JP2015014656A - 撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法、プログラム、および、記憶媒体 - Google Patents

撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法、プログラム、および、記憶媒体 Download PDF

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圭介 工藤
門原 輝岳
Terutake Kadohara
輝岳 門原
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Abstract

【課題】高精度かつ高速に焦点検出可能な撮像装置を提供する。【解決手段】撮像装置は、フォーカスレンズを含む撮像光学系から得られた光学像を光電変換する撮像素子と、撮像素子の露光条件を設定する設定手段と、露光条件における撮像素子の出力信号に基づいて焦点評価値を算出し、焦点評価値に基づいてフォーカスレンズを駆動制御する制御手段と、フォーカスレンズの駆動制御中に露光条件を再設定する必要があるか否かを判定する判定手段とを有する。【選択図】図3

Description

本発明は、フォーカスレンズを駆動して焦点検出を行う撮像装置に関する。
従来から、デジタルスチルカメラなどの撮像装置において、フォーカスレンズの位置を移動させて被写体に焦点を合わせる方法として、コントラストAF方式が知られている。コントラストAF方式では、撮像素子からの画像信号を用いて画像のコントラストの大きさに対応する焦点評価値を生成する。フォーカスレンズの位置を移動しながら焦点評価値を取得し、焦点評価値がピークとなるレンズ位置を合焦位置として自動的に合焦動作を行う。
ところで、高精度なAFを実現するには、焦点検出枠に対して適正な露光を設定する必要がある。このため、特許文献1には、AFスキャン(AF制御)前に、撮影用の露光制御からAF用の露光制御に切り替えてからスキャンを開始する撮像装置が開示されている。
特開2007−171298号公報
しかしながら、フォーカスレンズの駆動制御中において、駆動開始時には適正露光が得られている場合でも、合焦位置に近づくにつれて(駆動制御の完了に近づくにつれて)、諸要因により適正露光が変化する場合がある。このように適正露光が変化すると、正確な合焦位置を取得することが困難となり、高精度かつ高速な焦点検出を行うことができない。
そこで本発明は、高精度かつ高速に焦点検出可能な撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法、プログラム、および、記憶媒体を提供する。
本発明の一側面としての撮像装置は、フォーカスレンズを含む撮像光学系から得られた光学像を光電変換する撮像素子と、前記撮像素子の露光条件を設定する設定手段と、前記露光条件における前記撮像素子の出力信号に基づいて焦点評価値を算出し、該焦点評価値に基づいて前記フォーカスレンズを駆動制御する制御手段と、前記フォーカスレンズの駆動制御中に前記露光条件を再設定する必要があるか否かを判定する判定手段とを有する。
本発明の他の側面としての撮像システムは、撮像光学系を備えたレンズ装置と、前記撮像装置とを有する。
本発明の他の側面としての撮像装置の制御方法は、フォーカスレンズを駆動して焦点検出を行う撮像装置の制御方法であって、撮像素子の露光条件を設定するステップと、前記露光条件における前記撮像素子の出力信号に基づいて焦点評価値を算出し、該焦点評価値に基づいて前記フォーカスレンズを駆動制御するステップと、前記フォーカスレンズの駆動制御中に前記露光条件を再設定する必要があるか否かを判定するステップとを有する。
本発明の他の側面としてのプログラムは、前記撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるように構成されている。
本発明の他の側面としての記憶媒体は、前記プログラムを記憶している。
本発明の他の目的及び特徴は、以下の実施例において説明される。
本発明によれば、高精度かつ高速に焦点検出可能な撮像装置を提供することができる。
各実施例における撮像装置の構成を示すブロック図である。 各実施例における撮像装置の動作を示すフローチャートである。 実施例1におけるAF動作を示すフローチャートである。 実施例1における再AF用AE判定の処理を示すフローチャートである。 実施例2におけるAF動作を示すフローチャートである。 実施例2における再AF用AE判定の処理を示すフローチャートである。 実施例3におけるAF動作を示すフローチャートである。 実施例3における再AF用AE判定の処理を示すフローチャートである。 各実施例において、測光値、焦点評価値、および、レンズ位置の対応付けに関する説明図である。
