JP2015140205A - Transportation carrier - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、電子部品を収容して搬送する搬送キャリアに関する。 The present invention relates to a transport carrier that houses and transports electronic components.
近年、圧電振動子などの電子部品の小型化が進み、表面実装可能なチップ状の電子部品が多くなっている。このような電子部品は非常に小さいため、製造過程においては一般に、金属製の搬送キャリアの収容部に電子部品を収容し、この搬送キャリアを搬送することにより、複数の電子部品を各製造工程の間でまとめて搬送するようにしている。また、製造工程によっては、電子部品を搬送キャリアに収容した状態のままで、シーム溶接などの各種加工や電気的な検査が行われる(例えば、特許文献1参照)。 In recent years, electronic components such as piezoelectric vibrators have been miniaturized, and the number of chip-shaped electronic components that can be surface-mounted has increased. Since such an electronic component is very small, generally in the manufacturing process, an electronic component is accommodated in a receiving portion of a metal conveyance carrier, and a plurality of electronic components are manufactured in each manufacturing process by conveying the conveyance carrier. They are transported in bulk. Further, depending on the manufacturing process, various processes such as seam welding and electrical inspection are performed while the electronic component is housed in the carrier (see, for example, Patent Document 1).
図10(A)に示されるように、搬送キャリア100の収容部101には、四隅に4つの孔102が形成されている。これら4つの孔102は、電子部品XA1の四隅に設けられた4つの電極YA1を露呈させる。これにより、検査時に、各電極YA1にプローブを接触させることができる。
As shown in FIG. 10A, the
ところで、電子部品の種類によっては、両脇に一対の電極を有する電子部品がある。このような電子部品を搬送する場合には、図10(B)に示される搬送キャリア200を用いることが想定される。搬送キャリア200の収容部201には、両脇に2つの孔202aが形成されている。これら2つの孔202aは、電子部品XA1の両脇に設けられた一対の電極YA1を露呈させる。これにより、検査時に、各電極YA1にプローブを接触させることができる。
By the way, depending on the type of electronic component, there is an electronic component having a pair of electrodes on both sides. When transporting such an electronic component, it is assumed that a
図10(B)に示されるように、搬送キャリア200の収容部201に形成された両脇の孔202aが大きい場合には、シーム溶接を行う際に、収容部201に収容した電子部品XA1がガタついて安定しない。一方、図10(C)に示されるように、搬送キャリア200の収容部201に形成された両脇の孔202bが小さい場合には、電子部品XA1の電極YA1が搬送キャリア200に接触して検査することができない。
As shown in FIG. 10 (B), when the
本発明は、上記課題を鑑みてなされたものであり、電子部品を安定させると共に、電子部品の電気的な検査を可能とする搬送キャリアを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a transport carrier that stabilizes an electronic component and enables electrical inspection of the electronic component.
本発明者の鋭意研究により、上記目的は以下の手段によって達成される。 The above-mentioned object is achieved by the following means based on the earnest research of the present inventors.
(1)本発明は、厚み方向に貫通する複数の第1開口が形成され、該複数の第1開口に、対の電極を有する複数の電子部品が1つずつ該対の電極を下方にして嵌め込まれる平板状の上板と、前記上板の下に直接的に又は間接的に接合される平板状の金属製の板であって、前記複数の第1開口に連続する各々の位置に、該第1開口に嵌め込まれた前記電子部品を下方から支持する支持面を構成し、該支持面を構成する各々の位置に、厚み方向に貫通して前記対の電極の各々を露呈させる孔が形成された下板と、を備え、前記支持面は、少なくとも前記対の電極と接触する領域又は前記対の電極の周囲の領域が絶縁体からなることを特徴とする、搬送キャリアである。 (1) In the present invention, a plurality of first openings penetrating in the thickness direction are formed, and a plurality of electronic components having a pair of electrodes are placed one by one in the plurality of first openings. A flat plate-like upper plate to be fitted, and a flat plate-like metal plate joined directly or indirectly under the upper plate, each at a position continuing to the plurality of first openings, A support surface for supporting the electronic component fitted in the first opening from below is configured, and a hole that penetrates in the thickness direction and exposes each of the pair of electrodes is formed at each position of the support surface. A carrier plate, wherein the support surface has at least a region in contact with the pair of electrodes or a region around the pair of electrodes made of an insulator.
