JP2015146310A - 光電子および電子装置のための透明な導電性皮膜 - Google Patents
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- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 title claims abstract description 10
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title description 20
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 94
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 75
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims abstract description 71
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 23
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 claims abstract description 19
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 16
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims abstract description 11
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 claims abstract description 10
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 10
- 239000002243 precursor Substances 0.000 claims abstract description 10
- 239000003575 carbonaceous material Substances 0.000 claims abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims abstract description 8
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims description 16
- 239000002131 composite material Substances 0.000 claims description 11
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 claims description 8
- 229910052723 transition metal Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 150000003624 transition metals Chemical class 0.000 claims description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 4
- 238000001338 self-assembly Methods 0.000 claims description 4
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 5
- 239000010408 film Substances 0.000 description 81
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 21
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 18
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 18
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 18
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 17
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 17
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 16
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 15
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 13
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 13
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 13
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 10
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 9
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 8
- FOIXSVOLVBLSDH-UHFFFAOYSA-N Silver ion Chemical compound [Ag+] FOIXSVOLVBLSDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 238000007641 inkjet printing Methods 0.000 description 7
- 229910021387 carbon allotrope Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000006229 carbon black Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 5
- 238000001124 conductive atomic force microscopy Methods 0.000 description 5
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 5
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 5
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 239000002082 metal nanoparticle Substances 0.000 description 5
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 5-phenyl-2h-tetrazole Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=NNN=N1 MARUHZGHZWCEQU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 4
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 4
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 4
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 4
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N C60 fullerene Chemical compound C12=C3C(C4=C56)=C7C8=C5C5=C9C%10=C6C6=C4C1=C1C4=C6C6=C%10C%10=C9C9=C%11C5=C8C5=C8C7=C3C3=C7C2=C1C1=C2C4=C6C4=C%10C6=C9C9=C%11C5=C5C8=C3C3=C7C1=C1C2=C4C6=C2C9=C5C3=C12 XMWRBQBLMFGWIX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Se].[Se].[In] Chemical compound [Cu].[Se].[Se].[In] KTSFMFGEAAANTF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 229910003472 fullerene Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 3
- 238000007363 ring formation reaction Methods 0.000 description 3
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 3
- -1 sticky Substances 0.000 description 3
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 238000011282 treatment Methods 0.000 description 3
- 229910002601 GaN Inorganic materials 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 240000002329 Inga feuillei Species 0.000 description 2
- 229910000661 Mercury cadmium telluride Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910015795 MoRh Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 2
- YKYOUMDCQGMQQO-UHFFFAOYSA-L cadmium dichloride Chemical compound Cl[Cd]Cl YKYOUMDCQGMQQO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 2
- 238000005229 chemical vapour deposition Methods 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 description 2
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 2
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 2
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 2
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 2
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UPWPDUACHOATKO-UHFFFAOYSA-K gallium trichloride Chemical compound Cl[Ga](Cl)Cl UPWPDUACHOATKO-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 2
- PSCMQHVBLHHWTO-UHFFFAOYSA-K indium(iii) chloride Chemical compound Cl[In](Cl)Cl PSCMQHVBLHHWTO-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K iron trichloride Chemical compound Cl[Fe](Cl)Cl RBTARNINKXHZNM-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- RLJMLMKIBZAXJO-UHFFFAOYSA-N lead nitrate Chemical compound [O-][N+](=O)O[Pb]O[N+]([O-])=O RLJMLMKIBZAXJO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012811 non-conductive material Substances 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 229920001467 poly(styrenesulfonates) Polymers 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- 239000002861 polymer material Substances 0.000 description 2
- SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N silver(1+) nitrate Chemical compound [Ag+].[O-]N(=O)=O SQGYOTSLMSWVJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000080 wetting agent Substances 0.000 description 2
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 2
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- JIAARYAFYJHUJI-UHFFFAOYSA-L zinc dichloride Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Zn+2] JIAARYAFYJHUJI-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N (2,5-dioxopyrrolidin-1-yl) 4-pyren-1-ylbutanoate Chemical compound C=1C=C(C2=C34)C=CC3=CC=CC4=CC=C2C=1CCCC(=O)ON1C(=O)CCC1=O YBNMDCCMCLUHBL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical compound C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- OTUYNPNPIIFVGN-UHFFFAOYSA-N 3,4-dioctoxythiophene Chemical compound CCCCCCCCOC1=CSC=C1OCCCCCCCC OTUYNPNPIIFVGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M Acetate Chemical compound CC([O-])=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910017115 AlSb Inorganic materials 0.000 description 1
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N Dihydrogen disulfide Chemical compound SS BWGNESOTFCXPMA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005542 GaSb Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000530 Gallium indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N Gallium nitride Chemical compound [Ga]#N JMASRVWKEDWRBT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000208152 Geranium Species 0.000 description 1
- 229910004262 HgTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000673 Indium arsenide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021577 Iron(II) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021578 Iron(III) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910015792 MoPd Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910015797 MoPt Inorganic materials 0.000 description 1
- 101100077717 Mus musculus Morn2 gene Proteins 0.000 description 1
- 229910002665 PbTe Inorganic materials 0.000 description 1
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001609 Poly(3,4-ethylenedioxythiophene) Polymers 0.000 description 1
- 239000004952 Polyamide Substances 0.000 description 1
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 229910019017 PtRh Inorganic materials 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021607 Silver chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910005642 SnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002125 Sokalan® Polymers 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910021626 Tin(II) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021627 Tin(IV) chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910008773 WMo Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910007709 ZnTe Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000005595 acetylacetonate group Chemical group 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- FTWRSWRBSVXQPI-UHFFFAOYSA-N alumanylidynearsane;gallanylidynearsane Chemical compound [As]#[Al].[As]#[Ga] FTWRSWRBSVXQPI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K aluminium trichloride Chemical compound Cl[Al](Cl)Cl VSCWAEJMTAWNJL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- CEGOLXSVJUTHNZ-UHFFFAOYSA-K aluminium tristearate Chemical compound [Al+3].CCCCCCCCCCCCCCCCCC([O-])=O.CCCCCCCCCCCCCCCCCC([O-])=O.CCCCCCCCCCCCCCCCCC([O-])=O CEGOLXSVJUTHNZ-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 229940063655 aluminum stearate Drugs 0.000 description 1
