JP2015103561A - 発光装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】耐熱性の向上及び光取り出し効率の向上を図ることが可能な発光装置を提供する。【解決手段】発光装置1aは、実装基板2と、実装基板2の第1面2a側に実装された発光素子3と、実装基板2の第1面2a側で発光素子3を覆っているカバー4と、を備える。カバー4は、実装基板2の第1面2a側で発光素子3を覆う第1カバー層41と、第1カバー層41を覆う第2カバー層42と、を備える。第1カバー層41は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されている。第2カバー層42は、シリコーン樹脂と、発光素子3から放射された光の一部を波長変換して異なる波長の光を放射する蛍光体粒子と、の混合体で形成されている。【選択図】図1
Description
本発明は、LEDチップ(light emitting diode chip)、LDチップ(laser diode chip)等の発光素子を備えた発光装置に関するものである。
従来、この種の発光装置としては、例えば、図6に示す構成のLED装置151が提案されている(特許文献1)。
LED装置151は、支持体123と、LEDチップ114と、LED封止樹脂体117と、を備える。
LEDチップ114は、支持体123上において、出射面114aが上になるように、半田127等によって支持体123に固定されている。また、LEDチップ114は、ボンディングワイヤ121によって、支持体123に設けられた電極122に電気的に接続されている。
LED封止樹脂体117は、シリコーン樹脂112と、蛍光体113と、耐熱性材料115と、を含む。
耐熱性材料115は、シリコーン樹脂112がLEDチップ114から放射される熱や紫外線によって劣化するのを抑制する。特許文献1には、耐熱性材料115として、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄が挙げられている。
LED封止樹脂体117は、耐熱性材料115を担持した蛍光体113がシリコーン樹脂112中に分散している。つまり、LED封止樹脂体117は、蛍光体113の表面に耐熱性材料115が担持された複合蛍光体116を含んでいる。
発光装置の分野においては、LED装置151に限らず、光取り出し効率の更なる向上が望まれている。
本発明は上記事由に鑑みて為されたものであり、その目的は、耐熱性の向上及び光取り出し効率の向上を図ることが可能な発光装置を提供することにある。
本発明の発光装置は、実装基板と、前記実装基板の第1面側に実装された発光素子と、前記実装基板の前記第1面側で前記発光素子を覆っているカバーと、を備える。前記カバーは、前記実装基板の前記第1面側で前記発光素子を覆う第1カバー層と、前記第1カバー層を覆う第2カバー層と、を備える。前記第1カバー層は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されている。前記第2カバー層は、シリコーン樹脂と、前記発光素子から放射された光の一部を波長変換して異なる波長の光を放射する蛍光体粒子と、の混合体で形成されている。
この発光装置において、前記第1カバー層は、半球状の形状に形成されているのが好ましい。
この発光装置において、前記実装基板は、支持体と、前記支持体の第1面側に所定のパターンで形成され前記発光素子が電気的に接続される第1導体部及び第2導体部と、を備え、前記支持体は、セラミック基板もしくは金属基板により構成されているのが好ましい。
この発光装置において、前記発光素子は、前記実装基板に接合部を介して接合され、前記接合部は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されているのが好ましい。
この発光装置において、前記カバーは、前記第2カバー層と前記実装基板の前記第1面との間に介在する耐熱層を備え、前記耐熱層は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されているのが好ましい。
この発光装置において、前記粒子の平均粒径は、10μm以下であるのが好ましい。
本発明の発光装置は、前記第1カバー層が、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される少なくとも1種の材料からなる粒子と、の混合体で形成され、前記第2カバー層が、シリコーン樹脂と、前記発光素子から放射された光の一部を波長変換して異なる波長の光を放射する蛍光体粒子と、の混合体で形成されている。これにより、本発明の発光装置においては、耐熱性の向上及び光取り出し効率の向上を図ることが可能となる。
以下では、本実施形態の発光装置1aについて、図1及び2に基づいて説明する。
発光装置1aは、実装基板2と、実装基板2の第1面2a側に実装された発光素子3と、実装基板2の第1面2a側で発光素子3を覆っているカバー4と、を備える。カバー4は、実装基板2の第1面2a側で発光素子3を覆う第1カバー層41と、第1カバー層41を覆う第2カバー層42と、を備える。第1カバー層41は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム(CeO2)、酸化チタン(TiO2)、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されている。第2カバー層42は、シリコーン樹脂と、発光素子3から放射された光の一部を波長変換して異なる波長の光を放射する蛍光体粒子と、の混合体で形成されている。よって、発光装置1aは、耐熱性の向上及び光取り出し効率の向上を図ることが可能となる。
