JP2015190857A - 光沢度計測装置、光沢度演算装置及び光沢度計測方法 - Google Patents

Abstract

【課題】多種多様な商品の光沢度を簡便に定量化することができる光沢度計測装置、光沢度演算装置及び光沢度計測方法を提供する。
【解決手段】光沢度計測装置１０は、光照射部１１、複数の光検出部１２、及び演算部１４を備える。光照射部１１は、測定部に配置される計測対象に、測定部を底面の中心とする半球の頂部から測定部に向かう方向に光を照射する。複数の光検出部１２は、計測対象からの反射光を受光して受光データを生成する。複数の光検出部１２によって受光される反射光は、半球の面上の異なる位置に進行する。演算部１４は、受光データに基づいて計測対象の光沢度データを取得する。
【選択図】図１

Description

本発明は光沢度計測装置、光沢度演算装置及び光沢度計測方法に係り、例えば繊維構造を有する計測対象の光沢度を決定する手法に関する。

インターネット上におけるＥＣ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｃｏｍｍｅｒｃｅ）サイトで洋服等の商品を検索する場合、一般に、価格、サイズ、色等を指定することにより、商品の絞り込みを行うことができる。例えば、ユーザがウェブページ上で所望の洋服の色を指定すると、その指定された色に関連する洋服画像の一覧が表示され、ユーザは表示された洋服画像の一覧の中から所望の洋服画像を選択することで、選択された画像の洋服を購入することができる。

このようにユーザは、膨大な数の商品群の中から所望の商品を選び出す場合、商品の特徴を指定することで商品の絞り込みを行う。特に近年、ユーザの嗜好も多様化しており、好みの商品を探す際には、従来の色等の特徴に加えて「光沢感（光沢度）」も重要視されている。

例えば同じ色、同じ柄、同じサイズ、等を有する洋服であっても「光沢感」が異なるだけで、受ける印象が全く変わる場合がある。そのため使用場面に応じて求められる光沢感が異なる場合がある。例えば葬儀等の厳かな場で着用される礼服等のアイテムとしては光沢感が抑えられたものが求められる傾向がある一方で、パーティー等のカジュアルな場で着用されるドレス等のアイテムとしては光沢感が強いものが求められる傾向がある。

このように「光沢感」も商品を選ぶ際の基準として重要になってきており、商品検索の利便性を向上させて所望の商品を的確に探し出すことを可能にするため、「光沢感」に基づく商品検索を精度良く行う方法やシステムが望まれている。

しかしながら、ＥＣサイト上において「光沢感」に基づく商品検索が可能なシステムは見当たらない。実際にＥＣサイト上において商品の「光沢感」の情報を得ようとする場合、ユーザはＥＣサイト上に表示される「商品画像」や「商品の素材」等の他の情報から光沢度を類推する必要があるため、必ずしも正確な光沢感の情報が得られず、非常に不便である。

また商品の光沢感を人間の感性に基づいて判断する場合、光沢感の判断基準が曖昧になり、特に光沢感を判断及び決定する人間が商品毎に異なると判断結果がばらついてしまうため、多数の商品の光沢感を統一的に決定することができない。

そのため、商品の光沢感（光沢度）を簡便且つばらつき無く正確に計測できる技術が求められている。本件発明者は商品の反射特性に注目し、商品の反射特性から商品の光沢度を簡便に取得するための手法について検討した。

一般に、反射特性を利用した技術として、例えば双方向反射分布関数（ＢＲＤＦ：Ｂｉｄｉｒｅｃｔｉｏｎａｌ Ｒｅｆｌｅｃｔａｎｃｅ Ｄｉｓｔｒｉｂｕｔｉｏｎ Ｆｕｎｃｔｉｏｎ）を利用した装置等が提案されている。例えば特許文献１は、仮想３次元空間に作成された仮想３次元モデルをレンダリングするための画像処理装置を開示する。この画像処理装置では、布材料に対して入射方向を真上に固定して得られたＢＲＤＦに基づいて、仮想３次元モデルの任意の部位に対する仮想の入射方向及び仮想の視方向での鏡面反射成分が演算され、その鏡面反射成分を用いて仮想３次元モデルの任意の部位に対してシェーディングが行われる。

また特許文献２は、外装材等の材料の表面性状を測定し、施行後の性状を推定及び評価する測定装置を開示する。この測定装置によれば、材料表面における光の反射光強度が、任意の方向から、任意の受光角及び視野角で測定されて反射光輝度値及びその分布が求められ、その材料を外装材等に使用する場合の、施行後の色調むらや防眩性が推定されて管理指標として用いられる。

特開２００７−０２６０４９号公報 特開平０７−０６３６７７号公報

上述の特許文献１及び２に開示の技術のように材料の反射特性を利用した様々な計測手法が提案されているが、多種多様な商品の光沢感（光沢度）を定量的に表してＥＣサイト上の商品検索技術において活用することを可能にする技術は従来提案されていない。

すなわち、ＥＣサイト上で扱われる多数の商品の個々の光沢度を簡便に計測し、計測結果として得られる光沢度データを商品検索の基礎情報として利用可能とする技術は従来提案されていなかった。

特に、布地等の繊維構造は、金属面等のソリッドな平坦構造とは異なる独特の光沢感があり、単純に光反射率の高低のみによっては光沢感を的確に規定することができない。そのため、洋服等の布地を含む商品の検索技術への応用を踏まえると、光反射率の高低以外の観点から商品の光沢度を規定して定量化することが必要とされる。しかしながら、そのような技術を開示する先行技術文献は見当たらない。

例えば特許文献１の画像処理装置は、コンピュータグラフィックスやコンピュータビジョンにおける光沢や質感を再現するためにＢＲＤＦを利用しているが、検索システムで扱う多種多様な商品の光沢度を定量化する装置ではない。同様に特許文献２の測定装置は、屋根や外壁等建築構造物の外装材や、電車、飛行機、自動車の外板等として用いられる材料の表面性状を評価する装置であって、検索システムで扱う多種多様な商品の光沢度を定量化する装置ではない。

本発明は上述の事情に鑑みてなされたものであり、多種多様な商品の光沢度を簡便に定量化することを可能にする光沢度計測装置、光沢度演算装置及び光沢度計測方法を提供することを目的とする。

本発明の一態様は、測定部に配置される計測対象に、測定部を底面の中心とする半球の頂部から測定部に向かう方向に光を照射する光照射部と、計測対象からの反射光を受光して受光データを生成する複数の光検出部であって、半球の面上の異なる位置に進行する反射光をそれぞれ受光する複数の光検出部と、受光データに基づいて計測対象の光沢度データを取得する演算部と、を備える光沢度計測装置に関する。

