JP2015103980A - 画像形成装置及び伝送不良の検出方法 - Google Patents

Abstract

【課題】画像データの伝送不良を簡易にかつ精度良く検出する。
【解決手段】画像形成装置は、画像データを出力するモジュール２０と当該画像データを入力するモジュール２１とを接続する複数の伝送路４０と、各モジュール２０及び２１間において複数の伝送路４０により伝送される画像データの伝送不良を検出する検査部３０と、を備え、画像データを出力するモジュール２０が、複数の伝送路４０に１又は複数のテストデータを出力するテストデータ出力部３１を備え、画像データを入力するモジュール２１が、複数の伝送路４０のそれぞれに対応して設けられ、各伝送路４０により伝送されたテストデータの１のデータ値の数をカウントする複数のカウンター３２を備え、検査部３０が、カウンター３２のカウンター値を、テストデータの１のデータ値の数と照合した結果に応じて、伝送路４０ごとに画像データの伝送不良を検出する。
【選択図】図２

Description

本発明は、画像形成装置及び伝送不良の検出方法に関する。

ビットマップ形式の画像データに応じて、用紙上に画像を形成する電子写真方式の画像形成装置が広く普及している。
画像形成装置内では、画像データが、画像処理を施すモジュール等の複数のモジュールに順次伝送され、最終的に画像形成部へと伝送されている。各モジュール間はパラレルバス等によって接続され、画像データの伝送路が形成されている。

各モジュール間の伝送路においては、ハンダ不良、クラック等の故障が発生し、導通不良、伝送タイミングのずれ、誤伝送等の伝送不良が生じることがある。伝送不良によって、画像データの欠損又は誤りが生じると、画像を正常に形成することができない。修理時には、伝送不良が発生した伝送路、伝送不良の種類、原因等を解析する必要があるが、解析の間、画像形成装置を使用することができないため、生産性が低下する。
従来は、伝送不良を自動検出するため、テストデータを各モジュールに順次伝送させて、当該テストデータに応じて用紙上に形成された画像を解析することが行われていた（例えば、特許文献１参照）。

特開２００７−４９６２４号公報

しかしながら、従来の伝送不良の検出方法によれば、伝送不良の検出のために用紙上に画像を形成しなければならず、コストが上昇する。
また、テストデータにより段階的な濃度を有する各色のパターンを形成させ、当該パターンを読み取って解析することにより、各伝送路の導通不良を検出しているが、このような方法では、伝送タイミングのずれ、誤伝送等の１ｂｉｔ単位の伝送不良を精度良く検出することが難しい。

本発明の課題は、画像データの伝送不良を簡易にかつ精度良く検出することである。

請求項１に記載の発明によれば、
画像データを出力するモジュールと、当該画像データを入力するモジュールと、を接続する複数の伝送路と、
前記各モジュール間において、前記複数の伝送路により伝送される前記画像データの伝送不良を検出する検査部と、を備え、
前記画像データを出力するモジュールが、前記複数の伝送路に、１又は複数のテストデータを出力するテストデータ出力部を備え、
前記画像データを入力するモジュールが、前記複数の伝送路のそれぞれに対応して設けられ、各伝送路により伝送された前記テストデータの１のデータ値の数をカウントする複数のカウンターを備え、
前記検査部が、前記カウンターのカウンター値を、前記テストデータの１のデータ値の数と照合した結果に応じて、前記伝送路ごとに画像データの伝送不良を検出することを特徴とする画像形成装置が提供される。

請求項２に記載の発明によれば、
前記テストデータ出力部が、前記テストデータの１つとして、各伝送路に出力される最後のデータ値が１である第１テストデータを出力することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置が提供される。

請求項３に記載の発明によれば、
前記第１テストデータが、１対のテストデータであり、
前記１対のテストデータが、隣り合う伝送路により１のデータ値と０のデータ値が並行して出力されるように、１と０のデータ値を組み合わせたテストデータと、当該テストデータのデータ値をすべて反転させたテストデータと、であることを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置が提供される。

請求項４に記載の発明によれば、
前記テストデータ出力部が、前記テストデータの１つとして、検査対象の伝送路に出力されるデータ値が、最後のデータ値を１とする、１と０のデータ値の組み合わせであり、検査対象以外の伝送路に出力されるデータ値がすべて０である第２テストデータを出力し、
前記検査部は、前記検査対象の伝送路に対応するカウンターのカウンター値を、当該伝送路に出力された前記第２テストデータの１のデータ値の数と照合することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の画像形成装置が提供される。

