JP2015175733A - 超電導特性の評価方法、その評価装置およびその評価プログラム - Google Patents
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Abstract
【課題】試験体を焼損させるリスクを回避した超電導特性の評価試験を可能にする超電導特性の評価方法、その評価装置およびその評価プログラムを提供する。【解決手段】超電導特性の評価方法は、超電導層を少なくとも含む複数の層を積層させた高温超電導線材から構成される試験体を浸漬させてその臨界温度以下に冷却する寒剤を冷却槽に貯留する貯留ステップ(S10)と、試験体の臨界電流値まで大きさを変化させながら試験体に電流を流す通電ステップと、この電流によって発生した電圧を測定する測定ステップと、を含み、試験体の臨界電流値は、この複数の層のうち超電導層の過剰電流の迂回経路となる安定化金属層の限界熱流束を発生させる電流値以下となるように調節がされる。【選択図】 図2
Description
本発明は、高温超電導線材またはこの高温超電導線材からなる超電導コイルなどの試験体を評価対象として、その超電導特性を通電中の電圧挙動から評価する評価技術に関する。
イットリウム系(RE系)薄膜から構成される高温超電導線材は、超電導特性および機械的特性に優れており、第二世代の超電導線材とよばれている。
このような高温超電導線材は、典型的には超電導コイルとして、様々な超電導利用機器へ適用することが期待されている。
超電導利用機器は、一般に、用いられている超電導コイルが液体窒素または液体ヘリウムなどで冷却されて超電導状態が維持された状態で使用される(例えば、特許文献1または特許文献2参照)。
超電導利用機器は、一般に、用いられている超電導コイルが液体窒素または液体ヘリウムなどで冷却されて超電導状態が維持された状態で使用される(例えば、特許文献1または特許文献2参照)。
高温超電導線材は、冷却されるほど超電導状態を維持することができる限界の電流値(臨界電流値)が大きくなる性質がある。
すなわち、高温超電導線材が冷却されるほど、超電導磁石として、より強い磁場をより安定的に発生させることができる。
よって、沸点が77Kである液体窒素に比べてさらに低沸点の寒剤または極低温冷凍機の使用が想定されて、これらの機器が設計される。
すなわち、高温超電導線材が冷却されるほど、超電導磁石として、より強い磁場をより安定的に発生させることができる。
よって、沸点が77Kである液体窒素に比べてさらに低沸点の寒剤または極低温冷凍機の使用が想定されて、これらの機器が設計される。
ところで、RE系薄膜からなる高温超電導線材は、超電導利用機器において、一般に20K以上の温度帯で使用される。
この温度帯における高温超電導線材を構成する各材料の比熱は、4K程度の温度帯に比べて、2桁程度高くなる。
この温度帯における高温超電導線材を構成する各材料の比熱は、4K程度の温度帯に比べて、2桁程度高くなる。
すなわち、高温超電導線材では、臨界温度の付近である4K程度で使用されていた従来の低温超電導線材(NbTi線材)で頻発したクエンチを起こす確率は極めて低い。
クエンチとは、超電導線材のずれなどによる微小な電流の擾乱で超電導線材の温度が局所的に上昇して、超電導線材全体が瞬時に常電導状態へ不可逆に転移する現象である。
クエンチとは、超電導線材のずれなどによる微小な電流の擾乱で超電導線材の温度が局所的に上昇して、超電導線材全体が瞬時に常電導状態へ不可逆に転移する現象である。
低温超電導線材は熱伝導率が高く、発生した熱量が分散されやすい。
よって、一度クエンチを起こしても、一般には、その低温超電導線材を再度利用することができる。
しかし、高温超電導線材は熱伝導率が低いので、クエンチまでに至らなくとも、熱暴走があると高温超電導線材が焼損するおそれがある。
よって、一度クエンチを起こしても、一般には、その低温超電導線材を再度利用することができる。
しかし、高温超電導線材は熱伝導率が低いので、クエンチまでに至らなくとも、熱暴走があると高温超電導線材が焼損するおそれがある。
現状では、高温超電導線材は、上述のとおり比熱が高いという優位性があるものの、その品質が一般的な工業製品レベルに達している低温超電導線材に比べ品質が低い。
つまり、高温超電導線材は、その長手方向の超電導特性を一定化するのが容易でないなどの理由から、臨界電流値が局所的に低い劣化部分を含むことが少なくない。
つまり、高温超電導線材は、その長手方向の超電導特性を一定化するのが容易でないなどの理由から、臨界電流値が局所的に低い劣化部分を含むことが少なくない。
よって、高温超電導線材では、このような熱暴走を起こさないように考慮することが必要となる。
しかし、常電導体に比べ桁違いに高い電流密度が得られるという特性を発揮させるため、超電導コイルは劣化部分を含まないという想定で高電流密度設計をすることが要求される。
しかし、常電導体に比べ桁違いに高い電流密度が得られるという特性を発揮させるため、超電導コイルは劣化部分を含まないという想定で高電流密度設計をすることが要求される。
よって、これら高温超電導線材または高温超電導線材を使用した超電導コイルなどの機器(以下、まとめて「試験体」という)の評価試験では、この想定における臨界電流付近にまで電流を増加させて、その電圧挙動を評価する必要がある。
しかしながら、上述した従来の技術では、臨界電流付近までの評価試験をしようとすると、試験体に流れる電流を数百A程度にまで増加させなければならない。
つまり、評価試験中に熱暴走が起きて、安定化金属層では担いきれない大電流が安定化金属層に流れるおそれがある。
すなわち、評価試験をすることで、かえって試験体を焼損させてしまうリスクがあるという課題があった。
つまり、評価試験中に熱暴走が起きて、安定化金属層では担いきれない大電流が安定化金属層に流れるおそれがある。
すなわち、評価試験をすることで、かえって試験体を焼損させてしまうリスクがあるという課題があった。
