JP2015094601A - 太陽電池セル用出力測定治具及び太陽電池セルの出力測定方法 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】複数のプローブピンが配列されてなり、太陽電池セルの電流特性を測定する電流測定端子と、複数のプローブピンが配列されてなり、前記太陽電池セルの電圧特性を測定する電圧測定端子と、前記電流測定端子及び前記電圧測定端子を並列して保持するホルダとを有し、前記電流測定端子及び前記電圧測定端子の前記プローブピンにおいて、前記太陽電池セルのフィンガー電極に接する当接部の表面が複数の溝を有する太陽電池セル用出力測定治具である。
【選択図】図1B
Description
しかし、従来の太陽電池セル用出力測定治具では、プローブピンの立設間隔とフィンガー電極が形成される間隔とが一致しないことが多く、全てのフィンガー電極に対して導通をとることができず、計測の対象から外れるフィンガー電極が発生し、正確な電気的特性を測定することができなくなるという問題がある。
この提案の技術では、計測の対象から外れるフィンガー電極が発生する問題を解決している。
ところが、太陽電池セルにおけるフィンガー電極は、Agペーストをスクリーン印刷後、焼成することにより形成されることが多く、厚み方向のばらつきが大きい。そのため、この提案の技術であっても、個々のプローブピンと、フィンガー電極との接触面積が一定にならず、その結果、接触抵抗がばらつき、正確な出力値が得られにくいという問題がある。
複数のプローブピンが配列されてなり、前記太陽電池セルの電圧特性を測定する電圧測定端子と、
前記電流測定端子及び前記電圧測定端子を並列して保持するホルダとを有し、
前記電流測定端子及び前記電圧測定端子の前記プローブピンにおいて、前記太陽電池セルのフィンガー電極に接する当接部の表面が複数の溝を有することを特徴とする太陽電池セル用出力測定治具である。
<2> 複数の溝の形状が、直径の異なる複数の同心円である前記<1>に記載の太陽電池セル用出力測定治具である。
<3> 直径の異なる複数の同心円の溝において、隣接する溝の平均間隔が、30μm〜300μmである前記<2>に記載の太陽電池セル用出力測定治具である。
<4> 溝の平均深さが、30μm〜250μmである前記<1>から<3>のいずれかに記載の太陽電池セル用出力測定治具である。
<5> 電流測定端子の複数のプローブピンが、ジグザグに配列されており、
電圧測定端子の複数のプローブピンが、ジグザグに配列されている前記<1>から<4>のいずれかに記載の太陽電池セル用出力測定治具である。
<6> 前記<1>から<5>のいずれかに記載の太陽電池セル用出力測定治具の電流測定端子と電圧測定端子とを太陽電池セルのフィンガー電極上に配置する配置工程と、
前記太陽電池セルの表面に光を照射しながら、前記太陽電池セルの電気的特性を測定する測定工程とを含むことを特徴とする太陽電池セルの出力測定方法である。
本発明の太陽電池セル用出力測定治具は、電流測定端子と、電圧測定端子と、ホルダとを有し、更に必要に応じて、その他の部材を有する。
前記電流測定端子は、複数のプローブピンが配列されてなる。
前記電流測定端子は、太陽電池セルの電流特性を測定する端子である。
前記電圧測定端子は、複数のプローブピンが配列されてなる。
前記電圧測定端子は、前記太陽電池セルの電圧特性を測定する端子である。
前記電圧測定端子における複数の前記プローブピンは、例えば、その端部同士が、銅線ケーブルのはんだ接続により接続されるとともに、電圧計と接続されている。
前記プローブピンは、前記太陽電池セルのフィンガー電極に接する当接部の表面に複数の溝を有する。即ち、前記プローブピンは、前記太陽電池セルのフィンガー電極に接する当接部を有し、前記当接部の表面は、複数の溝を有する。
前記当接部の表面が、複数の溝を有することにより、プローブピンとフィンガー電極との接触面積を増やすことができる。その結果、測定される抵抗値のバラツキを少なくし、安定した出力測定が可能になる。
前記溝の形状としては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、直線状、円形状などが挙げられる。前記溝の形状とは、溝の外観であって、例えば、前記当接部の底面図において観察される形状である。
図6Aに、従来の太陽電池セル用出力測定治具による、出力測定時のプローブピンの当接部と、フィンガー電極との接点の模式図を示す。
図6Bに、本発明の太陽電池セル用出力測定治具による、出力測定時のプローブピンの当接部と、フィンガー電極との接点の一例の模式図を示す。
そのような状態では、従来の太陽電池セル用出力測定治具では、図6Aに示すように、プローブピンの当接部4bが平坦であるため、フィンガー電極3aとの接点が少ない。
一方、本発明の太陽電池セル用出力測定治具では、図6Bに示すように、プローブピンの当接部6Bが複数の溝を有することにより、プローブピンの当接部4bと、フィンガー電極3aとの接点が多くなり、プローブピンとフィンガー電極との接触面積を増やすことができる。
