JP2015103882A - 機器、画像投影装置およびプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】ランプが新品ランプであるか否かについての誤判定を抑制することができる機器、画像投影装置およびプログラムを提供する。
【解決手段】ＭＰＵ２１は、信号発生部２８に、パルス信号線７１に対して、パルス波形の信号を出力させ、導通確認部２７により検出された検出波形が、信号発生部２８により出力されたパルス波形と同一であるか否かを判定し、検出波形がＨｉｇｈレベルで一定の電圧波形のままである場合、ヒューズコネクタ４１に接続不良が発生していると判定し、検出波形が信号発生部２８により出力されたパルス波形と同一である場合、ヒューズ３２が切断されていると判定する。
【選択図】図２

Description

本発明は、機器、画像投影装置およびプログラムに関する。

プロジェクタで使用するランプは、累積点灯時間が経過するに従って、ランプの輝度が低下し、ランプの寿命時間を越えて使用すると投影画像の表示性能が著しく損なわれる。そこで、ランプの累積点灯時間をカウントし、予め定められた累積点灯時間を経過すると警告等による報知手段により、ランプユニットの交換を促すプロジェクタが知られている。ランプユニットの交換の際には、新品のランプの装着を検知すると累積点灯時間のカウントがリセットされ、新たに累積点灯時間のカウントが開始される。ここで、ランプの新品または中古品（１度でも通電されたランプ）の判定は、ランプモジュールに搭載したヒューズが導通しているか否かで行い、ランプの使用時にヒューズを溶断させることにより、新品ランプであるか中古品ランプであるかを判定する技術が知られている。

このような、ヒューズの導通の有無によって新品ランプであるか否かを判定する技術として、プロジェクタ本体に、ヒューズ導通確認部と、ヒューズ切断手段と、累積点灯時間カウンタとが備えられ、カウンタの値がランプの寿命時間の値に達するとヒューズ切断手段によりヒューズが切断するものがある（特許文献１）。ヒューズ導通確認部は、ランプユニットに搭載したヒューズの導通および切断を確認することによって、確実にランプユニットの新品ランプまたは使用済みランプかの判断を行うものである。

しかしながら、特許文献１に記載された技術においては、ランプモジュールに搭載したヒューズとプロジェクタ本体とを電気的に接続する接続手段（ヒューズコネクタ）において、電気的な接続不良が発生する場合がある。このとき、ヒューズ導通確認部によって、電気的に開放状態であることが検出されても、ヒューズの切断による開放であるのか、ヒューズコネクタの接続不良による開放であるのか区別ができず、新品ランプを使用済みランプと誤判定してしまう可能性がある。また、新品ランプであるにも関わらず、使用済みランプと誤判定された場合、カウントされたランプの累積点灯時間はリセットされず、ランプ交換前の累積点灯時間からの継続時間がカウントされてしまうという問題もある。

本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ランプが新品であるか否かについての誤判定を抑制することができる機器、画像投影装置およびプログラムを提供することを目的とする。

上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明は、光を照射するランプと、前記ランプに通電すると導通状態から非可逆的に非導通状態となる非可逆的スイッチング手段とを有するランプユニットと、第１信号線の電圧を検出する電圧検出手段と、前記非可逆的スイッチング手段と第２信号線で接続され、前記第１信号線と前記第２信号線とを接続する接続手段と、第３信号線を介して前記第２信号線に信号を出力する信号発生手段と、前記信号発生手段により前記信号が出力される前に前記電圧検出手段により検出された検出電圧と、前記信号発生手段により前記信号が出力された後に前記電圧検出手段により検出された検出電圧と、に基づいて、前記非可逆的スイッチング手段が非導通状態であるのか、前記接続手段が接続不良であるのかを判定する判定手段と、を備えたことを特徴とする。

本発明によれば、ランプが新品ランプであるか否かについての誤判定を抑制することができる。

図１は、実施の形態に係るプロジェクタの全体構成の一例を示す図である。 図２は、ヒューズの切断とヒューズコネクタの接続不良との判別を行うための電気回路の詳細構成の一例を示す図である。 図３は、ヒューズの切断かヒューズコネクタの接続不良かを判定する際のヒューズ導通確認波形のパターンを説明する図である。 図４は、ヒューズコネクタの接続状態およびヒューズ状態と、パルス出力前後の検出波形との対応関係を示す図である。 図５は、実施の形態に係るプロジェクタにおいて、ランプが新品であるか否か、ならびに、ヒューズの切断およびヒューズコネクタの接続不良の有無を判定する動作の一例を示すフローチャートである。 図６は、ヒューズコネクタに接続不良が発生している場合に表示するコメントの一例を示す図である。 図７は、ヒューズの切断が発生している場合に表示するコメントの一例を示す図である。