請求項５に記載の発明によれば、
前記テストデータ出力部が、前記テストデータの１つとして、検査対象の伝送路に出力されるデータ値が、最後のデータ値を０とする、１と０のデータ値の組み合わせであり、検査対象以外の伝送路に出力されるデータ値がすべて０である第３テストデータを出力し、
前記検査部が、前記検査対象の伝送路に対応するカウンターのカウンター値を、当該伝送路に出力された前記第３テストデータの１のデータ値の数と照合することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の画像形成装置が提供される。

請求項６に記載の発明によれば、
前記テストデータ出力部は、前記テストデータの１つとして、検査対象の伝送路に出力されるデータ値がすべて１であり、検査対象以外の伝送路に出力されるデータ値がすべて０である第４テストデータを出力し、
前記検査部は、前記検査対象の伝送路と隣り合う伝送路に対応するカウンターのカウンター値を、当該隣り合う伝送路に出力された前記第４テストデータの１のデータ値の数と照合することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の画像形成装置が提供される。

請求項７に記載の発明によれば、
画像データを出力するモジュールと当該画像データを入力するモジュール間において、複数の伝送路により伝送される画像データの伝送不良の検出方法であって、
前記画像データを出力するモジュールが、前記複数の伝送路に、１又は複数のテストデータを出力する工程と、
前記画像データを入力するモジュールにおいて、前記複数の伝送路のそれぞれに対応して設けられた複数のカウンターが、各伝送路により伝送された前記テストデータの１のデータ値の数をそれぞれカウントする工程と、
前記カウンターのカウンター値を、前記テストデータの１のデータ値の数と照合した結果に応じて、前記伝送路ごとに画像データの伝送不良を検出する工程と、
を含むことを特徴とする伝送不良の検出方法が提供される。

本発明によれば、カウンター値とテストデータのデータ値の数を照合する簡単な処理によって、画像データの伝送不良を簡易に検出することができる。また、カウンターがテストデータを直接入力してカウントすることにより得られたカウンター値を照合に用いるので、テストデータの誤り、欠損等を１ｂｉｔ単位で正確に判断することができ、伝送不良を精度良く検出することができる。

本実施の形態の画像形成装置の構成を示す機能ブロック図である。 図１の画像形成装置が、伝送不良の検出用に備える構成を示す機能ブロック図である。 図１の画像形成装置が、伝送不良の検出を行う際の処理手順を示している。 第１テストデータの一例を示すタイミングチャートである。 （ａ）最後のデータ値が１であるテストデータを示すタイミングチャートである。（ｂ）（ａ）に示すテストデータの伝送タイミングが１ｂｉｔずれた場合のタイミングチャートである。 （ａ）最後のデータ値が０であるテストデータを示すタイミングチャートである。（ｂ）（ａ）に示すテストデータの伝送タイミングが１ｂｉｔずれた場合のタイミングチャートである。 （ａ）１対のテストデータの一方を示すタイミングチャートである。（ｂ）１対のテストデータの他方を示すタイミングチャートである。 第２テストデータの一例を示す図である。 第３テストデータの一例を示す図である。 第４テストデータの一例を示す図である。

以下、本発明の画像形成装置及び伝送不良の検出方法の実施の形態について、図面を参照して説明する。

図１は、本実施の形態に係る画像形成装置Ｇの構成を示している。
画像形成装置Ｇは、図１に示すように、制御部１１、記憶部１２、操作部１３、表示部１４、通信部１５、画像読取部１６、プリントコントローラー１７、画像メモリー１８、読取処理モジュール１９、メモリー制御モジュール２０、画像処理モジュール２１及び画像形成部２２を備えて、構成されている。
図１において、矢印はデータの伝送路を表し、なかでも白い矢印は画像データの伝送路を表している。

制御部１１は、ＣＰＵ（Central Processing Unit）、ＲＡＭ（Random Access Memory）等を備えている。制御部１１は、記憶部１２に記憶されているプログラムを読み出し、当該プログラムに従って画像形成装置Ｇの各部を制御する。
例えば、制御部１１は、画像読取部１６により原稿を読み取らせるか、プリントコントローラー１７によりＰＤＬ（Page Description Language）データをラスタライズ処理させて、画像データを生成させる。当該画像データに応じて、制御部１１は、画像形成部２２により用紙上にトナーで画像を形成させる。

記憶部１２は、制御部１１が読み取り可能なプログラム、ファイル等を記憶している。
記憶部１２としては、ハードディスク、ＲＯＭ（Read Only Memory）等の記憶媒体を用いることができる。

