JP2015009315A - 研削/研磨用キャリア及び磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 - Google Patents
研削/研磨用キャリア及び磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2015009315A JP2015009315A JP2013136215A JP2013136215A JP2015009315A JP 2015009315 A JP2015009315 A JP 2015009315A JP 2013136215 A JP2013136215 A JP 2013136215A JP 2013136215 A JP2013136215 A JP 2013136215A JP 2015009315 A JP2015009315 A JP 2015009315A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grinding
- glass substrate
- carrier
- polishing
- fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
Description
従来、このキャリアとして、機械的強度及びコストの点からガラス繊維等に樹脂を含浸させた繊維強化樹脂が広く用いられている。特に、ガラス繊維にエポキシ樹脂を含浸させた層を複数層積層させた構成のキャリアが好適に用いられる。しかし、このキャリアでは、ガラス基板が研削あるいは研磨される他、キャリア自体も研削あるいは研磨とともに摩耗して行く。この摩耗は、定盤に固定砥粒を設け、ガラス板と固定砥粒との間にクーラントを供給しながら行う研削あるいは研磨の場合、大きい。このため、キャリアは、定期的に交換しなければならず、コストが増加する。また、摩耗によってキャリアから離脱した樹脂等の微粒子が、ガラス基板の主表面と擦れてガラス基板に微小欠陥を作る虞が高くなる。さらに、また、上記樹脂等の微粒子が、ガラス基板に強固に付着してガラス基板の汚染源になる虞が高くなる。
さらに、キャリア表面に樹脂層を形成した場合、樹脂層の材料によって、研磨あるいは研削装置における定盤とキャリアとの間の摩擦力が異なることを知見した。そして、キャリア表面に熱可塑性樹脂を用いる場合、熱硬化性樹脂を用いる場合と比べて摩擦力が低くなることを知見した。
以上の知見より、本願発明者は、以下の発明を見出した。
本実施形態のキャリアを用いるガラス基板の研削装置及び研磨装置について図1及び図2を参照して説明する。図1は、研削装置(両面研磨装置)の分解斜視図である。図2は、研削装置の断面図である。研磨装置についても研磨装置と同様の構成を有するので、研磨装置の説明は省略する。
研削装置において、下定盤60の上面および上定盤40の底面には、多数の固定砥粒10が貼り付けられている。図1では、多数の固定砥粒10は便宜上シート状に記されている。固定砥粒10には、例えば、樹脂で固めたダイヤモンド粒子を用いることができる。
キャリア30は、円板状のガラス基板Gを2つの定盤で挟んでガラス基板Gの主表面を研削処理する際に、ガラス基板Gを保持するための保持穴を有する。具体的には、キャリア30は、外周部に設けられて太陽歯車61及び内歯車62に噛合する歯部31と、ガラス基板Gを収容し保持するための1または複数の保持穴32とを有する。太陽歯車61、外縁に設けられた内歯車62および円板状のキャリア30は全体として、中心軸CTRを中心とする遊星歯車機構を構成する。円板状のキャリア30は、内周側で太陽歯車61に噛合し、かつ外周側で内歯車62に噛合するともに、ガラス基板G(ワーク)を1または複数を収容し保持する。下定盤60上では、キャリア30が遊星歯車として自転しながら公転し、ガラス基板Gと下定盤60とが相対的に移動させられる。例えば、太陽歯車61がCCW(反時計回り)の方向に回転すれば、キャリア30はCW(時計回り)の方向に回転し、内歯車62はCCWの方向に回転する。その結果、下定盤60とガラス基板Gの間に相対運動が生じる。同様にして、ガラス基板Gと上定盤40とを相対的に移動させてもよい。
この理由は、以下のように考えられる。すなわち、キャリアと定盤との間にはクーラントが存在するため、一般的にキャリアは定盤に張り付きやすくなっている。また、キャリアはワークであるガラス基板より薄いため、しなりやすい。このような状態で、太陽歯車61及び内歯車62から加えられる外力によりキャリアを回転運動させようとすると、キャリアは部分的に僅かに波打ち、上定盤40あるいは下定盤60に接触し易くなるので、キャリアと定盤が擦れて磨耗する、と考えられる。なお、キャリアが定盤に貼付き易いほど摩擦力は強くなり、磨耗が激しくなると考えられる。
このため、キャリア30の両側の主表面のそれぞれは、熱可塑性樹脂の骨格中に、フッ素が導入された熱可塑性樹脂組成物からなる樹脂層で覆われている。あるいは、キャリア30の両側の主表面のそれぞれは、フッ素樹脂を含有した熱可塑性樹脂の樹脂層で覆われている。なお、上述の熱可塑性樹脂の骨格中にフッ素が導入されるとは、樹脂の主鎖の部分に、あるいは、主鎖から派生した側鎖の部分に、フッ素が導入されることを含む。
