JP2015190869A - 光学式測定装置の補正用治具及び補正方法 - Google Patents
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Abstract
Description
測定部100のレーザ光源111が、レーザビームL1を出力する。出力されたレーザビームL1は、ミラー112で反射された後、ポリゴンミラー113に入射する。ポリゴンミラー113は、モータ114によって回転駆動されており、これによって、レーザビームL1は回転走査ビームL2に変換される。ここでモータ114は、モータ駆動回路115において、同期信号に基づいて生成される駆動信号によって駆動されている。同期信号は、モータ同期回路116において、クロックパルスCLKに基づいて生成される。続いて、回転走査ビームL2は、更にコリメートレンズ117でビーム径を絞った等速度の平行走査ビームL3(光ビーム)に変換される。この平行走査ビームL3は、ポリゴンミラー113の回転に伴って測定対象物Wが置かれた測定領域140を走査するように照射され、集光レンズ121を通して測定用受光素子122に入射する。測定用受光素子122の出力(走査信号)は、アンプ123で増幅された後、制御部200のエッジ検出回路202に入力される。
図3は、光学式測定装置の測定誤差の発生要因を説明する図である。図3は、測定領域において平行走査ビームL3の走査方向に等しい間隔Dを空けて配置された間隔Dと同じ長さの外径を持つピンゲージを測定する場合を示している。
図5は、実施形態に係る光学式測定装置の補正用治具の外観図である。
補正用治具400は、所定ピッチで配列された目盛401aを有する透光性のスケール401、スケール401を固定するスケール固定部402、並びに、スケール固定部402を支持する支持台403を備える。スケール401は、例えば、ガラス板を材料として、その表面に対して目盛401aがクロム蒸着によって刻まれて形成されている。スケール401をこのように形成することで、目盛401aを非常に精密な一定ピッチで刻むことができ、スケール401を光学式測定装置の補正基準として用いることができる。
実施形態に係る補正方法では、光学式測定装置の測定領域140に対して、スケール401の目盛401aの配列方向が平行走査ビームL3の走査方向になるように補正用治具400を配置し、目盛401aのピッチを測定する。そして、目盛401aの所定ピッチを真値として、光学式測定装置で測定したピッチとの差分を取り、同位置における補正データを算出する。光学式測定装置は、実際の測定対象物の配置位置に応じた補正データを用いて測定結果を補正し、最終的な測定結果を得る。なお、補正データは、テーブル形式にて光学式測定装置の制御部200のメモリ205に記憶しておくこともできる。
Claims (4)
- 測定対象物が配置される測定領域を光ビームで走査する光ビーム走査部と、前記測定領域の透過光ビームを受光する受光部とを備える光学式測定装置の前記光ビームの各走査位置における補正データを取得するための補正用治具であって、
所定ピッチで配列された目盛を有する透光性のスケールと、
前記スケールを前記目盛の配列方向が前記光ビームの走査方向になるように前記測定領域に設置するための支持台と
を備えた
ことを特徴とする光学式測定装置の補正用治具。 - 測定対象物が配置される測定領域を光ビームで走査する光ビーム走査部と、前記測定領域の透過光ビームを受光する受光部とを備える光学式測定装置の補正方法であって、
所定ピッチで配列された目盛を有する透光性のスケールを、前記目盛の配列方向が前記光ビームの走査方向になるように前記測定領域に配置し、前記光学式測定装置によって前記目盛のピッチを測定し、当該測定結果と前記目盛の所定ピッチとの差分に基づいて前記光学式測定装置の測定結果を補正する補正データを算出する
ことを特徴とする光学式測定装置の補正方法。 - 前記補正データは、前記光ビームの走査位置毎に算出される
ことを特徴とする請求項2記載の光学式測定装置の補正方法。 - 前記補正データは、前記光学式測定装置にテーブルで記憶される
ことを特徴とする請求項2又は3記載の光学式測定装置の補正方法。
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Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016011476A1 (de) | 2015-09-29 | 2017-03-30 | Mitutoyo Corporation | Signalverarbeitungsschaltung für Messmaschine |
JP2019027850A (ja) * | 2017-07-27 | 2019-02-21 | キヤノン電子株式会社 | 光走査型測定装置 |
JP2021018061A (ja) * | 2019-07-17 | 2021-02-15 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置 |
US20220163321A1 (en) * | 2020-11-20 | 2022-05-26 | Keyence Corporation | Optical measurement apparatus |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6656905B2 (ja) | 2015-12-15 | 2020-03-04 | 株式会社ミツトヨ | 透明管の内径測定方法 |
EP3534106B1 (en) * | 2018-03-01 | 2020-07-15 | Mitutoyo Corporation | Apparatuses and methods for inner diameter measurement of transparent tube |
JP2021131312A (ja) | 2020-02-20 | 2021-09-09 | 株式会社ミツトヨ | スケール |
CN114608477A (zh) * | 2022-03-17 | 2022-06-10 | 中冶赛迪重庆信息技术有限公司 | 一种车厢内部的测量方法及测量装置 |
DE102022124224A1 (de) | 2022-08-15 | 2024-02-15 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Optische Prüfvorrichtung |
EP4325166A1 (de) | 2022-08-15 | 2024-02-21 | JENOPTIK Industrial Metrology Germany GmbH | Optische prüfvorrichtung |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4097158A (en) * | 1977-01-06 | 1978-06-27 | Systems Research Laboratories, Inc. | Half-maximum threshold circuit for optical micrometer |