本態様の光沢度計測装置によれば、計測対象からの反射光の受光データに基づいて計測対象の光沢度データを取得することができるため、多種多様な商品の光沢度を簡便に定量化することができる。

ここでいう「光沢度データ」は計測対象の光沢度を直接的又は間接的に示すデータであり、計測対象の光沢度を評価する際の指標となりうるデータである。また「光沢度」は、計測対象の光沢感を表す指標であればよく、計測対象からの反射光に基づいて知覚される感度特性であり、規格化された既存の光沢度の基準とは必ずしも一致しなくてもよい。したがって本態様によれば、人が感じる布地等の計測対象の光沢感を定量評価した値を光沢度データとして取得することができる。

望ましくは、複数の光検出部によって受光される反射光の半球の面上の位置は、半球の頂部と底面の中心とを通る軸に対する０°以上９０°以下の角度θと、底面の基準位置に対する円周方向に関する０°以上３６０°未満の角度φとによって表され、角度φが異なる位置を含む。

本態様によれば、角度θ及び角度φによって表される半球の面上の位置を通過する反射光の受光データに基づいて、計測対象の光沢度データを取得することができる。

望ましくは、複数の光検出部によって受光される反射光の半球の面上の位置は、角度φが第１の角度である複数の位置と、角度φが第１の角度とは異なる第２の角度である複数の位置とを含む。

本態様によれば、角度φが異なる第１の角度及び第２の角度の各々に関する反射光の受光データに基づいて計測対象の光沢度データが取得されるため、反射特性の角度φに関する異方性を反映した計測対象の光沢度データを得ることができる。

望ましくは、演算部は、半球の面上において角度φが第１の角度である複数の位置を通過する反射光の受光データに基づいて、第１の角度に関するプロジェクションデータを取得し、半球の面上において角度φが第２の角度である複数の位置を通過する反射光の受光データに基づいて、第２の角度に関するプロジェクションデータを取得し、第１の角度に関するプロジェクションデータ及び第２の角度に関するプロジェクションデータに基づいて光沢度データを取得する。

本態様によれば、角度φに関する第１の角度及び第２の角度のそれぞれについて、複数の位置を通過する反射光の受光データに基づいてプロジェクションデータが得られ、そのプロジェクションデータから光沢度データが取得される。したがって本態様では、角度φ毎に単一の位置を通過する反射光の受光データから光沢度データを取得する場合に比べ、受光データに含まれうる誤差成分の影響が低減され、計測対象の光沢度データを精度良く求めることができる。

ここでいう「プロジェクションデータ」は、複数の受光データから導き出されるデータであって、計測対象の反射特性の角度依存性を直接的又は間接的に示すデータであればよい。したがってプロジェクションデータは、例えば角度φ毎に得られる複数の受光データの和（合計値）であってもよいし、そのような受光データの和を正規化した値のように、角度φ毎に得られる複数の受光データの和に基づいて更なる演算が行われることで導き出される値等のデータであってもよい。

望ましくは、演算部は、第１の角度に関するプロジェクションデータを、半球の面上において角度φが第１の角度である複数の位置を通過する反射光の受光データの和に基づいて取得し、第２の角度に関するプロジェクションデータを、半球の面上において角度φが第２の角度である複数の位置を通過する反射光の受光データの和に基づいて取得する。

本態様によれば、反射光の複数の受光データの和に基づいて取得されるプロジェクションデータから、計測対象の光沢度データを取得することができる。

望ましくは、第１の角度と第２の角度とは、底面の円周方向に関して１８０°離間する。

本態様によれば、底面の円周方向に関して１８０°離間する「第１の角度の反射光の受光データ」及び「第２の角度の反射光の受光データ」から計測対象の光沢度データを取得することができる。特に繊維構造を持つ計測対象の光沢感は、底面の円周方向に関して１８０°異なる複数方向に関する反射特性と相関を有することがあることを本件発明者は確認しており、本態様によればそのような繊維構造を持つ計測対象の光沢度データを的確に取得することができる。

望ましくは、演算部は、半球の面上において角度φが異なる複数の位置を通過する反射光の受光データに基づいて、第１の角度及び第２の角度を含む複数の角度に関するプロジェクションデータを取得し、複数の角度に関して取得されたプロジェクションデータの標準偏差に基づいて光沢度データを取得する。

本態様によれば、複数の角度φに関して取得されたプロジェクションデータの標準偏差に基づいて光沢度データが取得されるため、反射特性の角度φに関するばらつきの程度に応じて計測対象の光沢度データを精度良く求めることができる。

例えば、（１）複数の角度φに関して取得されたプロジェクションデータの合計値から平均を取得し、（２）複数の角度φに関して取得されたプロジェクションデータの各々に関してこの平均との差分の二乗値を取得し、（３）複数の角度φの各々に関して取得されたこの二乗値の合計値を取得し、（４）この二乗値の合計値の平均を取得し、（５）この二乗値の合計値の平均の平方根の正の値を、ここでいう「標準偏差」として設定することができる。

望ましくは、演算部は、標準偏差が大きいほど大きな光沢度を示す光沢度データを取得する。

本態様によれば、反射特性の角度φに関する標準偏差のばらつきが大きい場合に光沢感が高い計測対象に関し、光沢度データを的確に取得することができる。

望ましくは、演算部は、複数の角度に関して取得されたプロジェクションデータの標準偏差に加えて平均を取得し、標準偏差をσで表し、平均をｍで表し、０以上の整数をｎで表す場合、複数の方向に関するプロジェクションデータのうち、ｍ＋ｎσ以上の値を示すプロジェクションデータの個数を取得し、個数に基づいて光沢度データを取得する。

本態様によれば、ｍ＋ｎσ以上の値を示すプロジェクションデータの個数に基づいて光沢度データが取得されるため、反射特性の角度φに関するばらつきの程度に応じて計測対象の光沢度データを精度良く求めることができる。

例えば、（１）複数の角度φの各々に関して取得されたプロジェクションデータの合計値を取得し、（２）プロジェクションデータを取得した角度φの個数でこの合計値を除することにより得られる値を、ここでいう「平均」として設定することができる。

望ましくは、演算部は、個数が大きいほど、大きな光沢度を示す光沢度データを取得する。

本態様によれば、ｍ＋ｎσ以上の値を示すプロジェクションデータの個数が大きい場合に光沢感が高い計測対象に関し、光沢度データを的確に取得することができる。

望ましくは、演算部は、半球の面上において、角度θが、θ＞第１の閾値、を満たす範囲の位置を通過する反射光の受光データに基づいて光沢度データを取得する。

本態様によれば、反射光のうちの正反射方向に進行する成分及び正反射方向の近辺の方向に進行する成分の受光データは除外され、その他の方向に進行する反射光の受光データに基づいて光沢度データを取得することができる。一般に、正反射方向及び正反射方向近辺の方向に進行する反射光の強度は、比較的強いが、計測対象の光沢度の違いによっては変動し難い。一方、正反射方向及び正反射方向近辺からは離れた方向に進行する反射光の強度は、比較的弱いが、計測対象の光沢度の違いによって変動し易い。そのため、正反射方向及び正反射方向近辺の方向に進行する反射光の受光データを除外してプロジェクションデータを求めることで、反射光の異方性を精度良く特定することができ、計測対象の光沢度を正確に反映した光沢度データを取得することができる。