ここで、隣接する溝の間隔は、隣接する2つの溝の中心間の距離である。前記平均間隔は、前記当接部において前記間隔を任意に10箇所測定した際の平均値である。
前記溝の深さは、複数の溝において均一であってもよいし、不均一であってもよい。
ここで、平均深さとは、前記当接部において前記溝の深さを任意に10箇所測定した際の平均値である。
ここで、平均幅とは、前記当接部において前記溝の幅を任意に10箇所測定した際の平均値である。
前記太陽電池セルとしては、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ、例えば、薄膜系太陽電池セル、結晶系太陽電池セルなどが挙げられる。
前記太陽電池セルとしては、バスバーレス構造の太陽電池セルが好ましい。
前記薄膜系太陽電池セルとしては、例えば、非晶質シリコン太陽電池セル、CdS/CdTe太陽電池セル、色素増感太陽電池セル、有機薄膜太陽電池セル、微結晶シリコン太陽電池セル(タンデム型太陽電池セル)などが挙げられる。
前記フィンガー電極は、通常、前記太陽電池セルの受光面となる表面にAgペーストがスクリーン印刷等により塗布された後、焼成されることにより形成される。また、前記フィンガー電極は、受光面の全面に亘って、例えば、50μm〜200μmの幅を有するラインが、所定間隔、例えば、2mmおきに、ほぼ平行に複数形成される。
前記光電変換素子の受光面と反対の裏面側には、例えば、アルミニウム又は銀からなる裏面電極が設けられている。前記裏面電極は、例えば、スクリーン印刷、スパッタ等により前記太陽電池セルの裏面に形成される。
前記ホルダとしては、前記電流測定端子及び前記電圧測定端子を並列して保持するホルダであれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
矩形の前記ホルダにおいて、前記ホルダの上下面は、例えば、太陽電池セルの一辺の長さに相当する長辺と、前記電流測定端子及び前記電圧測定端子を並列する際の幅に相当する短辺とからなる。前記ホルダには、例えば、上下面間に亘って、複数の前記プローブピンが、前記電流測定端子及び前記電圧測定端子を構成する所定の配列で埋め込まれている。
本発明の太陽電池セルの出力測定方法は、配置工程と、測定工程とを含み、更に必要に応じて、その他の工程を含む。
前記配置工程としては、本発明の前記太陽電池セル用出力測定治具の前記電流測定端子と前記電圧測定端子とを前記太陽電池セルの前記フィンガー電極上に配置する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができる。
前記測定工程としては、前記太陽電池セルの表面に光を照射しながら、前記太陽電池セルの電気的特性を測定する工程であれば、特に制限はなく、目的に応じて適宜選択することができ。
前記電気的特性としては、例えば、I−V特性などが挙げられる。
太陽電池セル用出力測定治具1は、図7、及び図8に示すように、太陽電池セル2の表面に形成された表面電極3に当接される複数のプローブピン4と、プローブピン4を保持するホルダ5とを備える。そして、太陽電池セル用出力測定治具1は、複数のプローブピン4が配列することにより電流測定端子6を構成し、また、複数のプローブピン4が配列することにより電圧測定端子7を構成する。
プローブピン4の当接部4bの表面には、溝が形成されている。
電流測定端子6及び電圧測定端子7は、図8、及び図9に示すように、ホルダ5の下面5bに、互いに並列して設けられている。また、電流測定端子6及び電圧測定端子7は、ともにホルダ5の下面5bの長辺方向に沿って直線状に形成されている。電流測定端子6及び電圧測定端子7を構成する各プローブピン4は、当接部4bが直径3.5mmの円柱状をなし、隣接する当接部4bとの間隙S1が、一般的なフィンガー電極の間隔よりも短い0.1mmとされている。
また、太陽電池セル用出力測定治具1は、図10に示すように、電流測定端子6及び電圧測定端子7を、ともにホルダ5の下面5bの長辺方向に沿ってジグザグに形成してもよい。電流測定端子6及び電圧測定端子7は、各列のプローブピン4をジグザグに配列させることにより、それぞれ隣接するプローブピン4の当接部4b同士を、配列方向と直交する方向に一部オーバーラップさせることができる。すなわち、電流測定端子6は、プローブピン4がホルダ5の下面5bの長辺方向に沿ってジグザグに配列されるとともに、配列方向と直交するホルダ5の下面5bの幅方向から見て、隣接するプローブピン4の当接部4bの一部が重なるように配列されている。電圧測定端子7も、同様に構成されている。なお隣接するプローブピン4の当接部4b同士の間隔S3は、例えば、0.1mmと近接して配列されている。
次いで、太陽電池セル用出力測定治具1を用いた太陽電池セル2の電気的特性の測定工程について説明する。
