JP2015062873A - 通電加熱式触媒装置 - Google Patents

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健二 下田
和晃 西尾
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和晃 西尾
雅夫 中山
Masao Nakayama
雅夫 中山
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Abstract

【課題】SiC触媒担体と電極との間の隙間の発生を抑制して、固定層の亀裂の発生を抑制する通電加熱式触媒装置を提供すること。
【解決手段】本発明にかかる通電加熱式触媒装置100は、触媒の担持されたセラミックからなる担体20と、担体の表面に形成された電極30と、を有する。電極30は、単体の表面に形成された下地層31と、下地層31の上に配置された金属箔32と、金属箔32の上に円形形状となるように溶射され、金属箔32を下地層31に固定する固定層33と、を有し、金属箔32は、固定層と重なる部分に、複数の円形の孔331を有する。
【選択図】図3

Description

本発明は通電加熱式触媒装置に関する。
近年、自動車等のエンジンから排出される排気ガスを浄化する排気浄化装置として通電加熱式触媒(EHC:Electrically Heated Catalyst)が注目されている。EHCでは、エンジンの始動直後などのように排気ガスの温度が低く、触媒が活性化し難い条件下であっても、通電加熱により強制的に触媒を活性化させ、排気ガスの浄化効率を高めることができる。通電加熱式触媒装置には、SiC触媒担体に直接通電し、内部加熱により同担体を早期に加熱するものが知られている。
特許文献1に記載の通電加熱式触媒装置では、円柱形状のSiC触媒担体の外周に、電極となる金属箔を置き、金属箔の鉛直上方向から、プラズマフレームを溶射することによって溶射被膜(固定層)を形成して、電極となる金属箔を固定している。
特開2013−136997号公報
しかしながら、特許文献1に記載の通電加熱式触媒装置では、高温熱サイクルにおける耐久評価で、溶射法によりSiC触媒担体表面に固定された金属箔の一部が、SiC触媒担体から外れるという現象が確認された。これは、溶射の過程で、金属箔の下にプラズマジェットのガスが入りこんでしまうためと考えられる。
図11は、プラズマフレームの溶射の前の金属箔と固定層形成のためのマスキング治具とを示す図である。図12は、溶射している状態を図11のB−B′直線に沿った断面を示す図である。
固定層を形成しようとするとき、まず、金属箔200をマスキング治具201でSiC触媒担体に押さえつける。次に、SiC触媒担体の表面に対して鉛直上方向から、プラズマフレームを金属箔200に対して溶射する。
金属箔200に対してプラズマフレームを溶射すると、マスキング治具201の穴を通して、プラズマフレームが直接金属箔200に当たる。マスキング治具201は金属箔200をSiC触媒担体に押さえつけるためのものであるが、プラズマフレームが溶射される部分はマスキング治具201の穴の部分と重なる部分であるため、マスキング治具201ではプラズマフレームのあたる部分の金属箔200は固定できない。
プラズマフレームが当たった部分の金属箔200は熱膨張し、金属箔が浮き上がる。更に高速のプラズマジェットのガスが浮き上がった金属箔とSiC担体表面との隙間にもぐりこみ、金属箔200をよりSiC触媒単体の表面から離れる方向に押し上げる力が発生する。SiC触媒担体表面と金属箔200との間に隙間ができ、隙間ができた状態で溶射が継続されると、健全な固定層の被膜が形成されない。これにより、固定層に亀裂が生じるものと考えられる。
図13及び図14は、冷熱評価後における電極の断面の一部を拡大した図である。図13及び図14に示すように、電極である金属箔200がSiC触媒担体(基材)から浮き上がっている。また、金属箔の浮き上がりにより、固定層に亀裂が発生している。固定層の亀裂は、金属箔200のコーナー部分と接している部分から発生している。
