JP2015099092A - 対物レンズ切替機構および検査装置 - Google Patents

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Hideki Nukada
秀記 額田
真 田谷
Makoto Taya
真 田谷
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Masaki Shimizu
正樹 清水
孝将 福田
Takamasa Fukuda
孝将 福田
小川 力
Tsutomu Ogawa
力 小川
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Abstract

【課題】対物レンズの切替えが容易で、高い精度で対物レンズを配置することができる対物レンズ切替機構を提供し、検査装置を提供する。【解決手段】対物レンズ切替機構1は、回転テーブル2およびZ軸ステージ3からなる回転ベース4と、2つのレンズマウント5と、2つの対物レンズ6と、Z軸ステージ3上に設けられた保持アーム7と、各対物レンズ6と保持アーム7との間を連結する2つの連結材8とを有して構成される。各対物レンズ6は、Z軸ステージ3の動作により、レンズマウント5上の第1の位置と、レンズマウント5から離間する第2の位置との間で移動し、回転テーブル2の動作により、その第2の位置と、それとは別のレンズマウント5から離間する第2の位置との間で移動する。対物レンズ切替機構1を用いて検査装置を構成する。【選択図】図1

Description

本発明は、対物レンズ切替機構および検査装置に関する。
大規模集積回路(Large Scale Integration;LSI)の高集積化および大容量化に伴い、半導体素子に要求される回路寸法は狭小化の一途を辿っている。例えば、最近の代表的なロジックデバイスでは、数十nmの線幅のパターン形成が要求される状況となってきており、製造コストも多大なものとなっている。
多大な製造コストのかかるLSIにとって、製造工程における歩留まりの向上は欠かせない。ここで、半導体素子は、その製造工程において、ステッパまたはスキャナと呼ばれる縮小投影露光装置により、回路パターンが形成された原画パターン(マスクまたはレチクルを指す。以下では、マスクと総称する。)がウェハ上に露光転写される。そして、半導体素子の歩留まりを低下させる大きな要因として、マスクのパターン欠陥や、露光転写時におけるプロセス諸条件の変動が挙げられる。
ウェハ上に形成されるLSIパターンの寸法が微細化していることに伴って、マスクのパターン欠陥も微細化している。また、マスクの寸法精度を高めることで、プロセス諸条件の変動を吸収しようとしてきたこともあり、マスク検査においては、極めて小さなパターンの欠陥を検出することが必要になっている。こうしたことから、LSI製造に使用される転写用マスクの寸法を検査する検査装置に対しては、高い検査精度が要求され、併せて、高い検査効率が求められている。
検査装置において、光源から出射された光は、照明光学系を介して検査対象であるマスクに照射される。マスクはテーブル上に載置されており、テーブルが移動することによって照射された光がマスク上を走査する。マスクを透過または反射した光は、通常、検査装置内に取り付けられた1つの性能の対物レンズを介して受光部となる画像センサ上に光学像として結像される。そして、その画像センサで撮像された光学画像は、測定データとして比較部へ送られる。比較部では、測定データと参照データとが、適当なアルゴリズムにしたがって比較される。そして、これらのデータが一致しない場合には、欠陥ありと判定される(例えば、特許文献1および特許文献2参照。)。
特開2008−112178号公報 特開2007−248086号公報
以上のような検査装置では、マスク上に形成されるパターンに対応して、または、異なる種類のマスクに対応して、より好ましい性能の対物レンズを選択し、検査に使用することを求められる場合がある。すなわち、元々装着されていた対物レンズに対して、異なる性能の対物レンズを切替えて使用し、パターンの欠陥を検出することが求められる場合がある。例えば、NA(Numerical Aperture;開口数)の異なる複数の対物レンズを準備し、マスクのパターンやマスクの種類に対応して、より好適となる1つの対物レンズを選択し、マスクの検査を行うことがある。
従来の検査装置では、上述したように、通常、1つの対物レンズが装着されて検査に用いられている。したがって、異なる性能の対物レンズを切替えて使用しようとすると、対物レンズを検査装置から取り外す作業、および、新たな対物レンズを取り付ける作業が必要となる。したがって、従来の検査装置において、対物レンズの切替えは、煩雑さを伴う作業となって、検査効率を低下させる要因となる。
また、対物レンズは、高い検査精度を実現するために、高い位置精度で設置される必要がある。例えば、対物レンズが、専用のレンズマウント上に配置されて、検査を行うための検査位置に配置される場合がある。その場合、対物レンズは、高い水平設置精度をもってレンズマウントのマウント面に密着されて設置される必要がある。そして、そのような対物レンズの高い配置の精度は、対物レンズの切替作業の後も維持されることが求められる。
以上から、マスク等の検査する検査装置においては、対物レンズの選択と切替えが容易で、選択された対物レンズを高い精度で配置することができる対物レンズ切替機構が求められている。そして、検査装置においては、高い検査効率の実現が求められている。
本発明は、こうした点に鑑みてなされたものである。すなわち、本発明の目的は、対物レンズの切替えが容易で、高い精度で対物レンズを配置することができる対物レンズ切替機構を提供することにある。
また、本発明の目的は、対物レンズの切替えが容易で、高い検査効率を実現することができる検査装置を提供することにある。
本発明の他の目的および利点は、以下の記載から明らかとなるであろう。
本発明の第1の態様は、回転テーブルおよびその回転テーブル上に配置されたステージからなる回転機構と、
回転機構の周囲に配置された複数のレンズマウントと、
複数のレンズマウントぞれぞれの上に配置された複数の対物レンズと、
回転機構の前記ステージ上に設けられ、複数の対物レンズそれぞれを保持するためのレンズ保持体と、
レンズ保持体に付設され、複数の対物レンズのぞれぞれとそのレンズ保持体との間を連結する複数の連結材とを有し、
複数の対物レンズが、回転機構のステージの動作により、レンズマウント上の第1の位置と、そのレンズマウントから離間する第2の位置との間で移動し、回転テーブルの動作により、レンズマウントから離間する第2の位置と、それとは別のレンズマウントから離間する第2の位置との間で移動して、
複数の対物レンズのうちの選択された1つが、所望位置のレンズマウント上に配置されることを特徴とする対物レンズ切替機構に関する。
本発明の第1の態様において、第1の位置は、対物レンズのレンズマウント上での設置位置であり、第2の位置は、レンズマウントから鉛直方向上方側に離間する位置であることを特徴とする請求項1に記載の対物レンズ切替機構。
本発明の第1の態様において、レンズ保持体は、対物レンズの一部に接触して下方から支持するための支持部材を有し、