本実施例に用いたバスバーレス構造の太陽電池セル2は、6インチの単結晶シリコン光電変換素子を有し、受光面側には、幅80μm、高さ20μm〜30μmのフィンガー電極3aが2mm間隔で複数形成され、裏面側にはAg電極が全面に亘って形成されている。なお、フィンガー電極は、銀ペーストを用いたスクリーン印刷により形成されている。
先端が円形(直径1.5mm)になっているプローブピンの接触面に、切削加工で、同心円状に角度60°、平均深さが45μm、同心円における隣接する円の平均間隔(平均ピッチ)が60μmの溝を形成した(図17A及び図17B)。
結束された片方の列が電流測定端子、もう一方の列が電圧測定端子である。これら端子をソーラーシミュレータに接続して使用した。
実施例1において、プローブピン4の溝の、同心円における隣接する円の平均間隔(平均ピッチ)を120μmとした以外は、実施例1と同様にして、太陽電池セル用出力測定治具を作製した。
なお、溝の平均深さは95μmとなった。
実施例1において、プローブピン4の溝の、同心円における隣接する円の平均間隔(平均ピッチ)を250μmとした以外は、実施例1と同様にして、太陽電池セル用出力測定治具を作製した。
なお、溝の平均深さは210μmとなった。
実施例1において、プローブピン4の当接部4bに溝を形成しなかった以外は、実施例1と同様にして、太陽電池セル用出力測定治具を作製した。
得られた太陽電池セル用出力測定治具1を、図19に示すようにバスバーレス構造の太陽電池セル2に接触させ、プローブピンと、フィンガー電極との間の抵抗値を測定した。なお、1A電流印加時の抵抗値を測定した。
測定は、ソーラーシミュレーター(日清紡メカトロニクス社製、PVS1116i)を用いて、照度1,000W/m2、温度25℃、スペクトルAM1.5Gの条件(JIS C8913)にて行った。5回測定し、抵抗値の算術平均値と、標準偏差(σ)を求め、測定毎のバラツキがどの程度生じたかを検討した。測定結果を下記評価基準で評価した。
[評価基準]
○:比較例1の抵抗値の標準偏差(σ)の1/3以下。
△:比較例1の抵抗値の標準偏差(σ)以下、かつ1/3超。
×:比較例1よりも抵抗値の標準偏差(σ)が大きい。
特に、隣接する溝の平均間隔(平均ピッチ)が、40μm〜150μmの場合(実施例1及び2)には、抵抗値のバラツキが非常に少なく(比較例の標準偏差(σ)が、比較例の1/3以下)であり、非常に優れていた。
2 太陽電池セル
3 表面電極
3a フィンガー電極
4 プローブピン
4a ピン本体
4b 当接部
5 ホルダ
6 電流測定端子
7 電圧測定端子
8 電流計
9 電圧計
22 裏面電極
30 載置台
Claims (6)
- 複数のプローブピンが配列されてなり、太陽電池セルの電流特性を測定する電流測定端子と、
複数のプローブピンが配列されてなり、前記太陽電池セルの電圧特性を測定する電圧測定端子と、
前記電流測定端子及び前記電圧測定端子を並列して保持するホルダとを有し、
前記電流測定端子及び前記電圧測定端子の前記プローブピンにおいて、前記太陽電池セルのフィンガー電極に接する当接部の表面が複数の溝を有することを特徴とする太陽電池セル用出力測定治具。 - 複数の溝の形状が、直径の異なる複数の同心円である請求項1に記載の太陽電池セル用出力測定治具。
- 直径の異なる複数の同心円の溝において、隣接する溝の平均間隔が、30μm〜300μmである請求項2に記載の太陽電池セル用出力測定治具。
- 溝の平均深さが、30μm〜250μmである請求項1から3のいずれかに記載の太陽電池セル用出力測定治具。
- 電流測定端子の複数のプローブピンが、ジグザグに配列されており、
電圧測定端子の複数のプローブピンが、ジグザグに配列されている請求項1から4のいずれかに記載の太陽電池セル用出力測定治具。 - 請求項1から5のいずれかに記載の太陽電池セル用出力測定治具の電流測定端子と電圧測定端子とを太陽電池セルのフィンガー電極上に配置する配置工程と、
前記太陽電池セルの表面に光を照射しながら、前記太陽電池セルの電気的特性を測定する測定工程とを含むことを特徴とする太陽電池セルの出力測定方法。
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CN112367050B (zh) * | 2020-10-10 | 2023-11-03 | 天合光能股份有限公司 | 一种适用于大尺寸太阳电池的电性能测试方法 |
JP2023022433A (ja) * | 2021-08-03 | 2023-02-15 | 住友電気工業株式会社 | プローブ、プローブ装置及び検査方法 |
CN114325099A (zh) * | 2021-11-29 | 2022-04-12 | 无锡极电光能科技有限公司 | 一种薄膜太阳能电池绝缘线电阻在线测试装置及方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08220139A (ja) * | 1995-02-13 | 1996-08-30 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 検査用基板のプローブ |
JPH1151970A (ja) * | 1997-07-31 | 1999-02-26 | Nec Corp | プローブカード |
JP2000147004A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-05-26 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハテスト用プロ―ブ針とその製造方法およびそのプロ―ブ針によってテストした半導体装置 |
JP2010177379A (ja) * | 2009-01-28 | 2010-08-12 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池用測定治具 |
JP2013102121A (ja) * | 2011-10-13 | 2013-05-23 | Dexerials Corp | 太陽電池用測定治具及び太陽電池セルの出力測定方法 |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1138041A (ja) * | 1997-07-24 | 1999-02-12 | Mitsubishi Electric Corp | プローブカード用片持ち型プローブ針とその製造方法ならびに制御方法 |
JP2000291246A (ja) * | 1999-04-05 | 2000-10-17 | Toli Corp | ユニット床材 |
JP2006118983A (ja) | 2004-10-21 | 2006-05-11 | Sharp Corp | 太陽電池セルの測定治具 |
JP4866954B2 (ja) | 2009-11-05 | 2012-02-01 | 共進電機株式会社 | 太陽電池セル測定用試料台 |
JP2015035435A (ja) * | 2011-11-25 | 2015-02-19 | シャープ株式会社 | 太陽電池モジュールの絶縁検査用プローブ、検査用プローブを用いた太陽電池モジュールの絶縁検査方法、および太陽電池モジュールの製造方法。 |
-
2013
- 2013-11-08 JP JP2013232308A patent/JP6204152B2/ja active Active
-
2014
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- 2014-10-30 KR KR1020167014500A patent/KR101814948B1/ko active IP Right Grant
- 2014-10-30 DE DE112014005098.9T patent/DE112014005098T5/de not_active Withdrawn
- 2014-11-06 TW TW103138509A patent/TW201530164A/zh unknown
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH08220139A (ja) * | 1995-02-13 | 1996-08-30 | Hitachi Electron Eng Co Ltd | 検査用基板のプローブ |
JPH1151970A (ja) * | 1997-07-31 | 1999-02-26 | Nec Corp | プローブカード |
JP2000147004A (ja) * | 1998-08-31 | 2000-05-26 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハテスト用プロ―ブ針とその製造方法およびそのプロ―ブ針によってテストした半導体装置 |
JP2010177379A (ja) * | 2009-01-28 | 2010-08-12 | Mitsubishi Electric Corp | 太陽電池用測定治具 |
JP2013102121A (ja) * | 2011-10-13 | 2013-05-23 | Dexerials Corp | 太陽電池用測定治具及び太陽電池セルの出力測定方法 |
US20140239997A1 (en) * | 2011-10-13 | 2014-08-28 | Dexerials Corporation | Measurement jig for solar battery and method for measuring output of solar battery cell |
Also Published As
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