JP2015220591A - 信号光品質測定装置及び方法 - Google Patents

Abstract

【課題】信号光に対する非線形雑音成分と自然放出光雑音成分とを簡易な構成で低コストに求めることを可能にする。【解決手段】パワーの異なる信号光が入力される波長可変フィルタ４１と、波長可変フィルタ４１を透過した光パワーを測定する測定部４２と、波長可変フィルタ４１の透過周波数の制御に応じて、測定部４２において、前記異なるパワーの信号光のそれぞれについて異なる透過周波数で測定された光パワーに基づいて、信号光の非線形雑音成分と自然放出光雑音成分とを算出する制御部４３と、を備える。【選択図】図２

Description

本発明は、信号光品質測定装置及び方法に関する。

光伝送技術において、信号光に対する雑音成分の比率を表すＯＳＮＲ（Optical Signal to Noise Ratio）を測定（「モニタ」と称してもよい。）する技術が知られている。雑音成分の算出法の一例として、下記の特許文献１及び非特許文献１に記載された算出法がある。

当該算出法では、コヒーレント光受信器を用いて、測定チャネルの逆（inverse）ＳＮＲを測定する。また、光送信側において測定チャネルの送信光パワーをｋ倍だけ増加して測定チャネルの逆ＳＮＲを測定する。更に、測定チャネルとは異なる他のチャネルの逆ＳＮＲを測定する。そして、各測定結果を基に、相互位相変調（ＸＰＭ）成分、自己位相変調（ＳＰＭ）成分、及び、自然放出光（ＡＳＥ雑音）成分の順に、雑音成分を算出する。なお、ＸＰＭ成分及びＳＰＭ成分は、非線形雑音成分の一例である。

米国特許第８，２８５，１４８号

Markus Mayrock and Herbert Haunstein著、"Monitoring of Linear and Nonlinear Signal Distortion in Coherent Optical OFDM Transmission"、JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY, VOL.27, NO. 16, August 15, 2009、p. 3560-3566

既述の算出法では、光送信側で送信光パワーをｋ倍したときのパワーレベル比に相当する「ｋ」の情報を、光受信側であるコヒーレント光受信器が入手しなくてはならない。そのため、信号光に対する非線形雑音成分とＡＳＥ雑音成分とを求めるための構成が複雑化し高コストになるおそれがある。

１つの側面では、本発明の目的の１つは、信号光に対する非線形雑音成分と自然放出光雑音成分とを簡易な構成で低コストに求めることを可能にすることにある。

１つの側面において、信号光品質測定装置は、パワーの異なる信号光が入力される波長可変フィルタと、前記波長可変フィルタを透過した光パワーを測定する測定部と、前記波長可変フィルタの透過周波数の制御に応じて、前記測定部において、前記異なるパワーの信号光のそれぞれについて異なる透過周波数で測定された光パワーに基づいて、信号光の非線形雑音成分と自然放出光雑音成分とを算出する制御部と、を備える。

また、１つの側面において、信号光品質測定方法は、パワーの異なる信号光が入力される波長可変フィルタの透過周波数を制御して、前記異なるパワーの信号光のそれぞれについて異なる透過周波数の光のパワーを測定し、前記測定の結果に基づいて、信号光の非線形雑音成分と自然放出光雑音成分とを算出する。

１つの側面として、信号光に対する非線形雑音成分と自然放出光雑音成分とを簡易な構成で低コストに求めることが可能になる。

一実施形態に係る光伝送システムの構成例を示すブロック図である。 図１に例示する光伝送システムにおける信号光品質測定方法を説明するための図である。 図１に例示する光伝送システムにおける信号光品質測定方法の測定波長及び測定周波数を説明するための図である。 図１に例示する送信端ノードの構成例を示すブロック図である。 図１に例示する光伝送システムにおける信号光品質測定方法を説明するためのフローチャートである。 図４に例示する送信端ノードの制御部の構成例を示すブロック図である。 図４に例示する送信端ノードの光パワー測定部及びモニタ制御部の構成例を示すブロック図である。 図２に例示するモニタノードの光パワー測定部及びモニタ制御部の構成例を示すブロック図である。 図４、図６及び図７に例示する送信端ノードでの測定周波数の設定及び校正係数の取得に関連する処理の動作例を示すフローチャートである。 図８に例示するモニタノードでの測定周波数の設定及び校正に関連する処理の動作例を示すフローチャートである。 図８に例示するモニタノードでの第１の送信光パワーレベルでの測定処理の動作例を示すフローチャートである。 図６に例示する送信端ノードでの送信光パワーの変更処理の動作例を示すフローチャートである。 図８に例示するモニタノードでの第２の送信光パワーレベルでの測定処理の動作例を示すフローチャートである。 図１に例示する送信端ノードとモニタノードとの間の光伝送におけるレベルダイヤの一例を示す図である。 （Ａ）は図１に例示する光伝送システムにおける信号光品質測定方法測定波長が同一波長でよいことを示す図であり、（Ｂ）は同測定波長がスーパーチャネルを成す異なる波長でよいことを示す図である。

以下、図面を参照して本発明の実施の形態を説明する。ただし、以下に説明する実施形態は、あくまでも例示であり、以下に明示しない種々の変形や技術の適用を排除する意図はない。なお、以下の実施形態で用いる図面において、同一符号を付した部分は、特に断らない限り、同一若しくは同様の部分を表す。

図１は、一実施形態に係る光伝送システムの構成例を示すブロック図である。図１に示す光伝送システムは、例示的に、Ｎ台（Ｎは２以上の整数）の光伝送装置２−１〜２−Ｎ（＃１〜＃Ｎ）と、ネットワーク制御装置３と、を備える。なお、図１の例では、Ｎ＝５である。「光伝送装置」は、それぞれ、「ノード」と称してよい。

ノード２−ｉ（ｉは１〜Ｎのいずれか）は、例示的に、図１に示すように光伝送路１１を介してリング状に接続されて、光伝送システム１の一例としての光リングネットワークを形成してよい。光伝送システム１において各ノード２−ｉ間を伝送される信号光は、複数波長の信号光が波長多重されたＷＤＭ信号光でもよいし、１波長の信号光でもよい。「波長」は、「チャネル」と称してもよい。

ネットワーク制御装置３は、各ノード２−ｉと通信可能に接続されて、各ノード２−ｉと運用、管理、保守等に関わる通信（ＯＡＭ通信と称してよい。）を行なうことができる。ＯＡＭ通信によって光伝送システム１全体としての設定や動作等を制御することが可能である。