支持部材は、ステージの動作によりレンズ保持体が移動して対物レンズが第1の位置から第2の位置に移動するときに、その対物レンズに接触して支持することが好ましい。
本発明の第1の態様において、連結材は、ステージの動作方向と平行な方向には柔軟性を有し、ステージの動作方向と垂直な方向には剛性を有するバネ材とすることができる。
本発明の第2の態様は、検査対象となる試料の光学画像を撮像する受光部と、
試料へ向けて検査用の光を照明する照明光学系と、
複数の対物レンズを有し、そのうちの1つの対物レンズを選択して検査位置に配置し、照明光学系によって照明されて試料を透過または反射した光を受光部に結像する対物レンズ切替機構とを有する検査装置であって、
対物レンズ切替機構は、
回転テーブルおよびその回転テーブル上に配置されたステージからなる回転機構と、
回転機構の周囲に配置された複数のレンズマウントと、
複数のレンズマウント上にそれぞれ配置された複数の対物レンズと、
回転機構のステージ上に設けられ、複数の対物レンズそれぞれを保持するためのレンズ保持体と、
レンズ保持体に付設され、複数の対物レンズのぞれぞれとそのレンズ保持体との間を連結する複数の連結材とを有してなり、
複数の対物レンズが、回転機構のステージの動作により、レンズマウント上の第1の位置と、そのレンズマウントから離間する第2の位置との間で移動し、回転テーブルの動作により、レンズマウントから離間する第2の位置と、それとは別のレンズマウントから離間する第2の位置との間で移動して、
複数の対物レンズのうちの選択された1つが、所望位置のレンズマウント上である検査位置に配置されることを特徴とする検査装置に関する。
本発明の第2の態様において、対物レンズ切替機構の連結材は、ステージの動作方向と平行な方向には柔軟性を有し、ステージの動作方向と垂直な方向には剛性を有するバネ材とすることができる。
本発明の第1の態様によれば、対物レンズの切替えが容易で、高い精度で対物レンズを配置することができる対物レンズ切替機構が提供される。
本発明の第2の態様によれば、対物レンズの切替えが容易で、高い検査効率を実現する検査装置が提供される。
本発明の第1実施形態である対物レンズ切替機構の構造を模式的に説明する側面図である。 本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構における対物レンズと保持アームとの連結部分を示す模式的な断面図である。 本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構の連結材に用いられるダイヤフラムを示す平面図である。 本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構における連結材の作用を説明する模式的な断面図である。 本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構における連結材の設置方法を示す模式的な断面図である。 本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構における、対物レンズのZ軸方向の移動方法を例示する模式的な断面図である。 本発明の第2実施形態である検査装置の概略構成図である。 本発明の第2実施形態におけるデータの流れを示す概念図である。 検査方法を示すフローチャートである。 フィルタ処理を説明する図である。
実施の形態1.
以下、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構について、適宜、図面を用いて説明する。
図1は、本発明の第1実施形態である対物レンズ切替機構の構造を模式的に説明する側面図である。
図1に示すように、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1は、回転テーブル2および回転テーブル2上に配置されたステージの例であるZ軸ステージ3からなる回転ベース4を回転機構として有する。そして、対物レンズ切替機構1は、回転ベース4の周囲に配置された2つのレンズマウント5と、各レンズマウント5上にそれぞれ配置された2つの対物レンズ6とを有する。また、対物レンズ切替機構1は、レンズ保持体として、回転ベース4のZ軸ステージ3上に設けられた保持アーム7を有する。保持アーム7は、レンズ保持体として、2つの対物レンズ6それぞれを保持することができる。またさらに、レンズ切替機構1は、保持アーム7に付設された2つの連結材8を有する。2つの連結材8はそれぞれ、2つの対物レンズ6のぞれぞれと保持アーム7との間を連結する。
本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1においては、2つの対物レンズ6が、回転機構である回転ベース4のZ軸ステージ3の動作により、レンズマウント5上での設置位置である第1の位置と、レンズマウント5からZ軸方向(鉛直方向)の上方側に離間する第2の位置との間で移動するように構成される。そして、対物レンズ切替機構1においては、回転テーブル2の動作により、レンズマウント5から離間する第2の位置と、それとは別のレンズマウント5からZ軸方向の上方側に離間する第2の位置との間で移動するように構成される。
本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1は、例えば、後述する本発明の検査装置の構成に用いることができ、検査対象となる試料の例であるマスク101の検査に用いることができる。
以下で、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1の各構成要素等について、詳述する。
対物レンズ切替機構1において、回転テーブル2は、Z軸方向と垂直なXY平面内での回転動作が可能となるように構成される。そして、回転テーブル2は、その上に配置された、ステージの例であるZ軸ステージ3をXY平面内で回転させることができる。
Z軸ステージ3は、Z軸方向、すなわち、図の上下方向に沿って動作することができるように構成される。したがって、Z軸ステージ3は、それに付設された保持アーム7をZ軸方向、すなわち、図の上下方向に沿って持ち上げることができる。そしてさらに、Z軸ステージ3は、持ち上げられた保持アーム7を下降させることができる。
回転ベース4の周囲に配置された複数のレンズマウント5はそれぞれ、通常は円筒形状を有する対物レンズ6の形状に対応し、例えば、対物レンズ6より径の大きな扁平な円筒形状を有する。そして、レンズマウント5は、上面をマウント面として、そこに対物レンズ6を配置することができる。このとき、対物レンズ6は、その光軸がZ軸方向と平行となるように配置されることが好ましい。対物レンズ6は、レンズマウント5上に設置され、上述した第1の位置に配置されることになる。
尚、図1に示すレンズ切替機構1では、回転ベース4を挟んで対向配置された2つのレンズマウント5を有し、それらの上に配置される2つの対物レンズ6を有する。レンズ切替機構1において、2つの対物レンズ6は、回転ベース4を挟んで対向し、それらが直線状の配置となるように設けられている。しかし、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1において、レンズマウント5および対物レンズ6の数は、それぞれ2つに限られるわけではなく、それぞれ3つとすることや4つとする等、それぞれ3つ以上の数とすることができる。
