JP6656905B2 - 透明管の内径測定方法 - Google Patents
透明管の内径測定方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6656905B2 JP6656905B2 JP2015244245A JP2015244245A JP6656905B2 JP 6656905 B2 JP6656905 B2 JP 6656905B2 JP 2015244245 A JP2015244245 A JP 2015244245A JP 2015244245 A JP2015244245 A JP 2015244245A JP 6656905 B2 JP6656905 B2 JP 6656905B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- transparent tube
- light
- inner diameter
- peripheral surface
- width direction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/08—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters
- G01B11/12—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring diameters internal diameters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/2433—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
これらは、帯状に配列された複数の平行レーザ光束あるいは同様形状でスキャンするレーザビームを用い、測定対象物で遮断された陰の区間の寸法から、測定対象物の外径などを検出している(特許文献1など参照)。
すなわち、測定対象物として円柱状物を平行レーザ光束の途中に置いた場合、円柱状物で光束の中間部分が遮られ、円柱状物の両外側を通る光束だけが受光部に到達する。つまり、受光部で検出される受光量は、円柱状物の両外側で大きく、円柱状物の陰の部分で小さくなる。従って、円柱状物の幅方向における両側2箇所の、受光量が急減する位置を検出することで、その距離から円柱状物の外径寸法を測定することができる。
すなわち、円柱状物の外側の受光量が大きい状態から、円柱状物の陰の部分に至ると、受光量が小さい状態となる。これにより、受光部では、受光信号が減少し、閾値を下回った時点で円柱状物の一方の外側位置を検出することができる。
また、円柱状物の陰の部分で受光量が小さい状態から、円柱状物の外側に至ると、受光量が大きい状態となる。これにより、受光部では、受光信号が増加し、閾値を上回った時点で円柱状物の反対側の外側位置を検出することができる。
特許文献2では、透明管に照射されて透明管を透過する平行なレーザビームのうち、光軸方向が変化しない特定のビームに着目し、透明管の内径(内周面の最大外径)を幾何学的に計算する。
なお、平行レーザ光束90は、その幅方向が方向WDとされ、照射される光軸方向が方向PDとされている。
図5において、領域E3の陰の部分には、主に3本のビーム94,95,96が観測される。このうちビーム94は、透明管80の中心を通るものであり、外周面81および内周面82を直角に透過するため屈折せず、元の光軸のまま進行するものである。
図6において、測定装置の受光部では、透明管80の外側を通過した平行レーザ光束90および透明管80を透過したビーム95,96を受光し、幅方向位置Pごとの光量Lを示す検出信号Sとして出力する。なお、スキャン方式では、幅方向位置Pに代えてスキャンタイミングが用いられることがある。
一方、領域E3の陰の部分では、主に3本のビーム94,95,96が元の光軸(平行レーザ光束90)と平行に出射され、受光部に受光される。このため、領域E3においては、検出信号Sに、ビーム94,95,96に対応するピークS4,S5,S6が表れる。
ピークS4は、透明管80の中央を屈折せずに透過してきたビーム94に対応するものであり、光量L1,L2に準じた高い光量L4を示す。
ピークS5,S6は、透明管80の内周面82で反射されてきたビーム95,96に対応するものであり、光量L1,L2よりもかなり小さな光量L5,L6となる。
具体的には、ピークS5,S6と交差するレベルの閾値Tを設定し、検出信号Sが閾値Tを超える幅方向位置P5,P6を検出し、これらの位置あるいはこれらの距離Ddから幾何学的演算を行うことで、内径Diを測定することができる。
このため、閾値Tを超える位置(P5,P6)の検知にあたって、誤差が避けられないという問題があった。
内径測定にも同様な手順を採用すると、検出信号SがピークS5において光量L3から光量L5に変化する区間で、閾値Tとの交差を検出し、この点を位置P5(ビーム95に対応)と判定する。
しかし、図6の円形領域に拡大して示すように、実際の位置P5はピークS5の中央であり、例えば閾値Tが閾値T1とした際に交差する点P51とはずれており、誤差を生じることになる。
また、閾値Tが閾値T1であるか閾値T2であるかによって、交差する点P51あるいは点P52が変化し、誤差を生じることになる。
このような誤差原因は、ピークS6でも同様である。