- CBTVGIZVANVGBH-UHFFFAOYSA-N aminomethyl propanol Chemical compound CC(C)(N)CO CBTVGIZVANVGBH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000012736 aqueous medium Substances 0.000 description 1
- 239000003125 aqueous solvent Substances 0.000 description 1
- 238000000089 atomic force micrograph Methods 0.000 description 1
- NWAIGJYBQQYSPW-UHFFFAOYSA-N azanylidyneindigane Chemical compound [In]#N NWAIGJYBQQYSPW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001680 brushing effect Effects 0.000 description 1
- LHQLJMJLROMYRN-UHFFFAOYSA-L cadmium acetate Chemical compound [Cd+2].CC([O-])=O.CC([O-])=O LHQLJMJLROMYRN-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XIEPJMXMMWZAAV-UHFFFAOYSA-N cadmium nitrate Inorganic materials [Cd+2].[O-][N+]([O-])=O.[O-][N+]([O-])=O XIEPJMXMMWZAAV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWOWVOYJLHSRJJ-UHFFFAOYSA-L cadmium stearate Chemical compound [Cd+2].CCCCCCCCCCCCCCCCCC([O-])=O.CCCCCCCCCCCCCCCCCC([O-])=O GWOWVOYJLHSRJJ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N cadmium(2+);selenium(2-) Chemical compound [Se-2].[Cd+2] UHYPYGJEEGLRJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N cadmium;mercury;tellurium Chemical compound [Cd]=[Te]=[Hg] MCMSPRNYOJJPIZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 230000002860 competitive effect Effects 0.000 description 1
- 239000011370 conductive nanoparticle Substances 0.000 description 1
- HVMJUDPAXRRVQO-UHFFFAOYSA-N copper indium Chemical compound [Cu].[In] HVMJUDPAXRRVQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000005137 deposition process Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- VBXWCGWXDOBUQZ-UHFFFAOYSA-K diacetyloxyindiganyl acetate Chemical compound [In+3].CC([O-])=O.CC([O-])=O.CC([O-])=O VBXWCGWXDOBUQZ-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- PNOXNTGLSKTMQO-UHFFFAOYSA-L diacetyloxytin Chemical compound CC(=O)O[Sn]OC(C)=O PNOXNTGLSKTMQO-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 125000004177 diethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- AXAZMDOAUQTMOW-UHFFFAOYSA-N dimethylzinc Chemical compound C[Zn]C AXAZMDOAUQTMOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000002270 dispersing agent Substances 0.000 description 1
- 238000007606 doctor blade method Methods 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 238000009472 formulation Methods 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052735 hafnium Inorganic materials 0.000 description 1
- RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N heliogen blue Chemical compound [Cu].[N-]1C2=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=NC([N-]1)=C(C=CC=C3)C3=C1N=C([N-]1)C3=CC=CC=C3C1=N2 RBTKNAXYKSUFRK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001198 high resolution scanning electron microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000007970 homogeneous dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000002209 hydrophobic effect Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N indium antimonide Chemical compound [Sb]#[In] WPYVAWXEWQSOGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N indium arsenide Chemical compound [In]#[As] RPQDHPTXJYYUPQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- RJMMFJHMVBOLGY-UHFFFAOYSA-N indium(3+) Chemical compound [In+3] RJMMFJHMVBOLGY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000765 intermetallic Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N iron Substances [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NMCUIPGRVMDVDB-UHFFFAOYSA-L iron dichloride Chemical compound Cl[Fe]Cl NMCUIPGRVMDVDB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- LNOZJRCUHSPCDZ-UHFFFAOYSA-L iron(ii) acetate Chemical compound [Fe+2].CC([O-])=O.CC([O-])=O LNOZJRCUHSPCDZ-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- LZKLAOYSENRNKR-LNTINUHCSA-N iron;(z)-4-oxoniumylidenepent-2-en-2-olate Chemical compound [Fe].C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O.C\C(O)=C\C(C)=O LZKLAOYSENRNKR-LNTINUHCSA-N 0.000 description 1
- HWSZZLVAJGOAAY-UHFFFAOYSA-L lead(II) chloride Chemical compound Cl[Pb]Cl HWSZZLVAJGOAAY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910052748 manganese Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011572 manganese Substances 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 239000002923 metal particle Substances 0.000 description 1
- 239000004530 micro-emulsion Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003472 neutralizing effect Effects 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N nickel Substances [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052758 niobium Inorganic materials 0.000 description 1
- GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N nitrous oxide Inorganic materials [O-][N+]#N GQPLMRYTRLFLPF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- URUUZIAJVSGYRC-UHFFFAOYSA-N oxan-3-one Chemical compound O=C1CCCOC1 URUUZIAJVSGYRC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003961 penetration enhancing agent Substances 0.000 description 1
- NMHMNPHRMNGLLB-UHFFFAOYSA-N phloretic acid Chemical compound OC(=O)CCC1=CC=C(O)C=C1 NMHMNPHRMNGLLB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 1
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 1
- 239000004584 polyacrylic acid Substances 0.000 description 1
- 229920002647 polyamide Polymers 0.000 description 1
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 229910052703 rhodium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
- 229910052706 scandium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- IRPLSAGFWHCJIQ-UHFFFAOYSA-N selanylidenecopper Chemical compound [Se]=[Cu] IRPLSAGFWHCJIQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N selenium;zinc Chemical compound [Se]=[Zn] SBIBMFFZSBJNJF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M silver monochloride Chemical compound [Cl-].[Ag+] HKZLPVFGJNLROG-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 229910001961 silver nitrate Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004984 smart glass Substances 0.000 description 1
- 238000009450 smart packaging Methods 0.000 description 1
- 239000011343 solid material Substances 0.000 description 1
- 235000011150 stannous chloride Nutrition 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- GKCNVZWZCYIBPR-UHFFFAOYSA-N sulfanylideneindium Chemical compound [In]=S GKCNVZWZCYIBPR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052713 technetium Inorganic materials 0.000 description 1
- OCGWQDWYSQAFTO-UHFFFAOYSA-N tellanylidenelead Chemical compound [Pb]=[Te] OCGWQDWYSQAFTO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 1
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 description 1
- AXZWODMDQAVCJE-UHFFFAOYSA-L tin(II) chloride (anhydrous) Chemical compound [Cl-].[Cl-].[Sn+2] AXZWODMDQAVCJE-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J tin(iv) chloride Chemical compound Cl[Sn](Cl)(Cl)Cl HPGGPRDJHPYFRM-UHFFFAOYSA-J 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052720 vanadium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- 235000005074 zinc chloride Nutrition 0.000 description 1
- 239000011592 zinc chloride Substances 0.000 description 1
- 229910052726 zirconium Inorganic materials 0.000 description 1
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Abstract
【課題】導電性透明膜を製造するため改善された方法と、導電性透明膜を含む電子又は光電子装置を提供する。【解決手段】基板上の導電性透明パターンの製造方法において、導電性材料の複数の液滴で基板を処理する工程と、液滴が基板上に交差リング構造のアレイを形成できるようにする工程と、を含む。導電性材料は、(1)1つ又は複数の金属またはその前駆体の合成物、(2)半導電材料、(3)カーボンベースの材料、(4)ナノ粒子、(5)前記(1)〜(4)の任意の混合物、から選択され、これにより基板上に導電性透明パターンを得る。【選択図】なし
Description
本発明は一般的には導電性透明膜を製造する方法と導電性透明膜を含む光電子および電子装置とに関する。
透明な導電性皮膜は、表示装置(LCD、プラズマスクリーン、タッチスクリーン、電子新聞等)、照明装置(エレクトロルミネセンス、OLED)および太陽電池など幅広い用途に使用される。これらの用途の市場は、柔軟かつ印刷可能な製品(プラスチック電子機器)へと動いているが、そうした製品に対して、透明な導電性酸化物(TCO:transparent conductive oxide)に基づく現在の技術は、対処しなければならない多くの不都合な点(例えば、製造方法の複雑さ、高コスト、多数の前駆体、および比較的低い導電率)を有している。したがって多くの努力は、最も広く用いられているスズ添加インジウム酸化物(ITO)の代替物を発見することに向けられ、それは高導電性かつ高透明性を提供するであろう。
透明な導電性皮膜を得るための代替案が開示されている。Wuら[1]は、IR領域においてITOより優れた透過特性を示す透明電極としてカーボンナノチューブの用途を実証した。Jiangら[2]はOLED装置にAl添加ZnO膜を採用し、Wangら[3]は太陽電池に極薄グラフェン膜を使用した。
別の代替案は銀線格子等の格子パターンからなる。しかしながらこのような配置ですら印刷工程における制限(分解能、基板厚さ)等のいくつかの欠点を有する。Garbarらはエミュレーションを利用した透明な導電性皮膜の形成を開示している[4]。
Deeganら[5]は、固形粒子を含むミリメートルサイズの液滴が液滴の乾燥時に基板に固定されると固形粒子がリングを形成するということを発見した。HuとLarsonは、液体の混合物の場合、マランゴニ効果(Marangoni affect)がまた極めて著しいということを実証した[6]。Sommer[7]は、液滴内の粒子に影響を与える5つの力を解析するモデルを示唆し、リング形成に関与する主要な力は粒子と基板と粒子を周辺に搬送するフラックスとの間の相互作用であると結論付けた。Perelaerら[8]およびKamyshnyら[9]は、マイクロメートルの個々のリングは、シリカ粒子の分散液またはマイクロエマルジョン液滴をインクジェット印刷することにより得られることを示した。
工業用インクジェット印刷においては、通常、一様なパターンが必要とされ、「コーヒーリング効果:coffee ring effect」は望ましくない現象であるということを強調しておかなければならない[11,12]。
1つのリングの別のリングの上への堆積はその再分散により第1のリングの破壊をもたらすということは既に報告された[5]。Perelearらは、同一の印刷パラメータ内でインクジェット印刷方法を利用し、一様な大きさの液滴としたがって一様なリングを得た[10]。Magdassiらは、銀のナノ粒子の場合、この効果はリングの縁における銀のナノ粒子の自然な密集(close packing)により高温での焼結の必要無しにミリメートルサイズのリングの導電層の形成を引き起こすことができることを開示した。[13,14]
[参考文献]
[1]Z.C.Wu,Z.Chen,X.Du,J.M.Logan,J.Sippel,M.Nikolou,K.Kamaras,J.R.Reynolds,D.B.Tanner,A.F.Hebard,and A.G.Rinzler,Science 2004,305,1273−1276.