対物レンズ6は、レンズマウント5上で、例えば、真空チャック機構や磁気を利用した吸着機構等を用いて、固定するように配置されることが好ましい。そして、対物レンズ6は、高い精度での配置が可能となるように、その底面側でレンズマウン5と密着するように設置されることが好ましい。このとき、対物レンズ6の水平設置精度は、±2μm以下であることが好ましい。
対物レンズ切替機構1において、保持アーム7は、回転ベース4を挟んで対向配置された2つの対物レンズ6のそれぞれを、同様に保持するために設けられる。
対物レンズ切替機構1において、保持アーム7は、それぞれの先端部分で円筒形状の対物レンズ6を保持できるように、両端がそれぞれ丸みを帯びた短冊状の形状を備える。
尚、上述したように、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1において、レンズマウント5および対物レンズ6の数は、それぞれ2つに限られるわけではなく、それぞれ3つとすることや4つとする等、それぞれ3つ以上の数とすることができる。
その場合、保持アーム7は、対物レンズ6の個数に対応した好ましい形状とすることができる。例えば、平面視で、それぞれの先端部分が丸みを帯びたY字状やT字状として、3つの対物レンズ6を保持できる形状とすることや、それぞれの先端部分が丸みを帯びた十字状として、4つの対物レンズ6を保持できる形状とすることができる。その場合、後述する連結材は、保持アーム7の、各対物レンズ6を保持するそれぞれの先端部分に配置される。
そして、対物レンズ切替機構1は、上述したように、2つの対物レンズ6のぞれぞれと保持アーム7との間を連結するように、保持アーム7に付設された2つの連結材8を有する。
図2は、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構における対物レンズと保持アームとの連結部分を示す模式的な断面図である。
対物レンズ切替機構1において、連結材8としては、Z軸ステージ3の動作方向と平行な方向には柔軟性を有し、Z軸ステージ3の動作方向(Z方向)と垂直な方向、すなわち、図の水平方向(XY方向)には剛性を有するバネ材を選択することができる。
本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1において、連結材8として好ましい例として、Z軸ステージ3の動作方向と平行な方向には柔軟性を有し、Z軸ステージ3の動作方向と垂直な水平方向には剛性を有するダイヤフラムを挙げることができる。
図3は、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構の連結材に用いられるダイヤフラムを示す平面図である。
連結材8として用いられるダイヤフラムは、図3に示すように、中心部分が円形状に開口してリング状をなす円板状のバネ材である。ダイヤフラムは、直径の異なる大小2つのリング状板部材からなり、互いが離間するように、大きな方のリング状板部材のリング内に小さな方のリング状板部材を収め、それぞれのリング中心を一致させるとともに複数のハリによって互いが連結される構造を有する。
ダイヤフラムである連結材8は、中心の開口部内に挿入された部材に対し、バネ作用する。すなわち、ダイヤフラムである連結材8は、開口部内に挿入された部材が、連結材8の設置平面に対して垂直に移動しようとすると、その移動を許容する一方で元の位置に戻すように付勢する。それに対し、開口部内に挿入された部材が、連結材8の設置平面に対して平行な方向(XY方向)に移動しようとすると、その剛性に従い、部材の移動を抑止する。
図2に示したように、連結材8は、保持アーム7の、対物レンズ6との連結部分に設置され、保持アーム7と対物レンズ6とを連結する。
次に、図2に示した具体的な連結構造の例について説明する。
保持アーム7は、その先端部分に、開口部9が設けられている。保持アーム7の開口部9は、そこに挿入される円筒状の対物レンズ6の形状に対応するように、対物レンズ6の径より大きな直径の円形状をなして構成される。
そして、中心が開口する円板状の連結材8は、開口部9の周縁部を覆うように保持アーム7の先端部分の上に配置されている。このとき、開口部9の中心と、連結材8の開口部分の中心は、一致するように設置されることが好ましい。
したがって、円筒状の対物レンズ6は、連結材8の開口部分に挿入されるとともに、保持アーム7の開口部9に挿入されて、レンズマウント5上の第1の位置に配置される。このとき、保持アーム7の開口部9の直径は円筒形状の対物レンズ6の円形の断面の直径より大きくなるように設定されており、連結部分において、対物レンズ6は、保持アーム7の開口部9の周縁部と離間するように挿入される。そして、対物レンズ6が、後述するように、嵌着された連結リング10を有する場合、対物レンズ6は、その連結リングの外周面が保持アーム7の開口部9の周縁部とも離間するように、開口部9に挿入される。
一方、連結材8の円形の開口部分の直径は、対物レンズ6の断面の直径と等しくなるか若干小さくなるように設定されている。したがって、対物レンズ6は、保持アーム7との連結部分において、対物レンズ6の外周面で連結材8の開口部分の周縁部と接するように挿入される。
そして、対物レンズ6は連結リング10を有する。連結リング10は対物レンズ6に嵌着されて設けられ、対物レンズ6の外周面上で固定されている。円筒状の対物レンズ6において、連結リング10が嵌着された部分は、連結リング6がつば状に突設しており、その径が他の部分に比べて大きく設定された部分となる。したがって、図に示すように、連結材8は、連結材8の開口部分に挿入された対物レンズ6に対し、対物レンズ6の外周面およびその外周面に配置された連結リング10の上面で接触する。
そして、連結材8の設置平面に対し、対物レンズ6が、垂直方向であるZ軸方向に移動しようとする場合、その移動を許容する。
図4は、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構における連結材の作用を説明する模式的な断面図である。
図4では、1つの対物レンズ6を示し、連結材8の作用を説明している。
図4に示すように、連結材8の設置平面に対し、対物レンズ6を、垂直方向であるZ軸方向に移動させようとする場合、連結材8はZ軸方向に撓む変形をして、その移動を許容する。その一方で、対物レンズ6がそのような移動をする前の、対物レンズ6と連結材7との間のZ軸方向の相対位置、ひいては、対物レンズ6と保持アーム7との間のZ軸方向の相対位置を維持しようと付勢する。
それに対し、連結材8は、対物レンズ6が連結材8の設置平面に対し、元の位置から平行な方向に移動しようとすると、その剛性に従い、移動を抑止する。すなわち、XY平面上に設置された連結材8は、対物レンズ6のXY方向の移動を抑止する。
したがって、Z軸ステージ3の動作により保持アーム7がZ軸方向の上方に移動して、対物レンズ6が、レンズマウント5上の第1の位置から、レンズマウント5と離間する第2の位置に移動する場合、連結材8により、第1の位置における対物レンズ6とレンズマウント5との間のXY方向の相対位置の関係は維持される。そして、その場合に、対物レンズ6と保持アーム7との間のZ軸方向の変位は許容されるが、対物レンズ6が第1の位置にあるときの対物レンズ6と保持アーム7との間のZ軸方向の相対位置関係が復元されるように、連結材8により付勢される。