発光装置1aの各構成要素については、以下に、より詳細に説明する。
発光素子3は、LEDチップ30により構成されている。LEDチップ30は、基板31を備え、基板31の第1面31a側に、半導体材料により形成された多層膜32を備えている。多層膜32は、第1導電型半導体層と、第2導電型半導体層と、を備える。多層膜32は、第1導電型半導体層が、第2導電型半導体層よりも基板31の第1面31aに近い位置に形成されている。言い換えれば、第2導電型半導体層は、第1導電型半導体層における基板31側とは反対側に形成されている。LEDチップ30は、第1導電型半導体層がn型半導体層により構成され、第2導電型半導体層がp型半導体層により構成されている。LEDチップ30は、第1導電型半導体層がp型半導体層により構成され、第2導電型半導体層がn型半導体層により構成されていてもよい。
基板31は、多層膜32を支持する機能を備える。多層膜32は、エピタキシャル成長法等により形成することができる。エピタキシャル成長法は、結晶成長法を採用することができる。結晶成長法としては、例えば、有機金属気相成長(metal organic vapor phase epitaxy:MOVPE)法、ハイドライド気相成長(hydride vapor phase epitaxy:HVPE)法、分子線エピタキシー(molecular beam epitaxy:MBE)法等を採用できる。なお、多層膜32は、この多層膜32を形成する際に不可避的に混入される水素、炭素、酸素、シリコン、鉄等の不純物が存在してもよい。基板31は、例えば、多層膜32を形成する際の結晶成長用基板により構成することができる。
LEDチップ30は、青色光を放射する青色LEDチップにより構成してある。LEDチップ30は、GaN系青色LEDチップにより構成する場合、基板31として、例えば、GaN基板を採用することができる。GaN系青色LEDチップとは、多層膜32の半導体材料としてGaN系材料を採用したLEDチップである。GaN系材料としては、例えば、GaN、AlGaN、InAlGaN等が挙げられる。基板31は、多層膜32から放射される光を効率良く透過できる材料により形成されていればよく、GaN基板に限らず、例えば、サファイア基板等を採用することもできる。要するに、基板31は、多層膜32から放射される光に対して透明な基板が好ましい。LEDチップ30は、多層膜32が、基板31と第1導電型半導体層との間に介在するバッファ層(buffer layer)を備えた構成でもよい。LEDチップ30は、多層膜32の半導体材料を特に限定するものではない。また、LEDチップ30は、発光波長を特に限定するものではない。LEDチップ30は、青色LEDチップに限らず、例えば、紫色光を放射する紫色LEDチップ等でもよい。
LEDチップ30は、多層膜32が、第1導電型半導体層と第2導電型半導体層との間に、発光層を備えているのが好ましい。この場合、多層膜32から放射される光は、発光層から放射される光であり、発光層の材料により発光波長が規定される。発光層は、単一量子井戸構造や多重量子井戸構造を有することが好ましいが、これに限らない。例えば、LEDチップ30は、第1導電型半導体層と発光層と第2導電型半導体層とで、ダブルヘテロ構造(double heterostructure)を構成するようにしてもよい。
第1導電型半導体層は、単層構造に限らず、多層構造でもよい。また、第2導電型半導体層は、単層構造に限らず、多層構造でもよい。
LEDチップ30は、多層膜32の一部を、多層膜32の表面側から第1導電型半導体層の途中までエッチングすることで除去してある。要するに、LEDチップ30は、多層膜32の一部をエッチングすることで形成された、図示しないメサ構造(mesa structure)を有している。これにより、LEDチップ30は、第2導電型半導体層の表面と第1導電型半導体層の表面との間に段差が形成されている。LEDチップ30は、第1導電型半導体層の露出した表面上に第1電極が形成され、第2導電型半導体層の表面上に第2電極が形成されている。LEDチップ30は、第1導電型半導体層の導電型(第1導電型)がn型であり、第2導電型半導体層の導電型(第2導電型)がp型である場合、第1電極、第2電極が、負電極、正電極を、それぞれ構成する。また、LEDチップ30は、第1導電型がp型であり、第2導電型がn型である場合、第1電極、第2電極が、正電極、負電極を、それぞれ構成する。いずれにしても、LEDチップ30は、このLEDチップ30の厚み方向の一面側に、第1電極と、第2電極と、が設けられている。
LEDチップ30のチップサイズ(chip size)は、特に限定するものではない。LEDチップ30は、平面形状が長方形状の場合、例えば、チップサイズが0.52mm×0.39mmのものを用いることができる。また、LEDチップ30は、平面形状が正方形状の場合、例えば、チップサイズが0.3mm□(0.3mm×0.3mm)、0.45mm□(0.45mm×0.45mm)、1mm□(1mm×1mm)等のものを用いることができる。LEDチップ30については、平面形状やチップサイズを限定するものではない。
実装基板2は、発光素子3を実装する基板である。「実装する」とは、発光素子3を配置して機械的に接続すること及び電気的に接続することを含む概念である。