望ましくは、計測対象は繊維構造を有する。

本態様によれば、計測対象の反射特性の角度φに関する異方性と光沢感とに相関を持つ繊維構造を有する計測対象の光沢度データを精度良く特定することができる。ここでいう「繊維構造」は、糸状要素を含む構造であり、織物構造等が繊維構造に含まれうる。

本発明の他の態様は、測定部に配置される計測対象に、測定部を底面の中心とする半球の頂部から測定部に向かう方向に光を照射して、半球の面上の異なる位置に進行する計測対象からの反射光を受光して生成された受光データに基づいて、計測対象の光沢度データを取得する演算部を備える光沢度演算装置に関する。

本発明の他の態様は、光照射部によって、測定部に配置される計測対象に、測定部を底面の中心とする半球の頂部から測定部に向かう方向に光を照射し、計測対象からの反射光であって、半球の面上の異なる位置に進行する反射光をそれぞれ複数の光検出部によって受光して受光データを生成し、演算部によって、受光データに基づいて計測対象の光沢度データを取得する光沢度計測方法に関する。

本発明によれば、計測対象からの反射光の受光データに基づいて計測対象の光沢度データを取得することができるため、多種多様な商品の光沢感を簡便に定量化することができる。

光沢度計測装置の機能構成を示すブロック図である。 照射光に関する光沢度計測装置の機能構成を示すブロック図である。 反射光に関する光沢度計測装置の機能構成を示すブロック図である。 光照射部と、測定部に配置される計測対象との位置関係例を示す図である。 計測対象が配置される測定部と光検出部との位置関係例を示す図である。 図５の断面線６に沿った半球（複数の光検出部）の断面状態を示す図である。 半球の頂部から底面の中心に向かう方向に光検出部を投影した図である。 光沢度計測方法の一例を示すフローチャートである。 実施例１で使用したサテンの布地の反射特性の計測結果を示す図である。 実施例２で使用した平織りの布地の反射特性の計測結果を示す図である。 実施例３で使用した光沢感の強いサテンの繊維構造を有する布地の反射特性の計測結果を示す図である。 繊維構造を示す平面図であり、（ａ）は平織り構造を示し、（ｂ）は綾織り構造を示し、（ｃ）はサテン（朱子織）構造を示す。 図１２（ｃ）に示すサテン（朱子織）の平面構造を拡大して示す斜視図である。 サテン（朱子織）構造を有する計測対象に照射光に照射した際の反射光の方向性を説明するための図である。 光沢度データの取得手法の一変形例を説明するための図であり、図５の断面線６に沿った半球（複数の光検出部）の断面状態を示す図である。 光沢度計測装置と光沢度演算装置とが別個に設けられている場合のシステム構成を示す機能ブロック図である。 検索システムの構成例を示す概念図である。

図面を参照して本発明の一実施形態について説明する。下記の実施形態は、ＢＲＤＦデータを利用した光沢度の計測技術に関する。

図１は、光沢度計測装置１０の機能構成を示すブロック図である。図２は、照射光３２に関する光沢度計測装置１０の機能構成を示すブロック図である。図３は、反射光３４に関する光沢度計測装置１０の機能構成を示すブロック図である。

本実施形態の光沢度計測装置１０は、図１に示すように光照射部１１、光検出部１２、演算部１４、記憶部１６及び計測演算コントローラ１８を備える。光照射部１１は、図２に示すように、計測対象２０に照射光３２を照射する。計測対象２０からの反射光３４は、図３に示すように光検出部１２によって受光される。光検出部１２は、フォトダイオード等によって構成され、受光した光強度に応じて受光データＤ１を生成する。演算部１４は、光検出部１２から送られてくる受光データＤ１に基づいて計測対象２０の光沢度データＤ２を算出取得する。これらの光照射部１１、光検出部１２、演算部１４及び記憶部１６における各種の処理は、計測演算コントローラ１８によって統括的に制御され、光沢度データＤ２は計測演算コントローラ１８の制御下で記憶部１６に保存される。

図４は、光照射部１１と、測定部２２に配置される計測対象２０との位置関係例を示す図である。なお図４では、理解を容易にするため光検出部１２、演算部１４、記憶部１６及び計測演算コントローラ１８の図示が省略されている。

光照射部１１は、測定部２２に配置される計測対象２０に、測定部２２を底面Ｂの中心Ｏとする半球Ｈの頂部Ｔから測定部２２に向かう方向Ｖに進行する照射光３２を照射する。光照射部１１からの照射光３２の発光のオン及びオフは、計測演算コントローラ１８（図１参照）によってコントロールされる。

図４に示す例では半球Ｈの頂部Ｔ及び底面Ｂの中心Ｏ（測定部２２）を通る軸上に光照射部１１が配置されているが、光照射部１１の位置は特に限定されない。すなわち測定部２２に配置される計測対象２０に対して「半球Ｈの頂部Ｔから底面Ｂの中心Ｏ（測定部２２）に向かう方向Ｖ」に照射光３２が照射されるのであれば、光照射部１１の位置は特に限定されない。光照射部１１が半球Ｈの頂部Ｔ及び底面Ｂの中心Ｏ（測定部２２）を通る軸上に配置されない場合、光照射部１１から発せられる照射光３２を、レンズ、ミラー等の光誘導部材を介して誘導し、測定部２２に配置される計測対象２０に照射することも可能である。また光照射部１１の光源は、例えば直進性に優れたＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）を好適に使用しうる。

計測対象２０に照射光３２が照射されると、計測対象２０から様々な方向に反射光３４が進行し、この反射光３４は光検出部１２によって受光される（図３参照）。反射光３４の進行方向は計測対象２０の光沢度に依存し、特に繊維構造を有する計測対象２０の光沢度は、後述のように反射光３４の異方性に基づいて規定することが可能である。

なお計測対象２０は特に限定されず、商品のうち光沢度を求めるための基準部位を切り取った試料であってもよいし、商品全体であってもよい。本実施形態では、繊維構造を有する洋服を計測対象２０とする。