本発明によれば、電極を露呈させる孔を小さくすることができる。これにより、電子部品がガタつくことを防止できる。すなわち、電子部品を安定させることができる。そして、電極と接触する領域が絶縁体からなるので、電極が、搬送キャリアの金属部分と接触することがない。これにより、電気的な検査を可能としている。 According to the present invention, the hole exposing the electrode can be made small. Thereby, it can prevent that an electronic component rattles. That is, the electronic component can be stabilized. And since the area | region which contacts an electrode consists of insulators, an electrode does not contact the metal part of a conveyance carrier. Thereby, electrical inspection is possible.
(2)本発明はまた、前記絶縁体は、前記下板の上面に形成された窪みの中に、該絶縁体の表面が該下板の該上面よりも低くなるように、又は、該絶縁体の表面が該下板の該上面と略面一となるように配置されることを特徴とする、上記(1)に記載の搬送キャリアである。 (2) In the present invention, it is also preferable that the insulator has a recess formed in the upper surface of the lower plate so that the surface of the insulator is lower than the upper surface of the lower plate, or The carrier according to (1) above, wherein the body surface is disposed so as to be substantially flush with the upper surface of the lower plate.
上記発明によれば、絶縁体の表面が下板の上面から飛び出すことがないので、下板と、その上の上板などと、の接合状態が不安定になることが防止される。結果、電子部品を更に安定させることができる。 According to the above invention, since the surface of the insulator does not protrude from the upper surface of the lower plate, it is possible to prevent the bonding state between the lower plate and the upper plate on the lower plate from becoming unstable. As a result, the electronic component can be further stabilized.
(3)本発明はまた、前記上板及び前記下板の間に直接的に又は間接的に接合される平板状の板であって、前記複数の第1開口に連続する各々の位置に、該第1開口に連続して前記電子部品が嵌め込まれる第2開口が1つずつ形成された中板を備え、前記中板は、複数の前記第2開口の各々の内側に、該第2開口に嵌め込まれた前記電子部品を付勢して挟持する弾性部材を備えることを特徴とする、上記(1)又は(2)に記載の搬送キャリアである。 (3) The present invention is also a flat plate joined directly or indirectly between the upper plate and the lower plate, and the first plate is disposed at each position continuous to the plurality of first openings. An intermediate plate is provided in which each of the second openings into which the electronic component is continuously inserted is formed in one opening, and the intermediate plate is fitted into the second opening inside each of the plurality of second openings. The carrier according to (1) or (2) above, further comprising an elastic member that biases and holds the electronic component.
上記発明によれば、弾性部材が電子部品を挟持するので、当該電子部品を更に安定させることができる。 According to the above invention, since the elastic member sandwiches the electronic component, the electronic component can be further stabilized.
本発明の上記(1)〜(3)のいずれかに記載の搬送キャリアによれば、電子部品を安定させると共に、電子部品の電気的な検査を可能とするという優れた効果を奏し得る。 According to the carrier according to any one of (1) to (3) of the present invention, the electronic component can be stabilized and an excellent effect of enabling an electrical inspection of the electronic component can be achieved.
以下、図面を参照して本発明の実施の形態の例について詳細に説明する。 Hereinafter, an example of an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
まず、図1及び図2を用いて、搬送キャリア1の構成について説明する。図1(A)は、搬送キャリア1の平面図である。図1(B)は、搬送キャリア1の正面図である。図1(C)は、搬送キャリア1の部分拡大平面図である。図2は、搬送キャリア1の部分拡大断面図である。なお、各図において、一部の構成の図示を適宜省略して、図面を簡略化している。 First, the configuration of the transport carrier 1 will be described with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1A is a plan view of the transport carrier 1. FIG. 1B is a front view of the transport carrier 1. FIG. 1C is a partially enlarged plan view of the transport carrier 1. FIG. 2 is a partially enlarged sectional view of the transport carrier 1. In each drawing, illustration of some components is omitted as appropriate, and the drawings are simplified.