図15は、冷熱評価後の電極の上面図である。固定層の亀裂が進行すると、図15に示すように、電極がSiC触媒担体表面から剥がれてしまう。
さらに、特許文献1に記載の通電加熱式触媒装置では、通電評価において一部で局部発熱が発生することが確認された。図16は、SiC表面に形成された電極の一部が局部発熱している状態を示す図である。
図17は、通電評価した通電加熱式触媒の局部発熱した部分の断面を示す図である。金属箔200のコーナー部分から固定層に割れが発生している。固定層に割れが発生したことにより、電流経路が遮断され、局部発熱を引き起こしたものと推定される。
以上より、SiC触媒担体と電極である金属箔200との間に生じる隙間と、金属箔200のコーナー部分から生じる固定層の亀裂により、電極が剥がれたり局部発熱が発生したりするといった問題があった。
本発明はこのような問題を解決するためになされたものであり、SiC触媒担体と電極との隙間の発生を抑制して、固定層の亀裂の発生を抑制する通電加熱式触媒装置を提供することを目的とする。
本発明にかかる通電加熱式触媒装置は、触媒の担持されたセラミックからなる担体と、担体の表面に形成された電極と、を有する通電加熱式触媒装置であって、電極は、単体の表面に形成された下地層と、下地層の上に配置された金属箔と、金属箔の上に円形形状となるように溶射され、金属箔を下地層に固定する固定層と、を有し、金属箔は、固定層と重なる部分に、複数の円形の孔を有するものである。これにより、金属箔の浮き上がりを抑制することができる。
本発明によれば、SiC触媒担体と電極との隙間の発生を抑制して、固定層の亀裂の発生を抑制する通電加熱式触媒装置を提供することができる。
実施の形態にかかる通電加熱式触媒装置の斜視図である。 実施の形態にかかる電極の断面の一部を拡大した図である。 実施の形態にかかる担体に固定される前の金属箔の一部を示す図である。 実施の形態にかかる溶射粉末を示す図である。 実施の形態にかかる金属箔の上をマスキング治具で固定している状態を示す図である。 実施の形態にかかる固定層の形成途中の様子を示す断面図である。 比較のための金属箔の形状を示す図である。 実施の形態にかかる形成された通電加熱式触媒装置の外観を示す図である。 実施の形態にかかる形成された通電加熱式触媒装置の固定層の断面を示す図である。 5kW時における通電評価結果を示す図である。 従来のプラズマフレームの溶射の前の金属箔と固定層形成のためのマスキング治具とを示す図である。 従来の溶射している状態を図11のB−B′直線に沿った断面を示す図である。 従来の冷熱評価後における電極の断面の一部を拡大した図である。 従来の冷熱評価後における電極の断面の一部を拡大した図である。 従来の冷熱評価後の電極の上面図である。 従来のSiC表面に形成された電極の一部が局部発熱している状態を示す図である。 従来の通電評価した通電加熱式触媒の局部発熱した部分の断面を示す図である。
実施の形態
以下、図面を参照して本発明の実施の形態にかかる通電加熱式触媒装置について説明する。本発明は、電極に特徴を有する。ここではまず通電加熱式触媒装置について説明する。図1は、実施の形態に係る通電加熱式触媒装置100の斜視図である。図1に示すように、通電加熱式触媒装置100は、担体20と、電極30と、を備えている。
担体20は、白金やパラジウム等の触媒を担持する多孔質部材である。また、担体20自体は、通電加熱されるため、導電性を有するセラミックス、具体的には例えばSiC(炭化珪素)からなる。図1に示すように、担体20は、外形が円筒形状であって、内部はハニカム構造を有している。矢印で示すように、排気ガスが担体20の内部を担体20の軸方向に通過する。
電極30は、担体20に電流を流し、加熱するための一対の電極である。各電極30は、担体20の外周面において互いに対向配置されている。また、各電極30は、担体20の長手方向の両端に亘り形成されている。各電極30には、端子(不図示)が設けられており、バッテリ等の電源から電力の供給が可能となっている。なお、電極30の一方がプラス極、他方がマイナス極であるが、いずれの電極30がプラス極あるいはマイナス極になってもよい。つまり、担体20を流れる電流の向きは限定されない。