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、試験体を焼損させるリスクを回避した超電導特性の評価試験を可能にする超電導特性の評価方法、その評価装置およびその評価プログラムを提供することを目的とする。
本実施形態にかかる超電導特性の評価方法は、超電導層を少なくとも含む複数の層を積層させた高温超電導線材から構成される試験体を浸漬させてその臨界温度以下に冷却する寒剤を冷却槽に貯留する貯留ステップと、前記試験体の臨界電流値まで大きさを変化させながらこの試験体に電流を流す通電ステップと、前記電流によって発生した電圧を測定する測定ステップと、を含み、前記試験体の臨界電流値は、前記複数の層のうち前記超電導層の過剰電流の迂回経路となる安定化金属層の限界熱流束を発生させる電流値以下となるように調節がされることを特徴とするものである。
また、本実施形態にかかる超電導特性の評価装置は、超電導層を少なくとも含む複数の層を積層させた高温超電導線材から構成される試験体にこの試験体の臨界電流値まで大きさを変化させながら電流を流す電流供給部と、前記試験体に接続されて前記電流によって発生した電圧を測定する測定部と、前記試験体を浸漬させてその臨界温度以下に冷却する寒剤を貯留する冷却槽とを備え、前記寒剤は、液体アルゴンおよび液体酸素のいずれかであることを特徴とするものである。
本発明により、試験体を焼損させるリスクを回避した超電導特性の評価試験を可能にする超電導特性の評価方法、その評価装置およびその評価プログラムが提供される。
以下、本発明の実施形態を添付図面に基づいて説明する。
図1は、各実施形態にかかる評価方法で評価される試験体12を構成する高温超電導線材20(以下、単に「超電導線材20」という)の構成図である。
図1は、各実施形態にかかる評価方法で評価される試験体12を構成する高温超電導線材20(以下、単に「超電導線材20」という)の構成図である。
超電導線材20は、例えば図1に示されるように、ステンレスまたは銅などの高強度の金属材質である基板22と、基板22の上に形成されて基板22と超電導層25の熱収縮の際に起因する熱歪みを防止する中間層24と、中間層24を基板22の上に配向させるマグネシウムなどからなる配向層23と、中間層24の上に形成される酸化物でできた超電導層25と、銀、金または白金などで組成されて超電導層25に含まれる酸素が超電導層25から拡散することを防止して超電導層25を保護する保護層26と、銅またはアルミニウムなどの良伝導性の金属メッキであり超電導層25への過剰電流の迂回経路となって熱暴走を防止する安定化金属層21と、から構成される。
ただし、超電導線材20を構成する層の種類および数はこれに限定されるものではなく、必要に応じて多くても少なくてもよい。
このように構成された超電導線材20は、上述したように、その長手方向に超電導特性が一定ではなく、電流が局所的に攪乱する場合がある。
また、超電導層25は破損しやすく、微弱な外力によっても超電導特性が局所的に劣化して、電流の局所的で微小な攪乱が発生する。
このような微小な攪乱で局所的に電流が臨界電流値Icを超えて熱暴走を起こさないように、一般に、超電導層25の過剰電流を安定化金属層21に迂回させている。
また、超電導層25は破損しやすく、微弱な外力によっても超電導特性が局所的に劣化して、電流の局所的で微小な攪乱が発生する。
このような微小な攪乱で局所的に電流が臨界電流値Icを超えて熱暴走を起こさないように、一般に、超電導層25の過剰電流を安定化金属層21に迂回させている。
したがって、少量の電流であれば、安定化金属層21に迂回させることで超電導状態を維持することができる。
なお、一度熱暴走を起こすと、常電導金属では定常的には流せない大電流がこの安定化金属層21に流れるので、超電導線材20は焼損してしまう。
なお、一度熱暴走を起こすと、常電導金属では定常的には流せない大電流がこの安定化金属層21に流れるので、超電導線材20は焼損してしまう。
(第1実施形態)
図2は、第1実施形態にかかる超電導特性の評価方法(以下、単に「評価方法」という)を示すフローチャートである。
また、図3は、図2の第1実施形態にかかる評価方法における評価測定サブルーチン(S19)を示すフローチャートである。
図2は、第1実施形態にかかる超電導特性の評価方法(以下、単に「評価方法」という)を示すフローチャートである。
また、図3は、図2の第1実施形態にかかる評価方法における評価測定サブルーチン(S19)を示すフローチャートである。
さらに、図8は、第1実施形態にかかる超電導特性の評価装置10(以下、単に「評価装置10」という)の構成図である。
第1実施形態にかかる超電導特性の評価方法は、図1〜図3および図8に示されるように、超電導層25を少なくとも含む複数の層を積層させた超電導線材20から構成される試験体12を浸漬させてその臨界温度以下に冷却する寒剤11を冷却槽14に貯留する貯留ステップ(S10)と、試験体12の臨界電流値Icまで大きさを変化させながら試験体12に電流を流す通電ステップ(S20)と、この電流によって発生した電圧を測定する測定ステップ(S21)と、を含み、試験体12の臨界電流値Icは、この複数の層のうち超電導層25の過剰電流の迂回経路となる安定化金属層21の限界熱流束Δqcを発生させる電流値Ib以下となるように調節がされる。
第1実施形態においては、臨界電流値Icを電流値Ib以下とする調節は、寒剤11として液体アルゴンおよび液体酸素のいずれかの選択による。
貯留ステップ(S10)では、超電導層25を少なくとも含む複数の層を積層させた超電導線材20から構成される試験体12を浸漬させてその臨界温度以下に冷却する寒剤11を冷却槽14に貯留する。
臨界温度以下に維持することで、試験体12を構成する超電導線材20が超電導状態に維持されて評価試験が実施される。
試験体12を冷却する寒剤11には、上述のように沸点がそれぞれ78K、90Kの液体アルゴンまたは液体酸素が使用される。
試験体12を冷却する寒剤11には、上述のように沸点がそれぞれ78K、90Kの液体アルゴンまたは液体酸素が使用される。