図５は、計測対象２０が配置される測定部２２と光検出部１２との位置関係例を示す図である。なお図５では、理解を容易にするため、光照射部１１、演算部１４、記憶部１６及び計測演算コントローラ１８の図示が省略されており、また光沢度計測装置１０が有する光検出部１２の一部（３つ）のみが示されている。

光検出部１２は、計測対象２０が配置される測定部２２を底面Ｂの中心Ｏとする半球Ｈの面Ｗ上の異なる位置に複数設けられており、半球Ｈの面Ｗの全域に亘って設けられている。これらの光検出部１２はそれぞれ、計測対象２０から半球Ｈの面Ｗ上の異なる位置に向かって進行する反射光３４を受光して受光データＤ１を生成する。

図６は、図５の断面線６に沿った半球Ｈ（複数の光検出部１２）の断面状態を示す図である。図７は、半球Ｈの頂部Ｔから底面Ｂの中心Ｏに向かう方向Ｖに光検出部１２を投影した図である。なお図６及び図７も、理解を容易にするため、図５と同様に光沢度計測装置１０が有する光検出部１２の一部のみが示されている。

図５〜図７に示す例では、光検出部１２の各々の位置と、光検出部１２の各々によって受光される「計測対象２０からの反射光３４」の半球Ｈの面Ｗ上の位置とが一致する。したがって「各光検出部１２の位置」及び「各光検出部１２によって受光される反射光３４の半球Ｈの面Ｗ上の位置」は、半球Ｈの頂部Ｔと底面Ｂの中心Ｏ（測定部２２）とを通る軸Ａに対する０°以上９０°以下の角度θ（以下、「放射角θ」と称する（図５及び図６参照））と、底面Ｂの基準位置Ｓに対する円周方向Ｃに関する０°以上３６０°未満の角度φ（以下、「底面角φ」と称する（図５及び図７参照））とによって表すことができる。すなわち「各光検出部１２の位置」及び「各光検出部１２によって受光される反射光３４の半球Ｈの面Ｗ上の位置」は放射角θと底面角φとの組み合わせによって表現可能である。

本実施形態の「光検出部１２の位置」及び「光検出部１２によって受光される反射光３４の半球Ｈの面Ｗ上の位置」は、底面角φが異なる位置を含み、底面角φの各々に関して放射角θの異なる複数の位置を含む。すなわち図７に示すように、光検出部１２の位置（光検出部１２によって受光される反射光３４の半球Ｈの面Ｗ上の位置）は、例えば底面角φが第１の角度φ１である複数の位置と、底面角φが第１の角度φ１とは異なる第２の角度φ２である複数の位置とを含む。

光検出部１２の具体的な数及び位置は特に限定されないが、計測対象２０からの反射光３４を可能な限り受光して計測対象２０の反射特性を精度良く求める観点からは、光検出部１２を多く設けることが好ましい。例えば、放射角θを０°以上９０°以下の範囲で１°刻みに光検出部１２を設けてもよく、また底面角φを０°以上３６０°未満の範囲で１°刻みに光検出部１２を設けてもよい。計測対象２０の反射特性の異方性の特定を考慮すると、光検出部１２を設ける放射角θ及び底面角φの刻み幅は一定であることが好ましい。また計測対象２０の反射特性の対称性の特定を考慮すると、半球Ｈの頂部Ｔと底面Ｂの中心Ｏ（測定部２２）とを通る軸Ａの各位置に関して対称（点対称、線対称等）の位置に光検出部１２が設けられることが好ましい。

なお図４及び図５等に示す半球Ｈは、光照射部１１、光検出部１２、測定部２２等の位置関係を示すための仮想的な半球に過ぎず、図４に示される光照射部１１や図５〜６に示される光検出部１２は図示しない支持部材によって適切に支持されている。

また図５〜図７には、光検出部１２の各々の位置と、光検出部１２の各々によって受光される「計測対象２０からの反射光３４」の半球Ｈの面Ｗ上の位置とが一致するケースが示されているが、光検出部１２の配置はこの例に限定されない。すなわち、計測対象２０から半球Ｈの面Ｗ上の異なる位置に進行する反射光３４を受光できるのであれば光検出部１２の位置は特に限定されず、計測対象２０からの反射光３４をレンズ、ミラー等の光誘導部材を介して誘導し、任意の位置に配置された光検出部１２によって受光してもよい。

図１及び図３に示す演算部１４は、上述のように計測対象２０からの反射光３４を受光する複数の光検出部１２が生成する受光データＤ１に基づいて、計測対象２０の光沢度データＤ２を算出する。特に本実施形態では、半球Ｈの面Ｗ上における底面角φの異なる複数の位置に進行する反射光３４の受光データＤ１に基づいて光沢度データＤ２が求められる。例えば半球Ｈの面Ｗ上において底面角φが第１の角度φ１である複数の位置を通過する反射光３４の受光データＤ１に基づいて、計測対象２０の第１の角度φ１に関する反射特性を求めることが可能である。同様に、半球Ｈの面Ｗ上において底面角φが第２の角度φ２である複数の位置を通過する反射光３４の受光データＤ１に基づいて、計測対象２０の第２の角度φ２に関する反射特性を求めることが可能である。したがって本実施形態によれば、計測対象２０の反射特性のうち、底面角φに関して単一方向に関する反射特性ではなく、底面角φに関して複数方向に関する反射特性を複合的に考慮して計測対象２０の光沢度データＤ２を求めることが可能である。

後述の実験データ（図９〜図１１参照）からも理解されるように、繊維構造を有する計測対象２０の光沢度（光沢感）は、単純に反射率の高低のみでは定まらず、反射率の異方性によって左右される。このように底面角φに関して単一方向に関する反射特性のみからは、計測対象２０の光沢度を必ずしも精度良く求めることができず、底面角φに関して複数方向に関する反射特性を複合的に考慮することで、従来計測が難しかった繊維構造を有する計測対象２０の光沢度も正確に求めることができる。

なお本件発明者は、後述の実験の結果、半球Ｈの底面Ｂの円周方向Ｃ（図７参照）に関して１８０°離間する底面角φ（第１の角度及び第２の角度）に関する反射特性から、繊維構造を有する計測対象２０の光沢度を精度良く求めることができる場合があるという知見を得るに至った。

また本実施形態の演算部１４は、底面角φ毎の反射光３４の受光データＤ１に基づいてプロジェクションデータを算出し、このプロジェクションデータに基づいて光沢度データＤ２を算出する。すなわち演算部１４は、半球Ｈの面Ｗ上において底面角φが第１の角度φ１であるが放射角θが異なる複数の位置を通過する反射光３４の受光データＤ１に基づいて、第１の角度φ１に関するプロジェクションデータを取得する。同様に演算部１４は、半球Ｈの面Ｗ上において底面角φが第２の角度φ２であるが放射角θが異なる複数の位置を通過する反射光３４の受光データＤ１に基づいて、第２の角度φ２に関するプロジェクションデータを取得する。そして演算部１４は、第１の角度φ１に関するプロジェクションデータ、第２の角度φ２に関するプロジェクションデータ、及び必要に応じて他の１又は複数の底面角φに関するプロジェクションデータに基づいて光沢度データＤ２を取得する。