通電加熱式触媒装置100は、一対の電極30間において担体20が通電加熱され、担体20に担持された触媒が活性化される。そして、担体20を通過する排気ガス中の未燃焼HC(炭化水素)、CO(一酸化炭素)、NOx(窒素酸化物)等が触媒反応により浄化される。通電加熱式触媒装置100は、例えば自動車等の排気経路上に設けられ、エンジンから排出される排気ガスを浄化する。
図2は、電極の断面の一部を拡大した図である。各電極30は、下地層31、金属箔32、固定層33を備えている。また、図2は、固定層33が形成された部位での断面図である。
図1に示すように、下地層31は、電極30の形成領域の全体に亘って担体20の外周面上に形成された溶射皮膜である。つまり、各下地層31は、担体20の外周面において互いに対向配置されており、また、担体20の長手方向に形成されている。なお、電極30は、担体軸方向の両端近傍には形成されていない。図2に示すように、下地層31は、担体20と物理的に接触しているとともに電気的に接続されている。
固定層33は、金属箔32を下地層31に固定するために、金属箔32を覆うように形成されたボタン形状の溶射皮膜である。ここで、固定層33がボタン形状であるのは、金属をベースとする溶射皮膜である下地層31及び固定層33と、セラミックスからなる担体20との線膨張係数差に基づく応力を緩和するためである。図2に示すように、固定層33は、金属箔32及び下地層31と物理的に接触するとともに電気的に接続されている。また、図1に示すように、固定層33は、1本の金属箔32に対し、金属箔32の長手方向(担体20の周方向)に沿って、所定の間隔で複数設けられている。さらに、互いに隣接する金属箔32では、固定層33が金属箔32の長手方向において異なる位置となるように配置されている。
図1に示すように、金属箔32は、下地層31の形成領域の全体に亘って、担体20の周方向に延設されている。また、金属箔32は、各下地層31上において、担体20の軸方向に沿って、所定の間隔で複数本ずつ配置されている。図1の例では、各下地層31上に12本ずつの金属箔32が設けられている。当然のことながら、金属箔32の本数は12本に限定されるものではなく、適宜決定される。金属箔32は、例えばFe−Cr合金等の金属からなる薄板である。また、図2に示すように、金属箔32は、下地層31上に配置されており、下地層31と物理的に接触するとともに電気的に接続されている。
次に、金属箔32の形状について説明する。図3は、担体20に固定される前の金属箔32の一部を示す図である。図3では破線で固定層33の位置を示す。ここでは金属箔32は、幅が1mm、板厚0.1mmであるとして説明するが、金属箔32の幅や板厚はこれに限定されるものではない。金属箔32は、固定層33と重なる領域に、複数の孔331を有する。孔331は円形であり、金属箔32の長手方向に沿った中心線の上に、5つの孔331の中心が図3の例では一列に並び、孔と孔との間隔は等間隔である。
ここで、孔331は、直径が0.3〜0.5mm程度の円形であることが望ましい。これは、孔331の直径が0.2mmより小さいと溶射粒子が十分に入らず、直径が0.5mmより大きいと金属箔32の強度が弱くなってしまうためである。ここでは、孔331は直径が0.3mmであるとして説明する。
また、孔の配置は一列ではなく、複数列でも可能である。孔の配置が複数列であった場合、孔の配置が金属箔32の短手方向から見て重ならないよう、互い違いに配置されるようにすることが望ましい。孔331は、金属箔32に機械加工で形成されてもよいし、打ち抜き加工で形成されてもよい。また、金属箔32に設けられる孔の数は5箇所に限定されず、5箇所より少なくても多くてもよい。
次に、本実施の形態にかかる金属箔32を用いて電極30を形成した場合について説明する。初めに、溶射に用いる溶射粉末について説明する。図4は、溶射粉末を示す図である。溶射粉末は、耐酸化性材料としてのNi−Cr合金(Cr50wt%)の金属粉末と、複合材としてのベントナイトの粒子と、を用いる。Ni−Cr合金の金属粉末は、Ni−Cr合金をガストアトマイズ法を用いて粒子に加工した後に粒度調整を行い、粒径10〜50μmの金属粉末としたものである。ベントナイトの粒子は、ベントナイトの原材料を粒子化して、粒度調整を行い、粒径10〜50μmの粉末に加工した後、スプレードライ法により水素雰囲気下で約1000〜1100℃にて焼結されたものである。