ここで、図4を用いて、臨界電流値Icの温度依存性について説明する。
図4は、77Kおよび87Kに冷却した試験体12に通電したときの電流値と試験体12に発生する単位長さあたりの電圧との関係の実測結果を示す図である。
図4は、77Kおよび87Kに冷却した試験体12に通電したときの電流値と試験体12に発生する単位長さあたりの電圧との関係の実測結果を示す図である。
77Kは液体窒素の沸点、87Kは液体アルゴンの沸点をそれぞれ表わす。
この試験では、試験体12として、安定化金属層21が幅約4mm、厚さ約0.04mmのRE系薄膜を含むサンプルを用いた。
この試験では、臨界電圧値Vcを1.0×10−6[V/cm]と定義して、この値に達するのに必要な電流値をサンプルの臨界電流値Icとした。
この試験では、試験体12として、安定化金属層21が幅約4mm、厚さ約0.04mmのRE系薄膜を含むサンプルを用いた。
この試験では、臨界電圧値Vcを1.0×10−6[V/cm]と定義して、この値に達するのに必要な電流値をサンプルの臨界電流値Icとした。
図4からわかるように、サンプルの77Kにおける臨界電流値Icは137Aであった。
一方、87Kでの臨界電流値Icは15.2Aとなり、77Kでの臨界電流値Icに対して11.1%にまで低下した。
一方、87Kでの臨界電流値Icは15.2Aとなり、77Kでの臨界電流値Icに対して11.1%にまで低下した。
この2つの臨界電流がすべて安定化金属層21に転流すると仮定をして、サンプルの安定化金属層21の断面積から、安定化金属層21を流れる電流の電流密度を計算した。
そして、この電流密度から、サンプルの片側表面から放出される発生熱流束qを計算した。
そして、この電流密度から、サンプルの片側表面から放出される発生熱流束qを計算した。
図5は、臨界電流値Icが安定化金属層21にすべて転流した場合の発生熱流束qの計算結果を示す表である。
図5に示されるように、臨界電流値Icが137Aのとき、サンプルの片側表面からの発生熱流束qは約60kW/m2と計算された。
一方、臨界電流値Icが15.2Aのときこの発生熱流束qは、137Aのときと比べ1/100の約0.7kW/m2と計算された。
図5に示されるように、臨界電流値Icが137Aのとき、サンプルの片側表面からの発生熱流束qは約60kW/m2と計算された。
一方、臨界電流値Icが15.2Aのときこの発生熱流束qは、137Aのときと比べ1/100の約0.7kW/m2と計算された。
ここで、図6は、寒剤11と試験体12との温度差ΔTと発生熱流束qとの関係を示す概略図である。
横軸は試験体12の温度Twの寒剤11の温度Tsからの差を対数表示したものである。
縦軸は試験体12から寒剤11へ移動する移動熱流束Δqの大きさを対数表示したものである。
横軸は試験体12の温度Twの寒剤11の温度Tsからの差を対数表示したものである。
縦軸は試験体12から寒剤11へ移動する移動熱流束Δqの大きさを対数表示したものである。
温度差ΔTが小さく、移動熱流束Δqが小さいときは、寒剤11への熱移動は核沸騰領域Ψで起こる。
核沸騰領域Ψでは、試験体12の発生熱流束qは高い効率で寒剤11に移動するので、超電導層25は瞬時に冷却されて超電導状態に戻る。
核沸騰領域Ψでは、試験体12の発生熱流束qは高い効率で寒剤11に移動するので、超電導層25は瞬時に冷却されて超電導状態に戻る。
温度差ΔTが増加すると、この増加に伴って移動熱流束Δqも増加する。
そして、発生熱流束qとともに温度差ΔTが大きくなり、移動熱流束Δqが限界熱流束Δqcを超えると、移動熱流束Δqは不連続に小さな値に遷移する。
移動熱流束Δqが小さくなって熱の移動効率の低くなったこのような領域を膜沸騰領域Σという。
そして、発生熱流束qとともに温度差ΔTが大きくなり、移動熱流束Δqが限界熱流束Δqcを超えると、移動熱流束Δqは不連続に小さな値に遷移する。
移動熱流束Δqが小さくなって熱の移動効率の低くなったこのような領域を膜沸騰領域Σという。
約60kW/m2程度の発生熱流束qに基づく温度差ΔTでは、図6に示されるように、その熱移動は膜沸騰領域Σで起こる可能性がある。
つまり、発生熱流束qはすぐには寒剤11に回収されずに、超電導状態に戻ろうとする作用を阻害して、熱暴走を加速させる可能性がある。
つまり、発生熱流束qはすぐには寒剤11に回収されずに、超電導状態に戻ろうとする作用を阻害して、熱暴走を加速させる可能性がある。
さらに、超電導線材20を巻回した超電導コイルでは、寒剤11に接触するペリメータがより小さくなるので、超電導層25が常電導化する可能性はさらに高まる。
すなわち、このような温度で評価試験をすると、評価試験において熱暴走が起こり、評価試験によってかえって試験体12の超電導特性を劣化させてしまうおそれがある。
すなわち、このような温度で評価試験をすると、評価試験において熱暴走が起こり、評価試験によってかえって試験体12の超電導特性を劣化させてしまうおそれがある。
一方、0.7kW/m2程度の発生熱流束qであれば、図6に示されるように、周囲の寒剤11との温度差ΔTが小さく、寒剤11への熱移動は膜沸騰領域Σで起こる。
つまり、試験体12における発熱は瞬時に寒剤11に回収される。
すなわち、87K程度の高温な温度帯を維持できる寒剤11を選択することで、発生熱流束qそのものを小さくできることに加えて、核沸騰領域Ψで熱を回収することができる。
つまり、試験体12における発熱は瞬時に寒剤11に回収される。
すなわち、87K程度の高温な温度帯を維持できる寒剤11を選択することで、発生熱流束qそのものを小さくできることに加えて、核沸騰領域Ψで熱を回収することができる。
そこで、第1実施形態では、寒剤11に液体アルゴンや液体酸素を選択することで冷却温度を87K程度に維持して、試験体12に発熱が生じても焼損してしまう可能性を低減する。
なお、RE系からなる超電導線材20は、前述したように常電導状態への転移温度が90K程度である。
なお、RE系からなる超電導線材20は、前述したように常電導状態への転移温度が90K程度である。