実装基板2は、支持体20と、支持体20の第1面20a側に所定のパターンで形成され発光素子3が電気的に接続される第1導体部23及び第2導体部24と、を備える。実装基板2は、第1導体部23と第2導体部24とが空間的に分離されるように形成されている。支持体20は、セラミック基板21により構成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、支持体20が樹脂基板により構成されている場合に比べて、放熱性を向上させることが可能となり、発光装置1aの光出力の高出力化を図ることが可能となる。
第1導体部23及び第2導体部24は、例えば、Ni膜とAu膜との積層膜により構成することができる。第1導体部23及び第2導体部24は、Ni膜とAu膜との積層膜に限らず、例えば、Cu膜とNi膜とPd膜とAu膜との積層膜、Cu膜とNi膜とAu膜との積層膜、Ti膜とPt膜とAu膜との積層膜等を採用することができる。第1導体部23及び第2導体部24は、積層膜により構成する場合、支持体20から最も離れた最上層の膜がAuにより形成され、支持体20に最も近い最下層の膜が支持体20との密着性の高い材料により形成されているのが好ましい。第1導体部23及び第2導体部24は、積層膜に限らず、単層膜により構成してもよい。
発光装置1aにおいて、発光素子3は、実装基板2に接合部5を介して接合されている。これにより、発光装置1aは、発光素子3が実装基板2に機械的に接続されている。接合部5の材料は、発光素子3から放射される光に対する透過率が高い材料が好ましく、例えば、シリコーン樹脂、エポキシ樹脂、シリコーン樹脂とエポキシ樹脂とのハイブリッド材料等を採用することができる。これにより、接合部5は、発光素子3から放射される光を通すことができる。
発光装置1aは、支持体20における発光素子3の搭載用領域に、発光素子3が接合部5を介して接合されている。
支持体20を構成するセラミック基板21は、平板状の形状に形成されている。セラミック基板21は、光の拡散透過性を有しおり、発光素子3から放射される光を透過したり、拡散したりする。セラミック基板21の材質としては、例えば、透光性セラミックスを採用することができる。透光性セラミックスとしては、例えば、アルミナセラミックス等を採用することができる。透光性セラミックスは、バインダ、添加物等の種類や濃度によって、透過率、反射率、屈折率及び熱伝導率を調整することも可能である。
セラミック基板21は、光拡散性を有することが好ましい。これにより、発光装置1aは、発光素子3からセラミック基板21側へ放射された光が、セラミック基板21内で拡散される。これにより、発光装置1aは、発光素子3からセラミック基板21側へ出射した光が発光素子3へ戻るのを、より抑制することが可能となる。また、発光装置1aは、支持体20の第1面20aにおける発光素子3の投影領域201の周辺領域202から光を取り出しやすくなる。よって、発光装置1aは、光取り出し効率の向上を図ることが可能となり、全光束量を向上させることが可能となる。支持体20の第1面20aにおける発光素子3の投影領域とは、発光素子3を発光素子3の厚み方向に沿って支持体20の第1面20aに投影した領域を意味する。また、支持体20の第1面20aにおける周辺領域202のうち光が出射されるのは、第1導体部23及び第2導体部24が形成されてない部位である。発光装置1aは、実装基板2が、セラミック基板21により構成される支持体20の第2面20bに、発光素子3からの光を反射する反射層を備えた構成としてもよい。また、発光装置1aは、実装基板2の第2面2bに、発光素子3からの光を反射する反射部材を配置した構成としてもよい。反射層や反射部材は、セラミック基板21により構成される支持体20の第2面20bにおける、カバー4の垂直投影領域よりも広い領域に形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、発光素子3から放射され反射層又は反射部材で反射された光が、カバー4を通らずに出射されるのを抑制することが可能となり、色むらを抑制することが可能となる。「色むら」とは、光の照射方向によって色度が変化している状態である。発光装置1aは、放熱性の観点から、反射層や反射部材が、金属により形成されているのが好ましい。また、発光装置1aは、放熱性の観点から、反射層や反射部材が、より広い領域に形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、発光素子3で発生して反射層や反射部材へ伝導された熱を、より広い範囲に伝導させることが可能となり、放熱性を、より向上させることが可能となる。
セラミック基板21は、例えば、アルミナ基板により構成することができる。アルミナ基板は、アルミナ粒子の粒径を0.6μm程度に設定してある。アルミナ基板は、アルミナ粒子の粒径が、0.5μm〜5μmの範囲内であることが好ましい。アルミナ基板は、アルミナ粒子の粒径が大きくなるにつれて反射率が低くなり、アルミナ粒子の粒径が小さくなるにつれて光の散乱効果が大きくなる傾向にある。要するに、反射率を低くすることと、散乱効果を大きくすることとは、トレードオフの関係にある。
上述の粒径とは、個数基準粒度分布曲線により得られる値である。ここで、個数基準粒度分布曲線は、画像イメージング法により粒度分布を測定し得られるもので、具体的には、走査型電子顕微鏡(scanning electron microscope:SEM)によって観察してSEM画像を取得し、そのSEM画像を画像処理して求めた粒子の大きさ(二軸平均径)と個数とから得られるものである。この個数基準粒度分布曲線において積算値が50%のときの粒径値をメディアン径(d50)といい、上述の粒径は、メディアン径を意味している。
なお、理論上、アルミナ基板における球形のアルミナ粒子の粒径と反射率との関係は、粒径が小さくなるほど反射率が高くなる傾向にある。