さらに、閾値Tが変動し、閾値T1から閾値T2になったとすると、点P52と点P62から計算される距離Dd2に変動してしまう、という問題がある。
その結果、位置P5,P6あるいはその距離Ddが誤差を含んだものとなるため、透明管80の内径Diを正確に計算することができない、という問題があった。
本発明では、各側の2点の閾値との交差位置を検出し、その中点の位置を求めることで、内周面に対応した光束の位置を正確に測定し、これにより内径を正確に測定できるようにする。
具体的に、本発明は以下の構成を備えたものである。
さらに、本発明によれば、閾値が変動し、検出信号との交点の位置が変動した場合でも、中点の位置を検出することで変動の影響を回避でき、この点でも正確な内径を得ることができる。
このような本発明では、内周面の両側の位置から内径を計算するので、正確な内径を測定することができる。
なお、透明管の中心位置が正確に得られていれば、内周面の片側の位置からでも、内径を測定することができる。ただし、透明管の両側についてそれぞれ測定することで、正確な内径を測定することができる。
図1において、測定装置1は、平行レーザ光束を利用して測定対象物である透明管50の外形寸法を測定する装置である。
本実施形態では、測定装置1として、レーザスキャン式マイクロメータを用いている。
測定装置1は、投光部10および受光部20を有する。受光部20には制御装置30が接続されている。
投光部10においては、レーザ光源11からのビーム状のレーザ光14が、ポリゴンミラー12で反射される。反射光15は、コリメータレンズ13を通して出射され、測定光束16を形成する。
ポリゴンミラー12は、図示省略した回転駆動機構で回転駆動される。これにより、ポリゴンミラー12で反射された反射光15のビームは扇形に振られ、コリメータレンズ13を通して出射された平行な測定光束16により、帯状の平行レーザ光束40が形成される。
なお、平行レーザ光束40は、その幅方向が方向WDとされ、照射される光軸方向が方向PDとされている。
受光部20には、投光部10からの平行レーザ光束40が入射される。入射された平行レーザ光束40は、コリメータレンズ21で収束され、収束光23が光センサ22に入射される。光センサ22は、受光した収束光23の光強度を検出し、平行レーザ光束40の幅方向に応じた検出信号S(図2参照)として、外部の制御装置30に出力する。
透明管50は、透明な材質で形成され、外周面51の外径Do、内周面52の内径Diとされている。
本実施形態では、平行レーザ光束40を用いて、内周面52の内径Diの正確な測定を行う。
領域E3の陰の部分には、元の平行レーザ光束40と光軸が平行なビーム43として、主に3本のビーム44,45,46が観測される。このうちビーム44は、透明管50の中心を通るものであり、外周面51および内周面52を直角に透過するため屈折せず、元の光軸のまま進行するものである。
制御装置30は、透明管50の外側を通過した平行レーザ光束40および透明管50を透過したビーム45,46の光量に基づいて、各々の幅方向位置(平行レーザ光束40の幅方向位置)を検出する。
受光部20において、透明管50の外側を通過した平行レーザ光束40および透明管50を透過したビーム45,46を受光し、幅方向位置Pごとの光量Lを示す検出信号Sとして出力する。
本実施形態では、測定装置1がスキャン方式であり、投光部10では平行レーザ光束40の幅方向に一本のレーザビームを振ってスキャンする。従って、平行レーザ光束40の幅方向位置Pは、投光部10におけるスキャンタイミングが用いられる。
一方、領域E3の陰の部分では、主に3本のビーム44,45,46が元の光軸(平行レーザ光束40)と平行に出射され、受光部20に受光される。このため、領域E3においては、検出信号Sに、ビーム44,45,46に対応するピークS4,S5,S6が表れる。
ピークS4は、透明管50の中央を屈折せずに透過してきたビーム44に対応するものであり、光量L1,L2に準じた高い光量L4を示す。
ピークS5,S6は、透明管50の内周面52で反射されてきたビーム45,46に対応するものであり、光量L1,L2よりもかなり小さな光量L5,L6となる。
具体的には、ピークS5,S6と交差するレベルの閾値Tを設定し、検出信号Sが閾値Tを超える幅方向位置P5,P6を検出し、これらの距離Ddを測定することができる。
ピークS5については、その両側の立ち上がり部分において、例えば閾値T1と交差する交点P511および交点P512を検出する。そして、各々の平均値を計算することで、各交点P511,P512の中点にあたる幅方向位置P5を検出する。
ピークS6については、同様に閾値T1と交差する交点P611および交点P612を検出し、各々の平均値から各々の中点にあたる幅方向位置P6を計算する。
ここで、閾値T1が閾値T2に変動したとすると、ピークS5の閾値T2との交点P521および交点P522は変動するが、その平均値としての幅方向位置P5は変動しない。また、ピークS6の閾値T2との交点P621および交点P622は変動するが、その平均値としての幅方向位置P6は変動しない。
従って、閾値Tが変動したとしても、幅方向位置P5,P6は変動せず、それぞれ常にピークS5,S6の正確な幅方向位置を示すことになる。
図3において、ビーム45,46の入射位置を通る外周面51の法線Liとして、検出した距離Ddと、透明管50の外径Doとから、外周面51の法線Liに対するビーム45,46の入射角度Ai=sin−1(Dd/do)が求まる。