以上のような構成を有する光伝送システム１において、本実施形態では、ノード２−ｉのいずれかにおいて、光伝送路１１を通じて受信される信号光をモニタして信号光に対する非線形雑音と自然放出光雑音とを個別に求める。非線形雑音は、Non-linear Interference（ＮＬＩ）雑音と称してよく、自然放出光雑音は、Amplified Spontaneous Emission（ＡＳＥ）雑音と称してよい。受信される信号光をモニタするノード２−ｉは、便宜的に、モニタノード２−ｉと称してよい。

図１の例では、ｉ＝４のノード２−４（＃４）が「モニタノード」に相当する。モニタノード２−４宛の信号光を送信する他のノード２−ｊ（ｊは１〜Ｎのいずれかの整数であってｊ≠ｉである。）は、送信端ノード２−ｊと称してよい。図１の例では、ｊ＝１のノード２−１（＃１）が「送信端ノード」に相当する。

モニタノード２−４でのモニタに際して、送信端ノード２−１は、例えば図２に模式的に示すように、モニタノード２−４宛の信号光の送信光パワーを変動させる。図２には、１波長の信号光、又は、ＷＤＭ信号光が、異なる送信光パワーレベルＬ１及びＬ２の間で変更される様子を例示している。送信端ノード２−１からの送信光パワーの変更は、例えばネットワーク制御装置３によって制御されてよい。

モニタノード２−４では、送信端ノード２−１での送信光パワーの変動に応じて異なるパワーの信号光が受信される。モニタノード２−４は、当該異なるパワーの受信光をそれぞれ測定（検出）し、その測定結果を基に、ＮＬＩ雑音成分とＡＳＥ雑音成分とを求める。

モニタノード２−４でのモニタには、図２中に例示するように、光フィルタ４１と、光パワー測定部４２と、モニタ制御部４３と、を含むモニタ４０を用いてよい。モニタ４０は、信号光品質測定装置の一例であり、受信光モニタ４０と称してよい。光フィルタ４１には、透過波長（透過周波数）が可変の波長可変フィルタを用いてよい。

波長可変フィルタ４１の透過周波数をモニタ制御部４３によって変更することで、光パワー測定部４２において異なる周波数の受信光パワーを測定（検出）することができる。なお、図２において、符号４４は、光伝送路１１を通じて受信される光を分岐（「タップ」と称してもよい。）して分岐光の一方をモニタ光として光フィルタ４１に出力する光分岐器を示す。

ここで、モニタノード２−４で受信される（別言すると、受信光モニタ４０の光パワー測定部４２で測定される）信号光のパワーＰは、以下の数式１で表すことができる。

数式１において、Ｐ_ｓｉｇは信号光成分のパワー、Ｐ_ＡＳＥはＡＳＥ雑音成分のパワー、Ｐ_ＮＬＩはＮＬＩ雑音成分のパワーをそれぞれ表す。すなわち、信号光のパワーＰは、信号光成分のパワーＰ_ｓｉｇと、ＡＳＥ雑音成分のパワーＰ_ＡＳＥと、ＮＬＩ雑音成分のパワーＰ_ＮＬＩと、の合計として表すことができる。

ＮＬＩ雑音成分のパワーＰ_ＮＬＩは、以下の数式２で表すことができ、信号光成分のパワーＰ_ｓｉｇの３乗に比例する。数式２においてζは、係数（「比例係数」あるいは「校正係数」と称してよい）を表す。

一方、ＡＳＥ雑音成分のパワーＰ_ＡＳＥは、以下の数式３で表すことができる。

上記の数式１〜数式３から、受信した信号光のパワーＰから、ＡＳＥ雑音成分のパワーＰ_ＡＳＥと、非線形雑音成分のパワーＰ_ＮＬＩと、を求めるには、比例係数ζを求めることができればよいことが分かる。

比例係数ζは、例示的に、既述のように送信端ノード２−１から異なる送信光パワーで送信された信号光のそれぞれについて、モニタノード２−４において異なる周波数で受光パワーを測定することで求めることができる。

例えば図３に模式的に示すように、送信端ノード２−１において、波長λ１〜λ５を含むＷＤＭ信号光の送信光パワーが異なるパワーレベルＬ１及びＬ２で送信されると仮定する。モニタノード２−４では、例示的に、測定対象の波長（例えば、λ３）の光のスペクトラムにおいて異なる複数の周波数の光パワーをそれぞれ測定する。図３には、異なる周波数ｆ１〜ｆ５に対応する光パワーＰ_ｆ１〜Ｐ_ｆ５のうちのいずれか２以上を測定してよいことを例示している。

例えば図３において、モニタノード２−４は、測定対象の波長（以下「測定波長」とも称する。）の光スペクトラムに含まれる異なる周波数ｆ１及びｆ２の光パワーＰ_ｆ１及びＰ_ｆ２を測定してよい。第１の周波数ｆ１は、例示的に、信号光のスペクトラムにおいてパワーが最大となる周波数（例えば、中心周波数）であってよい。

異なる周波数の光パワーは、例えば、波長可変フィルタ４１の透過周波数をモニタ制御部４３によって変更（「スイープ」と称してもよい。）することで光パワー測定部４２において測定可能である。

なお、図３に例示する測定波長に着目した光スペクトラムおいて、実線１００は、ＮＬＩ雑音成分を表し、実線２００は、ＡＳＥ雑音成分を表す。図３に例示するように、ＮＬＩ雑音成分及びＡＳＥ雑音成分は、測定対象の波長の信号光のスペクトラムにおいて一定であるか実質的に一定であると扱ってよい（変動を無視してよい）状況を想定する。

かかる状況において、送信光パワーレベルが第１のレベルＬ１のときの、測定波長の光スペクトラムに含まれる異なる周波数ｆ１及びｆ２の光パワーをそれぞれＰ_{ｆ１（Ｌ１）}及びＰ_{ｆ２（Ｌ１）}で表すとする。また、送信光パワーレベルが第２のレベルＬ２のときの、当該測定波長の光スペクトラムに含まれる異なる周波数ｆ１及びｆ２の光パワーをそれぞれＰ_{ｆ１（Ｌ２）}及びＰ_{ｆ２（Ｌ２）}で表すとする。

この場合、Ｐ_{ｆ１（Ｌ１）}及びＰ_{ｆ２（Ｌ１）}は、それぞれ、以下の数式４及び数式５によって表すことができ、Ｐ_{ｆ１（Ｌ２）}及びＰ_{ｆ２（Ｌ２）}は、それぞれ、以下の数式６及び数式７によって表すことができる。