次に、溶射の条件について説明する。ここではプラズマガスとしてAr−Hを用いる。ガス流量は、Arが60L/minであり、Hが10L/minである。プラズマに印加される電圧は60V、電流は600Aである。また、溶射粉末の供給量は、30g/minである。溶射距離は150mmである。溶射中の酸化を抑制するため、プラズマフレームの周りをArガスによりシールドするシールド溶射を行った。
上記の溶射条件の下で、まず溶射粉末をEHC用SiC担体表面に溶射し、厚さ0.1〜0.2mmの溶射被膜(下地層31)を形成した。次に、金属箔32の上をマスキング治具201で固定して、マスキング治具201の穴からプラズマフレームを溶射し、直径3mmのボタン形状の固定層33を形成した。図5は、金属箔32の上をマスキング治具201で固定している状態を示す図である。また、図6は固定層の形成途中の様子を示す断面図であり、図5におけるA−A′直線に沿った断面図である。
比較のため、金属箔32に孔331を設けた形状ではなく、図7に示すようなマスキング治具201の穴と重なる部分の両側が細くえぐれている形状の金属箔40でも固定層33を形成した。
図8は、形成された通電加熱式触媒装置100の外観を示す図である。図9は、形成された通電加熱式触媒装置100の固定層33の断面を示す図である。図9に示すように、本実施の形態にかかる通電加熱式触媒装置100では、金属箔32が下地層31から浮き上がっていない。また、固定層33の割れが発生していない。これは、孔331を配置した金属箔32を電極30に適用することにより、金属箔32のプラズマフレームでの加熱による熱膨張に伴う変形を抑制することができるためである。さらに、孔331を配置することにより、プラズマフレームを溶射したときに、金属箔32の下に入り込んだプラズマジェットが孔331から逃げ、金属箔の浮き上がりを抑制することができるためである。なお、比較のために使用した金属箔33では、金属箔40が下地層31から浮き上がってしまった。よって、孔331により、金属箔32の浮きあがりを防止できる効果があることが明確になった。
次に、形成された通電加熱式触媒装置の冷熱評価及び冷熱評価後の通電評価の結果を示す。冷熱評価において、局部発熱等の異常発生を防止することができた。また、通電評価において、局部発熱等の異常発生を防止することができた。図10は、5kW時における通電評価結果を示す図である。図10に示すように、本実施の形態にかかる通電加熱式触媒装置100は通電されると均一に発熱する。
本実施の形態にかかる通電加熱式触媒装置100は、孔331を配置した金属箔32を電極30に適用することにより、金属箔32のプラズマフレームでの加熱による熱膨張に伴う変形を抑制することができる。さらに、孔331を配置することにより、プラズマフレームを溶射したときに、金属箔32の下に入り込んだプラズマジェットが孔331から逃げ、金属箔の浮き上がりを抑制することができる。
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。
331 孔
20 担体
30 電極
31 下地層
32 金属箔
33 固定層
100 通電加熱式触媒装置
200 金属箔
201 マスキング治具
202 金属箔

Claims (1)

  1. 触媒の担持されたセラミックからなる担体と、
    前記担体の表面に形成された電極と、を有する通電加熱式触媒装置であって、
    前記電極は、
    前記単体の表面に形成された下地層と、
    前記下地層の上に配置された金属箔と、
    前記金属箔の上に円形形状となるように溶射され、前記金属箔を下地層に固定する固定層と、を有し、
    前記金属箔は、前記固定層と重なる部分に、複数の円形の孔を有する、通電加熱式触媒装置。
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