また、入射角度Aiと透明管50の材質の屈折率nから、透明管50に入射したビーム45,46の法線Liに対する屈折角度r=sin−1(sinAi/n)が求まる。
次に、法線Liと平行レーザ光束40の光軸と交差する軸線Loとの角度αと、屈折角度rとから、透明管50に入射したビーム45,46の軸線Loに対する角度βが求まる。
これらの角度r,βが得られれば、正弦定理に基づきDi/sinr=Do/sinβとなり、内径Di=Do(sinr/sinβ)が得られる。
この場合、幅方向位置P5,P6のいずれかと、透明管50の中心Oが解っていればよい。透明管50の中心Oの、平行レーザ光束40の幅方向位置は、例えばビーム44の中心位置を検出することで行える。その際、幅方向位置P5,P6の検出と同様に、検出信号Sにおけるビーム44に対応したピークの両側で閾値が公差する2つの点を求め、ビーム44の中心位置を正確に求めることが望ましい。
この幅方向位置P5,P6は、透明管50の内周面52で反射されたビーム45,46の中心位置に相当するので、内周面52の位置に正確に反映したものとなる。従って、これらの幅方向位置P5,P6に基づいて内周面52の両側位置を計算することで、正確な内径Diを得ることができる。
そして、本実施形態では、内周面52の両側で幅方向位置P5,P6を計算し、幅方向位置P5,P6の距離Ddを用いて内径Diを計算するようにしたので、透明管80の中心Oを用いることなく、正確な内径Diを測定することができる。
前述した実施形態では、平行レーザ光束40を形成する測定装置1としてレーザスキャン式マイクロメータを用いたが、イメージセンサ式マイクロメータあるいは光切断式2次元形状測定センサを利用してもよい。
また、実施形態の説明中でも述べた通り、透明管50の全幅にわたって平行レーザ光束40で測定するのではなく、中心Oから一方の側までの半分だけを平行レーザ光束40で測定してもよく、幅方向位置P5,P6のいずれか一方と中心Oとから内径Diを測定することができる。
Claims (2)
- 平行レーザ光束を用いて透明管の内径を測定する透明管の内径測定方法であって、
前記平行レーザ光束を形成する投光部と、前記投光部からの前記平行レーザ光束を受光する受光部とを設置し、前記投光部と前記受光部との間に前記透明管を配置し、
前記透明管の全幅または前記透明管の中心から一方の側までの半分において、前記平行レーザ光束の幅方向位置に応じた受光量を示す検出信号を前記受光部から取得し、前記検出信号のうち、前記透明管の内周面で反射されて前記受光部に入射される光束により形成されるピークを検出し、
前記ピークが所定の閾値と交差する2つの交点の幅方向位置を検出し、前記2つの交点の平均値から前記透明管の内周面で反射された光束の幅方向位置を計算し、
前記光束の幅方向位置から幾何学的演算を行って前記透明管の内径を測定することを特徴とする透明管の内径測定方法。 - 請求項1に記載した透明管の内径測定方法において、
前記内周面の幅方向位置の計算を、前記透明管の両側について行い、両側の前記内周面の幅方向位置から前記透明管の内径を計算することを特徴とする透明管の内径測定方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015244245A JP6656905B2 (ja) | 2015-12-15 | 2015-12-15 | 透明管の内径測定方法 |
US15/364,644 US10060727B2 (en) | 2015-12-15 | 2016-11-30 | Internal diameter measuring method for transparent tube |
CN201611120975.3A CN106885525B (zh) | 2015-12-15 | 2016-12-08 | 用于透明管的内径测量方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2015244245A JP6656905B2 (ja) | 2015-12-15 | 2015-12-15 | 透明管の内径測定方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2017110971A JP2017110971A (ja) | 2017-06-22 |
JP6656905B2 true JP6656905B2 (ja) | 2020-03-04 |
Family
ID=59018468
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2015244245A Active JP6656905B2 (ja) | 2015-12-15 | 2015-12-15 | 透明管の内径測定方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10060727B2 (ja) |
JP (1) | JP6656905B2 (ja) |
CN (1) | CN106885525B (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6891066B2 (ja) * | 2017-07-19 | 2021-06-18 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置 |