操作部１３は、操作キー、表示部１４と一体に構成されたタッチパネル等を備え、これらの操作に応じた操作信号を制御部１１に出力する。ユーザーは、操作部１３により、画像形成条件の設定、変更等の入力操作を行うことができる。

表示部１４は、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）等であることができ、制御部１１の指示に従って操作画面等を表示する。

通信部１５は、制御部１１の指示に従い、ネットワーク上のコンピューター、例えばユーザー端末、サーバー、他の画像形成装置等と通信する。
通信部１５は、例えばサーバーに画像データの伝送不良の検査結果等を送信する。

画像読取部１６は、ユーザーによりセットされた原稿を読み取って、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）及びＢ（青）の各色の画像データを生成する。画像読取部１６は、各色の画像データを読取処理モジュール１９に出力する。
画像読取部１６としては、例えばＣＣＤ（Charge Coupled Device）等の光学センサーが一次元状に配列されたカラーラインセンサー等を用いることができる。

プリントコントローラー１７は、ユーザー端末から送信されたＰＤＬデータをラスタライズ処理して、画素ごとに階調値を有するビットマップ形式の画像データを、Ｃ（シアン）、Ｍ（マジェンタ）、Ｙ（イエロー）及びＫ（黒）の色ごとに生成する。プリントコントローラー１７は、各色の画像データをメモリー制御モジュール２０に出力する。

画像メモリー１８は、メモリー制御モジュール２０から入力された画像データを保持する。
画像メモリー１８としては、例えばＤＲＡＭ（Dynamic RAM）等を用いることができる。

読取処理モジュール１９は、画像読取部１６から入力されたＲ、Ｇ及びＢの各色の画像データを色変換処理し、Ｃ、Ｍ、Ｙ及びＫの各色の画像データを出力する。

メモリー制御モジュール２０は、プリントコントローラー１７又は読取処理モジュール１９から入力された画像データを、画像メモリー１８に出力して保持させる。
また、メモリー制御モジュール２０は、制御部１１により画像形成の指示があると、画像メモリー１８から画像データを入力して、画像処理モジュール２１へ出力する。

画像処理モジュール２１は、メモリー制御モジュール２０から入力された画像データを画像処理して、画像形成部２２へ出力する。
画像処理としては、例えば階調補正処理、中間調処理等が挙げられる。階調補正処理は、形成された画像の階調特性が目標の階調特性に一致するように、各画素のデータ値を補正する処理である。中間調処理は、中間調の再現のため、ディザ法、誤差拡散法等により各画素のデータ値を変換する処理である。各画素のデータ値は階調値とも呼ばれ、１画素が８ｂｉｔのデータ値を有する場合、データ値は０〜２５５の階調を表す。

上記読取処理モジュール１９、メモリー制御モジュール２０及び画像処理モジュール２１としては、例えばＡＳＩＣ（Application Specific Integrated Circuit）、ＬＳＩ（Large Scale Integration）等の集積回路を用いることができる。

画像形成装置Ｇは、図２に示すように、上記読取処理モジュール１９、メモリー制御モジュール２０及び画像処理モジュール２１の各モジュール間を接続する８本の伝送路４０を備えている。
８本の伝送路４０はパラレルバスとも呼ばれ、各伝送路４０が同期して画像データを１ｂｉｔごとに伝送する。１画素が８ｂｉｔのデータ値を有する画像データであれば、８本の伝送路４０により、１画素単位で画像データを伝送することができる。

８本の伝送路４０により伝送される画像データの伝送不良を検出するため、画像形成装置Ｇは、図２に示すように、検査部３０を備えている。また、各モジュールが、テストデータ出力部３１及び複数のカウンター３２を備えている。

テストデータ出力部３１は、８本の伝送路４０及び検査部３０に、１又は複数のテストデータを出力する。
複数のカウンター３２は、８本の伝送路４０のそれぞれに対応して設けられている。
各カウンター３２は、各伝送路４０により伝送されたテストデータの１のデータ値の数をカウントする。カウンター３２によってカウントされた数を、カウンター値という。各カウンター３２は、カウンター値を検査部３０へ出力する。

検査部３０は、各カウンター３２から入力されたカウンター値を、テストデータ出力部３１から入力されたテストデータの１のデータ値の数と照合した結果に応じて、伝送路４０ごとに画像データの伝送不良を検出する。
また、検査部３０は、テストデータの１のデータ値の数と照合した結果に応じて、伝送不良が検出された伝送路４０及び当該伝送不良の原因を特定することができる。

