JP2015141666A - 不揮発メモリ検査方法およびその装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 不揮発メモリの検査方法において、不揮発メモリ3にデータを書き込む時に算出した第1の誤り検出値と、不揮発メモリ3に書き込まれた前記データから算出した第2の誤り検出値との比較を行い、不揮発メモリ3のデータが書き込まれた使用領域のデータを検査し、不揮発メモリ3のデータが書き込まれていない空き領域が不揮発メモリ3の消去値であるか否かの比較を行うものである。
【選択図】 図2
Description
2 機器
3 不揮発メモリ
4 表示部
5 記憶部
6 制御部
11 表示部
12 メモリ
13 大容量記憶部
14 制御部
Claims (4)
- 不揮発メモリの検査方法において、前記不揮発メモリのデータが書き込まれていない空き領域が前記不揮発メモリの消去値であるか否かの比較を行うことを特徴とする不揮発メモリの検査方法。
- 不揮発メモリの検査方法において、前記不揮発メモリにデータを書き込む時に算出した第1の誤り検出値と、前記不揮発メモリに書き込まれた前記データから算出した第2の誤り検出値との比較を行い、前記不揮発メモリのデータが書き込まれた使用領域のデータを検査し、前記不揮発メモリのデータが書き込まれていない空き領域が前記不揮発メモリの消去値であるか否かの比較を行うことを特徴とする不揮発メモリの検査方法。
- 前記不揮発メモリのデータが書き込まれていない空き領域に対して、前記不揮発メモリの消去値であるか否かの比較を行う制御部を備えたことを特徴とする不揮発メモリの検査装置。
- 不揮発メモリにデータを書き込む時に第1の誤り検出値を算出し、前記不揮発メモリに書き込まれた前記データから第2の誤り検出値を算出し、前記第1の誤り検出値と前記第2の誤り検出値とを比較し、前記不揮発メモリのデータが書き込まれた使用領域のデータを検査するとともに、前記不揮発メモリのデータが書き込まれていない空き領域に対して、前記不揮発メモリの消去値であるか否かの比較を行う制御部を備えたことを特徴とする不揮発メモリの検査装置。
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-
2014
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