図1及び図2に示される搬送キャリア1は、窪みである複数の収容部2を有する略長方形状で厚み1.5mmの平板であり、複数の収容部2に電子部品XA1を1つずつ収容して搬送するものである。具体的に、搬送キャリア1は、上板10と、中板20と、スペーサー30と、下板40と、第1の補強板50と、2枚の第2補強板60と、を上から順番に積層した構造を呈している。各板10,20,30,40,50の接合は、レーザースポット溶接によって行われる。各板40,50,60の溶接は、熱圧着によって行われる。
The transport carrier 1 shown in FIGS. 1 and 2 is a flat plate having a substantially rectangular shape and a thickness of 1.5 mm having a plurality of
本実施形態では、長方形状の電子部品XA1を搬送することを想定して、各収容部2を長方形状に構成している。また、収容部2は、10×16のマトリクス状に配置されている。これにより、搬送キャリア1は、最大160個の電子部品XA1を一度に搬送することが可能となっている。
In the present embodiment, assuming that the rectangular electronic component XA1 is transported, each
各収容部2の内側には、収容された電子部品XA1を付勢して挟持する弾性部材22の一部が突出している。そして、各収容部2の近傍には、操作孔12が設けられている。この操作孔12には、治具などが挿入される。操作孔12に挿入した治具を移動させることで、弾性部材22が操作される。
A part of the
収容部2の底面は、絶縁体3(図1(C)においてハッチングで図示)で構成されている。この収容部2の底面には、一対の検査孔4が両脇に設けられている。すなわち、絶縁体3の広がりは、検査孔4の中心から捉えた場合、検査孔4の広がりよりも大きい。結果、絶縁体3は、電子部品XA1の電極YA1がキャリア1の金属部分に直接接触することを防止する。検査孔4は、収容部2に収容された電子部品XA1の電極YA1を露呈させる。検査孔4には、電気的な検査を行う際にプローブ(図示省略)が挿入される。
The bottom surface of the
搬送キャリア1の長手方向の両端には、位置決め孔5が設けられている。この位置決め孔5は、搬送キャリア1の位置を決定する際に用いられる。なお、搬送キャリア1の位置の決定は、電子部品XA1を収容部2に収容する際や、収容部2に収容された電子部品XA1に加工などの処理を施す際になどに行われる。そして、搬送キャリア1の長手方向の一端には、矩形状の切欠き6が設けられている。さらに、搬送キャリア1の四隅には、組立用孔7が設けられている。組立用孔7は、搬送キャリア1を製造する際に、各板10,20,30,40,50,60の位置決めに用いられる。
Positioning holes 5 are provided at both ends in the longitudinal direction of the transport carrier 1. The
次に、各板10,20,30,40,50,60の個別の構成について説明する。図3(A)は、上板10の平面図である。図3(B)は、上板10の部分拡大平面図である。図4(A)は、中板20の平面図である。図4(B)は、中板20の部分拡大平面図である。図5(A)は、スペーサー30の平面図である。図5(B)は、スペーサー30の部分拡大平面図である。図6(A)は、下板40の平面図である。図6(B)は、下板40の部分拡大平面図である。図7(A)は、第1の補強板50の平面図である。図7(B)は、第1の補強板50の部分拡大平面図である。図8(A)は、第2の補強板60の平面図である。図8(B)は、第2の補強板60の部分拡大平面図である。
Next, the individual configuration of each
図3(A)及び図3(B)に示される上板10は、金属(例えばステンレス)からなる厚み0.1mmの平板である。この上板10は、複数の第1開口11と、これら複数の第1開口11の脇に1つずつ形成された複数の操作孔12と、位置決め孔5(図1(A)参照)を構成する複数の孔13と、切欠き6(図1(A)参照)を構成する切欠き14と、組立用孔7(図1(A)参照)を構成する複数の孔15と、を備えている。これら複数の第1開口11、複数の操作孔12、複数の孔13及び複数の孔15は、それぞれ、エッチングにより、厚み方向に貫通するように形成される。複数の第1開口11は、それぞれ、中板20の第2開口21(図4(B)参照)、スペーサー30の第3開口31(図5(B)参照)及び下板40の支持面41a(図2参照)と共に収容部2(図1(A)、図1(C)及び図2参照)を構成する。これら複数の第1開口11には、それぞれ、電子部品XA1が対の電極YA1を下方にして嵌め込まれる。