本実施形態のキャリア30の樹脂層30aには、フッ素を樹脂骨格中に導入した熱可塑性樹脂組成物あるいは熱可塑性樹脂が用いられる。これにより、後述する実施例及び比較例からわかるように、キャリア30はフッ素を樹脂骨格中に導入した熱硬化性樹脂組成物あるいは熱硬化性樹脂を用いた場合に比べて優れた対磨耗性を発揮する。この理由は、以下のように考えられる。定盤とキャリアは、ガラス基板の研削中、上述したように局所的に接触して摩擦熱が発生するが、熱可塑性樹脂を樹脂層30aに用いた本実施形態の場合、樹脂層30aの形成後であっても局所的に発生した摩擦熱により樹脂層30aの表面は可塑状態になり、この可塑状態となった部分は、発生した摩擦力に対して微小変形することで摩擦力が分散する。これに対して、熱硬化性樹脂は、硬化しているので、キャリア30の運動を妨げるような摩擦力を発生する。このため、キャリア30における磨耗量は、熱可塑性樹脂を用いる場合の方が、熱硬化性樹脂を用いる場合に比べて低減する。
また、フッ素が導入された熱可塑性樹脂組成物として、例えばポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、ポリクロロトリフルオロエチレン、ポリフッ化ビニリデン、PFA(テトラフルオロエチレン(C2F4)とパーフルオロアルコキシエチレンとの共重合体)、ETFE(テトラフルオロエチレン(C2F4)とエチレン(C2H4)の共重合体)等が挙げられ、その中でもポリテトラフルオロエチレンを用いることが、クーラントあるいは研磨液と親和させない点で好ましい。
熱可塑性樹脂に含有するフッ素樹脂としては、例えばポリテトラフルオロエチレン、ペルフルオロアルコキシフッ素樹脂、PFA、ETFE等が挙げられる。特に、撥水性付与の点で、ポリテトラフルオロエチレンが好適に用いられる。なお、フッ素樹脂の含有量は、1〜20wt%とすることが好ましい。
また、基材層30bにおける繊維基材の繊維は、ガラス繊維、炭素繊維、アラミド繊維、ポリエチレン繊維、ポリプロピレン繊維、ポリパラフェニレンベンゾビスオキサゾール繊維、液晶ポリマー繊維、ヘンプ繊維、バガス繊維、タルク繊維からなる群から選択された少なくとも1種の繊維であることが、キャリア30が破損することなく機械的強度を確保する点で好ましい。その中でもガラス繊維、炭素繊維、アラミド繊維、あるいはポリエチレン繊維、を好適に用いることができる。特に好適には、ガラス繊維あるいはアラミド繊維を用いることができる。基材層30bに用いる樹脂は、エポキシ樹脂、アラミド樹脂、フェノール樹脂等が挙げられる。その中でも、アラミド樹脂を用いることが、剛性を確保する点で好ましい。
このようなキャリア30を用いた研削装置さらには、この研削装置と略同様の構成をした研磨装置に用いて、以下に示すような磁気ディスク用ガラス基板の製造に好適に用いることができる。なお、研磨装置に用いる場合、上定盤40あるいは下定盤60に固定砥粒でなく研磨パッドが貼り付けられる。また、クーラントの代わりに、研磨砥粒を含んだ研磨液(スラリー)が用いられる。
本実施形態の製造方法では、まず、一対の主表面を有する板状の磁気ディスク用ガラス基板の素材となるガラスブランクの成形処理が行われる。次に、このガラスブランクの粗研削処理が行われる。この後、ガラスブランクに形状加工処理及び端面研磨処理が施される。この後、ガラスブランクから得られたガラス基板に固定砥粒を用いた精研削処理が行われる。この後、第1研磨処理、化学強化処理、及び、第2研磨処理がガラス基板に施される。なお、本実施形態では、上記流れで行うが、上記処理がある必要はなく、これらの処理は適宜行われなくてもよい。以下、各処理について、説明する。
ガラスブランクの成形では、例えばプレス成形法を用いることができる。プレス成形法により、円形状のガラスブランクを得ることができる。さらに、ダウンドロー法、リドロー法、フュージョン法などの公知の製造方法を用いて製造することができる。これらの公知の製造方法で作られた板状ガラスブランクに対し、適宜形状加工を行うことによって磁気ディスク用ガラス基板の元となる円板状のガラス基板が得られる。
粗研削処理では、具体的には、ガラスブランクを、周知の両面研削装置に装着される保持部材(キャリア)に設けられた保持孔内に保持しながらガラスブランクの両側の主表面の研削が行われる。この時、上記記載のキャリアを用いてもよい。研磨材として、例えば遊離砥粒が用いられる。粗研削処理では、ガラスブランクが目標とする板厚寸法及び主表面の平坦度に略近づくように研削される。なお、粗研削処理は、成形されたガラスブランクの寸法精度あるいは表面粗さに応じて行われるものであり、場合によっては行われなくてもよい。
次に、形状加工処理が行われる。形状加工処理では、ガラスブランクの成形処理後、公知の加工方法を用いて円孔を形成することにより、円孔があいた円盤形状のガラス基板を得る。その後、ガラス基板の端面の面取りを実施する。これにより、ガラス基板の端面には、主表面と直交している側壁面と、側壁面と主表面を繋ぐ面取り面(介在面)が形成される。
次にガラス基板の端面研磨処理が行われる。端面研磨処理は、研磨ブラシとガラス基板の端面との間に遊離砥粒を含む研磨液を供給して研磨ブラシとガラス基板とを相対的に移動させることにより研磨を行う処理である。端面研磨では、ガラス基板の内周側端面及び外周側端面を研磨対象とし、内周側端面及び外周側端面を鏡面状態にする。