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら詳細に説明する。各図において、同一の部材については同一の参照番号を付し、重複する説明は省略する。
まず、図1を参照して、本発明の実施例1における撮像装置の構成について説明する。図1は、本実施例における撮像装置100(電子カメラ)の構成を示すブロック図である。
図1において、101は、ズーム機構を含む撮影レンズである。102は、光量を制御する絞り込みシャッター(絞りおよびシャッター)である。103は、AE(自動露出)処理を行うAE処理部である。104は、後述する撮像素子107上に焦点を合わせるためのフォーカスレンズである。撮影レンズ101、絞り込みシャッター102、および、フォーカスレンズ104により撮像光学系が構成される。105は、フォーカスレンズ104を駆動するモータである。106は、AF(自動合焦)処理を行うAF処理部である。本実施例において、撮像装置100は、レンズ鏡筒(撮影レンズ101、絞り込みシャッター102、フォーカスレンズ104、および、モータ105を含むレンズ装置)と撮像装置本体とが一体的に構成されているが、これに限定されるものではない。本実施例は、撮像装置本体と、撮像装置本体に着脱可能なレンズ装置(交換レンズ)とを備えて構成される撮像システムにも適用可能である。
107は撮像素子である。撮像素子107は、CCDセンサやCMOSセンサなどの受光素子を備え、フォーカスレンズ104を含む撮像光学系からの被写体像(光学像)を電気信号(アナログ信号)に光電変換する光電変換素子である。108はA/D変換部であり、撮像素子107から出力されたアナログ信号をデジタル信号に変換する。またA/D変換部108は、撮像素子107の出力ノイズを除去するCDS回路やA/D変換前に行う非線形増幅回路を含む。109は画像処理部である。110はフォーマット変換部である。111はDRAM(高速な内蔵メモリ)であ。DRAM111は、一時的な画像記憶手段(高速バッファ)として、または、画像の圧縮伸張における作業用メモリとして用いられる。112は画像記録部であり、メモリーカードなどの記録媒体およびそのインターフェースを備えて構成される。
113はシステム制御部(CPUなどの制御手段)である。システム制御部113は、撮影シーケンスなどの撮像装置100のシステムの全体を制御する。114はVRAM(画像表示用メモリ)である。115は画像表示部である。画像表示部115は、画像の表示、操作補助のための表示、撮像装置100の状態の表示、および、撮影時には撮影画面と測距領域の表示を行う。
116は、ユーザにより操作される操作部である。操作部116は、撮像装置100の撮影機能や画像再生時の設定などの各種設定を行うメニュースイッチ、撮影レンズ101のズーム動作を指示するズームレバー、撮影モードと再生モードとの動作モード切替スイッチなどを備えて構成される。117はマクロモード、遠景モード、スポーツモードなどの撮影モードを選択するための撮影モードSW(撮影モードスイッチ)である。ユーザが撮影モードSW117を介して撮影モードを選択することにより、システム制御部113は、選択された撮影モードに応じて測距距離範囲やAF動作などを変更する。118は、撮像装置100のシステムに電源を投入するためのメインSW(メインスイッチ)である。119は、AFやAEなどの撮影スタンバイ動作を行うためのスイッチ(SW1)である。120は、スイッチ119(SW1)の操作後、撮影を行うための撮影スイッチ(SW2)である。121は、手ぶれやパンなどによる撮像装置100の動きを検知する角速度センサ部である。122は、画面内の輝度情報に基づいて動体(被写体)を検出する動体検出部である。
123はフォーカス位置検出部である。フォーカス位置検出部123は、フォーカスレンズ104の位置(現在のフォーカス位置)を検出し、その情報をAF処理部106に出力する。124は位相差AF検出部である。位相差AF検出部124は、位相差方式による焦点検出を行い、デフォーカス量を算出する。
本実施例において、撮像装置100は、フォーカスレンズ104を含む撮像光学系および撮像素子107を介して得られた画像信号に基づいて焦点評価値を算出し、フォーカスレンズ104の位置を制御する自動合焦装置として機能する。また、AE処理部103およびシステム制御部113(設定手段)は、撮像素子107の露光条件を設定する。そしてAF処理部106およびシステム制御部113(制御手段)は、設定された露光条件における撮像素子107の出力信号に基づいて焦点評価値を算出し、この焦点評価値に基づいてフォーカスレンズ104を駆動制御する。また本実施例において、後述のように、AE処理部103およびシステム制御部113(判定手段)は、フォーカスレンズ104の駆動制御中に露光条件を再設定する必要があるか否かを判定する。