以下に、図面を参照しながら、本発明に係る機器、画像投影装置およびプログラムの実施の形態を詳細に説明する。また、以下の実施の形態によって本発明が限定されるものではなく、以下の実施の形態における構成要素には、当業者が容易に想到できるもの、実質的に同一のもの、およびいわゆる均等の範囲のものが含まれる。さらに、以下の実施の形態の要旨を逸脱しない範囲で構成要素の種々の省略、置換および変更を行うことができる。

また、以下の実施の形態は、機器として画像投影装置であるプロジェクタを例にして、その構成および動作を説明するが、機器としてプロジェクタに限定されるものではなく、例えば、自動車におけるヘッドライトユニット等のように寿命時間を有するランプを搭載した機器であればよい。

（プロジェクタの全体構成）
図１は、実施の形態に係るプロジェクタの全体構成の一例を示す図である。図１を参照しながら、本実施の形態に係るプロジェクタ１の全体構成について説明する。

図１に示すように、本実施の形態に係るプロジェクタ１は、光学エンジン１０（第１表示手段、第２表示手段、投影手段）と、コントローラ基板２０と、ランプユニット３０と、商用電源から電源供給されるシステム用電源５０と、ランプ用電源６０と、を備えている。

光学エンジン１０は、ＤＬＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｌｉｇｈｔ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ）方式により、コントローラ基板２０から出力される画像データから、ランプユニット３０からのランプ光を用いてスクリーン等の投影対象物に投射画像として投影する装置である。光学エンジン１０は、光学フィルタ１１と、マイクロミラーデバイス１２と、レンズ１３と、を有する。なお、光学エンジン１０は、ＤＬＰ方式としているが、これに限定されるものではなく、液晶方式またはＬＣＯＳ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｏｎ Ｓｉｌｉｃｏｎ）方式等の他方式であってもよい。

光学フィルタ１１は、円盤状に形成された赤、青、緑のカラーフィルタである。光学フィルタ１１は、回転動作することによって、後述するランプユニット３０のランプ３１から照射されるランプ光を、赤、青、緑の単色光に時分割する。

マイクロミラーデバイス１２は、光を反射させる微小なミラー（反射板）の集合体であり、各ミラーがその傾斜によって光を投射するか否かを調整する。マイクロミラーデバイス１２は、後述するコントローラ基板２０のＭＰＵ２１から出力される画像データに基づいて、光学フィルタ１１から出力される時分割された単色光に対する反射動作を制御して画像を投射する。

レンズ１３は、マイクロミラーデバイス１２から投射された画像を、所望のサイズに拡大させ、スクリーン等の投射対象物に投射画像として投影する。

コントローラ基板２０は、外部機器から入力した画像データを、所定の画像処理を施し、画像処理後の画像データを光学エンジン１０に出力する基板である。コントローラ基板２０は、ＭＰＵ（Ｍｉｃｒｏ−Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）２１（判定手段、画像生成手段）と、外部インターフェース部２２と、ＮＩＣ（Ｎｅｔｗｏｒｋ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ Ｃａｒｄ）２３と、メモリ２４と、カウンタ２５（計測手段）と、光学制御部２６と、導通確認部２７（電圧検出手段）と、信号発生部２８（信号発生手段）と、切断制御部２９と、を有する。

ＭＰＵ２１は、コントローラ基板２０全体の動作を制御する。ＭＰＵ２１は、外部インターフェース部２２およびＮＩＣ２３を介して入力した画像データに対して、所定の画像処理（例えば、画像の拡大縮小、形状変更または合成等）を施し、画像処理後の画像データを光学エンジン１０のマイクロミラーデバイス１２に出力する。

外部インターフェース部２２は、図１に示すように、外部機器であるビデオカメラ２またはＰＣ（Ｐｅｒｓｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）３等から画像データまたは電子ファイルのような電子データの受信、その他の通信をするためのインターフェースである。外部インターフェース部２２は、受信した電子データをＭＰＵ２１へ送る。