JPH09189524A (ja) * | 1996-01-08 | 1997-07-22 | Mitsutoyo Corp | 光学式寸法測定装置 |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US685455A (en) * | 1901-05-29 | 1901-10-29 | Richard Kinkead | Instrument for hanging and lining up shafting. |
US3551057A (en) * | 1965-12-30 | 1970-12-29 | Lockheed Aircraft Corp | Laser beam alignment apparatus |
US3599336A (en) * | 1968-11-21 | 1971-08-17 | Technidyne Inc | Pipe target system and method for aligning pipes and the like with laser beams |
US3723013A (en) * | 1970-10-23 | 1973-03-27 | Atomic Energy Commission | Alignment system |
US4447962A (en) * | 1982-05-24 | 1984-05-15 | Usm Corporation | Adjustable bore target and gage |
US4730928A (en) * | 1983-06-21 | 1988-03-15 | Lasercheck Limited | Position measurement by laser beam |
US4681439A (en) * | 1985-10-28 | 1987-07-21 | Shoemaker Jack W | Pipe laying method and apparatus |
DE4039743A1 (de) * | 1990-12-08 | 1992-06-11 | Thaelmann Schwermaschbau Veb | Verfahren zur erfassung von korrekturwerten fuer die korrektur optischer abbildungsfehler in durchmessermessgeraeten auf der basis von ccd-zeilen |
AT403066B (de) * | 1991-07-12 | 1997-11-25 | Plasser Bahnbaumasch Franz | Verfahren zum ermitteln der abweichungen der ist-lage eines gleisabschnittes |
IL106544A (en) * | 1993-08-01 | 1996-10-16 | Israel State | Area surveying apparatus for communication system |
JP3483303B2 (ja) * | 1994-06-21 | 2004-01-06 | 株式会社トプコン | 回転レーザ装置 |
US5784155A (en) * | 1996-02-08 | 1998-07-21 | Kabushiki Kaisha Topcon | Laser survey instrument |
KR100422900B1 (ko) * | 2001-05-10 | 2004-03-12 | 삼성전자주식회사 | 기준각 제공장치 |
CN1482433A (zh) * | 2002-09-09 | 2004-03-17 | 财团法人工业技术研究院 | 用于校正激光三维测量器的方法及装置 |
CN1327412C (zh) * | 2002-11-04 | 2007-07-18 | 新科实业有限公司 | 硬磁盘驱动器磁头浮动高度测试仪的校准系统和方法 |
JP2008292210A (ja) | 2007-05-22 | 2008-12-04 | Mitsutoyo Corp | 光学式測定装置 |
-
2014
- 2014-03-28 JP JP2014068612A patent/JP2015190869A/ja active Pending
-
2015
- 2015-03-25 US US14/668,171 patent/US9958263B2/en active Active
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4097158A (en) * | 1977-01-06 | 1978-06-27 | Systems Research Laboratories, Inc. | Half-maximum threshold circuit for optical micrometer |
JPH09189524A (ja) * | 1996-01-08 | 1997-07-22 | Mitsutoyo Corp | 光学式寸法測定装置 |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102016011476A1 (de) | 2015-09-29 | 2017-03-30 | Mitutoyo Corporation | Signalverarbeitungsschaltung für Messmaschine |
DE102016011476B4 (de) | 2015-09-29 | 2022-05-25 | Mitutoyo Corporation | Signalverarbeitungsschaltung für Messmaschine |
JP2019027850A (ja) * | 2017-07-27 | 2019-02-21 | キヤノン電子株式会社 | 光走査型測定装置 |
JP2021018061A (ja) * | 2019-07-17 | 2021-02-15 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置 |
JP7271066B2 (ja) | 2019-07-17 | 2023-05-11 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置 |
US20220163321A1 (en) * | 2020-11-20 | 2022-05-26 | Keyence Corporation | Optical measurement apparatus |
US11668559B2 (en) * | 2020-11-20 | 2023-06-06 | Keyence Corporation | Optical measurement apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9958263B2 (en) | 2018-05-01 |
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