画像形成部２２は、画像処理モジュール２１から入力されたＣ、Ｍ、Ｙ及びＫの各色の画像データに応じて、用紙上にトナーで画像を形成する。
具体的には、画像形成部２２は、Ｃ、Ｍ、Ｙ及びＫの色ごとに設けられた露光部、感光体、現像部等の他、転写体、定着装置等を備えている。
画像形成部２２は、露光部により、画像データに応じて変調されたレーザービームを、帯電する感光体上に照射し、当該感光体上に静電潜像を形成する。また、現像部により、感光体上に各色のトナーを供給して現像する。画像形成部２２は、現像された各色の画像を、各感光体から転写体上に重ねて転写し、当該転写体から用紙上に画像を転写する。画像形成部２２は、画像が転写された用紙を、定着装置により加熱及び加圧して定着処理する。

図３は、上記画像形成装置Ｇが、画像データの伝送不良を検出する際の処理手順を示している。
画像形成装置Ｇは、画像形成装置Ｇのメンテナンスを行う管理者により伝送不良を検出するモードが選択された場合、いずれかのモジュールが交換された場合、画像形成装置Ｇの電源が投入された場合等に、図３に示す処理手順を実行することができる。
以下、メモリー制御モジュール２０と画像処理モジュール２１間において伝送不良を検出する例を説明するが、読取処理モジュール１９とメモリー制御モジュール２０間における伝送不良も同様にして検出することができる。

最初に、検査部３０が、伝送不良を検出するための第１テストデータを出力するように、メモリー制御モジュール２０に指示する。
図３に示すように、メモリー制御モジュール２０では、テストデータ出力部３１が画像処理モジュール２１への伝送路４０及び検査部３０に、第１テストデータを出力する（ステップＳ１）。

画像処理モジュール２１において、複数のカウンター３２は、各伝送路４０により伝送された第１テストデータの１のデータ値の数をそれぞれカウントし、得られたカウンター値を検査部３０に出力する。
検査部３０は、各カウンター３２から入力されたカウンター値を、テストデータ出力部３１により各伝送路４０に出力された第１テストデータの１のデータ値の数と照合する。検査部３０は、照合結果に応じて、伝送路４０ごとに画像データの伝送不良を検出する。

ハンダ不良、伝送路４０上に設けられた抵抗のクラック等により伝送路４０のオープンが生じると、データが伝送されない導通不良が生じる。導通不良によって、伝送された第１テストデータに欠陥又は誤りが生じるため、カウンター値が、第１テストデータの１のデータ値の数と一致しない。よって、伝送路４０ごとにカウンター値を第１テストデータの１のデータ値の数と照合することにより、各伝送路４０の伝送不良を検出することができる。

第１テストデータは、各伝送路４０に出力される最後のデータ値が１であるテストデータである。
図４は、一例としての第１テストデータ５１を示している。
図４において、ＨＶ（Horizontal Valid）信号は、第１テストデータ５１とともに出力される同期信号であり、主走査方向における画像有効領域を示す。副走査方向における画像有効領域を示すＶＶ（Vertical Valid）信号も第１テストデータ５１とともに出力されるが、ＶＶ信号はＨＶ信号と同じ信号波形であるので、図示を省略する。

図４に示すように、第１テストデータ５１は、０ｂｉｔ目から７ｂｉｔ目までの各伝送路４０に出力される最後のデータ値が１である。最後のデータ値が１であれば、他のデータ値は特に限定されず、すべてのデータ値を１としてもよいし、図４に示すように１と０のデータ値を組み合わせてもよい。また、各伝送路４０に出力されるデータ値は、図４に示すように各伝送路４０で同じであってもよいし、異なっていてもよい。

第１テストデータが１のデータ値を含むことにより、導通不良を伝送不良として検出することができる。
導通不良は、例えば伝送路４０のハンダ不良、伝送路４０上に設けられた抵抗のクラック等による伝送路４０のオープン等によって生じ得る。
導通不良が生じると、画像データが伝送されないため、カウンター値が０となる。カウンター値が第１テストデータの１のデータ値の数と一致しないため、カウンター値と第１テストデータのデータ値の数の照合によって、導通不良を検出することができる。

また、最後のデータ値を１とすることにより、画像データの伝送タイミングがずれる伝送不良も検出することも可能である。
伝送タイミングのずれは、例えば伝送路４０に用いられたケーブルの対内スキュー、伝送路４０上に設けられた抵抗のクラック等によって生じ得る。また、ＡＳＩＣのＡＣ特性の変動により、画素クロック信号に対するセットアップ時間及びホールド時間を満足できなくなると、画像データを取り込むタイミングがずれ、結果として伝送タイミングがずれることもある。