The
図4(A)及び図4(B)に示される中板20は、金属(例えばステンレス)からなる厚み0.15mmの平板であり、上板10及び下板40の間に直接的に又は間接的に接合される。本実施形態において、中板20は、上板10及びスペーサー30の間に接合される。この中板20は、上板10の複数の第1開口11に連続する各々の位置に1つずつ形成された複数の第2開口21と、これら複数の第2開口21の内側に1つずつ形成されて、当該第2開口に嵌め込まれた電子部品XA1を付勢して挟持する複数の弾性部材22と、位置決め孔5(図1(A)参照)を構成する複数の孔23と、切欠き6(図1(A)参照)を構成する切欠き24と、組立用孔7(図1(A)参照)を構成する複数の孔25と、を備えている。これら複数の第2開口21、複数の孔23及び複数の孔25は、それぞれ、エッチングにより、厚み方向に貫通するように形成される。複数の第2開口21は、それぞれ、上板10の第1開口11(図3(B)参照)、スペーサー30の第3開口31(図5(B)参照)及び下板40の支持面41a(図2参照)と共に収容部2(図1(A)、図1(C)及び図2参照)を構成する。これら複数の第2開口21には、それぞれ、上板10の第1開口11(図3(A)及び図3(B)参照)に連続して電子部品XA1が嵌め込まれる。
The
図5(A)及び図5(B)に示されるスペーサー30は、金属(例えばステンレス)からなる厚み0.05mmの平板であり、中板20及び下板40の間に接合される。このスペーサー30は、中板20の複数の第2開口21に連続する各々の位置に1つずつ形成された複数の第3開口31と、位置決め孔5(図1(A)参照)を構成する複数の孔33と、切欠き6(図1(A)参照)を構成する切欠き34と、組立用孔7(図1(A)参照)を構成する複数の孔35と、を備えている。これら複数の第3開口31、複数の孔33及び複数の孔35は、それぞれ、エッチングにより、厚み方向に貫通するように形成される。複数の第3開口31は、それぞれ、上板10の第1開口11(図3(B)参照)、中板20の第2開口21及び下板40の支持面41a(図2参照)と共に収容部2(図1(A)、図1(C)及び図2参照)を構成する。これら複数の第3開口31には、それぞれ、中板20の第2開口21(図4(A)及び図4(B)参照)に連続して電子部品XA1が嵌め込まれる。
The
図6(A)及び図6(B)に示される下板40は、金属(例えばステンレス)からなる厚み0.3mmの平板であり、上板10の下に直接的に又は間接的に接合される。本実施形態において、下板40は、スペーサー30及び第1の補強板50の間に接合される。この下板40は、スペーサー30の複数の第3開口31に連続する各々の位置に1つずつ形成された複数の窪み41と、これら複数の窪み41に1対ずつ形成された複数対の孔42と、複数の窪み41の脇に1つずつ形成された複数の孔46と、位置決め孔5(図1(A)参照)を構成する複数の孔43と、切欠き6(図1(A)参照)を構成する切欠き44と、組立用孔7(図1(A)参照)を構成する複数の孔45と、を備えている。複数の窪み41は、それぞれ、エッチングにより、下板40の上面を窪ませるように形成される。
The
各窪み41の中には、下板40の上面から飛び出さないように絶縁体3(例えばポリイミド、テフロン(登録商標)、セラミック塗装、セラミック材など)が配置される。具体的に、絶縁体3は、当該絶縁体3の表面が下板40の上面よりも低くなるように、又は、当該絶縁体3の表面が下板40の上面と略面一となるように配置される。すなわち、絶縁体3は、窪み41の深さt41≧絶縁体3の厚みt42の関係が保たれるように配置される。このような絶縁体3は、上板10の第1開口11に嵌め込まれた電子部品XA1を下方から支持する支持面41aを構成する。すなわち、支持面41aは、少なくとも対の電極YA1と接触する領域が絶縁体3からなる。そして、複数対の孔42、複数の孔46、複数の孔43及び複数の孔45は、それぞれ、エッチングにより、厚み方向に貫通するように形成される。複数対の孔42は、支持面41aを構成する各々の位置に、厚み方向に貫通して対の電極YA1の各々を部分的に露呈させる。すなわち、これら複数対の孔42は、それぞれ、第1の補強板50の孔51(図7(A)及び図7(B)参照)及び第2補強板60の孔61(図8(A)及び図8(B)参照)と共に検査孔4(図1(C)及び図2参照)を構成する。これら複数対の孔42には、それぞれ、第1の補強板50の孔51(図7(A)及び図7(B)参照)に連続してプローブ(図示省略)が挿入される。