ここで、上記の数式４及び数式５において、第１項のＰ_{ｓｉｇ（Ｌ１）}は送信端ノード２−１での送信光パワーレベルが第１のレベルＬ１のときの信号光成分のパワーを表し、第３項は当該レベルＬ１のときのＮＬＩ雑音成分のパワーを表す。また、数式６及び数式７において、第１項のＰ_{ｓｉｇ（Ｌ２）}は送信端ノード２−１での送信光パワーレベルが第１のレベルＬ２のときの信号光成分のパワーを表し、第３項は当該レベルＬ２のときのＮＬＩ雑音成分のパワーを表す。更に、数式５及び数式７において、ｄは校正係数を表す。校正係数ｄは、異なる周波数での送信光パワーレベルの差分を校正する係数である。校正係数ｄの求め方については後述する。

以上の数式４〜数式７から、送信端ノード２−１での送信光パワーレベルがレベルＬ１及びＬ２のときの、信号光成分のパワーＰ_{ｓｉｇ（Ｌ１）}及びＰ_{ｓｉｇ（Ｌ２）}は、それぞれ、以下の数式８及び数式９によって求めることができる。

これらの数式８及び数式９から、以下の数式１０及び数式１１が導出される。

数式１１を変形した以下の数式１２によって比例係数ζを求めることができる。

数式１２による比例係数ζの算出は、例示的に、図２に例示したモニタ制御部４３にて実施してよい。

次に、数式１２における校正係数ｄの求め方について説明する。
校正係数ｄは、例示的に、送信端ノード２−１において求めることができる。送信端ノード２−１において、送信光には、雑音は含まれないか、含まれていても無視してよい大きさであると扱ってよい。そのため、モニタノード２−４での測定周波数（例えば、ｆ１及びｆ２）に対応した周波数の送信光パワーＰ′をそれぞれ送信端ノード２−１において測定することで、校正係数ｄを求めることができる。

例えば、周波数ｆ１の送信光パワーＰ′_ｆ１は、以下の数式１３で表すことができ、周波数ｆ２の送信光パワーＰ′_ｆ２は、以下の数式１４で表すことができる。

したがって、校正係数ｄは、送信端ノード２−１において測定した送信光パワーＰ′_ｆ１及びＰ′_ｆ２から、以下の数式１５によって求めることができる。

なお、送信光パワーＰ′_ｆ１及びＰ′_ｆ２は、モニタノード２−４での受信光モニタ４０と同様の構成を具備するモニタによって測定可能である。例えば図４に示すように、ＷＤＭ光を送信する送信端ノード２−１であれば、波長合波器（ＷＤＭカプラ）２５から光伝送路１１へ送信される光経路に、当該光経路を伝搬する送信光のパワーをモニタするモニタ２０を備えてよい。モニタ２０は、送信光モニタ２０と称してよい。なお、ＷＤＭカプラ２５は、ＷＤＭ光を成す波長に対応した複数の光送信器２４の出力光を合波してＷＤＭ光を光伝送路１１へ出力する。

送信光モニタ２０は、モニタノード２−４の受信光モニタ４０と同様に、光フィルタ２１の一例としての波長可変フィルタ２１と、光パワー測定部２２と、モニタ制御部２３と、を備えてよい。

波長可変フィルタ２１の透過周波数をモニタ制御部２３によって変更することで、光パワー測定部２２において異なる周波数の送信光パワーを測定（検出）することができる。なお、図４において、符号２６は、光伝送路１１へ送信される光をタップしてモニタ光として光フィルタ２１に出力する光分岐器を示す。

数式１５による校正係数ｄの算出は、例示的に、モニタ制御部２３にて実施してよい。算出された校正係数ｄは、図１に例示したネットワーク制御装置３へ通知されてよい。ネットワーク制御装置３は、受信した校正係数ｄをモニタノード２−４の受信光モニタ４０（モニタ制御部４３）に通知してよい。

受信光モニタ４０は、モニタ制御部４３によって波長可変フィルタ４１の透過周波数をスイープさせながら光パワー測定部４２にて測定を行なうことで、異なる周波数ｆ１及びｆ２の受信光パワーＰ_ｆ１及びＰ_ｆ２をそれぞれ測定する。

そして、モニタ制御部４３は、測定された受信光パワーＰ_ｆ１及びＰ_ｆ２と、ネットワーク制御装置３から受信した校正係数ｄと、を基に、ＮＬＩ雑音成分及びＡＳＥ雑音成分のパワーを個別に求める。例えば、モニタ制御部４３は、以下の数式１６〜数式２０でそれぞれ表される関係を基に、以下の数式２１及び数式２２で表される演算によって、ＮＬＩ及びＡＳＥの各雑音成分のパワーを求める。

以上の送信端ノード２−１での送信光パワーの変更、モニタノード２−４での受信光パワーの測定、ＮＬＩ雑音成分及びＡＳＥ雑音成分のパワー算出の動作例を図５に示す。図５に例示するように、モニタノード２−４は、或る送信光パワーレベル（例えば、Ｌ１）での異なる周波数（例えば、ｆ１及びｆ２）の光パワーを受信光モニタ４０の光パワー測定部４２にて測定する（処理Ｐ１１）。

光パワー測定部４２によって光パワーが測定されると、モニタ制御部４３が、前記の数式４、数式５及び数式８によって、測定した光パワーから信号光成分のパワーＰ_{ｓｉｇ（Ｌ１）}を求める（処理Ｐ１２）。

一方、ネットワーク制御装置３は、送信端ノード２−１に対して送信光パワーの変更を依頼する（処理Ｐ１３）。送信端ノード２−１は、当該依頼の受信に応じて、例えば、ネットワーク制御装置３は、送信光パワーレベルをレベルＬ１からレベルＬ２に変更する（処理Ｐ１４）。

送信端ノード２−１は、送信光パワーレベルを変更すると、その旨（送信光パワーレベル変更情報）をネットワーク制御装置３に送信する。ネットワーク制御装置３は、当該送信光パワーレベル変更情報を受信すると、モニタノード２−４に対してモニタを依頼する（処理Ｐ１５）。

モニタ依頼を受信したモニタノード２−４は、送信端ノード２−１において変更された送信光パワーレベルでの、処理Ｐ１１での測定周波数と同じ周波数（ｆ１及びｆ２）の光パワーを光パワー測定部４２にて測定する（処理Ｐ１６）。

光パワー測定部４２によって光パワーが測定されると、モニタ制御部４３が、前記の数式６、数式７及び数式９によって、測定した光パワーから信号光成分のパワーＰ_{ｓｉｇ（Ｌ２）}を求める（処理Ｐ１７）。

