JP2015224979A - 物品検査装置 - Google Patents

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【解決手段】 物品検査装置は、二値化された円形画像の中心位置を演算する中心位置演算部13と、得られた中心位置に基づいて円形画像を画像処理してその良否を判定する画像処理判定部22とを備えている。上記中心位置演算部13は、円形画像における明暗差の大小を判断する明暗差判断部14を備えており、明暗差が小さい正常な円形画像の場合には二値化処理演算部21によって円形画像の中心位置を演算し、明暗差が大きい異常な円形画像の場合にはエッジ処理演算部31によって中心位置を演算するようになっている。【効果】 正常な円形画像の場合には二値化処理演算部21によって迅速に中心位置を演算し、異常な円形画像の場合にはエッジ処理演算部31によって高精度に中心位置を求めることができるので、全体として迅速に高精度で物品の良否を判定することができる。【選択図】 図2

Description

本発明は物品検査装置に関し、より詳しくは、例えば容器の口部やびん底などの円形部分を撮影することによって得られる円形部分の検査対象画像からその良否を判定するようにした物品検査装置に関する。
従来、物品検査装置として、物品の円形部分に光を照射する照明手段と、光が照射された物品の円形部分を撮影する撮影手段と、撮影手段によって撮影された円形部分の検査対象画像を二値化する二値化手段と、二値化手段によって二値化された円形画像の中心位置を演算する中心位置演算部と、中心位置算出部によって算出された中心位置に基づいて上記円形画像を画像処理してその良否を判定する画像処理判定部とを備えたものが知られている(特許文献1)。
上記特許文献1の物品検査装置においては、上記中心位置演算部は、二値化された円形画像の円周境界部を認識して該円形画像の中心位置を演算する二値化処理演算部から構成されている。
また従来、円形画像の中心位置を演算するその他の中心位置演算部として、円形画像の仮の中心位置から所定の距離と角度とに複数の検査領域を設定し、各検査領域内の明暗に基づいてそれぞれ所要条件の座標を検出するとともに各座標に近似する円の中心位置を演算して、該中心位置を上記円形画像の中心位置に設定するエッジ処理演算部から構成したものも知られている(特許文献2)。
特開2001−147200号公報 特許第4253742号公報
上記中心位置演算部を特許文献1のように二値化処理演算部から構成した場合には、迅速な処理が行えるという利点がある。
他方、例えば検査対象がガラス製容器のびん底の場合には、得られた円形画像に製造誤差による大きな明暗差が生じることがある。大きな明暗差は、カメラに対して容器が傾いて撮影された場合にも発生する。上記二値化処理演算部では、円形画像に大きな明暗差があると円形画像の中心位置の設定に誤差を生じ易く、円形画像の中心位置に誤差が生じると、その後の画像処理判定部による良否判定に誤差を生じる危険性が高くなっていた。
他方、中心位置演算部を特許文献2のようにエッジ処理演算部から構成すれば、二値化処理演算部に比較して高精度に中心位置を設定することができるが、その反面、その中心位置の設定に多くの時間がかかるという欠点がある。
本発明はそのような事情に鑑み、高精度に中心位置を設定することができ、しかも短時間で迅速に処理を行うことが可能な物品検査装置を提供するものである。
すなわち本発明は、物品の円形部分に光を照射する照明手段と、光が照射された物品の円形部分を撮影する撮影手段と、撮影手段によって撮影された円形部分の検査対象画像を二値化する二値化手段と、二値化手段によって二値化された円形画像の中心位置を演算する中心位置演算部と、中心位置算出部によって算出された中心位置に基づいて上記円形画像を画像処理してその良否を判定する画像処理判定部とを備えた物品検査装置において、
上記中心位置演算部は、上記円形画像における明暗差の大小を判断する明暗差判断部と、該明暗差判断部によって明暗差が小さいと判断された際に、円形画像の円周境界部を認識して該円形画像の中心位置を演算する二値化処理演算部と、上記明暗差判断部によって明暗差が大きいと判断された際に、円形画像の仮の中心位置から所定の距離と角度とに複数の検査領域を設定し、各検査領域内の明暗に基づいて座標を検出するとともに各座標に近似する円の中心位置を演算して、該中心位置を上記円形画像の中心位置に設定するエッジ処理演算部とを有することを特徴とするものである。
本発明によれば、円形画像の中心位置を演算設定する際には、先ず明暗差判断部によって円形画像における明暗差の大小を判断するようになる。
そして該明暗差判断部によって明暗差が小さいと判断された際には、二値化処理演算部によって高速で円形画像の中心位置を演算することができ、また上記明暗差判断部によって明暗差が大きいと判断された際には、エッジ処理演算部によって高精度に中心位置を設定することができる。
したがって、明暗差に大小があっても精度よく円形画像の中心位置を得ることができ、しかも常にエッジ処理演算部によって中心位置を設定する場合に比較して、全体としてより迅速な処理を行うことが可能となる。
本発明の実施例を示す正面図。 図1に示す中心位置演算部13の内容を説明する説明図。 エッジ処理演算部31による処理を説明する説明図。
以下図示実施例について本発明を説明すると、図1において、物品としてのガラス製の容器1は直立した状態で第1搬送コンベヤ2によって図の左方から右方へ搬送されるようになっている。第1搬送コンベヤ2の下流には容器1のびん底を撮影するための撮影手段3が設けられており、また照明手段4により容器1のびん底に光をその下方から照射するために、容器1を第1搬送コンベヤ2の上面から浮かせて搬送する第2搬送手段5を設けてある。
上記第2搬送手段5は、容器1の胴部を搬送方向両側から挟持することができるように2つのベルトコンベヤ6(図1では一方だけ表示)を備えており、第1搬送コンベヤ2によって搬送されてきた容器1は直立状態を保ったまま2つのベルトコンベヤ6の間に供給されて挟持され、引き続き該ベルトコンベヤ6によって挟持搬送されるようになっている。