図５（ａ）は、最後のデータ値が１であるテストデータが正常に伝送された場合を示している。このテストデータが１ｂｉｔずれて伝送されると、図５（ｂ）に示すように最後の１ｂｉｔのデータが画像有効領域外へずれる。カウンター３２は、画像有効領域内でのみカウントを行うため、画像有効領域外にずれた１のデータ値はカウントされない。そのため、伝送タイミングのずれがあると、カウンター３２のカウンター値が、テストデータの１のデータ値の数と一致しない。よって、カウンター値をテストデータの１のデータ値の数と照合することにより、伝送タイミングがずれる伝送不良を検出することができる。

一方、図６（ａ）に示すように、正常に伝送されたテストデータの最後のデータ値が０であると、図６（ｂ）に示すように、テストデータが１ｂｉｔずれて伝送されても、正常に伝送された場合とカウンター値が同じである。そのため、カウンター値をテストデータの１のデータ値の数と照合しても、伝送不良を検出することができない。

上記第１テストデータは、隣り合う伝送路４０により１のデータ値と０のデータ値が並行して出力されるように、１と０のデータ値を組み合わせたテストデータと、当該テストデータのデータ値をすべて反転させたテストデータと、からなる１対のテストデータであることが好ましい。

図７（ａ）及び図７（ｂ）は、１対のテストデータの一例であるテストデータ５１ａ及び５１ｂをそれぞれ示している。
図７（ａ）に示すように、テストデータ５１ａは、隣り合う伝送路４０により並行して出力されるデータ値が、一方が１であれば他方が０である。例えば、０〜７ｂｉｔ目の各伝送路４０に出力されるテストデータの最初の１ｂｉｔのデータに注目すると、０ｂｉｔ目の伝送路４０のデータ値は０であり、０ｂｉｔ目の伝送路４０に隣接する１ｂｉｔ目の伝送路４０のデータ値は１である。さらに、１ｂｉｔ目の伝送路４０に隣接する２ｂｉｔ目の伝送路４０のデータ値は０である。
一方、テストデータ５１ａと対をなして出力されるテストデータ５１ｂのデータ値は、図７（ｂ）に示すように、テストデータ５１ａの１と０のデータ値をすべて反転させたデータ値である。

このような１対のテストデータ５１ａ及び５１ｂによれば、各伝送路４０の導通不良、伝送タイミングのずれだけでなく、ショートによる伝送誤りを伝送不良として検出することができる。
ショートは、例えばハンダ不良、飛散した導電性のトナーが伝送路４０上に蓄積する等の原因によって生じ得る。
隣り合う伝送路４０間でショートが生じると、一方の伝送路４０から他方の伝送路４０にデータが流れ込み、データ値が０から１へと変化する場合がある。テストデータ５１ａ及び５１ｂは０と１のデータ値が隣り合っているので、隣り合う伝送路４０でショートが生じるとデータ値が変化する。例えば、ショートによって０ｂｉｔ目の伝送路４０に、１ｂｉｔ目の伝送路４０に出力されたテストデータ５１ａが流れ込むと、０ｂｉｔ目の伝送路４０に出力された最初の０のデータ値が、１ｂｉｔ目の伝送路４０に出力された最初のデータ値と同じ１に変化する。よって、カウンター値をテストデータの１のデータ値の数と照合することにより、ショートに起因する伝送誤りを検出することができる。

また、テストデータ５１ａとテストデータ５１ｂを１対にして出力することにより、テストデータ５１ａ及び５１ｂのいずれかによって、各伝送路４０に最後のデータ値を１とするテストデータを出力することができる。上述のように、最後のデータ値が１のテストデータを用いることにより、伝送タイミングのずれを検出することができる。

カウンター値を第１テストデータの１のデータ値の数と照合した結果、一致している場合（ステップＳ２；Ｙ）、検査部３０は、伝送が正常であると判定する（ステップＳ３）。
一方、一致しない場合（ステップＳ２；Ｎ）、検査部３０は伝送不良が検出されたと判定する。その後、検査部３０は、伝送不良が検出された伝送路４０及び伝送不良の原因の解析を行う。

解析時、検査部３０は、メモリー制御モジュール２０に、各伝送路４０を検査対象とする第２テストデータを出力するよう指示する。
メモリー制御モジュール２０のテストデータ出力部３１は、各伝送路４０を検査対象とする第２テストデータを順次出力する（ステップＳ４）。
画像処理モジュール２１の各カウンター３２は、各伝送路４０を検査対象とする第２テストデータが入力されるごとに、各伝送路４０により伝送された第２テストデータの１のデータ値の数をカウントする。
検査部３０は、検査対象の伝送路４０に対応するカウンター３２のカウンター値を、当該伝送路４０に出力された第２テストデータの１のデータ値の数と照合する。