ＮＩＣ２３は、図１に示すように、ネットワーク機器であるＰＣ４等と有線通信規格であるＥｔｈｅｒｎｅｔ（登録商標）、または無線通信規格であるＷｉ−Ｆｉ（登録商標）（Ｗｉｒｅｌｅｓｓ Ｆｉｄｅｌｉｔｙ）により通信するためのインターフェースである。ＮＩＣ２３は、例えば、ＰＣ４等から画像データまたは電子ファイルのような電子データの受信を行い、受信した電子データをＭＰＵ２１へ送る。

メモリ２４は、ＭＰＵ２１で実行するプログラムまたは各種設定情報を記憶する記憶装置である。

カウンタ２５は、ＭＰＵ２１からの指令に従って、ランプ３１が点灯している場合に、累積点灯時間をカウント（計測）する装置である。

光学制御部２６は、ＭＰＵ２１からの制御信号に従って、光学フィルタ１１とマイクロミラーデバイス１２とを同期制御する装置である。具体的には、光学制御部２６は、光学フィルタ１１によりランプ３１からのランプ光を単色光に時分割すると同時に、マイクロミラーデバイス１２により各単色光から投射する画像を生成する。

導通確認部２７は、ＭＰＵ２１からの指令に従って、後述するランプユニット３０のヒューズ３２の導通状態を判定する装置である。

信号発生部２８は、ＭＰＵ２１からの指令に従って、後述するヒューズコネクタ４１における電気的な接続不良（以下、単に接続不良という）の有無を確認するためのパルス波形の信号を出力する装置である。

切断制御部２９は、ＭＰＵ２１からの指令に従って、ヒューズ３２に一時的に大きな電流を流すことによって、ヒューズ３２を溶断（切断）する装置である。

ランプユニット３０は、光学エンジン１０に対して、投射画像を生成するためのランプ光を出力する装置である。ランプユニット３０は、筐体内にランプ３１と、ヒューズ３２（非可逆的スイッチング手段）と、を有する。

ランプ３１は、例えば、水銀ランプまたはハロゲンランプ等であり、ランプ光を光学フィルタ１１に対して照射する。ランプ３１は、ランプ用電源６０からランプコネクタ４０を介して電源供給される。なお、ランプコネクタ４０は、ランプユニット３０の筐体に固定されるものとしてもよい。また、ランプ３１として、水銀ランプおよびハロゲンランプを例に挙げたが、累積点灯時間によって交換の必要がある、すなわち、寿命時間があるランプであればいずれのランプでもよい。

ヒューズ３２は、切断制御部２９によって所定のタイミングにより、一時的に大きな電流が流れることによって溶断（切断）される部品である。ヒューズ３２は、ヒューズコネクタ４１（接続手段）を介して、コントローラ基板２０に接続されている。本実施の形態においては、ヒューズ３２が切断された状態は、ランプユニット３０が、ランプ３１が一度でも通電されて使用されたことを示す中古品であることを示し、ヒューズ３２が導通の状態は、ランプユニット３０が新品であることを示すものとする。なお、ヒューズ３２は電流によって切断されるものとしているが、これに限定されるものではなく、例えば、周囲の熱によって切断される温度ヒューズであってもよい。この場合、ヒューズ３２は、切断の条件が揃った際に切断制御部２９により切断されるのではなく、ランプ３１が点灯した際の高温によって切断される。さらに、ヒューズに限定されるものではなく、非可逆的に導通状態から非導通状態に変化することが可能な非可逆的スイッチング手段であればよい。

（ヒューズの切断かヒューズコネクタの接続不良かの判別を行うための回路構成）
図２は、ヒューズの切断とヒューズコネクタの接続不良との判別を行うための電気回路の詳細構成の一例を示す図である。図２を参照しながら、ヒューズの切断かヒューズコネクタの接続不良かの判別を行うための回路構成について説明する。