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本発明は、導電性透明膜を製造するため改善された方法と、太陽電池などのこのような膜を内蔵する装置とを提供することを目的とする。本発明の透明導電性膜は通常、本発明のいくつかの実施形態では導電材料表面の連続体内の離間した「材料無し(material−free)」ボイド(または孔)、他の実施形態では非導電面上の導電材料からなる交差導電リングであるリング構造のアレイにより特徴付けられる。したがって本発明の膜は、以下にさらに開示されるように空の二次元材料ボイドを囲む導電材料からなる導電線のアレイによりさらに特徴付けられる。
したがって本発明の一態様では、基板上の導電性透明膜を製造する方法が提供され、本方法は、
−第1の材料により基板を被覆して、基板の表面の少なくとも1つの領域上に第1の材料の未乾燥塗膜を形成する工程と、
−接触点において膜内の第1の材料を置換することができる少なくとも1つの第2の材料により未乾燥塗膜を処理し、これにより接触点から膜材の置換と基板の露出をもたらし、膜内に離間された材料無しボイドのアレイを設ける、工程と、
−第1の材料を導電性にするために膜を随意的に処理する工程と、を含む。
−第1の材料により基板を被覆して、基板の表面の少なくとも1つの領域上に第1の材料の未乾燥塗膜を形成する工程と、
−接触点において膜内の第1の材料を置換することができる少なくとも1つの第2の材料により未乾燥塗膜を処理し、これにより接触点から膜材の置換と基板の露出をもたらし、膜内に離間された材料無しボイドのアレイを設ける、工程と、
−第1の材料を導電性にするために膜を随意的に処理する工程と、を含む。
第1の材料が導電性材料であるいくつかの実施形態では、本方法は、
−導電性材料により基板を被覆して基板の表面の少なくとも1つの領域上に導電性膜を形成する工程と、
−接触点において導電性膜内の導電性材料を置換することができる少なくとも1つの材料(導電性材料とは異なる)により導電性膜を処理し、これにより接触点から膜材の置換と基板の露出をもたらし、膜内に離間された材料無しボイドのアレイを設ける、工程と、を含む。
−導電性材料により基板を被覆して基板の表面の少なくとも1つの領域上に導電性膜を形成する工程と、
−接触点において導電性膜内の導電性材料を置換することができる少なくとも1つの材料(導電性材料とは異なる)により導電性膜を処理し、これにより接触点から膜材の置換と基板の露出をもたらし、膜内に離間された材料無しボイドのアレイを設ける、工程と、を含む。
本明細書で使用されるように、「材料無しボイド」はそれを通して基板が露出される第1または導電性の材料の膜内の空のセル(開口)である。ボイドは連続的パターンを形成する導電性材料により分離される。導電性材料は実質的には、材料無しボイド間の細い線のネットワークである。導電性透明膜において、ボイドは第1または導電性の材料が実質的に無い。ボイドについては以下にさらに特徴付けられる。
導電性透明膜(本発明の上記態様における第1の材料)は柔軟なまたは硬い基板であってよい「基板」上に生成され、基板はほぼ二次元(薄い平らな基板)または三次元の湾曲した(平らでない)表面であってよい。基板は任意の滑らかな基板であってよい。最も大まかに言えば、基板は、ガラス、紙、無機または有機半導体、高分子材料またはセラミックス表面等の固体材料の基板であってよい。その上に(第1の材料または導電性材料の)膜が形成される基板の表面物質は、その表面上に膜が生成される物体のバルクと必ずしも同じ材料でなくてもよい。
いくつかの実施形態では、基板は、シリコン、スズ、ホウ素、テルル、ゼラニウム、ガリウム、砒化ガリウム(GaAs)、燐化ガリウム(GaP)、テルル化カドミウム(CdTe)、砒化ガリウムアルミニウム(GaAlAs)、燐化インジウム(InP)、砒化燐化ガリウム(GaAsP)、硫化カドミウム(CdS)、二硫化銅インジウムガリウム(CIGS)、テルル化カドミウム水銀(HgCdTe)、および硫化またはセレン化銅インジウムの化合物を含むがそれらに限定されない無機半導電材料である。
あるいは基板は、ポリアミド、ポリエステル、ポリアクリレート、ポリオレフィン、ポリイミド、ポリカーボネートおよびポリメチルメタクリレート等の高分子材料であってもよい。
本発明によると、基板は、導電性であるかあるいは任意の方法により導電性にされ得る第1の材料によりその表面の少なくとも1つの領域が被覆され、これにより基板表面の少なくとも1つの領域上に導電性膜またはパターンを得る。本発明との関連では、膜の導電率(または抵抗)と透明度は基板の被覆された少なくとも1つの領域の境界内で測定される。
表面の少なくとも1つの領域は、基板の全表面であってもよいし、あるいは互いにまたは他方の近傍で接続されるあるいは離間されてもよい基板の1つまたは複数の領域であってもよい。領域は任意の所定の寸法または形状である必要はない。領域は所望の所定パターンの形式であってよい。
第1の材料(例えば、導電性またはその前駆体)は、所望厚さの膜を形成するように利用可能な任意の手段により基板に塗布されてもよい。材料は、インクジェットプリンタによるインクジェットにより、空気ブラシ等の噴霧器または任意の他の方法により噴霧することにより、表面にブラシをかけることにより、例えば導電性材料を含む液体キャリア内に基板を浸すことにより、ドクターブレード法、スピンおよびロールツーロール被覆により、あるいは当該技術領域で知られるような任意の他の手段により塗布されてよい。
インクジェット技術が採用される場合、材料液滴は1ピコリッタ〜10マイクロリッタの範囲であってよい。
第1の材料または導電性材料は通常、金属、遷移金属、半導体、合金、金属間材料、導電性高分子、カーボンブラック、カーボンナノチューブ(CNT)、黒鉛、グラフェン、フラーレンおよび炭素同素体等のカーボンべ−スの材料から選択される。特定の用途に依存して、導電性材料は、形成すべき混合物として基板上に堆積されるあるいは階段状に堆積される2つ以上の異なる材料の合成物であってもよい。いくつかの実施形態では、2つ以上の異なる導電性材料が複数のリング構造を形成するために基板上に堆積され、各リング構造は上に定義されたような異なる導電性材料の構造である。他の実施形態では、2つ以上の異なる導電性材料が導電性多層を形成するために階段状に堆積され、それぞれの層(膜)が複数のリング構造からなりかつ異なる材料または材料形態の層である。2つ以上の材料が単一の導電性膜の形成に採用される場合、あるいは材料の1つが他方の添加材として使用される場合、それらは等量でまたは任意の比で存在してよい。
いくつかの実施形態では、導電性材料は、元素周期表のブロックdの第IIIB、IVB、VB、VIB、VIIB、VIIIB、IB、IIB、IIIA、IVA、VA族の元素であるかあるいはそれを含む。
他の実施形態では、導電性材料は周期表のブロックdの第IIIB、IVB、VB、VIB、VIIB、VIIIB、IBおよびIIB族から選択された遷移金属であるかあるいはそれを含む。いくつかの実施形態では、遷移金属はSc、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Y、Zr、Nb、Tc、Ru、Mo、Rh、W、Au、Pt、Pd、Ag、Mn、Co、Cd、Hf、Ta、Os、Ir、Hgから選択された金属である。
他の実施形態では、導電性材料は、CuInS2とCu(InGa)S2の生成のためには酢酸インジウム(III)、塩化インジウム(III)、窒化インジウム(III)、アセチルアセトナトインジウム(III);CuFeS2の形成のためには塩化鉄(II)、塩化鉄(III)、酢酸鉄(II)、アセチルアセトナト鉄(III);CuGaS2とCu(InGa)S2の形成のためにはアセチルアセトナトガリウム(III)、塩化ガリウム(II)、塩化ガリウム(III)、窒化ガリウム(III);CuAIS2の形成のためには塩化アルミニウム(III)、ステアリン酸アルミニウム(III);AgSの形成のためには硝酸銀、塩化銀;Cu2(ZnSn)S4の形成のためにはジメチル亜鉛、ジエチル亜鉛、塩化亜鉛、塩化スズ(II)、塩化スズ(IV)、アセチルアセトナトスズ(II)、酢酸スズ(II);CdSのためには塩化カドミウム(II)、硝酸カドミウム(II)、酢酸カドミウム(II)、アセチルアセトネートカドミウム(II)、ステアリン酸カドミウム(II);PbSのためには酢酸鉛(II)、アセチルアセトネート鉛(II)、塩化鉛(II)、硝酸鉛(II)から非限定的やり方で選択される。
他の実施形態では、導電性材料は半導体材料の中から選択される。半導電材料は、第II−VI族、第III−V族、第IV−VI族、第III−VI族、第IV族半導体の元素とその合成物から選択されてもよい。
いくつかの実施形態では、半導電材料はCdSe、CdS、CdTe、ZnSe、ZnS、ZnTe、HgS、HgSe、HgTe、CdZnSeとその任意の合成物から選択された第II−VI族材料である。
他の実施形態では、第III−V族材料はInAs、InP、InN、GaN、InSb、InAsP、InGaAs、GaAs、GaP、GaSb、AlP、AlN、AlAs、AlSb、CdSeTe、ZnCdSeとその任意の合成物から選択される。
追加の実施形態では、半導電材料は第IV−VI族から選択され、その材料はPbSe、PbTe、PbS、PbSnTe、Tl2SnTe5およびその任意の合成物から選択される。
別の実施形態では、導電性材料は上記金属および/または遷移金属の合金と金属間化合物の中から選択される。このような合金の非限定的な例は、WMo、MoRh、MoRh3、Rh0.34Ru0.66、Rh0.4Ru0.6、PdRh、PdRu、MoPd2、Pd0.3Mo0.8、MoPt、Mo2Pt、PtPd、Pt0.4Ru0.6、Pt0.2Ru0.8、PtRh、WPt、AuPd、AuPt、AuRh、AuRu、AuMo、AuWである。
追加の実施形態では、導電性材料はカーボンブラック、カーボンナノチューブ(CNT)、黒鉛、グラフェン、フラーレンまたは他の炭素同素体等のカーボンべ−スの材料である。
導電性材料は代替案としてポリ(3,4−ジオクチルオキシチオフェン)(PDOT)、ポリ(3,4−エチレンダイオキシチオフェン):ポリ(スチレンスルホネート)(PDOT:PSS)、ポリアニリンおよびポリピロール等の導電性高分子材料であってよい。
