JP2014235114A - Probe inspection device and probe inspection method - Google Patents
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Description
本発明は、プローブの良否を正確に検査することができるプローブ検査装置及びプローブ検査方法に関する。 The present invention relates to a probe inspection apparatus and a probe inspection method capable of accurately inspecting the quality of a probe.
半導体チップやプリント配線板などを電気的に検査するために検査装置が用いられる。この検査装置は、測定対象を載せる試料台と、検査対象の電極に押し当てるプローブとを備えている。プローブとしてスプリングプローブが広く用いられている(例えば、特許文献1参照)。 An inspection apparatus is used to electrically inspect semiconductor chips, printed wiring boards, and the like. This inspection apparatus includes a sample stage on which a measurement object is placed and a probe that is pressed against an electrode to be inspected. Spring probes are widely used as probes (see, for example, Patent Document 1).
測定前に試料台とプローブの汚れを検査する必要がある。そこで、予め試料台とプローブを洗浄して異物がないことを確認した状態でプローブの荷重・変位特性を求め、これを基準変位特性と名付ける。そして、測定の前にプローブの荷重・変位特性を求めて、基準変位特性との差異により試料台とプローブの汚れを検査する。 It is necessary to inspect the sample stage and probe for contamination before measurement. Therefore, the load / displacement characteristic of the probe is obtained in a state where it has been confirmed in advance that the sample stage and the probe are cleaned and there is no foreign substance, and this is referred to as a reference displacement characteristic. Before the measurement, the load / displacement characteristic of the probe is obtained, and the sample stage and the probe are inspected for contamination based on the difference from the reference displacement characteristic.
しかし、スプリングプローブでは、先端部の接触抵抗(電気抵抗)だけでなく、摺動部にも接触抵抗(電気抵抗)がある。この摺動部の接触抵抗は押し込み量や摺動回数によって変化するため、プローブの汚れを検査しただけではプローブの良否を正確に検査することができなかった。 However, in the spring probe, not only the contact resistance (electrical resistance) at the tip part but also the sliding part has the contact resistance (electrical resistance). Since the contact resistance of the sliding portion varies depending on the amount of pushing and the number of sliding times, the probe quality cannot be accurately inspected only by inspecting the contamination of the probe.
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的はプローブの良否を正確に検査することができるプローブ検査装置及びプローブ検査方法を得るものである。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object thereof is to obtain a probe inspection apparatus and a probe inspection method capable of accurately inspecting the quality of a probe.
本発明に係るプローブ検査装置は、導電性で筒状のバレルと、被検査対象と接触する導電性のプランジャーと、前記バレル内に配置され前記プランジャーを軸方向に付勢する導電性の弾性部材とを有するプローブを検査する装置であって、前記プランジャーに荷重を加えて変位させる荷重付加部と、前記プローブの電気抵抗を測定する電気抵抗測定器と、前記プランジャーの変位量を測定する変位測定器と、前記変位量に対する前記電気抵抗を規格値と比較して前記プローブの良否判定を行う判定部とを備えることを特徴とする。 A probe inspection apparatus according to the present invention includes a conductive cylindrical barrel, a conductive plunger that contacts an object to be inspected, and a conductive plunger that is disposed in the barrel and biases the plunger in the axial direction. An apparatus for inspecting a probe having an elastic member, comprising: a load applying unit for applying a load to the plunger to displace; an electric resistance measuring device for measuring an electric resistance of the probe; and a displacement amount of the plunger. It is characterized by comprising a displacement measuring device to be measured and a determination unit that compares the electrical resistance with respect to the displacement amount with a standard value to determine the quality of the probe.
本発明により、プローブの良否を正確に検査することができる。 According to the present invention, the quality of a probe can be accurately inspected.
本発明の実施の形態に係るプローブ検査装置及びプローブ検査方法について図面を参照して説明する。同じ又は対応する構成要素には同じ符号を付し、説明の繰り返しを省略する場合がある。 A probe inspection apparatus and a probe inspection method according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same or corresponding components are denoted by the same reference numerals, and repeated description may be omitted.
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係るプローブ検査装置を示す側面図である。図2は、図1のプローブを示す拡大断面図である。プローブ検査装置は、プローブ1の良否を検査するものである。
FIG. 1 is a side view showing a probe inspection apparatus according to
プローブ1は、導電性で筒状のバレル2と、被検査対象と接触する導電性のプランジャー3と、バレル2内に配置されプランジャー3を軸方向に付勢するバネなどの導電性の弾性部材4とを有する。プローブ1を実際に使用する際には、半導体チップやプリント配線板などの被検査対象の電極にプランジャー3の先端部を接触させ、プローブ1を介して電気を流して被検査対象の電気特性を検査する。
The
プローブ1のバレル2はプローブユニット6のソケットに挿入されて固定される。この状態で荷重付加部7がプローブ1のプランジャー3に荷重を加えて変位させる。荷重付加部7は、プローブ1のプランジャー3に接触する測定子8と、測定子8を保持する測定子ホルダ9と、測定子ホルダ9と共に測定子8を移動させるロードセル10とを有する。
The
電気抵抗測定器11が、プローブユニット6と測定子8を介してプローブ1の電気抵抗を測定する。荷重付加部7はX,Z軸方向に駆動させるロボット(図示せず)に取り付けられ、プローブユニット6はY軸方向に駆動させるロボット(図示せず)に取り付けられ、それぞれの位置が制御される。測定子8とプローブ1の先端のXY方向の位置決めをする際に両者の位置関係をカメラ12aが測定する。荷重付加部7をZ軸方向に駆動させるロボットに接続された変位測定器12bがプランジャー3の変位量を測定する。変位量の原点は、接触子8とプローブ1を低速で接近させながら荷重測定器13で測定して接触位置で荷重が変化することにより、認識することができる。または、電気抵抗測定器11により電気抵抗の変化を測定することでも、変位量の原点を認識することができる。なお、プローブ1の先端の高さは、設計位置から計算した値を原点として測定条件に登録すれば、測定時間を短縮することができる。荷重測定器13がプランジャー3に加えられた荷重を測定する。
The electrical resistance measuring instrument 11 measures the electrical resistance of the
判定部14は、変位量に対する電気抵抗を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。さらに、判定部14は変位量に対する荷重を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。判定部14はこのような良否判定を行うプログラムが導入されたコンピュータである。ここで、規格値について説明する。まず、本実施の形態のプローブ検査装置を使用して複数本の新品のプローブの抵抗値と荷重値を測定する。抵抗値については、良否判定範囲内の変位量Xに対する標準偏差値の6倍、プローブを縮める方向と伸ばす方向で同じ変位量Xに対する抵抗値の差を求め、それらの標準偏差値の6倍をそれぞれの規格値とする(最大値は1Ω、最小値は数十mΩ)。同様に、荷重値についても良否判定範囲内の各変位量Xに対する傾きの標準偏差値の6倍、プローブを縮める方向と伸ばす方向で同じ変位量Xに対する荷重値の差を求め、それらの標準偏差値の6倍を規格値とする(最大値と最小値は、弾性部材4の設計値に例えば±20%〜±50%の許容値を加える)。また、プローブごとに新品の状態で測定した初期の抵抗値と荷重値に許容値を加えた値を規格値とし、プローブごとに初期状態の規格値と使用後の抵抗値や荷重値を比較して良否判定してもよい。なお、ここで示した規格値は、一例であり、被検査対象の要求精度、歩留り等を考慮して決定することが望ましい。
The
図3は、本発明の実施の形態1に係るプローブ検査方法を示すフローチャートである。まず、判定部14は、プローブ1のXY座標、検査条件、良否判定の規格値を読み込む(ステップS1)。プローブ1を固定したプローブユニット6をプローブ検査装置のステージ(図示せず)に載せ、電気抵抗測定器11と接続する。
FIG. 3 is a flowchart showing the probe inspection method according to
次に、測定子8をプローブ1の位置に移動させる(ステップS2)。変位測定器12bでプローブ1の位置を認識し、測定子8とプローブ1の位置が測定の際にずれないように、予め登録したプローブ1のXY座標とのずれを補正する。測定子8は、予め登録された測定条件により、Z方向に下降し、プランジャー3の先端に接触してプローブ1を縮める。
Next, the
次に、プランジャー3に荷重を加えてプローブ1を縮める方向に変化させつつ、プローブ1の電気抵抗と荷重を測定する(ステップS3)。この際に変位測定器12bがプランジャー3のZ方向の変位量を測定する。次に、プランジャー3への荷重を弱めてプローブ1を延びる方向に変化させつつ、プローブ1の電気抵抗と荷重を測定する(ステップS4)。これらの測定データは判定部14に取込まれる。
Next, the electrical resistance and the load of the
次に、判定部14は変位量に対する電気抵抗を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う(ステップS5)。さらに、判定部14は変位量に対する荷重を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う(ステップS6)。
Next, the
ここで、プローブ1が正常な場合には、変位に伴って電気抵抗が徐々に変化するが、変位しても殆ど電気抵抗が変化しない安定した領域が存在する。一方、荷重は変位量に比例して変化する。このような電気抵抗と荷重の規格値から測定データが外れていれば異常と判定する。
Here, when the
本実施の形態では、変位量に対する電気抵抗を規格値と比較することで、プランジャー3の先端部の接触抵抗だけでなく、バレル2内を摺動するプランジャー3の摺動部5の接触抵抗も検査することができる。そして、変位量に対する荷重を規格値と比較することで、弾性部材4による荷重も検査することができる。このため、プローブ1の良否を正確に検査することができる。また、作業者の判断に依存することなく、短時間で自動的に検査をすることができる。
In the present embodiment, by comparing the electrical resistance with respect to the displacement amount with a standard value, not only the contact resistance of the distal end portion of the
実施の形態2.
図4は、本発明の実施の形態2に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対するプローブの電気抵抗を示す図である。判定部14は、プローブ1を縮める方向又は伸ばす方向に変化させた際の電気抵抗の変化を規格値の波形と比較してプローブ1の良否判定を行う。
FIG. 4 is a diagram showing the electrical resistance of the probe with respect to the amount of displacement of the plunger used in the probe inspection method according to
プローブ1が正常な場合には変位に伴って電気抵抗が徐々に変化する。しかし、摺動部5のAuめっきが剥がれたり、プランジャー3の表面やバレル2の内側の金属が削れて異物が噛み込んだりした場合には、変位量に対する電気抵抗の変化が規格値の波形から外れるので、異常と判定する。これにより、プランジャー3の摺動部5の接触抵抗が正常であるかどうかを検査することができる。
When the
実施の形態3.
図5は、本発明の実施の形態3に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対する荷重を示す図である。判定部14は、プローブ1を縮める方向又は伸ばす方向に変化させた際の荷重の変化を規格値の波形と比較してプローブ1の良否判定を行う。
FIG. 5 is a diagram showing a load with respect to a displacement amount of the plunger used in the probe inspection method according to the third embodiment of the present invention. The
プローブ1が正常な場合には荷重は変位量に比例して変化する。しかし、弾性部材4の破損やへたりが生じたり、プランジャー3の摺動部5のAuめっきが剥がれて滑らかに摺動しなくなった場合には、変位量に対する荷重の変化が規格値の波形から外れるので、異常と判定する。これにより、弾性部材4による荷重が正常であるかどうかを検査することができる。
When the
実施の形態4.
図6は、本発明の実施の形態4に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対するプローブの電気抵抗を示す図である。判定部14は、プローブ1を縮める方向と伸ばす方向に変化させた際の電気抵抗の変化を規格値の波形と比較してプローブ1の良否判定を行う。
FIG. 6 is a diagram showing the electrical resistance of the probe with respect to the amount of displacement of the plunger used in the probe inspection method according to
これによりプローブ1を実際に使用して被検査対象の電気特性を検査する際の変位量に相当する最大変位量付近の電気抵抗を測定することになる。このため、プローブ1の長さや取付け高さのばらつき、被測定物の厚みばらつきに相当する変位量に対する電気抵抗が規格値から大きく外れているものを異常として検出することができる。
As a result, the electrical resistance in the vicinity of the maximum displacement amount corresponding to the displacement amount when the
実施の形態5.
図7は、本発明の実施の形態5に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対する荷重を示す図である。判定部14は、プローブ1を縮める方向と伸ばす方向に変化させた際の荷重の変化を規格値の波形と比較してプローブ1の良否判定を行う。
FIG. 7 is a diagram showing a load with respect to the displacement amount of the plunger used in the probe inspection method according to
これによりプローブ1を実際に使用して被検査対象の電気特性を検査する際の変位量に相当する最大変位量付近の荷重を測定することになる。このため、プローブ1の長さや取付け高さのばらつき、被測定物の厚みばらつきに相当する変位量に対する荷重が規格値から大きく外れているものを異常として検出することができる。
As a result, the load near the maximum displacement amount corresponding to the displacement amount when the
実施の形態6.
図8は、本発明の実施の形態6に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対するプローブの電気抵抗と荷重を示す図である。プローブ1を縮める方向と伸ばす方向に変化させた際の電気抵抗と荷重を同時に測定する。そして、判定部14は、それらの変化をそれぞれ規格値の波形と比較してプローブ1の良否判定を行う。
FIG. 8 is a diagram showing the electrical resistance and load of the probe with respect to the amount of displacement of the plunger used in the probe inspection method according to
電気抵抗と荷重を同時に測定することにより測定時間を短縮することができる。さらに、測定子8がプローブ1に接触したかどうかを確認することができるため、断線、未接触、異物等との接触を区別することができる。
The measurement time can be shortened by measuring the electrical resistance and the load simultaneously. Furthermore, since it is possible to confirm whether or not the
実施の形態7.
図9は、本発明の実施の形態7に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対するプローブの電気抵抗を示す図である。判定部14は、良否判定を行う変位量の範囲内においてプローブ1を縮める方向に変化させた場合と伸ばす方向に変化させた場合とで同じ変位量Xに対する電気抵抗の差の標準偏差値を求め、標準偏差値を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。これにより、標準偏差値が規格外のものを異常として検出することができる。なお、標準偏差値の代わりに合計値を求め、その合計値が規格外のものを異常として検出してもよい。
FIG. 9 is a diagram showing the electrical resistance of the probe with respect to the amount of displacement of the plunger used in the probe inspection method according to
実施の形態8.
図10は、本発明の実施の形態8に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対する荷重を示す図である。判定部14は、良否判定を行う変位量の範囲内においてプローブ1を縮める方向に変化させた場合と伸ばす方向に変化させた場合とで同じ変位量Xに対する荷重の差の標準偏差値を求め、標準偏差値を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。これにより、標準偏差値が規格外のものを異常として検出することができる。なお、標準偏差値の代わりに合計値を求め、その合計値が規格外のものを異常として検出してもよい。
FIG. 10 is a diagram showing a load with respect to the displacement amount of the plunger used in the probe inspection method according to
実施の形態9.
図11は、本発明の実施の形態9に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対するプローブの電気抵抗を示す図である。判定部14は、良否判定を行う変位量の範囲内における最小電気抵抗と最大電気抵抗を求め、最小電気抵抗と最大電気抵抗を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。これにより、最小電気抵抗と最大電気抵抗が規格外のものを異常として検出することができる。
Embodiment 9 FIG.
FIG. 11 is a diagram showing the electrical resistance of the probe with respect to the amount of displacement of the plunger used in the probe inspection method according to Embodiment 9 of the present invention. The
実施の形態10.
図12は、本発明の実施の形態10に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対する荷重を示す図である。判定部14は、良否判定を行う変位量の範囲内における最小荷重と最大荷重を求め、最小荷重と最大荷重を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。これにより、最小荷重と最大荷重が規格外のものを異常として検出することができる。
FIG. 12 is a diagram showing a load with respect to the displacement amount of the plunger used in the probe inspection method according to
実施の形態11.
図13は、本発明の実施の形態11に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対するプローブの電気抵抗を示す図である。判定部14は、良否判定を行う変位量の範囲内における電気抵抗の標準偏差値を求め、標準偏差値を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。これにより、標準偏差値が規格外のものを異常として検出することができる。なお、標準偏差値の代わりに合計値を求め、その合計値が規格外のものを異常として検出してもよい。
Embodiment 11 FIG.
FIG. 13 is a diagram showing the electrical resistance of the probe with respect to the amount of displacement of the plunger used in the probe inspection method according to Embodiment 11 of the present invention. The
実施の形態12.
図14は、本発明の実施の形態12に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対する荷重を示す図である。判定部14は、良否判定を行う変位量の範囲内における各変位量に対する前記荷重の傾きの標準偏差値を求め、標準偏差値を規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。これにより、標準偏差値が規格外のものを異常として検出することができる。なお、標準偏差値の代わりに合計値を求め、その合計値が規格外のものを異常として検出してもよい。
Embodiment 12 FIG.
FIG. 14 is a diagram showing a load with respect to the displacement amount of the plunger used in the probe inspection method according to Embodiment 12 of the present invention. The
実施の形態13.
図15は、本発明の実施の形態13に係るプローブ検査方法で使用するプランジャーの変位量に対するプローブの電気抵抗を示す図である。良否判定を行う変位量の範囲として第1、第2、第3の判定範囲といった複数の判定範囲とそれに対応する規格値が設定されている。
FIG. 15 is a diagram showing the electrical resistance of the probe with respect to the amount of displacement of the plunger used in the probe inspection method according to
判定部14は、良否判定を行う変位量の複数の範囲について電気抵抗をその範囲に対応する規格値と比較してプローブ1の良否判定を行う。これにより、バレル2とプランジャー3の摺動部の隙間が製造ばらつきで大きくなった場合、プランジャー3の先端に異物が付着した場合、及びめっきの剥がれ等が発生した場合についてそれぞれ電気抵抗の変化を異常として検出することができる。
The
なお、上記の実施の形態1〜13に係る電気抵抗の判定方法と荷重の判定方法を互いに組み合わせることが好ましい。これにより、電気抵抗と荷重の異常を更に高精度に検出することができる。 It is preferable to combine the electrical resistance determination method and the load determination method according to the first to thirteenth embodiments. Thereby, the abnormality of electrical resistance and load can be detected with higher accuracy.
また、荷重付加部7がプローブ1を縮める方向の速度を伸ばす方向の速度よりも遅くすることが好ましい。図16は、傾いたプローブを示す拡大断面図である。一般的にプランジャー3には傾きがあり、プローブ1には取付精度による傾きがある。このような傾きがある場合でも、プローブ1を縮める方向の速度を伸ばす方向の速度よりも遅くすれば、プランジャー3の先端に付着した異物15に測定子8を確実に接触させ、異物15の電気抵抗を測定することができる。
Moreover, it is preferable to make it slower than the speed of the direction in which the
また、荷重付加部7が測定前にプローブ1を縮める方向と伸ばす方向へ繰り返し摺動させることが好ましい。これにより、特に新品のプローブ1においてプランジャー3の摺動部5の接触抵抗を下げることができるため、プローブ1の不良率を低減し、安定的に電気特性を測定することができる。
Further, it is preferable that the
また、プローブ1はパワー半導体素子等に電流を流して電気特性を測定する際に使用される。この実際の使用条件と同じ電流を流した状態でプローブ1の電気抵抗と荷重を測定することが好ましい。これにより、実際の使用条件と同じ電流を流すことによる影響を考慮した測定を実施することができる。
The
1 プローブ、2 バレル、3 プランジャー、4 弾性部材、7 荷重付加部、11 電気抵抗測定器、12b 変位測定器、13 荷重測定器、14 判定部
DESCRIPTION OF
Claims (18)
前記プランジャーに荷重を加えて変位させる荷重付加部と、
前記プローブの電気抵抗を測定する電気抵抗測定器と、
前記プランジャーの変位量を測定する変位測定器と、
前記変位量に対する前記電気抵抗を規格値と比較して前記プローブの良否判定を行う判定部とを備えることを特徴とするプローブ検査装置。 Inspecting a probe having a conductive cylindrical barrel, a conductive plunger in contact with an object to be inspected, and a conductive elastic member disposed in the barrel and biasing the plunger in the axial direction A device,
A load applying portion for applying a load to the plunger to displace the plunger;
An electrical resistance measuring instrument for measuring the electrical resistance of the probe;
A displacement measuring device for measuring a displacement amount of the plunger;
A probe inspection apparatus comprising: a determination unit that compares the electrical resistance with respect to the displacement amount with a standard value to determine whether the probe is good or bad.
