JP2015054288A - 洗浄方法、洗浄装置および洗浄方法を適用した被洗浄物 - Google Patents
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Abstract
Description
特許文献1に記載の従来技術において、微細領域に予め液体が入っている被洗浄物を洗浄液に浸漬して洗浄する場合、微細領域で発生した気泡が微細領域内に残留しないので、微細領域内で気泡の減圧膨張と加圧収縮することによる微細領域内の洗浄液の繰り返し置換ができなかった。
図1は、本発明の実施の形態1における洗浄装置1の構成を示す概略図である。なお、図1には、(1)微細領域50が液体51で満たされている場合(液体充填状態)と、(2)微細領域内が空気で満たされている場合(空気層状態)とを示す模式図も併せて示されている。
先の実施の形態1では、第1洗浄工程で洗浄槽10内を減圧する場合に空間領域14に存在するガスを排気する洗浄装置1について説明した。これに対して、本発明の実施の形態2では、第1洗浄工程で空間領域14から排気された洗浄用ガスを回収する洗浄装置1Aについて説明する。
先の実施の形態1、2では、洗浄工程で洗浄槽10内を減圧する場合に空間領域14に存在するガスを排気する洗浄装置1について説明した。これに対して、本発明の実施の形態3では、洗浄液12の溶存ガス濃度に基づき、空間領域14に存在するガスを排気する洗浄装置1Bについて説明する。
先の実施の形態1〜3では、第1洗浄工程で洗浄槽10内を復圧する場合に洗浄用ガスを洗浄液12中に供給する洗浄装置1について説明した。これに対して、本発明の実施の形態4では、第1洗浄工程で洗浄用ガスを洗浄液12中に微細気泡を発生させながら供給する洗浄装置1Cについて説明する。なお、ここでいう微細気泡とは、液体と気体との混合物中に発生させたマイクロバブルおよびナノバブルといった微細化した気泡である。
Claims (10)
- 密閉可能な洗浄槽に貯めた洗浄液に浸漬された被洗浄物を洗浄する洗浄方法であって、
前記被洗浄物の表面に開口部を有する微細領域内で気泡を膨張させるために、前記洗浄槽内の、前記洗浄液の液面上の領域である気相部に存在するガスを前記洗浄槽から排気することで前記洗浄槽内を減圧する第1減圧ステップと、
前記第1減圧ステップで膨張させた前記微細領域内で気泡を消失させないように収縮させるために、前記洗浄槽内の、前記洗浄液が占める領域である液相部に洗浄用ガスを供給することで前記洗浄槽内を復圧する第1復圧ステップと、
を有する第1洗浄工程と、
前記第1復圧ステップで収縮させた前記微細領域内で気泡を膨張させるために、前記気相部に存在するガスを前記洗浄槽から排気することで前記洗浄槽内を減圧する第2減圧ステップと、
前記第2減圧ステップで膨張させた前記微細領域内で気泡を消失させるために、前記気相部に前記洗浄用ガスあるいは環境中の大気を供給することで前記洗浄槽内を復圧する第2復圧ステップと、
を有する第2洗浄工程と、
を備える洗浄方法。 - 請求項1に記載の洗浄方法において、
前記第1復圧ステップで、前記洗浄液と前記洗浄用ガスとを混合することで前記洗浄用ガスからなる微細気泡を発生させ、発生させた前記微細気泡を前記液相部に供給することで前記液相部に前記洗浄用ガスを供給して前記洗浄槽内を復圧する
洗浄方法。 - 請求項1または2に記載の洗浄方法において、
前記第1洗浄工程を2回以上繰り返し実行した後に、前記第2洗浄工程を実行する
洗浄方法。 - 請求項3に記載の洗浄方法において、
前記第1洗浄工程を前記2回以上繰り返し実行する場合、2回目以降に実行する前記第1洗浄工程の前記第1減圧ステップで、前記洗浄槽から排気されたガスを前記洗浄用ガスとして回収する
洗浄方法。 - 請求項1から4のいずれか1項に記載の洗浄方法において、
前記第1減圧ステップを実行した後、前記洗浄液に溶存する洗浄用ガスの濃度である溶存ガス濃度があらかじめ規定した第1閾値以下になれば、前記第1復圧ステップを実行し、
前記第2減圧ステップを実行した後、前記溶存ガス濃度があらかじめ規定した第2閾値以下になれば、前記第2復圧ステップを実行する
洗浄方法。 - 密閉可能な洗浄槽に貯めた洗浄液に浸漬された被洗浄物の表面に開口部を有する微細領域内で気泡を膨張させるあるいは収縮させる洗浄装置であって、
前記洗浄槽内の、前記洗浄液の液面上の領域である気相部に存在するガスを前記洗浄槽から排気することで前記洗浄槽内を減圧するガス排気部と、
前記洗浄槽内の、前記洗浄液が占める領域である液相部に洗浄用ガスを供給する第1系統と、前記気相部に前記洗浄用ガスあるいは環境中の大気を供給する第2系統とを選択切り換え可能な系統として有し、前記ガス排気部が減圧した前記洗浄槽内を復圧する際に、前記第1系統および前記第2系統のいずれかを選択することで、前記液相部および前記気相部のいずれかに所望のガスを供給するガス供給部と、
を備える洗浄装置。 - 請求項6に記載の洗浄装置において、
前記ガス排気部が前記洗浄槽から排気する排気ガスが前記洗浄用ガスである場合、前記排気ガスを回収する洗浄用ガス回収部をさらに備え、
前記ガス供給部は、
前記液相部に所望のガスを供給する際、前記ガス回収部に回収された洗浄用ガスを前記液相部に供給する
洗浄装置。 - 請求項6または7に記載の洗浄装置において、
前記ガス排気部は、