異なる送信光パワーでの信号光成分の受光パワーＰ_{ｓｉｇ（Ｌ１）}及びＰ_{ｓｉｇ（Ｌ２）}が得られると、モニタ制御部４３は、既述の数式１２による演算を行なって、比例係数ζを求める（処理Ｐ１８）。

比例定数ζが求まると、モニタ制御部４３は、既述の数式１６〜数式２２に従って、ＮＬＩ雑音成分及びＡＳＥ雑音成分のそれぞれのパワーを算出する（処理Ｐ１９）。

以上のように、送信端ノード２−１の送信光パワーを異なるパワーレベルに変動させ、モニタノード２−４において異なるパワーレベルでの異なる周波数の受光パワーをそれぞれ測定することで、ＮＬＩ及びＡＳＥの各雑音成分を個別定量的に求めることができる。各雑音成分は、従来のように光送信側で送信光パワーを変動したときのパワーレベル比の情報を、モニタノード２−４が送信端ノード２−１から入手せずに、求めることができる。

ＮＬＩ雑音成分とＡＳＥ雑音成分とを個別に（切り分けて）求めることができるから、光信号対雑音比（ＯＳＮＲ）の劣化が、光パワーの変動によるＮＬＩ雑音成分の増加による影響なのか、信号光パワーの減衰によるものなのか、を容易に特定することができる。別言すると、ＯＳＮＲモニタによってＯＳＮＲの劣化を検知できても、その原因を特定するのが困難であるという事態を解消できる。

なお、ＯＳＮＲは、以下の数式２３によって求めることができる。

また、受信光パワー（又は送信光パワー）のモニタ４０（又は２０）に、光フィルタの一例である波長可変フィルタ４１（又は２１）を用いることで、測定周波数をフレキシブルに変更可能な光モニタを簡易な構成で低コストに実現できる。

波長可変フィルタを用いた光パワー測定は、光チャネルモニタ（ＯＣＭ）や光信号対雑音比（ＯＳＮＲ）モニタに用いられることがある。そのため、モニタ４０（又は２０）は、モニタノード２−４や送信端ノード２−１に既設のＯＣＭやＯＳＮＲモニタと共用化されてよい。したがって、上述したＮＬＩ雑音及びＡＳＥ雑音の個別測定を実現するための回路規模やコストを抑えることができる。

次に、上述したＮＬＩ雑音及びＡＳＥ雑音の個別測定を実現する送信端ノード２−１及びモニタノード２−４の構成例について、図６〜図８を参照して説明する。

（送信端ノード）
図６は、送信端ノード２−１の、光送信器２４（図４参照）を制御する制御部２７に着目した構成例を示すブロック図である。図６に示す制御部２７（以下「光送信器制御部２７」と称することがある。）は、例えばネットワーク制御装置３（図１参照）からの制御に応じて光送信器２４の出力光パワーを制御する。

そのため、光送信器制御部２７は、例示的に、光送信器制御回路２７１と、出力値メモリ２７２と、出力設定回路２７３と、を備える。なお、図６において、「ｎ」は制御信号を表し、制御信号は、光送信器制御部２７の動作（制御）タイミング等を制御するために用いられてよい。図７及び図８中に示す「ｎ」も同様に動作（制御）タイミング等を制御する制御信号であると捉えてよい。

光送信器制御回路２７１は、例えばネットワーク制御装置３から送信された、光送信器２４の出力光パワーを制御する情報（例えば、光送信器２４の出力値を設定する情報）を受信し、出力値メモリ２７２に記憶する。

出力値メモリ２７２は、情報を適宜に書き込み及び読み出し可能なＲＡＭ等の記憶媒体であってよい。

出力設定回路２７３は、出力値メモリ２７２に記憶された出力値を読み出して、当該出力値を光送信器２４に対して設定する。これにより、光送信器２４の出力光パワーが、設定された出力値に制御される。

したがって、ネットワーク制御装置３から異なる出力値を送信端ノード２−１の光送信器制御部２７（光送信器制御回路２７１）に与えることで、既述のように送信端ノード２−１の送信光パワーを異なるパワーレベルＬ１及びＬ２）に設定することが可能になる。

なお、光送信器制御回路２７１は、出力値メモリ２７２を介して光送信器２４に対して設定した出力値を、現在の光送信器２４の送信光パワーを示す情報として、ネットワーク制御装置３に通知（フィードバック）してよい。

光送信器制御回路２７１、出力値メモリ２７２及び出力設定回路２７３は、ＬＳＩやＦＰＧＡ（Field-Programmable Gate Array）等のデジタル電気回路として一体的に（あるいは一部一体的に）構成されてよい。また、上述した光送信器制御部２７の機能の一部又は全部は、モニタ制御部２３の機能と共用化されても構わない。

次に、図７は、送信端ノード２−１の送信光モニタ２０（図４参照）に着目した構成例を示すブロック図である。図７に示す送信光モニタ２０は、既述の波長可変フィルタ２１及びモニタ制御部２３のほか、光パワー測定部２２の一例として、フォトディテクタ（ＰＤ）２２１及びアナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）２２２を備える。波長可変フィルタ２１やＰＤ２２１は、既述のように、既設のＯＣＭやＯＳＮＲモニタと共用化されていても構わない。

ＰＤ２２１は、波長可変フィルタ２１を透過した光の受光パワーに応じた振幅を有するアナログ電気信号を生成する。アナログ電気信号は、受光パワーに応じた電流値を例えばトランスインピーダンスアンプ（ＴＩＡ）によって電圧値に変換した信号であってよい。

ＡＤＣ２２２は、ＰＤ２２１から入力される、受光パワーに応じた振幅を有するアナログ電気信号をデジタル電気信号に変換する。当該デジタル電気信号は、波長可変フィルタ２１を透過した光の受光パワーの測定結果として例えばモニタ制御部２３の測定値メモリ２３３に記憶される。

モニタ制御部２３は、例えばネットワーク制御装置３からの制御に応じて波長可変フィルタ２１の透過周波数を制御することで、波長可変フィルタ２１からＰＤ２２１に透過させる光の周波数を制御する。

例示的に、モニタ制御部２３は、測定周波数設定回路２３１と、モニタ制御回路２３２と、測定値メモリ２３３と、校正係数（ｄ）算出回路２３４と、を備える。

測定周波数設定回路２３１は、例えばネットワーク制御装置３からの制御信号の受信に応じて、測定周波数（例えば、既述のｆ１及びｆ２）を決定し、決定した測定周波数に波長可変フィルタ２１の透過周波数を設定（制御）する。測定周波数の決定は、後述するように、測定周波数設定回路２３１が、波長可変フィルタ２１の透過周波数をスイープ制御しながら測定される各周波数の測定値を基に自律的に実施してよい。ただし、測定周波数の設定は、ネットワーク制御装置３からの設定情報に従って実施されてもよい。