本発明の他の実施形態では、導電性膜は、堆積工程では電気的に非導電性である第1の材料により基板を処理することにより得られるが、さらなる処理(例えば加熱)の後に導電性にすることもできる。非導電性材料を導電性にする後処理は、限定しないが、加熱、化学処理、プラズマ、UV、レーザーまたはマイクロ波照射、閃光ランプ(キセノン)無電解めっき、さらなる被覆、その他を含む。
例えば、銀の前駆体等の非導電性材料が基板上に堆積され、例えば加熱により孔印刷後に導電性にされてもよい。
他の実施形態では、導電性材料は粒子(例えばナノ粒子)の形式である。
導電性材料は通常、正確な供給を容易にするために塗布前に液体キャリア内に分散または溶解される。液体キャリアは水溶媒と有機溶媒から選択されてよい。
液体キャリアは特定の機能性を賦与するあるいは膜の任意の一特性を強化するための少なくとも1つの追加の材料を含んでもよく、このような機能性または特性は湿性、流性、粘着性、不純物添加性、耐引っかき性、接触およびシート抵抗、または隣接する層内への選択的拡散であってよい。このような材料はガラスフリットと無機塩類を含んでもよい。いくつかの実施形態では、ガラスフリットが、シリコンベースの光電池において知られているシリコンベースの半導体層により相互拡散性と粘着性を支援するために塗布前に導電性調合物に加えられてもよい。
導電材料(第1の材料)の膜が基板上に形成されると、導電性膜は、接触時に(所謂接触点において)膜内の導電性材料を置換して導電層内にボイド孔またはセルを空けることができる少なくとも1つの第2の材料により処理される。少なくとも1つの第2の材料は、導電性膜からの材料の最終的な置換を可能にする少なくとも1つの化学的または物理的パラメータが導電性膜の第1の材料と異なる。このようなパラメータは、材料自体のものか、あるいはそれが分散、溶解あるいは担持される溶液(溶媒)のものであってもよく、親水性、疎水性、濡れ挙動、表面張力および界面エネルギー、拡散係数、蒸着速度、粘度および他のパラメータから選択される。少なくとも1つの第2の材料(例えば液体)は、置換過程が可能になる限り未乾燥塗膜の蒸発の様々な段階で膜上に堆積されることができる。
例えば、いくつかの実施形態では、第1の材料はナノ粒子の形式の導電性材料を有する疎水性溶媒であり、導電性材料の膜の上に個々の液滴として堆積される少なくとも1つの第2の材料が水媒体中に担持される。2つの材料間の差により、水性材料はナノ粒子の未乾燥塗膜全体に広がり、界面エネルギー効果により基板に接触し、したがってナノ粒子を材料液滴の縁へ押しやりながらリングまたは孔形式の材料無しボイドを形成する。これにより最終的に、この例では、密集したナノ粒子と空の二次元ボイドからなる細線を生じる。材料ボイドの寸法は、水性液滴の大きさ、液滴と湿った分散導電性膜との競合濡れ、拡散の動力学、蒸発、粒子間相互作用により制御されてもよい。
したがっていくつかの実施形態では、導電性膜は金属ナノ粒子を含む溶媒べ−スの(非水性)材料である。
高い導電性を維持しかつ膜内の透明性を実現するために、導電層内のボイド(孔、セル)の密度は、残りの導電性材料のボイド間の幅が50マイクロメートル未満(1〜50マイクロメートル)、場合によっては最大で20マイクロメートル(1〜20マイクロメートル)となるようなものでなくてはならない。それにもかかわらず、透明膜の最終導電率はまたいくつかの他のパラメータに依存するかもしれなく、したがって最終被覆はいくつかの実施形態では高い導電性/透明度を実現するために追加処理を必要とするかもしれないということに留意されたい。このような処理は、加熱、プラズマ、UV、レーザーまたはマイクロ波照射、閃光ランプ(キセノン)無電解めっき、さらなる被覆、その他であってよい。
通常、ボイド縁の高さは10マイクロメートル未満であり、平均ボイド径は500マイクロメートル未満である。いくつかの実施形態では、ボイド径は10〜300マイクロメートル、例えば液滴の堆積のために使用される装置によっては約200マイクロメートルである。
小さなネットワークセルサイズは、高抵抗の材料(例えばアモルファスシリコンまたは有機セル)を利用する光起電力装置における低い抵抗損のためには好ましい。このような装置では、ボイドの中央からの電荷キャリアの横方向運動に関連した抵抗は通常、半導体層内のキャリアの垂直運動に関連した抵抗以下である。すなわち、小さなネットワークセルの置換キャリアの経路長は水平方向では垂直方向以下である。より大きなネットワークボイド径は実質的により大きなオーム損を発生する可能性があり、したがって通常は好ましくない。
材料無しボイドパターンを有する膜は、0.004オーム/□〜5kオーム/□、場合によっては50オーム/□未満、20オーム/□未満、7オーム/□以下のシート抵抗(ナノ粒子からなる場合、焼結後に測定される)を有する。発揮されたシート抵抗は、導体パターンを形成する導電性材料の密集に起因するかもしれないが、さらに以下に開示されるように、噴射後焼結工程(post−jetting sintering process)に起因するかもしれない。シート抵抗は、堆積されたパターンのその後の電気めっきによりさらに低下されてもよい。
本発明の透明導電膜は、電磁スペクトルの可視のNIR、IRおよび/またはUV領域の透過を必要とする装置において特に有用である。層の光透過率は、少なくとも30%、いくつかの実施形態では少なくとも50%,他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では約95%以上の光透過率である。
可視光の透過を必要とする用途については、透過は400nm〜700nmの波長範囲で測定される。
いくつかの実施形態では、本発明により製作された膜は95%の透過率と0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗により特徴付けられる。
いくつかの実施形態では、膜の抵抗率は0.5cm2にわたって4±0.5オーム/□である。
したがって、本発明はさらに、本明細書で定義されるような複数の離間した材料のリングと、該リング内にボイドを有する材料の導電性透明膜で被覆された基板を提供する。複数の離間したボイドのそれぞれの縁は10マイクロメートル未満であり、平均ボイド径は500マイクロメートル未満である。
いくつかの実施形態では、平均ボイド径は10〜300マイクロメートルである。他の実施形態では、平均ボイド径は約200〜300マイクロメートルである。ボイド間の導電性材料の幅は60マイクロメートル未満である。
導電性透明膜はさらに、以下から選択された少なくとも1つの属性を有することにより特徴付けられる。
1.50マイクロメートル未満のボイド間隔、いくつかの実施形態では最大で20マイクロメートル。
2.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、いくつかの実施形態では50オーム/□未満、別の実施形態では20オーム/□未満、さらに他の実施形態では7オーム/□以下。
3.少なくとも30%の光透過率、いくつかの実施形態では少なくとも50%;他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では少なくとも95%の透過率。
1.50マイクロメートル未満のボイド間隔、いくつかの実施形態では最大で20マイクロメートル。
2.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、いくつかの実施形態では50オーム/□未満、別の実施形態では20オーム/□未満、さらに他の実施形態では7オーム/□以下。
3.少なくとも30%の光透過率、いくつかの実施形態では少なくとも50%;他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では少なくとも95%の透過率。
いくつかの実施形態では、導電性透明膜は95%の光透過率と0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗により特徴付けられる。
他の実施形態では、導電性透明膜の抵抗率は0.5cm2にわたって4±0.5オーム/□である。
本発明はまた、本明細書で定義されるような複数の離間したボイドを有する材料の導電性透明膜で被覆された基板を提供する。複数の離間したボイドのそれぞれの縁は10マイクロメートル未満であり、平均孔径は500マイクロメートル未満であり、膜は95%の全体透過率と0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗を有する。
本発明はまた、ある材料の導電性透明膜を提供する。膜はそれぞれの縁が10マイクロメートル未満でありそれぞれの平均孔径が500マイクロメートル未満である複数の離間した材料ボイドを有する。膜は95%の全体透過率と0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗を有する。
本発明の上記態様による導電性透明膜を図1に示す。膜は、溶媒ベースの銀分散体の未乾燥塗膜(第1の材料)上に単一水溶液(第2の材料)の滴をインクジェット印刷することにより用意された。銀膜上への水性液滴の塗布により、銀溶媒分散体/基板界面の水溶液/基板界面による置換を引き起こし、空のセル、材料無しボイドを生じる。液滴の縁に移動された銀粒子は、より暗い領域、典型的にはより凝縮した一群の粒子を形成した。同様に、銀粒子の溶媒ベースの分散体の未乾燥塗膜上へ濡れ剤を含む水溶液を噴霧することにより同様の結果を実証した。この例では、材料ボイドの平均径は具体例では約238マイクロメートルと測定された。
本発明の別の態様では、基板上に導電性透明パターンを製作する方法が提供される。本方法は、導電性材料の複数の液滴で基板を処理する工程と、液滴が基板上に交差リング構造のアレイを形成できるようにする工程と、を含み、導電性材料は、(1)2つ以上の金属またはその前駆体の合成物、(2)半導電材料、(3)カーボンブラック、カーボンナノチューブ(CNT)および他の炭素同素体等のカーボンベースの材料、(4)ナノ粒子、(5)任意の混合物から、選択され、これにより基板上に導電性透明パターンを得る。