本例のプロジェクションデータは、受光データＤ１の和に基づいて算出される。すなわち演算部１４は、第１の角度φ１に関するプロジェクションデータを、半球Ｈの面Ｗ上において底面角φが第１の角度φ１であるが放射角θが異なる複数の位置を通過する反射光３４を受光した光検出部１２（図７の符号「１２−１」参照）によって生成される受光データＤ１の和に基づいて取得する。同様に演算部１４は、第２の角度φ２に関するプロジェクションデータを、半球Ｈの面Ｗ上において底面角φが第２の角度φ２であるが放射角θが異なる複数の位置を通過する反射光３４を受光した光検出部１２（図７の符号「１２−２」参照）によって生成される受光データＤ１の和に基づいて取得する。このように演算部１４は、第１の角度φ１及び第２の角度φ２を含む複数の底面角φの各々に関し、受光データＤ１の和に基づいてプロジェクションデータを取得する。

したがって「光検出部１２の位置」と「光検出部１２によって受光される反射光３４が通過する半球Ｈの面Ｗ上の位置」とが一致する本実施形態では、半球Ｈの頂部Ｔから底面Ｂの中心Ｏに向かう方向Ｖに光検出部１２を投影した場合（図７参照）に底面角φ毎に整列する光検出部１２によって生成される受光データＤ１の和に基づいて、各底面角φに関するプロジェクションデータが生成される。

このように底面角φ毎に算出されるプロジェクションデータに基づいて光沢度データを算出することによって、検出誤差の影響を低減して精度良く光沢度データを求めることができる。すなわち外乱等の予期しない影響によって反射光３４の計測が適切に行われず受光データＤ１に誤差成分が含まれる可能性があるため、各底面角φに関する反射特性を１つの受光データＤ１のみによって表す場合には誤差成分の影響が大きくなる。一方、複数の受光データＤ１の和に基づくプロジェクションデータではそのような誤差成分の影響が低減されるため、プロジェクションデータは各底面角φの反射特性を精度良く表す指標となる。

なおプロジェクションデータは、受光データＤ１の合計値であってもよいし、受光データＤ１の和を正規化した値等のように、受光データＤ１の和に基づいて更なる演算が行われることで導き出される値等のデータであってもよい。すなわち、受光データＤ１から導き出されるデータであって、計測対象２０の反射特性の角度依存性を直接的又は間接的に示すデータであればプロジェクションデータとして採用しうる。

また演算部１４において第１の角度φ１及び第２の角度φ２を含む複数の角度に関するプロジェクションデータに基づいて光沢度データＤ２を取得する具体的な手法も、特に限定されない。例えば底面角φ毎に算出されるプロジェクションデータの値から直接的に光沢度データＤ２を取得してもよい。

また演算部１４は、複数の角度に関して取得されたプロジェクションデータの標準偏差を算出し、その標準偏差に基づいて光沢度データＤ２を取得してもよい。例えば、底面角φ毎に求められるプロジェクションデータの値を、プロジェクションデータを求めた底面角φの全てについて加算し、プロジェクションデータの加算後の値を、プロジェクションデータを求めた底面角φの数で除することで、プロジェクションデータの平均が導き出される。そしてこの平均と各底面角φに関するプロジェクションデータとの差の二乗値を求めて、プロジェクションデータを求めた底面角φの全てについてこの二乗値を加算し、この加算された二乗値の合計値を、プロジェクションデータを求めた底面角φの数で除した値の平方根を算出し、この平方根の正の値によって標準偏差を表すことができる。

また演算部１４は、複数の底面角φに関して取得されたプロジェクションデータの標準偏差に加えて平均を取得し、標準偏差をσで表し、平均をｍで表し、０以上の整数をｎで表す場合、複数の方向に関するプロジェクションデータのうち、ｍ＋ｎσ以上の値を示すプロジェクションデータの個数を取得し、その個数に基づいて光沢度データＤ２を取得してもよい。ここでいうｎは、任意の整数とすることができるが、１以上の整数とすることで、平均から大きく外れた値を有するプロジェクションデータの個数を求めることができ、光沢度データＤ２によって底面角φに関するばらつきを精度良く特定することができる。この場合、演算部１４は、ｍ＋ｎσ以上の値を示すプロジェクションデータの個数が大きいほど、大きな光沢度を示す光沢度データＤ２を取得する。

なお本件発明者は、鋭意研究の結果、計測対象２０が繊維構造を有する場合、反射特性の底面角φに関する異方性が強い場合に光沢感が強くなる傾向があり、反射特性の底面角φに関する等方性が強い場合には光沢感が弱くなる傾向があるという知見を得るに至った。したがって底面角φに関する反射特性を表すプロジェクションデータについても、異方性が強く底面角φに関してばらつきが大きくなる場合に光沢感が強くなる傾向があり、等方性が強く底面角φに関してばらつきが小さい場合には光沢感が弱くなる傾向があることになる。したがって一例として、平均からのばらつきを示す指標である「標準偏差」や「ｍ＋ｎσ以上の値を示すプロジェクションデータの個数」に基づく光沢度データＤ２によって、計測対象２０の光沢度を表すことが可能である。この場合、演算部１４は、「底面角φに関するプロジェクションデータの標準偏差」や「ｍ＋ｎσ以上の値を示すプロジェクションデータの個数」が大きいほど、大きな光沢度を示す光沢度データＤ２を取得する。

次に、上述の光沢度計測装置１０を使った光沢度の計測方法について説明する。

図８は、光沢度計測方法の一例を示すフローチャートである。

まず計測演算コントローラ１８によってコントロールされる光照射部１１によって、測定部２２に配置される計測対象２０に、半球Ｈの頂部Ｔから測定部２２に向かう方向の照射光３２が照射される（図８のＳ１１）。

そして、計測対象２０から半球Ｈの面Ｗ上の異なる位置に進行する反射光３４をそれぞれ複数の光検出部１２によって受光し、光検出部１２によって受光データＤ１が生成される（Ｓ１２）。

そして演算部１４によって、光検出部１２が生成した受光データＤ１に基づいて底面角φ毎のプロジェクションデータが生成され、このプロジェクションデータに基づいて計測対象２０の光沢度データＤ２が取得される（Ｓ１３）。