次に、図2を参照して、本実施例における撮像装置100の動作(撮像装置100の制御方法)について説明する。図2は、撮像装置100の動作(撮像装置100の制御方法)を示すフローチャートである。図2の各ステップは、主に、システム制御部113の指令に基づいて実行される。まずステップS201において、AE処理部103は、画像処理部109からの出力信号を用いてAE処理を行う。続いてステップS202において、システム制御部113は、スイッチ119(SW1)の状態を判定する。スイッチ119(SW1)の状態がオフの場合、ステップS201に戻り、AE処理を繰り返す。一方、スイッチ119(SW1)の状態がオンの場合、ステップS203に進む。
ステップS203において、AF処理部106は、AF動作(焦点検出処理)を行う。AF動作中の露出条件(シャッター速度、絞り、および、感度)は、直前のステップS201におけるAE処理により決定される。なお、AF動作の詳細については後述する。続いてステップS204において、システム制御部113は、スイッチ119(SW1)の状態を判定する。スイッチ119(SW1)の状態がオフの場合、ステップS201に戻り、AE処理を繰り返す。一方、スイッチ119(SW1)の状態がオンの場合、ステップS205に進む。
ステップS205において、システム制御部113は、スイッチ120(SW2)の状態を判定する。スイッチ120(SW2)の状態がオフの場合、ステップS204に戻り、スイッチ119(SW1)がオンである否かの判定を繰り返す。一方、スイッチ120(SW2)の状態がオンの場合、ステップS206に進む。ステップS206において、システム制御部113は撮影(撮影動作)を行い、ステップS201へ戻る。
次に、図3を参照して、本実施例におけるAF動作(図2のステップS203)について詳述する。図3は、AF動作を示すフローチャートである。図3の各ステップは、主に、システム制御部113、AE処理部103、AF処理部106、または、フォーカス位置検出部123により実行される。
まずステップS301において、システム制御部113は、画面内の所定の領域に測距領域を設定する。続いてステップS302において、AE処理部103は、システム制御部113の指令に基づいて、画像処理部109からの出力信号を用いて焦点検出用のAE処理(AF用AE処理)を行う。ステップS302では、図2のステップS201と同様の処理が行われるが、測光領域がAF枠に重みをおいている点で異なる。
続いてステップS303において、システム制御部113は、初期フォーカス駆動方向を設定する。ここで、初期フォーカス駆動方向は、被写体の存在確率が高いと考えられる方向、または、フォーカスレンズ104の現在位置に対して遠端と近端のいずれか近い側への方向などである。
続いてステップS304において、AF処理部106はフォーカス駆動を行う(フォーカスレンズ104を駆動する)。すなわちAF処理部106は、フォーカスレンズ104が所定のフォーカス速度で駆動されるようにモータ105を制御する。
続いてステップS305において、システム制御部113は、ステップS301にて設定された測距領域内における焦点評価値(コントラスト評価値)を取得する。この焦点評価値は、フォーカス駆動により更新された焦点評価値である。そしてステップS306において、フォーカス位置検出部123は、フォーカスレンズ104の現在位置を取得する。
次に、ステップS307において、システム制御部113は、再焦点検出用のAE判定(再AF用AE判定)を行う。なお、再AF用AE判定とは、後述のように図4のフローチャートに示される処理である。
続いてステップS308において、システム制御部113は、現在までに取得された焦点評価値に基づいて、合焦判定を行う。そしてステップS309において、ステップS308での合焦判定の結果、合焦状態であると判定されない場合(焦点評価値のピークが検出されない場合)、ステップS304に戻り、ステップS304〜S309を繰り返す。一方、合焦状態であると判定された場合(焦点評価値のピークが検出された場合)、ステップS310に進む。
ステップS304〜S309の一連の動作は、現在のフレームレートにおける1フレーム分の時間で行われる。また、ステップS305にて取得された焦点評価値とステップS306にて取得されたレンズ位置(フォーカスレンズ104の位置)とは互いに対応付けられる。そして、これらは後述するステップS311の合焦位置算出(焦点評価値がピークとなるフォーカスレンズ位置の算出)の際に用いられる。このとき、焦点評価値の取得中にフォーカスレンズ104は駆動されている。このため、露光時間の中心のタイミングにおけるレンズ位置を算出し、このレンズ位置を焦点評価値と対応付ける。
続いてステップS310において、AF処理部106(システム制御部113)は、フォーカスレンズ104の駆動を停止する。そしてステップS311において、AF処理部106(システム制御部113)は、焦点評価値がピークとなるフォーカスレンズ104の位置(合焦位置)を算出する。合焦位置は、ステップS305にて取得された焦点評価値と焦点評価値に対応するフォーカスレンズ104の位置とを用いて算出される。ここで、焦点評価値に対応するフォーカスレンズ104の位置は、ステップS306にて取得されたレンズ位置である。