次に、ガラス基板の主表面に精研削処理が施される。具体的には、固定砥粒を貼り付けた定盤を用い、図1,2に示した両面研削装置を用いて、ガラス基板の主表面に対して研削を行う。具体的には、ガラス基板を、両面研削装置の保持部材であるキャリア30に設けられた保持穴32内に保持しながらガラス基板の両側の主表面の研削を行う。研削による取代量は、例えば10μm〜200μm程度である。このとき、上定盤40あるいは下定盤60がガラス基板Gを押圧する圧力は10〜200g/cm2であることが、研削を効果的に行う点で好ましい。両面研削装置は、上下一対の定盤(上定盤および下定盤)を有しており、上定盤及び下定盤の表面に例えばダイヤモンドの砥粒を含む固定砥粒が貼り付けられている。砥粒として例えば平均粒径が5μm〜50μmの砥粒が用いられる。なお、砥粒としては、ダイヤモンド等の粒子や、複数の粒子をガラス、セラミック、金属、または樹脂などのバインダーで固めた凝集体を用いることができる。そして、例えば、それらの砥粒を樹脂などの支持材を用いて固定したペレットをシートに貼り付けたものを固定砥粒とすることができる。このような上定盤及び下定盤の間にガラス基板が狭持される。そして、クーラントを供給しつつ、上定盤または下定盤のいずれか一方、または、双方を移動操作させることで、ガラス基板と各定盤とを相対的に移動させることにより、このガラス基板の両主表面を研削することができる。
本実施形態の研削処理では、固定砥粒を含んだ研削面とガラス基板の主表面とを接触させてガラス基板の主表面を研削するが、遊離砥粒を用いた研削を行ってもよい。
次に、ガラス基板の主表面に第1研磨処理が施される。具体的には、ガラス基板の外周側端面を、上述したキャリアを備える両面研削装置と同様の構成の両面研磨装置のキャリアに設けられた保持穴内に保持しながらガラス基板の両側の主表面の研磨が行われる。第1研磨処理は、遊離砥粒を用いて、定盤に貼り付けられた研磨パッドを用いる。第1研磨は、例えば固定砥粒による研削を行った場合に主表面に残留したクラックや歪みの除去、あるいは、結晶化処理により主表面に生じた微小な表面凹凸の除去をする。取代量を上記範囲内とすることで、主表面端部の形状が過度に落ち込んだり突出したりすることを防止しつつ、主表面の表面粗さ、例えば算術平均粗さRaを低減することができる。
第1研磨に用いる遊離砥粒は特に制限されないが、例えば、酸化セリウム砥粒、あるいはジルコニア砥粒などが用いられる。
研磨パッドの種類は特に制限されないが、例えば、硬質発泡ウレタン樹脂ポリッシャが用いられる。
ガラス基板は適宜化学強化することができる。化学強化液として、例えば硝酸カリウム,硝酸ナトリウム、またはそれらの混合物を加熱して得られる溶融液を用いることができる。そして、ガラス基板を化学強化液に浸漬することによって、ガラス基板の表層にあるガラス組成中のリチウムイオンやナトリウムイオンが、それぞれ化学強化液中のイオン半径が相対的に大きいナトリウムイオンやカリウムイオンにそれぞれ置換されることで表層部分に圧縮応力層が形成され、ガラス基板が強化される。
化学強化処理を行うタイミングは、適宜決定することができるが、化学強化処理の後に研磨処理を行うようにすると、表面の平滑化とともに化学強化処理によってガラス基板の表面に固着した異物を取り除くことができるので特に好ましい。また、化学強化処理は、必要に応じて行われればよく、行われなくてもよい。
次に、化学強化処理後のガラス基板に第2研磨が施される。第2研磨は、主表面の鏡面研磨を目的とする。第2研磨においても、第1研磨に用いる両面研磨装置と同様の構成を有する両面研磨装置が用いられる。こうすることで主表面の端部の形状が過度に落ち込んだり突出したりすることを防止しつつ、主表面の粗さを低減することができる。第2研磨処理が第1研磨処理と異なる点は、遊離砥粒の種類が異なり及び粒子サイズが小さくなることと、研磨パッドの樹脂ポリッシャの硬度が軟らかくなることである。
第2研磨処理は、必ずしも必須な処理ではないが、ガラス基板の主表面の表面凹凸のレベルをさらに良好なものとすることができる点で実施することが好ましい。このようにして、第2研磨の施されたガラス基板は磁気ディスク用ガラス基板となる。
本実施形態の効果を確認するために、種々のキャリアを作製してキャリアの磨耗量を調べた。加工対象の磁気ディスク用ガラス基板は、2.5インチサイズで板厚が0.8mmのガラス基板とした。
下記表1に示すキャリアを用いて、上述した(e)精研削処理を行った。キャリアの基材層は全体で5層とし、上下の表面層として樹脂層を2層形成する場合は基材層を3層とし、表面層がない場合は基材層を5層とした。いずれのキャリアも1層あたりの厚みは0.1mmとし、合計の板厚は0.5mmとした。なお、実施例1と比較例において、フッ素樹脂の含有量は、10wt%とした。
磨耗量は、ガラス基板の研削を所定回数行った後、キャリアの磨耗量を測定した。キャリアの磨耗量については、キャリアの厚さをキャリアの中心部および外周の2箇所で測定し、その平均値を、新品(未使用)時のキャリアの厚さから差し引いて求めた。
精研削処理では、上定盤40及び下定盤60に、ダイヤモンド粒子を樹脂で固めた固定砥粒を設けて、ガラス基板を押圧する圧力を150g/cm2となるように荷重を設定して研削を行った。
このように、本実施形態のキャリアは、摩耗量を低下させて、キャリアの寿命を長くすることができる。このため、磁気ディスク用ガラス基板における製造コストを抑えることができる。また、本実施形態のキャリアは撥水性を有するので、液滴によりキャリアが定盤に貼り付き難くなるので、例えば上定盤へのキャリアの貼りつきに伴ってガラス基板が上定盤に貼りつくことを防止できる。このため、研削あるいは研磨終了後、上定盤に貼りついたキャリアが下方に落下してガラス基板の主表面に傷等の不良欠陥をつくることを抑制できる。