図２に示すように、コントローラ基板２０と、ランプユニット３０とは、ヒューズコネクタ４１によって電気的に接続される。具体的には、ヒューズコネクタ４１は、基板側コネクタ４１ａおよびランプ側コネクタ４１ｂにより構成されており、コントローラ基板２０側に接続された基板側コネクタ４１ａと、ランプユニット３０側に接続されたランプ側コネクタ４１ｂとが嵌合することによって、コントローラ基板２０とランプユニット３０とが電気的に接続される。なお、図２に示すように、基板側コネクタ４１ａはコントローラ基板２０の基板上に固定され、ランプ側コネクタ４１ｂはランプユニット３０の筐体に固定されているように表記しているが、このような形態に限定されるものではない。すなわち、基板側コネクタ４１ａは、コントローラ基板２０の基板上から分離した状態で、コントローラ基板２０と電気配線を介して接続されるものとしてもよい。また、ランプ側コネクタ４１ｂは、ランプユニット３０の筐体から分離した状態で、ランプユニット３０と電気配線を介して接続されるものとしてもよい。

上述したように、ランプ３１を備えるランプユニット３０には、ヒューズ３２が備えられている。ヒューズ３２は、ヒューズコネクタ４１を介して、コントローラ基板２０に接続され、ヒューズ３２の一端側は、コントローラ基板２０において接地されており、ヒューズ３２の他端側は、抵抗を介して導通確認信号線７０により導通確認部２７に接続されている。ここで、ヒューズコネクタ４１から導通確認部２７までを接続する導通確認信号線７０は第１信号線として機能し、ヒューズコネクタ４１からヒューズ３２までを接続する導通確認信号線７０は第２信号線として機能する。

コントローラ基板２０において、ＭＰＵ２１は、導通確認部２７、信号発生部２８および切断制御部２９にそれぞれ接続している。信号発生部２８の信号出力側は、パルス信号線７１（第３進号線）によって、抵抗およびヒューズコネクタ４１を介してランプユニット３０側の導通確認信号線７０に接続されている。コントローラ基板２０側の導通確認信号線７０は、抵抗Ｒ１を介して制御電源５１に接続されており、いわゆるプルアップされている。制御電源５１は、例えば、図１に示すシステム用電源５０である。

切断制御部２９は、抵抗Ｒ１を短絡するための短絡手段であるスイッチ部２９ａを備えている。切断制御部２９は、ＭＰＵ２１からの指令に従ってヒューズ３２を切断する場合、スイッチ部２９ａによって抵抗Ｒ１を短絡させ、制御電源５１からヒューズ３２に一時的に大きな電流を流すことによって切断する。スイッチ部２９ａは、上述のようにヒューズ３２を切断する場合以外は、常時開放となっている。

（ヒューズの状態およびヒューズコネクタの接続状態と検出波形との関係）
図３は、ヒューズの切断かヒューズコネクタの接続不良かを判定する際のヒューズ導通確認波形のパターンを説明する図である。図４は、ヒューズコネクタの接続状態およびヒューズ状態と、パルス出力前後の検出波形との対応関係を示す図である。図２〜４を参照しながら、ヒューズ３２の状態およびヒューズコネクタ４１の接続状態と、導通確認部２７において検出される信号電圧の波形（以下、検出波形という）との関係について説明する。

図２において、ヒューズ３２が導通しており、かつ、ヒューズコネクタ４１の電気的な接続状態（以下、単に接続状態という）が正常である場合、制御電源５１から、抵抗Ｒ１、ヒューズコネクタ４１およびヒューズ３２を経由して、接地まで電流が流れる。この場合、抵抗Ｒ１では電圧降下が発生するので、導通確認部２７が検出する導通確認信号線７０の電位の検出波形は、図３（ａ）に示すＬｏｗレベルの電圧波形１０１となる。

一方、導通確認信号線７０から、ヒューズコネクタ４１およびヒューズ３２を経由して、接地までのラインにおいて、電気的に導通していない部分があると電流が流れない。この場合、抵抗Ｒ１では電圧降下が発生しないので、導通確認部２７が検出する導通確認信号線７０の電位の検出波形は、図３（ｂ）に示すＨｉｇｈレベルの電圧波形１０２となる。この場合、導通確認部２７においてＨｉｇｈレベルの電圧波形を検出したことのみでは、ヒューズ３２が切断しているのか、ヒューズコネクタ４１の接続不良なのかが判定できない。そこで、導通確認部２７により検出された検出波形がＨｉｇｈレベルの電圧波形である場合、信号発生部２８が、パルス信号線７１に対して、図３（ｃ）に示すパルス波形（矩形波形）の信号である出力波形２０１を出力する。