実装基板2は、例えば、1550℃〜1600℃程度の焼成温度で焼成されたアルミナ基板により構成されるセラミック基板21に対して、第1導体部23及び第2導体部24を薄膜形成技術やめっき技術等により形成した構成とすることができる。
実装基板2の平面形状は、長方形状としてある。実装基板2の平面形状は、長方形状に限らず、例えば、長方形状以外の多角形状や、円形状などでもよい。
発光装置1aは、実装基板2の第1面2a側に複数の発光素子3を備えているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、発光装置1aの光出力の高出力化を図ることが可能となる。発光素子3がLEDチップの場合、発光装置1aは、LEDモジュール(LED module)を構成する。LEDモジュールは、例えば、JIS Z9112:2012等において定義されている。
発光装置1aは、複数の発光素子3がアレイ状に配列された構成とすることができる。図2は、複数の発光素子3が2次元アレイ状に配列された構成の発光装置1aの概略平面図である。なお、図1は、図2のB−B断面に対応する概略断面図である。
発光装置1aは、複数の発光素子3のうち直列接続する発光素子3の一群が、第1導体部23と第2導体部24とを結ぶ仮想線M1上に配置してある。発光装置1aは、仮想線M1上において第1導体部23に最も近い発光素子3の第1電極が、第1ワイヤ6aにより第1導体部23と電気的に接続されている。また、発光装置1aは、仮想線M1上において第2導体部24に最も近い発光素子3の第2電極が、第2ワイヤ6bにより第2導体部24と電気的に接続されている。また、発光装置1aは、仮想線M1上において隣り合う発光素子3のうち第1導体部23側の発光素子3の第2電極と第2導体部24側の発光素子3の第1電極とが、第3ワイヤ6cにより電気的に接続されている。よって、発光装置1aは、各発光素子3の近傍に第1導体部23及び第2導体部24が存在する場合に比べて、第1導体部23や第2導体部24での光の損失を抑制することが可能となり、光取り出し効率の向上を図ることが可能となる。第1導体部23や第2導体部24での光の損失としては、例えば、発光素子3から放射され第1導体部23や第2導体部24に直接的に入射する光の、第1導体部23や第2導体部24での吸収損失がある。また、第1導体部23や第2導体部24での光の損失としては、例えば、発光素子3からセラミック基板21へ入射して、セラミック基板21内を通って第1導体部23や第2導体部24に入射する光の、第1導体部23や第2導体部24での吸収損失がある。第1ワイヤ6a、第2ワイヤ6b及び第3ワイヤ6cとしては、例えば、金ワイヤ、銀ワイヤ、銅ワイヤ、アルミニウムワイヤ等を採用することができる。
発光装置1aは、複数の仮想線M1を想定しており、各仮想線M1の各々に、一群の発光素子3として4個の発光素子3を配置してある。図2に示した例では、仮想線M1の本数を4本としてある。発光装置1aは、複数の発光素子3を接続した接続形態として、複数の発光素子3が直並列接続された接続形態を採用している。発光装置1aは、複数の発光素子3の接続形態を限定するものではなく、例えば、複数の発光素子3が直列接続された接続形態を採用してもよいし、複数の発光素子3が並列接続された接続形態を採用してもよい。実装基板2は、予め決定された複数の発光素子3の接続形態に基づいて所定のパターンに形成された第1導体部23及び第2導体部24を備えていればよい。発光装置1aは、仮想線M1の数や仮想線M1上の発光素子3の数を限定するものではない。発光装置1aは、発光素子3が2次元アレイ状に配列されているが、これに限らず、例えば、1次元アレイ状に配列されたものでもよい。発光装置1aは、発光素子3の数が1つの場合、発光素子3の第1電極と第1導体部23とを第1ワイヤ6aを介して電気的に接続し、第2電極と第2導体部24とを第2ワイヤ6bを介して電気的に接続した構成とすることができる。
発光装置1aは、カバー4が、仮想線M1上に配置された一群の発光素子3と第1ワイヤ6aと第2ワイヤ6bと各第3ワイヤ6cとを覆うようにライン状に形成されているのが好ましい。発光装置1aは、カバー4が、仮想線M1上に配置された複数の発光素子3と第1ワイヤ6aと第2ワイヤ6bと第3ワイヤ6cとを覆うライン状の封止部を兼ねている。これにより、発光装置1aは、第1ワイヤ6a、第2ワイヤ6b及び第3ワイヤ6cそれぞれの断線が発生するのを抑制することが可能となり、信頼性の向上を図ることが可能となる。
カバー4は、ライン状の形状として、例えば、半円柱状の形状とすることができる。発光装置1aは、カバー4が、半円柱状の形状に形成されていることにより、光取り出し効率の向上を図れ、且つ、色むらを抑制することが可能となる。カバー4は、複数の第1カバー層41と、1つの第2カバー層42と、を備えており、第1カバー層41が半球状の形状に形成され、第2カバー層42が半円柱状の形状に形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、複数の発光素子3を覆う1つのカバー4が、1つの第1カバー層41と1つの第2カバー層42とで構成されている場合に比べて、光取り出し効率の向上を図れ、且つ、色むらを抑制することが可能となる。