第２テストデータは、８本の伝送路４０のうち、検査対象の伝送路４０に出力されるデータ値が、最後のデータ値を１とする、１と０のデータ値の組み合わせであり、検査対象以外の伝送路４０に出力されるデータ値がすべて０であるテストデータである。
例えば、０ｂｉｔ目の伝送路４０を検査対象とする場合、図８に示す第２テストデータ５２が出力される。図８に示すように、第２テストデータ５２は、０ｂｉｔ目の伝送路４０のみ、１と０のデータ値の組み合わせからなり、最後のデータ値が１である。検査対象ではない１〜７ｂｉｔ目の伝送路４０のデータ値は、すべて０である。
第２テストデータによれば、１のデータ値を含むため、導通不良を検出することができる。また、最後のデータ値が１であるため、伝送タイミングのずれを検出することもできる。

照合の結果、一致せず（ステップＳ５；Ｎ）、かつカウンター値が０である場合（ステップＳ６；Ｙ）、検査部３０は、検査対象の伝送路４０を伝送不良が検出された伝送路４０として特定する。さらに、検査部３０は、検出された伝送不良が導通不良であり、原因が伝送路４０のハンダ不良等によるオープンであると特定する（ステップＳ７）。その後、他の原因を解析するため、次の解析に移行する。
照合の結果、一致した場合（ステップＳ５；Ｙ）、又は一致せずに（ステップＳ５；Ｎ）、カウンター値が０でもなかった場合（ステップＳ６；Ｎ）、他の原因を解析するため、次の解析に移行する。

次に、検査部３０は、メモリー制御モジュール２０に、各伝送路４０を検査対象とする第３テストデータを出力するよう指示する。
メモリー制御モジュール２０のテストデータ出力部３１は、各伝送路４０を検査対象とする第３テストデータを順次出力する（ステップＳ８）。
画像処理モジュール２１の各カウンター３２は、各伝送路４０を検査対象とする第３テストデータが入力されるごとに、各伝送路４０により伝送された第３テストデータの１のデータ値の数をカウントする。
検査部３０は、検査対象の伝送路４０に対応するカウンター３２のカウンター値を、当該伝送路４０に出力された第３テストデータの１のデータ値の数と照合する。

第３テストデータは、８本の伝送路４０のうち、検査対象の伝送路４０に出力されるデータ値が、最後のデータ値を０とする、１と０のデータ値の組み合わせであり、検査対象以外の伝送路４０に出力されるデータ値がすべて０であるテストデータである。
例えば、０ｂｉｔ目の伝送路４０を検査対象とする場合、図９に示す第３テストデータ５３が出力される。図９に示すように、第３テストデータ５３は、検査対象である０ｂｉｔ目の伝送路４０のみ、１と０のデータ値の組み合わせからなり、最後のデータ値が０である。検査対象ではない１〜７ｂｉｔ目の伝送路４０のデータ値は、すべて０である。

上記第２テストデータにより検出された伝送不良が、導通不良ではなく、伝送タイミングのずれであれば、カウンター値と第３テストデータの１のデータ値の数が一致する。
照合の結果、一致した場合（ステップＳ９；Ｙ）、検査部３０は、検査対象の伝送路４０を伝送不良が検出された伝送路４０として特定する。また、検査部３０は、検査対象の伝送路４０が、第２テストデータによって伝送不良が検出されたが、導通不良ではなかった場合、当該伝送不良が伝送タイミングのずれであると特定する。さらに、検査部３０は、この伝送タイミングのずれの原因が、ＡＣ特性の変動、ケーブルの対内スキュー、伝送路４０上の抵抗のクラック等であると特定する（ステップＳ１０）。その後、他の原因を解析するため、次の解析に移行する。
照合の結果、一致しなかった場合（ステップＳ９；Ｎ）も、他の原因を解析するため、次の解析に移行する。

次に、検査部３０は、メモリー制御モジュール２０に、各伝送路４０を検査対象とする第４テストデータを出力するよう指示する。
メモリー制御モジュール２０のテストデータ出力部３１は、各伝送路４０を検査対象とする第４テストデータを順次出力する（ステップＳ１１）。
画像処理モジュール２１の各カウンター３２は、各伝送路４０を検査対象とする第４テストデータが入力されるごとに、各伝送路４０により伝送された第４テストデータの１のデータ値の数をカウントする。
検査部３０は、検査対象の伝送路４０と隣り合う伝送路４０に対応するカウンター３２のカウンター値を、当該隣り合う伝送路４０に出力された第４テストデータの１のデータ値の数と照合する。