このとき、ヒューズコネクタ４１が接続不良、すなわち、コントローラ基板２０側の導通確認信号線７０と、ランプユニット３０側の導通確認信号線７０とが接続不良、または、コントローラ基板２０側のパルス信号線７１と、ランプユニット３０側のパルス信号線７１とが接続不良であるものとする。この場合、パルス信号線７１から出力された信号は、導通確認部２７まで伝達しないので、導通確認部２７が検出する導通確認信号線７０の電位の検出波形は、図３（ｄ）に示すように、Ｈｉｇｈレベルで一定の電圧波形１０３となる。したがって、信号発生部２８が信号を出力する前に導通確認部２７がＨｉｇｈレベルの電圧波形を検出し、信号発生部２８が信号を出力した後においても導通確認部２７がＨｉｇｈレベルの電圧波形を検出している場合、ヒューズ３２の導通状態に関わらず、ヒューズコネクタ４１が接続不良であると判定できる。

また、ヒューズコネクタ４１の接続状態が正常であるが、ヒューズ３２が切断されている場合、信号発生部２８が出力したパルス波形の信号は、導通確認信号線７０の電圧に伝播する。この場合、導通確認部２７で検出する導通確認信号線７０の電位の検出波形は、図３（ｅ）に示すように、信号発生部２８が出力する信号の出力波形２０１と同じ波形である電圧波形１０４となる。したがって、信号発生部２８が信号を出力する前に導通確認部２７がＨｉｇｈレベルの電圧波形を検出し、信号発生部２８がパルス波形の信号を出力した後において、導通確認部２７が信号発生部２８により出力された信号の電圧波形と同じ波形を検出した場合、ヒューズ３２が切断されていると判定できる。このとき、ヒューズコネクタ４１の接続状態は正常である。なお、導通確認部２７が、信号発生部２８により出力された信号の電圧波形と同じ波形を検出した場合に、ヒューズ３２が切断されていると判定されるものとしたが、これに限定されるものではない。すなわち、導通確認部２７が、信号発生部２８が出力した信号が導通確認信号線７０の電圧に伝播されていることが検出できれば、ヒューズ３２が切断されていると判定されるものとしてもよい。

以上のように、信号発生部２８がパルス波形の信号を出力する前の導通確認部２７の検出波形、および信号発生部２８がパルス波形の信号を出力した後の導通確認部２７の検出波形の組み合わせによって、図４に示すように、ヒューズコネクタの接続状態およびヒューズ状態を判定することができる。

なお、信号発生部２８が出力する信号をパルス波形の信号としたが、これに限定されるものではなく、その他の任意の波形の信号を出力してもよい。

また、上述においては、コントローラ基板２０とランプユニット３０とがヒューズコネクタ４１によって電気的に接続され、ヒューズコネクタ４１の接続状態が正常であるか否かを判定するものとしているが、これに限定されるものではない。すなわち、コントローラ基板２０とランプユニット３０との接続手段は、コネクタに限定されるものではなく、例えば、端子台等の他の接続手段であってもよい。

（ランプユニット判定動作）
図５は、実施の形態に係るプロジェクタにおいて、ランプが新品であるか否か、ならびに、ヒューズの切断およびヒューズコネクタの接続不良の有無を判定する動作（以下、単にランプユニット判定動作という）の一例を示すフローチャートである。図６は、ヒューズコネクタに接続不良が発生している場合に表示するコメントの一例を示す図である。図７は、ヒューズの切断が発生している場合に表示するコメントの一例を示す図である。図５〜７を参照しながら、本実施の形態にかかるプロジェクタ１のランプユニット判定動作について説明する。プロジェクタ１は、プロジェクタ１の起動時、および、プロジェクタ１からランプユニット３０が取り外されて、再びランプユニットが装着されたことを検出した時に、図５に示すランプユニット判定動作を実行する。このとき、取り外したランプユニットと装着するランプユニットとが同じであるか否かは問わない。

＜ステップＳ１００＞
導通確認部２７は、ＭＰＵ２１からの指令に従って、導通確認信号線７０の電圧波形を検出する。そして、ステップＳ１０１へ進む。

＜ステップＳ１０１＞
ＭＰＵ２１は、導通確認部２７により検出された検出波形が、Ｈｉｇｈレベルで一定の電圧波形か、Ｌｏｗレベルで一定の電圧波形かを判定する。検出波形がＨｉｇｈレベルの電圧波形である場合（ステップＳ１０１：Ｙｅｓ）、ステップＳ１０２へ進み、Ｌｏｗレベルの電圧波形である場合（ステップＳ１０１：Ｎｏ）、ステップＳ１０７へ進む。なお、このＭＰＵ２１によって検出波形がＨｉｇｈレベルで一定の電圧波形か、Ｌｏｗレベルで一定の電圧波形かを判定される機能は、ＭＰＵ２１におけるプログラムの実行により実現されることに限定されず、ハードウェアにより実現されてもよい。