本発明のこの態様によると、導電性透明皮膜は導電性材料の自己集合(self−assembly)により得られる。自己集合は、相互接続されたマイクロメータリングのアレイの形成を可能にする。各リングの縁は、1〜10マイクロメートル(いくつかの実施形態では1〜5マイクロメートル、他の実施形態では2〜9マイクロメートル、別の実施形態では3〜9マイクロメートルまたは2〜6マイクロメートル)の幅を有し、密集したナノ粒子からなる。このような配置は高い導電率を生じる。各リングの中心は実質的に孔であり、約100〜200マイクロメートルの直径を有する。小さな寸法により、相互接続されたリングのアレイ全体は光学的に透明であり、その高導電性を維持する。
導電性アレイは、少なくとも1つの導電性材料(上に定義されたような、例えば銀)の分散体のピコリッター液滴を、上に定義したように基板上にインクジェット印刷することにより得られる。印刷後、各印刷された点は、周知の「コーヒーリング効果」によりリング内に自己集合される。機能特性、すなわち透過率と導電率とを適正に得るためのこの効果は、本発明に従って、相互接続された導電リングの二次元アレイを形成することにより利用されてもよい。アレイの作製は低コストのインクジェット印刷方法によるのが自然である。得られた導電率と透過率はlTOのものと同等である。
導電性材料を参照し上に述べたように、2つ以上のこのような材料はアレイの1つまたは複数の特性を改善するために使用されてもよい。2つ以上の導電性ナノ粒子の混合物を含む分散液を採用することにより、分離作用(図2)を得ることができる。2つのナノ粒子集団は、大きさ、保護分子、分散剤または被覆が異なってもよい。
したがって、本発明は上に定義されたような導電性透明膜で被覆された基板を提供する。上記膜は(1)2つ以上の金属またはその前駆体の合成物、(2)半導電材料、(3)カーボンブラック、カーボンナノチューブ(CNT)、他の炭素同素体等のカーボンベースの材料、(4)ナノ粒子、(5)上記の任意の混合物、から選択された導電性材料の交差リング構造のパターンを有し、各リング構造の縁は約1〜5マイクロメートルの幅を有し、各リング構造の直径は約100〜200マイクロメートルである。
上記膜は、
1.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、
2.少なくとも30%の光透過率、いくつかの実施形態では少なくとも50%、他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では少なくとも95%の透過率、から選択された少なくとも1つのパラメータによりさらに特徴付けられる。
1.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、
2.少なくとも30%の光透過率、いくつかの実施形態では少なくとも50%、他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では少なくとも95%の透過率、から選択された少なくとも1つのパラメータによりさらに特徴付けられる。
本発明は別の態様では、本発明による少なくとも1つの導電性透明膜を実装する装置を提供する。
いくつかの実施形態では、導電性透明膜は複数の離間したリングと、該リング内にボイドとを有し、複数の離間したリングのそれぞれの縁は10マイクロメートル未満であり、平均ボイド径は500マイクロメートル未満である。
いくつかの実施形態では、膜内の平均ボイド径は10〜300マイクロメートルである。他の実施形態では、膜内の平均ボイド径は約200〜300マイクロメートルである。ボイド間の導電性材料の幅は60マイクロメートル未満である。
別の実施形態では、本発明の装置において実装される膜はさらに、
1.50マイクロメートル未満のボイド間隔、いくつかの実施形態では最大で20マイクロメートル。
2.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、いくつかの実施形態では50オーム/□未満、別の実施形態では20オーム/□未満、さらに他の実施形態では7オーム/□以下。
3.少なくとも30%の光透過率、いくつかの実施形態では少なくとも50%、他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では少なくとも95%の透過率、から選択された少なくとも1つの属性を有することにより特徴付けられる。
1.50マイクロメートル未満のボイド間隔、いくつかの実施形態では最大で20マイクロメートル。
2.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、いくつかの実施形態では50オーム/□未満、別の実施形態では20オーム/□未満、さらに他の実施形態では7オーム/□以下。
3.少なくとも30%の光透過率、いくつかの実施形態では少なくとも50%、他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では少なくとも95%の透過率、から選択された少なくとも1つの属性を有することにより特徴付けられる。
いくつかの実施形態では、装置に実装される導電性透明膜は、95%の光透過率と0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗により特徴付けられる。
他の実施形態では、導電性透明膜の抵抗率は0.5cm2にわたって4±0.5オーム/□である。
本発明はまた、複数の離間したボイドを有する導電性透明膜を実装する装置を提供する。複数の離間したボイドのそれぞれの縁は10マイクロメートル未満であり、平均孔径は500マイクロメートル未満であり、膜は95%の全体透過率と0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗を有する。
本発明はまた、少なくとも1つの導電性材料の交差リング構造のパターンを有する導電性透明膜を実装する装置を提供する。
いくつかの実施形態では、導電性材料は上に定義されたものである。
他の実施形態では、導電性材料は非金属性である。
他の実施形態では、導電性材料は(1)2つ以上の金属またはその前駆体の合成物、(2)半導電材料、(3)カーボンブラック、カーボンナノチューブ(CNT)、他の炭素同素体等のカーボンベースの材料、(4)ナノ粒子、(5)上記の任意の混合物、から選択される。
別の実施形態では、導電性透明膜は装置に実装され、リング構造のそれぞれの縁は幅が約1〜5マイクロメートル、各リング構造の直径は約100〜200マイクロメートルである。
導電性透明膜はさらに、
1.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、
2.少なくとも30%の光透過率、いくつかの実施形態では少なくとも50%、他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では少なくとも95%透過率、から選択された少なくとも1つのパラメータにより特徴付けられる。
1.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、
2.少なくとも30%の光透過率、いくつかの実施形態では少なくとも50%、他の実施形態では少なくとも70%、別の実施形態では少なくとも95%透過率、から選択された少なくとも1つのパラメータにより特徴付けられる。
いくつかの実施形態では、導電性透明膜は、少なくとも2つの交差リング構造からまたは交差リング構造の少なくとも2つの積層膜から構成され、上に定義したようにリング構造は異なる導電性材料からなる。いくつかの実施形態では、少なくとも2つの交差リング構造は2つ以上の異なる導電性材料からなる。別の実施形態では、交差リング構造の少なくとも2つの層はリング構造の積層膜から構成され、各膜は異なる導電性材料であるか、あるいは異なる導電性材料のリング構造からなる。
いくつかの実施形態では、本発明の装置に実装される層は、
−第1の材料により基板を被覆して、基板の表面の少なくとも1つの領域上に第1の材料の未乾燥塗膜を形成する工程と、
−接触点において膜内の第1の材料を置換することができる少なくとも1つの第2の材料により膜を処理する工程と、
−第1の材料を導電性にするために膜を随意的に処理する工程と、を含む方法により製作される。
−第1の材料により基板を被覆して、基板の表面の少なくとも1つの領域上に第1の材料の未乾燥塗膜を形成する工程と、
−接触点において膜内の第1の材料を置換することができる少なくとも1つの第2の材料により膜を処理する工程と、
−第1の材料を導電性にするために膜を随意的に処理する工程と、を含む方法により製作される。
第1の材料が導電性材料であるいくつかの実施形態では、装置内の層は、
−導電性材料により基板を被覆して基板の表面の少なくとも1つの領域上に導電性膜を形成する工程と、
−接触点において導電性膜内に導電性材料を置換することができる少なくとも1つの材料(導電性材料とは異なる)により導電性膜を処理する工程と、を含む方法により製作される。他のいくつかの実施態様では、本発明の装置に実装される層は、導電性材料の複数の液滴で基板を処理する工程と、液滴が基板上に材料リング構造のアレイを形成できるようにする工程と、を含む方法により製作され、導電性材料は、(1)2つ以上の金属またはその前駆体の合成物、(2)半導電材料、(3)カーボンブラック、カーボンナノチューブ(CNT)、他の炭素同素体等のカーボンベースの材料、(4)ナノ粒子、(5)上記の任意の混合物、から選択される。
−導電性材料により基板を被覆して基板の表面の少なくとも1つの領域上に導電性膜を形成する工程と、
−接触点において導電性膜内に導電性材料を置換することができる少なくとも1つの材料(導電性材料とは異なる)により導電性膜を処理する工程と、を含む方法により製作される。他のいくつかの実施態様では、本発明の装置に実装される層は、導電性材料の複数の液滴で基板を処理する工程と、液滴が基板上に材料リング構造のアレイを形成できるようにする工程と、を含む方法により製作され、導電性材料は、(1)2つ以上の金属またはその前駆体の合成物、(2)半導電材料、(3)カーボンブラック、カーボンナノチューブ(CNT)、他の炭素同素体等のカーボンベースの材料、(4)ナノ粒子、(5)上記の任意の混合物、から選択される。
本発明はまた、それぞれが複数のリング構造からなる複数の膜からなる導電性透明多層を実装する装置を提供する。このような装置では、各層は異なる材料または材料形態であってもよいし、あるいは異なる材料または材料形態の複数のリング構造からなってもよい。
上記実施形態では、膜が設けられる基板は装置の一体部分であってもよいし、あるいは前述のようにその処理に続いて装置内に実装される基板であってもよい。
装置は電子装置または光電子装置であってもよい。
色素増感型太陽電池(DSSC:dye−sensitized solar cell)を含む様々な設計では、透明導電膜上の追加層がめっきにより形成されてもよい。いくつかの用途(例えばDSSC)については、金属(例えば銀)上のこのような保護層の利用が有用かもしれない。
知られているように、オプトエレクトロニクスは、光を供給、検知および制御する電子装置に関する研究であり、このような装置は電気−光学および/または光学−電気変換器であってよい。本発明により生成される導電性透明膜は導電性透明電極として採用されることができ、選択の材料としてITOを置換する。本発明により製作される膜はより高い透過率を発揮し、したがって光電子装置のより高い効率をもたらす。
本発明の透明導電膜は、電磁スペクトルの可視、UV、IR、および/またはNIR領域の透過率を必要とする例えば光伝導体、フォトダイオード、太陽電池、有機発光ダイオード、レーザーを含む発光ダイオード(LED)、光センサ、および有機トランジスタ、無機トランジスタ、またはハイブリッドトランジスタを含む特定のトランジスタを含む装置に一体化されてもよい。このような被膜を利用する他の用途は、印刷電子機器、タッチスクリーン、表示バックプレーン、大または小領域フレキシブル用途に関係する。フレキシブル用途としてはさらに、大領域アレイ、フレキシブルディスプレイ、電子新聞(電子本、ジャーナル、新聞)が挙げられる。
加えて、導電性透明膜はさらに、タグまたはRFID部品をパッケージング内に組み込むようなスマートパッケージングにおいてだけでなく、低コストまたは使い捨てセンサまたは光学装置を含む、ヘルスケア、セキュリティまたは安全関連用途の監視または検出装置において有用性を見出せるかもしれない。さらに本技術は、スマートウィンドウなどのビルディング用途において、あるいは半導体装置の一部として機能する特殊被膜およびペイントにおいて、採用されることができる。
いくつかの実施形態では、光電子装置は光起電力太陽電池である。
本発明の方法により生成される透明導電膜は、次のように一体化されてもよい。
1.正面電極としてシリコン(単結晶または多結晶)べ−スの太陽電池内に。この場合、加熱工程が、限定するものではないが例えばガラスフリットなどの好適な浸透促進剤の有無にかかわらず必要かもしれない。
2.他の薄膜下の透明電極として。薄膜は、ここで提示されたリングのアレイ上にCVD(化学気相蒸着)、PVD(圧力蒸着)、電気めっき、超音波ノズル等の手段により堆積される半導電材料からなってもよい。このような方法により堆積される最も一般的な材料は、CdTe、CIGS(銅インジウムガリウムセレン化物:cupper Indium Galium Sellenide)、アモルファスシリコン、マイクロモルファスシリコン(micromorphus silicon)である。
3.透明電極として有機太陽電池内に。これらの装置では、有機半導体(例えば、銅フタロシアニン、カーボンフラーレン他)が例えば本発明により得られる透明導電膜と底面電極(例えばMg、Ca、Al)との間にはさまれる。
4.光子が貫通して色素に達し励起状態を生成できるようにする色素増感型太陽電池(DSSC)内の電極として。このタイプのセルでは、このとき、前部と後部は電解液が漏れるのを防止するように互に結合および密閉され、相互接続されたリングは両側からの透明電極として機能することができる。
1.正面電極としてシリコン(単結晶または多結晶)べ−スの太陽電池内に。この場合、加熱工程が、限定するものではないが例えばガラスフリットなどの好適な浸透促進剤の有無にかかわらず必要かもしれない。
2.他の薄膜下の透明電極として。薄膜は、ここで提示されたリングのアレイ上にCVD(化学気相蒸着)、PVD(圧力蒸着)、電気めっき、超音波ノズル等の手段により堆積される半導電材料からなってもよい。このような方法により堆積される最も一般的な材料は、CdTe、CIGS(銅インジウムガリウムセレン化物:cupper Indium Galium Sellenide)、アモルファスシリコン、マイクロモルファスシリコン(micromorphus silicon)である。
3.透明電極として有機太陽電池内に。これらの装置では、有機半導体(例えば、銅フタロシアニン、カーボンフラーレン他)が例えば本発明により得られる透明導電膜と底面電極(例えばMg、Ca、Al)との間にはさまれる。
4.光子が貫通して色素に達し励起状態を生成できるようにする色素増感型太陽電池(DSSC)内の電極として。このタイプのセルでは、このとき、前部と後部は電解液が漏れるのを防止するように互に結合および密閉され、相互接続されたリングは両側からの透明電極として機能することができる。
導電リングまたは孔同士を接続した導体パターンからなり、本発明により生成される透明電極はまた、光透過率を維持する一方でITOより低い抵抗率を有してもよい。より低い抵抗率は、例えば太陽電池における光パワーから電気パワーへの変換ではより低い電力損失をもたらすことができる。さらに、透明電極のリングパターンの幾何形状は、より高い透過率により従来の銀格子の幾何形状より有利である。スクリーン印刷された格子の線幅は通常、本発明の透明電極(のアレイを形成するリングの線幅10マイクロメートル程度)との比較ではかなり大きい(100マイクロメートル)。低減された線幅はより大きな透過率を可能にする。
さらに、従来のスクリーン印刷された銀電極は、解像限界のために格子パターンの線を密接に印刷することができないので、コンダクタンス目的のためには貧弱な幾何形状を有する傾向がある。例えば太陽電池の場合、より遠くに離間された格子線のために、光生成電荷キャリアはより高い抵抗率領域(そしてより大きなキャリア再結合機会を有する)を通ってより長い距離を伝搬しなければならず、より大きな電力損失をもたらす。薄い太陽電池では、本発明の実施形態のいくつかで述べたように、非接触法により導体パターンを形成する際に大きな利点がある。
本発明において使用される透明電極の製作方法はまた、電磁遮蔽(EMS:electromagnetic shielding)を形成するために使用することができる。
本発明を理解するとともにそれがどのように実際に実行され得るかを見るために、次に、実施形態について添付図面を参照し単に非限定的な例として説明する。
本発明の方法により提供される透明な導体パターンは、ITO等の広く利用される透明な導電性酸化物のより良好な代替案であり、太陽電池等の光電子装置において利用されることができる。新しい透明な導電性皮膜は、相互接続リングの2Dアレイまたは孔の2Dアレイを形成することにより実現され、リングの縁と孔同士間の空間は金属ナノ粒子等の導電材料からなる。制御可能な直径(例えば約150マイクロメートルの直径)を有する「孔」を囲む個々のリングの縁は50マイクロメートル未満の幅、300nm未満の高さを有し、したがって相互接続されたリングのアレイ全体は肉眼では見えない。金属材料の場合、リングの縁は、個々のリングと結果として得られるアレイとを導電性にする自己集合し密集したナノ粒子からなる。
孔のアレイの形成は、金属ナノ粒子の場合には二次元の空のセルの周囲の所定の狭いパターン内に自己集合することを含む管理された濡れに基づく。溶解導電性高分子の場合には、導電材料は縁(リング形成の場合)にあるいは空きスペースの間(孔の形成の場合)に集中する。
金属(または半導体)粒子を印刷することにより得られる新しい透明な導電性皮膜の性能は、プラスチックエレクトロルミネッセント装置上の透明電極としてそれを使用しつつ実証され、プラスチック電子機器内へのこの概念の適用可能性を実証した。このような透明な導電性皮膜は、ディスプレイ(LCD、プラズマクリーン、タッチスクリーン、電子新聞)、照明装置(エレクトロルミネセンス、OLED)および太陽電池等の広範囲の用途に使用されることができる。
実施例1:印刷孔
ドローダウン(draw down)による溶媒ベースの銀インク(分散銀のナノ粒子を有する溶媒)によりスライドガラスが被覆された。溶媒の完全蒸発前に、水溶液はインクジェット印刷(MicroFab(60um幅ノズル))により被膜上に印刷された。溶液は0.05%の濡れ剤(BYK348)を含んだ。印刷された液滴は、印刷領域において銀インクのはじき(de−wetting、)すなわち孔(導電材料を含まない領域)の形成)をもたらした。孔を有する領域は、導電率を得るために必要に応じてさらに処理されることができる。例えば、導電材料が銀のナノ粒子である場合、基板を高温であるいは他の化学的な手段により焼結させることができる。
ドローダウン(draw down)による溶媒ベースの銀インク(分散銀のナノ粒子を有する溶媒)によりスライドガラスが被覆された。溶媒の完全蒸発前に、水溶液はインクジェット印刷(MicroFab(60um幅ノズル))により被膜上に印刷された。溶液は0.05%の濡れ剤(BYK348)を含んだ。印刷された液滴は、印刷領域において銀インクのはじき(de−wetting、)すなわち孔(導電材料を含まない領域)の形成)をもたらした。孔を有する領域は、導電率を得るために必要に応じてさらに処理されることができる。例えば、導電材料が銀のナノ粒子である場合、基板を高温であるいは他の化学的な手段により焼結させることができる。
実施例2:単一リング
約150マイクロメートルの直径を有する単一リングは、単一ノズル印字ヘッドによりポリエチレンテレフタラート(PET)基板上に銀インク(別記のように用意された[14])をインクジェットすることにより得られた。
約150マイクロメートルの直径を有する単一リングは、単一ノズル印字ヘッドによりポリエチレンテレフタラート(PET)基板上に銀インク(別記のように用意された[14])をインクジェットすることにより得られた。
銀インク:5〜20nmの直径を有する、0.5wt%の分散銀のナノ粒子を含む水性インクはポリアクリル酸により安定化された。
インクの表面張力はByk(登録商標)348(BykCheime)の使用により30mN/mに調整された。pHはアミノメチルプロパノールを使用して10に設定された。