In each
図7(A)及び図7(B)に示される第1の補強板50は、金属(例えばステンレス)からなる厚み0.3mmの平板であり、下板40の下に直接的に又は間接的に接合される。本実施形態において、第1の補強板50は、下板40及び第2の補強板60の間に接合される。この第1の補強板50は、下板40の複数対の孔42に連続する各々の位置に形成された複数対の孔51と、これら複数対の孔51の脇に1つずつ形成された複数の孔52と、位置決め孔5(図1(A)参照)を構成する複数の孔53と、切欠き6(図1(A)参照)を構成する切欠き54と、組立用孔7(図1(A)参照)を構成する複数の孔55と、を備えている。複数対の孔51は、それぞれ、下板40の孔42(図6(B)参照)及び第2の補強板60の孔61(図8(A)及び図8(B)参照)と共に検査孔4(図1(C)及び図2参照)を構成する。これら複数対の孔51には、それぞれ、第2の補強板60の孔61(図8(A)及び図8(B)参照)に連続してプローブ(図示省略)が挿入される。
The first reinforcing
図8(A)及び図8(B)に示される第2の補強板60は、金属(例えばステンレス)からなる厚み0.3mmの平板であり、下板40の下に直接的に又は間接的に接合される。本実施形態において、1枚目の第2の補強板60は、第1の補強板50及び2枚目の第2の補強板60の間に接合される。2枚目の第2の補強板60は、1枚目の第2の補強板60の下に接合される。これら第2の補強板60は、第1の補強板50における複数対の孔51及び複数の孔52に連続する各々の位置に形成された複数の孔61と、位置決め孔5(図1(A)参照)を構成する複数の孔63と、切欠き6(図1(A)参照)を構成する切欠き64と、組立用孔7(図1(A)参照)を構成する複数の孔65と、を備えている。複数の孔61は、それぞれ、下板40の孔42(図6(B)参照)及び第1の補強板50の孔51(図7(A)及び図7(B)参照)と共に検査孔4(図1(C)及び図2参照)を構成する。これら複数の孔61には、それぞれ、プローブ(図示省略)が挿入される。
The second reinforcing
以上説明したように、搬送キャリア1によれば、電極YA1を露呈させる検査孔4を小さくすることができる。これにより、電子部品XA1がガタつくことを防止できる。すなわち、電子部品XA1を安定させることができる。そして、電極YA1と接触する領域が絶縁体3からなるので、電極YA1が、搬送キャリア1の金属部分と接触することがない。これにより、電気的な検査を可能としている。
As described above, according to the transport carrier 1, the
そして、絶縁体3の表面が下板40の上面から飛び出すことがないので、下板40と、その上のスペーサー30と、の接合状態が不安定になることが防止される。結果、電子部品XA1を更に安定させることができる。
And since the surface of the insulator 3 does not jump out from the upper surface of the
また、弾性部材22が電子部品XA1を挟持するので、当該電子部品XA1を更に安定させることができる。
Further, since the
本発明は、上記実施形態に限られるものではなく、その趣旨及び技術思想を逸脱しない範囲で種々の変形が可能である。すなわち、上記実施形態において、各構成の位置、大きさ、長さ、形状、材質、向き、数量、温度などは適宜変更できる。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit and technical idea thereof. That is, in the above embodiment, the position, size, length, shape, material, orientation, quantity, temperature, and the like of each component can be changed as appropriate.