続いてステップS312において、システム制御部113は、ステップS307における再AF用AE判定の結果に基づいて、再AF用AE判定結果フラグ(RE_AE_FLAG)が「必要」という状態に設定されているか否かを判定する。再AF用AE判定結果フラグ(RE_AE_FLAG)が「必要」の状態に設定されている場合、ステップS314に進み、システム制御部113(AE処理部103)は再AF用AE処理を行う。ここで、再AF用AE処理は、ステップS302にて行われたAF用AE処理と同様の処理である。
次にステップS315において、システム制御部113は、フォーカスレンズ104の駆動方向(フォーカス駆動方向)を反転させる。すなわちシステム制御部113は、露光条件を再設定する必要があると判定した場合、フォーカスレンズ104の駆動方向を反転させて合焦位置を算出する。
続いてステップS316において、システム制御部113は、スキャン速度を低速に設定する。すなわちシステム制御部113は、露光条件を再設定する必要があると判定した場合、再設定後の露光条件におけるフォーカスレンズ104の駆動速度を、第1の速度よりも低速である第2の速度に設定する。そしてステップS304に戻り、前述の処理を繰り返す(スキャンのやり直し(再スキャン)を行う)。ここで、スキャンのやり直し(再スキャン)の際には、ステップS311で算出した合焦位置の近傍からスキャンを開始することができる。そのため、スキャン速度を低速に設定し、合焦位置近傍で焦点評価値を細かく取得することにより、AFの精度を高めることができる。
一方、ステップS312において、再AF用AE判定フラグ(RE_AE_FLAG)が「不要」の状態に設定されている場合、ステップS313に進む。ステップS313において、ステップS311にて算出された合焦位置へフォーカスレンズ104を駆動する。これにより、図3に示されるAF動作は終了する。
(再AF用AE判定)
次に、図4を参照して、図3のステップS307における再AF用AE判定について詳述する。図4の各ステップは、主に、システム制御部113またはAE処理部103により実行される。まずステップS401において、システム制御部113は、AE処理部103から現在の露光制御値(露出値)を取得する。続いてステップS402において、システム制御部113は、AE処理部103からAF枠(焦点検出枠)における測光値を取得し、AF枠の測光値が適正となる露光制御値(適正露出制御値)を算出する。
続いてステップS403において、システム制御部113は、ステップS401にて取得した現在の露光制御値とステップS402にて算出した適正露光制御値との差が、所定の閾値である再AF用AE閾値(閾値RE_AE_TH)よりも大きいか否かを判定する。本実施例において、その差が閾値RE_AE_THよりも大きい場合、システム制御部113は、スキャン中(合焦制御中)に大きな露光変化が生じたと判定し、ステップS404に進む。一方、その差が閾値RE_AE_TH以下である場合、システム制御部113は、大きな露光変化が生じていないと判定し、ステップS407に進む。ステップS407において、システム制御部113は、再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGを「不要」と設定する。
ステップS404において、システム制御部113は、適正露光制御値が現在の露光制御値よりも大きいか否かを判定する。すなわちシステム制御部113は、適正露光に設定することにより現在の露光よりも暗くなるか否かを判定する。適正露光に設定することにより現在の露光よりも明るくなる場合、ステップS407に進み、再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGを「不要」と設定する。これは、適正露光に設定することにより現在の露光よりも明るくなる場合、輝度飽和(撮像素子107の輝度飽和)が生じることで却って合焦精度が劣化する可能性があるためである。一方、適正露光に設定することにより現在の露光よりも暗くなる場合、ステップS405に進む。
ステップS405において、システム制御部113は、AF枠内において輝度飽和が発生しているか否かを判定する。本実施例において、システム制御部113は、画像処理部109の出力信号から輝度の最大値(最大輝度値)を算出する。そしてシステム制御部113は、算出した最大輝度値を所定の輝度値と比較することにより、AF枠内に輝度飽和(輝度飽和現象)が生じているか否かを判定する。最大輝度値が所定の輝度値よりも小さい場合、システム制御部113は、輝度飽和現象が生じていないと判定する。このとき、ステップS407に進み、システム制御部113は、再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGを「不要」と設定する。一方、最大輝度値が所定の輝度値以上である場合、システム制御部113は、輝度飽和現象が生じていると判定する。このとき、ステップS406に進み、再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGを「必要」と設定する。