＜ステップＳ１０２＞
ＭＰＵ２１は、少なくとも、導通確認部２７から、ヒューズコネクタ４１を介した導通確認信号線７０を経由したヒューズ３２までのラインで非導通状態になっていると判定する。そして、信号発生部２８は、ＭＰＵ２１の指令に従って、パルス信号線７１に対して、パルス波形の信号を出力する。そして、ステップＳ１０３へ進む。

＜ステップＳ１０３＞
導通確認部２７は、ＭＰＵ２１からの指令に従って、再び導通確認信号線７０の電圧波形を検出する。そして、ステップＳ１０４へ進む。

＜ステップＳ１０４＞
ＭＰＵ２１は、導通確認部２７により検出された検出波形が、信号発生部２８により出力されたパルス波形と同一であるか否かを判定する。検出波形がＨｉｇｈレベルで一定の電圧波形のままである場合（ステップＳ１０４：Ｎｏ）、ステップＳ１０５へ進み、検出波形が信号発生部２８により出力されたパルス波形と同一である場合（ステップＳ１０４：Ｙｅｓ）、ステップＳ１０６へ進む。なお、このＭＰＵ２１によって検出波形が信号発生部２８により出力されたパルス波形と同一であるか否かが判定される機能は、ＭＰＵ２１におけるプログラムの実行により実現されることに限定されず、ハードウェアにより実現されてもよい。

＜ステップＳ１０５＞
ＭＰＵ２１は、ヒューズコネクタ４１に接続不良が発生していると判定する。そして、ＭＰＵ２１は、図６に示すような、ユーザにヒューズコネクタ４１の接続状態を確認してランプユニット３０の再装着を促す表示コメント３０１を含む画像データを出力し、光学エンジン１０に表示コメント３０１を含む画像を投影させる。そして、ランプユニット判定動作を終了する。この場合、表示コメント３０１に従って、ユーザがランプユニット３０を再装着した場合、プロジェクタ１は、再度、ランプユニット判定動作を実行することになる。

これによって、ヒューズコネクタ４１の接続不良が検出できるので、ユーザに対して、ランプユニット３０が中古品であるという誤判定を報知することなく、ヒューズコネクタ４１の再接続を促すことができる。

なお、表示コメント３０１は、光学エンジン１０による画像投影によって表示されるものとしたが、これに限定されるものではない。例えば、プロジェクタ１は、図示しない液晶表示装置等の表示手段（第１表示手段）を備えるものとし、この表示手段に表示コメント３０１を表示させるものとしてもよい。

＜ステップＳ１０６＞
ＭＰＵ２１は、ヒューズ３２が切断されていると判定する。そして、ＭＰＵ２１は、図７に示すような、ランプユニット３０が中古品である旨、および、新品のランプユニット３０へ交換した場合に累積点灯時間の手動リセットを促す表示コメント３０２を含む画像データを出力し、光学エンジン１０に表示コメント３０２を含む画像を投影させる。

この場合、例えば、プロジェクタ１は、図示しないリセットボタンと、キャンセルボタンとを備えているものとする。ユーザは、中古品のランプユニット３０をそのまま継続使用する場合、キャンセルボタンを押下し、ランプユニット判定動作が終了する。一方、ユーザは、表示コメント３０２に従って、中古品のランプユニット３０を新品のランプユニット３０に交換した場合、リセットボタンを押下する。これによって、ＭＰＵ２１は、カウンタ２５によって計測されていた累積点灯時間をリセットし、ランプユニット判定動作が終了する。

以上のように、ヒューズ３２の切断状態が検出できるので、ランプユニット３０が正確に中古品であることが判定され、新品のランプユニット３０に交換した場合には、ユーザの認識のもとに確実に累積点灯時間をリセットすることができる。