30 キャリア
31 歯部
32 保持穴
40 上定盤
60 下定盤
61 太陽歯車
62 内歯車
71 供給タンク
72 配管
Claims (9)
- 円板状のガラス基板を2つの定盤で挟んで当該ガラス基板の主表面を研削または研磨する際に、当該磁気ディスク用ガラス基板を保持するための保持穴を有する研削/研磨用キャリアであって、
前記研磨用キャリアの主表面は、フッ素樹脂を含有した熱可塑性樹脂の樹脂層で形成されていることを特徴とする研削/研磨用キャリア。 - 円板状のガラス基板を2つの定盤で挟んで当該ガラス基板の主表面を研削または研磨する際に、当該磁気ディスク用ガラス基板を保持するための保持穴を有する研削/研磨用キャリアであって、
前記研磨用キャリアの主表面は、樹脂骨格中にフッ素が導入された熱可塑性樹脂組成物からなる樹脂層で形成されている、ことを特徴とする研削/研磨用キャリア。 - 前記樹脂層の厚さは、前記研削/研磨用キャリアの全体の厚さの0.1%以上である、請求項1又は2に記載の研削/研磨用キャリア。
- 前記樹脂層の、研削中あるいは研磨中に用いるクーラントあるいは研磨液に対する接触角は、30度以上である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の研削/研磨用キャリア。
- 前記熱可塑性樹脂は、ポリアミド、熱可塑性ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリアセタール、芳香族ポリエーテルケトン、非晶ポリアリレート、ポリスチレン、ポリフェニレンスルファイド、ポリブチレンナフタレート、及び超高分子ポリエチレンからなる群から選択された少なくとも1種の樹脂である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の研削/研磨用キャリア。
- 前記研削/研磨用キャリアは、基材に前記樹脂層が形成されており、
前記基材は、樹脂を含浸したシート状の繊維基材を1層あるいは複数層積層して構成され、
前記繊維基材の繊維は、ガラス繊維、炭素繊維、アラミド繊維、ポリエチレン繊維、ポリプロピレン繊維、ポリパラフェニレンベンゾビスオキサゾール繊維、液晶ポリマー繊維、ヘンプ繊維、バガス繊維、タルク繊維からなる群から選択された少なくとも1種の繊維である、請求項1〜5のいずれか1項に記載の研削/研磨用キャリア。 - 磁気ディスク用ガラス基板を製造する方法であって、
請求項1〜6のいずれか1項に記載の研削/研磨用キャリアと、前記2つの定盤を備えた研削用あるいは研磨用装置を用いてガラス主表面の研削または研磨を行う処理を含む、ことを特徴とする磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。 - 前記処理では、前記定盤の表面に設けられた固定砥粒により研削あるいは研磨が行われる、請求項7に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
- 前記処理時における前記定盤が前記ガラス基板を押圧する圧力は10〜200g/cm2である、請求項7または8に記載の磁気ディスク用ガラス基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013136215A JP6177603B2 (ja) | 2013-06-28 | 2013-06-28 | 研削/研磨用キャリア及び基板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013136215A JP6177603B2 (ja) | 2013-06-28 | 2013-06-28 | 研削/研磨用キャリア及び基板の製造方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2015009315A true JP2015009315A (ja) | 2015-01-19 |
JP2015009315A5 JP2015009315A5 (ja) | 2016-08-18 |
JP6177603B2 JP6177603B2 (ja) | 2017-08-09 |
Family
ID=52302978
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013136215A Active JP6177603B2 (ja) | 2013-06-28 | 2013-06-28 | 研削/研磨用キャリア及び基板の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6177603B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018105306A1 (ja) * | 2016-12-09 | 2018-06-14 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置用キャリア及び両面研磨装置並びに両面研磨方法 |
KR20200024272A (ko) * | 2017-08-30 | 2020-03-06 | 가부시키가이샤 사무코 | 캐리어의 제조 방법 및 웨이퍼의 연마 방법 |