図2および図3に戻って説明を続ける。
通電ステップS20(図3)では、試験体12の臨界電流値Icまで大きさを変化させながら試験体12に電流を流す。
通電ステップS20(図3)では、試験体12の臨界電流値Icまで大きさを変化させながら試験体12に電流を流す。
臨界電流値Icは、試験体12に使用されている超電導線材20の各層の構成または試験体12の形状などによって異なる。
そこで、例えば上述のサンプルの例に示したように、試験体12に発生する単位長さあたりの電圧に閾値を定めて、このときの電流を臨界電流値Icとみなす。
そこで、例えば上述のサンプルの例に示したように、試験体12に発生する単位長さあたりの電圧に閾値を定めて、このときの電流を臨界電流値Icとみなす。
測定ステップS21では、試験体12を流れる電流によって発生した電圧を測定する。
ここで、図7は、超電導状態および常電導状態における電流Iと単位長さあたりの電圧Vとの関係を示す概略図である。
なお、図7は、図4において縦軸および横軸の対数表示を等間隔表示で表したものの概略図に相当する。
ここで、図7は、超電導状態および常電導状態における電流Iと単位長さあたりの電圧Vとの関係を示す概略図である。
なお、図7は、図4において縦軸および横軸の対数表示を等間隔表示で表したものの概略図に相当する。
図7に示されるように、同一の試験体12で評価試験をする場合、上述したように、温度を上げるのに伴い、f3(Ic3)→f2(Ic2)→f1(Ic1)と電圧の立ち上がりが早まる。
しかし、例えば局所的な発熱など、試験体12の超電導特性に基づく電圧挙動はいずれも同等に把握できる。
しかし、例えば局所的な発熱など、試験体12の超電導特性に基づく電圧挙動はいずれも同等に把握できる。
以上のように、第1実施形態にかかる評価方法では、寒剤11を液体アルゴンまたは液体酸素などに限定することで、評価試験における寒剤温度を87K程度に維持した。
よって、試験体12の臨界電流値Icは、安定化金属層21の限界熱流束Δqcを発生させる電流値Ib以下に調節される。
つまり、これらの寒剤11に限定することで、試験体12を焼損させるリスクを回避した超電導特性の評価試験を可能にすることができる。
よって、試験体12の臨界電流値Icは、安定化金属層21の限界熱流束Δqcを発生させる電流値Ib以下に調節される。
つまり、これらの寒剤11に限定することで、試験体12を焼損させるリスクを回避した超電導特性の評価試験を可能にすることができる。
次に、上述した評価方法を実施するのに好適である評価装置10を、図8および図9を用いて説明する。
図9(A)は、従来の評価試験装置で使用されていた接続端子32a(32)の一例を示す図、図9(B)は、評価装置10で用いられる接続端子32b(32)を示す図である。
図9(A)は、従来の評価試験装置で使用されていた接続端子32a(32)の一例を示す図、図9(B)は、評価装置10で用いられる接続端子32b(32)を示す図である。
評価装置10は、図8または図9に示されるように、超電導層25を少なくとも含む複数の層を積層させた超電導線材20から構成される試験体12に、この試験体12の臨界電流値Icまで大きさを変化させながら電流を流す電流供給部16と、試験体12に接続されて電流によって発生した電圧を測定する測定部17と、試験体12を浸漬させてその臨界温度以下に冷却する寒剤11を貯留する冷却槽14と、を備え、寒剤11は、液体アルゴンおよび液体酸素のいずれかである。
電流供給部16は、超電導線材20から構成される試験体12に、この試験体12の臨界電流値Icまで大きさを変化させながら電流を流す。
高温超電導線材20の超電導特性の評価に一般に使用されている評価試験装置は、数百Aの大電流を許容するものが用いられる。
高温超電導線材20の超電導特性の評価に一般に使用されている評価試験装置は、数百Aの大電流を許容するものが用いられる。
しかし、評価装置10は、普通十数A程度まで、高くても数十A程度までの電流を許容すればよい。
つまり、広く市販されている電源を電流供給部16として利用することができる。
すなわち、評価試験で用いる電流が十数A程度であるので、評価装置10では、従来の評価試験装置に比べて、コストを削減することができる。
つまり、広く市販されている電源を電流供給部16として利用することができる。
すなわち、評価試験で用いる電流が十数A程度であるので、評価装置10では、従来の評価試験装置に比べて、コストを削減することができる。
また、電流供給部16は、図9(B)に示されるように、スイッチレバーで超電導線材20との接触および非接触を切り替えるトグルクランプ32bを備える。
従来では、上述したように超電導線材20に大電流を流していたため、図9(A)で示される接続端子32a(32)は、超電導線材20にハンダ付けされていた。
従来では、上述したように超電導線材20に大電流を流していたため、図9(A)で示される接続端子32a(32)は、超電導線材20にハンダ付けされていた。
しかし、評価装置10では、十数A程度の電流でよいので、ハンダ付けなどで確実に接続しなければならないという制約がない。
そこで、超電導線材20を電流供給部16に接続するのに、容易に接触および非接触を切り替えることができるトグルクランプ32bを用いる。
トグルクランプ32bを用いることで、接続端子32を超電導線材20に容易に設置することができる。
そこで、超電導線材20を電流供給部16に接続するのに、容易に接触および非接触を切り替えることができるトグルクランプ32bを用いる。
トグルクランプ32bを用いることで、接続端子32を超電導線材20に容易に設置することができる。
なお、電流供給部16およびトグルクランプ32bはブスライン39で接続されている。
ブスライン39は、冷却槽14の内部で可撓性をもたせてもよいし、摺動して上下する支持部38と組み合わせて上蓋36より上部にて柔軟性のあるキャプタイヤケーブル等で引き回しても良い。
