JP2015148618A - 検出システム及び方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】検出表面を有する基板16内のサンプル14の分析領域に励起放射10を供給する励起放射源18と、励起からもたらされる、サンプルの検出表面を有する分析領域から集光された放射を検出する検出器22と、サンプルの分析領域の下方で励起放射源及び光結合構成に対して静止されて、サンプル内の磁性ビーズ15を基板表面に引き付ける磁石構成24とを組み合わせる。検出放射は、改善された表面特異性を与えるように、基板の検出表面から集光される。
【選択図】図2
Description
Claims (15)
- 基板のためのホルダであって、前記基板は検出表面を有し、且つ前記基板は、或る量のサンプルを、該サンプルが前記検出表面と少なくとも部分的に接触するように収容することができる、ホルダと、
励起放射を供給する励起放射源と、
前記サンプルの励起領域に前記励起放射を供給する放射結合構成であって、前記励起領域は前記検出表面を有する、放射結合構成と、
前記サンプルとの前記励起放射の相互作用からもたらされ、前記サンプルの前記励起領域内の分析領域から集光された検出放射を検出する検出器であって、前記分析領域は前記検出表面を有する、検出器と、
を有する検出システムであって、
当該検出システムは更に、
前記サンプルの、前記検出表面と同じ側で、前記サンプルに近接して配置され、且つ前記励起放射源及び前記放射結合構成に対して静止して配置される磁石構成であり、前記サンプル内の磁性ビーズを前記検出表面へと引き付けることができる磁石構成、
を有する、
検出システム。 - 前記励起放射はエバネッセント波である、請求項1に記載の検出システム。
- 前記磁石構成からの磁場を前記分析領域にフォーカシングする磁場ガイド構成、を更に有する請求項1に記載の検出システム。
- 前記磁場ガイド構成は開口を有し、前記放射結合構成は、該開口を介して、前記励起放射及び/又は前記検出放射を誘導することができる、請求項3に記載の検出システム。
- 前記放射結合構成は、前記磁場ガイド構成の中央の上方の前記分析領域に前記励起放射を供給し、且つ、前記サンプル内にエバネッセント放射を生成するように前記分析領域に前記励起放射をフォーカシングする放射構成を有する、請求項4に記載の検出システム。
- 前記放射構成は、前記検出器に前記集光された検出放射をフォーカシングするためのものでもあり、前記放射構成は、前記集光された検出放射と前記励起放射とに相異なる放射経路を提供するビームスプリッタを有する、請求項5に記載の検出システム。
- 前記検出器は、前記ホルダに近い側の前記磁石構成の表面に備えられている、請求項1に記載の検出システム。
- 前記検出器及び前記磁石構成はキャリア上で並んでおり、前記キャリアは、磁気的作動位置と検出位置との間で移動可能である、請求項1乃至3の何れか一項に記載の検出システム。
- 前記検出器は放射フォーカシング構成を有する、請求項1乃至8の何れか一項に記載の検出システム。
- 前記検出器は放射バンドパスフィルタ又は放射ハイパスフィルタを有する、請求項1乃至9の何れか一項に記載の検出システム。
- 前記放射結合構成は、前記励起放射源に関連付けられた放射構成を有し、該放射構成は、前記基板が内部全反射を提供するよう、前記基板の前記検出表面に対して鋭角で前記分析領域に前記励起放射を方向付ける、請求項1乃至3の何れか一項に記載の検出システム。
- 前記放射結合構成はエバネッセント放射ガイドを有する、請求項1乃至3の何れか一項に記載の検出システム。
- 前記励起放射は光であり、前記検出放射はルミネッセンス放射である、請求項1乃至12の何れか一項に記載の検出システム。
- 前記検出器は画素化光検出器を有する、請求項1乃至13の何れか一項に記載の検出システム。
- 基板により保持されたサンプルの分析領域の下に配置された磁石構成を動作させ、それにより、前記分析領域内の前記基板の検出表面に前記サンプル内の磁性ビーズを引き付ける段階と、
励起放射源から、前記検出表面の第1の側から前記サンプルの前記分析領域に、励起放射を供給する段階であって、当該段階の間、前記磁石構成は前記励起放射源に対して且つ放射結合構成に対して静止している、段階と、
前記サンプルの前記分析領域から且つ前記検出表面の前記第1の側から、前記サンプルとの前記励起放射の相互作用からもたらされる検出放射を集光する段階と、
前記集光された検出放射を検出する段階と、
を有する検出方法。
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