CN112435954A (zh) * | 2020-11-25 | 2021-03-02 | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 | 一种晶圆载体的处理方法和晶圆载体 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09254026A (ja) * | 1996-03-26 | 1997-09-30 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 両面研磨装置 |
JP2001510739A (ja) * | 1997-07-23 | 2001-08-07 | スピードファム−アイピーイーシー コーポレイション | ラップ仕上げ、ホーニング、およびポリッシングの間に加工部品を保持するための装置 |
JP2002103210A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-09 | Shin Kobe Electric Mach Co Ltd | 被研磨物保持材 |
JP2002150548A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-05-24 | Hoya Corp | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及び情報記録媒体の製造方法 |
JP2005059181A (ja) * | 2003-08-19 | 2005-03-10 | Unitika Ltd | 被研磨物保持材 |
JP2014128862A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Shuji Iwata | 円盤状キャリア |
-
2013
- 2013-06-28 JP JP2013136215A patent/JP6177603B2/ja active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09254026A (ja) * | 1996-03-26 | 1997-09-30 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 両面研磨装置 |
JP2001510739A (ja) * | 1997-07-23 | 2001-08-07 | スピードファム−アイピーイーシー コーポレイション | ラップ仕上げ、ホーニング、およびポリッシングの間に加工部品を保持するための装置 |
JP2002103210A (ja) * | 2000-09-25 | 2002-04-09 | Shin Kobe Electric Mach Co Ltd | 被研磨物保持材 |
JP2002150548A (ja) * | 2000-11-09 | 2002-05-24 | Hoya Corp | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法及び情報記録媒体の製造方法 |
JP2005059181A (ja) * | 2003-08-19 | 2005-03-10 | Unitika Ltd | 被研磨物保持材 |
JP2014128862A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Shuji Iwata | 円盤状キャリア |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018105306A1 (ja) * | 2016-12-09 | 2018-06-14 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置用キャリア及び両面研磨装置並びに両面研磨方法 |
CN109983562A (zh) * | 2016-12-09 | 2019-07-05 | 信越半导体株式会社 | 双面研磨装置用载体、双面研磨装置及双面研磨方法 |
JPWO2018105306A1 (ja) * | 2016-12-09 | 2019-10-24 | 信越半導体株式会社 | 両面研磨装置用キャリア及び両面研磨装置並びに両面研磨方法 |
US11453098B2 (en) | 2016-12-09 | 2022-09-27 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Carrier for double-side polishing apparatus, double-side polishing apparatus, and double-side polishing method |
CN109983562B (zh) * | 2016-12-09 | 2022-12-20 | 信越半导体株式会社 | 双面研磨装置用载体、双面研磨装置及双面研磨方法 |
KR20200024272A (ko) * | 2017-08-30 | 2020-03-06 | 가부시키가이샤 사무코 | 캐리어의 제조 방법 및 웨이퍼의 연마 방법 |
KR102336943B1 (ko) | 2017-08-30 | 2021-12-07 | 가부시키가이샤 사무코 | 캐리어의 제조 방법 및 웨이퍼의 연마 방법 |