モニタ制御回路２３２は、例えばネットワーク制御装置３からの制御に応じて測定周波数設定回路２３１及び測定値メモリ２３４の動作タイミング等を制御する。

測定値メモリ２３３は、既述のようにＡＤＣ２２２で得られた受光パワーの測定値を記憶する。測定値メモリ２３３は、情報を適宜に書き込み及び読み出し可能なＲＡＭ等の記憶媒体であってよい。

ｄ算出回路２３４は、測定値メモリ２３３に記憶された受光パワーの測定値を読み出して、既述の数式１５に従って校正係数ｄを算出する。算出した校正係数ｄは、校正係数算出回路２３４からネットワーク制御装置３へ通知されてよい。

測定周波数設定回路２３１、モニタ制御回路２３２、測定値メモリ２３３及び校正係数算出回路２３４は、ＬＳＩやＦＰＧＡ等のデジタル電気回路として一体的に（あるいは一部一体的に）構成されてよい。

（モニタノード）
次に、図８は、モニタノード２−４の受信光モニタ４０（図２参照）に着目した構成例を示すブロック図である。図８に示す受信光モニタ４０は、既述の波長可変フィルタ４１及びモニタ制御部４３のほか、光パワー測定部４２の一例として、ＰＤ４２１及びＡＤＣ４２２を備える。波長可変フィルタ４１やＰＤ４２１は、既述のように、既設のＯＣＭやＯＳＮＲモニタと共用化されていても構わない。

ＰＤ４２１は、波長可変フィルタ４１を透過した光の受光パワーに応じた振幅を有するアナログ電気信号を生成する。アナログ電気信号は、受光パワーに応じた電流値を例えばトランスインピーダンスアンプ（ＴＩＡ）によって電圧値に変換した信号であってよい。

ＡＤＣ４２２は、ＰＤ４２１から入力される、受光パワーに応じた振幅を有するアナログ電気信号をデジタル電気信号に変換する。当該デジタル電気信号は、波長可変フィルタ４１を透過した光の受光パワーの測定結果として例えばモニタ制御部４３の測定値メモリ４３３に記憶される。

モニタ制御部４３は、例えばネットワーク制御装置３からの制御に応じて波長可変フィルタ４１の透過周波数を制御することで、波長可変フィルタ４１からＰＤ４２１に透過させる光の周波数を制御する。

例示的に、モニタ制御部４３は、送信光モニタ２０と同様に、測定周波数設定回路４３１、モニタ制御回路４３２、及び、測定値メモリ４３３を備える。また、受信光モニタ４０は、信号光成分パワー（Ｐ_ｓｉｇ）算出回路４３４、比例係数（ζ）算出回路４３５、ＮＬＩ雑音成分パワー（Ｐ_ＮＬＩ）算出回路４３６、及び、ＡＳＥ雑音成分パワー（Ｐ_ＡＳＥ）算出回路４３７と、を備える。

測定周波数設定回路４３１は、例えばネットワーク制御装置３から送信された、測定周波数（例えば、既述のｆ１及びｆ２）の設定情報を受信し、当該設定情報に相当する周波数に波長可変フィルタ４１の透過周波数を設定（制御）する。なお、測定周波数設定回路４３１は、送信光モニタ２０の測定周波数設定回路２３１と同様に、波長可変フィルタ４１をスイープ制御して各周波数で得られる測定値を基に測定周波数の決定（校正）を実施してよい。

モニタ制御回路４３２は、例えばネットワーク制御装置３からの制御に応じて測定周波数設定回路４３１及び測定値メモリ４３３の動作タイミング等を制御する。

測定値メモリ４３３は、既述のようにＡＤＣ４２２で得られた受光パワーの測定結果を記憶する。測定値メモリ４３３は、情報を適宜に書き込み及び読み出し可能なＲＡＭ等の記憶媒体であってよい。

Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４は、例えばネットワーク制御装置３から通知される校正係数ｄと、測定値メモリ４３３に記憶された受光パワーの測定結果と、を基に、既述の数式１８に従って受信光の信号光成分パワーＰ_ｓｉｇを算出する。算出された信号光成分パワーＰ_ｓｉｇは、ζ算出回路４３５とＰ_ＡＳＥ算出回路４３７とにそれぞれ与えられる。

ζ算出回路４３５は、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４の算出結果と、測定値メモリ４３３に記憶された光パワーの測定結果と、を基に、既述の数式１２に従い比例係数ζを算出する。算出された比例係数ζは、Ｐ_ＮＬＩ算出回路４３６に与えられる。

Ｐ_ＮＬＩ算出回路４３６は、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４の算出結果と、ζ算出回路４３６の算出結果と、を基に、既述の数式２１に従ってＮＬＩ雑音成分パワーＰ_ＮＬＩを算出する。算出されたＮＬＩ雑音成分パワーＰ_ＮＬＩは、Ｐ_ＡＳＥ算出回路４３７に与えられる。

Ｐ_ＡＳＥ算出回路４３７は、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４の算出結果と、Ｐ_ＮＬＩ算出回路４３６の算出結果と、測定値メモリ４３３に記憶された受光パワーの測定結果と、を基に、既述の数式２２に従ってＡＳＥ雑音成分パワーＰ_ＡＳＥを算出する。

Ｐ_ＮＬＩ算出回路４３６及びＰ_ＡＳＥ算出回路４３７の算出結果の一方又は双方は、保守端末等の外部装置へ出力されてよい。外部装置は、ネットワーク制御装置３であってもよい。

（動作例）
次に、図６〜図８により上述した構成を有する送信端ノード２−１（送信光モニタ２０）及びモニタノード２−４（受信光モニタ４０）の動作例について、図９〜図１３を参照して説明する。

図９は、送信端ノード２−１での測定周波数の設定及び校正係数ｄの取得に関連する処理の動作例を示すフローチャートである。図１０は、モニタノード２−４での測定周波数の設定及び校正に関連する処理の動作例を示すフローチャートである。

図１１は、モニタノード２−４での第１の送信光パワーレベルでの測定処理の動作例を示すフローチャートであり、図１２は、送信端ノード２−１での送信光パワーの変更処理の動作例を示すフローチャートである。図１３は、モニタノード２−４での第２の送信光パワーレベルでの測定処理の動作例を示すフローチャートである。

（送信端ノードでの測定周波数の設定及び校正係数ｄの取得）
まず、図９に例示するように、送信端ノード２−１では、測定周波数設定回路２３１が、測定周波数の初期設定情報に従い、波長可変フィルタ２１の透過周波数を制御（設定）する（処理Ｐ２１）。

これにより、光パワー測定部２２（ＰＤ２２１及びＡＤＣ２２２）にて測定周波数の送信光パワーが測定され、測定結果が測定値メモリ２３３に記憶される（処理Ｐ２２）。測定値メモリ２３３には、測定結果と共に測定周波数の情報が記憶されてよい。記憶された測定結果は、測定周波数設定回路２３１によって読み出され（処理Ｐ２３）、測定周波数設定回路２３１の内部メモリ（図示省略）に保持される（処理Ｐ２４）。

次いで、測定周波数設定回路２３１は、測定周波数（例えば、ｆ１及びｆ２）を決定するための波長可変フィルタ２１のスイープが完了しているか否かを確認する（処理Ｐ２５）。未完了であれば（処理Ｐ２５でＮＯの場合）、測定周波数設定回路２３１は、波長可変フィルタ２１の透過周波数をスイープ設定に基づく周波数（例えば、初期設定とは異なる周波数）に制御する（処理Ｐ２６）。

これにより、光パワー測定部２２（ＰＤ２２１及びＡＤＣ２２２）にて測定周波数の送信光パワーが測定され、測定結果が測定値メモリ２３３に記憶される（処理Ｐ２７）。記憶された測定結果は、例えば測定周波数の情報と共に測定周波数設定回路２３１によって読み出される（処理Ｐ２８）。

測定周波数設定回路２３１は、測定値メモリ２３３から読み出した、測定周波数の送信光パワーの測定値と、内部メモリに保持した、異なる測定周波数の送信光パワーの測定値と、を比較する。比較の結果、測定値メモリ２３３から読み出した測定値が内部メモリに保持した測定値を超えていれば、内部メモリに保持した測定周波数及び測定値を測定値メモリ２３３から読み出した情報に更新する（処理Ｐ２９）。

以上の処理Ｐ２６〜Ｐ２９は、スイープ完了まで（処理Ｐ２５でＹＥＳと判定されるまで）、繰り返し実施される。これにより、波長可変フィルタ２１の透過周波数がスイープ制御されつつ、各周波数の送信光パワーが測定されて、測定値が最大となる周波数がサーチされる。

波長可変フィルタ２１のスイープ制御が完了すると（処理Ｐ２５でＹＥＳの場合）、測定周波数設定回路２３１は、内部メモリに保持されている、送信光パワーの測定値が最大となる周波数を第１の測定周波数（例えば、既述のｆ１）に決定する。また、測定周波数設定回路２３１は、信号光のスペクトラムにおいて、決定した第１の測定周波数（ｆ１）から例えば所定周波数だけずれた周波数を第２の測定周波数（例えば、既述のｆ２）に決定する。決定した第１及び第２の測定周波数ｆ１及びｆ２の情報は、例えば、ネットワーク制御装置３へ送信される（処理Ｐ３０）。

以上の測定周波数の決定処理の後、あるいは、当該決定処理と並行して、測定値メモリ２３３に記憶された、異なる測定周波数ｆ１及びｆ２での送信光パワーの測定値がｄ算出回路２３４によって読み出される（処理Ｐ３１）。

ｄ算出回路２３４は、既述の数式１５に従って校正係数ｄを算出してネットワーク制御装置３へ送信する（処理Ｐ３２）。

以上のようにして、送信光モニタ２０での測定周波数の決定（校正）及び校正係数ｄの算出が行なわれる。

（モニタノードでの測定周波数の設定）
次に、図１０に例示するように、モニタノード２−４では、測定周波数設定回路４３１が、例えば、ネットワーク制御装置３から測定周波数（ｆ１及びｆ２）の設定情報を受信する（処理Ｐ４１）。設定情報を受信すると、測定周波数設定回路４３１は、当該設定情報に従い、波長可変フィルタ４１の透過周波数を制御（設定）する（処理Ｐ４２）。

これにより、光パワー測定部４２（ＰＤ４２１及びＡＤＣ４２２）にて測定周波数の受信光パワーが測定され、測定結果が測定値メモリ４３３に記憶される（処理Ｐ４３）。測定値メモリ４３３には、測定結果と共に測定周波数の情報が記憶されてよい。記憶された測定結果は、測定周波数設定回路４３１によって読み出され（処理Ｐ４４）、測定周波数設定回路４３１の内部メモリ（図示省略）に保持される（処理Ｐ４５）。

なお、測定周波数設定回路４３１は、測定周波数（例えば、ｆ１及びｆ２）を校正するために、送信光モニタ２０でのスイープ制御と同様に波長可変フィルタ４１をスイープ制御してもよい。

測定周波数の校正（スイープ制御）を実施する場合、測定周波数設定回路４３１は、波長可変フィルタ４１のスイープ制御が完了しているか否かを確認する（処理Ｐ４６）。未完了であれば（処理Ｐ４６でＮＯの場合）、測定周波数設定回路４３１は、波長可変フィルタ４１の透過周波数をスイープ設定に基づく周波数（例えば、処理Ｐ４２での設定周波数とは異なる周波数）に制御する（処理Ｐ４７）。

これにより、光パワー測定部４２（ＰＤ４２１及びＡＤＣ４２２）にて測定周波数の受信光パワーが測定され、測定結果が測定値メモリ４３３に記憶される（処理Ｐ４８）。記憶された測定結果は、例えば測定周波数の情報と共に測定周波数設定回路４３１によって読み出される（処理Ｐ４９）。

測定周波数設定回路４３１は、測定値メモリ４３３から読み出した、測定周波数の受信光パワーの測定値と、内部メモリに保持した、異なる測定周波数の受信光パワーの測定値と、を比較する。比較の結果、測定値メモリ４３３から読み出した測定値が内部メモリに保持した測定値を超えていれば、内部メモリに保持した測定周波数及び測定値を測定値メモリ４３３から読み出した情報に更新する（処理Ｐ５０）。

以上の処理Ｐ４７〜Ｐ５０は、スイープ完了まで（処理Ｐ４６でＹＥＳと判定されるまで）、繰り返し実施される。これにより、波長可変フィルタ４１の透過周波数がスイープ制御されつつ、各周波数の送信光パワーが測定されて、測定値が最大となる周波数がサーチされる。