図3中におけるステップS307の再AF用AE判定は、前述のように、フレームレートの1フレーム分の時間で行われる。このためシステム制御部113は、再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGの状態を、フレームごとに更新することができる。または、システム制御部113は、再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGが1回でも「必要」と設定された場合には、これを更新しないようにしてもよい。または、システム制御部113は、再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGが「必要」と設定された回数が所定の閾値を超えた場合に、ステップS312で最終的に再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGを「必要」と判定してもよい。
再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGが「必要」と設定された場合、ステップS408に進み、システム制御部113は、スキャン速度(フォーカスレンズの駆動速度)を高速に設定する。すなわちシステム制御部113は、露光条件を再設定する必要があると判定した場合、再設定前の露光条件におけるフォーカスレンズの駆動速度を、第1の速度よりも高速である第3の速度に設定する。
本来、フォーカスレンズが合焦位置から遠い場合はスキャン速度を高速に設定し、合焦位置に近づくにつれて低速に設定することにより、AFの精度を保ちつつ、AF時間(合焦制御時間)の短縮化、すなわちAF制御の高速化を図ることができる。しかし、再AF用AE処理を行う場合、一度目のスキャン動作でスキャン速度を低速に設定しても、スキャンのやり直し(再スキャン)の動作が必要となるため、AF時間が長くなってしまう可能性がある。ここで、再スキャンを行う場合は、二度目のスキャンの際に低速で駆動して高精度な焦点検出を行うので、一度目のスキャンでは大まかな合焦位置が判定できればよい。そのため、本実施例では、再AF用AE処理が必要となると判定した時点(再スキャンを行うと判定した時点)でスキャン速度を高速に設定することで、ステップS311における合焦位置の算出までの時間を短縮することが可能となる。
このように本実施例において、システム制御部113(判定手段)は、フォーカスレンズ104の駆動制御中に取得したAF枠(焦点検出枠)における測光値に基づいて、露光条件を再設定する必要があるか否かを判定する。好ましくは、システム制御部113は、AF枠における所定の露光制御値と現在の露光制御値との差が所定値よりも大きい場合、露光条件を再設定する必要があると判定する。また好ましくは、システム制御部113は、AF枠における所定の露光制御値が現在の露光制御値よりも大きい場合、露光条件を再設定する必要があると判定する。また好ましくは、システム制御部113は、AF枠において輝度飽和が発生している場合、露光条件を再設定する必要があると判定する。なお本実施例は、ステップS403〜S405の全てを含む場合に限定されるものではなく、例えば、これらのステップの少なくとも一つを含む場合にも適用可能である。
次に、図9を参照して、図3を参照して説明したAF動作時に用いる測光値、焦点評価値、および、フォーカスレンズの位置(レンズ位置)の対応付けについて説明する。図9は、測光値、焦点評価値、および、レンズ位置の対応付けに関する説明図である。
まず撮像素子107の蓄積時間は、現在の露光制御値に基づいて設定されたシャッター速度により決定される。蓄積が完了すると、撮像素子107から撮像信号(出力信号)が読み出される。そしてシステム制御部113は、読み出された撮像信号(出力信号)から測光値および焦点評価値を算出する。この蓄積後の一連の処理を行う区間は、図9において「映像処理区間」として示されている。