CN107796321B (zh) * | 2017-12-04 | 2024-04-19 | 岭南师范学院 | 一种气缸内径检测设备 |
CN108168457B (zh) * | 2017-12-28 | 2020-02-07 | 长春长光精密仪器集团有限公司 | 一种圆柱度误差测量方法及测量系统 |
EP3537100B1 (en) * | 2018-03-01 | 2020-08-05 | Mitutoyo Corporation | Methods and apparatuses for refractive index measurement of transparent tube |
FI20185309A1 (en) * | 2018-04-04 | 2019-10-05 | Teknologian Tutkimuskeskus Vtt Oy | Internal diameter optical measurement |
US10871400B2 (en) * | 2018-08-27 | 2020-12-22 | Corning Incorporated | Retardation profile for stress characterization of tubing |
JP7240937B2 (ja) * | 2019-04-05 | 2023-03-16 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置および光学式測定方法 |
CN111076671B (zh) * | 2019-12-18 | 2021-11-02 | 上海集成电路研发中心有限公司 | 一种悬空结构翘曲的检测方法 |
CN113654473B (zh) * | 2021-08-06 | 2024-07-09 | 北京天和药玻科技有限公司 | 用于玻璃管的测量方法、处理器及测量装置 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3027457A (en) * | 1959-05-27 | 1962-03-27 | Corning Glass Works | Non-contacting tubing gage |
JPS56162002A (en) * | 1980-05-19 | 1981-12-12 | Nec Corp | Method and device for measuring dimension of glass tube |
JPS57194013U (ja) * | 1981-06-04 | 1982-12-09 | ||
US4859861A (en) * | 1988-05-16 | 1989-08-22 | Becton, Dickinson And Company | Measuring curvature of transparent or translucent material |
FR2651312B1 (fr) | 1989-08-25 | 1992-01-17 | France Etat | Procede et dispositif de caracterisation geometrique de tubes transparents. |
DE19757067C2 (de) * | 1997-12-20 | 2002-03-07 | Sikora Industrieelektronik | Verfahren zur Messung des Durchmessers eines Stranges |
JP2001108413A (ja) | 1999-10-13 | 2001-04-20 | Toyo Commun Equip Co Ltd | 寸法測定装置 |
US6538755B1 (en) * | 2000-10-17 | 2003-03-25 | Alcatel | System and method of detecting the interface between mediums with dissimilar indices of refraction |
FR2875295B1 (fr) * | 2004-09-10 | 2006-11-17 | Commissariat Energie Atomique | Procede de mesure d'objets tridimensionnels par ombroscopie optique a une seule vue, utilisant les lois optiques de la propagation de la lumiere |
KR100624256B1 (ko) * | 2005-01-13 | 2006-09-19 | 엘에스전선 주식회사 | 투명한 튜브의 외경과 내경을 측정하기 위한 장치 및 방법 |
CN101788272A (zh) * | 2010-04-06 | 2010-07-28 | 天津大学 | 基于激光三角法的多方向轴孔内径精密测量方法 |
FR2971847B1 (fr) * | 2011-02-18 | 2013-07-19 | Tiama | Procede et dispositif pour detecter des defauts de repartition de matiere dans des recipients transparents |
JP6178617B2 (ja) | 2013-05-20 | 2017-08-09 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置 |