自身が駆動することで前記気相部に存在するガスを前記洗浄槽から排気する真空ポンプと、
前記洗浄液に溶存する洗浄用ガスの濃度である溶存ガス濃度を検出する溶存ガス濃度計と、
前記真空ポンプの駆動を制御し、前記溶存ガス濃度計による前記溶存ガス濃度の検出値があらかじめ規定した閾値以下になれば、前記真空ポンプの駆動を停止させる真空ポンプ制御部と、
を有する洗浄装置。 - 請求項6から8のいずれか1項に記載の洗浄装置において、
自身に供給された前記洗浄液と前記洗浄用ガスとを混合することで前記洗浄用ガスからなる微細気泡を発生させ、発生させた前記微細気泡を前記液相部に供給する微細気泡発生部をさらに備え、
前記ガス供給部は、
前記微細気泡発生部に前記洗浄用ガスを供給することで前記液相部に前記洗浄用ガスを供給して前記洗浄槽内を復圧する
洗浄装置。 - 請求項1から5のいずれか1項に記載の洗浄方法を適用して洗浄される被洗浄物であって、
前記被洗浄物は、微細領域を有する基板または精密加工部品である
洗浄方法を適用した被洗浄物。
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WO2016163004A1 (ja) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | 株式会社ユーテック | Co2リサイクル付洗浄装置及びその稼動方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0582496A (ja) * | 1991-09-18 | 1993-04-02 | Sanyo Electric Co Ltd | レジスト除去方法及びその装置 |
JPH06296940A (ja) * | 1991-02-28 | 1994-10-25 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 圧力スイング洗浄方法および装置 |
JP2008119642A (ja) * | 2006-11-14 | 2008-05-29 | Sharp Manufacturing System Corp | 洗浄方法および洗浄装置 |
JP2009054919A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-12 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2011005480A (ja) * | 2009-05-28 | 2011-01-13 | Miura Co Ltd | 洗浄装置および洗浄方法 |
JP2011218308A (ja) * | 2010-04-12 | 2011-11-04 | Asupu:Kk | 気体溶解液生成装置及び生成方法 |
JP2012182441A (ja) * | 2011-02-10 | 2012-09-20 | Shibaura Mechatronics Corp | 基板処理装置および基板処理方法 |
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Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06296940A (ja) * | 1991-02-28 | 1994-10-25 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | 圧力スイング洗浄方法および装置 |
JPH0582496A (ja) * | 1991-09-18 | 1993-04-02 | Sanyo Electric Co Ltd | レジスト除去方法及びその装置 |
JP2008119642A (ja) * | 2006-11-14 | 2008-05-29 | Sharp Manufacturing System Corp | 洗浄方法および洗浄装置 |
JP2009054919A (ja) * | 2007-08-29 | 2009-03-12 | Dainippon Screen Mfg Co Ltd | 基板処理装置 |
JP2011005480A (ja) * | 2009-05-28 | 2011-01-13 | Miura Co Ltd | 洗浄装置および洗浄方法 |
JP2011218308A (ja) * | 2010-04-12 | 2011-11-04 | Asupu:Kk | 気体溶解液生成装置及び生成方法 |
JP2012182441A (ja) * | 2011-02-10 | 2012-09-20 | Shibaura Mechatronics Corp | 基板処理装置および基板処理方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2016163004A1 (ja) * | 2015-04-09 | 2016-10-13 | 株式会社ユーテック | Co2リサイクル付洗浄装置及びその稼動方法 |
JPWO2016163004A1 (ja) * | 2015-04-09 | 2018-02-08 | 株式会社ユーテック | Co2リサイクル付洗浄装置及びその稼動方法 |
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