図5は、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構における連結材の設置方法を示す模式的な断面図である。
図5では、1つの対物レンズ6を示し、連結材8の設置方法を説明している。
連結材8は、上述したように、保持アーム7の先端の開口部9の周縁部を覆うように保持アーム7の先端部分の上に設けられ、保持アーム7上に固定されている。保持アーム7への連結材8の固定は、保持アーム側リング12を用いて行われる。保持アーム側リング12は、中心が開口してリング状をなし、保持アーム7の開口部9の周縁部を覆うように設けられる。そして、保持アーム側リング12は、保持アーム7との間で連結材8の外周側周縁部分を挟み込み、連結材8を保持アーム7に固定する。
さらに、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1においては、図5に示すように、レンズ側リング13を有することができる。レンズ側リング13は、対物レンズ6の連結リング10と同様に、中心が開口してリング状をなし、対物レンズ6の連結リング10と同様に、対物レンズ6に嵌着されてその外周面上に設けられている。そして、レンズ側リング13は、連結リング10との間で連結材8の開口部分の周縁部分を挟み込み、連結材8の開口部分の周縁部分を連結リング10との間で固定する。このようにレンズ側リング13を設けることで、連結材8の設置平面に対し、対物レンズ6が垂直方向に変位する場合、その変位を許容する一方で、対物レンズ6が傾くこと等を高精度に制御することができる。そして、対物レンズ6と保持アーム7との間の相対位置関係が、対物レンズ6が第1の位置にあるときの状態に戻るように、対物レンズ6に対し付勢することができる。
また、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1は、図2、図4および図5等に示すように、対物レンズ6を支持するための支持部材11を有することができる。
図6は、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構における、対物レンズのZ軸方向の移動方法を例示する模式的な断面図である。
図6では、図4と同様、1つの対物レンズ6を示し、その移動方法を説明している。
レンズ切替機構1は、支持部材11を有することにより、複数の対物レンズ6が、回転ベース4のZ軸ステージ3の動作により、レンズマウント5上の第1の位置と、レンズマウント5からZ軸方向上方に離間する第2の位置との間で移動する場合、それを安定して移動させることができる。
支持部材11の構造としては、例えば、図6に示すように、対物レンズ6を第1の位置から第2の位置に移動させるときに対物レンズ6を支持できるよう、中心部分が円形状に開口した円板形状を有することができる。
そのようなリング状の支持部材11は、保持アーム7の先端部分にある開口部9の周囲に垂設された吊持部材15により保持されて、開口部9の下方側に配置される。このとき、支持部材11の開口中心は、保持アーム7上に配置された連結材8の開口部分の中心と一致させることが好ましい。支持部材11は、Z軸ステージ3の動作に伴い、保持アーム7がZ軸方向と平行な方向に移動すると、その動きに追随し、Z軸方向と平行な方向に移動する。
そして、対物レンズ6は、保持リング16を有することができる。保持リング16は対物レンズ6に嵌着されて設けられ、対物レンズ6の外周面上に固定されている。円筒状の対物レンズ6において、保持リング16が嵌着された部分は、連結リング6がつば状に突設され、その径が他の部分に比べて大きく設定された部分となる。
このような保持リング16を有する対物レンズ6は、支持部材11の開口部分に挿入され、さらに、連結材8の開口部分および保持アーム7の開口部9に挿入された状態で、レンズマウント5上の第1の位置に配置される。このとき、対物レンズ切替機構1では、支持部材11が、対物レンズ6の保持リング16と離間するように、保持リング16の下方に配置されるように構成されている。
したがって、図6に示すように、支持部材11は、Z軸ステージ3の動作による保持アーム7の上昇により、連結材8の開口部分に挿入された対物レンズ6に対して、その保持リング16と下方側から接触する。そしてさらに、Z軸ステージ3によって保持アーム7が上昇すると、対物レンズ6はレンズマウント5から支持部材11に受け渡される。こうして、支持部材11は保持リング16を介して対物レンズ6を下方から支持するようになる。そして、保持アーム7は、支持部材11によって、対物レンズ6をレンズマウント5上の第1の位置から、レンズマウント5にZ軸方向上方に離間する第2の位置に持ち上げることができる。
第2の位置としては、対物レンズ6の底面側とレンズマウント5のマウント面との間の離間幅が50μm〜200μmとなる位置とすることが好ましい。
このとき、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1においては、保持アーム7上の連結材8が上述したバネ作用をする。
すなわち、対物レンズ6が第2の位置にあるとき、対物レンズ6および保持アーム7においては、連結材8によって、対物レンズ6が第1の位置にあるときのXY方向の相対位置の関係が維持される。その結果、対物レンズ6が第2の位置にあるとき、対物レンズ6とレンズマウント5とは、連結材8によって、対物レンズ6が第1の位置にあるときのXY方向の相対位置の関係が維持される。
その一方で、対物レンズ6および保持アーム7においては、対物レンズ6が第2の位置にあるとき、対物レンズ6が第1の位置にあるときの両者のZ軸方向の相対位置関係から、Z軸方向に、若干の変動が生ずることが許容される。そして、対物レンズ6が第1の位置にあるときの対物レンズ6と保持アーム7との間のZ軸方向の相対位置関係が復元されるように、連結材8により付勢される。
以上の各構成要素を有して構成される本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1は、上述したように、2つの対物レンズ6が、回転ベース4のZ軸ステージ3の動作により、保持アーム7と支持部材11により支持されて、それらをレンズマウント5上での設置位置である第1の位置と、レンズマウント5からZ軸方向の上方側に離間する第2の位置との間で移動させることができる。
そして、対物レンズ切替機構1においては、2つの対物レンズ6が、回転テーブル2の動作により、保持アーム7と支持部材11により支持されて、それらをレンズマウント5から離間する第2の位置と、それとは別のレンズマウント5からZ軸方向の上方側に離間する第2の位置との間で移動させることができる。
その結果、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1は、2つの対物レンズ6それぞれを、元々配置されたレンズマウント5上から別レンズマウント上に切替えて配置することができる。すなわち、2つの対物レンズ6のうちの1つを選択し、その選択された1つを、元々のレンズマウント5上の第1の位置から、所望位置にある別のレンズマウント5上に配置することができる。