あるいは、上記実施形態では、支持面41aにおける少なくとも対の電極YA1と接触する領域が絶縁体3からなるが、これは、電極YA1が検査孔4よりも大きく必ず支持面41aに接触するからである。すなわち、本発明において、電極YA1が検査孔4よりも小さい場合には、支持面41aにおける対の電極YA1の周囲の領域が絶縁体3からなることになる。
Or in the said embodiment, although the area | region which contacts at least a pair of electrode YA1 in the
あるいは、上記実施形態において、絶縁体3は、支持面41aを構成するように配置することに加えて、検査孔4の内周面に配置するようにしてもよい。
Or in the said embodiment, in addition to arrange | positioning so that the
あるいは、上記実施形態では、搬送キャリア1の各収容部2の底面には、一対の円形の検査孔4が両脇に設けられているが、本発明における検査孔の位置、大きさ、形状はこれに限定されるものではない。
Alternatively, in the above embodiment, a pair of circular inspection holes 4 are provided on both sides on the bottom surface of each
次に、図9を用いて、別の形態の搬送キャリア70,80,90の構成を説明する。図9(A)、図9(B)及び図9(C)は、別の形態の搬送キャリア70,80,90の部分拡大平面図である。
Next, the configuration of another form of
図9(A)に示される搬送キャリア70の収容部71の底面には、一対の四角い検査孔72が、外周縁に接触するように両脇に設けられている。
A pair of square inspection holes 72 are provided on both sides so as to contact the outer peripheral edge on the bottom surface of the
図9(B)に示される搬送キャリア80の収容部81の底面には、一対の四角い検査孔82が、外周縁の図面における左右に接触しないように、かつ、外周縁の図面における上下に接触するように両脇に設けられている。
A pair of square inspection holes 82 do not come into contact with the left and right in the drawing of the outer peripheral edge and contact the upper and lower sides in the drawing of the outer peripheral edge on the bottom surface of the
図9(C)に示される搬送キャリア90の収容部91の底面には、一対の四角い検査孔92が、外周縁の図面における左右及び下側に接触するように、かつ、外周縁の図面における上側に接触しないように両脇に設けられている。
A pair of square inspection holes 92 are in contact with the left and right and lower sides in the drawing of the outer peripheral edge on the bottom surface of the
本発明の搬送キャリアは、電子部品(電子機器を含む。)の製造又は物流の分野において利用することができる。 The transport carrier of the present invention can be used in the field of manufacturing electronic components (including electronic devices) or physical distribution.