図9に示される蓄積期間「蓄積1」で得られた撮像信号(出力信号)に対して、V同期信号「V1」のタイミングで開始する映像処理区間「映像処理1」により、「測光値1」および「焦点評価値1」が算出される。「測光値1」および「焦点評価値1」は、V同期信号「V2」のタイミングで出力される。このため、撮像信号の蓄積時間「蓄積1」に対して時間差が生じる。従って、スキャン中のようにフォーカスレンズを駆動しながら測光値および焦点評価値を取得する場合、システム制御部113は、蓄積が行われた時間(蓄積時間)の中心時間でのレンズ位置を算出する。そしてシステム制御部113は、このレンズ位置を、測光値および焦点評価値と対応付ける。システム制御部113は、図9中の「測光値1」および「焦点評価値1」を、「蓄積1」の中心時間におけるフォーカスレンズの位置、すなわち「レンズ位置1」と対応付けて、これらをセットで記憶する。このように本実施例において、システム制御部113は、撮像素子107の出力信号から算出された測光値および焦点評価値と、出力信号の蓄積時間の中心時間におけるフォーカスレンズ104の位置とを対応付ける(関連付ける)。
前述のような対応付けをフレーム毎に行うことにより、システム制御部113は、「測光値n」、「焦点評価値n」、および、「レンズ位置n」(n:1、2、…)のセットの履歴を記憶する。また、図3中のステップS311にて算出された合焦位置は、図9に示されるように焦点評価値1、2、3とレンズ位置1、2、3との関係に基づいて、補間計算を行うことにより算出される。
本実施例において、システム制御部113は、スキャン中に得られる測光値に基づいて、再AF用AEを行うか否かをスキャン中に判定する。本実施例によれば、再AF用AEが必要であると判定された場合にのみ再AF用AE処理及び再スキャンを行うことにより、合焦精度を向上させつつ、不要に再AF用AEとスキャンのやり直しが行われることによりAF時間が長くなることを防止することができる。また、再AF用AE処理が必要であると判定された場合は、スキャン速度を高速に設定することで、AF時間を短縮することができる。
次に、図5を参照して、本発明の実施例2におけるAF動作(図2のステップS203)について詳述する。図5は、AF動作を示すフローチャートである。図5の各ステップは、主に、システム制御部113、AE処理部103、AF処理部106、または、フォーカス位置検出部123により実行される。本実施例における基本構成は実施例1と同様であるため、実施例1と同様の箇所の説明については省略する。
図5のステップS501〜S506は、実施例1における図3のステップS301〜S306とそれぞれ同一である。続いてステップS507において、システム制御部113は、再焦点検出用のAE判定(再AF用AE判定)を行う。
(再AF用AE判定)
ここで、図6を参照して、図5のステップS507における再AF用AE判定について詳述する。図6の各ステップは、主に、システム制御部113またはAE処理部103により実行される。図6において、ステップS601〜S607は、実施例1における図4のステップS401〜S407とそれぞれ同様である。
本実施例の再AF用AE判定では、ステップS608において、システム制御部113は、レンズ位置と再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGとの対応付けを行う。すなわちシステム制御部113は、図9に示される「レンズ位置n」に対応付けられた「測光値n」を用いて再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAGの状態を求める。そして、このときの再AF用AE判定フラグを「RE_AE_FLAGn」として「レンズ位置n」に対応付ける。
図5のステップS508〜S511は、図3のステップS308〜S311とそれぞれ同様である。続いてステップS512において、ステップS511にて算出された合焦位置に最も近いレンズ位置の再AF用AE判定フラグ(RE_AE_FALG_PEAK)を取得する。そしてステップS513において、システム制御部113は、ステップS512で取得された再AF用AE判定フラグRE_AE_FALG_PEAKの状態が「必要」と設定されているか否かを判定する。
ステップS513にて再AF用AE判定フラグRE_AE_FALG_PEAKの状態が「必要」と設定されている場合、ステップS515に進み、システム制御部113(AE処理部103)は再AF用AE処理を行う。本実施例において、システム制御部113は、合焦位置に最も近いレンズ位置に対応付けられた測光値を用いて、再AF用AE処理を行う。これにより、現在の露光制御値を、被写体に最適な露光制御値(適正露光制御値)へ変更することができる。なお、ステップS514、S516は、図3のステップS313、S315とそれぞれ同様である。
このように本実施例において、システム制御部113は、合焦位置に最も近いフォーカスレンズ104の位置に対応付けられた測光値を用いて、露光条件を再設定する必要があるか否かを判定する。すなわち、合焦位置に最も近いレンズ位置に対応付けられた測光値を用いて、再AF用AE判定が行われる。これにより、合焦させたい被写体に対してより適正な(最適な)測光値で判定が行われるため、再AF用AE判定をより正確に行うことができる。
