JP2015039424A - Mri装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】MRI装置100は、傾斜磁場コイルと、前記傾斜磁場コイルに電流を供給する傾斜磁場電源2と、傾斜磁場電源2により測定用の電流が前記傾斜磁場コイルに供給された場合、前記傾斜磁場電源2からの出力される電流および電圧を測定する測定部3と、前記測定を実施する測定シーケンスおよび被検体を撮像する撮像シーケンスを制御するシーケンス制御部6と、前記測定部3で測定された電流および電圧から、前記傾斜磁場コイルのインピーダンスを算出する演算部21と、前記インピーダンスに基づき、前記傾斜磁場コイルの異常の有無を判定する判定部23と、前記判定結果を表示する表示部40と、を備える。
【選択図】図3
Description
図1は、実施形態に係るMRI装置の一例を示す概念的な構成図である。図1が示すように、実施形態に係るMRI装置100は、静磁場を発生させる静磁場電源1、静磁場に位置情報を付加するための、傾斜磁場電源2(2X、2Y、2Z)、傾斜磁場電源2から出力される電流および電圧を測定する測定部3(3X、3Y、3Z)、高周波信号を送受信するRF受信器4およびRF送信器5、所定のパルスシーケンスを実行するシーケンス制御部6、MRI装置全体のコントロールを担うコンピュータ7、被検体(患者)を載せる寝台部8、騒音遮蔽用容器9(以下、容器9という)、磁石架台10を備えた構成である。
図4は、実施形態に係るMRI装置100の動作の一例を示すフローチャートである。
上述した実施形態では、傾斜磁場コイル12に台形波を供給することで、インピーダンスを算出する方法について説明したが、実施形態における測定シーケンスはこれに限られるものではない。たとえば、傾斜磁場電源2から供給される電流は連続波(たとえば、正弦波)であってもよい。連続波を用いて傾斜磁場コイル12のインピーダンスを算出するMRI装置100について、以下で説明する。
いったん傾斜磁場コイル12に損傷が生じたら、傾斜磁場電源から供給される高い電流によって急速に劣化が進行するため、損傷を早急に発見することが重要である。そこで、上述した測定シーケンスを、MRI装置100を運転するにあたり、どのようなスケジュールで行うかも重要である。以下に、MRI装置100における測定シーケンスと撮像シーケンスとから構成される運転スケジュールについて説明する。
2 傾斜磁場電源
2X X軸傾斜磁場電源
2Y Y軸傾斜磁場電源
2Z Z軸傾斜磁場電源
3 測定部
3X X軸測定部
3Y Y軸測定部
3Z Z軸測定部
4 RF受信器
5 RF送信器
6 シーケンス制御部
7 コンピュータ
8 寝台部
9 騒音遮蔽用容器(容器)
10 磁石架台
11 静磁場磁石
12 傾斜磁場コイル
13 RFコイル
20 主制御部
21 演算部
23 判定部
30 入力部
40 表示部
50 記憶部
100 MRI装置
Claims (23)
- 傾斜磁場コイルと、
前記傾斜磁場コイルに電流を供給する傾斜磁場電源と、
前記傾斜磁場電源により測定用の電流が前記傾斜磁場コイルに供給された場合、前記傾斜磁場電源からの出力される電流および電圧を測定する測定部と、
前記測定を実施する測定シーケンスおよび被検体を撮像する撮像シーケンスを制御するシーケンス制御部と、
前記測定部で測定された電流および電圧から、前記傾斜磁場コイルのインピーダンスを算出する演算部と、
前記インピーダンスに基づき、前記傾斜磁場コイルの異常の有無を判定する判定部と、
前記判定結果を表示する表示部と、
を備えたことを特徴とするMRI装置。 - 前記シーケンス制御部は、前記測定シーケンスに設定された条件に基づき、前記傾斜磁場電源および、前記測定部を制御すること、
を特徴とする請求項1に記載のMRI装置。 - 前記測定シーケンスは、前記測定用の電流の供給対象となる傾斜磁場コイルの順番、前記測定用の電流の供給タイミング、前記測定用の電流の供給回数、前記測定用の電流の種類、測定対象となる傾斜磁場コイル、前記測定部の電流および電圧のサンプリングタイミングおよび、前記測定部の電流および電圧のサンプリング回数が、少なくとも設定されていること、
を特徴とする請求項2に記載のMRI装置。 - 前記測定用の電流の供給対象となる傾斜磁場コイルの順番は、X軸、Y軸、Z軸の傾斜磁場コイルそれぞれについて、順不同で、
前記測定用の電流の供給タイミングは、前記X軸、Y軸、Z軸用の傾斜磁場コイルについてそれぞれ別々であり、
前記測定用の電流の供給回数は、前記X軸、Y軸、Z軸用の傾斜磁場コイルについてそれぞれ1回以上であること、
を特徴とする請求項3に記載のMRI装置。 - 前記測定対象となる傾斜磁場コイルは、X軸、Y軸、Z軸の傾斜磁場コイルうち、電流が供給されている傾斜磁場コイルのみであり、
前記演算部は、前記電流が供給されている傾斜磁場コイルについてのインピーダンスを算出し、
前記判定部は、前記電流が供給されている傾斜磁場コイルについて異常の有無を判定すること、
を特徴とする請求項3に記載のMRI装置。 - 前記測定対象となる傾斜磁場コイルは、電流の供給の有無にかかわらず、X軸、Y軸、Z軸のすべての傾斜磁場コイルであり、
前記演算部は、前記すべての傾斜磁場コイルについてインピーダンスを算出し、
前記判定部は、前記すべての傾斜磁場コイルについて異常の有無を判定すること、
を特徴とする請求項3に記載のMRI装置。 - 前記判定部で前記傾斜磁場コイルの異常を検出した場合、
前記シーケンス制御部は、前記被検体の撮像を停止すること、
を特徴とする請求項1に記載のMRI装置。 - 前記判定部は前記傾斜磁場コイルの異常の程度が、複数の段階のうちどの段階に属するかを判断し、
前記表示部は、前記段階によって異なる警告を表示すること、
を特徴とする請求項1に記載のMRI装置。 - 演算部によって算出された前記インピーダンスを記憶する、記憶部をさらに備え、
前記判定部は、前記記憶部に格納された過去のインピーダンスを統計的に処理した結果に基づき、前記傾斜磁場コイルについて異常の有無を判定すること、
を特徴とする請求項1に記載のMRI装置。 - 前記測定用の電流の種類が台形波であること、
を特徴とする請求項3に記載のMRI装置。 - 前記測定用の電流の供給回数が複数回である場合、
前記測定用の電流の種類は、極性および電流量の少なくともいずれか一方が異なること、
を特徴とする請求項10に記載のMRI装置。 - 前記測定部の電流および電圧のサンプリングイミングは、前記台形波が印加されてから整定時間経過後に1回以上であること、
を特徴とする請求項10に記載のMRI装置。 - 前記演算部は、前記サンプリングが2回以上実施された場合に、取得した電流および電圧の平均からインピーダンスを算出すること、
を特徴とする請求項10に記載のMRI装置。 - 前記演算部は、前記サンプリングが2回以上実施された場合に、取得した電流および電圧の中央値からインピーダンスを算出すること、
を特徴とする請求項10に記載のMRI装置。 - 前記演算部は、前記サンプリングが2回以上実施された場合に、複数算出されたインピーダンスの平均値または中央値を算出すること、
を特徴とする請求項10に記載のMRI装置。 - 前記測定部は、前記台形波の印加時、常時サンプリングを行い、
前記演算部は、サンプリングした前記電流および電圧のうち、整定時間経過後の電流および電圧を用いて、インピーダンスを算出すること、
を特徴とする請求項10に記載のMRI装置。 - 前記測定用の電流の種類は、所定の周波数および振幅の正弦波であること、
を特徴とする請求項3に記載のMRI装置。 - 前記測定用の電流の種類は、所定の周波数および振幅の正弦波と台形波との組み合わせであること、
を特徴とする請求項3に記載のMRI装置。 - 前記測定用の電流の供給回数が複数回である場合、
前記測定用の電流の種類は、前記所定の周波数および振幅の少なくともいずれか一方が異なること、
を特徴とする請求項17または請求項18に記載のMRI装置。 - 前記所定の周波数は、前記MRI装置の撮像において通常使用される周波数よりも高い周波数であること、
を特徴とする請求項17または請求項18に記載のMRI装置。 - 前記測定シーケンスは、前記撮像シーケンスの前に毎回実行されること、
を特徴とする請求項1に記載のMRI装置。 - 前記測定シーケンスは、前記撮像シーケンスの後に毎回実行されること、
を特徴とする請求項1に記載のMRI装置。 - 前記測定シーケンスは、前記被検体ごとに毎回実行されること、
を特徴とする請求項1に記載のMRI装置。
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