波長可変フィルタ４１のスイープ制御が完了すると（処理Ｐ４６でＹＥＳの場合）、測定周波数設定回路４３１は、内部メモリに保持されている、受信光パワーの測定値が最大となる周波数を第１の測定周波数（例えば、既述のｆ１）に決定（校正）する。また、測定周波数設定回路４３１は、信号光のスペクトラムにおいて、決定した第１の測定周波数（ｆ１）から例えば所定周波数だけずれた周波数を第２の測定周波数（例えば、既述のｆ２）に決定（校正）する（処理Ｐ５１）。

以上のようにして、受信光モニタ４０での測定周波数の決定（校正）が行なわれる。波長可変フィルタ４１のスイープ制御に応じて光パワー測定部４２にて測定される光パワーが最大となる周波数を第１の（測定）周波数に決定することで、パワーモニタの感度を向上できる。また、第１の測定周波数から所定周波数だけずれた周波数を第２の測定周波数に決定することで、モニタ制御を簡易化できる。

（第１の送信光パワーレベルでのモニタ）
上述のようにモニタノード２−４（測定周波数設定回路４３１）において第１及び第２の測定周波数が決定すると、測定周波数設定回路４３１は、図１１に例示するように、波長可変フィルタ４１の透過周波数を第１の測定周波数（例えば、ｆ１）に設定する（処理Ｐ６１）。

これにより、光パワー測定部４２（ＰＤ４２１及びＡＤＣ４２２）にて測定周波数ｆ１の受信光パワーが測定され、測定結果が測定値メモリ４３３に記憶される（処理Ｐ６２）。当該測定結果は、第１の送信光パワーレベル（Ｌ１）での第１の測定周波数ｆ１の測定値Ｐ_{ｆ１（Ｌ１）}として測定値メモリ４３３に記憶される。

記憶された測定値Ｐ_{ｆ１（Ｌ１）}は、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４、ζ算出回路４３５、ＰＮＬＩ算出回路４３６、及び、Ｐ_ＡＳＥ算出回路４３７によってそれぞれ読み出される（処理Ｐ６３）。

次いで、測定周波数設定回路４３１は、波長可変フィルタ４１の透過周波数を第２の測定周波数（例えば、ｆ２）に設定する（処理Ｐ６４）。

これにより、光パワー測定部４２（ＰＤ４２１及びＡＤＣ４２２）にて測定周波数ｆ２の受信光パワーが測定され、測定結果が測定値メモリ４３３に記憶される（処理Ｐ６５）。当該測定結果は、第１の送信光パワーレベルＬ１での第２の測定周波数ｆ２の測定値Ｐ_{ｆ２（Ｌ１）}として測定値メモリ４３３に記憶される。

記憶された測定値Ｐ_{ｆ２（Ｌ１）}は、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４及びζ算出回路４３５によってそれぞれ読み出される（処理Ｐ６６）。

次いで、モニタ制御回路４３２が、例えばネットワーク制御装置３へ送信端ノード２−１の光送信器２４の出力光パワーレベルの変更依頼を制御信号にて送信する（処理Ｐ６７）。

（送信光パワーの変更処理）
ネットワーク制御装置３は、上述した出力光パワーレベルの変更依頼を受信すると、図１２に例示するように、送信端ノード２−１の光送信器制御回路２７１（図６参照）に対して出力値の変更依頼を制御信号にて送信する（処理Ｐ７１）。

光送信器制御回路２７１は、受信した制御信号において示される出力値（例えば、第２の送信光パワーレベルＬ２に相当する値）を出力値メモリ２７２に記憶する（処理Ｐ７２）。出力値メモリ２７２に記憶された出力値は、出力設定回路２７３によって読み出される。出力設定回路２７３は、読み出した出力値を光送信器２４に与えて光送信器２４の出力光パワーレベルをレベルＬ２に設定する（処理Ｐ７３）。

一方、光送信器制御回路２７１は、光送信器２４の出力光パワーレベルの変更が完了した旨を制御信号にてネットワーク制御装置３へ送信する（処理Ｐ７４）。

（第２の送信光パワーレベルでのモニタ）
上述のようにして送信端ノード２−１の送信光パワーレベルがレベルＬ１からレベルＬ２に変更された後、モニタノード２−４では、図１１に例示したモニタ処理と同様のモニタ処理を実施する。

例えば図１３に示すように、モニタノード２−４の測定周波数設定回路４３１は、波長可変フィルタ４１の透過周波数を第１の測定周波数（例えば、ｆ１）に設定する（処理Ｐ８１）。

これにより、光パワー測定部４２（ＰＤ４２１及びＡＤＣ４２２）にて測定周波数ｆ１の受信光パワーが測定され、測定結果が測定値メモリ４３３に記憶される（処理Ｐ８２）。当該測定結果は、第２の送信光パワーレベル（Ｌ２）での第１の測定周波数ｆ１の測定値Ｐ_{ｆ１（Ｌ２）}として測定値メモリ４３３に記憶される。

記憶された測定値Ｐ_{ｆ１（Ｌ２）}は、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４、ζ算出回路４３５、ＰＮＬＩ算出回路４３６、及び、Ｐ_ＡＳＥ算出回路４３７によってそれぞれ読み出される（処理Ｐ８３）。

次いで、測定周波数設定回路４３１は、波長可変フィルタ４１の透過周波数を第２の測定周波数（例えば、ｆ２）に設定する（処理Ｐ８４）。

これにより、光パワー測定部４２（ＰＤ４２１及びＡＤＣ４２２）にて測定周波数ｆ２の受信光パワーが測定され、測定結果が測定値メモリ４３３に記憶される（処理Ｐ８５）。当該測定結果は、第２の送信光パワーレベルＬ２での第２の測定周波数ｆ２の測定値Ｐ_{ｆ２（Ｌ２）}として測定値メモリ４３３に記憶される。

記憶された測定値Ｐ_{ｆ２（Ｌ２）}は、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４によって読み出される（処理Ｐ８６）。また、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４には、ネットワーク制御装置３から校正係数ｄが入力される（処理Ｐ８７）。

Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４は、既述の数式８に従って信号光成分パワーＰ_{ｓｉｇ（Ｌ１）}を算出し、算出結果をζ算出回路４３５、Ｐ_ＮＬＩ算出回路４３６及びＰ_ＡＳＥ算出回路４３７のそれぞれに出力する（処理Ｐ８８）。

また、Ｐ_ｓｉｇ算出回路４３４は、既述の数式９に従って信号光成分パワーＰ_{ｓｉｇ（Ｌ２）}を算出し、算出結果をζ算出回路４３５に出力する（処理Ｐ８９）。なお、処理Ｐ８８と処理Ｐ８９とは並行して実施してよい。