そして演算部１４において取得された光沢度データＤ２は記憶部１６に送られ、計測演算コントローラ１８によって、計測対象２０を示すデータ（ＩＤデータ）と関連付けられた状態で記憶部１６に記憶される（Ｓ１４）。

＜実施例＞
本件発明者は、上述の構成を有する光沢度計測装置１０を用いて、本発明による効果を実証した。具体的には、計測対象２０として、光沢感の強いサテン（朱子織）の繊維構造を有する布地（実施例１）と、光沢感がほとんど無い平織りの繊維構造を有する布地（実施例２）とを用いて、光沢度計測装置１０により反射特性（プロジェクションデータ）を計測した。

図９は、実施例１で使用したサテンの布地の反射特性の計測結果を示す図である。図１０は、実施例２で使用した平織りの布地の反射特性の計測結果を示す図である。

図９及び図１０において、（ａ）は計測対象２０の三次元的な反射強度を示し、符号「Ｊ」は、底面角φ及び放射角θが異なる三次的に配置された複数の光検出部１２によって検出された受光データＤ１の集合を示し、光検出部１２が検出した反射光３４の強度（受光データＤ１の大きさ）を表す。

図９及び図１０において、（ｂ）は底面角φ（横軸）及び放射角θ（縦軸）に基づいて表された計測対象２０の反射強度を示し、底面角φ及び放射角θの組み合わせによって表される半球Ｈの面Ｗ上の位置を通過する反射光３４の強度（光検出部１２が生成した受光データＤ１の大きさ）が明暗によって表されており、明るいところほど反射光３４の強度が強いことを示す。

図９及び図１０において、（ｃ）は底面角φに関するプロジェクションデータを表し、横軸は底面角φを表し、縦軸は正規化されたプロジェクションデータの大きさ（本例では底面角φ毎の受光データＤ１の和（合計値））を表す。

図９（ａ）及び図１０（ａ）から分かるように、光沢度を有する実施例１（図９（ａ））の計測対象２０の方が、光沢度を有さない実施例２（図１０（ａ））の計測対象２０よりも、底面角φ及び放射角θに関して反射光３４が散乱していた。

また図９（ｂ）及び図１０（ｂ）から分かるように、光沢度を有する実施例１（図９（ｂ））の計測対象２０の方が、光沢度を有さない実施例２（図１０（ｂ））の計測対象２０よりも、全体的な反射強度は強かった。

また図９（ｃ）及び図１０（ｃ）から分かるように、光沢度を有する実施例１（図９（ｃ））の計測対象２０ではプロジェクションデータのピーク値（図９（ｃ）の「Ｐ１」及び「Ｐ２」参照）が、底面角φがほぼ１８０°ずれた位置に２つ出現したのに対し、光沢度を有さない実施例２（図１０（ａ））の計測対象２０ではプロジェクションデータがなだらかに山状に変化した（図１０（ｃ）参照）。なお底面角φは０°〜３６０°で表されており、底面角φ＝０°は底面角φ＝３６０°と同じ意味であるため（図５及び図７参照）、図９（ｃ）の最左端ピークと最右端ピークは同一ピークを示し（図９（ｃ）の符号「Ｐ２」参照）、図１０（ｃ）の最左端ピークと最右端ピークは同一ピークを示す（図９（ｃ）の符号「Ｐ１」参照）。

また計測対象２０として、光沢感の強いサテン（朱子織）の繊維構造を有する布地（実施例３）を用いて、光沢度計測装置１０により反射特性（プロジェクションデータ）を計測した。図１１は、実施例３で使用した光沢感の強いサテンの繊維構造を有する布地の反射特性の計測結果を示す図である。図１１において、（ａ）は底面角φ（横軸）及び放射角θ（縦軸）に基づいて表された計測対象２０の反射強度を示し、底面角φ及び放射角θの組み合わせによって表される半球Ｈの面Ｗ上の位置を通過する反射光３４の強度（光検出部１２が生成した受光データＤ１の大きさ）が明暗によって表されており、明るいところほど反射光３４の強度が強いことを示す。図１１において、（ｂ）は底面角φに関するプロジェクションデータを表し、横軸は底面角φを表し、縦軸はプロジェクションデータの大きさ（本例では底面角φ毎の受光データＤ１の和（合計値））を表す。本実施例３においても、底面角φがほぼ１８０°ずれた位置にプロジェクションデータのピーク値（図１１（ｂ）の「Ｐ１」及び「Ｐ２」参照）が２つ出現した。

図１２は、繊維構造を示す平面図であり、（ａ）は平織り構造を示し、（ｂ）は綾織り構造を示し、（ｃ）はサテン（朱子織）構造を示す。図１２（ａ）〜（ｃ）の各々に示す繊維構造は、縦糸５０及び横糸５２が固有のパターンで重なり合って構成され、縦糸５０及び横糸５２はほぼ垂直に交差する。ただし、表面部における縦糸５０及び横糸５２の出現率に関し、平織り構造（図１２（ａ）参照）では縦糸５０及び横糸５２がほぼ均等に出現するのに対し、綾織り構造（図１２（ｂ）参照）では縦糸５０のほうが横糸５２よりも多く出現し、サテン（朱子織）構造（図１２（ｃ）参照）では縦糸５０のほうが横糸５２よりも更に多く出現する。このように綾織り構造及びサテン（朱子織）構造では、表面部における縦糸５０の出現率と横糸５２の出現率と間に偏りがあるため、反射特性に関する異方性が平織り構造よりも強くなり、サテン（朱子織）構造のほうが綾織り構造よりも反射特性に関する異方性が強くなる。

図１３は、図１２（ｃ）に示すサテン（朱子織）の平面構造を拡大して示す斜視図である。サテン（朱子織）は円柱形状の繊維（縦糸５０及び横糸５２）が曲げられずに直線性を保持した状態で織られており、表面部では、図１３に示すように縦糸５０及び横糸５２が規則的に出現し、横糸５２の延在方向（ｘ方向）と縦糸５０の延在方向（ｙ方向）とは直交する。

図１４は、サテン（朱子織）構造を有する計測対象２０に照射光３２に照射した際の反射光３４ａ、３４ｂの方向性を説明するための図である。上述のようにサテン（朱子織）構造は、直交方向に延在する縦糸５０及び横糸５２によって構成され、表面部において縦糸５０及び横糸５２が規則的に出現する。したがって測定部２２に配置される計測対象２０に、半球Ｈの頂部Ｔから測定部２２に向かう方向Ｖに照射光３２が照射されると、図１３に示すような指向性のある反射光３４ａ及び反射光３４ｂが計測対象２０から進行する。図１４に示す例では、図１４のｘ軸を含む平面に沿った方向の反射光３４ａは、主としてｙ方向に延在する縦糸５０（図１３参照）による反射光成分であり、図１４のｙ軸を含む平面に沿った方向の反射光３４ｂは、主としてｘ方向に延在する横糸５２（図１３参照）による反射光成分である。上述のようにサテン（朱子織）構造の表面部では縦糸５０のほうが横糸５２よりも多く出現するため（図１２（ｃ）参照）、縦糸５０による反射光３４ａのほうが横糸５２による反射光３４ｂよりも強度が強くなる。このような反射特性から、例えばサテン（朱子織）構造を有する計測対象２０に関するプロジェクションデータは、１８０°ずれた位置の２箇所でピークが出現する。