次に、図7を参照して、本発明の実施例3におけるAF動作(図2のステップS203)について詳述する。図7は、AF動作を示すフローチャートである。図7の各ステップは、主に、システム制御部113、AE処理部103、AF処理部106、または、フォーカス位置検出部123により実行される。本実施例における基本構成は実施例1と同様であるため、実施例1と同様の箇所の説明については省略する。
図7のステップS701〜S706は、実施例1における図3のステップS301〜S306とそれぞれ同一である。続いてステップS707において、システム制御部113(AE処理部103)は、測光値を取得する。そしてステップS708において、システム制御部113は、レンズ位置と測光値とを対応付ける。続くステップS709〜S712は、図3のステップS308〜S311と同一である。そしてステップS713において、システム制御部113は、再焦点検出用のAE判定(再AF用AE判定)を行う。
(再AF用AE判定)
次に、図8を参照して、図7のステップS713における再AF用AE判定について詳述する。図8の各ステップは、主に、システム制御部113またはAE処理部103により実行される。図8において、ステップS801、S804〜S806は、実施例1における図4のステップS401、S403〜S405とそれぞれ同様である。
まずステップS801において、システム制御部113(AE処理部103)は、現在の露光制御値を取得する。続いてステップS802において、システム制御部113(AE処理部103)は、合焦位置から所定の範囲内のレンズ位置で取得されたAF枠の測光値を取得する。本実施例では、図7のステップS708にて測光値とレンズ位置との対応付けが行われているため、ステップS712にて算出された合焦位置との関連性に基づいて可能となる。ここで、「所定の範囲内のレンズ位置」とは、合焦位置の近傍の位置であって、被写体の鮮明度が高く、測光値が正確であると評価されるように設定されるレンズ位置であることが好ましい。また、所定の範囲内のレンズ位置は、複数のレンズ位置が含まれていることが好ましい。
続いてステップS803において、システム制御部113は、ステップS802にて取得された測光値の平均測光値を算出し、それに基づいて適正露光制御値を算出する。そしてステップS804〜S806(図4のステップS403〜S405とそれぞれ同様である)を経る。ステップS804〜S806の判定結果に基づいて再AF用AEが必要であると判定された場合、ステップS807において、システム制御部113は、平均測光値による再AF用AE判定フラグ(RE_AE_FLAG_AVERAGE)に「必要」と設定する。一方、再AF用AEが必要ではないと判定された場合、ステップS808において、システム制御部113は、平均測光値による再AF用AE判定フラグ(RE_AE_FLAG_AVERAGE)に「不要」と設定する。
そして図7のステップS715において、システム制御部113は、再AF用AE判定フラグRE_AE_FLAG_AVERAGEが「必要」と設定されているか否かを判定する。続くステップS715〜S717は、図3のステップS313〜S315と同様である。
このように本実施例において、システム制御部113は、合焦位置から所定の範囲内におけるフォーカスレンズ104の複数の位置に対応付けられた複数の測光値の平均値を用いて、露光条件を再設定する必要があるか否かを判定する。すなわち、合焦位置から所定の範囲内のレンズ位置に対応付けられた測光値から算出した平均測光値を用いて、再AF用AE判定が行われる。これにより、被写体のより適正な(最適な)測光値で判定が行われるため、再AF用AEの判定がより正確となる。このため、例えば、スキャン中に被写体ぶれや手ぶれにより、主被写体とは異なる部分がAF枠内に混入した場合でも、その影響により不要に再AF用AEとスキャンのやり直しが行われることを回避することが可能である。
(その他の実施形態)
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。すなわち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(又はCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
各実施例の撮像装置は、AFスキャン中にAF枠の適正露光を算出するとともに、所定の条件を満たす場合にのみ再AF用AEを行うように構成されている。このため各実施例によれば、高精度かつ高速に焦点検出可能な撮像装置、撮像システム、撮像装置の制御方法、プログラム、および、記憶媒体を提供することができる。
以上、本発明の好ましい実施形態について説明したが、本発明はこれらの実施形態に限定されず、その要旨の範囲内で種々の変形及び変更が可能である。
103:AE処理部
104:フォーカスレンズ
106:AF処理部
107:撮像素子
113:システム制御部

Claims (16)

  1. フォーカスレンズを含む撮像光学系から得られた光学像を光電変換する撮像素子と、