前記判定部は、前記変位量に対する前記荷重を規格値と比較して前記プローブの良否判定を行うことを特徴とする請求項1に記載のプローブ検査装置。 A load measuring device for measuring a load applied to the plunger;
The probe inspection apparatus according to claim 1, wherein the determination unit determines whether the probe is good or bad by comparing the load with respect to the displacement amount with a standard value.
前記プランジャーに荷重を加えて変位させつつ、前記プローブの電気抵抗を測定する工程と、
前記プランジャーの変位量を測定する工程と、
前記変位量に対する前記電気抵抗を規格値と比較して前記プローブの良否判定を行う工程とを備えることを特徴とするプローブ検査方法。 Inspecting a probe having a conductive cylindrical barrel, a conductive plunger in contact with an object to be inspected, and a conductive elastic member disposed in the barrel and biasing the plunger in the axial direction A method,
Measuring the electrical resistance of the probe while applying a load to the plunger and displacing the plunger;
Measuring the amount of displacement of the plunger;
A probe inspection method comprising: comparing the electrical resistance with respect to the displacement amount with a standard value to determine whether the probe is good or bad.
前記変位量に対する前記荷重を規格値と比較して前記プローブの良否判定を行うことを特徴とする請求項17に記載のプローブ検査方法。 Further comprising measuring a load applied to the plunger;
The probe inspection method according to claim 17, wherein the probe is judged to be good or bad by comparing the load with respect to the displacement amount with a standard value.
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000147003A (en) * | 1998-11-17 | 2000-05-26 | Canon Inc | Probe pin |
JP2004053415A (en) * | 2002-07-19 | 2004-02-19 | Sharp Corp | Inspection system for electronic component |
US20050227510A1 (en) * | 2004-04-09 | 2005-10-13 | Brown Dirk D | Small array contact with precision working range |
JP2007535657A (en) * | 2003-12-08 | 2007-12-06 | ネオコニックス,インコーポレイテッド | Small array contact with precise operating range |
JP2010101687A (en) * | 2008-10-22 | 2010-05-06 | Shikahama Seisakusho:Kk | Contact probe |
JP2010107365A (en) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Mitsubishi Electric Corp | Inspection device for substrate connection |
JP2010223852A (en) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | Electric inspection probe, manufacturing method of the same and manufacturing method of semiconductor device |
JP2011117882A (en) * | 2009-12-07 | 2011-06-16 | Rika Denshi Co Ltd | Contact probe |
-
2013
- 2013-06-04 JP JP2013117813A patent/JP6036557B2/en active Active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000147003A (en) * | 1998-11-17 | 2000-05-26 | Canon Inc | Probe pin |
JP2004053415A (en) * | 2002-07-19 | 2004-02-19 | Sharp Corp | Inspection system for electronic component |
JP2007535657A (en) * | 2003-12-08 | 2007-12-06 | ネオコニックス,インコーポレイテッド | Small array contact with precise operating range |
US20050227510A1 (en) * | 2004-04-09 | 2005-10-13 | Brown Dirk D | Small array contact with precision working range |
JP2010101687A (en) * | 2008-10-22 | 2010-05-06 | Shikahama Seisakusho:Kk | Contact probe |
JP2010107365A (en) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Mitsubishi Electric Corp | Inspection device for substrate connection |
JP2010223852A (en) * | 2009-03-25 | 2010-10-07 | Toshiba Corp | Electric inspection probe, manufacturing method of the same and manufacturing method of semiconductor device |
JP2011117882A (en) * | 2009-12-07 | 2011-06-16 | Rika Denshi Co Ltd | Contact probe |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6036557B2 (en) | 2016-11-30 |
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