発光装置1aは、発光素子3の数が1つの場合も第1カバー層41が半球状の形状に形成されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、図3に示すように第1カバー層41が直方体状に形成されている第1変形例の発光装置1bに比べて、色むらを抑制することが可能となる。カバー4の表面の形状は、カバー4の表面において発光素子3からの光線が交わる点の法線と上記光線とのなす角が臨界角よりも小さくなるように設計するのが好ましい。ここで、発光装置1aは、カバー4の表面の略全面で、発光素子3からの上記光線の入射角(光入射角度)が臨界角よりも小さくなるように、カバー4の表面の形状を設計することが好ましい。このため、カバー4は、例えば、半球状に形成されているのが好ましい。発光装置1aは、発光素子3の光軸とカバー4の光軸とが一致するようにカバー4が設計されているのが好ましい。これにより、発光装置1aは、カバー4の表面(カバー4と空気との境界面)での全反射を抑制することが可能となるだけでなく、色むらを抑制することが可能となる。発光装置1aは、色むらを人が視認できない程度に抑制することが可能となる。また、発光装置1aは、発光素子3からカバー4の表面までの光路長を発光素子3からの光の放射方向によらず略均一化することが可能となり、色むらをより抑制することが可能となる。カバー4の形状は、半球状に限らず、例えば、半楕円球状の形状でもよい。
発光装置1aは、第1導体部23及び第2導体部24それぞれを櫛形状の形状として互いに対向配置してあるが、第1導体部23及び第2導体部24それぞれの形状は特に限定するものではない。また、仮想線M1は、直線としてあるが、直線に限らず、曲線や、直線と曲線とを組み合わせた線などでもよい。
第1カバー層41は、上述のように、シリコーン樹脂と、酸化セリウムの粒子と、の混合体で形成されている。第1カバー層41は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されていればよい。第1カバー層41は、シリコーン樹脂により形成される透明層に、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子が分散されている。炭素としては、例えば、カーボンブラック、黒鉛等を採用することができる。第1カバー層41において、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子の含有量は、1wt%以下であるのが好ましい。これにより、発光装置1aは、第1カバー層41の光の透過率が低下しすぎるのを抑制することが可能となる。第1カバー層41は、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子を1種類だけ含むものに限らず、複数種を含んだものでもよい。例えば、第1カバー層41は、シリコーン樹脂と、酸化セリウムの粒子と、酸化チタンの粒子と、の混合体で形成されていてもよい。
第2カバー層42は、上述のように、シリコーン樹脂と、発光素子3から放射された光の一部を波長変換して異なる波長の光を放射する蛍光体粒子と、の混合体で形成されている。蛍光体粒子は、発光素子3から放射される光によって励起されて発光素子3の光とは異なる色の光を放射するものである。これにより、発光装置1aは、発光素子3から放射される光と蛍光体粒子から放射される光との混色光を得ることが可能となる。発光装置1aは、例えば、発光素子3として青色LEDチップを採用し、蛍光体粒子として黄色蛍光体粒子を採用すれば、白色光を得ることが可能となる。すなわち、発光装置1aは、発光素子3から放射された青色の光と黄色蛍光体粒子から放射された黄色の光とがカバー4から出射可能となり、白色光を得ることが可能となる。
蛍光体粒子としては、黄色蛍光体粒子だけに限らず、例えば、黄色蛍光体粒子と赤色蛍光体粒子とを採用してもよい。黄色蛍光体粒子としては、例えば、Ce3+付活YAG(Yttrium Aluminum Garnet)蛍光体の粒子、Eu2+付活酸窒化物蛍光体の粒子等を採用することができる。Ce3+付活YAG蛍光体としては、例えば、Y3Al5O12:Ce3+等が挙げられる。Eu2+付活酸窒化物蛍光体としては、例えば、SrSi2O2N2:Eu2+等が挙げられる。赤色蛍光体粒子としては、例えば、Eu2+付活窒化物蛍光体の粒子等を採用することができる。Eu2+付活窒化物蛍光体としては、例えば、(Sr,Ca)AlSiN3:Eu2+や、CaAlSiN3:Eu2+等が挙げられる。
また、蛍光体粒子としては、1種類の黄色蛍光体粒子に限らず、発光ピーク波長の異なる2種類の黄色蛍光体粒子を採用してもよい。発光装置1aは、波長変換材料として複数種の蛍光体粒子を採用することにより、演色性を高めることが可能となる。また、蛍光体粒子としては、赤色蛍光体粒子と緑色蛍光体粒子とを採用してもよい。緑色蛍光体粒子としては、例えば、組成がCaSc2O4:Ce3+、Ca3Sc2Si3O12:Ce3+、(Ca、Sr、Ba)Al2O4:Eu2+、SrGa2S4:Eu2+等の蛍光体の粒子を採用することができる。
蛍光体粒子は、平均粒径が、例えば、1μm〜10μmの範囲にあることが好ましい。蛍光体粒子は、平均粒径が大きい方が、欠陥密度が小さく、エネルギ損失が少なくなって発光効率が高くなる傾向にある。このため、蛍光体粒子は、発光効率の観点から、平均粒径が5μm以上のものを採用することが好ましい。
第2カバー層42は、蛍光体粒子の含有量が、例えば、3wt%〜50wt%の範囲にあるのが好ましい。
第1カバー層41及び第2カバー層42のシリコーン樹脂としては、例えば、熱硬化型のシリコーン樹脂、2液硬化型のシリコーン樹脂、光硬化型のシリコーン樹脂等を採用することができる。
発光装置1aから出射される混色光は、例えば、JIS Z9112:2012で定義されているLEDの光源色の相関色温度に基づいて設定することができる。JIS Z9112:2012では、LEDの光源色が、XYZ表色系における色度によって、昼光色、昼白色、白色、温白色及び電球色の5種類に区分される。