第４テストデータは、８本の伝送路４０のうち、検査対象の伝送路４０に出力されるデータ値がすべて１であり、検査対象以外の伝送路４０に出力されるデータ値がすべて０であるテストデータである。
例えば、０ｂｉｔ目の伝送路４０を検査対象とする場合、図１０に示す第４テストデータ５４が出力される。図１０に示すように、第４テストデータ５４は、検査対象である０ｂｉｔ目の伝送路４０に出力されるデータ値がすべて１であり、検査対象ではない１〜７ｂｉｔ目の伝送路４０に出力されるデータ値がすべて０である。
第４テストデータによれば、検査対象の伝送路４０と隣り合う伝送路４０における０のデータ値の変化を誤伝送として検出することができる。

照合の結果、一致しない場合（ステップＳ１２；Ｎ）、検査部３０は、検査対象の伝送路４０を伝送不良が検出された伝送路４０として特定する。また、検査部３０は、伝送不良が誤伝送であり、原因が伝送路４０間のショートであると特定し（ステップＳ１３）、本処理を終了する。
一方、一致する場合（ステップＳ１２；Ｙ）、検査部３０は、検査対象の伝送路４０を伝送不良が検出された伝送路４０として特定する。また、検査部３０は、検出された伝送不良が、上述した原因以外の原因による伝送不良であると特定し（ステップＳ１４）、本処理を終了する。

上述した処理手順により、検査部３０によって伝送不良が検出された伝送路４０、当該伝送不良の種類及び原因は、検査結果として記憶部１２に保存される。
制御部１１は、記憶部１２に保存された検査結果を、画像形成装置Ｇの管理者に通知することができる。通知方法は特に限定されず、例えば表示部１４により表示させてもよいし、画像形成部２２により用紙上に形成させてもよいし、通信部１５によりサーバーにアップロードさせてもよい。

以上のように、本実施の形態の画像形成装置Ｇは、画像データを出力するモジュールと、当該画像データを入力するモジュールと、を接続する複数の伝送路４０と、各モジュール間において、複数の伝送路４０により伝送される画像データの伝送不良を検出する検査部３０と、を備えている。また、画像データを出力するモジュールが、複数の伝送路４０に、１又は複数のテストデータを出力するテストデータ出力部３１を備え、画像データを入力するモジュールが、複数の伝送路４０のそれぞれに対応して設けられ、各伝送路により伝送されたテストデータの１のデータ値の数をカウントする複数のカウンター３２を備えている。そして、検査部３０が、カウンター３２のカウンター値を、テストデータの１のデータ値の数と照合した結果に応じて、伝送路４０ごとに画像データの伝送不良を検出する。

本実施の形態によれば、カウンター値とテストデータのデータ値の数を照合する簡単な処理によって、伝送不良を簡易に検出することができる。また、カウンター３２がテストデータを直接入力してカウントすることにより得られたカウンター値を照合に用いるので、テストデータの誤り、欠損等を１ｂｉｔ単位で正確に判断することができ、伝送不良を精度良く検出することができる。

また、上述の処理手順によれば、第１テストデータにより伝送不良が検出された場合に、第２〜第４テストデータにより詳細な解析を行って、伝送不良が検出された伝送路４０、伝送不良の種類及び原因を特定することができる。管理者は、これらの検査結果に基づいて修理が可能であるため、画像形成装置Ｇを早期に復帰させて、生産性を向上させることができる。

上記実施の形態は本発明の好適な一例であり、これに限定されない。本発明の主旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能である。
例えば、上述した処理手順においては、第１テストデータを用いて伝送不良が検出された場合に、第２〜第４テストデータをこの順に用いて原因の絞り込みが行われたが、上記第１〜第４テストデータは、それぞれ単独で用いても伝送不良の検出を行うことができる。よって、上記第１〜第４テストデータを単独で又は任意に組み合わせて用いて、伝送不良の検出を行ってもよい。

また、上記処理手順により、読取処理モジュール１９、メモリー制御モジュール２０及び画像処理モジュール２１の各モジュール間以外においても、画像データの伝送不良も検出することができる。例えば、画像読取部１６と読取処理モジュール１９間、画像処理モジュール２１と画像形成部２２間、プリントコントローラー１７とメモリー制御モジュール２０間等における伝送不良を、上記処理手順によって検出することもできる。