以上説明したように、角度（底面角φ）に関する計測対象２０の反射特性を特定することで、布地等の繊維構造を有する計測対象２０であっても、光沢度（光沢感）を的確に定量化することができる。

＜変形例＞
光沢度計測装置１０は上述の例に限定されず、種々の変形が加えられてもよい。

図１５は、光沢度データＤ２の取得手法の一変形例を説明するための図であり、図５の断面線６に沿った半球Ｈ（複数の光検出部１２）の断面状態を示す図である。演算部１４は、半球Ｈの面Ｗ上において、放射角θが、θ＞θ１（第１の閾値）、を満たす範囲の位置を通過する反射光３４の受光データＤ１に基づいて光沢度データＤ２を取得してもよい。すなわち、ほとんどの部材は照射された光成分のうちの多くの成分を正反射方向（半球Ｈの底面Ｂの中心Ｏから半球Ｈの頂部Ｔに向かう方向）に反射させる。したがって正反射方向及び正反射方向近辺の方向に進行する反射光３４の強度は、比較的強いが、計測対象の光沢度の違いによっては変動し難い。一方、正反射方向及び正反射方向近辺からは離れた方向に進行する反射光３４の強度は、比較的弱いが、計測対象２０の光沢度に違いによって変動し易い。そのため、正反射方向及び正反射方向近辺の方向に進行する反射光３４の受光データＤ１を除外してプロジェクションデータを求めることで、反射光３４の異方性を精度良く特定することができ、計測対象の光沢度を正確に反映した光沢度データＤ２を取得することができる。

ここでいう「正反射方向及び正反射方向近辺の方向に進行する反射光３４」は「半球Ｈの面Ｗ上において「放射角θ＞第１の閾値θ１」を満たす範囲の位置を通過する反射光３４」である。この「第１の閾値θ１」は、最適値は計測対象２０の反射特性によっても変動しうるが、例えば第１の閾値θ１を０°以上２０°以下（０°≦θ１≦２０°）の角度に設定することで、反射光３４の異方性を精度良く特定することができる。

また光照射部１１、光検出部１２、演算部１４、記憶部１６及び計測演算コントローラ１８は必ずしも一体的に設けられている必要はなく、これらの装置の一部が他の装置とは別個に設けられてもよい。例えば「計測対象２０に対する照射光３２の照射〜計測対象２０からの反射光の受光」のプロセス（図８のＳ１１〜Ｓ１２参照）と、「光沢度データＤ２の算出〜光沢度データＤ２の記憶」のプロセス（図８のＳ１３〜Ｓ１４参照）とを別個の装置で行ってもよい。

図１６は、光沢度計測装置４０と光沢度演算装置４２とが別個に設けられている場合のシステム構成を示す機能ブロック図である。本例の光沢度計測装置４０は、上述の光照射部１１及び光検出部１２と、これらの光照射部１１及び光検出部１２をコントロールする計測コントローラ４４とを含み、「計測対象２０に対する照射光３２の照射〜計測対象２０からの反射光の受光」のプロセス（図８のＳ１１〜Ｓ１２参照）を行う。一方、光沢度演算装置４２は、上述の演算部１４及び記憶部１６と、これらの演算部１４及び記憶部１６をコントロールする演算コントローラ４６とを含む。光検出部１２（光沢度計測装置４０）で生成された受光データＤ１は演算部１４（光沢度演算装置４２）によって受信され、光沢度演算装置４２において「光沢度データＤ２の算出〜光沢度データＤ２の記憶」のプロセス（図８のＳ１３〜Ｓ１４参照）が行われる。

＜応用例＞
上述の光沢度計測装置１０は比較的シンプルな装置構成で実現可能であり、簡便且つ高精度な計測によって、布地等の商品の光沢感を簡便に光沢度データＤ２によって数値化することができる。したがって、商品の光沢感（光沢度）を感覚的に付与する場合には難しかった「統一的な光沢度データＤ２」の計測及び付与を、上述の光沢度計測装置１０によって行うことができる。特に、本実施形態の光沢度計測装置１０は計測対象２０（商品）の単純な反射強度だけではなく、反射特性の異方性を考慮して計測対象２０（商品）の光沢感（光沢度）を的確に規定することができる。

数値化された光沢度データＤ２を用いて商品の光沢感を表現することにより、光沢度データＤ２を使って商品の光沢感（光沢度）により絞り込み検索を行うことが可能になる。すなわち、光沢度計測装置１０によって計測された光沢度データＤ２を商品の特徴を表すメタデータとして使用することで、ユーザは、光沢度データＤ２に基づく光沢感（光沢度）によって膨大の商品の中から所望の商品の絞り込み検索を行うことが可能になる。

図１７は、検索システム１００の一例を示す概念図である。この検索システム１００は、クライアント端末１１１と、インターネット等のネットワーク１１２を介して各クライアント端末１１１に接続されるサーバシステム１１０とを備える。

サーバシステム１１０は、ウエブサーバ１１５、データベースサーバ１１６、画像解析サーバ１１７及びメールサーバ１１８を含む。ウエブサーバ１１５は、クライアント端末１１１との間で通信を行って、商品の検索指示を受け付けて、商品の検索を行って、検索結果をクライアント端末に返すサーバである。データベースサーバ１１６は、商品検索に必要とされる種々のデータベースを保持し、他のウエブサーバ１１５、画像解析サーバ１１７及びメールサーバ１１８は、必要に応じてデータベースサーバ１１６が保持するデータベースにアクセスしてデータの読み出し及び書き換え等の処理を行うことができる。画像解析サーバ１１７は、商品画像を解析して商品の特性（物理的特性等）を取得し、取得した商品特性を他の商品データ（商品のＩＤデータ等）と関連付けてデータベースサーバ１１６のデータベースに保存する。メールサーバ１１８は、クライアント端末１１１との電子メールの送受信を行うサーバであり、各クライアント端末１１１との間で各種の連絡処理を行う
このようなシステム構成を有する検索システム１００において、上述の光沢度計測装置１０（図１等参照）によって取得された計測対象２０の光沢度データは、計測対象（商品）と関連付けられてデータベースサーバ１１６の一部を構成する記憶部１６（図１等参照）に保存される。すなわち検索対象となる商品の各々の光沢度データＤ２が光沢度計測装置１０によって取得され、取得された光沢度データＤ２は対象商品の他のデータ（商品のＩＤデータ等）と関連付けられてデータベースサーバ１１６に記憶される。