JP2015190869A (ja) | 2014-03-28 | 2015-11-02 | 株式会社ミツトヨ | 光学式測定装置の補正用治具及び補正方法 |
-
2015
- 2015-12-15 JP JP2015244245A patent/JP6656905B2/ja active Active
-
2016
- 2016-11-30 US US15/364,644 patent/US10060727B2/en active Active
- 2016-12-08 CN CN201611120975.3A patent/CN106885525B/zh active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2017110971A (ja) | 2017-06-22 |
CN106885525B (zh) | 2020-02-11 |
CN106885525A (zh) | 2017-06-23 |
US10060727B2 (en) | 2018-08-28 |
US20170167854A1 (en) | 2017-06-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6656905B2 (ja) | 透明管の内径測定方法 | |
KR101911006B1 (ko) | 이미지 센서 포지셔닝 장치 및 방법 | |
JP6382303B2 (ja) | 表面粗さ測定装置 | |
JP6167821B2 (ja) | 検査装置 | |
US20170167852A1 (en) | Optical measuring method and measuring apparatus for external dimension | |
US20110095171A1 (en) | Photoelectric encoder | |
TR201807553T4 (tr) | İki düz iş parçası yüzeyi arasındaki açının belirlenmesi için tertibat. | |
US20160033626A1 (en) | Laser rangefinder | |
KR20120137274A (ko) | 평면도 측정장치 및 평면도 측정방법 | |
US20230100337A1 (en) | Device and method for detecting motion of a surface | |
US20150276380A1 (en) | Facility for measuring the thickness of the wall of containers | |
JP2016090584A (ja) | センサ | |
US20140250679A1 (en) | Optical inspection apparatus and optical inspection system | |
US20200264284A1 (en) | Optoelectronic sensor and method for detecting an object | |
JP5452245B2 (ja) | 光波距離測定装置 | |
CN110836642A (zh) | 一种基于三角测量法的彩色三角位移传感器及其测量方法 | |
US20200378803A1 (en) | Optical encoder | |
JP2009008643A (ja) | 光走査式平面検査装置 | |
JP2009025006A (ja) | 光学装置、光源装置及び光学式測定装置 | |
CN109084692B (zh) | 带有折射镜的差分式位移传感器及其测量方法 | |
JP7104217B2 (ja) | 光学式測定装置 | |
CN109141257B (zh) | 带有折射镜的可提高放大倍数的位移传感器及其测量方法 | |
JPH01212384A (ja) | 光ビーム物体検出装置 | |
JP6170714B2 (ja) | 測距装置 | |
JP5057962B2 (ja) | 光学式変位測定器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181106 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190807 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190820 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20191011 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191218 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20200128 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20200205 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6656905 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |