JP2015143668A - 硬さ試験機および硬さ試験方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】試料を所定の形状および大きさにカットする必要がなく、製品に組み込み済みの部品の表面などに対し、硬さ試験を実施すること。
【解決手段】硬さの試験対象の表面に圧子を押圧することにより硬さ試験を実施する硬さ試験機1において、圧子を有する硬さ試験部10と、硬さ試験部10を保持して試験対象に対する所定の位置に移動し、試験対象の表面に圧子を一方向から押圧する試験力を受ける保持部20と、を有する構成とする。
【選択図】図1
【解決手段】硬さの試験対象の表面に圧子を押圧することにより硬さ試験を実施する硬さ試験機1において、圧子を有する硬さ試験部10と、硬さ試験部10を保持して試験対象に対する所定の位置に移動し、試験対象の表面に圧子を一方向から押圧する試験力を受ける保持部20と、を有する構成とする。
【選択図】図1
Description
本発明は、硬さ試験機および硬さ試験方法に関する。
試料等の硬さを試験する装置として、ロックウェル硬さ試験装置がある(たとえば、特開平11−183352号公報)。
従来のロックウェル硬さ試験装置は、必ず試料を上下から挟んで硬さ試験を実施する必要がある。このため、試料は、ロックウェル硬さ試験装置の所定の位置に載置が可能な所定の形状および大きさにカットする必要がある。
一方で、製品に組み込み済みの部品の表面の硬さを試験したいという要望があるが、従来のロックウェル硬さ試験装置は、このような要望には応えることができない。
本発明は、硬さの試験対象を所定の形状および大きさにカットする必要がなく、製品に組み込み済みの部品の表面などに対し、硬さ試験を実施することができるロックウェル硬さ試験装置および試験方法を提供することを目的とする。
本発明は、硬さの試験対象の表面に圧子を押圧することにより硬さ試験を実施する硬さ試験機において、圧子を有する硬さ試験部と、硬さ試験部を保持して試験対象に対する所定の位置に移動し、試験対象の表面に圧子を一方向から押圧する試験力を受ける保持部と、を有するものである。
たとえば、硬さ試験部は、圧子に力を加えることにより測定対象の表面に圧子を押し込む押圧手段と、圧子により試験対象の表面に加える初試験力を基準値から任意に変えて設定可能とする初試験力設定手段と、押圧手段により圧子が試験対象の表面に押し込まれた進入深さを検出する深さ検出手段と、深さ検出手段により検出した前後2回の初試験力における圧子の進入深さの差からロックウェル硬さ演算式に基づき試験対象の硬さを求める硬さ演算手段と、硬さ演算手段により求めた試験硬さについて、初試験力を基準値から変えたことによる硬さのずれを補正する補正手段と、を有することができる。
本発明の他の観点は、硬さ試験方法としての観点である。
本発明は、硬さの試験対象の表面に圧子を押圧することにより硬さ試験を実施する硬さ試験方法において、圧子を有する硬さ試験部を保持する保持部が硬さ試験部を保持して試験対象に対する所定の位置に移動し、試験対象の表面に圧子を一方向から押圧するステップを有するものである。
たとえば、硬さ試験部が実行する処理は、圧子に力を加えることにより試験対象の表面に圧子を押し込む押圧ステップと、圧子により試験対象の表面に加える初試験力を基準値から任意に変えて設定可能とする初試験力設定ステップと、押圧ステップの処理により圧子が試験対象の表面に押し込まれた進入深さを検出する深さ検出ステップと、深さ検出ステップの処理により検出した前後2回の初試験力における圧子の進入深さの差からロックウェル硬さ演算式に基づき試験対象の硬さを求める硬さ演算ステップと、硬さ演算ステップの処理により求めた試験硬さについて、初試験力を基準値から変えたことによる硬さのずれを補正する補正ステップと、を有することができる。
本発明によれば、硬さの試験対象を所定の形状および大きさにカットする必要がなく、製品に組み込み済みの部品の表面などに対し、硬さ試験を実施することができる。
本発明の実施の形態に係る硬さ試験機1について、図1〜図3を参照しながら説明する。
硬さ試験機1は、図1に示すように、硬さ試験部10と保持部20とで構成される。硬さ試験機10は、たとえば、ロックウェル硬さ試験機である。保持部20は、たとえば、移動可能なロボットであり、硬さ試験機10を保持するためのアーム部21と、硬さ試験をユーザが所望する場所で実施するための移動台座部22とを有する。保持部20が硬さ試験部10を保持する力は、たとえば、硬さ試験部10が後述するロックウェル硬さ試験を実施するのに十分な保持力である。また、移動台座部22は、手動または自走により移動が可能であり、硬さ試験部10を測定対象30の設置位置まで移動させることができる。
硬さ試験部10は、図2に示すように、押圧部11と、初試験力設定部12と、深さ検出部13と、硬さ演算部14と、補正部15と、接触検出部16と、制御部17と、を有する。さらに、押圧部11には、圧子18を有し、接触検出部16には、接触子19を有する。
押圧部11は、圧子18に力を加えることにより試験対象30の表面に圧子18を押し込むための駆動部(不図示)を有する。不図示の駆動部は、たとえば、モータの力で圧子18を押圧部11から試験対象30に向かって移動させる機構を有する。
初試験力設定部12は、圧子18により試験対象30の表面に加える初試験力を基準値から任意に変えて設定可能とする。
深さ検出部13は、押圧部11により圧子18が試験対象30の表面に押し込まれた進入深さを検出する。
硬さ演算部14は、深さ検出部13により検出した前後2回の初試験力における圧子18の進入深さの差からロックウェル硬さ演算式に基づき試験対象30の硬さを求める。
補正部15は、硬さ演算部14により求めた試験硬さについて、初試験力を基準値から変えたことによる硬さのずれを補正する。
接触検出部16は、硬さ試験部10が試験対象30の表面に対して適切な位置に設置されたか否かを判定するために、接触子19が試験対象30に接触したか否かを検出する。
制御部17は、押圧部11、深さ検出部13、硬さ演算部14、補正部15、および接触検出部16と信号を送受信することにより、硬さ試験部10の制御を行う。
圧子18は、ロックウェル硬さ試験に適合する圧子である。
接触子19は、単に、その先端部が測定対象30の表面に接触したか否かが分かればよいので、どのような材質であってもよい。たとえば、接触子19の材質は、試験対象30の表面を傷付けないためにプラスチック製などとすることができる。
このように、硬さ試験機1は、圧子18を有する硬さ試験部10と、硬さ試験部10を保持して試験対象30に対する所定の位置に移動し、試験対象30の表面に圧子18を一方向から押圧する試験力を受ける保持部20と、を有することにより、硬さの試験対象30を所定の形状および大きさにカットする必要がなく、製品に組み込み済みの部品の表面などに対し、硬さ試験を実施することができる。
このとき、硬さ試験部10は、圧子18に力を加えることにより試験対象30の表面に圧子18を押し込む押圧部11と、圧子18により試験対象30の表面に加える初試験力を基準値から任意に変えて設定可能とする初試験力設定部12と、押圧部11により圧子18が試験対象30の表面に押し込まれた進入深さを検出する深さ検出部13と、深さ検出部13により検出した前後2回の初試験力における圧子18の進入深さの差からロックウェル硬さ演算式に基づき試験対象30の硬さを求める硬さ演算部14と、硬さ演算部14により求めた試験硬さについて、初試験力を基準値から変えたことによる硬さのずれを補正する補正部15と、を有することにより、たとえば、試験対象30の表面に、酸化鉄等の被膜が形成されている場合でも圧子18を被膜を突き破って試験対象30の表面まで圧子18を到達させてから硬さ試験を実施することができる。
これによれば、試験対象30の表面から被膜を除去する作業を省略することができるので、たとえば、製品に組み込み済みの部品の表面などに対し、硬さ試験を実施することができる。
次に、制御部17の動作を図3のフローチャートを参照しながら説明する。図3のフローチャートにおけるSTARTの条件は、硬さ試験機1の電源がON状態という条件である。硬さ試験機1の電源がON状態であれば、処理は、ステップS1に進む。
ステップS1において、制御部17は、初試験力設定部12に対し、初試験力が設定されたか否かを判定する。ステップS1において、初試験力が設定されたと判定されると、処理は、ステップS2に進む。一方、ステップS1において、初試験力が未設定であると判定されると、処理は、ステップS1を繰り返す。
ステップS2において、制御部17は、接触検出部16の検出結果に基づいて、硬さ試験部10が試験対象30の表面に接触したか否かを判定する。ステップS2において、硬さ試験部10が試験対象30の表面に接触したと判定されると、処理は、ステップS3に進む。一方、ステップS2において、硬さ試験部10が試験対象30の表面に接触していないと判定されると、処理は、ステップS2を繰り返す。
ステップS3において、制御部17は、押圧部11を駆動して圧子18を試験対象30に押圧を開始し、処理は、ステップS4に進む。
ステップS4において、制御部17は、圧子18の押圧力は、初試験力に達したか否かを判定する。ステップS4において、圧子18の押圧力は、初試験力に達したと判定されると、処理は、ステップS5に進む。一方、ステップS4において、圧子18の押圧力は、初試験力に達していないと判定されると、処理は、ステップS4を繰り返す。
ステップS5において、制御部17は、押圧部11を駆動し、追加試験力を加え、処理は、ステップS6に進む。
ステップS6において、制御部17は、圧子18の押圧力は、追加試験力に達したか否かを判定する。ステップS6において、圧子18の押圧力は、追加試験力に達したと判定されると、処理は、ステップS7に進む。一方、ステップS6において、圧子18の押圧力は、追加試験力に達していないと判定されると、処理は、ステップS6を繰り返す。
ステップS7において、制御部17は、押圧部11を駆動し、圧子18の押圧力を初試験力に戻し、処理は、ステップS8に進む。
ステップS8において、制御部17は、深さ検出部13に、ステップS4およびステップS7における前後2回の初試験力における圧子18の進入深さの差を検出するように指示し、処理は、ステップS9に進む。
ステップS9において、制御部17は、硬さ演算部14に対し、深さ検出部13の検出結果に基づいて、ロックウェル硬さを演算するように指示し、処理は、ステップS10に進む。
ステップS10において、制御部17は、補正部15に対し、設定した初試験力と所定の初試験力との差に起因する硬さのずれを補正するように指示し、処理は、ステップS11に進む。
ステップS11において、制御部17は、補正部15に対し、硬さのずれを補正した硬さ値を出力するように指示し、処理を終了する(END)。
以上説明したように、硬さ試験機1は、硬さの試験対象30の表面に圧子18を押圧することにより硬さ試験を実施する際に、圧子18を有する硬さ試験部10を保持する保持部20が硬さ試験部10を保持して試験対象30に対する所定の位置に移動し、試験対象30の表面に圧子18を一方向から押圧する(図3のステップS2,S3)。
これによれば、試験対象30を上下から挟み込む必要がなく、試験対象30が、たとえば、既に製品に組み込まれた状態であっても硬さ試験部10の圧子18が接触可能な位置にあれば、試験対象30の硬さを試験することができる。
このとき、硬さ試験部10は、圧子18に力を加えることにより試験対象30の表面に圧子18を押し込むのに先立って、圧子18により試験対象30の表面に加える初試験力を基準値から任意に変えて設定可能とする(ステップS1)。
これによれば、たとえば、試験対象30の表面に、酸化鉄等の被膜が生成されている場合でもこの被膜を突き破った位置まで圧子18を押圧し、その上で、試験対象30の内部の硬さを試験することができる。よって、試験対象30の表面の酸化鉄等の被膜を除去できない場合であっても試験対象30の内部の硬さを試験することができる。これにより、たとえば、既に製品に組み込まれた部品であり、酸化鉄等の被膜の除去作業が不可能な試験対象30に対して硬さ試験を実施することができる。
さらに、圧子18が試験対象30の表面に押し込まれた進入深さを検出し(ステップS8)、検出した前後2回の初試験力における圧子18の進入深さの差からロックウェル硬さ演算式に基づき試験対象30の硬さを求め(ステップS9)、求めた試験硬さについて、初試験力を基準値から変えたことによる硬さのずれを補正することで(ステップS10)、初試験力を基準値から任意に変えて設定したにも係らず正確な硬さ値を出力することができる(ステップS11)。
なお、初試験力を基準値から変えたことによる硬さのずれを補正するには、補正値が必要になるが、この補正値は、たとえば、予め硬さが分かっている複数の基準片について、初試験力を基準値から変えて、その硬さを求めておき、初試験力毎に得られた基準片の硬さ試験結果から補正値を求めることができる。
次に、酸化鉄等の被膜の除去作業が不可能な試験対象30に対して硬さ試験を実施する方法について、さらに詳細に説明する。
図4に示すように、圧子18および接触子19が試験対象30の被膜31に接触した時点で、硬さ試験が開始される(図3のステップS2でYes)。また、これに先立って、圧子18が被膜31を突き破って本体32に到達することができる初試験力が押圧部11に設定される(図3のステップS1)。なお、ここで設定される初試験力の値は、圧子18が被膜31を突き破るのに十分な値が設定される。この値は、被膜31の成分が分かっているので、予め知り得る値である。
図5に示すように、圧子18が被膜31を突き破って本体32の深さd1に到達する(図3のステップS4でYes)。
図6に示すように、圧子18が本体32の深さd1に達している状態から追加試験力を加えることで(図3のステップS5)、圧子18は、本体32に深さd2に到達する(図3のステップS6のYes)。
ここで、押圧部11が押圧力を初試験力に戻すと(図3のステップS7)、深さ検出部13は、圧子18が深さd2から深さd1まで移動した距離を検出することで、圧子18の進入深さを検出することができる。
これにより、硬さ演算部14は、本体32のロックウェル硬さを演算することができ(図3のステップS9)、補正部15は、初試験力が基準値から変更されたことに対する補正を行い(図3のステップS10)、補正後の硬さ値を出力することができる(図3のステップS11)。
このようにして、硬さ試験装置1は、試験対象30を挟み込む必要がなく、また、試験対象30の表面に形成された被膜31を除去する必要がないため、硬さの試験対象30を所定の形状および大きさにカットする必要がなく、製品に組み込み済みの部品の表面などに対し、硬さ試験を実施することができる。
また、図2に示す硬さ試験部10のブロック構成の中で、初試験力設定部12の一部、深さ検出部13の一部、硬さ演算部14、補正部15、接触検出部16の一部、および制御部17は、情報処理装置が予めインストールされている所定のプログラムを実行することによって実現することができる。このような情報処理装置は、たとえば、メモリ、CPU(Central Processing Unit)、入出力ポートなどを有する。情報処理装置のCPUは、メモリなどから所定のプログラムとして制御プログラムを読み込んで実行する。これにより、情報処理装置には、初試験力設定部12の一部、深さ検出部13の一部、硬さ演算部14、補正部15、接触検出部16の一部、および制御部17の機能が実現される。なお、CPUの代わりにASIC(Application Specific Integrated Circuit)、マイクロプロセッサ(マイクロコンピュータ)、DSP(Digital Signal Processor)などを用いてもよい。
また、上述の所定のプログラムは、硬さ試験部10の出荷前に、情報処理装置のメモリなどに記憶されたものであっても、硬さ試験部10の出荷後に、情報処理装置のメモリなどに記憶されたものであってもよい。また、プログラムの一部が、硬さ試験部10の出荷後に、情報処理装置のメモリなどに記憶されたものであってもよい。硬さ試験部10の出荷後に、情報処理装置のメモリなどに記憶されるプログラムは、例えば、CD−ROMなどのコンピュータ読取可能な記録媒体に記憶されているものをインストールしたものであっても、インターネットなどの伝送媒体を介してダウンロードしたものをインストールしたものであってもよい。
また、上述の所定のプログラムは、情報処理装置によって直接実行可能なものだけでなく、ハードディスクなどにインストールすることによって実行可能となるものも含む。また、圧縮されたり、暗号化されたりしたものも含む。
このように、情報処理装置とプログラムによって初試験力設定部12の一部、深さ検出部13の一部、硬さ演算部14、補正部15、接触検出部16の一部、および制御部17を実現することにより、大量生産や仕様変更(または設計変更)に対して柔軟に対応可能となる。
なお、情報処理装置が実行するプログラムは、本明細書で説明する順序に沿って時系列に処理が行われるプログラムであってもよいし、並列に、あるいは呼び出しが行われたとき等の必要なタイミングで処理が行われるプログラムであってもよい。
このような、情報処理装置は、初試験力設定部12の一部、深さ検出部13の一部、硬さ演算部14、補正部15、接触検出部16の一部、および制御部17の各ブロック毎に1つずつ備えてもよいし、これらの各ブロックを1つの情報処理装置によって実現してもよい。
1…硬さ試験機、10…硬さ試験部、11…押圧部、12…初試験力設定部、13…深さ検出部、14…硬さ演算部、15…補正部、16…接触検出部、17…制御部、18…圧子、19…接触子、20…保持部、21…アーム部、22…移動台座部、30…試験対象
Claims (4)
- 硬さの試験対象の表面に圧子を押圧することにより硬さ試験を実施する硬さ試験機において、
前記圧子を有する硬さ試験部と、
前記硬さ試験部を保持して前記試験対象に対する所定の位置に移動し、前記試験対象の表面に前記圧子を一方向から押圧する試験力を受ける保持部と、
を有する、
ことを特徴とする硬さ試験機。 - 請求項1記載の硬さ試験機において、
前記硬さ試験部は、
前記圧子に力を加えることにより前記試験対象の表面に前記圧子を押し込む押圧手段と、
前記圧子により前記試験対象の表面に加える初試験力を基準値から任意に変えて設定可能とする初試験力設定手段と、
前記押圧手段により前記圧子が前記試験対象の表面に押し込まれた進入深さを検出する深さ検出手段と、
前記深さ検出手段により検出した前後2回の初試験力における前記圧子の進入深さの差からロックウェル硬さ演算式に基づき前記試験対象の硬さを求める硬さ演算手段と、
前記硬さ演算手段により求めた試験硬さについて、初試験力を基準値から変えたことによる硬さのずれを補正する補正手段と、
を有する、
ことを特徴とする硬さ試験機。 - 硬さの試験対象の表面に圧子を押圧することにより硬さ試験を実施する硬さ試験方法において、
前記圧子を有する硬さ試験部を保持する保持部が前記硬さ試験部を保持して前記試験対象に対する所定の位置に移動し、前記試験対象の表面に前記圧子を一方向から押圧するステップを有する、
ことを特徴とする硬さ試験方法。 - 請求項3記載の硬さ試験方法において、
前記硬さ試験部が実行する処理は、
前記圧子に力を加えることにより前記試験対象の表面に前記圧子を押し込む押圧ステップと、
前記圧子により前記試験対象の表面に加える初試験力を基準値から任意に変えて設定可能とする初試験力設定ステップと、
前記押圧ステップの処理により前記圧子が前記試験対象の表面に押し込まれた進入深さを検出する深さ検出ステップと、
前記深さ検出ステップの処理により検出した前後2回の初試験力における前記圧子の進入深さの差からロックウェル硬さ演算式に基づき前記試験対象の硬さを求める硬さ演算ステップと、
前記硬さ演算ステップの処理により求めた試験硬さについて、初試験力を基準値から変えたことによる硬さのずれを補正する補正ステップと、
を有する、
ことを特徴とする硬さ試験方法。
Priority Applications (1)
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---|---|---|---|
JP2014017462A JP2015143668A (ja) | 2014-01-31 | 2014-01-31 | 硬さ試験機および硬さ試験方法 |
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JP2014017462A JP2015143668A (ja) | 2014-01-31 | 2014-01-31 | 硬さ試験機および硬さ試験方法 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017164426A3 (ja) * | 2017-02-11 | 2017-11-16 | 新光電子株式会社 | 押込み試験装置 |
US10969317B2 (en) | 2018-08-14 | 2021-04-06 | X Development Llc | Hardness testing system using multiple depth measurements and related methods |
-
2014
- 2014-01-31 JP JP2014017462A patent/JP2015143668A/ja active Pending
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US10969317B2 (en) | 2018-08-14 | 2021-04-06 | X Development Llc | Hardness testing system using multiple depth measurements and related methods |
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