上記ベルトコンベヤ6によって搬送されてきた容器1が撮影手段3の直下位置を通過する際には、図示しないセンサによりそのことが検出され、それにより撮影手段3により容器1の内部を介して該容器1のびん底が撮影されるようになる。この際、照明手段4により容器1の底面に光が照射されているので、撮影手段3により撮影された撮影画像Sの中に円形部分の検査対象画像を得ることができる。
そして撮影が終了した容器1は、2つのベルトコンベヤ6の先端部に設けた第3搬送コンベヤ7に受け渡され、該第3搬送コンベヤ7によって直立した状態で搬送されるようになる。
上記撮影手段3によって撮影された円形部分の検査対象画像は制御装置11の二値化手段12に入力され、この二値化手段12によって例えば256階級の明度に二値化される。
上記二値化手段12によって二値化された円形画像は、次に該円形画像の中心位置を演算するための中心位置演算部13に入力される。
この中心位置演算部13は、図2に示すように明暗差判断部14を備えており、この明暗差判断部14によって上記円形画像における明暗差の大小が判断される。
ガラス製容器1の内部を通してびん底を撮影した場合、理想的な状態の一例では、図3に示すように円形画像15は円周方向に連続したリング状となり、かつその部分の明度は円周方向にほぼ均一で、かつ他の部分の明度よりも暗くなる。
しかしながら上記円形画像15は、容器1の製造誤差や、上記ベルトコンベヤ6によって挟持搬送される際の容器1の前後の傾き等により、円周方向で大きな明暗差が生じたり、リング状の幅(太さ)に片寄りが生じたりすることがある。
上記明暗差判断部14は円形画像15における明暗差の大小を判断するもので、該明暗差判断部14は、例えば第1回目にしきい値を150に設定してそれ以上の150〜255の範囲にある明るい画素からその面積を求める。次に第2回目にしきい値を40に設定してそれ以下の0〜40の範囲にある暗い箇所の面積を求める。そして、それぞれで求めた面積が通常の範囲内であるか否かを判断する。
このとき、明暗差が大きい場合には、明るい箇所の面積又は暗い箇所の面積が通常よりも大きくなる。例えば、明るい箇所の面積又は暗い箇所の面積は、明暗差が小さい正常な画像の場合には20画素程度なのに、明暗差が大きい異常の画像の場合は10,000画素程度となる。
上記明暗差判断部14によって明暗差が小さいと判断された正常な円形画像15の場合には、図1に示すように、該円形画像15は二値化処理演算部21に入力され、この二値化処理演算部21によって、円形画像15の円周境界部を認識して該円形画像15の中心位置が演算される。
上記二値化処理演算部21としては従来公知の二値化処理演算部を利用することができ、例えば特許文献1に記載されている二値化処理演算部によって円形画像15の中心位置を演算することができる。
この後、二値化処理演算部21によって円形画像15の中心位置が得られたら、次に画像処理判定部22により、算出された中心位置に基づいて上記円形画像15を画像処理してその良否が判定される。この画像処理判定部22も従来公知の画像処理判定部を利用することができ、例えば特許文献1に記載されている画像処理判定部によって円形画像15の良否を判定することができる。
他方、上記明暗差判断部14によって明暗差が大きいと判断された異常な円形画像15の場合には、本実施例では図2に示すように、先ずフィルタ処理部23によって円形画像15にフィルタ処理が施され、明暗差が小さくなるように処理される。そのようなフィルタ処理も従来既に周知であるので、その説明は省略する。
上記フィルタ処理部23によって明暗差が小さくなり、その結果として明暗差が正常と判断された場合には、フィルタ処理された円形画像15が二値化処理演算部21に入力され、上述したように二値化処理演算部21によって中心位置が演算される。
これに対し、フィルタ処理が施されても明暗差が大きいと判断された場合には、該円形画像15はエッジ処理演算部31に入力される。
上記エッジ処理演算部31では、図3に示すように、円形画像15に設定した仮の中心位置O’、例えば撮影画像Sの中心から所定の距離Rと角度θとに複数の検査領域32を設定する。そして検査領域32毎に、各検査領域32内の明暗に基づいてそれぞれ所要条件下で座標を検出する。
簡素な座標の検出方法として、検査領域32の中心を通る半径上で、円形画像15を中心位置O’側から外側に画素を検査して、画素が明から暗に変わった位置を円形画像15の内周縁の半径R1とし、また画素が暗から明に変わった位置を円形画像15の外周縁の半径R2とする。そして両者の中央の半径R3を求めてこれを当該検査領域32における座標として設定する。仮にリングが途切れているなどの理由により半径R1、半径R2が検出できない場合には、座標を求めない。
上述の作業を各検査領域32毎に実行してそれぞれ座標を設定したら、次に全ての座標に最も近似するように中心位置Oを求めて、該中心位置Oを上記円形画像15の中心位置として設定する。
エッジ処理演算部31による円形画像15の中心位置Oの求め方は上記の方法に限定されるものではなく、その他の従来公知の方法であってもよく、例えば特許文献2に記載されているエッジ処理演算部を応用することも可能である。
このようにしてエッジ処理演算部31によって円形画像15の中心位置Oが得られたら、次に、上述したのと同様に画像処理判定部22によって円形画像15の良否が判定される。
以上に述べたように、本実施例においては得られた円形画像15の明暗差が明暗差判断部14によって小さいと判断された正常な場合には、迅速に円形画像15の中心位置を演算することができる二値化処理演算部21によって処理され、他方、明暗差が大きいと判断された異常な場合には、高精度に円形画像15の中心位置を演算することができるエッジ処理演算部31によって処理されるので、全体としては精度の良い中心位置の演算を迅速に行うことができる。
なお、上記実施例では得られた円形画像はリング状となっているが、これに限定されるものではない。リング状ではない通常の円形画像であってもよいことは勿論であり、この場合、エッジ処理演算部31による円形画像の中心位置の求め方は当然に当該円形画像に対する中心位置の求め方となることも勿論である。
1 容器(物品) 3 撮影手段
4 照明手段 11 制御装置
12 二値化手段 13 中心位置演算部
14 明暗差判断部 15 円形画像
21 二値化処理演算部 22 画像処理判定部
23 フィルタ処理部 31 エッジ処理演算部

Claims (2)

  1. 物品の円形部分に光を照射する照明手段と、光が照射された物品の円形部分を撮影する撮影手段と、撮影手段によって撮影された円形部分の検査対象画像を二値化する二値化手段と、二値化手段によって二値化された円形画像の中心位置を演算する中心位置演算部と、中心位置算出部によって算出された中心位置に基づいて上記円形画像を画像処理してその良否を判定する画像処理判定部とを備えた物品検査装置において、
    上記中心位置演算部は、上記円形画像における明暗差の大小を判断する明暗差判断部と、該明暗差判断部によって明暗差が小さいと判断された際に、円形画像の円周境界部を認識して該円形画像の中心位置を演算する二値化処理演算部と、上記明暗差判断部によって明暗差が大きいと判断された際に、円形画像の仮の中心位置から所定の距離と角度とに複数の検査領域を設定し、各検査領域内の明暗に基づいて座標を検出するとともに各座標に近似する円の中心位置を演算して、該中心位置を上記円形画像の中心位置に設定するエッジ処理演算部とを有することを特徴とする物品検査装置。
  2. 上記中心位置演算部は、上記明暗差判断部によって明暗差が大きいと判断された際に、当該円形画像の明暗差が小さくなるようにフィルタ処理を施こすフィルタ処理部を有しており、このフィルタ処理部によってフィルタ処理が施された円形画像について再び明暗差判断部によって当該円形画像における明暗差の大小が判断されることを特徴とする請求項1に記載の物品検査装置。
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0953917A (ja) * 1995-08-16 1997-02-25 Nissan Motor Co Ltd 車両用視線方向計測装置
JP2001147200A (ja) * 1999-11-19 2001-05-29 Hitachi Eng Co Ltd 瓶口検査装置とその検査方法
JP2004212365A (ja) * 2003-01-09 2004-07-29 Daihatsu Motor Co Ltd タイヤのトー値測定システム
JP4253742B2 (ja) * 1999-07-13 2009-04-15 キリンテクノシステム株式会社 壜底検査方法
US20140125792A1 (en) * 2011-07-20 2014-05-08 Bridgestone Corporation Bead filler inspection apparatus, bead filler inspection program and bead filler inspection method

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0953917A (ja) * 1995-08-16 1997-02-25 Nissan Motor Co Ltd 車両用視線方向計測装置
JP4253742B2 (ja) * 1999-07-13 2009-04-15 キリンテクノシステム株式会社 壜底検査方法
JP2001147200A (ja) * 1999-11-19 2001-05-29 Hitachi Eng Co Ltd 瓶口検査装置とその検査方法
JP2004212365A (ja) * 2003-01-09 2004-07-29 Daihatsu Motor Co Ltd タイヤのトー値測定システム
US20140125792A1 (en) * 2011-07-20 2014-05-08 Bridgestone Corporation Bead filler inspection apparatus, bead filler inspection program and bead filler inspection method

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