なお、中古品のランプユニット３０が装着されたプロジェクタ１において、起動毎に、ステップＳ１０６における表示コメント３０２を含む画像の投影表示は、ユーザにとって煩わしさを与える可能性もあるので、起動時においては、ステップＳ１０６の処理をスキップしてもよい。

また、表示コメント３０２は、光学エンジン１０による画像投影によって表示されるものとしたが、これに限定されるものではない。例えば、プロジェクタ１は、上述のように、液晶表示装置等の表示手段（第２表示手段）を備えるものとし、この表示手段に表示コメント３０２を表示させるものとしてもよい。

＜ステップＳ１０７＞
ＭＰＵ２１は、ヒューズ３２が導通しており、かつ、ヒューズコネクタ４１の接続状態が正常であり、ランプユニット３０が新品であると判定する。そして、ＭＰＵ２１は、カウンタ２５によって計測されていた累積点灯時間を自動リセットしてリスタートさせ、ランプユニット判定動作を終了させる。そして、ＭＰＵ２１は、リスタート後からシャットダウンまでの間の任意のタイミングで、切断制御部２９に対して、ヒューズ３２に一時的に大きな電流を流すことによって、ヒューズ３２を溶断（切断）させる。

以上のように、本実施の形態に係るプロジェクタ１は、導通確認部２７によってヒューズ３２を含むラインが電気的に開放状態であることを検出した場合、信号発生部２８により導通確認信号線７０に対して任意の信号を出力させるものとしている。そして、プロジェクタ１は、導通確認部２７の検出波形に対して、信号発生部２８からの出力信号が導通確認信号線７０の電圧に伝播されているか否かを判定するものとしている。これによって、上述の電気的な開放状態が、ヒューズ３２の切断によるものであるのか、ヒューズコネクタ４１の接続不良によるものであるのかの判定が可能となり、ランプユニット３０が新品であるのにも関わらず、中古品であると誤判定されることを抑制できる。

また、プロジェクタ１は、ヒューズ３２の切断状態が検出された場合、ランプユニット３０が中古品であり、新品のランプユニット３０へ交換した場合に累積点灯時間の手動リセットを促す旨を報知するものとしている。これによって、ランプユニット３０が正確に中古品であることが判定され、新品のランプユニット３０に交換した場合には、ユーザの認識のもとに確実に累積点灯時間をリセットすることができる。

なお、上述の実施の形態のプロジェクタ１のＭＰＵ２１で実行されるプログラムは、インストール可能な形式または実行可能な形式のファイルでＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、メモリカード、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ）、フレキシブルディスク（ＦＤ）等のコンピュータで読み取り可能な記憶媒体に記憶されて提供される。

また、上述の実施の形態のプロジェクタ１のＭＰＵ２１で実行されるプログラムは、インターネット等のネットワークに接続されたコンピュータ上に格納され、ネットワーク経由でダウンロードされることにより提供されるようにしてもよい。また、上述の実施の形態のプロジェクタ１のＭＰＵ２１で実行されるプログラムは、インターネット等のネットワーク経由で提供または配布されるようにしてもよい。また、上述の実施の形態のプロジェクタ１のＭＰＵ２１で実行されるプログラムは、ＲＯＭ等に予め組み込んで提供されるようにしてもよい。

上述の実施の形態のプロジェクタ１のＭＰＵ２１で実行されるプログラムは、上述したＭＰＵ２１で実行される各機能をコンピュータ上で実現させるためのモジュール構成となっている。実際のハードウェアとしては、ＭＰＵ２１が記憶装置（メモリ２４）からプログラムを読み出して実行することによって、上述の各機能がコンピュータ上で実現されるようになっている。

１ プロジェクタ
２ ビデオカメラ
３、４ ＰＣ
１０ 光学エンジン
１１ 光学フィルタ
１２ マイクロミラーデバイス
１３ レンズ
２０ コントローラ基板
２１ ＭＰＵ
２２ 外部インターフェース部
２３ ＮＩＣ
２４ メモリ
２５ カウンタ
２６ 光学制御部
２７ 導通確認部
２８ 信号発生部
２９ 切断制御部
２９ａ スイッチ部
３０ ランプユニット
３１ ランプ
３２ ヒューズ
４０ ランプコネクタ
４１ ヒューズコネクタ
４１ａ 基板側コネクタ
４１ｂ ランプ側コネクタ
５０ システム用電源
５１ 制御電源
６０ ランプ用電源
７０ 導通確認信号線
７１ パルス信号線
１０１〜１０４ 電圧波形
２０１ 出力波形
３０１、３０２ 表示コメント
Ｒ１ 抵抗

特開平１０−１７７８９８号公報

Claims (8)

1. 光を照射するランプと、前記ランプに通電すると導通状態から非可逆的に非導通状態となる非可逆的スイッチング手段とを有するランプユニットと、
   第１信号線の電圧を検出する電圧検出手段と、
   前記非可逆的スイッチング手段と第２信号線で接続され、前記第１信号線と前記第２信号線とを接続する接続手段と、
   第３信号線を介して前記第２信号線に信号を出力する信号発生手段と、
   前記信号発生手段により前記信号が出力される前に前記電圧検出手段により検出された検出電圧と、前記信号発生手段により前記信号が出力された後に前記電圧検出手段により検出された検出電圧と、に基づいて、前記非可逆的スイッチング手段が非導通状態であるのか、前記接続手段が接続不良であるのかを判定する判定手段と、
   を備えた機器。
2. 前記判定手段は、前記信号発生手段により前記第２信号線に前記信号が出力された状態で前記電圧検出手段により検出された前記第２信号線の検出電圧の電圧波形が、前記信号発生手段により前記第２信号線に前記信号が出力される前に前記電圧検出手段により検出された前記第２信号線の検出電圧の電圧波形と同一である場合、前記接続手段が接続不良であると判定し、同一でない場合、前記非可逆的スイッチング手段が非導通状態であると判定する請求項１に記載の機器。
3. 第１表示手段をさらに備え、
   前記判定手段は、前記接続手段が接続不良であると判定した場合、前記第１表示手段に前記接続手段の再接続を促す旨を表示させる請求項１または２に記載の機器。
4. 前記非可逆的スイッチング手段を非導通状態にする非導通化手段をさらに備え、
   前記非導通化手段は、前記ランプに初めに通電された状態から非通電状態となるまでに、前記非可逆的スイッチング手段を非導通状態にする請求項１〜３のいずれか一項に記載の機器。
5. 第２表示手段と、
   前記ランプに初めに通電された状態から累積点灯時間を計測する計測手段と、
   をさらに備え、
   前記判定手段は、前記非可逆的スイッチング手段が非導通状態であると判定した場合、前記第２表示手段に、前記ランプユニットが中古品である旨、および、前記ランプユニットを新品に交換した場合には前記累積点灯時間のリセットを促す旨を表示させる請求項４に記載の機器。
6. 前記非可逆的スイッチング手段は、ヒューズである請求項１〜５のいずれか一項に記載の機器。
7. 光を照射するランプと、前記ランプに通電すると導通状態から非可逆的に非導通状態となる非可逆的スイッチング手段とを有するランプユニットと、
   画像データを生成する画像生成手段と、
   前記画像データに基づく画像を、前記ランプからの光によって投影する投影手段と、
   第１信号線の電圧を検出する電圧検出手段と、
   前記非可逆的スイッチング手段と第２信号線で接続され、前記第１信号線と前記第２信号線とを接続する接続手段と、
   第３信号線を介して前記第２信号線に信号を出力する信号発生手段と、
   前記信号発生手段により前記信号が出力される前に前記電圧検出手段により検出された検出電圧と、前記信号発生手段により前記信号が出力された後に前記電圧検出手段により検出された検出電圧と、に基づいて、前記非可逆的スイッチング手段が非導通状態であるのか、前記接続手段が接続不良であるのかを判定する判定手段と、
   を備えた画像投影装置。
8. 光を照射するランプと、前記ランプに通電すると導通状態から非可逆的に非導通状態となる非可逆的スイッチング手段とを有するランプユニットと、
   第１信号線の電圧を検出する電圧検出手段と、
   前記非可逆的スイッチング手段と第２信号線で接続され、前記第１信号線と前記第２信号線とを接続する接続手段と、
   第３信号線を介して前記第２信号線に信号を出力する信号発生手段と、
   を備えた機器において、
   前記信号発生手段により前記信号が出力される前に前記電圧検出手段により検出された検出電圧と、前記信号発生手段により前記信号が出力された後に前記電圧検出手段により検出された検出電圧と、に基づいて、前記非可逆的スイッチング手段が非導通状態であるのか、前記接続手段が接続不良であるのかを判定する判定手段をコンピュータに実現させるためのプログラム。

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