1,70,80,90 搬送キャリア
3 絶縁体
4,72,82,92 検査孔(孔)
10 上板
11 第1開口
20 中板
22 弾性部材
40 下板
41 窪み
41a 支持面
1,70,80,90 Transport carrier 3
10
Claims (3)
前記上板の下に直接的に又は間接的に接合される平板状の金属製の板であって、前記複数の第1開口に連続する各々の位置に、該第1開口に嵌め込まれた前記電子部品を下方から支持する支持面を構成し、該支持面を構成する各々の位置に、厚み方向に貫通して前記対の電極の各々を露呈させる孔が形成された下板と、を備え、
前記支持面は、少なくとも前記対の電極と接触する領域又は前記対の電極の周囲の領域が絶縁体からなることを特徴とする、
搬送キャリア。 A plurality of first openings penetrating in the thickness direction are formed, and a plurality of electronic components having a pair of electrodes are fitted into the plurality of first openings one by one with the pair of electrodes facing downward, respectively. When,
A flat plate-like metal plate joined directly or indirectly under the upper plate, and fitted in the first opening at each position continuous to the plurality of first openings. Comprising a support surface for supporting the electronic component from below, and a lower plate in which holes are formed in each of the positions constituting the support surface to expose each of the pair of electrodes in the thickness direction. ,
The support surface is characterized in that at least a region in contact with the pair of electrodes or a region around the pair of electrodes is made of an insulator.
Transport carrier.
請求項1に記載の搬送キャリア。 The insulator is placed in a recess formed on the upper surface of the lower plate so that the surface of the insulator is lower than the upper surface of the lower plate, or the surface of the insulator is on the lower plate. It is arranged to be substantially flush with the upper surface,
The carrier according to claim 1.
前記中板は、複数の前記第2開口の各々の内側に、該第2開口に嵌め込まれた前記電子部品を付勢して挟持する弾性部材を備えることを特徴とする、
請求項1又は2に記載の搬送キャリア。 A plate-like plate joined directly or indirectly between the upper plate and the lower plate, wherein the electrons are continuously connected to the first openings at the positions continuous to the first openings; Comprising an intermediate plate in which second openings into which components are fitted are formed one by one;
The intermediate plate includes an elastic member that urges and holds the electronic component fitted in the second opening inside each of the plurality of second openings.
The carrier according to claim 1 or 2.
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---|---|---|---|---|
JP2017183372A (en) * | 2016-03-29 | 2017-10-05 | 東洋精密工業株式会社 | Movable plate insertion type clamp tray |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01143210A (en) * | 1987-11-28 | 1989-06-05 | Murata Mfg Co Ltd | Jig for holding electronic component chip and handling of same chip |
JPH05288803A (en) * | 1992-04-14 | 1993-11-05 | Fujitsu Ltd | Ic tray |
JPH06156560A (en) * | 1992-11-25 | 1994-06-03 | Fujitsu Ltd | Tray for semiconductor package |
JP2001192013A (en) * | 2000-01-07 | 2001-07-17 | Hitachi Ltd | Tray |
JP2005197628A (en) * | 2003-12-09 | 2005-07-21 | Renesas Technology Corp | Method for transporting and for manufacturing semiconductor device |
JP2009094538A (en) * | 2003-12-09 | 2009-04-30 | Renesas Technology Corp | Method of transporting semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device |
JP4895061B2 (en) * | 2010-04-26 | 2012-03-14 | アキム株式会社 | Parts carrier |
-
2014
- 2014-01-29 JP JP2014014308A patent/JP6056083B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01143210A (en) * | 1987-11-28 | 1989-06-05 | Murata Mfg Co Ltd | Jig for holding electronic component chip and handling of same chip |
JPH05288803A (en) * | 1992-04-14 | 1993-11-05 | Fujitsu Ltd | Ic tray |
JPH06156560A (en) * | 1992-11-25 | 1994-06-03 | Fujitsu Ltd | Tray for semiconductor package |
JP2001192013A (en) * | 2000-01-07 | 2001-07-17 | Hitachi Ltd | Tray |
JP2005197628A (en) * | 2003-12-09 | 2005-07-21 | Renesas Technology Corp | Method for transporting and for manufacturing semiconductor device |
JP2009094538A (en) * | 2003-12-09 | 2009-04-30 | Renesas Technology Corp | Method of transporting semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device |
JP4895061B2 (en) * | 2010-04-26 | 2012-03-14 | アキム株式会社 | Parts carrier |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017183372A (en) * | 2016-03-29 | 2017-10-05 | 東洋精密工業株式会社 | Movable plate insertion type clamp tray |
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Publication number | Publication date |
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