発光装置1aの製造にあたっては、まず、実装基板2を準備し、その後、以下の第1工程、第2工程及び第3工程を順次行う。第1工程では、ダイボンド装置等により、ダイ(die)である発光素子3を実装基板2の第1面2aに接合部5を介して接合する。第2工程では、ワイヤボンディング装置等により、第1ワイヤ6a、第2ワイヤ6b及び第3ワイヤ6cを形成するワイヤボンディングを行う。第3工程では、ディスペンサシステム(dispenser system)等を利用してカバー4を形成する。この第3工程では、まず、第1カバー層41を形成し、その後、第2カバー層42を形成する。
ディスペンサシステムにより第1カバー層41を形成する際には、例えば、ディスペンサヘッドを発光素子3の配列方向に沿って移動させ、発光素子3の鉛直上方に位置させた後、ノズルから第1カバー層41の材料を吐出させて塗布する。第1カバー層41の材料は、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子を混練したシリコーン樹脂である。
ところで、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子の平均粒径は、10μm以下であるのが好ましい。発光装置1aは、粒子の平均粒径が10μmよりも大きいと、ディスペンサシステムにより第1カバー層41の材料を、発光素子3を覆うように塗布したときに、粒子が沈降しやすくなり、10μm以下であれば、分散性を向上させることが可能となる。また、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子の平均粒径は、1μm以上であるのが好ましい。粒子の平均粒径は、動的光散乱法により測定される体積基準での平均粒子径である。
ディスペンサシステムにより第2カバー層42を形成する際には、例えば、ディスペンサヘッドを発光素子3の配列方向に沿って移動させつつ、ノズルから第2カバー層42の材料を吐出させて塗布する。第2カバー層42の材料は、蛍光体粒子を混練したシリコーン樹脂である。
ここで、第2カバー層42の材料を第2カバー層42の表面形状に基づく塗布形状となるようにディスペンサシステムにより塗布する場合には、例えば、ディスペンサヘッドを移動させながら、材料を吐出させて塗布すればよい。
ディスペンサシステムは、ディスペンサヘッドを移動させる移動機構と、実装基板2の第1面2a及びノズルそれぞれのテーブルからの高さを測定するセンサ部と、移動機構とノズルからの材料の吐出量とを制御するコントローラと、を備えているのが好ましい。移動機構は、例えば、ロボットにより構成することができる。コントローラは、例えば、マイクロコンピュータに適宜のプログラムを搭載することにより実現することができる。また、ディスペンサシステムは、コントローラに搭載されたプログラムを適宜変更することにより、発光素子3の配列や、発光素子3の数、第2カバー層42のライン幅等の異なる複数種の品種に対応することが可能となる。
ディスペンサシステムを利用して形成する第2カバー層42の表面形状は、例えば、材料の粘度等を調整することで制御することも可能である。第2カバー層42の表面(凸曲面)の曲率は、第2カバー層42の材料の粘度や表面張力や、第1ワイヤ6a、第2ワイヤ6b及び第3ワイヤ6cの高さ等によって設計可能である。曲率を大きくすることは、例えば、材料の粘度を高くしたり、表面張力を大きくしたり、第1ワイヤ6a、第2ワイヤ6b及び第3ワイヤ6cの高さを高くすることで実現可能となる。また、ライン状の第2カバー層42の幅(ライン幅)を狭くするには、材料の粘度を高くしたり、表面張力を大きくしたりすることで実現可能となる。第2カバー層42の材料の粘度は、100〜2000mPa・s程度の範囲に設定するのが好ましい。なお、粘度の値は、例えば、円錐平板型回転粘度計を用いて常温下で測定した値を採用することができる。
また、ディスペンサシステムは、未硬化の材料が所望の粘度になるように加熱するヒータを備えていてもよい。これにより、ディスペンサシステムは、材料の塗布形状の再現性を向上させることが可能となり、第1カバー層41及び第2カバー層42それぞれの表面形状の再現性を向上させることが可能となる。
発光装置1aは、カバー4を第1カバー層41と第2カバー層42とで構成してあり、発光素子3を直接覆う第1カバー層41が、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されている。これにより、発光装置1aは、発光素子3の発熱に起因してカバー4にクラックが発生するのを抑制することが可能となり、耐熱性を向上させることが可能となる。耐熱性が向上する推定メカニズムとしては、酸化セリウム等の粒子がシリコーン樹脂の耐熱性を向上させるメカニズムが考えられる。推定メカニズムでは、発光素子3で発生した熱によって、シリコーン樹脂に、シリコーン樹脂の酸化反応の要因となるラジカルが発生しても、粒子に含まれているイオンが、ラジカルと反応して還元することで、シリコーン樹脂の酸化による硬化劣化を抑制する。例えば、粒子が酸化セリウムの場合、粒子に含まれているイオンは、セリウムイオンである。なお、本実施形態の発光装置1aは、仮に推定メカニズムが別であっても、本発明の範囲内である。
また、発光装置1aは、第2カバー層42が、シリコーン樹脂と、発光素子3から放射された光の一部を波長変換して異なる波長の光を放射する蛍光体粒子と、の混合体で形成されている。これにより、発光装置1aは、カバー4全体にシリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子が分散された構成に比べて、カバー4の光の透過率を高くすることが可能となる。よって、発光装置1aは、光取り出し効率の向上を図ることが可能となる。
また、発光装置1aは、実装基板2が、支持体20と、支持体20の第1面20a側に所定のパターンで形成され発光素子3が電気的に接続される第1導体部23及び第2導体部24と、を備え、支持体20が、セラミック基板21により構成されている。これにより、発光装置1aは、支持体20が樹脂基板である場合に比べて、放熱性を向上させることが可能となり、信頼性の向上を図れ、且つ、発光装置1aの光出力の高出力化を図ることが可能となる。
発光装置1aは、接合部5が、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体により形成されていてもよい。これにより、発光装置1aは、接合部5の耐熱性を向上させることが可能となり、接合部5にクラックが発生するのを抑制することが可能となり、発光装置1aの信頼性を更に向上させることが可能となる。酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子の平均粒径は、10μm以下であるのが好ましい。また、粒子の平均粒径は、1μm以上であるのが好ましい。接合部5において、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子の含有量は、1wt%以下であるのが好ましい。これにより、発光装置1aは、接合部5の光の透過率が低下しすぎるのを抑制することが可能となる。
図4は、発光装置1aの第2変形例の発光装置1cを示す概略断面図である。発光装置1cは、発光装置1aと基本構成が略同じである。発光装置1cは、実装基板2における支持体20が、金属基板25により構成されている点が発光装置1aと相違する。なお、発光装置1cにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
金属基板25は、例えば、アルミニウム基板、銅基板等を採用することができる。支持体20は、金属基板25の表面に電気絶縁層26が形成されている。よって、実装基板2は、電気絶縁層26上に第1導体部23及び第2導体部24が形成されている。実装基板2は、例えば、金属ベースプリント配線板により形成することができる。
発光装置1cは、実装基板2が、支持体20と、支持体20の第1面20a側に所定のパターンで形成され発光素子3が電気的に接続される第1導体部23及び第2導体部24と、を備え、支持体20が、金属基板25により構成されている。これにより、発光装置1cは、支持体20が樹脂基板である場合に比べて、放熱性を向上させることが可能となり、信頼性の向上を図れ、且つ、発光装置1cの光出力の高出力化を図ることが可能となる。
実装基板2は、白色系のレジスト層27を備えた構成とすることができる。レジスト層27は、電気絶縁層26において、第1カバー層41、第1導体部23及び第2導体部24のいずれも形成されていない部位を覆っているのが好ましい。レジスト層27の材料としては、例えば、白色レジストを採用することができる。白色レジストとしては、例えば、白色顔料を含有した樹脂を挙げることができる。白色顔料としては、例えば、硫酸バリウム(BaSO4)、二酸化チタン(TiO2)等が挙げられる。樹脂としては、例えば、シリコーン樹脂等が挙げられる。白色レジストとしては、例えば、株式会社朝日ラバーのシリコーン製の白色レジスト材である“ASA COLOR(登録商標) RESIST INK”等を採用することができる。レジスト層27は、例えば、塗布法により形成することができる。
発光装置1cは、白色系のレジスト層27を備えていることにより、発光素子3から実装基板2に入射する光を、レジスト層27の表面で反射させやすくなる。これにより、発光装置1cは、発光素子3から放射された光が実装基板2に吸収されるのを抑制することが可能となる。よって、発光装置1cは、外部への光取り出し効率の向上による光出力の向上を図ることが可能となる。
発光装置1cは、発光素子3が、金属基板25に、接合部5を介して接合された構成としてもよい。これにより、発光装置1cは、発光素子3で発生した熱の伝熱経路として、発光素子3で発生した熱を、電気絶縁層26を介さずに金属基板25に伝熱させる伝熱経路が形成される。よって、発光装置1cは、放熱性を向上させることが可能となる。
発光装置1cは、発光素子3が、板状のサブマウント部材(図示せず)を介して金属基板25に搭載された構成としてもよい。サブマウント部材の材料は、電気絶縁層26よりも熱伝導率の高く、金属基板25よりも発光素子3との線膨張率差が小さな材料が好ましい。これにより、発光装置1cは、発光素子3で発生した熱の伝熱経路として、発光素子3で発生した熱を、電気絶縁層26を介さずにサブマウント部材及び金属基板25に伝熱させる伝熱経路が形成される。よって、発光装置1cは、放熱性を向上させることが可能となる。サブマウント部材の材料としては、例えば、AlNを採用することができる。サブマウント部材と金属基板25とは、接合部を介して接合すればよい。サブマウント部材と金属基板25とを接合する接合部の材料としては、例えば、AuSn、SnAgCu等の鉛フリー半田が好ましい。発光装置1cは、サブマウント部材と金属基板25とを接合する接合部の材料としてAuSnを採用する場合、製造時において、金属基板25の表面における接合表面に予めAu又はAgからなる金属層を形成する前処理が必要である。
図5は、発光装置1aの第3変形例の発光装置1dを示す概略断面図である。発光装置1dは、発光装置1aと基本構成が略同じであり、カバー4の構成が相違する。なお、発光装置1dにおいて、発光装置1aと同様の構成要素については、発光装置1aと同一の符号を付して説明を省略する。
発光装置1dは、カバー4が、第2カバー層42と実装基板2の第1面2aとの間に介在する耐熱層43を備えている。耐熱層43は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されている。よって、発光装置1dは、第2カバー層42のうち実装基板2に近い領域に、クラックが発生するのを抑制することが可能となる。これは、発光装置1dでは、発光素子3で発生した熱が実装基板2を通して伝熱される熱が第2カバー層42へ直接的に伝熱されずに耐熱層43へ伝熱されるためである、と推考される。
耐熱層43において、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子の平均粒径は、10μm以下であるのが好ましい。また、粒子の平均粒径は、1μm以上であるのが好ましい。耐熱層43において、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子の含有量は、1wt%以下であるのが好ましい。これにより、発光装置1dは、耐熱層43の光の透過率が低下しすぎるのを抑制することが可能となる。
ところで、発光装置1a、1b、1c及び1dは、種々の照明装置の光源として用いることが可能である。照明装置としては、例えば、発光装置1a〜1dのいずれかを光源として器具本体に配置した照明器具や、ランプ(例えば、直管形LEDランプ、電球形ランプ等)等を好適に挙げることができるが、これら以外の照明装置でもよい。
発光装置1a、1b、1c及び1dは、発光素子3として、厚み方向の一面側に第1電極と第2電極とが設けられたものを用いているが、これに限らない。発光素子3としては、発光素子3の厚み方向の一方の面側に第1電極が形成され、他方の面側に第2電極が形成された構成のものを用いてもよい。
また、発光装置1a、1b、1c及び1dは、発光素子3としてLEDチップ30を採用しているが、これに限らず、例えば、LDチップを採用してもよい。
上述の実施形態等において説明した各図は、模式的なものであり、各構成要素の大きさや厚さそれぞれの比が、必ずしも実際のものの寸法比を反映しているとは限らない。また、実施形態等に記載した材料、数値等は、好ましいものを例示しているだけであり、それに限定するものではない。更に、本願発明は、その技術的思想の範囲を逸脱しない範囲で、構成に適宜変更を加えることが可能である。
1a、1b、1c、1d 発光装置
2 実装基板
2a 第1面
3 発光素子
4 カバー
5 接合部
20 支持体
20a 第1面
21 セラミック基板
23 第1導体部
24 第2導体部
41 第1カバー層
42 第2カバー層
43 耐熱層
2 実装基板
2a 第1面
3 発光素子
4 カバー
5 接合部
20 支持体
20a 第1面
21 セラミック基板
23 第1導体部
24 第2導体部
41 第1カバー層
42 第2カバー層
43 耐熱層
Claims (6)
- 実装基板と、前記実装基板の第1面側に実装された発光素子と、前記実装基板の前記第1面側で前記発光素子を覆っているカバーと、を備え、
前記カバーは、前記実装基板の前記第1面側で前記発光素子を覆う第1カバー層と、前記第1カバー層を覆う第2カバー層と、を備え、
前記第1カバー層は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成され、
前記第2カバー層は、シリコーン樹脂と、前記発光素子から放射された光の一部を波長変換して異なる波長の光を放射する蛍光体粒子と、の混合体で形成されている、
ことを特徴とする発光装置。 - 前記第1カバー層は、半球状の形状に形成されている、
ことを特徴とする請求項1記載の発光装置。 - 前記実装基板は、支持体と、前記支持体の第1面側に所定のパターンで形成され前記発光素子が電気的に接続される第1導体部及び第2導体部と、を備え、前記支持体は、セラミック基板もしくは金属基板により構成されている、
ことを特徴とする請求項1又は2記載の発光装置。 - 前記発光素子は、前記実装基板に接合部を介して接合され、
前記接合部は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されている、
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の発光装置。 - 前記カバーは、前記第2カバー層と前記実装基板の前記第1面との間に介在する耐熱層を備え、
前記耐熱層は、シリコーン樹脂と、酸化セリウム、酸化チタン、酸化鉄、炭素の群から選択される材料からなる粒子と、の混合体で形成されている、
ことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか一項に記載の発光装置。 - 前記粒子の平均粒径は、10μm以下である、
ことを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の発光装置。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017045773A (ja) * | 2015-08-24 | 2017-03-02 | スタンレー電気株式会社 | 発光装置 |
KR20180107486A (ko) * | 2017-03-22 | 2018-10-02 | 엘지이노텍 주식회사 | 반도체 소자 패키지 및 조명 시스템 |
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