    前記撮像素子の露光条件を設定する設定手段と、
    前記露光条件における前記撮像素子の出力信号に基づいて焦点評価値を算出し、該焦点評価値に基づいて前記フォーカスレンズを駆動制御する制御手段と、
    前記フォーカスレンズの駆動制御中に前記露光条件を再設定する必要があるか否かを判定する判定手段と、を有することを特徴とする撮像装置。
  2. 前記判定手段は、前記フォーカスレンズの駆動制御中に取得した焦点検出枠における測光値に基づいて、前記露光条件を再設定する必要があるか否かを判定することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記判定手段が前記露光条件を再設定する必要があると判定した場合、前記制御手段は、前記フォーカスレンズの駆動方向を反転させて合焦位置を算出することを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置。
  4. 前記判定手段は、焦点検出枠における所定の露光制御値と現在の露光制御値との差が所定値よりも大きい場合、前記露光条件を再設定する必要があると判定することを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮像装置。
  5. 前記判定手段は、焦点検出枠における所定の露光制御値が現在の露光制御値よりも大きい場合、前記露光条件を再設定する必要があると判定することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。
  6. 前記判定手段は、焦点検出枠において輝度飽和が発生している場合、前記露光条件を再設定する必要があると判定することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮像装置。
  7. 前記判定手段は、前記撮像素子の前記出力信号から算出された測光値および前記焦点評価値と、該出力信号の蓄積時間の中心時間における前記フォーカスレンズの位置とを対応付けることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の撮像装置。
  8. 前記判定手段は、合焦位置に最も近い前記フォーカスレンズの位置に対応付けられた前記測光値を用いて、前記露光条件を再設定する必要があるか否かを判定することを特徴とする請求項7に記載の撮像装置。
  9. 前記判定手段は、合焦位置から所定の範囲内における前記フォーカスレンズの複数の位置に対応付けられた複数の測光値の平均値を用いて、前記露光条件を再設定する必要があるか否かを判定することを特徴とする請求項7に記載の撮像装置。
  10. 前記判定手段が前記露光条件を再設定する必要があると判定した場合、前記制御手段は、再設定後の露光条件における前記フォーカスレンズの駆動速度を、第1の速度よりも低速である第2の速度に設定することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像装置。
  11. 前記判定手段が前記露光条件を再設定する必要があると判定した場合、前記制御手段は、再設定前の露光条件における前記フォーカスレンズの駆動速度を、第1の速度よりも高速である第3の速度に設定することを特徴とする請求項1乃至7のいずれか1項に記載の撮像装置。
  12. 前記撮像光学系を備えたレンズ装置と、
    請求項1乃至11のいずれか1項に記載の撮像装置と、を有することを特徴とする撮像システム。
  13. フォーカスレンズを駆動して焦点検出を行う撮像装置の制御方法であって、
    撮像素子の露光条件を設定するステップと、
    前記露光条件における前記撮像素子の出力信号に基づいて焦点評価値を算出し、該焦点評価値に基づいて前記フォーカスレンズを駆動制御するステップと、
    前記フォーカスレンズの駆動制御中に前記露光条件を再設定する必要があるか否かを判定するステップと、を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。
  14. 前記露光条件を再設定する必要がないと判定された場合、設定されている前記露光条件で算出された合焦位置へ前記フォーカスレンズを駆動し、
    前記露光条件を再設定する必要があると判定された場合、前記フォーカスレンズの駆動方向を反転し、再設定後の露光条件で算出された合焦位置へ該フォーカスレンズを駆動することを特徴とする請求項13に記載の撮像装置の制御方法。
  15. 請求項13または14に記載の撮像装置の制御方法をコンピュータに実行させるように構成されていることを特徴とするプログラム。
  16. 請求項15に記載のプログラムを記憶していることを特徴とする記憶媒体。
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