ブスライン39は、冷却槽14の内部で可撓性をもたせてもよいし、摺動して上下する支持部38と組み合わせて上蓋36より上部にて柔軟性のあるキャプタイヤケーブル等で引き回しても良い。
測定部17は、試験体12に接続されて電流Iによって発生した電圧Vを測定する。
この電圧は、一般的には単位時間あたりの電圧として測定される。
測定部17には、評価試験装置として従来より市販されている種々の電圧計を使用することができる。
この電圧は、一般的には単位時間あたりの電圧として測定される。
測定部17には、評価試験装置として従来より市販されている種々の電圧計を使用することができる。
冷却槽14は、寒剤供給管58から供給される寒剤11を貯留する。
冷却槽14の内面は、寒剤11である液体アルゴンまたは液体酸素が沸点以下を維持できるように、四方が厳密に断熱材37で覆われる。
冷却槽14の内面は、寒剤11である液体アルゴンまたは液体酸素が沸点以下を維持できるように、四方が厳密に断熱材37で覆われる。
冷却槽14の上蓋36には、試験体12を支持する支持部38がこの上蓋36を貫通して設置されている。
この支持部38の支柱には、速度制御部42が接続されて、支持部38を昇降させる。
この支持部38の支柱には、速度制御部42が接続されて、支持部38を昇降させる。
ここで、試験体12の冷却方法について説明する。
RE系の超電導線材20を構成する複数の層は、容易に剥離してしまうので、試験体12は、数時間かけて徐冷させる必要がある。
つまり、寒剤11による冷却槽14の内部の温度分布(気体の顕熱)を利用して、試験体12を徐々に降下させることで冷却してから寒剤11に浸漬させる必要がある。
RE系の超電導線材20を構成する複数の層は、容易に剥離してしまうので、試験体12は、数時間かけて徐冷させる必要がある。
つまり、寒剤11による冷却槽14の内部の温度分布(気体の顕熱)を利用して、試験体12を徐々に降下させることで冷却してから寒剤11に浸漬させる必要がある。
そこで、試験体12が予想どおりに冷却されているか確認するため、試験体12には温度検出素子43が設置される。
温度検出素子43には、熱電対や負の温度係数を示す抵抗温度計などが使用できる。
なお、この温度検出素子43は、試験体12に接触させて設置されてもよいし、例えば、支持部38に設置されて、試験体12の付近の温度を検出してもよい。
温度検出素子43には、熱電対や負の温度係数を示す抵抗温度計などが使用できる。
なお、この温度検出素子43は、試験体12に接触させて設置されてもよいし、例えば、支持部38に設置されて、試験体12の付近の温度を検出してもよい。
さらに、支持部38の支柱などには距離計測部44が設置されて、試験体12とともに昇降しながら試験体12の液面からの距離dを計測する。
これら温度検出素子43および距離計測部44による試験体12の温度および液面からの距離dの情報は、監視部48に送られる。
これら温度検出素子43および距離計測部44による試験体12の温度および液面からの距離dの情報は、監視部48に送られる。
監視部48は、それぞれ後述する速度制御部42、ガス調節部51および蒸発制御部46に接続されて、全体で監視制御機器40を構成する。
そして、速度制御部42は、これら温度および距離dの情報および入力部45から設定された降下時間などに基づいて、試験体12の降下速度を制御する。
そして、速度制御部42は、これら温度および距離dの情報および入力部45から設定された降下時間などに基づいて、試験体12の降下速度を制御する。
なお、設定されるその他の条件は、例えば最終冷却温度、試験体12と寒剤11との温度差ΔTの閾値または寒剤11の種類などである。
速度制御部42は、例えば図8に示されるようにギアなどで支持部38の支柱に連結されて、設定された降下時間のうちで、支持部38に降下および停止を繰り返させる。
速度制御部42は、例えば図8に示されるようにギアなどで支持部38の支柱に連結されて、設定された降下時間のうちで、支持部38に降下および停止を繰り返させる。
なお、降下時間は、運転員の設定によっても、距離dおよび温度などに基づいて自動で決定されてもよい。
また、この降下時間は、降下の途中で送られてくる温度などの情報に基づいて変更されるものであってもよい。
また、この降下時間は、降下の途中で送られてくる温度などの情報に基づいて変更されるものであってもよい。
また、ガス調節部51による冷却槽14の内部のドライガスの量を調整することによっても、降下中の試験体12の温度を調整できる。
ガス調節部51は、ガス供給管55の開閉弁55aを開閉させて、ヘリウムまたは寒剤11と同一の気体など、寒剤11の沸点以下のドライガスの供給量を調整する。
ガス調節部51は、ガス供給管55の開閉弁55aを開閉させて、ヘリウムまたは寒剤11と同一の気体など、寒剤11の沸点以下のドライガスの供給量を調整する。
このとき、排気管53の開閉弁53aは開放されており、供給されたドライガスは、冷却槽14の内部の温度を上昇させて、排気管53から放出される。
なお、貯留されている液体の寒剤11が気化したものと、ガス供給管55から供給されるドライガスが冷却槽14の気相部分で混合されることになる。
よって、ドライガスには、寒剤11と同一の気体を使用するのが好ましい。
なお、貯留されている液体の寒剤11が気化したものと、ガス供給管55から供給されるドライガスが冷却槽14の気相部分で混合されることになる。
よって、ドライガスには、寒剤11と同一の気体を使用するのが好ましい。
一方、冷却槽14の内部を冷却させたい場合には、寒剤供給管58など全ての配管の開閉弁58aなどを閉止して、排気管53に真空ポンプ(図示せず)に接続する。
そして、この真空ポンプで冷却槽14の内部を減圧して、内部の気体を断熱膨張させることで冷却する。
そして、この真空ポンプで冷却槽14の内部を減圧して、内部の気体を断熱膨張させることで冷却する。
また、冷却槽14の底部に設置された対流発生部49の対流量を蒸発制御部46で制御することで、冷却槽14の気相部分の温度を調整することもできる。
対流発生部49には、送風機またはヒータなど、対流を発生させるものであれば、従来から知られる種々のものを適用できる。
対流発生部49には、送風機またはヒータなど、対流を発生させるものであれば、従来から知られる種々のものを適用できる。
寒剤11の蒸発量を増加させることで、気相部分の上部まで気体となった寒剤11が到達して、液体の寒剤11と気相部分の温度差ΔTを縮小させる。
なお、以上の温度調整は、評価試験の後に試験体12を上昇させる際にも必要になる。
なお、以上の温度調整は、評価試験の後に試験体12を上昇させる際にも必要になる。
ところで、従来では、77K以下という極低温を維持して数百Aという大電流を用いて評価試験を実施していたため、運転員を常駐させて監視する必要があった。
しかし、評価装置10では、十数A程度の電流しか流さないので、熱暴走を起こす可能性も顕著に低く、評価試験を自動化することができる。
しかし、評価装置10では、十数A程度の電流しか流さないので、熱暴走を起こす可能性も顕著に低く、評価試験を自動化することができる。
例えば、冷却槽14の内部の温度および距離dの情報に基づいて、ガス調節部51、速度制御部42および蒸発制御部46の稼働状況を監視制御する監視部48を設置する。
監視部48は、運転員から受け付けた設定、温度および距離dに基づいてこれらの部材に指令を送信する。
監視部48は、運転員から受け付けた設定、温度および距離dに基づいてこれらの部材に指令を送信する。
また、一度運転員によって入力された降下時間、上昇時間、最終冷却温度、試験体12と寒剤11との温度差ΔTの閾値または寒剤11の種類などの設定を、監視部48に接続された設定保持部54に保持させて完全に自動化することもできる。
次に、第1実施形態にかかる評価装置10を用いた評価方法を、図2および図3のフローチャートを用いて説明する(適宜図8を参照)。
まず、貯留ステップ(S10)では、高温超電導線材20を含む試験体12を浸漬させて、その臨界温度以下に冷却する寒剤11を冷却槽14に貯留する。
第1実施形態では、寒剤11として液体アルゴンまたは液体酸素を用いることで、臨界電流値Icが下げられる。
第1実施形態では、寒剤11として液体アルゴンまたは液体酸素を用いることで、臨界電流値Icが下げられる。
次に、試験体12(図2では、超電導コイル)を支持部38にセットする(S11)。
そして、入力部45から降下時間、最終冷却温度または試験体12と寒剤11との温度差ΔTの閾値などの各種の条件を設定する(S12)。
そして、入力部45から降下時間、最終冷却温度または試験体12と寒剤11との温度差ΔTの閾値などの各種の条件を設定する(S12)。
なお、降下時間など、条件の一部は、液面までの距離dおよび冷却槽14の内部の温度から算出してもよい。
さらに、これらの条件は設定保持部54に保持させて、評価試験の度に保持されている条件を読み込んでもよい。
さらに、これらの条件は設定保持部54に保持させて、評価試験の度に保持されている条件を読み込んでもよい。
次に、常温のドライガスなどを供給して冷却槽14の内部の温度分布を調整する(S13)。
そして、速度制御部42によって、試験体12の降下を開始する(S14)。
試験体12と寒剤11との温度差ΔTが閾値よりも大きい場合(S15;NO)、速度制御部42で支持部38の降下速度を制御する(S16)。
そして、速度制御部42によって、試験体12の降下を開始する(S14)。
試験体12と寒剤11との温度差ΔTが閾値よりも大きい場合(S15;NO)、速度制御部42で支持部38の降下速度を制御する(S16)。
さらに、冷却槽14の内部の温度分布を調整する(S17;S15へ)。
この調整は、例えば、常温のドライガスの量または寒剤11の蒸発量の調整などである。
なお、ステップS16およびステップS17は、いずれか一方でもよい。
寒剤11の液面において、試験体12と寒剤11との温度差ΔTが閾値よりも小さい場合(S15;YES)、試験体12を浸漬させる(S18)。
この調整は、例えば、常温のドライガスの量または寒剤11の蒸発量の調整などである。
なお、ステップS16およびステップS17は、いずれか一方でもよい。
寒剤11の液面において、試験体12と寒剤11との温度差ΔTが閾値よりも小さい場合(S15;YES)、試験体12を浸漬させる(S18)。
そして、試験体12の評価測定サブルーチンを開始する(S19;図3へ)。
まず、通電ステップS20で、試験体12に、この試験体12の臨界電流値Icまで大きさを変化させながら電流を流す。
そして、測定ステップS21で、試験体12に流れる電流によって試験体12に発生した単位長さあたりの電圧を測定する。
まず、通電ステップS20で、試験体12に、この試験体12の臨界電流値Icまで大きさを変化させながら電流を流す。
そして、測定ステップS21で、試験体12に流れる電流によって試験体12に発生した単位長さあたりの電圧を測定する。
全ての電流値における評価測定が終了していない場合は(S22;NO)、電流値を変更して同様の評価測定を繰り返す(S23;S20へ)。
全ての電流値において評価測定が終了した場合は(S22;YES)、評価測定サブルーチン(図2のS19へ戻る)を終了する。
全ての電流値において評価測定が終了した場合は(S22;YES)、評価測定サブルーチン(図2のS19へ戻る)を終了する。
そして、上蓋36までの距離または上昇時間などの条件を再度設定する(S24)。
次に、降下の手順(S14からS17)と同様の要領で、試験体12を上昇させる(S25)。
試験体12が降下の開始当初の位置に戻ったところで全ての評価試験が終了して、試験体12は、次の試験体12へと交換される(S26)。
次に、降下の手順(S14からS17)と同様の要領で、試験体12を上昇させる(S25)。
試験体12が降下の開始当初の位置に戻ったところで全ての評価試験が終了して、試験体12は、次の試験体12へと交換される(S26)。
以上のように、第1実施形態では、寒剤11を液体アルゴンまたは液体酸素などに限定することで、評価試験における寒剤温度を87K程度に維持した。
よって、試験体12の臨界電流値Icは、安定化金属層21の限界熱流束Δqcを発生させる電流値Ib以下に調節される。
つまり、これらの寒剤11に限定することで、試験体12を焼損させるリスクを回避した超電導特性の評価試験を可能にすることができる。
よって、試験体12の臨界電流値Icは、安定化金属層21の限界熱流束Δqcを発生させる電流値Ib以下に調節される。
つまり、これらの寒剤11に限定することで、試験体12を焼損させるリスクを回避した超電導特性の評価試験を可能にすることができる。
(第2実施形態)
図10は、第2実施形態にかかる評価装置10の要部を示す図である。
なお、図10において、監視制御機器40の内部構成で図8と同一のものは省略してある。
図10は、第2実施形態にかかる評価装置10の要部を示す図である。
なお、図10において、監視制御機器40の内部構成で図8と同一のものは省略してある。
第2実施形態にかかる評価装置10は、図10に示されるように、監視制御機器40に冷却槽14の内部の圧力を調節して寒剤11の温度または沸点を調節する圧力調節部56(臨界調節部)を備える。
例えば、排気管53またはガス供給管55などの種々の配管の開閉弁53a、55a、58aなどを閉止して、冷却槽14の内部を密閉する。
例えば、排気管53またはガス供給管55などの種々の配管の開閉弁53a、55a、58aなどを閉止して、冷却槽14の内部を密閉する。
そして、寒剤11の沸点を上昇させたい場合、寒剤11と同一の気体を圧力調節管59から開閉弁59aを介して冷却槽14の気相部分に注入する。
気体の寒剤11が注入されると、冷却槽14の内部の圧力は上昇し、寒剤11の沸点を上昇させる。
気体の寒剤11が注入されると、冷却槽14の内部の圧力は上昇し、寒剤11の沸点を上昇させる。
このように、圧力を上昇させることで、例えば、大気圧下における77Kの沸点を有する窒素は、77Kを超えても液体の状態を維持できる。
つまり、液体窒素を87K程度の温度帯に近づけて、評価試験で使用する電流を小さくすることができる。
また、圧力の調節による沸点または温度の調節は、寒剤11を第1実施形態のように液体アルゴンまたは液体酸素においても好適に利用できる。
つまり、液体窒素を87K程度の温度帯に近づけて、評価試験で使用する電流を小さくすることができる。
また、圧力の調節による沸点または温度の調節は、寒剤11を第1実施形態のように液体アルゴンまたは液体酸素においても好適に利用できる。
例えば、評価試験に用いられる電流の最適な範囲は、評価試験がされる試験体12によって異なる。
そこで、寒剤11を87Kの付近で微小に変化させて、臨界電流値Icが評価試験に最適な値になるように調節する。
なお、逆に内部を減圧させることで、寒剤11を大気圧下におけるその沸点よりも低い値にサブクールさせることができる。
そこで、寒剤11を87Kの付近で微小に変化させて、臨界電流値Icが評価試験に最適な値になるように調節する。
なお、逆に内部を減圧させることで、寒剤11を大気圧下におけるその沸点よりも低い値にサブクールさせることができる。
なお、圧力調節部56を設けること以外は、第2実施形態は第1実施形態と同じ構造および動作手順となるので、重複する説明を省略する。
図面においても、共通の構成または機能を有する部分は同一符号で示し、重複する説明を省略する。
図面においても、共通の構成または機能を有する部分は同一符号で示し、重複する説明を省略する。
このように、第2実施形態にかかる評価装置10によれば、第1実施形態の効果に加え、寒剤11の温度を冷却槽14の内部の圧力によって調節することで、液体窒素などの沸点の低い寒剤11も利用が可能となる。
さらに、圧力を調節することで、寒剤11の温度を微小に調節することができ、評価試験で用いる電流の範囲を最適な電流の範囲にすることができる。
(第3実施形態)
図11は、第3実施形態にかかる評価装置10の要部を示す図である。
なお、図11において、監視制御機器40の内部構成で図8と同一のものは省略してある。
図11は、第3実施形態にかかる評価装置10の要部を示す図である。
なお、図11において、監視制御機器40の内部構成で図8と同一のものは省略してある。
第3実施形態にかかる評価装置10は、図11に示されるように、監視制御機器40に試験体12を貫通する外部磁場Bを発生させる磁場制御部57(臨界調節部)を備える。
ここで、図12は、試験体12を貫通する外部磁場Bと臨界電流値Icとの関係を示す概略図である。
ここで、図12は、試験体12を貫通する外部磁場Bと臨界電流値Icとの関係を示す概略図である。
図12に示されるように、貫通する外部磁場Bが大きくなるほど、試験体12の臨界電流値Icは小さくなる。
そこで、磁場制御部57で試験体12に外部磁場Bを貫通させて、臨界電流値Icを小さくする。
そこで、磁場制御部57で試験体12に外部磁場Bを貫通させて、臨界電流値Icを小さくする。
なお、図11では、中心軸を冷却槽14の底面と平行にもつ2つのコイルを用いているが、試験体12と同方向に中心軸をもつ1つのコイルを底面に備えてもよい。
また、寒剤11に浸漬された試験体12を貫通する外部磁場Bを発生させることができれば、磁場制御部57は、冷却槽14に内設されていなくてもよい。
また、寒剤11に浸漬された試験体12を貫通する外部磁場Bを発生させることができれば、磁場制御部57は、冷却槽14に内設されていなくてもよい。
なお、試験体12に外部磁場Bを貫通させること以外は、第3実施形態は第1実施形態と同じ構造および動作手順となるので、重複する説明を省略する。
図面においても、共通の構成または機能を有する部分は同一符号で示し、重複する説明を省略する。
図面においても、共通の構成または機能を有する部分は同一符号で示し、重複する説明を省略する。
このように、第3実施形態にかかる評価装置10によれば、第1実施形態の効果に加え、試験体12に外部磁場Bを貫通させることで、液体窒素などの沸点の低い寒剤11も利用が可能となる。
さらに、第2実施形態と同様に、外部磁場Bを微小に変化させることで、評価試験で用いる電流の範囲を最適な電流の範囲にすることができる。
以上のべた少なくとも一つの実施形態の評価方法または評価装置10によれば、試験体12の臨界電流値Icを超電導線材20に含まれる安定化金属層21の限界熱流束Δqcを発生させる電流値Ib以下に調節することにより、試験体12を焼損させるリスクを回避した超電導特性の評価試験を可能にすることが可能となる。
本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。
これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、組み合わせを行うことができる。
これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
これら実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更、組み合わせを行うことができる。
これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
10…評価装置(超電導特性の評価装置)、11…寒剤、12…試験体、14…冷却槽、16…電流供給部、17…測定部、20…高温超電導線材(超電導線材)、21…安定化金属層、22…基板、23…配向層、24…中間層、25…超電導層、26…保護層、32(32a,32b)…接続端子(従来の接続端子,トグルクランプ)、36…上蓋、37…断熱材、38…支持部、39…ブスライン、40…監視制御機器、42…速度制御部、43…温度検出素子、44…距離計測部、45…入力部、46…蒸発制御部、48…監視部、49…対流発生部、51…ガス調節部、53…排気管、53a…開閉弁、54…設定保持部、55…ガス供給管、55a…開閉弁、56…圧力調節部、57…磁場制御部(臨界調節部)、58…寒剤供給管、58a…開閉弁、59…圧力調節管、59a…開閉弁、B…外部磁場、Ib…電流値、Ts…温度、Tw…温度、Vc…臨界電圧値、Ic(Ic1〜Ic3)…臨界電流値、d…距離、q…発生熱流束、ΔT…温度差、Δq…移動熱流束、Δqc…限界熱流束、Σ…膜沸騰領域、Ψ…核沸騰領域。
Claims (13)
- 超電導層を少なくとも含む複数の層を積層させた高温超電導線材から構成される試験体を浸漬させてその臨界温度以下に冷却する寒剤を冷却槽に貯留する貯留ステップと、
前記試験体の臨界電流値まで大きさを変化させながらこの試験体に電流を流す通電ステップと、
前記電流によって発生した電圧を測定する測定ステップと、を含み、
前記試験体の臨界電流値は、前記複数の層のうち前記超電導層の過剰電流の迂回経路となる安定化金属層の限界熱流束を発生させる電流値以下となるように調節がされることを特徴とする超電導特性の評価方法。 - 前記臨界電流値の前記調節は、前記寒剤として液体アルゴンおよび液体酸素のいずれかの選択によることを特徴とする請求項1に記載の超電導特性の評価方法。
- 前記臨界電流値の前記調節は、前記寒剤に浸漬された前記試験体を貫通する外部磁場の調節によることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の超電導特性の評価方法。
- 超電導層を少なくとも含む複数の層を積層させた高温超電導線材から構成される試験体にこの試験体の臨界電流値まで大きさを変化させながら電流を流す電流供給部と、
前記試験体に接続されて前記電流によって発生した電圧を測定する測定部と、
前記試験体を浸漬させてその臨界温度以下に冷却する寒剤を貯留する冷却槽と、を備え、
前記寒剤は、液体アルゴンおよび液体酸素のいずれかであることを特徴とする超電導特性の評価装置。 - 前記電流供給部は、スイッチレバーで前記高温超電導線材との接触および非接触を切り替えるトグルクランプを備えることを特徴とする請求項4に記載の超電導特性の評価装置。
- 前記試験体の臨界電流値を前記複数の層のうち前記超電導層の過剰電流の迂回経路となる安定化金属層の限界熱流束を発生させる電流値以下に調節する臨界調節部を備えることを特徴とする請求項4または請求項5に記載の超電導特性の評価装置。
- 前記臨界調節部は、前記試験体を貫通する外部磁場を発生させる磁場制御部であることを特徴とする請求項6に記載の超電導特性の評価装置。
- 前記冷却槽の内部に供給されるドライガスの量を調整して前記冷却槽の内部の温度を調整するガス調節部を備えることを特徴とする請求項6または請求項7に記載の超電導特性の評価装置。
- 前記臨界調節部は、前記冷却槽の内部の圧力を調整して前記寒剤の温度または沸点を調節する圧力調節部であることを特徴とする請求項6から請求項8のいずれか1項に記載の超電導特性の評価装置。
- 前記試験体および前記冷却槽の内部の少なくとも一方の温度を検出する温度検出素子を備えることを特徴とする請求項4から請求項9のいずれか1項に記載の超電導特性の評価装置。
- 前記試験体の前記寒剤の液面からの距離を計測する距離計測部と、
前記温度および前記距離に基づき前記試験体の昇降速度を制御する速度制御部と、を備えることを特徴とする請求項10に記載の超電導特性の評価装置。 - 前記寒剤の蒸発量を制御する蒸発制御部を備えることを特徴とする請求項4から請求項11のいずれか1項に記載の超電導特性の評価装置。
- コンピュータシステム上で請求項1に記載の超電導特性の評価方法を実行するプログラムコードを含む超電導特性の評価プログラム。
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JP2015175733A true JP2015175733A (ja) | 2015-10-05 |
Family
ID=54255045
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A02 | Decision of refusal |
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