部分平面図である。なお、この実施形態の基本的な構成は先に説明した第1実施形態と同じであるので、第1実施形態と共通する構成要素には前と同じ符号を付してその説明を省略するものとする。
Second Embodiment
Next, the circuit board of 2nd Embodiment of this invention is demonstrated using FIG. FIG. 5 is a partial plan view of the conductor of the circuit board. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that of the first embodiment described above, the same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted. And
第2実施形態の回路基板1は、図5に示すように導電体4の先端部であって異方性導電フィルムFが設けられる範囲に設けられた粒子捕捉部4aを備える。そして、隣り合う導電体4に設けられた粒子捕捉部4a各々が互いに対向していない。
As shown in FIG. 5, the
この構成によれば、隣り合う導電体4の間において、粒子捕捉部4a各々が、導電体4が延びる方向に沿って並ぶような構成となる。したがって、異方性導電フィルムFの熱硬化性樹脂Frの溶融時に、粒子Fbが隣り合う導電体4の間で移動する過程において粒子捕捉部4aに遭遇する機会を増加させることができる。これにより、例えば導電体4が延びる方向に関する異方性導電フィルムFの長さが比較的長い場合に、隣り合う導電体4の間の意図しない電気的な短絡の発生を抑制する効果を高めることが可能である。
According to this configuration, between the
<第3実施形態>
次に、本発明の第3実施形態の回路基板について、図6及び図7を用いて説明する。図6は回路基板の導電体の部分平面図であり、図7は回路基板の導電体と他の回路基板の導電体との接続箇所を示す断面図である。なお、この実施形態の基本的な構成は先に説明した第1実施形態と同じであるので、第1実施形態と共通する構成要素には前と同じ符号を付してその説明を省略するものとする。
<Third Embodiment>
Next, the circuit board of 3rd Embodiment of this invention is demonstrated using FIG.6 and FIG.7. FIG. 6 is a partial plan view of a conductor on the circuit board, and FIG. 7 is a cross-sectional view showing a connection portion between the conductor on the circuit board and the conductor on another circuit board. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that of the first embodiment described above, the same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted. And
第3実施形態の回路基板1は、図6及び図7に示すように導電体4の先端部であって異方性導電フィルムFが設けられる範囲に設けられた粒子捕捉部4bを備える。粒子捕捉部4bは、1本の導電体4に関して導電体4の幅方向両側の側面4S各々に設けられ、それら各々が、導電体4が延びる方向に関して異なる位置に形成される。そして、隣り合う導電体4に設けられた粒子捕捉部4b各々が互いに対向していない。
The
図7の左側及び中央の導電体4には粒子捕捉部4bが形成され、粒子捕捉部4bが異方性導電フィルムFの粒子Fbを捕捉している。一方、他の回路基板101にも粒子捕捉部103bを形成しても良い。図4の右側の導電体103には導電体4の粒子捕捉部4bと同様の粒子捕捉部103bが形成され、粒子捕捉部103bが異方性導電フィルムFの粒子Fbを捕捉している。
In the left and
この構成においても、隣り合う導電体4の間において、粒子捕捉部4b各々が、導電体4が延びる方向に沿って並ぶような構成となる。したがって、異方性導電フィルムFの熱硬化性樹脂Frの溶融時に、粒子Fbが隣り合う導電体4の間で移動する過程において粒子捕捉部4bに遭遇する機会を増加させることができる。
Also in this configuration, between the
<第4実施形態>
次に、本発明の第4実施形態の回路基板について、図8及び図9を用いて説明する。図8は回路基板の導電体の部分平面図であり、図9は回路基板の導電体と他の回路基板の導電体との接続箇所を示す断面図である。なお、この実施形態の基本的な構成は先に説明した第1実施形態と同じであるので、第1実施形態と共通する構成要素には前と同じ符号を付してその説明を省略するものとする。
<Fourth embodiment>
Next, the circuit board of 4th Embodiment of this invention is demonstrated using FIG.8 and FIG.9. FIG. 8 is a partial plan view of a conductor on a circuit board, and FIG. 9 is a cross-sectional view showing a connection point between a conductor on a circuit board and a conductor on another circuit board. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that of the first embodiment described above, the same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted. And
第4実施形態の回路基板1は、図8及び図9に示すように導電体4の先端部であって異方性導電フィルムFが設けられる範囲に設けられた粒子捕捉部4cを備える。粒子捕捉部4cは回路基板101の導電体103と接続される導電体4の表面4F、すなわち導電体103と対向する一面に設けられ、導電体4の内側に向かって窪んだ凹部からなる。粒子捕捉部4cは球体を輪切りにした一部のような形状の凹部であり、導電体4の表面4Fにおける粒子捕捉部4cの開口が円形である。
The
図9の左側及び右側の導電体4には粒子捕捉部4cが形成され、粒子捕捉部4cが異方性導電フィルムFの粒子Fbを捕捉している。一方、他の回路基板101にも粒子捕捉部103cを形成しても良い。図9の中央および右側の導電体103には導電体4の粒子捕捉部4cと同様の粒子捕捉部103cが形成され、粒子捕捉部103cが異方性導電フィルムFの粒子Fbを捕捉している。
In the left and
この構成によれば、異方性導電フィルムFの熱硬化性樹脂Frの溶融時に、導電体4の表面4Fにおいて移動する粒子Fbを粒子捕捉部4cで捕捉し易くすることができる。したがって、導電体4の表面において留まる粒子Fbが増加し、隣り合う導電体4の間の領域において分散する粒子Fbを減少させることが可能である。
According to this configuration, when the thermosetting resin Fr of the anisotropic conductive film F is melted, the particles Fb moving on the
<第5実施形態>
次に、本発明の第5実施形態の回路基板について、図10を用いて説明する。図10は回路基板の導電体の部分平面図である。なお、この実施形態の基本的な構成は先に説明した第1実施形態と同じであるので、第1実施形態と共通する構成要素には前と同じ符号を付してその説明を省略するものとする。
<Fifth Embodiment>
Next, the circuit board of 5th Embodiment of this invention is demonstrated using FIG. FIG. 10 is a partial plan view of the conductor of the circuit board. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that of the first embodiment described above, the same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted. And
第5実施形態の回路基板1は、図10に示すように導電体4の先端部であって異方性導電フィルムFが設けられる範囲に設けられた粒子捕捉部4dを備える。粒子捕捉部4dは隣り合う導電体4が互いに対向する側面4Sに設けられる。
As shown in FIG. 10, the
粒子捕捉部4dは導電体4が延びる方向に対して傾斜をなす方向に導電体4の外側に向かって突出する枝状部からなる。粒子捕捉部4dは、1本の導電体4に関して導電体4の幅方向両側の側面4S各々に設けられ、それら各々が、導電体4が延びる方向に関して同じ方向に向かって突出するよう形成される。例えば、図10において左端の粒子捕捉部4d及び右から2番目の粒子捕捉部4dは導電体4の先端側(図10の上側)に向かって突出する。また、図10において右端の粒子捕捉部4d及び左から2番目の粒子捕捉部4dは導電体4の根元側(図10の下側)に向かって突出する。
The
この構成によれば、異方性導電フィルムFの熱硬化性樹脂Frの溶融時に、隣り合う導電体4の間で移動する粒子Fbを粒子捕捉部4dで、特に枝状部の鋭角な箇所で捕捉し易くすることができる。したがって、粒子Fbを枝状部に挟んで移動し難くさせ、隣り合う導電体4の間の領域で分散する粒子Fbを減少させることが可能である。
According to this configuration, when the thermosetting resin Fr of the anisotropic conductive film F is melted, the particles Fb that move between the
<第6実施形態>
次に、本発明の第6実施形態の回路基板について、図11を用いて説明する。図11は回路基板の導電体の部分平面図である。なお、この実施形態の基本的な構成は先に説明した第1実施形態と同じであるので、第1実施形態と共通する構成要素には前と同じ符号を付してその説明を省略するものとする。
<Sixth Embodiment>
Next, the circuit board of 6th Embodiment of this invention is demonstrated using FIG. FIG. 11 is a partial plan view of the conductor of the circuit board. Since the basic configuration of this embodiment is the same as that of the first embodiment described above, the same components as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals and the description thereof is omitted. And
第6実施形態の回路基板1は、図11に示すように導電体4の先端部であって異方性導電フィルムFが設けられる範囲に設けられた粒子捕捉部4eを備える。粒子捕捉部4eは隣り合う導電体4が互いに対向する側面4Sに設けられる。
As shown in FIG. 11, the
粒子捕捉部4eは導電体4が延びる方向に対して傾斜をなす方向に導電体4の外側に向かって突出する枝状部からなる。粒子捕捉部4eは、1本の導電体4に関して導電体4の幅方向両側の側面4S各々に設けられ、それら各々が、導電体4が延びる方向の先端側或いは根本側に向かって互い違いに突出するよう形成される。
The
この構成においても、異方性導電フィルムFの熱硬化性樹脂Frの溶融時に、隣り合う導電体4の間で移動する粒子Fbを粒子捕捉部4eで、特に枝状部の鋭角な箇所で捕捉し易くすることができる。したがって、粒子Fbを枝状部に挟んで移動し難くさせ、隣り合う導電体4の間の領域で分散する粒子Fbを減少させることが可能である。
Even in this configuration, when the thermosetting resin Fr of the anisotropic conductive film F is melted, the particles Fb moving between the
以上、本発明の実施形態につき説明したが、本発明の範囲はこれに限定されるものではなく、発明の主旨を逸脱しない範囲で種々の変更を加えて実施することができる。 Although the embodiments of the present invention have been described above, the scope of the present invention is not limited to these embodiments, and various modifications can be made without departing from the spirit of the invention.
例えば、上記実施形態では、フレキシブル基板である回路基板1のみに、または回路基板1とリジッド基板である他の回路基板101との両方に粒子捕捉部を設けることとしたが、リジッド基板である回路基板101のみに粒子捕捉部を設けても良い。
For example, in the above embodiment, the particle capturing unit is provided only on the
また、第1実施形態〜第6実施形態は組み合わせて構成することができる。例えば、1本の導電体に関して、幅方向の一方の側面に第1実施形態に係る粒子捕捉部を形成し、他方の側面に第6実施形態に係る粒子捕捉部を形成しても良い。 The first to sixth embodiments can be combined. For example, for one conductor, the particle trapping portion according to the first embodiment may be formed on one side surface in the width direction, and the particle trapping portion according to the sixth embodiment may be formed on the other side surface.
本発明は回路基板において利用可能である。 The present invention can be used in circuit boards.
1 回路基板
2 ベースフィルム
4 導電体
4a、4b、4c、4d、4e 粒子捕捉部
4F 表面
4S 側面
101 回路基板
103 導電体
103a、103b、103c 粒子捕捉部
F 異方性導電フィルム(接続部材)
Fb 粒子
Fr 熱硬化性樹脂
DESCRIPTION OF
Fb particle Fr thermosetting resin
Claims (6)
前記導電体に設けられて前記粒子を捕捉するための粒子捕捉部と、
を備える回路基板。 A plurality of conductors extending in parallel and electrically connected to a conductor of another member using a connection member made of a thermosetting resin mixed with a plurality of particles having conductivity;
A particle capturing unit provided on the conductor for capturing the particles;
A circuit board comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014111291A JP2015226011A (en) | 2014-05-29 | 2014-05-29 | Circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014111291A JP2015226011A (en) | 2014-05-29 | 2014-05-29 | Circuit board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2015226011A true JP2015226011A (en) | 2015-12-14 |
Family
ID=54842555
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2014111291A Pending JP2015226011A (en) | 2014-05-29 | 2014-05-29 | Circuit board |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2015226011A (en) |
-
2014
- 2014-05-29 JP JP2014111291A patent/JP2015226011A/en active Pending
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