JP2014517287A - ガラスユニット内の気体成分濃度を測定するための方法およびデバイス - Google Patents
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Abstract
Description
・高速交流高電圧を作り出し、
・この高速交流高電圧をガラスユニットの空間に局所的に印加することで局所放射を達成し、
・放射光を回収および輸送し、
・少なくとも一方が目的とする気体成分に対応する少なくとも2つの異なるスペクトル間隔の強度を求め、
・一方が目的とする気体成分に対応する2つのスペクトル間隔の強度間の比を計算し、
・この比から気体成分の濃度を求める
ことによって測定することもできる。
・対象の界面タイプ
・2つの界面間のコーティング材料、
・構成材料の屈折率
・2つの界面間の層の厚さ
・2つの界面間の層の厚さの変化
・第1板ガラスと第2板ガラス(最外方板ガラスおよび最内方板ガラス等)との間の距離、
・任意の表面の見込まれる強靭化もしくは焼き戻し
・対象のコーティングを施したおよび/もしくはコーティングを施していない表面の存在および位置
・ガラスユニット内の気体混合物中の少なくとも1つの気体成分の濃度並びに/または
・気体成分を含む空間の同定情報(位置等)
の1つを示し得る。
・検出器上での第1反射光線(空間へ向けられたガラスシートの第1表面/界面で反射し、光線は気体成分と相互作用しない)の位置および強度を求め、
・検出器上での第2反射光線(空間へ向けられたガラスシートの第2もしくは別の表面/界面またはリフレクタで反射)の位置および強度を求め、
・空間内を光線が進んだ距離を、第1および第2(または更に別の)の特定された反射光線の検出器上での位置に基づいて求め、
・空間内の気体成分濃度を、第1および第2の特定された反射光線の強度差並びに横断距離に基づいて求める
ことで求めることもできる。
Claims (21)
- 互いに間隔をあけて空間を形成している少なくとも2枚のガラスシートを有するガラスユニットの前記空間内の気体混合物中の気体成分濃度を求めるための非侵襲的な方法であって、
1つ以上の光線を前記ガラスユニットの表面にある角度で当てる工程であって、前記放射光線の波長を、目的とする気体成分の少なくとも1つの吸収線の近くまたは吸収線上で変化させる工程、
前記空間の反対側に位置する少なくとも1つの表面もしくは界面を透過したまたは少なくとも1つの表面もしくは界面で反射した光線を検出器で回収する工程、
測定対象である前記目的とする気体成分の吸収線上での透過または反射光線の強度における非線形的な変化を測定する工程、
強度における前記非線形的な変化に基づいて前記気体成分の濃度を求める工程
を含むことを特徴とする方法。 - 前記濃度測定を、前記非線形的強度変化の量を基準強度変化、例えば事前に判明している様々な濃度の前記気体の強度変化と比較することで行う、請求項1に記載の方法。
- 前記光線を反射する前記表面または界面が、前記放射光線を前記検出器上へと前記ガラスユニットを通して反射するための、ガラスユニットの反対側で使用するリフレクタであり、ガラスユニット内の前記測定気体濃度が、前記放射光線の波長を吸収線上で変化させた場合の吸収線での強度変化から検出される、請求項1または2に記載の方法。
- 前記光線を反射する表面または界面が、前記気体成分を含む前記空間に向けられた前記ガラスシートの表面または界面である、請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記気体成分濃度を含み、それゆえに前記非線形強度変化を引き起こす前記空間が、前記ガラスユニットのガラスシートの表面または界面で反射した光線の検出器上でのオーダーまたは位置から特定される、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記方法が、前記界面で反射した光線の強度を測定し、前記測定された強度を既知の界面タイプおよび/またはコーティングタイプの既知の強度と比較し、その既知の強度が測定された強度に最もよく適合する界面タイプおよび/またはコーティングタイプを選択することによって、問題となる前記ガラスシートの界面タイプおよび/または見込まれるコーティングを決定することを更に含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記方法が、前記ガラスユニットの2つの界面間の層の厚さを、第1および第2界面で反射した光線の前記検出器上での位置に基づいて検出する工程、
最外方および最内方のシート等の2枚のシート間の距離を、対応するシートで反射した光線の検出器上での位置および前記シートの前記材料の屈折率に基づいて検出する工程を更に含む、請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法。 - 前記ガラスユニットの表面または界面の位置ひいては距離を、前記発光手段と前記検出器とを含む測定ユニットにより測定し、前記表面もしくは界面からの距離を変化させまたは表面もしくは界面に対する角度を変化させ、前記強度変化を測定することによって前記表面または界面の前記位置ひいては距離を強度極大に基づいて求める、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光線が、使用レーザー周波数を目的とする気体成分の吸収線上で調節することによる波長可変半導体レーザー吸収分光法(TDLAS)で得られるレーザー光線である、請求項1〜8のいずれか一項にいずれかに記載の方法。
- 検出対象である前記吸収信号をWMSまたはFMS技法、例えば測定対象である気体成分の吸収線上で正弦波的周波数変調ダイオードレーザーを走査して操作することによって、検出光線の強度における変化および検出対象である気体成分の濃度を表す非線形曲線に適合した二次多項式を強化する並びに/または引き起こされる低周波ノイズを最小限に抑える、請求項9に記載の方法。
- 前記方法が、高速交流高電圧を作り出す工程、
高速交流高電圧を前記ガラスユニットの空間に局所的に印加することで局所放射を達成する工程、
放射光を回収および輸送工程、
少なくとも一方が前記目的とする気体成分に対応する少なくとも2つの異なるスペクトル間隔の強度を求める工程、
一方が前記目的とする気体成分に対応する2つのスペクトル間隔の強度間の比を計算する工程、
前記比から前記気体成分の濃度を求める工程
を更に含む、請求項1〜10のいずれか一項に記載の方法。 - 測定対象である前記気体成分が、次の酸素、アルゴン、キセノン、クリプトンおよび/または窒素の少なくとも1つである、請求項1〜11のいずれか一項に記載の方法。
- 前記測定結果を前記ガラスユニットに接続されたNFCタグに書き込まれ、測定結果が、次の特性の少なくとも一つ:
前記対象の界面タイプ、
2つの界面間のコーティング材料、
前記構成材料の屈折率、
2つの界面間の層の厚さ、
2つの界面間の層の厚さの変化、
最外方板ガラス、最内方板ガラス等の第1板ガラスと第2板ガラスとの間の距離、
任意の表面の見込まれる強靭化もしくは焼き戻し、
前記物体のコーティングを施したおよび/もしくはコーティングを施していない表面の存在および位置、
前記ガラスユニット内の気体混合物中の少なくとも1つの気体成分の濃度並びに/または
前記気体成分を含む前記空間の同定情報
を示す、請求項1〜12のいずれか一項に記載の方法 - 互いに間隔をあけて空間を形成している少なくとも2枚のガラスシートを有するガラスユニットの空間内の気体混合物中の気体成分濃度を非侵襲的に求めるための構成であって、
1つ以上の光線を前記ガラスユニットの表面にある角度で当て、前記放射光線の波長を、目的とする気体成分の少なくとも1つの吸収線の近くまたは吸収線上で変化させ、
前記空間の反対側に位置する少なくとも1つの表面もしくは界面を透過したまたは少なくとも1つの表面もしくは界面で反射した前記光線を検出器で回収し、
前記目的とする気体の吸収線上での前記透過または反射光線の強度における非線形的な変化を測定し、
前記強度における前記非線形的な変化に基づいて前記気体成分の濃度を求めるように前記構成が適合されているを特徴とする構成。 - 前記構成が、前記濃度を、前記非線形的強度変化の量を基準強度変化、例えば事前に判明している様々な濃度の前記気体の強度変化と比較することで求めるように適合されている、請求項14に記載の構成。
- 前記構成が、前記気体成分濃度を含む、それゆえに前記非線形強度変化を引き起こす空間を、ガラスユニットのガラスシートの表面または界面で反射した光線の検出器上でのオーダーまたは位置から特定するように適合されている、請求項14または15に記載の構成。
- 前記構成が、前記発光手段と前記検出器とを含む測定ユニットを含、み、前記表面もしくは界面からの距離が変化するように構成され、または前記表面もしくは界面に対する角度が変化するように構成され、また強度変化を測定することによって測定対象である前記ガラスユニットの表面または界面の位置ひいては距離を前記強度極大に基づいて求めるように前記構成が設計される、請求項14または15に記載の構成。
- 前記構成が、問題となるガラスシートの界面タイプおよび/または見込まれるコーティングを、前記界面で反射した光線の強度を測定し、測定された強度を既知の界面タイプおよび/またはコーティングタイプの既知の強度と比較し、その既知の強度が測定された強度に最もよく適合する界面タイプおよび/またはコーティングタイプを選択することで特定するように適合させた、請求項14〜17のいずれか一項に記載の構成。
- 前記構成が、波長可変ダイオードレーザー(TDLAS)を含み、また目的とする気体成分の吸収線上で使用レーザー周波数を調節するように適合させた、請求項14−18のいずれかに記載の構成。
- 前記構成が、検出対象である吸収信号をWMSまたはFMS技法、例えば測定対象である前記気体成分の吸収線上で正弦波的周波数変調ダイオードレーザーを走査して操作することによって、検出光線の強度における変化および検出対象である気体成分の濃度を表す非線形曲線にフィットさせた二次多項式を強化する並びに/または引き起こされる低周波ノイズを最小限に抑えるように適合させた、請求項14〜19のいずれか一項に記載の構成。
- 高速交流高電圧を作り出し、
高速交流高電圧を前記ガラスユニットの空間に局所的に印加することで局所放射を達成し、
放射光を回収および輸送し、
少なくとも一方が目的とする気体成分に対応する少なくとも2つの異なるスペクトル間隔の強度を求め、
一方が目的とする気体成分に対応する2つのスペクトル間隔の強度間の比を計算し、
前記比から前記気体成分の濃度を求める
ための手段を更に含む、請求項14〜20のいずれか一項に記載の構成。
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