また、図３に示す処理手順を制御部１１に実行させるためのプログラムを、制御部１１により読み取らせることにより、図３に示す処理手順を実現することもできる。このプログラムのコンピューター読み取り可能な媒体としては、ＲＯＭ、フラッシュメモリー等の不揮発性メモリー、ＣＤ-ＲＯＭ等の可搬型記録媒体を適用することが可能である。また、当該プログラムのデータを、通信回線を介して提供する媒体として、キャリアウエーブ(搬送波)も適用される。

Ｇ 画像形成装置
１１ 制御部
１９ 読取処理モジュール
２０ メモリー制御モジュール
２１ 画像処理モジュール
２２ 画像形成部
３０ 検査部
３１ テストデータ出力部
３２ カウンター
４０ 伝送路４０
５１、５１ａ、５１ｂ 第１テストデータ
５２ 第２テストデータ
５３ 第３テストデータ
５４ 第４テストデータ

Claims (7)

1. 画像データを出力するモジュールと、当該画像データを入力するモジュールと、を接続する複数の伝送路と、
   前記各モジュール間において、前記複数の伝送路により伝送される前記画像データの伝送不良を検出する検査部と、を備え、
   前記画像データを出力するモジュールが、前記複数の伝送路に、１又は複数のテストデータを出力するテストデータ出力部を備え、
   前記画像データを入力するモジュールが、前記複数の伝送路のそれぞれに対応して設けられ、各伝送路により伝送された前記テストデータの１のデータ値の数をカウントする複数のカウンターを備え、
   前記検査部が、前記カウンターのカウンター値を、前記テストデータの１のデータ値の数と照合した結果に応じて、前記伝送路ごとに画像データの伝送不良を検出することを特徴とする画像形成装置。
2. 前記テストデータ出力部が、前記テストデータの１つとして、各伝送路に出力される最後のデータ値が１である第１テストデータを出力することを特徴とする請求項１に記載の画像形成装置。
3. 前記第１テストデータが、１対のテストデータであり、
   前記１対のテストデータが、隣り合う伝送路により１のデータ値と０のデータ値が並行して出力されるように、１と０のデータ値を組み合わせたテストデータと、当該テストデータのデータ値をすべて反転させたテストデータと、であることを特徴とする請求項２に記載の画像形成装置。
4. 前記テストデータ出力部が、前記テストデータの１つとして、検査対象の伝送路に出力されるデータ値が、最後のデータ値を１とする、１と０のデータ値の組み合わせであり、検査対象以外の伝送路に出力されるデータ値がすべて０である第２テストデータを出力し、
   前記検査部は、前記検査対象の伝送路に対応するカウンターのカウンター値を、当該伝送路に出力された前記第２テストデータの１のデータ値の数と照合することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一項に記載の画像形成装置。
5. 前記テストデータ出力部が、前記テストデータの１つとして、検査対象の伝送路に出力されるデータ値が、最後のデータ値を０とする、１と０のデータ値の組み合わせであり、検査対象以外の伝送路に出力されるデータ値がすべて０である第３テストデータを出力し、
   前記検査部が、前記検査対象の伝送路に対応するカウンターのカウンター値を、当該伝送路に出力された前記第３テストデータの１のデータ値の数と照合することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一項に記載の画像形成装置。
6. 前記テストデータ出力部は、前記テストデータの１つとして、検査対象の伝送路に出力されるデータ値がすべて１であり、検査対象以外の伝送路に出力されるデータ値がすべて０である第４テストデータを出力し、
   前記検査部は、前記検査対象の伝送路と隣り合う伝送路に対応するカウンターのカウンター値を、当該隣り合う伝送路に出力された前記第４テストデータの１のデータ値の数と照合することを特徴とする請求項１〜５のいずれか一項に記載の画像形成装置。
7. 画像データを出力するモジュールと当該画像データを入力するモジュール間において、複数の伝送路により伝送される画像データの伝送不良の検出方法であって、
   前記画像データを出力するモジュールが、前記複数の伝送路に、１又は複数のテストデータを出力する工程と、
   前記画像データを入力するモジュールにおいて、前記複数の伝送路のそれぞれに対応して設けられた複数のカウンターが、各伝送路により伝送された前記テストデータの１のデータ値の数をそれぞれカウントする工程と、
   前記カウンターのカウンター値を、前記テストデータの１のデータ値の数と照合した結果に応じて、前記伝送路ごとに画像データの伝送不良を検出する工程と、
   を含むことを特徴とする伝送不良の検出方法。

Images