具体的には、レンズマウント5上の第1の位置にある対物レンズ6を、回転ベース4のZ軸ステージ3の上昇動作により、レンズマウント5から支持部材11に引き渡す。そして、保持アーム7および支持部材11によって対物レンズ6を支持し、Z軸方向と平行な上方側に持ち上げる。その結果、対物レンズ6を、それが元々配置されていたレンズマウント5から離間する第2の位置に移動させる。
次に、保持アーム7および支持部材11により支持した状態のまま、対物レンズ6を、回転テーブル2の回転動作により、上述の第2の位置から、上述のレンズマウント5とは異なる、所望とする別のレンズマウント5から離間する第2の位置に移動させる。
次に、上述の所望とするレンズマウント5から離間する第2の位置にある対物レンズ6を、Z軸ステージ3の下降動作により、保持アーム7および支持部材11によって支持したまま、その所望とするレンズマウント5側に下降させる。そして、対物レンズ6を、所望とするレンズマウント5に引き渡し、所望とするレンズマウント5のマウント面上に配置する。
このとき、上述したように、対物レンズ6は連結材8を介して、保持アーム7と連結されている。連結材8は、Z軸ステージ3の動作方向と平行な方向に柔軟性を有し、Z軸ステージ3の動作方向(Z方向)と垂直な方向、すなわち、図の水平方向(XY方向)には剛性を有するバネ材である。
したがって、連結材8は、開口部内に挿入された対物レンズ6が、連結材8の設置平面に対して垂直な方向に移動しようとすると、その移動を許容し、さらに、対物レンズ6の若干の傾斜も許容することができる。そのうえで、連結材8は、対物レンズ6を元の状態に戻すように付勢する。それに対し、開口部内に挿入された対物レンズ6が、連結材8の設置平面に対して平行な方向(XY方向)に移動しようとすると、その剛性に従い、対物レンズ6の移動を抑止する。
したがって、対物レンズ6は、レンズマウント5上で高精度の位置の設定を一度行うことができれば、上述の第1の位置と第2の位置との間の移動、および、異なる第2の位置間での移動が繰り返されても、保持アーム7との間の相対位置にずれが生じさせることがない。その結果、対物レンズは、上述の第1の位置と第2の位置との間の移動、および、異なる第2の位置間での移動が繰り返されても、それぞれのレンズマウント5上で、XY方向の位置ずれがない配置を実現することができる。
また、連結材8がその設置平面に対する垂直な方向の移動を許容することから、対物レンズ6が、保持アーム7の支持部材11で支持されていない状態においては、対物レンズ6と保持アーム7との間の微小な相対傾きは許容される。したがって、対物レンズ切替機構1は、レンズマウント5のマウント面と保持アーム7との間の相対傾斜の影響を受けることなく、対物レンズ6の底面側をレンズマウント5のマウント面に密着させて、対物レンズ6をレンズマウント5上に配置することができる。
さらに、対物レンズ切替機構1は、上述したように、保持アーム7および支持部材11によって支持した状態でZ軸ステージ3を下降動作させ、対物レンズ6をレンズマウント5のマウント面上に配置する。その場合、連結材8のバネ作用により、対物レンズ6がレンズマウント5のマウント面と接触し始める瞬間の対物レンズ6の重量を相殺することができる。そのため、対物レンズ切替機構1は、レンズマウント5上に対物レンズ6を設置する瞬間に、対物レンズ6にかかる衝撃力を緩和することができ、対物レンズに損傷等を与えることがない安全な設置を実現することができる。
以上から、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1は、対物レンズ6と保持アーム7との間の相対位置精度を維持し、対物レンズ6を高い位置精度で確実にレンズマウント5のマウント面に密着させて配置することができる。さらに、対物レンズ切替機構1は、その配置時において、対物レンズ6に加わる衝撃を緩和し、レンズマウント5上での対物レンズの安全な配置を実現することができる。
したがって、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1は、対物レンズの切替えを容易かつ安全に行うことができ、高い精度で対物レンズを配置することができる。
そして、例えば、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1は、本発明の検査装置の構成に用いることができる。その検査装置においては、検査に使用する対物レンズ6を性能に従い切替えながら、検査を行う場合がある。その場合、対物レンズ切替機構1が有する2つの対物レンズ6のうち、所望とする性能を備えた1つを選択し、元々配置されていたレンズマウント5上から検査位置にある別のレンズマウント5上に移動させて配置することができる。その結果、本発明の検査装置は、検査に使用する対物レンズ6を、優れた設置位置精度で、容易かつ安全に、所望の性能のものに切替えて、検査を行うことができる。
実施の形態2.
以下、本発明の第2実施形態の検査装置について、図面等を用いて説明する。
図7は、本発明の第2実施形態である検査装置の概略構成図である。
尚、図7では、本実施形態を構成可能な要素を記載しているが、検査に必要な他の公知要素が含まれていてもよい。また、本明細書において、「〜部」または「〜回路」と記載したものは、コンピュータで動作可能なプログラムにより構成することができるが、ソフトウェアとなるプログラムだけではなく、ハードウェアとソフトウェアとの組合せやファームウェアとの組合せによって実施されるものであってもよい。プログラムにより構成される場合、プログラムは、磁気ディスク装置等の記録装置に記録される。
また、本実施形態においては、検査対象となる試料を、フォトリソグラフィ法等で使用されるマスクとしているが、これに限られるものではなく、例えば、ウェハを検査対象の試料としてもよい。
図7に示すように、検査装置100は、検査対象となる試料の例であるマスク101の光学画像を取得するための構成部Aと、構成部Aで取得された光学画像を用いて検査に必要な処理等を行う構成部Bとを有する。構成部Aには、上述した本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1が含まれる。したがって、本発明の第2実施形態の検査装置100は、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1を用いることにより、対物レンズ6を容易に切替えることができ、高い検査効率を実現することができる。
構成部Aは、検査用の光を放出する光源103と、検査対象となるマスク101が載置されるテーブルの一例である、水平方向(X方向、Y方向)および回転方向(θ方向)に移動可能なXYθテーブル102と、XYθテーブル102上に載置されたマスク101に法線方向(上下方向)から光源103からの検査用の光を照射して透過照明系を構成する照明光学系170と、複数の対物レンズ6を備えた対物レンズ切替機構1と、受光部の一例となるフォトダイオードアレイ105およびセンサ回路106と、レーザ測長システム122とを有する。
構成部Aの対物レンズ切替機構1は、図1等に示されたものであり、例えば、2つの対物レンズ6等を有してなる、本発明の第1実施形態の対物レンズ切替機構1である。検査装置100は、検査対象のマスク101上に形成されるパターンに対応して、または、異なる種類のマスク101の検査に対応して、対物レンズ切替機構1が有する複数の対物レンズ6のうち、検査に好適となる性能を備えた1つの対物レンズ6を選択する。そして、その選択に従い、対物レンズ切替機構1を用いて、高い設置位置の精度で安全に対物レンズ6の切替えを行うことができる。その結果、検査装置100は、マスク101の検査に最適となる性能を備えた1つの対物レンズ6を、検査のための検査位置に配置することができ、マスク101の検査を行うことができる。
尚、構成部Bは、構成部Aの対物レンズ切替機構1に対応して、対物レンズ切替制御回路124を有することができる。
その場合、検査装置100は、対物レンズ切替制御回路124により構成部Aの対物レンズ切替機構1を駆動し、上述した所望とする性能を備えた対物レンズ6への切替を自動的にオンラインで行うことができる。
また、構成部Aは、図7に示すように、オートローダ130を有することができる。尚、構成部Bは、構成部Aがオートローダ130を有する場合に対応して、オートローダ制御回路113を有することができる。
構成部Aでは、検査対象となるマスク101の光学画像が取得される。マスク101の光学画像は、マスク101の設計パターンデータに含まれる図形データに基づく図形が描画されたマスクの画像である。例えば、マスクの光学画像は、8ビットの符号なしデータであって、各画素の明るさの階調を表現する。
検査装置100において、検査対象の試料となるマスク101は、構成部AのXYθテーブル102上に載置される。XYθテーブル102は、互いに直交する水平2方向たるX方向およびY方向にそれぞれXモータおよびYモータにより移動されるとともに、鉛直のθ軸線回りにθモータにより回転される。レーザ測長システム122は、XYθテーブル102のX方向およびY方向の位置を計測する。
そして、マスク101に形成されたパターンは、XYθテーブル102の上方に配置された光源103から検査用の光によって照明される。より詳しくは、光源103から照射される光束が、照明光学系170を介してマスク101に照射される。マスク101の下方には、複数の対物レンズ6を備えた対物レンズ切替機構1、フォトダイオードアレイ105およびセンサ回路106が配置されている。マスク101を透過した光は、対物レンズ切替機構1の有する複数の対物レンズ6から選択された所望の1つを介して、フォトダイオードアレイ105に光学像として結像する。
フォトダイオードアレイ105上に結像したマスク101のパターン像は、フォトダイオードアレイ105によって光電変換され、さらにセンサ回路106によってA/D(アナログデジタル)変換される。フォトダイオードアレイ105には、センサ(図示されない)が配置されている。このセンサの例としては、TDI(Time Delay Integration)センサなどが挙げられる。この場合、XYθテーブル102が連続的に移動しながら、TDIセンサによってマスク101のパターンが撮像される。尚、フォトダイオードアレイ105は、使用時の発熱が懸念されるため、冷却のための水冷手段を有することが望ましい。
構成部Aにおいては、光源103、照明光学系170、対物レンズ切替機構1の有する対物レンズ6、フォトダイオードアレイ105およびセンサ回路106により高倍率の検査光学系を構成することができる。
次に、検査装置100の、上述の構成部Aで取得された光学画像を用いて検査に必要な処理等を行う構成部Bについて説明する。
図7に示すように、構成部Bでは、検査装置100全体の制御を司る制御計算機110が、データ伝送路となるバス120を介して、構成部Aの対物レンズ切替機構1の有する対物レンズ6の切替えを行う対物レンズ切替制御回路124、位置回路107、比較回路108、参照回路112、展開回路111、オートローダ制御回路113、テーブル制御回路114、記憶装置の一例となる磁気ディスク装置109、磁気テープ装置115、フレキシブルディスク装置116、CRT(Cathode Ray Tube)117、パターンモニタ118およびプリンタ119に接続されている。
図7で「〜部」または「〜回路」と記載したものは、既に述べたように、コンピュータで動作可能なプログラムにより構成することができるが、ソフトウェアとなるプログラムだけではなく、ハードウェアとソフトウェアとの組合せやファームウェアとの組合せによって実施されるものであってもよい。プログラムにより構成される場合、プログラムは、磁気ディスク装置109に記録されることができる。例えば、対物レンズ切替制御回路124、オートローダ制御回路113、テーブル制御回路114、比較回路108および位置回路107内の各回路は、電気的回路で構成されてもよく、制御計算機110によって処理することのできるソフトウェアとして実現されてもよい。また、電気的回路とソフトウェアの組合せによって実現されてもよい。
制御計算機110は、対物レンズ切替制御回路124を制御して、構成部Aの対物レンズ切替機構1において、検査に使用する対物レンズ6が所望とする性能を備えたものであるように、複数の対物レンズ6間で対物レンズの切替えを行う。
また、制御計算機110は、テーブル制御回路114を制御して、XYθテーブル102を駆動する。XYθテーブル102の移動位置は、レーザ測長システム122により測定されて位置回路107に送られる。
データベース方式の基準データとなる設計パターンデータは、磁気ディスク装置109に格納されており、検査の進行に合わせて読み出されて展開回路111に送られる。展開回路111では、設計パターンデータがイメージデータ(設計画素データ)に変換される。その後、このイメージデータは、参照回路112に送られて参照画像の生成に用いられる。
比較回路108では、センサ回路106から送られた光学画像と、参照回路112で生成した参照画像とが、適切な比較判定アルゴリズムを用いて比較され、誤差が所定の値を超えた場合にその箇所は欠陥と判定される。
尚、本実施形態の検査装置100は、図7に示す構成要素以外に、マスク101を検査するのに必要な他の公知要素が含まれていてもよい。例えば、後述するレビュー装置を検査装置自身が有していてもよい。
図8は、本発明の第2実施形態におけるデータの流れを示す概念図である。
図8に示すように、設計者(ユーザ)が作成したCADデータ201は、階層化されたフォーマットの設計中間データ202に変換される。設計中間データ202には、レイヤ(層)毎に作成されてマスク101に形成されるパターンデータが格納される。ここで、一般に、検査装置は、設計中間データ202を直接読み込めるようには構成されていない。すなわち、検査装置の製造メーカ毎に、異なるフォーマットデータが用いられている。このため、設計中間データ202は、レイヤ毎に各検査装置に固有のフォーマットデータ203に変換された後に検査装置100に入力される。この場合、フォーマットデータ203は、検査装置100に固有のデータとすることができる。
次に、図7に示す検査装置100を用いてマスク101を検査する方法の一例について説明する。検査装置100を用いた本実施形態の検査方法を説明することによって、構成部Aおよび構成部Bの各要素の機能をより詳細に説明する。
図9は、検査方法を示すフローチャートである。
尚、以下では、ダイ−トゥ−データベース方式による検査方法を述べる。したがって、検査対象の光学画像と比較される基準画像は、描画データ(設計パターンデータ)をベースに作成された参照画像である。但し、本発明において、検査装置は、ダイ−トゥ−ダイ方式による検査方法にも適用可能であり、その場合の基準画像は、検査対象とは異なる光学画像になる。
図9に示すように、検査方法は、光学画像取得工程(S1)と、設計パターンデータの記憶工程(S2)と、展開工程(S3)およびフィルタ処理工程(S4)と、光学画像と参照画像の比較工程(S5)とを有する。
<光学画像取得工程>
図9において、S1の光学画像取得工程では、図7の構成部Aが、マスク101の光学画像(測定データ)を取得する。ここで、光学画像は、設計パターンに含まれる図形データに基づく図形が描画されたマスク101の画像である。光学画像の具体的な取得方法の一例を、図7および図9を用いて説明する。
マスク101は、XYθテーブル102上に載置される。XYθテーブル102は、互いに直交する水平2方向たるX方向およびY方向にそれぞれ移動されるとともに、鉛直のθ軸線回りに回転される。具体的には、XYθテーブル102は、図7の制御計算機110の制御の下、テーブル制御回路114によって駆動され、X方向に駆動するXモータとY方向に駆動するYモータと、鉛直のθ軸線回りに回転するθモータによって移動可能となっている。Xモータ、Yモータおよびθモータには、例えば、ステップモータを用いることができる。そして、XYθテーブル102の移動位置は、レーザ測長システム122により測定されて位置回路107に送られる。また、検査装置101が、オートローダ130を有する場合、XYθテーブル102上のマスク101は、オートローダ制御回路113により駆動されるオートローダ130から自動的に搬送され、検査終了後には自動的に排出される。
光源103は、試料であるマスク101に対して、検査用の光を照射する。光源103から出射された光は、照明光学系170を透過してマスク101の上に集光される。照明光学系は、例えば、コンデンサレンズ等のレンズやミラー等を用いて構成される。
図7に示すように、光源103から照射されてマスク101を透過した光は、対物レンズ切替機構1の対物レンズ6を介して、フォトダイオードアレイ105に光学像として結像する。
このとき、図1等を用いて説明したように、対物レンズ切替機構1の対物レンズ6は、検査対象であるマスク101の種類やパターンに対応して、対物レンズ切替機構1が有する複数の対物レンズ6のうち、検査に好適となる性能を備えた1つが選択されたものである。そして、その選択に従い、対物レンズ切替機構1を用いて容易に切替えられて、高い設置位置の精度で安全に設置されたものである。したがって、検査装置100は、マスク101の検査に最適となる性能を備えた1つの対物レンズ6を、検査のための検査位置に高い位置精度で容易かつ安全に配置して、後述する方法で、マスク101の検査を行うことができる。
そして、図7のフォトダイオードアレイ105上に結像したパターンの像は、フォトダイオードアレイ105によって光電変換され、さらにセンサ回路106によってA/D(アナログデジタル)変換される。フォトダイオードアレイ105には、画像センサが配置されている。本実施形態の画像センサとしては、例えば、撮像素子としてのCCDカメラを一列に並べたラインセンサが用いられる。ラインセンサの例としては、TDI(Time Delay Integration)センサが挙げられる。XYθテーブル102がX軸方向に連続的に移動しながら、TDIセンサによってマスク101のパターンが撮像される。
以上のようにして光学画像取得工程(S1)で得られた光学画像は、図7および図8の比較回路108へ送られる。
<記憶工程>
図9において、S2は記憶工程である。図7において、マスク101のパターン形成時に用いた設計パターンデータは、記憶装置の一例である磁気ディスク装置109に記憶される。
設計パターンに含まれる図形は、長方形や三角形を基本図形としたものである。磁気ディスク装置109には、例えば、図形の基準位置における座標、辺の長さ、長方形や三角形などの図形種を区別する識別子となる図形コードといった情報であって、各パターン図形の形、大きさ、位置などを定義した図形データが格納される。
さらに、数十μm程度の範囲に存在する図形の集合を一般にクラスタまたはセルと称するが、これを用いてデータを階層化することが行われている。クラスタまたはセルには、各種図形を単独で配置したり、ある間隔で繰り返し配置したりする場合の配置座標や繰り返し記述も定義される。クラスタまたはセルデータは、さらにフレームに配置される。フレームは、例えば、幅が数百μmであって、長さがマスク101のX方向またはY方向の全長に対応する100mm程度の短冊状領域である。
<展開工程>
図9のS3は展開工程である。この工程においては、図7の展開回路111が、磁気ディスク装置109から制御計算機110を通して設計パターンデータを読み出し、読み出された試料101の設計パターンデータを2値ないしは多値のイメージデータ(設計画像データ)に変換する。そして、このイメージデータは参照回路112に送られる。
図形データとなる設計パターンデータが展開回路111に入力されると、展開回路111は、設計パターンデータを図形毎のデータにまで展開し、その図形データの図形形状を示す図形コード、図形寸法などを解釈する。そして、所定の量子化寸法のグリッドを単位とするマス目内に配置されるパターンとして2値ないしは多値の設計画像データを展開する。展開された設計画像データは、センサ画素に相当する領域(マス目)毎に設計パターンにおける図形が占める占有率を演算する。そして、各画素内の図形占有率が画素値となる。
<フィルタ処理工程>
図9のS4はフィルタ処理工程である。この工程では、図7の参照回路112によって、送られてきた図形のイメージデータである設計画像データに適切なフィルタ処理が施される。
図10は、フィルタ処理を説明する図である。
図7のセンサ回路106から得られた光学画像としての測定データは、対物レンズ切替機構1の対物レンズの解像特性やフォトダイオードアレイ105のアパーチャ効果などによってフィルタが作用した状態、言い換えれば連続的に変化するアナログ状態にある。したがって、画像強度(濃淡値)がデジタル値の設計側のイメージデータである設計パターンデータにもフィルタ処理を施すことにより、測定データに合わせることができる。このようにして光学画像と比較する参照画像を作成する。
<比較工程>
図9のS5は比較工程である。図7において、センサ回路106からの光学画像データは、比較回路108へ送られる。また、設計パターンデータも、展開回路111および参照回路112により参照画像データに変換されて比較回路108に送られる。また、レーザ測長システム122に接続されて光学画像のマスク101上の位置を検出する位置検出回路107からの位置データが比較回路108に入力される。
そして、比較回路108では、センサ回路106から送られた光学画像と、参照回路112で生成した参照画像とが、適切な比較判定アルゴリズムを用いて比較され、誤差が所定の値を超えた場合にその箇所は欠陥と判定される。次いで、欠陥の座標と、欠陥判定の根拠となった光学画像および参照画像とが、図8に示す検査結果205として、磁気ディスク装置109に保存される。
尚、欠陥判定は、次の2種類の方法により行うことができる。1つは、参照画像における輪郭線の位置と、光学画像における輪郭線の位置との間に、所定の閾値寸法を超える差が認められる場合に欠陥と判定する方法である。他の1つは、参照画像におけるパターンの線幅と、光学画像におけるパターンの線幅との比率が所定の閾値を超える場合に欠陥と判定する方法である。この方法では、参照画像におけるパターン間の距離と、光学画像におけるパターン間の距離との比率を対象としてもよい。
以上のようにして得られた検査結果205は、図8に示すように、レビュー装置500に送られる。レビューは、オペレータによって、検出された欠陥が実用上問題となるものであるかどうかを判断する動作である。具体的には、検査結果205がレビュー装置500に送られ、オペレータによるレビューによって修正の要否が判断される。このとき、オペレータは、欠陥判定の根拠となった参照画像と、欠陥が含まれる光学画像とを見比べてレビューする。
レビュー装置500では、欠陥1つ1つの座標が観察できるように、マスク101が載置されたテーブルを移動させながら、マスク101の欠陥箇所の画像を表示する。また同時に欠陥判定の判断条件や、判定の根拠となった光学画像と参照画像を確認できるよう、レビュー装置500に備えられた計算機の画面上にこれらを並べて表示する。
尚、検査装置100にレビュー装置500が備えられている場合には、検査装置100の光学系を使って、マスク101の欠陥箇所の画像を表示する。また同時に、欠陥判定の判断条件や、判定根拠になった光学画像と参照画像等は、図7に示す制御計算機110の画面を利用して表示される。
レビュー工程を経て判別された欠陥情報は、図7の磁気ディスク装置109に保存される。そして、図8において、レビュー装置500で1つでも修正すべき欠陥が確認されると、マスク101は、欠陥情報リスト207とともに、検査装置100の外部装置である修正装置600に送られる。修正方法は、欠陥のタイプが凸系の欠陥か凹系の欠陥かによって異なるので、欠陥情報リスト207には、凹凸の区別を含む欠陥の種別と欠陥の座標が添付される。
本発明は上記各実施の形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々変形して実施することができる。
また、上記の各実施形態では、装置構成や制御手法等、本発明の説明に直接必要としない部分についての記載を省略したが、必要とされる装置構成や制御手法を適宜選択して用いることができることは言うまでもない。その他、本発明の要素を具備し、当業者が適宜設計変更し得る全ての対物レンズ切替機構、検査装置または検査方法は、本発明の範囲に包含される。
1 対物レンズ切替機構
2 回転テーブル
3 Z軸ステージ
4 回転ベース
5 レンズマウント
6 対物レンズ
7 保持アーム
8 連結材
9 開口部
10 連結リング
11 支持部材
12 保持アーム側リング
13 レンズ側リング
15 吊持部材
16 保持リング
100 検査装置
101 マスク
102 XYθテーブル
103 光源
105 フォトダイオードアレイ
106 センサ回路
107 位置回路
108 比較回路
109 磁気ディスク装置
110 制御計算機
111 展開回路
112 参照回路
113 オートローダ制御回路
114 テーブル制御回路
115 磁気テープ装置
116 フレキシブルディスク装置
117 CRT
118 パターンモニタ
119 プリンタ
120 バス
122 レーザ測長システム
124 対物レンズ切替制御回路
130 オートローダ
170 照明光学系
201 CADデータ
202 設計中間データ
203 フォーマットデータ
205 検査結果
207 欠陥情報リスト
500 レビュー装置
600 修正装置

Claims (6)

  1. 回転テーブルおよび該回転テーブル上に配置されたステージからなる回転機構と、
    前記回転機構の周囲に配置された複数のレンズマウントと、
    前記複数のレンズマウントぞれぞれの上に配置された複数の対物レンズと、
    前記回転機構の前記ステージ上に設けられ、前記複数の対物レンズそれぞれを保持するためのレンズ保持体と、
    前記レンズ保持体に付設され、前記複数の対物レンズのぞれぞれと該レンズ保持体との間を連結する複数の連結材とを有し、
    前記複数の対物レンズが、前記回転機構の前記ステージの動作により、前記レンズマウント上の第1の位置と、該レンズマウントから離間する第2の位置との間で移動し、前記回転テーブルの動作により、前記レンズマウントから離間する第2の位置と、それとは別のレンズマウントから離間する第2の位置との間で移動して、
    前記複数の対物レンズのうちの選択された1つが、所望位置の前記レンズマウント上に配置されることを特徴とする対物レンズ切替機構。
  2. 前記第1の位置は、前記対物レンズの前記レンズマウント上での設置位置であり、前記第2の位置は、前記レンズマウントから鉛直方向上方側に離間する位置であることを特徴とする請求項1に記載の対物レンズ切替機構。
  3. 前記レンズ保持体は、前記対物レンズの一部に接触して下方から支持するための支持部材を有し、
    前記支持部材は、前記ステージの動作により前記レンズ保持体が移動して前記対物レンズが前記第1の位置から前記第2の位置に移動するときに、該対物レンズに接触して支持することを特徴とする請求項1または2に記載の対物レンズ切替機構。
  4. 前記連結材は、前記ステージの動作方向と平行な方向には柔軟性を有し、前記ステージの動作方向と垂直な方向には剛性を有するバネ材であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の対物レンズ切替機構。
  5. 検査対象となる試料の光学画像を撮像する受光部と、
    前記試料へ向けて検査用の光を照明する照明光学系と、
    複数の対物レンズを有し、そのうちの1つの前記対物レンズを選択して検査位置に配置し、前記照明光学系によって照明されて前記試料を透過または反射した光を前記受光部に結像する対物レンズ切替機構とを有する検査装置であって、
    前記対物レンズ切替機構は、
    回転テーブルおよび該回転テーブル上に配置されたステージからなる回転機構と、
    前記回転機構の周囲に配置された複数のレンズマウントと、
    前記複数のレンズマウント上にそれぞれ配置された前記複数の対物レンズと、
    前記回転機構の前記ステージ上に設けられ、前記複数の対物レンズそれぞれを保持するためのレンズ保持体と、
    前記レンズ保持体に付設され、前記複数の対物レンズのぞれぞれと該レンズ保持体との間を連結する複数の連結材とを有してなり、
    前記複数の対物レンズが、前記回転機構の前記ステージの動作により、前記レンズマウント上の第1の位置と、該レンズマウントから離間する第2の位置との間で移動し、前記回転テーブルの動作により、前記レンズマウントから離間する第2の位置と、それとは別のレンズマウントから離間する第2の位置との間で移動して、
    前記複数の対物レンズのうちの選択された1つが、所望位置の前記レンズマウント上である検査位置に配置されることを特徴とする検査装置。
  6. 前記対物レンズ切替機構の前記連結材は、前記ステージの動作方向と平行な方向には柔軟性を有し、前記ステージの動作方向と垂直な方向には剛性を有するバネ材であることを特徴とする請求項5に記載の検査装置。
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