これにより、検索システム１００の検索処理時に商品の光沢度データＤ２を使用することができ、ユーザは、クライアント端末１１１を操作して光沢度データＤ２に基づく商品検索を行うことができる。例えば、光沢度データＤ２から導き出される光沢感が直接的にユーザによって指定されることでウエブサーバ１１５は検索商品の絞り込みを行ってもよい。この場合、ユーザは光沢度自体（例えば「光沢度強」、「光沢度弱」等）を直接的に指定してもよいし、光沢感を表す間接的な条件（例えば「キラキラ」、「てかてか」等の感性的な条件）を指定してもよい。光沢感を表す間接的な条件がユーザによって指定される場合、ウエブサーバ１１５は、ユーザが指定した間接的な条件から対応の光沢度データを取得して商品の絞り込みを行う。なお、商品検索時のクライアント端末１１１におけるユーザの光沢感（光沢度）の指定手法は特に限定されない。例えば指定可能な複数の光沢感（光沢度）の候補をタグクラウド等の表示態様でユーザに提示してユーザが所望の候補を指定することで光沢感（光沢度）を指定してもよいし、フリーキーワードとして任意の言語によって光沢感（光沢度）を指定してもよい。

１０…光沢度計測装置、１１…光照射部、１２…光検出部、１４…演算部、１６…記憶部、１８…計測演算コントローラ、２０…計測対象、２２…測定部、３２…照射光、３４…反射光、４０…光沢度計測装置、４２…光沢度演算装置、４４…計測コントローラ、４６…演算コントローラ、５０…縦糸、５２…横糸、１００…検索システム、１１０…サーバシステム、１１１…クライアント端末、１１２…ネットワーク、１１５…ウエブサーバ、１１６…データベースサーバ、１１７…画像解析サーバ、１１８…メールサーバ

Claims (14)

1. 測定部に配置される計測対象に、前記測定部を底面の中心とする半球の頂部から前記測定部に向かう方向に光を照射する光照射部と、
   前記計測対象からの反射光を受光して受光データを生成する複数の光検出部であって、前記半球の面上の異なる位置に進行する前記反射光をそれぞれ受光する複数の光検出部と、
   前記受光データに基づいて前記計測対象の光沢度データを取得する演算部と、を備える光沢度計測装置。
2. 前記複数の光検出部によって受光される前記反射光の前記半球の面上の位置は、
   前記半球の頂部と前記底面の中心とを通る軸に対する０°以上９０°以下の角度θと、前記底面の基準位置に対する円周方向に関する０°以上３６０°未満の角度φとによって表され、
   前記角度φが異なる位置を含む請求項１に記載の光沢度計測装置。
3. 前記複数の光検出部によって受光される前記反射光の前記半球の面上の位置は、前記角度φが第１の角度である複数の位置と、前記角度φが前記第１の角度とは異なる第２の角度である複数の位置とを含む請求項２に記載の光沢度計測装置。
4. 前記演算部は、
   前記半球の面上において前記角度φが前記第１の角度である複数の位置を通過する前記反射光の前記受光データに基づいて、前記第１の角度に関するプロジェクションデータを取得し、
   前記半球の面上において前記角度φが前記第２の角度である複数の位置を通過する前記反射光の前記受光データに基づいて、前記第２の角度に関するプロジェクションデータを取得し、
   前記第１の角度に関するプロジェクションデータ及び前記第２の角度に関するプロジェクションデータに基づいて前記光沢度データを取得する請求項３に記載の光沢度計測装置。
5. 前記演算部は、
   前記第１の角度に関するプロジェクションデータを、前記半球の面上において前記角度φが前記第１の角度である複数の位置を通過する前記反射光の前記受光データの和に基づいて取得し、
   前記第２の角度に関するプロジェクションデータを、前記半球の面上において前記角度φが前記第２の角度である複数の位置を通過する前記反射光の前記受光データの和に基づいて取得する請求項４に記載の光沢度計測装置。
6. 前記第１の角度と前記第２の角度とは、前記底面の円周方向に関して１８０°離間する請求項３〜５のいずれか一項に記載の光沢度計測装置。
7. 前記演算部は、
   前記半球の面上において前記角度φが異なる複数の位置を通過する前記反射光の前記受光データに基づいて、前記第１の角度及び前記第２の角度を含む複数の角度に関するプロジェクションデータを取得し、
   当該複数の角度に関して取得された前記プロジェクションデータの標準偏差に基づいて前記光沢度データを取得する請求項４〜６のいずれか一項に記載の光沢度計測装置。
8. 前記演算部は、前記標準偏差が大きいほど大きな光沢度を示す前記光沢度データを取得する請求項７に記載の光沢度計測装置。
9. 前記演算部は、
   前記複数の角度に関して取得された前記プロジェクションデータの前記標準偏差に加えて平均を取得し、
   前記標準偏差をσで表し、前記平均をｍで表し、０以上の整数をｎで表す場合、前記複数の方向に関する前記プロジェクションデータのうち、ｍ＋ｎσ以上の値を示すプロジェクションデータの個数を取得し、当該個数に基づいて前記光沢度データを取得する請求項７に記載の光沢度計測装置。
10. 前記演算部は、前記個数が大きいほど、大きな光沢度を示す前記光沢度データを取得する請求項９に記載の光沢度計測装置。
11. 前記演算部は、前記半球の面上において、前記角度θが、θ＞第１の閾値、を満たす範囲の位置を通過する前記反射光の前記受光データに基づいて前記光沢度データを取得する請求項２〜１０のいずれか一項に記載の光沢度計測装置。
12. 前記計測対象は繊維構造を有する請求項１〜１１のいずれか一項に記載の光沢度計測装置。
13. 測定部に配置される計測対象に、前記測定部を底面の中心とする半球の頂部から前記測定部に向かう方向に光を照射して、前記半球の面上の異なる位置に進行する前記計測対象からの反射光を受光して生成された受光データに基づいて、前記計測対象の光沢度データを取得する演算部を備える光沢度演算装置。
14. 光照射部によって、測定部に配置される計測対象に、前記測定部を底面の中心とする半球の頂部から前記測定部に向かう方向に光を照射し、
    前記計測対象からの反射光であって、前記半球の面上の異なる位置に進行する前記反射光をそれぞれ複数の光検出部によって受光して受光データを生成し、
    演算部によって、前記受光データに基づいて前記計測対象の光沢度データを取得する光沢度計測方法。