印刷:分散体の印刷は、60マイクロメートル幅の単一ノズルを有するMicrofab(登録商標)JetDrive(商標) IIIプリンタにより行なわれた。すべての印刷実験の印加波形形式は、電圧110V、立ち上がり時間3マイクロ秒、エコー時間15マイクロ秒、滞留時間30マイクロ秒、立ち下がり時間5マイクロ秒であった。予想通り、電圧は増加し(20Vの最小電圧から)、液滴サイズは同様に増加し、したがってリング直径を増加させた。110Vを越えるさらなる増加は装置制限のために試験されなかった。滞留時間もまた、最大40マイクロ秒(各変化では、エコー時間は滞留時間の値の2倍であった)の値まで5マイクロ秒ステップで増加されたが、これもまた液滴とリング径を増加させた。滞留時間と電圧の変化は端プロフィールに影響を与えなく、端プロフィールは放物線形状のままであった。基板の移動はDMC−21x3XY表(Galil Motion Control,Inc.)により行なわれた。
基板温度はペルティエヒーター/クーラーにより30℃に設定され、印刷室内の湿度は30−40%RHだった。
分散体の波形、表面張力および金属負荷を変えることにより行なわれた予備的印刷試験は、個々の液滴の蒸発中に円形リングが形成されたということを示した。図3Aに示すように、リング径は約150マイクロメートルであり、金属粒子の大部分はリングの縁に集中された。SEM評価(図3Bと図3C)は、縁が、密集した銀のナノ粒子からなることを示す。表面形状測定装置測定(図3D)は、ナノ粒子のこの層の高さが約250nmであることを示す。図4に示すように、リング形成方法は多数の液滴に対し繰り返すことができ、一方、形成されたリングは寸法と形状が非常に類似している。
リングからなる導電性アレイを得るためには、各リングは導電性でなければならない。したがって第1段階では、個々のリングの抵抗率測定は好適なマスクを介したAu/Cr二重層の蒸着により得られた微小電極にリングを接続することにより行なわれた。
プラスチック基板を加熱することなく低抵抗率を実現するために、HCl蒸気に晒されるとナノ粒子の表面電荷中和により粒子の密集を起こす方法[15]が採用された。このような個々のリングの抵抗率(測定された抵抗とリング断面積と長さから計算される)は、4.3(±0.7)×10−7オーム・mだった。これはバルク銀のものより7倍大きいだけである。この値は少なくとも3か月間一定のままだった。
銀リングの構造的コンダクタンス特性へのさらなる洞察は、図5A〜図5Cに示すC−AFMデータにより与えられる。地形図的3D画像(図5A)は、400nmの最大高さと約7umの幅を有する連続線を示す。対応する2D電流マップ(図5C)と画像(図5B)は、線が全く導電性であることを示す。たとえリングの小領域が走査されてもリングのこの領域が導電性であるという事実がさらに大きな範囲(少なくともAu/Cr対向電極までの距離)にわたる電気的連続性を証明するということを強調しなければならない。
実施例3:2つの異なる金属からなるリング
2つの異なる集団の銀と銅NPが混合され、Ag(10nm程度)とCu(100nm程度)が水中に分散された。この均質の分散体の1uL液滴がSi基板上に分注された。水の蒸発後、2mm程度の直径を有する単一リングが形成された。リング周辺のHR−SEM特性評価は、縁が2つの別個の縁からなり(図2)、各縁が主として1つのタイプの金属NPからなり、より大きな粒子(Cu)は外側の縁にあり、内側の縁は主としてより小さな粒子(Ag)からなるということを明らかにした。したがってこの手法は、異なる材料上に構成されるリングの形成を可能にする。
2つの異なる集団の銀と銅NPが混合され、Ag(10nm程度)とCu(100nm程度)が水中に分散された。この均質の分散体の1uL液滴がSi基板上に分注された。水の蒸発後、2mm程度の直径を有する単一リングが形成された。リング周辺のHR−SEM特性評価は、縁が2つの別個の縁からなり(図2)、各縁が主として1つのタイプの金属NPからなり、より大きな粒子(Cu)は外側の縁にあり、内側の縁は主としてより小さな粒子(Ag)からなるということを明らかにした。したがってこの手法は、異なる材料上に構成されるリングの形成を可能にする。
実施例4:接続リングの鎖
実施例2に説明したような印刷された互いに重なる印刷リングからなる鎖は、リング間に所定の空間を有するリングの第1の前方方向線を印刷し、続いて、2つの線間の適切な距離調整によりリングの後方方向の第2の線を印刷することにより得られた。鎖形成方法の最適化は、ジェット周波数(35Hz)と基板移動(10000マイクロメートル/s)を調整することにより実現された。このような鎖の一部を図6A〜図6Cに示す。
実施例2に説明したような印刷された互いに重なる印刷リングからなる鎖は、リング間に所定の空間を有するリングの第1の前方方向線を印刷し、続いて、2つの線間の適切な距離調整によりリングの後方方向の第2の線を印刷することにより得られた。鎖形成方法の最適化は、ジェット周波数(35Hz)と基板移動(10000マイクロメートル/s)を調整することにより実現された。このような鎖の一部を図6A〜図6Cに示す。
1つのリングの別のリングの上への堆積はその再分散により第1のリングの破壊に至ることが既に報告されていた[5]ということに留意されたい。しかしながらインク中の銀のナノ粒子の濃度、行印刷間の遅延、基板温度等の様々なインクおよび印刷パラメータを調整することにより、銀粒子の密集が、乾燥中に、事前堆積されたリングの再分散の可能性を克服できるようにして実現された。リングの位置決めを制御することにより、リング間の微細な接触により連続鎖が形成された(図6Bと図6C)。実際、(C−AFMによる)同じ領域の地形図的AFM画像(図7A)と電流マップ画像(図7B)との比較により、リング間の接合が幾何学的に連続的であるということだけでなく高い電気的接続性を有するということも明らかになった。
4〜20個の接続リングからなる様々な鎖に対して行なわれた抵抗測定は(平均)抵抗率が5.1(±0.5)10−7オーム・mであるということを明らかにした。これは(実施例2で説明した)個々のリングの抵抗率に近く、さらにリング間の接合の高品質を実証している。この抵抗率は室温で少なくとも3か月間一定だった。この抵抗率は通常は10−6オーム・mの範囲であるITOにより得られたものよりさらに低いということに留意されたい。
実施例5:2Dアレイ
このようなリングの二次元(2D)アレイは、線間の一定距離を保ちながら多数の線に対し鎖形成手順を繰り返すことにより形成された。図8Aと図8Bに示すように、接続された鎖からなる2Dアレイを得ることができた。アレイは実際には、主として直径が約150マイクロメートルの孔(各リングの内側部分)からなり、孔は各孔の周囲に位置する約5マイクロメートル幅の細線により接続される。このような2Dアレイ(0.5cm2のサンプル領域)のシート抵抗は、非常に低く4±0.5オーム/□であった。定性的撓み実験は、これらの値が約20°未満の角度で基板を撓めた後でさえ一定のままであったことを示すということに留意されたい。これは、本アレイは可撓性が必要な用途に好適かもしれないということを示す。比較のために、80%を越える透過率を有するITO薄膜の典型的なシート抵抗はさらに大きく20〜100オーム/□の範囲である。
このようなリングの二次元(2D)アレイは、線間の一定距離を保ちながら多数の線に対し鎖形成手順を繰り返すことにより形成された。図8Aと図8Bに示すように、接続された鎖からなる2Dアレイを得ることができた。アレイは実際には、主として直径が約150マイクロメートルの孔(各リングの内側部分)からなり、孔は各孔の周囲に位置する約5マイクロメートル幅の細線により接続される。このような2Dアレイ(0.5cm2のサンプル領域)のシート抵抗は、非常に低く4±0.5オーム/□であった。定性的撓み実験は、これらの値が約20°未満の角度で基板を撓めた後でさえ一定のままであったことを示すということに留意されたい。これは、本アレイは可撓性が必要な用途に好適かもしれないということを示す。比較のために、80%を越える透過率を有するITO薄膜の典型的なシート抵抗はさらに大きく20〜100オーム/□の範囲である。
理解されるように、5マイクロメートルの線は肉眼にはほぼ見えなく、したがって2Dパターンはほぼ透明である。定量的には、400〜800nmにおいて分光光度計により測定された透過率は95(±3)%Tと高かった。
実施例6:エレクトロルミネッセント装置
さらに透明な導電性酸化物の置き換えとしてこれらのリングパターンを試験するために、これらの導電性アレイはエレクトロルミネッセント装置内の透明電極として評価された。装置は、従来のスクリーン印刷によりZnSとBaTiO3の層を堆積し、その後第2の銀電極を堆積することにより、透明リングアレイの上に作製された。図9Aに実証されるように、2mm×1cmの装置に対して、印刷されたリングアレイは全く導電性かつ透明である。図9Bに示すように、リングが接続された領域内では、装置による一様な光放出(放出の減衰長は約20umと見積もられた)が存在する。
さらに透明な導電性酸化物の置き換えとしてこれらのリングパターンを試験するために、これらの導電性アレイはエレクトロルミネッセント装置内の透明電極として評価された。装置は、従来のスクリーン印刷によりZnSとBaTiO3の層を堆積し、その後第2の銀電極を堆積することにより、透明リングアレイの上に作製された。図9Aに実証されるように、2mm×1cmの装置に対して、印刷されたリングアレイは全く導電性かつ透明である。図9Bに示すように、リングが接続された領域内では、装置による一様な光放出(放出の減衰長は約20umと見積もられた)が存在する。
Claims (11)
- 基板上の導電性透明パターンの製造方法において、
導電性材料の複数の液滴で基板を処理する工程と、
前記液滴が前記基板上に交差リング構造のアレイを形成できるようにする工程と、を含み、
前記導電性材料は(1)1つまたは複数の金属またはその前駆体の合成物、(2)半導電材料、(3)カーボンベースの材料、(4)ナノ粒子、(5)前記のものの任意の混合物から選択され、これにより前記基板上に導電性透明パターンを得る、ことを特徴とする方法。 - 請求項1に記載の方法において、前記導電性透明パターンは前記導電性材料の自己集合により得られることを特徴とする方法。
- 導電性透明膜で被覆された基板において、
前記膜は(1)1つまたは複数の金属またはその前駆体の合成物、(2)半導電材料、(3)カーボンベースの材料、(4)ナノ粒子、(5)前記ものの任意の混合物から選択された導電性材料の交差リング構造のパターンを有し
各リング構造の縁は約1〜5マイクロメートルの幅を有し、
各リング構造の直径は約100〜200マイクロメートルである、ことを特徴とする基板。 - 請求項3に記載の基板において、
前記膜は、
a.0.004オーム/□〜5kオーム/□のシート抵抗、
b.少なくとも30%の光透過率、の少なくとも1つにより特徴付けられることを特徴とする基板。 - 少なくとも1つの導電性材料の交差リング構造のパターンを有する導電性透明膜を実装することを特徴とする装置。
- 請求項5に記載の装置において、前記導電性材料は金属、遷移金属、半導体、合金、金属間材料、導電性高分子、カーボンベースの材料から選択されることを特徴とする装置。
- 請求項5に記載の装置において、前記導電性材料は遷移金属であるかあるいはそれを含むことを特徴とする装置。
- 導電性透明多層を実装する装置において、
前記多層は複数の膜からなり、
前記多層の各膜は複数のリング構造からなり、異なる材料または材料形態の膜である、ことを特徴とする装置。 - 請求項8に記載の装置において、前記装置は電子装置または光電子装置であることを特徴とする装置。
- 光伝導体、フォトダイオード、太陽電池、発光ダイオード(LED)、有機発光ダイオード、レーザー、光センサ、トランジスタ、有機トランジスタ、無機トランジスタ、ハイブリッドトランジスタ、タッチスクリーン、ディスプレイバックプレーン、大面積ディスプレイアレイ、フレキシブルディスプレイ、電磁干渉(EMI)遮蔽層および電子新聞から選択されることを特徴とする請求項9に記載の装置。
- 請求項10に記載の装置において、前記光電子装置は光起電力太陽電池であることを特徴とする装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US25713909P | 2009-11-02 | 2009-11-02 | |
US61/257,139 | 2009-11-02 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012536014A Division JP2013531861A (ja) | 2009-11-02 | 2010-11-02 | 光電子および電子装置のための透明な導電性皮膜 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015146310A true JP2015146310A (ja) | 2015-08-13 |
Family
ID=43827776
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012536014A Pending JP2013531861A (ja) | 2009-11-02 | 2010-11-02 | 光電子および電子装置のための透明な導電性皮膜 |
JP2015016775A Pending JP2015146310A (ja) | 2009-11-02 | 2015-01-30 | 光電子および電子装置のための透明な導電性皮膜 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012536014A Pending JP2013531861A (ja) | 2009-11-02 | 2010-11-02 | 光電子および電子装置のための透明な導電性皮膜 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US9107275B2 (ja) |
EP (1) | EP2496661B1 (ja) |
JP (2) | JP2013531861A (ja) |
KR (1) | KR20120104565A (ja) |
CN (1) | CN102714903B (ja) |
WO (1) | WO2011051952A2 (ja) |
Families Citing this family (35)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
LT2456918T (lt) | 2009-07-22 | 2016-10-10 | Hampidjan Hf | Būdas gaminti nuleidimo lyną su spiralės formos paviršiumi, skirtą pelaginiams tralams |
US8933906B2 (en) | 2011-02-02 | 2015-01-13 | 3M Innovative Properties Company | Patterned substrates with non-linear conductor traces |
KR101846434B1 (ko) | 2011-06-10 | 2018-04-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 장치 |
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DE102012201688A1 (de) * | 2012-02-06 | 2013-08-08 | Robert Bosch Gmbh | Solarzelle und Verfahren zu deren Herstellung |
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GB201310854D0 (en) | 2013-06-18 | 2013-07-31 | Isis Innovation | Photoactive layer production process |
JP6536401B2 (ja) * | 2013-07-10 | 2019-07-03 | コニカミノルタ株式会社 | 塗膜形成方法、透明導電膜付き基材、デバイス及び電子機器 |
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KR20170008291A (ko) | 2014-05-20 | 2017-01-23 | 알파 메탈즈, 인코포레이티드 | 태양 전지 및 반도체 제작을 위한 분사가능한 잉크 |
KR101779738B1 (ko) | 2014-06-25 | 2017-09-18 | 코니카 미놀타 가부시키가이샤 | 패턴 형성 방법, 투명 도전막을 구비한 기재, 디바이스 및 전자 기기 |
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KR20170073656A (ko) | 2014-10-21 | 2017-06-28 | 오렐테크 엘티디. | 패터닝된 금속 박막을 기판 상에 형성하기 위한 잉크 조성물 |
KR102290310B1 (ko) * | 2014-11-14 | 2021-08-13 | 삼성전자주식회사 | 전도성 박막 |
KR102266615B1 (ko) | 2014-11-17 | 2021-06-21 | 삼성전자주식회사 | 전계 효과 트랜지스터를 포함하는 반도체 소자 및 그 제조 방법 |
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-
2010
- 2010-11-02 US US13/503,772 patent/US9107275B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2010-11-02 CN CN201080060244.9A patent/CN102714903B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2010-11-02 WO PCT/IL2010/000909 patent/WO2011051952A2/en active Application Filing
- 2010-11-02 KR KR20127014346A patent/KR20120104565A/ko not_active Application Discontinuation
- 2010-11-02 JP JP2012536014A patent/JP2013531861A/ja active Pending
- 2010-11-02 EP EP10790862.6A patent/EP2496661B1/en not_active Not-in-force
-
2015
- 2015-01-30 JP JP2015016775A patent/JP2015146310A/ja active Pending
- 2015-07-06 US US14/792,092 patent/US9807848B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN102714903A (zh) | 2012-10-03 |
KR20120104565A (ko) | 2012-09-21 |
US20120204950A1 (en) | 2012-08-16 |
EP2496661A2 (en) | 2012-09-12 |
US9107275B2 (en) | 2015-08-11 |
JP2013531861A (ja) | 2013-08-08 |
EP2496661B1 (en) | 2018-07-11 |
CN102714903B (zh) | 2016-08-10 |
WO2011051952A3 (en) | 2011-06-23 |
WO2011051952A2 (en) | 2011-05-05 |
US20150357511A1 (en) | 2015-12-10 |
US9807848B2 (en) | 2017-10-31 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160121 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160223 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20160509 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20161004 |