ζ算出回路４３５は、既述の数式１２に従って比例係数ζを算出し、算出した比例係数ζをＰ_ＮＬＩ算出回路４３６に出力する（処理Ｐ９０）。

Ｐ_ＮＬＩ算出回路４３６は、既述の数式２１に従ってＮＬＩ雑音成分パワーＰ_ＮＬＩを算出してＰ_ＡＳＥ算出回路４３７に出力する（処理Ｐ９１）。

Ｐ_ＡＳＥ算出回路４３７は、既述の数式２２に従ってＡＳＥ雑音成分パワーＰ_ＡＳＥを算出する（処理Ｐ９２）。

以上にようにして、送信端ノード２−１において送信信号光パワー（Ｐ_ｓｉｇ）を異なるパワーに変動させ、モニタノード２−４においてモニタされる、異なる受信信号光パワーから数式１２により比例係数ζを算出する。そして、算出した比例係数ζから数式２１及び数式２２に従って、ＮＬＩ雑音成分パワー（Ｐ_ＮＬＩ）とＡＳＥ雑音成分パワー（Ｐ_ＡＳＥ）とを個別的に求めることができる。

ＮＬＩ雑音成分パワー（Ｐ_ＮＬＩ）とＡＳＥ雑音成分パワー（Ｐ_ＡＳＥ）とを個別的に求めることができるから、既述の数式２３によって受信信号光のＯＳＮＲを詳細に求めることができる。

なお、上述した実施形態では、図３に例示したように、測定波長の光スペクトラムにおいてＡＳＥ雑音成分が一定であるか、実質的に一定であると扱ってよい（変動を無視してよい）状況を想定した。

ＡＳＥ雑音成分は、送信端ノード２−１とモニタノード２−４との間に設けられた中継ノードに用いられる、光増幅器の増幅利得や波長選択スイッチ（ＷＳＳ）等の挿入損失に応じた光減衰率等を一定にすることで、一定にできる。

例えば図１４に模式的に示すように、送信端ノード２−１とモニタノード２−４との間に、２つの中継ノード２−５及び２−６が設けられているとする。ただし、中継ノード数は、１でもよいし３以上でもよい。図１４の例では、各中継ノード２−５及び２−６での光増幅器の増幅利得やＷＳＳ等の挿入損失に応じた光減衰率を一定にすることで、各中継スパンでの信号光のレベルダイヤを変化させないようにすることができる。

レベルダイヤが変更される場合には、異なるレベルダイヤにおいて上述した実施形態を適用すればよい。例えば、各レベルダイヤ設定後に、中継ノード２−５及び２−６において、増幅利得やＷＳＳ等の挿入損失に応じた光減衰率を維持しながら、送信端ノード２−１の送信信号光パワーの変更と、モニタノード２−４での受光パワーモニタと、を実施すればよい。

また、上述した実施形態では、図２、図３及び図１５（Ａ）に例示するように、同一波長の信号光の異なるパワーレベルをモニタしたが、図１５（Ｂ）に例示するように、異なる波長の信号光の異なるパワーレベルをモニタしてもよい。

例えば、スーパーチャネルを成す波長群は、同じ伝送路条件で伝送されると考えてよいから、ＡＳＥ雑音成分及び比例係数ζも各波長で等しいと扱える場合がある。この場合、校正係数ｄ、比例係数ζ、信号光パワー（Ｐ_ｓｉｇ）、ＮＬＩ雑音成分パワー（Ｐ_ＮＬＩ）及びＡＳＥ雑音成分パワー（Ｐ_ＡＳＥ）は、それぞれ既述の計算式及び算出方法を用いて算出することが可能である。

１ 光伝送システム
２−１〜２−Ｎ 光伝送装置（ノード）
３ ネットワーク制御装置
１１ 光伝送路
２０ モニタ（送信光モニタ）
２１ 波長可変フィルタ
２２ 光パワー測定部
２２１ フォトディテクタ（ＰＤ）
２２２ アナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）
２３ モニタ制御部
２３１ 測定周波数設定回路
２３２ モニタ制御回路
２３３ 測定値メモリ
２３４ 校正係数（ｄ）算出回路
２４ 光送信器
２５ 波長合波器（ＷＤＭカプラ）
２７ 制御部（光送信器制御部）
２７１ 光送信器制御回路
２７２ 出力値メモリ
２７３ 出力設定回路
４０ モニタ（受信光モニタ（信号光品質測定装置））
４１ 光フィルタ（波長可変フィルタ）
４２ 光パワー測定部
４２１ フォトディテクタ（ＰＤ）
４２２ アナログ−デジタル変換器（ＡＤＣ）
４３ モニタ制御部
４３１ 測定周波数設定回路
４３２ モニタ制御回路
４３３ 測定値メモリ
４３４ 信号光成分パワー（Ｐ_ｓｉｇ）算出回路
４３５ 比例係数（ζ）算出回路
４３６ ＮＬＩ雑音成分パワー（Ｐ_ＮＬＩ）算出回路
４３７ ＡＳＥ雑音成分パワー（Ｐ_ＡＳＥ）算出回路

Claims (6)

1. パワーの異なる信号光が入力される波長可変フィルタと、
   前記波長可変フィルタを透過した光パワーを測定する測定部と、
   前記波長可変フィルタの透過周波数の制御に応じて、前記測定部において、前記異なるパワーの信号光のそれぞれについて異なる透過周波数で測定された光パワーに基づいて、信号光の非線形雑音成分と自然放出光雑音成分とを算出する制御部と、を備えた、信号光品質測定装置。
2. 前記制御部は、前記透過周波数をスイープ制御し、前記スイープ制御に応じて前記測定部にて測定される光パワーが最大となる周波数を、前記異なる周波数の１つである第１周波数に決定する、請求項１に記載の信号光品質測定装置。
3. 前記制御部は、前記信号光のスペクトラムにおいて前記第１周波数に対して所定周波数だけずれた周波数を第２周波数に決定する、請求項２に記載の信号光品質測定装置。
4. 前記パワーの異なる信号光が、同一波長の信号光である、請求項１に記載の信号品質測定装置。
5. 前記パワーの異なる信号光が、スーパーチャネルを成す異なる波長の信号光である、請求項１に記載の信号品質測定装置。
6. パワーの異なる信号光が入力される波長可変フィルタの透過周波数を制御して、前記異なるパワーの信号光のそれぞれについて異なる透過周波数の光のパワーを測定し、
   前記測定の結果に基づいて、信号光の非線形雑音成分と自然放出光雑音成分とを算出する、信号光品質測定方法。

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