CN112435954A (zh) * | 2020-11-25 | 2021-03-02 | 西安奕斯伟硅片技术有限公司 | 一种晶圆载体的处理方法和晶圆载体 |
CN112435954B (zh) * | 2020-11-25 | 2024-01-26 | 西安奕斯伟材料科技股份有限公司 | 一种晶圆载体的处理方法和晶圆载体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6177603B2 (ja) | 2017-08-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5297549B2 (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び磁気ディスクの製造方法 | |
WO2004058451A1 (ja) | 情報記録媒体用ガラス基板及びその製造方法 | |
JP2008226349A (ja) | 円盤状基板の製造方法、洗浄装置 | |
JP2008254166A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法、磁気ディスク製造方法および磁気ディスク用ガラス基板 | |
JP6177603B2 (ja) | 研削/研磨用キャリア及び基板の製造方法 | |
US20100247978A1 (en) | Method of manufacturing a substrate for a magnetic disk | |
JP6280355B2 (ja) | 磁気ディスク用基板の製造方法及び研磨処理用キャリア | |
JP6371310B2 (ja) | 研削又は研磨処理用キャリア、研削又は研磨処理用キャリアの製造方法、及び磁気ディスク用基板の製造方法 | |
JP5661950B2 (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | |
JP2015069671A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | |
JP2015035245A (ja) | ガラス基板用キャリア、磁気記録媒体用ガラス基板の研磨方法、及び、磁気記録媒体用ガラス基板の製造方法 | |
JP2015069674A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法及び研磨処理用キャリア | |
JP2014188668A (ja) | ガラス基板の製造方法 | |
CN105163908B (zh) | 托盘、磁盘用基板的制造方法以及磁盘的制造方法 | |
JP2011014177A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | |
JP2008000823A (ja) | 研磨キャリア | |
JP6330628B2 (ja) | ガラス基板の製造方法 | |
JP2013140648A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法および磁気ディスク用ガラス基板 | |
JP5947221B2 (ja) | 情報記録媒体用ガラス基板の製造方法 | |
JP2015064920A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | |
JP6199047B2 (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 | |
JP5265429B2 (ja) | ガラス基板の製造方法、及び磁気記録媒体の製造方法 | |
US20230110750A1 (en) | Carrier and method for manufacturing substrate | |
JPWO2012090655A1 (ja) | ガラス基板の製造方法 | |
JP2015069665A (ja) | 磁気ディスク用ガラス基板の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160617 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160617 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160624 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20170309 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170321 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170522 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170704 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170712 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6177603 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |