JP2014228585A - Method of manufacturing optical module, and optical module - Google Patents

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弘人 中里
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To improve the yield of an optical module by allowing prior inspection even in the case where a non-through positioning hole is formed on the side opposite to a mounting surface of a photoelectric transducer.SOLUTION: A method of manufacturing an optical module includes: a preparation step (1) of preparing a transparent substrate which has a non-through positioning hole formed on one surface thereof and has a photoelectric transducer mounted on the other surface and can transmit light emitted from the photoelectric transducer or light received by the photoelectric transducer, and a support member which has a positioning pin and supports an optical fiber and forms an optical path between the photoelectric transducer and the optical fiber along with the transparent substrate; a positioning step (2) of inserting the positioning pin of the support member to the positioning hole of the transparent substrate to position the transparent substrate and the support member; and an observation step (3) of observing the positioning hole through the transparent substrate from the side opposite to the surface provided with the positioning hole.

Description

本発明は、光モジュールの製造方法及び光モジュールに関する。   The present invention relates to an optical module manufacturing method and an optical module.

光ファイバを用いた高速光通信の分野では、電気信号と光信号とを相互に変換する部品として光トランシーバが用いられている。光トランシーバを取り扱う業界団体で取り決められたMSA(Multi Source Agreement)により、プラガブル光トランシーバの仕様(形状・寸法・ピンアサインなど)が標準化されている。これらのプラガブル光トランシーバによれば、通信機器側(ホスト側)のメイン基板上にケージが設置され、光電変換素子や回路基板を内蔵した光モジュールがケージに着脱可能に挿入される。光モジュールがケージに挿入されると、ケージ内の電気インターフェースコネクタに対して光モジュール内の回路基板が電気的・機械的に接続される。これにより、光ファイバで送受される光信号と、通信機器側のメイン基板で処理される電気信号が、光モジュール内の光電変換素子や回路基板によって相互に変換可能になる。   In the field of high-speed optical communication using an optical fiber, an optical transceiver is used as a component that mutually converts an electrical signal and an optical signal. The specifications (shape, dimensions, pin assignment, etc.) of pluggable optical transceivers are standardized by MSA (Multi Source Agreement) agreed by an industry group that handles optical transceivers. According to these pluggable optical transceivers, a cage is installed on a main board on the communication device side (host side), and an optical module incorporating a photoelectric conversion element and a circuit board is detachably inserted into the cage. When the optical module is inserted into the cage, the circuit board in the optical module is electrically and mechanically connected to the electrical interface connector in the cage. Thereby, the optical signal transmitted and received by the optical fiber and the electric signal processed by the main board on the communication device side can be converted into each other by the photoelectric conversion element and the circuit board in the optical module.

特許文献1には、基板(符号1)の上面に光電変換素子(光デバイス2)が搭載されており、基板の下面側から位置決め穴(符号11)に位置決めピン(符号9)を挿入して基板と光コネクタとを位置決めすることによって、光電変換素子の光軸と光コネクタのレンズ(符号3)との光軸を合わせることが記載されている。   In Patent Document 1, a photoelectric conversion element (optical device 2) is mounted on the upper surface of a substrate (reference numeral 1), and a positioning pin (reference numeral 9) is inserted into a positioning hole (reference numeral 11) from the lower surface side of the substrate. It is described that the optical axis of the photoelectric conversion element is aligned with the optical axis of the lens (reference numeral 3) of the optical connector by positioning the substrate and the optical connector.

特開2005−17684号公報JP 2005-17684 A

特許文献1では、位置決め穴が基板に貫通穴として形成されている。この場合、基板の上面(光電変換素子の搭載面)に開口が形成されるので、基板の上面の素子や配線の配置に制約が生じる。一方、位置決め穴を非貫通穴にした場合、基板の上面の素子や配線の配置の制約が軽減されるが、位置決め穴が基板の上面(光電変換素子の搭載面)とは反対側に位置するため、光電変換素子に対する位置決め穴の位置を検査したり、位置決め穴によって位置決めされる部材の位置を事前検査したりすること等が困難になる。しかし、事前検査を行わずに製造後の光モジュールを検査するだけでは、光モジュールの不良率が高くなり(歩留まりが低くなり)、製造工程に無駄が多い。   In Patent Document 1, the positioning hole is formed as a through hole in the substrate. In this case, since an opening is formed on the upper surface of the substrate (the mounting surface of the photoelectric conversion element), there are restrictions on the arrangement of elements and wiring on the upper surface of the substrate. On the other hand, when the positioning hole is a non-through hole, restrictions on the arrangement of elements and wiring on the upper surface of the substrate are reduced, but the positioning hole is located on the opposite side of the upper surface of the substrate (the mounting surface of the photoelectric conversion element). For this reason, it becomes difficult to inspect the position of the positioning hole with respect to the photoelectric conversion element, or to inspect the position of the member positioned by the positioning hole in advance. However, simply inspecting the manufactured optical module without performing the preliminary inspection increases the defect rate of the optical module (lowers the yield), and the manufacturing process is wasteful.

本発明は、光電変換素子の搭載面とは反対側に形成された非貫通の位置決め穴を事前検査可能にし、光モジュールの歩留まりを向上させることを目的とする。   An object of the present invention is to make it possible to inspect in advance a non-penetrating positioning hole formed on the side opposite to the mounting surface of the photoelectric conversion element, and to improve the yield of the optical module.

上記目的を達成するための主たる発明は、(1)一方の面に非貫通の位置決め穴が形成され、他方の面に光電変換素子が搭載され、前記光電変換素子の発光した光、若しくは前記光電変換素子の受光する光を透過可能な透明基板と、位置決めピンを有し、光ファイバを支持し、前記光電変換素子と前記光ファイバとの間の光路を前記透明基板とともに形成する支持部材と、を準備する準備工程と、(2)前記透明基板の前記位置決め穴に前記支持部材の前記位置決めピンを挿入して、前記透明基板と前記支持部材とを位置決めする位置決め工程と、(3)前記位置決め穴のある面とは反対側から透明基板越しに前記位置決め穴を観察する観察工程と、を有することを特徴とする光モジュールの製造方法である。   The main invention for achieving the above object is as follows. (1) A non-penetrating positioning hole is formed on one surface, a photoelectric conversion element is mounted on the other surface, and the light emitted from the photoelectric conversion element or the photoelectric A transparent substrate capable of transmitting light received by the conversion element, a positioning pin, supporting an optical fiber, and forming a light path between the photoelectric conversion element and the optical fiber together with the transparent substrate; (2) a positioning step of positioning the transparent substrate and the support member by inserting the positioning pins of the support member into the positioning holes of the transparent substrate, and (3) the positioning And an observation step of observing the positioning hole through the transparent substrate from the side opposite to the surface with the hole.

本発明の他の特徴については、後述する明細書及び図面の記載により明らかにする。   Other characteristics of the present invention will be made clear by the description and drawings described later.

本発明によれば、光電変換素子の搭載面とは反対側に形成された非貫通の位置決め穴を事前検査可能にし、光モジュールの歩留まりを向上させることができる。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the non-penetrating positioning hole formed in the opposite side to the mounting surface of a photoelectric conversion element can be tested in advance, and the yield of an optical module can be improved.

図1は、プラガブル光トランシーバの説明図である。FIG. 1 is an explanatory diagram of a pluggable optical transceiver. 図2Aは、光モジュール1のハウジング1A内の回路基板10等を斜め上から見た斜視図である。図2Bは、回路基板10等を斜め下から見た斜視図である。FIG. 2A is a perspective view of the circuit board 10 and the like in the housing 1A of the optical module 1 as viewed obliquely from above. FIG. 2B is a perspective view of the circuit board 10 and the like as viewed obliquely from below. 図3は、光モジュール1の概略構成図である。FIG. 3 is a schematic configuration diagram of the optical module 1. 図4A及び図4Bは、位置決め穴23と位置決めピン43の断面図である。4A and 4B are cross-sectional views of the positioning hole 23 and the positioning pin 43. FIG. 図5Aは、位置決めピン43の根元近傍の拡大図である。図5Bは、参考例の位置決めピン43の根元近傍の拡大図である。図5Cは、参考例の位置決めピン43の根元近傍の拡大図である。FIG. 5A is an enlarged view of the vicinity of the root of the positioning pin 43. FIG. 5B is an enlarged view of the vicinity of the root of the positioning pin 43 of the reference example. FIG. 5C is an enlarged view of the vicinity of the root of the positioning pin 43 of the reference example. 図6は、光モジュール1の製造方法のフロー図である。FIG. 6 is a flowchart of the method for manufacturing the optical module 1. 図7A及び図7Bは、位置決め穴23に位置決めピン43を挿入し、ガラス基板20と光路変換器40とを位置決めする様子の概略説明図である。FIGS. 7A and 7B are schematic explanatory views showing a state where the positioning pins 43 are inserted into the positioning holes 23 and the glass substrate 20 and the optical path changer 40 are positioned. 図8は、S003での観察の様子の説明図である。FIG. 8 is an explanatory diagram of the state of observation in S003. 図9A及び図9Bは、上側からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察したときの観察画像(写真)である。図9Aは、正常時の観察画像である。図9Bは、異常時の観察画像である。9A and 9B are observation images (photographs) when the positioning hole 23 is observed from the upper side through the glass substrate 20. FIG. 9A is an observation image in a normal state. FIG. 9B is an observation image at the time of abnormality. 図10は観察画像(写真)の状況説明図である。FIG. 10 is an explanatory diagram of the situation of the observation image (photograph). 図11は、図10を線図で表したものである。FIG. 11 is a diagram representing FIG. 10. 図12Aは、図9Aの観察画像の輪郭抽出画像であり、正常時の輪郭抽出画像である。図12Bは、図9Bの観察画像の輪郭抽出画像であり、異常時の輪郭抽出画像である。FIG. 12A is a contour extraction image of the observation image of FIG. 9A, and is a contour extraction image in a normal state. FIG. 12B is a contour extraction image of the observation image of FIG. 9B and is a contour extraction image at the time of abnormality. 図13は、光路変換器40の固定方法の説明図である。FIG. 13 is an explanatory diagram of a method for fixing the optical path changer 40. 図14は、第2実施形態の光モジュール1の製造方法のフロー図である。FIG. 14 is a flowchart of the manufacturing method of the optical module 1 of the second embodiment. 図15Aは、S102での観察の様子の説明図である。図15Bは、第2実施形態の位置決めピン43の説明図である。FIG. 15A is an explanatory diagram of a state of observation in S102. FIG. 15B is an explanatory diagram of the positioning pin 43 of the second embodiment. 図16A及び図16Bは、位置合わせしない状態で位置決め穴23に位置決めピン43を挿入した場合の比較例の説明図である。16A and 16B are explanatory diagrams of a comparative example in which the positioning pin 43 is inserted into the positioning hole 23 without being aligned. 図17は、第3実施形態の光モジュール1の製造方法のフロー図である。FIG. 17 is a flowchart of the manufacturing method of the optical module 1 of the third embodiment. 図18は、S201での検査の様子の説明図である。FIG. 18 is an explanatory diagram of the state of the inspection in S201. 図19は、S201の観察画像(写真)である。FIG. 19 is an observation image (photograph) of S201. 図20は、図19の観察画像の説明図である。FIG. 20 is an explanatory diagram of the observation image of FIG. 図21は、第4実施形態の位置決め穴の説明図である。FIG. 21 is an explanatory diagram of the positioning holes of the fourth embodiment.

後述する明細書及び図面の記載から、少なくとも以下の事項が明らかとなる。   At least the following matters will be apparent from the description and drawings described below.

(1)一方の面に非貫通の位置決め穴が形成され、他方の面に光電変換素子が搭載され、前記光電変換素子の発光した光、若しくは前記光電変換素子の受光する光を透過可能な透明基板と、位置決めピンを有し、光ファイバを支持し、前記光電変換素子と前記光ファイバとの間の光路を前記透明基板とともに形成する支持部材と、を準備する準備工程と、(2)前記透明基板の前記位置決め穴に前記支持部材の前記位置決めピンを挿入して、前記透明基板と前記支持部材とを位置決めする位置決め工程と、(3)前記位置決め穴のある面とは反対側から透明基板越しに前記位置決め穴を観察する観察工程と、を有することを特徴とする光モジュールの製造方法が明らかとなる。
このような製造方法によれば、光電変換素子の搭載面とは反対側に形成された非貫通の位置決め穴を事前検査することが可能になり、光モジュールの歩留まりを向上させることができる。
(1) A non-penetrating positioning hole is formed on one surface, a photoelectric conversion element is mounted on the other surface, and the light that is emitted from the photoelectric conversion element or the light that is received by the photoelectric conversion element is transparent. A preparatory step of preparing a substrate and a support member having a positioning pin, supporting an optical fiber, and forming an optical path between the photoelectric conversion element and the optical fiber together with the transparent substrate; A positioning step of positioning the transparent substrate and the support member by inserting the positioning pins of the support member into the positioning holes of the transparent substrate; and (3) a transparent substrate from the side opposite to the surface having the positioning holes. And an observing step of observing the positioning hole through the optical module manufacturing method.
According to such a manufacturing method, a non-penetrating positioning hole formed on the side opposite to the mounting surface of the photoelectric conversion element can be inspected in advance, and the yield of the optical module can be improved.

前記位置決め工程の後に行われた前記観察工程の観察画像に基づいて、前記透明基板と前記支持部材との位置決め精度を検査することが望ましい。これにより、前記透明基板の前記位置決め穴に前記支持部材の前記位置決めピンを挿入した状態で、前記透明基板と前記支持部材との位置決め精度を検査できる。   It is desirable to inspect the positioning accuracy of the transparent substrate and the support member based on the observation image of the observation step performed after the positioning step. Thereby, the positioning accuracy of the transparent substrate and the support member can be inspected in a state where the positioning pins of the support member are inserted into the positioning holes of the transparent substrate.

前記位置決めピンはテーパ面を有しており、前記観察画像における前記位置決め穴と前記位置決めピンの根元との位置関係に応じて、前記位置決め精度が検査されることが望ましい。位置決めピンがテーパ面を有することによって、観察画像における位置決め穴と位置決めピンの根元とを識別し易くなる。   Preferably, the positioning pin has a tapered surface, and the positioning accuracy is inspected according to the positional relationship between the positioning hole and the root of the positioning pin in the observation image. When the positioning pin has a tapered surface, it becomes easy to identify the positioning hole and the root of the positioning pin in the observation image.

前記位置決めピンの根元の周りに凹部が形成されていることが望ましい。凹部が形成されることによって、観察画像における位置決め穴と位置決めピンの根元とを更に識別し易くなる。   It is desirable that a recess is formed around the base of the positioning pin. By forming the recess, it becomes easier to identify the positioning hole and the root of the positioning pin in the observation image.

前記観察工程の観察画像に基づいて前記透明基板と前記支持部材とを前記透明基板の前記面に平行な方向に位置合わせした後に、前記位置決め工程が行われることが望ましい。これにより、透明基板と支持部材との位置決め精度が高くなる。   It is desirable that the positioning step is performed after aligning the transparent substrate and the support member in a direction parallel to the surface of the transparent substrate based on an observation image of the observation step. Thereby, the positioning accuracy of the transparent substrate and the support member is increased.

前記位置決めピンの頂部にアライメントマークが形成されており、前記観察画像における前記位置決め穴と前記アライメントマークとの位置関係に応じて、前記透明基板と前記支持部材との位置合わせが行われることが望ましい。これにより、前記透明基板と前記支持部材との位置合わせが容易になる。   Preferably, an alignment mark is formed on the top of the positioning pin, and the transparent substrate and the support member are aligned according to the positional relationship between the positioning hole and the alignment mark in the observation image. . Thereby, alignment with the said transparent substrate and the said supporting member becomes easy.

前記観察工程の観察画像に基づいて前記透明基板における前記位置決め穴の位置が検査され、検査後の前記透明基板が前記準備工程で準備されることが望ましい。これにより、光電変換素子の搭載面とは反対側に形成された非貫通の位置決め穴を有する透明基板を事前検査でき、光モジュールの歩留まりを向上させることができる。   It is desirable that the position of the positioning hole in the transparent substrate is inspected based on the observation image in the observation step, and the transparent substrate after the inspection is prepared in the preparation step. Thereby, a transparent substrate having a non-penetrating positioning hole formed on the side opposite to the mounting surface of the photoelectric conversion element can be inspected in advance, and the yield of the optical module can be improved.

前記光電変換素子への配線とともに形成されたアライメントマークが前記一方の面に形成されており、前記観察画像における前記位置決め穴と前記アライメントマークとの位置関係に応じて、前記光電変換素子に対する前記位置決め穴の位置が検査されることが望ましい。これにより、位置決め穴の位置の検査が容易になる。   An alignment mark formed together with the wiring to the photoelectric conversion element is formed on the one surface, and the positioning with respect to the photoelectric conversion element is performed according to a positional relationship between the positioning hole and the alignment mark in the observation image. It is desirable to inspect the position of the holes. This facilitates inspection of the position of the positioning hole.

光電変換素子が搭載される搭載面にメタルパターンによる配線が形成され、前記搭載面とは反対側の面に非貫通の位置決め穴が形成され、前記光電変換素子の発光した光、若しくは前記光電変換素子の受光する光を透過可能な透明基板と、位置決めピンを有し、光ファイバを支持し、前記光電変換素子と前記光ファイバとの間の光路を前記透明基板とともに形成する支持部材と、を有する光モジュールであって、前記搭載面における前記位置決め穴の裏側の領域には前記配線は形成されておらず、前記搭載面の側から前記位置決め穴を観察可能であることを特徴とする光モジュールが明らかとなる。
このような光モジュールによれば、光電変換素子の搭載面とは反対側に形成された非貫通の位置決め穴を搭載面の側から検査可能である。
A wiring with a metal pattern is formed on a mounting surface on which the photoelectric conversion element is mounted, a non-penetrating positioning hole is formed on a surface opposite to the mounting surface, and the light emitted from the photoelectric conversion element or the photoelectric conversion A transparent substrate capable of transmitting light received by the element, a support member having a positioning pin, supporting the optical fiber, and forming an optical path between the photoelectric conversion element and the optical fiber together with the transparent substrate; An optical module having an optical module, wherein the wiring is not formed in a region of the mounting surface on the back side of the positioning hole, and the positioning hole can be observed from the mounting surface side. Becomes clear.
According to such an optical module, a non-penetrating positioning hole formed on the side opposite to the mounting surface of the photoelectric conversion element can be inspected from the mounting surface side.

前記搭載面における前記位置決め穴の裏側の領域に、前記配線とともに形成されたアライメントマークが形成されていることが望ましい。これにより、位置決め穴とともにアライメントマークを観察することが可能である。   It is preferable that an alignment mark formed together with the wiring is formed in a region on the mounting surface on the back side of the positioning hole. Thereby, the alignment mark can be observed together with the positioning hole.

前記位置決め穴として基準穴及び長穴が形成されており、前記長穴は、その長手方向が前記基準穴と前記長穴とを結ぶ線に沿うように形成されており、前記搭載面における前記基準穴の裏側の領域には前記配線は形成されておらず、前記搭載面の側から前記基準穴を観察可能であることが望ましい。これにより、2つの位置決め穴のうち、位置決め精度に寄与する方の位置決め穴を検査することが可能である。   A reference hole and a long hole are formed as the positioning hole, and the long hole is formed so that a longitudinal direction thereof is along a line connecting the reference hole and the long hole, and the reference on the mounting surface is formed. It is desirable that the wiring is not formed in the region on the back side of the hole, and the reference hole can be observed from the mounting surface side. Thereby, it is possible to test | inspect the positioning hole which contributes to positioning accuracy among two positioning holes.

===第1実施形態===
<全体構成>
図1は、プラガブル光トランシーバの説明図である。なお、光送信器と光受信機の両方を備えるものを光トランシーバと呼ぶことがあるが、ここでは一方のみ備えるものも光トランシーバと呼ぶ。図中のプラガブル光トランシーバは、MSA(Multi Source Agreement)で規定されたQSFPタイプ(QSFP:Quad Small Form Factor Pluggable)のものである。プラガブル光トランシーバは、光モジュール1と、ケージ2とを有する。
=== First Embodiment ===
<Overall configuration>
FIG. 1 is an explanatory diagram of a pluggable optical transceiver. An optical transceiver having both an optical transmitter and an optical receiver is sometimes referred to as an optical transceiver, but here, an optical transceiver having only one is also referred to as an optical transceiver. The pluggable optical transceiver in the figure is of the QSFP type (QSFP: Quad Small Form Factor Pluggable) defined by MSA (Multi Source Agreement). The pluggable optical transceiver has an optical module 1 and a cage 2.

図中には、2種類の光モジュール1が描かれている。図に示すように、光モジュール1には、光ファイバ(コードを含む)が固定されていても良いし、着脱可能でも良い。図中の2つのケージ2のうちの一方は、ヒートシンク3が取り外されるとともに、内部が見えるように一部破断されて、描かれている。   In the drawing, two types of optical modules 1 are depicted. As shown in the drawing, an optical fiber (including a cord) may be fixed to the optical module 1 or may be detachable. One of the two cages 2 in the figure is drawn with the heat sink 3 removed and partially broken so that the inside can be seen.

以下の説明では、図1に示すように、前後、上下及び左右を定義する。すなわち、光モジュール1を挿入するケージ2の挿入口側を「前」とし、逆側を「後」とする。光モジュール1においては、光ファイバ(コードを含む)が延び出る側を「前」とし、逆側を「後」とする。また、ケージ2が設けられるメイン基板から見て、ケージ2が設けられる面の側を「上」とし、逆側を「下」とする。また、前後方向と上下方向と直交する方向を「左右」とする。   In the following description, as shown in FIG. 1, front and rear, up and down, and left and right are defined. That is, the insertion port side of the cage 2 into which the optical module 1 is inserted is referred to as “front”, and the opposite side is referred to as “rear”. In the optical module 1, the side from which the optical fiber (including the cord) extends is referred to as “front”, and the opposite side is referred to as “rear”. Further, when viewed from the main board on which the cage 2 is provided, the side of the surface on which the cage 2 is provided is “upper”, and the opposite side is “lower”. Also, the direction orthogonal to the front-rear direction and the up-down direction is referred to as “left-right”.

通信機器側(ホスト側)のメイン基板上にはケージ2が設置されている。ケージ2は、例えばデータセンター内のブレードサーバのメイン基板上に設けられる。   A cage 2 is installed on the main board on the communication device side (host side). The cage 2 is provided on a main board of a blade server in the data center, for example.

光モジュール1は、ケージ2に着脱可能に挿入される。光モジュール1は、ハウジング1A内に光電変換素子31や回路基板10を内蔵しており、光ファイバで送受される光信号と、通信機器側のメイン基板で処理される電気信号とを相互に変換する。   The optical module 1 is detachably inserted into the cage 2. The optical module 1 includes a photoelectric conversion element 31 and a circuit board 10 in a housing 1A, and mutually converts an optical signal transmitted / received by an optical fiber and an electric signal processed by a main board on a communication device side. To do.

ケージ2は、光モジュール1を着脱可能に収容する。ケージ2は、光モジュール1を挿入するための挿入口を前側に備え、前後方向に長い断面矩形の箱形部材である。このケージ2は、前側を開放するように金属板を折り曲げ加工して形成される。金属板が断面矩形状に折り曲げ加工されることにより、光モジュール1を収容するための収容部がケージ2内に形成されている。ケージ2の内部の後側には、コネクタ2Aが設けられている。光モジュール1がケージ2に挿入されると、ケージ2内のコネクタ2Aに対して光モジュール1内の回路基板が電気的・機械的に接続される。これにより、光モジュール1とメイン基板との間で電気信号が伝送される。   The cage 2 accommodates the optical module 1 in a detachable manner. The cage 2 is a box-shaped member having a rectangular section in the front-rear direction with an insertion slot for inserting the optical module 1 on the front side. The cage 2 is formed by bending a metal plate so as to open the front side. An accommodating portion for accommodating the optical module 1 is formed in the cage 2 by bending the metal plate into a rectangular cross section. A connector 2 </ b> A is provided on the rear side inside the cage 2. When the optical module 1 is inserted into the cage 2, the circuit board in the optical module 1 is electrically and mechanically connected to the connector 2 </ b> A in the cage 2. Thereby, an electrical signal is transmitted between the optical module 1 and the main board.

ケージ2の上面には開口部があり、その開口部を塞ぐようにヒートシンク3が取り付けられている。ヒートシンク3は、ケージ2に挿入された光モジュール1の熱を外部に放熱するための多数の放熱フィン(放熱ピン)を備えている。   The upper surface of the cage 2 has an opening, and a heat sink 3 is attached so as to close the opening. The heat sink 3 includes a large number of heat radiation fins (heat radiation pins) for radiating the heat of the optical module 1 inserted into the cage 2 to the outside.

<光モジュール1の内部構成>
図2Aは、光モジュール1のハウジング1A内の回路基板10等を斜め上から見た斜視図である。図2Bは、回路基板10等を斜め下から見た斜視図である。図3は、光モジュール1の概略構成図である。
<Internal configuration of optical module 1>
FIG. 2A is a perspective view of the circuit board 10 and the like in the housing 1A of the optical module 1 as viewed obliquely from above. FIG. 2B is a perspective view of the circuit board 10 and the like as viewed obliquely from below. FIG. 3 is a schematic configuration diagram of the optical module 1.

図に示すように、光モジュール1は、ハウジング1A内に、回路基板10と、ガラス基板20と、光路変換器40とを備えている。   As shown in the figure, the optical module 1 includes a circuit board 10, a glass substrate 20, and an optical path changer 40 in a housing 1A.

回路基板10は、電子回路を構成する板状のプリント基板である。回路基板10の後側端部には、ケージ2内のコネクタ2A(コネクタソケット)と接続するための接続部11(カードエッジコネクタ)が形成されている。接続部11は回路基板10の上下両面に形成されており、多数の端子が左右方向に並んで形成されている。   The circuit board 10 is a plate-like printed board that constitutes an electronic circuit. A connection portion 11 (card edge connector) for connecting to a connector 2A (connector socket) in the cage 2 is formed at the rear end portion of the circuit board 10. The connection portion 11 is formed on both upper and lower surfaces of the circuit board 10 and a large number of terminals are formed side by side in the left-right direction.

回路基板10には、光路変換器40を収容するための収容窓12が形成されている。また、この収容窓12を囲むように、回路基板10の上面には回路基板側電極13が形成されている。回路基板10の上面には、収容窓12を塞ぐように、ガラス基板20が搭載されている。言い換えると、ガラス基板20の下側に回路基板10の収容窓12が位置しており、ガラス基板20の下面で回路基板10の収容窓12が塞がれている。ガラス基板20の下面にはガラス基板側電極22が形成されており、回路基板側電極13とガラス基板側電極22とを接続しつつ、回路基板10の収容窓12を塞ぐようにガラス基板20を回路基板10に搭載している。   An accommodation window 12 for accommodating the optical path converter 40 is formed in the circuit board 10. A circuit board side electrode 13 is formed on the upper surface of the circuit board 10 so as to surround the housing window 12. A glass substrate 20 is mounted on the upper surface of the circuit board 10 so as to close the accommodation window 12. In other words, the housing window 12 of the circuit board 10 is positioned below the glass substrate 20, and the housing window 12 of the circuit board 10 is closed by the lower surface of the glass substrate 20. A glass substrate side electrode 22 is formed on the lower surface of the glass substrate 20, and the glass substrate 20 is connected to the circuit substrate side electrode 13 and the glass substrate side electrode 22 while closing the housing window 12 of the circuit substrate 10. It is mounted on the circuit board 10.

収容窓12は、回路基板10に形成された貫通穴(開口)である。この収容窓12に光路変換器40の上部が挿入されている。光路変換器40の下部は収容窓12から下側に突出しており、この突出した部分から前側に光ファイバ50が延び出ている。但し、光路変換器40が回路基板10より薄い場合、光路変換器40の下部は収容窓12から下側に突出しない。この場合、反射部42が光を鈍角に反射するように構成されると、光路変換器40から光ファイバ50を引き出しやすくなる。   The housing window 12 is a through hole (opening) formed in the circuit board 10. The upper portion of the optical path changer 40 is inserted into the accommodation window 12. The lower part of the optical path changer 40 protrudes downward from the receiving window 12, and the optical fiber 50 extends forward from the protruding part. However, when the optical path changer 40 is thinner than the circuit board 10, the lower part of the optical path changer 40 does not protrude downward from the receiving window 12. In this case, if the reflecting portion 42 is configured to reflect light at an obtuse angle, the optical fiber 50 can be easily pulled out from the optical path converter 40.

ガラス基板20は、光を透過可能な透明なガラス製基板である。ガラス基板20は、例えば石英ガラスやホウ珪酸ガラス等のガラス材料から構成され、ここではホウ珪酸ガラスが採用されている。ガラス基板20には、回路基板10の収容窓12の形状に沿って、複数の貫通ビア21が形成されている。   The glass substrate 20 is a transparent glass substrate that can transmit light. The glass substrate 20 is comprised from glass materials, such as quartz glass and borosilicate glass, for example, and the borosilicate glass is employ | adopted here. A plurality of through vias 21 are formed in the glass substrate 20 along the shape of the receiving window 12 of the circuit board 10.

ガラス基板20の下面(発光部31を搭載する搭載面とは反対側の面)には、ガラス基板側電極22が形成されている。ガラス基板側電極22は、貫通ビア21の外側に形成されている。また、ガラス基板側電極22は、回路基板10の収容窓12の外側に沿うように、形成されている。ガラス基板側電極22は、回路基板10の上面の回路基板側電極13と電気的に接続されることになる。貫通ビア21は、ガラス基板側電極22と発光部31及び駆動素子32との間の配線に用いられている。   A glass substrate side electrode 22 is formed on the lower surface of the glass substrate 20 (the surface opposite to the mounting surface on which the light emitting unit 31 is mounted). The glass substrate side electrode 22 is formed outside the through via 21. Further, the glass substrate side electrode 22 is formed along the outside of the accommodation window 12 of the circuit board 10. The glass substrate side electrode 22 is electrically connected to the circuit substrate side electrode 13 on the upper surface of the circuit substrate 10. The through via 21 is used for wiring between the glass substrate side electrode 22, the light emitting unit 31, and the driving element 32.

ガラス基板20の下面には、光路変換器40を位置決めするための2つの位置決め穴23が形成されている。この位置決め穴23は、ガラス基板20を貫通しておらず、非貫通穴となるように形成されている。位置決め穴23を非貫通穴にすることによって、位置決め穴23の上側に部品(例えば駆動素子32)を搭載したり、その部品への配線を配置したりすることが可能になり、ガラス基板20の上面における部品搭載や配線27の自由度が高くなる。   Two positioning holes 23 for positioning the optical path changer 40 are formed on the lower surface of the glass substrate 20. The positioning hole 23 does not penetrate the glass substrate 20 and is formed to be a non-through hole. By making the positioning hole 23 a non-through hole, it becomes possible to mount a component (for example, the drive element 32) on the upper side of the positioning hole 23 and to arrange a wiring to the component. The degree of freedom of component mounting and wiring 27 on the upper surface is increased.

ガラス基板20の上面には発光部31や駆動素子32等を実装するため、メタルパターンによる配線27が形成されている。但し、位置決め穴23の上方の領域(搭載面における位置決め穴23の裏側の領域;位置決め穴23と対向する搭載面の領域)には、メタルパターンによる配線27は形成されていない。これは、ガラス基板20の上側からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察するためである。なお、図3では、後側の位置決め穴23の上方に駆動素子32が描かれているが、後側の位置決め穴23の上方には2つの駆動素子32の間の隙間があり(図2A参照)、この隙間からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察可能である。   A wiring 27 made of a metal pattern is formed on the upper surface of the glass substrate 20 in order to mount the light emitting unit 31, the driving element 32, and the like. However, in the region above the positioning hole 23 (the region on the back side of the positioning hole 23 on the mounting surface; the region on the mounting surface facing the positioning hole 23), the wiring 27 made of a metal pattern is not formed. This is because the positioning hole 23 is observed from the upper side of the glass substrate 20 through the glass substrate 20. In FIG. 3, the drive element 32 is drawn above the rear positioning hole 23, but there is a gap between the two drive elements 32 above the rear positioning hole 23 (see FIG. 2A). ), The positioning hole 23 can be observed through the glass substrate 20 from the gap.

ガラス基板20の上面には、発光部31が実装されている。また、発光部31を駆動するための駆動素子32も、ガラス基板20の上面(発光部31の搭載面)に実装されている。発光部31と駆動素子32は、貫通ビア21の内側に配置されている。言い換えると、発光部31と駆動素子32は、回路基板10の収容窓12の上側に位置するように、ガラス基板20の上面に実装されている。   A light emitting unit 31 is mounted on the upper surface of the glass substrate 20. A driving element 32 for driving the light emitting unit 31 is also mounted on the upper surface of the glass substrate 20 (the mounting surface of the light emitting unit 31). The light emitting unit 31 and the driving element 32 are disposed inside the through via 21. In other words, the light emitting unit 31 and the driving element 32 are mounted on the upper surface of the glass substrate 20 so as to be positioned above the receiving window 12 of the circuit board 10.

発光部31は、光信号と電気信号とを変換する光電変換素子である。ここでは、発光部31として、基板に垂直な光を出射するVCSEL(Vertical Cavity Surface Emitting Laser:垂直共振器面発光レーザ)が採用されている。なお、光電変換素子として、光信号を電気信号に変換する受光部がガラス基板20に実装されても良い。また、発光部と受光部の両方がガラス基板20に実装されても良い。   The light emitting unit 31 is a photoelectric conversion element that converts an optical signal and an electrical signal. Here, a VCSEL (Vertical Cavity Surface Emitting Laser) that emits light perpendicular to the substrate is employed as the light emitting unit 31. Note that a light receiving unit that converts an optical signal into an electrical signal may be mounted on the glass substrate 20 as a photoelectric conversion element. Further, both the light emitting unit and the light receiving unit may be mounted on the glass substrate 20.

発光部31の発光部側電極31Aと発光面31Bは、下面(ガラス基板20の側の面)に形成されている。発光部31は、ガラス基板20にフリップチップ実装されており、ガラス基板20に向かって光を照射する。発光部31の発光部側電極31Aと発光面31Bが同じ側(ガラス基板20の側となる下面)に位置しているため、発光部31をガラス基板20にフリップチップ実装すれば、発光面31Bがガラス基板20の側を向き、発光面31Bが外部に露出しないことになる。   The light emitting unit side electrode 31A and the light emitting surface 31B of the light emitting unit 31 are formed on the lower surface (the surface on the glass substrate 20 side). The light emitting unit 31 is flip-chip mounted on the glass substrate 20 and irradiates light toward the glass substrate 20. Since the light emitting unit side electrode 31A and the light emitting surface 31B of the light emitting unit 31 are located on the same side (the lower surface on the side of the glass substrate 20), if the light emitting unit 31 is flip-chip mounted on the glass substrate 20, the light emitting surface 31B. Faces the glass substrate 20, and the light emitting surface 31B is not exposed to the outside.

なお、図3には発光部31の発光面31Bが1つ描かれているが、発光部31は、紙面と垂直な方向に並ぶ複数(例えば4つ)の発光面31Bを備えている。   3 shows one light emitting surface 31B of the light emitting unit 31, the light emitting unit 31 includes a plurality of (for example, four) light emitting surfaces 31B arranged in a direction perpendicular to the paper surface.

光路変換器40は、発光部31から照射された光の光路を変換する光学部品である。また、光路変換器40は、光ファイバ50の一端を支持し、発光部31と光ファイバ50との間の光路を透明基板と共に形成する支持部材としても機能する。光路変換器40は、ガラス基板20に対して位置決めされて取り付けられる部材である。光路変換器40は、回路基板10の下側から収容窓12に挿入されている。   The optical path converter 40 is an optical component that converts the optical path of the light emitted from the light emitting unit 31. The optical path converter 40 also functions as a support member that supports one end of the optical fiber 50 and forms the optical path between the light emitting unit 31 and the optical fiber 50 together with the transparent substrate. The optical path changer 40 is a member that is positioned and attached to the glass substrate 20. The optical path changer 40 is inserted into the receiving window 12 from the lower side of the circuit board 10.

光路変換器40は、レンズ部41と、反射部42とを備えている。レンズ部41は、光路変換器40の上面に形成されている。反射部42は、光路変換器40の下面に形成されている。   The optical path changer 40 includes a lens unit 41 and a reflection unit 42. The lens unit 41 is formed on the upper surface of the optical path changer 40. The reflection part 42 is formed on the lower surface of the optical path changer 40.

レンズ部41は、光を集束させられるように凸レンズ状に形成された部位である。但し、レンズ部41は、光路変換器40の上面から突出しないように、上面から窪んだ凹部に形成されている。レンズ部41を光路変換器40の上面から窪ませて形成されているので、レンズ部41がガラス基板20の下面に接触してしまうことを回避している。レンズ部41は、発光部31の照射した光を集束させて反射部42に導き、光を光ファイバ50に入射させる。ガラス基板20に受光部が実装されている場合には、レンズ部41は、反射部42から反射された光を受光部に集束させることになる。レンズ部41は、ガラス基板20を挟んで発光部31の発光面31Bと対向している。   The lens portion 41 is a portion formed in a convex lens shape so that light can be focused. However, the lens portion 41 is formed in a concave portion recessed from the upper surface so as not to protrude from the upper surface of the optical path changer 40. Since the lens portion 41 is formed to be recessed from the upper surface of the optical path changer 40, the lens portion 41 is prevented from coming into contact with the lower surface of the glass substrate 20. The lens unit 41 focuses the light emitted from the light emitting unit 31, guides the light to the reflecting unit 42, and causes the light to enter the optical fiber 50. When the light receiving unit is mounted on the glass substrate 20, the lens unit 41 focuses the light reflected from the reflecting unit 42 on the light receiving unit. The lens unit 41 faces the light emitting surface 31B of the light emitting unit 31 with the glass substrate 20 interposed therebetween.

反射部42は、光を反射させるための部位である。発光部31から照射された光の光軸は上下方向(回路基板10やガラス基板20などの基板に垂直な方向)であるが、反射部42で反射された光の光軸は前後方向(回路基板10やガラス基板20などの基板に平行な方向)になる。反射部42で反射された光は、光路変換器40に取り付けられた光ファイバ50に入射する。ガラス基板20に受光部が実装されている場合には、反射部42は、光ファイバ50から出射した光を反射してレンズ部41に導き、受光部に集束させることになる。   The reflection part 42 is a part for reflecting light. The optical axis of the light emitted from the light emitting unit 31 is the vertical direction (the direction perpendicular to the substrate such as the circuit board 10 or the glass substrate 20), but the optical axis of the light reflected by the reflecting unit 42 is the front-rear direction (circuit (Direction parallel to the substrate such as the substrate 10 or the glass substrate 20). The light reflected by the reflection unit 42 enters the optical fiber 50 attached to the optical path changer 40. When the light receiving part is mounted on the glass substrate 20, the reflecting part 42 reflects the light emitted from the optical fiber 50, guides it to the lens part 41, and focuses it on the light receiving part.

なお、図中の反射部42は、反射光の光軸が前後方向(回路基板10やガラス基板20などの基板に平行な方向)になるように描かれている。但し、反射部42は、90度に光を反射するものに限られない。反射部42が光を鈍角(例えば100度程度)に反射するように構成されていても良い。光軸が上下方向(回路基板10やガラス基板20などの基板に垂直な方向)であった光が前後方向(回路基板10やガラス基板20などの基板に平行な方向)の成分を持つように反射されれば良い。例えば、光ファイバ50の根元が光路変換器40の比較的上部にある場合や、光路変換器40の厚さが回路基板10の厚さよりも薄い場合に、光路変換器40から光ファイバ50を引き出しやすくするため、反射部42が光を鈍角に反射するように構成すると良い。   In addition, the reflection part 42 in a figure is drawn so that the optical axis of reflected light may become the front-back direction (direction parallel to substrates, such as the circuit board 10 and the glass substrate 20). However, the reflection part 42 is not restricted to what reflects light at 90 degree | times. The reflection unit 42 may be configured to reflect light at an obtuse angle (for example, about 100 degrees). The light whose optical axis is in the vertical direction (direction perpendicular to the substrate such as the circuit board 10 or the glass substrate 20) has a component in the front-rear direction (direction parallel to the substrate such as the circuit board 10 or the glass substrate 20). It only has to be reflected. For example, when the root of the optical fiber 50 is relatively above the optical path converter 40 or when the thickness of the optical path converter 40 is thinner than the thickness of the circuit board 10, the optical fiber 50 is pulled out from the optical path converter 40. In order to facilitate, it is preferable that the reflecting portion 42 be configured to reflect light at an obtuse angle.

光ファイバ50は、光路変換器40のレンズ部41及び反射部42に対して所定の位置関係になるように位置合わせされて取り付けられている。   The optical fiber 50 is aligned and attached so as to have a predetermined positional relationship with respect to the lens portion 41 and the reflecting portion 42 of the optical path changer 40.

図中の光路変換器40には、光が入射する部位だけにレンズ部41が設けられている。但し、光が出射する部位(光ファイバ50の端部と対向する部位)にもレンズ部を設け、光路変換器40が2つのレンズ部を備えても良い。そして、2つのレンズ部をコリメータレンズとすれば、光路変換器40の中で平行光を伝搬させることができる。   In the optical path changer 40 in the figure, a lens portion 41 is provided only at a site where light enters. However, a lens part may be provided also in a part where light is emitted (part facing the end of the optical fiber 50), and the optical path converter 40 may be provided with two lens parts. If the two lens portions are collimator lenses, parallel light can be propagated in the optical path changer 40.

光路変換器40の上面には、ガラス基板20の位置決め穴23に挿入するための2つの位置決めピン43が突出して形成されている。光路変換器40の位置決めピン43がガラス基板20の位置決め穴23に嵌合することによって、光路変換器40のレンズ部41の光軸とガラス基板20に実装された発光部31の光軸との位置合わせが行われる。   On the upper surface of the optical path changer 40, two positioning pins 43 for insertion into the positioning holes 23 of the glass substrate 20 are formed so as to protrude. The positioning pin 43 of the optical path converter 40 is fitted into the positioning hole 23 of the glass substrate 20, whereby the optical axis of the lens unit 41 of the optical path converter 40 and the optical axis of the light emitting unit 31 mounted on the glass substrate 20. Alignment is performed.

光路変換器40は、樹脂により一体成形されている。つまり、光路変換器40のレンズ部41、反射部42及び位置決めピン43は、樹脂により一体的に形成されている。また、光路変換器40は、光を透過可能な樹脂により成型され、ここではポリエーテルイミド樹脂が用いられている。   The optical path converter 40 is integrally formed of resin. That is, the lens part 41, the reflection part 42, and the positioning pin 43 of the optical path changer 40 are integrally formed of resin. Moreover, the optical path changer 40 is shape | molded by resin which can permeate | transmit light, and here polyetherimide resin is used.

なお、光路変換器40は、反射部42の面積を確保するため、また、光ファイバ50の端部を接続するための面積を確保するため、他と比べると厚い部品になっている。しかし、厚みのある光路変換器40の上部を収容窓12の中に配置させることによって、回路基板10、ガラス基板20及び光路変換器40を単に積み重ねて配置した場合(若しくは、中継基板を介してガラス基板20及び光路変換器40を回路基板10に取り付けた場合)と比べて、光モジュールの低背化が実現されている。   The optical path changer 40 is a thicker part than the other parts in order to secure the area of the reflection part 42 and to secure the area for connecting the end of the optical fiber 50. However, when the circuit board 10, the glass substrate 20, and the optical path changer 40 are simply stacked by arranging the upper part of the thick optical path changer 40 in the housing window 12 (or via a relay board). Compared with the case where the glass substrate 20 and the optical path changer 40 are attached to the circuit board 10), the height of the optical module is reduced.

<位置決め穴23と位置決めピン43について>
図4A及び図4Bは、位置決め穴23と位置決めピン43の断面図である。
ガラス基板20には、非貫通の位置決め穴23が形成されている。位置決め穴23を非貫通穴にすることによって、ガラス基板20の上面における部品搭載や配線27の自由度が高くなる。ガラス基板20への位置決め穴23の形成方法には、低コストのサンドブラスト加工が採用されている。サンドブラスト加工によってガラス基板20に非貫通穴を形成しているため、位置決め穴23は奥の窄まった形状になる。
<About positioning hole 23 and positioning pin 43>
4A and 4B are cross-sectional views of the positioning hole 23 and the positioning pin 43. FIG.
A non-penetrating positioning hole 23 is formed in the glass substrate 20. By making the positioning hole 23 a non-through hole, the degree of freedom of component mounting and wiring 27 on the upper surface of the glass substrate 20 is increased. As a method for forming the positioning hole 23 in the glass substrate 20, low-cost sand blasting is employed. Since the non-through hole is formed in the glass substrate 20 by sandblasting, the positioning hole 23 has a deep shape.

光路変換器40にはテーパ面43Aを有する円錐台形状の位置決めピン43が形成されている。位置決めピン43のテーパ面43Aが位置決め穴23の開口(縁)と隙間無く接触できるので、位置決めピン43の軸方向に垂直な方向の位置決め誤差を抑制でき、光軸の位置ずれ誤差を抑制できる。   The optical path changer 40 is formed with a frustoconical positioning pin 43 having a tapered surface 43A. Since the taper surface 43A of the positioning pin 43 can contact the opening (edge) of the positioning hole 23 without a gap, the positioning error in the direction perpendicular to the axial direction of the positioning pin 43 can be suppressed, and the positional deviation error of the optical axis can be suppressed.

位置決め穴23の開口径と、位置決めピン43の根元の径は、ほぼ同じである。但し、位置決めピン43のテーパ面43Aを位置決め穴23の開口(縁)に接触させるため、位置決め穴23の開口径が位置決めピン43の根元の径を越えないように、それぞれの径の公差が定められている。つまり、テーパ面43Aを有する位置決めピン43の根元の径は、位置決め穴23の開口径よりも大きい。このため、位置決め部材(位置決め穴23及び位置決めピン43)を上側から見ると、位置決めピン43の根元の角部は、位置決め穴23の開口部の縁よりも外側に位置することになる。   The opening diameter of the positioning hole 23 and the root diameter of the positioning pin 43 are substantially the same. However, since the tapered surface 43A of the positioning pin 43 is brought into contact with the opening (edge) of the positioning hole 23, the tolerance of each diameter is determined so that the opening diameter of the positioning hole 23 does not exceed the root diameter of the positioning pin 43. It has been. That is, the base diameter of the positioning pin 43 having the tapered surface 43 </ b> A is larger than the opening diameter of the positioning hole 23. For this reason, when the positioning member (positioning hole 23 and positioning pin 43) is viewed from above, the corner of the base of the positioning pin 43 is positioned outside the edge of the opening of the positioning hole 23.

図5Aは、位置決めピン43の根元近傍の拡大図である。
図5Aに示すように、位置決めピン43の根元の周りを囲むように、光路変換器40の上面に環状の凹部43Bが形成されている。更に、凹部43Bの内側の側壁面は、円錐台形状の位置決めピン43のテーパ面43Aの延長面になっている。つまり、位置決めピン43のテーパ面43Aが光路変換器40の上面よりも内側(位置決めピン43の突出する側と反対側)まで形成されている。
位置決めピン43の根元に凹部43Bを形成することによって、上側から見たときに、位置決め穴23の開口部の縁(A)と、位置決めピン43の根元の角部(B)との間隔Lが大きくなる(図5A参照)。言い換えると、テーパ面43Aを有する位置決めピン43の根元の径と、位置決め穴23の開口径との差が大きくなる。これにより、後述するように、上側からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察したときに、位置決め穴23の開口部の縁(A)と、位置決めピン43の根元の角部(B)とを識別しやすくなる。
FIG. 5A is an enlarged view of the vicinity of the root of the positioning pin 43.
As shown in FIG. 5A, an annular recess 43 </ b> B is formed on the upper surface of the optical path converter 40 so as to surround the base of the positioning pin 43. Furthermore, the inner side wall surface of the recess 43 </ b> B is an extended surface of the tapered surface 43 </ b> A of the truncated conical positioning pin 43. That is, the taper surface 43 </ b> A of the positioning pin 43 is formed to the inner side (the side opposite to the side where the positioning pin 43 protrudes) from the upper surface of the optical path changer 40.
By forming the recess 43B at the base of the positioning pin 43, the distance L between the edge (A) of the opening of the positioning hole 23 and the corner (B) of the base of the positioning pin 43 when viewed from above. It becomes larger (see FIG. 5A). In other words, the difference between the base diameter of the positioning pin 43 having the tapered surface 43A and the opening diameter of the positioning hole 23 increases. Thereby, as will be described later, when the positioning hole 23 is observed from the upper side through the glass substrate 20, the edge (A) of the opening of the positioning hole 23 and the corner (B) at the base of the positioning pin 43 are It becomes easy to identify.

図5Bは、参考例の位置決めピン43の根元近傍の拡大図である。参考例の位置決めピン43には、凹部43Bが形成されていない。この結果、上側から見たときに、位置決め穴23の開口部の縁と、位置決めピン43の根元の角部との間隔Lが小さくなり、両者を識別しにくくなる。   FIG. 5B is an enlarged view of the vicinity of the root of the positioning pin 43 of the reference example. The positioning pin 43 of the reference example has no recess 43B. As a result, when viewed from the upper side, the distance L between the edge of the opening of the positioning hole 23 and the corner of the base of the positioning pin 43 becomes small, making it difficult to identify both.

図5Cは、参考例の位置決めピン43の根元近傍の拡大図である。光路変換器40は透明樹脂によって一体的に成形されており、位置決めピン43も光路変換器40の他の部位と一体的に成形されているため、図5Cに示すように、位置決めピン43の根元の角部(図中の矢印で示す部分)が丸みを帯びてしまうことがある。この丸みは、位置決めピン43の周囲に均等に形成されるわけではないため(位置決めピン43の根元の丸みは制御できないため)、この部分が位置決め穴23に接触すると、位置決め穴23や位置決めピン43の軸方向に垂直な方向の位置ずれの要因になり、ガラス基板20側の光軸(発光部31から照射される光の光軸)と、光路変換器40側の光軸(レンズ部41の光軸)との位置ずれの要因になり得る。これに対し、図5Aに示すように、位置決めピン43の根元の周りを囲むように、光路変換器40の上面に環状の凹部43Bが形成されていれば、位置決めピン43の根元の角部が丸みを帯びても、位置決めピン43の根元の丸みを帯びた角部が位置決め穴23に接触することを防ぐことができるという効果が得られる。
加えて、位置決め穴23と位置決めピン43とが接触したときに摩耗粉が発生しても、摩耗粉が凹部43Bに入り込むため、摩耗粉が位置決めを阻害することを抑制できるという効果も得られる。
FIG. 5C is an enlarged view of the vicinity of the root of the positioning pin 43 of the reference example. Since the optical path changer 40 is integrally formed of a transparent resin, and the positioning pin 43 is also integrally formed with other parts of the optical path changer 40, as shown in FIG. Corners (portions indicated by arrows in the figure) may be rounded. Since this roundness is not formed uniformly around the positioning pin 43 (because the roundness at the base of the positioning pin 43 cannot be controlled), when this portion comes into contact with the positioning hole 23, the positioning hole 23 or the positioning pin 43 The optical axis on the glass substrate 20 side (the optical axis of the light emitted from the light emitting unit 31) and the optical axis on the optical path changer 40 side (of the lens unit 41). This may cause a positional deviation from the optical axis. On the other hand, as shown in FIG. 5A, if the annular recess 43B is formed on the upper surface of the optical path converter 40 so as to surround the base of the positioning pin 43, the corner of the base of the positioning pin 43 is Even if rounded, the effect that the rounded corner of the positioning pin 43 can be prevented from coming into contact with the positioning hole 23 is obtained.
In addition, even if wear powder is generated when the positioning hole 23 and the positioning pin 43 are in contact with each other, the wear powder enters the concave portion 43B, so that the effect that the wear powder can inhibit positioning is also obtained.

<光モジュール1の製造方法>
図6は、光モジュール1の製造方法のフロー図である。図7A及び図7Bは、位置決め穴23に位置決めピン43を挿入し、ガラス基板20と光路変換器40とを位置決めする様子の概略説明図である。
<Method for Manufacturing Optical Module 1>
FIG. 6 is a flowchart of the method for manufacturing the optical module 1. FIGS. 7A and 7B are schematic explanatory views showing a state where the positioning pins 43 are inserted into the positioning holes 23 and the glass substrate 20 and the optical path changer 40 are positioned.

まず、光モジュール1を構成する部品を準備する(S001)。準備する部品は、ガラス基板20を上面に搭載した回路基板10と、光路変換器40である。図7A及び図7Bに示すように、回路基板10には収容窓12が形成されており、この収容窓12を塞ぐように、ガラス基板20が回路基板10の上面に搭載されている。ガラス基板20の下面には、非貫通の位置決め穴23が形成されており、ガラス基板20の上面には、光電変換素子として発光部31が搭載されている。光路変換器40の上面には位置決めピン43が形成されている。S001の作業は、作業者の手で行われても良いし、組み立て機によって行われても良い。   First, parts constituting the optical module 1 are prepared (S001). The parts to be prepared are the circuit board 10 on which the glass substrate 20 is mounted on the upper surface, and the optical path converter 40. As shown in FIGS. 7A and 7B, the circuit board 10 has an accommodation window 12, and a glass substrate 20 is mounted on the upper surface of the circuit board 10 so as to close the accommodation window 12. A non-penetrating positioning hole 23 is formed on the lower surface of the glass substrate 20, and a light emitting unit 31 is mounted on the upper surface of the glass substrate 20 as a photoelectric conversion element. Positioning pins 43 are formed on the upper surface of the optical path changer 40. The operation of S001 may be performed by an operator's hand or may be performed by an assembly machine.

次に、ガラス基板20と光路変換器40とを位置決めする(S002)。このとき、図7A及び図7Bに示すように、光路変換器40の上部を回路基板10の収容窓12の中に配置させながら、ガラス基板20の位置決め穴23に光路変換器40の位置決めピン43を挿入することによって、ガラス基板20と光路変換器40とを位置決めする。S002の作業は、作業者の手で行われても良いし、組み立て機によって行われても良い。   Next, the glass substrate 20 and the optical path changer 40 are positioned (S002). At this time, as shown in FIGS. 7A and 7B, the positioning pin 43 of the optical path converter 40 is inserted into the positioning hole 23 of the glass substrate 20 while the upper portion of the optical path converter 40 is disposed in the receiving window 12 of the circuit board 10. The glass substrate 20 and the optical path changer 40 are positioned by inserting. The operation in S002 may be performed by the operator's hand or may be performed by an assembly machine.

次に、カメラがガラス基板20の上側(位置決め穴23のある面とは反対側)から、ガラス基板20越しに位置決め穴23を観察する(S003)。   Next, the camera observes the positioning hole 23 through the glass substrate 20 from the upper side of the glass substrate 20 (the side opposite to the surface having the positioning hole 23) (S003).

図8は、S003での撮影の様子の説明図である。第1実施形態では、位置決め穴23に位置決めピン43が挿入されている状態で、ガラス基板20越しに位置決め穴23を観察することになる。   FIG. 8 is an explanatory diagram of a state of shooting in S003. In the first embodiment, the positioning hole 23 is observed through the glass substrate 20 with the positioning pin 43 inserted in the positioning hole 23.

ガラス基板20の上面には発光部31や駆動素子32等を実装するため、メタルパターンによる配線27が形成されている。また、メタルパターンを保護するための保護膜28も形成されている。但し、位置決め穴23の上方の領域(搭載面における位置決め穴23の裏側の領域;位置決め穴23と対向する搭載面の領域)には、メタルパターンによる配線27は形成されていない。これにより、ガラス基板20の上側からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察することが可能になる。なお、ガラス基板20の上側からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察することが可能であれば、位置決め穴23の上方に透明(又は半透明)の保護膜28を形成しても良い。   A wiring 27 made of a metal pattern is formed on the upper surface of the glass substrate 20 in order to mount the light emitting unit 31, the driving element 32, and the like. A protective film 28 for protecting the metal pattern is also formed. However, in the region above the positioning hole 23 (the region on the back side of the positioning hole 23 on the mounting surface; the region on the mounting surface facing the positioning hole 23), the wiring 27 made of a metal pattern is not formed. Thereby, the positioning hole 23 can be observed from the upper side of the glass substrate 20 through the glass substrate 20. If the positioning hole 23 can be observed from the upper side of the glass substrate 20 through the glass substrate 20, a transparent (or translucent) protective film 28 may be formed above the positioning hole 23.

S003では、ガラス基板20の上側で位置決め穴23と対向するようにカメラを設置し、位置決め穴23の開口部の縁と、位置決めピン43の根元の角部とが観察範囲に含まれるように、カメラを設定する。また、位置決め穴23の開口部の縁と、位置決めピン43の根元の角部とが撮像されるように、カメラの焦点面を位置決め穴23の開口部(ガラス基板20の下面)の近傍に合わせる。   In S003, the camera is set to face the positioning hole 23 on the upper side of the glass substrate 20, and the edge of the opening of the positioning hole 23 and the corner of the base of the positioning pin 43 are included in the observation range. Set up the camera. In addition, the focal plane of the camera is matched with the vicinity of the opening of the positioning hole 23 (the lower surface of the glass substrate 20) so that the edge of the opening of the positioning hole 23 and the corner of the base of the positioning pin 43 are imaged. .

図9A及び図9Bは、上側からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察したときの観察画像(写真)である。図9Aは、正常時の観察画像である。図9Bは、異常時(位置決めピン43がずれて挿入されているとき)の観察画像である。図10は観察画像(写真)の状況説明図である。図10の上側の写真はS003で観察された観察画像であり、下側の写真は断面写真である。図10の下側の写真は、S003で観察された写真ではなく、上側の観察画像を説明するための参考写真である。図11は、図10を線図で表したものである。   9A and 9B are observation images (photographs) when the positioning hole 23 is observed from the upper side through the glass substrate 20. FIG. 9A is an observation image in a normal state. FIG. 9B is an observation image at the time of abnormality (when the positioning pin 43 is shifted and inserted). FIG. 10 is an explanatory diagram of the situation of the observation image (photograph). The upper photograph in FIG. 10 is an observation image observed in S003, and the lower photograph is a cross-sectional photograph. The lower photograph in FIG. 10 is not a photograph observed in S003 but a reference photograph for explaining the upper observed image. FIG. 11 is a diagram representing FIG. 10.

図9A及び図9Bの観察画像の中央の濃度の濃い領域は、位置決め穴23の開口部よりも内側の領域である。位置決め穴23はガラス基板20にサンドブラスト加工で形成されており、位置決め穴23の内面にチッピングと呼ばれる微小な凹凸が形成されているため、濃度の濃い領域の輪郭が粗くなっている。位置決めピン43は、樹脂成形で形成されており、サンドブラスト加工と比べると加工精度が高いため、位置決めピン43の凹部43Bの輪郭は滑らかである。   The dark region at the center of the observation images in FIGS. 9A and 9B is a region inside the opening of the positioning hole 23. The positioning hole 23 is formed in the glass substrate 20 by sandblasting, and minute irregularities called chipping are formed on the inner surface of the positioning hole 23, so that the contour of the region having a high density is rough. Since the positioning pin 43 is formed by resin molding and has higher processing accuracy than sandblasting, the contour of the recess 43B of the positioning pin 43 is smooth.

位置決めピン43がテーパ面43Aを有しており、テーパ面43Aを有する位置決めピン43の根元の径が、位置決め穴23の開口径よりも大きいため(位置決め穴23の開口径が位置決めピン43の根元の径を越えないようにそれぞれの径の公差が定められているため)、位置決めピン43の根元の角部が位置決め穴23の開口部の縁よりも外側に位置するように、観察される。また、位置決めピン43の根元に凹部43Bが形成されているため、図9A及び図9Bに示される通り、位置決め穴23の開口部の縁と、位置決めピン43の根元の角部とが識別しやすく観察される(図5Aも参照)。   Since the positioning pin 43 has a tapered surface 43A and the diameter of the root of the positioning pin 43 having the tapered surface 43A is larger than the opening diameter of the positioning hole 23 (the opening diameter of the positioning hole 23 is the root of the positioning pin 43). Therefore, it is observed that the corner of the base of the positioning pin 43 is located outside the edge of the opening of the positioning hole 23. Further, since the recess 43B is formed at the base of the positioning pin 43, the edge of the opening of the positioning hole 23 and the corner of the base of the positioning pin 43 can be easily identified as shown in FIGS. 9A and 9B. Observed (see also FIG. 5A).

次に、画像処理装置(コンピュータ)が観察画像を画像処理する(S004)。ここでは、画像処理装置は、観察画像に対して輪郭抽出処理を行い、位置決め穴23の開口部の縁の輪郭と、位置決めピン43の根元の角部の輪郭を抽出する。   Next, the image processing apparatus (computer) performs image processing on the observation image (S004). Here, the image processing device performs contour extraction processing on the observation image, and extracts the contour of the edge of the opening of the positioning hole 23 and the contour of the corner of the root of the positioning pin 43.

図12Aは、図9Aの観察画像の輪郭抽出画像であり、正常時の輪郭抽出画像である。図12Bは、図9Bの観察画像の輪郭抽出画像であり、異常時の輪郭抽出画像である。図中の内側の輪郭線は、位置決め穴23の開口部の縁を示している。図中の外側の輪郭線は、位置決めピン43の根元の角部を示している。   FIG. 12A is a contour extraction image of the observation image of FIG. 9A, and is a contour extraction image in a normal state. FIG. 12B is a contour extraction image of the observation image of FIG. 9B and is a contour extraction image at the time of abnormality. The inner contour line in the figure indicates the edge of the opening of the positioning hole 23. The outer contour line in the figure shows the corner of the base of the positioning pin 43.

位置決めピン43がテーパ面43Aを有するため、テーパ面43Aを有する位置決めピン43の根元の径が、位置決め穴23の開口径よりも大きい。この結果、位置決めピン43の根元の角部を示す輪郭線が、位置決め穴23の開口部の縁を示す輪郭線の外側に表れる。つまり、2つの輪郭線が識別しやすくなる。   Since the positioning pin 43 has the tapered surface 43 </ b> A, the root diameter of the positioning pin 43 having the tapered surface 43 </ b> A is larger than the opening diameter of the positioning hole 23. As a result, a contour line indicating the corner of the base of the positioning pin 43 appears outside the contour line indicating the edge of the opening of the positioning hole 23. That is, it becomes easy to identify two contour lines.

更に、位置決めピン43の根元に凹部43Bが形成されていることによって、テーパ面43Aを有する位置決めピン43の根元の径と、位置決め穴23の開口径との差が大きくなる。この結果、図12A及び図12Bに示される通り、2つの輪郭線の間隔が広がり、2つの輪郭線が更に識別しやすくなる。   Further, since the recess 43B is formed at the base of the positioning pin 43, the difference between the diameter of the positioning pin 43 having the tapered surface 43A and the opening diameter of the positioning hole 23 is increased. As a result, as shown in FIGS. 12A and 12B, the interval between the two contour lines is widened, and the two contour lines are further easily identified.

次に、位置決め穴23における位置決めピン43の挿入状態を検査する(S005)。位置決めピン43の挿入状態が正常であれば、図12Aに示すように、2つの輪郭線はほぼ同心円状になり、2つの輪郭線の間隔はほぼ均等になる。これに対し、位置決めピン43の挿入状態が異常であれば、図12Bに示すように、2つの輪郭線の間隔に広狭ができる。このため、S005では、2つの輪郭線の間隔が均等か否かに応じて、位置決めピン43の挿入状態を検査する。なお、この検査作業は、作業者が目視で行っても良いし、画像処理装置(コンピュータ)が輪郭抽出画像に基づいて行っても良い。   Next, the insertion state of the positioning pin 43 in the positioning hole 23 is inspected (S005). If the insertion state of the positioning pin 43 is normal, as shown in FIG. 12A, the two contour lines are substantially concentric, and the distance between the two contour lines is substantially uniform. On the other hand, if the insertion state of the positioning pin 43 is abnormal, the interval between the two contour lines can be widened as shown in FIG. 12B. For this reason, in S005, the insertion state of the positioning pin 43 is inspected according to whether or not the interval between the two contour lines is equal. This inspection work may be performed visually by the operator, or may be performed by an image processing apparatus (computer) based on the contour extraction image.

位置決めピン43の挿入状態が異常であれば、ガラス基板20と光路変換器40との位置決めをやり直す(S002に戻る)。位置決めピン43の挿入状態が正常であれば、ガラス基板20に対して光路変換器40を固定する(S006)。   If the insertion state of the positioning pin 43 is abnormal, the positioning of the glass substrate 20 and the optical path converter 40 is performed again (return to S002). If the insertion state of the positioning pin 43 is normal, the optical path converter 40 is fixed to the glass substrate 20 (S006).

図13は、光路変換器40の固定方法の説明図である。
作業者又は組み立て機は、図に示すように、回路基板10と光路変換器40との間に接着剤65として紫外線硬化樹脂を塗布し、紫外線硬化樹脂に紫外線を照射し、接着剤65を硬化させる。つまり、光路変換器40は、回路基板10に接着剤65で固定されることによって、間接的にガラス基板20に対して固定される。但し、別の固定方法を採用して、光路変換器40をガラス基板20に直接的に固定しても良い。
FIG. 13 is an explanatory diagram of a method for fixing the optical path changer 40.
As shown in the figure, the worker or the assembling machine applies an ultraviolet curable resin as an adhesive 65 between the circuit board 10 and the optical path changer 40, irradiates the ultraviolet curable resin with ultraviolet rays, and cures the adhesive 65. Let That is, the optical path changer 40 is indirectly fixed to the glass substrate 20 by being fixed to the circuit board 10 with the adhesive 65. However, another fixing method may be adopted to fix the optical path changer 40 directly to the glass substrate 20.

最後に、光モジュール1の品質検査が行われる(S007)。例えば、光モジュール1に信号を出力させ、出力信号の正否が検査される。仮にガラス基板20と光路変換器40との位置決め精度が悪いと、出力信号が異常になり光モジュール1が不良品になってしまう。これに対し、本実施形態では、ガラス基板20越しに位置決め穴23を観察し(S003)、位置決めピン43の挿入状態を確認した上で光モジュール1が製造されているため、不良率が低くなる(歩留まりが高くなる)。   Finally, quality inspection of the optical module 1 is performed (S007). For example, the optical module 1 is made to output a signal, and whether the output signal is correct or not is inspected. If the positioning accuracy between the glass substrate 20 and the optical path changer 40 is poor, the output signal becomes abnormal and the optical module 1 becomes a defective product. On the other hand, in this embodiment, the positioning hole 23 is observed through the glass substrate 20 (S003), and the optical module 1 is manufactured after confirming the insertion state of the positioning pins 43, so the defect rate is reduced. (Higher yield)

なお、光モジュール1が不良品の場合にガラス基板20と光路変換器40との位置決めをやり直す場合、これまでの組み立て工程が無駄になってしまうが、本実施形態では歩留まりが高くなるため、このような無駄を軽減できる。また、本実施形態では歩留まりが高くなるため、ガラス基板20と光路変換器40との位置決めをやり直すために接着剤65を剥がすことも少なくなる。   Note that when the positioning of the glass substrate 20 and the optical path changer 40 is performed again when the optical module 1 is a defective product, the previous assembly process is wasted, but in this embodiment, the yield is increased. Such waste can be reduced. Further, in this embodiment, since the yield is high, it is less likely that the adhesive 65 is peeled off in order to reposition the glass substrate 20 and the optical path converter 40.

上記の第1実施形態によれば、ガラス基板20の位置決め穴23に光路変換器40の位置決めピン40を挿入してガラス基板20と光路変換器40とを位置決めした後(S002)、ガラス基板20の上側(位置決め穴のある面とは反対側)からガラス基板20越しに位置決め穴23をカメラで観察している。これにより、位置決めピン43の挿入状態(嵌合状態)を検査することが可能になる。   According to the first embodiment, after positioning the glass substrate 20 and the optical path converter 40 by inserting the positioning pins 40 of the optical path converter 40 into the positioning holes 23 of the glass substrate 20 (S002), the glass substrate 20 The positioning hole 23 is observed with a camera through the glass substrate 20 from the upper side (the side opposite to the surface having the positioning hole). As a result, the insertion state (fitting state) of the positioning pin 43 can be inspected.

また、第1実施形態によれば、位置決めピン43がテーパ面43Aを有するため、テーパ面43Aを有する位置決めピン43の根元の径が、位置決め穴23の開口径よりも大きくなる。この結果、位置決めピン43の根元の角部が位置決め穴23の開口部の縁よりも外側に位置するように観察されるので、観察画像に基づいて位置決めピン43の挿入状態を検査しやすくなる。   In addition, according to the first embodiment, since the positioning pin 43 has the tapered surface 43 </ b> A, the base diameter of the positioning pin 43 having the tapered surface 43 </ b> A is larger than the opening diameter of the positioning hole 23. As a result, since the corner of the base of the positioning pin 43 is observed so as to be located outside the edge of the opening of the positioning hole 23, the insertion state of the positioning pin 43 can be easily inspected based on the observation image.

更に、第1実施形態によれば、位置決めピン43の根元に凹部43Bが形成されているため、テーパ面43Aを有する位置決めピン43の根元の径と、位置決め穴23の開口径との差が大きくなる。この結果、更に挿入状態を検査しやすくなる。   Furthermore, according to the first embodiment, since the recess 43B is formed at the root of the positioning pin 43, the difference between the root diameter of the positioning pin 43 having the tapered surface 43A and the opening diameter of the positioning hole 23 is large. Become. As a result, it becomes easier to inspect the insertion state.

===第2実施形態===
図14は、第2実施形態の光モジュール1の製造方法のフロー図である。
まず、光モジュール1を構成する部品を準備する(S101)。第1実施形態と同様に、準備する部品は、ガラス基板20を上面に搭載した回路基板10と、光路変換器40である。
=== Second Embodiment ===
FIG. 14 is a flowchart of the manufacturing method of the optical module 1 of the second embodiment.
First, components that constitute the optical module 1 are prepared (S101). As in the first embodiment, the components to be prepared are the circuit board 10 on which the glass substrate 20 is mounted on the upper surface, and the optical path converter 40.

次に、ガラス基板20の上側(位置決め穴23のある面とは反対側)からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察し、観察画像の解析結果に基づいて位置決め穴23に対して位置決めピン43を前後方向及び左右方向(ガラス基板20の下面と平行な方向)に位置合わせする(S102)。これにより、ガラス基板20と光路変換器40とが前後方向及び左右方向に位置合わせされる。   Next, the positioning hole 23 is observed through the glass substrate 20 from the upper side of the glass substrate 20 (the side opposite to the surface having the positioning hole 23), and the positioning pin 43 is positioned with respect to the positioning hole 23 based on the analysis result of the observation image. Are aligned in the front-rear direction and the left-right direction (direction parallel to the lower surface of the glass substrate 20) (S102). Thereby, the glass substrate 20 and the optical path changer 40 are aligned in the front-rear direction and the left-right direction.

図15Aは、S102での観察の様子の説明図である。第2実施形態では、位置決め穴23に位置決めピン43を挿入する前に、ガラス基板20越しに位置決め穴23が観察されることになる。カメラの焦点面は、位置決め穴23に挿入する前の位置決めピン43の頂部の近傍に合わせられる。   FIG. 15A is an explanatory diagram of a state of observation in S102. In the second embodiment, the positioning hole 23 is observed through the glass substrate 20 before the positioning pin 43 is inserted into the positioning hole 23. The focal plane of the camera is matched with the vicinity of the top of the positioning pin 43 before being inserted into the positioning hole 23.

図15Bは、第2実施形態の位置決めピン43の説明図である。第2実施形態の位置決めピン43の頂部には、アライメントマーク44が形成されている。第2実施形態では、組み立て機は、位置決めピン43を位置決め穴23の開口部の近傍に配置した後、ガラス基板20越しに位置決め穴23の開口部の縁と位置決めピン43のアライメントマーク44とをカメラで観察する。組み立て機の画像処理装置は、観察画像に基づいて、位置決め穴23の開口部の縁の位置と、位置決めピン43のアライメントマーク44の位置とを算出する。そして、組み立て機は、その算出結果に基づいて、位置決め穴23に対して位置決めピン43を位置合わせする。   FIG. 15B is an explanatory diagram of the positioning pin 43 of the second embodiment. An alignment mark 44 is formed on the top of the positioning pin 43 of the second embodiment. In the second embodiment, the assembly machine places the positioning pin 43 in the vicinity of the opening of the positioning hole 23, and then inserts the edge of the opening of the positioning hole 23 and the alignment mark 44 of the positioning pin 43 through the glass substrate 20. Observe with camera. The image processing apparatus of the assembly machine calculates the position of the edge of the opening of the positioning hole 23 and the position of the alignment mark 44 of the positioning pin 43 based on the observation image. Then, the assembly machine aligns the positioning pin 43 with respect to the positioning hole 23 based on the calculation result.

次に、組み立て機は、ガラス基板20の位置決め穴23に光路変換器40の位置決めピン43を挿入することによって、ガラス基板20と光路変換器40とを位置決めする(S103)。第2実施形態では、S102において位置決め穴23と位置決めピン43とを予め位置合わせした状態で、位置決め穴23に位置決めピン43を挿入することになる。これにより、位置決め穴23に位置決めピン43が正常に挿入され、ガラス基板20と光路変換器40との位置決め精度が高くなる。   Next, the assembly machine positions the glass substrate 20 and the optical path converter 40 by inserting the positioning pins 43 of the optical path converter 40 into the positioning holes 23 of the glass substrate 20 (S103). In the second embodiment, the positioning pin 43 is inserted into the positioning hole 23 in a state where the positioning hole 23 and the positioning pin 43 are previously aligned in S102. Thereby, the positioning pin 43 is normally inserted in the positioning hole 23, and the positioning accuracy of the glass substrate 20 and the optical path converter 40 becomes high.

また、予め位置合わせした状態で位置決め穴23に位置決めピン43を挿入すると、以下に説明するように、位置決め部材(位置決め穴23や位置決めピン43)が損傷しにくくなり、また、位置決め部材から摩耗粉が発生しにくくなるという効果も得られる。
図16A及び図16Bは、位置合わせしない状態で位置決め穴23に位置決めピン43を挿入した場合の比較例の説明図である。位置決め穴23と位置決めピン43とを位置合わせしない状態では、位置決め穴23の中心軸に対して位置決めピン43の中心軸がずれている(図16A参照)。このような状態で位置決め穴23に位置決めピン43を挿入すると、位置決め穴23の縁に位置決めピン43が接触し、位置決め部材(位置決め穴23及び位置決めピン)が損傷するおそれがある。特に、テーパ面43Aを有する樹脂製の位置決めピン43をガラス基板20の位置決め穴23に挿入すると、樹脂製のテーパ面43Aがガラスのエッジ(位置決め穴23の縁)で削られて、位置決めピン43のテーパ面43Aが摩耗し(図16B参照)、この結果、摩耗粉が発生するおそれがある。これに対し、第2実施形態では、予め位置合わせした状態で位置決め穴23に位置決めピン43を挿入するため、位置決め部材(位置決め穴23や位置決めピン43)が損傷しにくくなり、また、位置決め部材から摩耗粉が発生しにくくなる。
Further, if the positioning pin 43 is inserted into the positioning hole 23 in a pre-aligned state, the positioning member (the positioning hole 23 and the positioning pin 43) is less likely to be damaged, as described below. The effect that it becomes difficult to generate | occur | produce is also acquired.
16A and 16B are explanatory diagrams of a comparative example in which the positioning pin 43 is inserted into the positioning hole 23 without being aligned. In a state where the positioning hole 23 and the positioning pin 43 are not aligned, the central axis of the positioning pin 43 is displaced from the central axis of the positioning hole 23 (see FIG. 16A). When the positioning pin 43 is inserted into the positioning hole 23 in such a state, the positioning pin 43 comes into contact with the edge of the positioning hole 23, and the positioning member (the positioning hole 23 and the positioning pin) may be damaged. In particular, when the resin positioning pin 43 having the taper surface 43A is inserted into the positioning hole 23 of the glass substrate 20, the resin taper surface 43A is scraped by the edge of the glass (the edge of the positioning hole 23). The taper surface 43A is worn (see FIG. 16B), and as a result, wear powder may be generated. On the other hand, in the second embodiment, since the positioning pin 43 is inserted into the positioning hole 23 in a pre-aligned state, the positioning member (the positioning hole 23 and the positioning pin 43) is not easily damaged. Wear powder is less likely to be generated.

S103の後、ガラス基板20に対して光路変換器40を固定し(S104)、光モジュール1の品質検査が行われる(S105)。これらの処理は、第1実施形態のS006及びS007と同様であるので、説明を省略する。なお、第2実施形態では、予め位置合わせした状態で位置決め穴23に位置決めピン43を挿入するため、ガラス基板20と光路変換器40との位置決め精度が高く、不良率が低くなる。   After S103, the optical path changer 40 is fixed to the glass substrate 20 (S104), and the quality inspection of the optical module 1 is performed (S105). Since these processes are the same as S006 and S007 of the first embodiment, description thereof will be omitted. In the second embodiment, since the positioning pins 43 are inserted into the positioning holes 23 in a previously aligned state, the positioning accuracy between the glass substrate 20 and the optical path converter 40 is high, and the defect rate is low.

上記の第2実施形態によれば、ガラス基板20の位置決め穴23に光路変換器40の位置決めピン40を挿入する前に、ガラス基板20の上側からガラス基板20越しに位置決め穴23をカメラで観察している。これにより、位置決め穴23と位置決めピン43とをガラス基板20の下面に平行な方向に予め位置合わせした状態で、位置決め穴23に位置決めピン43を挿入することが可能になる。   According to the second embodiment, before the positioning pins 40 of the optical path converter 40 are inserted into the positioning holes 23 of the glass substrate 20, the positioning holes 23 are observed with the camera from the upper side of the glass substrate 20 through the glass substrate 20. doing. Accordingly, the positioning pin 43 can be inserted into the positioning hole 23 in a state where the positioning hole 23 and the positioning pin 43 are previously aligned in a direction parallel to the lower surface of the glass substrate 20.

また、第2実施形態によれば、位置決めピン43の頂部にアライメントマーク44が形成されている。このため、アライメントマーク44に基づいて位置決めピン43の位置を検出できるので、位置決め穴23と位置決めピン43との位置合わせが容易になる。   Further, according to the second embodiment, the alignment mark 44 is formed on the top of the positioning pin 43. For this reason, since the position of the positioning pin 43 can be detected based on the alignment mark 44, the positioning of the positioning hole 23 and the positioning pin 43 is facilitated.

===第3実施形態===
図17は、第3実施形態の光モジュール1の製造方法のフロー図である。
第3実施形態では、まず、ガラス基板20の検査装置が、ガラス基板20の上側(位置決め穴23のある面とは反対側)からガラス基板20越しに位置決め穴23を観察し、ガラス基板20の品質を検査する(S201)。この検査作業は、作業者が目視で行っても良いが、ここでは画像処理装置(コンピュータ)が観察画像を解析して検査を行うこととする。
=== Third Embodiment ===
FIG. 17 is a flowchart of the manufacturing method of the optical module 1 of the third embodiment.
In the third embodiment, first, the inspection apparatus for the glass substrate 20 observes the positioning hole 23 from the upper side of the glass substrate 20 (the side opposite to the surface having the positioning hole 23) through the glass substrate 20, and Quality is inspected (S201). This inspection work may be performed visually by the operator, but here the image processing apparatus (computer) analyzes the observation image and performs the inspection.

画像処理装置は、観察画像に基づいて、ガラス基板20の上面の配線27(メタルパターン)の位置と、ガラス基板20の下面の位置決め穴23の位置とを検出し、両者の位置ずれ量を算出し、位置ずれ量に基づいてガラス基板20の品質を判断する。位置ずれ量の大きなガラス基板20は、ガラス基板20の上面に実装された発光部31の光軸と、位置決め穴23によって位置決めされる光路変換器40のレンズ部41の光軸がずれてしまうため、不良品と判断される。   Based on the observation image, the image processing apparatus detects the position of the wiring 27 (metal pattern) on the upper surface of the glass substrate 20 and the position of the positioning hole 23 on the lower surface of the glass substrate 20, and calculates the amount of displacement between them. Then, the quality of the glass substrate 20 is determined based on the positional deviation amount. In the glass substrate 20 having a large positional deviation amount, the optical axis of the light emitting unit 31 mounted on the upper surface of the glass substrate 20 and the optical axis of the lens unit 41 of the optical path converter 40 positioned by the positioning hole 23 are shifted. It is judged as a defective product.

図18は、S201での観察の様子の説明図である。第3実施形態では、観察対象はガラス基板20であり、観察対象に光路変換器40は含まれていない。観察時のガラス基板20は、回路基板10に搭載されていても良いし、未だ回路基板10に搭載されていなくても良い。また、図中のガラス基板20の上面には発光部31が実装されているが、観察時のガラス基板20に発光部31が未だ実装されていなくても良い。ガラス基板20の上面には、メタルパターンによる配線27と、メタルパターンを保護するための保護膜28が形成されている。   FIG. 18 is an explanatory diagram of the state of observation in S201. In the third embodiment, the observation target is the glass substrate 20, and the optical path converter 40 is not included in the observation target. The glass substrate 20 at the time of observation may be mounted on the circuit board 10 or may not be mounted on the circuit board 10 yet. Moreover, although the light emission part 31 is mounted in the upper surface of the glass substrate 20 in a figure, the light emission part 31 does not need to be mounted in the glass substrate 20 at the time of observation yet. On the upper surface of the glass substrate 20, a wiring 27 made of a metal pattern and a protective film 28 for protecting the metal pattern are formed.

図19は、S201の観察画像(写真)である。図20は、図19の観察画像の説明図である。図中のハッチングは、メタルパターンの領域を示している。   FIG. 19 is an observation image (photograph) of S201. FIG. 20 is an explanatory diagram of the observation image of FIG. The hatching in the figure indicates the region of the metal pattern.

ガラス基板の上面にはグランドパターン(又は電源パターン)が形成されており、ここでは、観察領域の大部分の領域(位置決め穴23の上方を除く領域)をグランドパターンが占めている。但し、位置決め穴23の上方の領域(搭載面における位置決め穴23の裏側の領域;位置決め穴23と対向する搭載面の領域)にはメタルパターンによる配線27は形成されていない。このため、ガラス基板20の上側からガラス基板20越しに位置決め穴23が観察されている。画像処理装置は、観察画像に基づいて、ガラス基板20の上面のメタルパターンの位置と、ガラス基板20の下面の位置決め穴23の位置とを解析し、両者の位置ずれ量を算出する。   A ground pattern (or power supply pattern) is formed on the upper surface of the glass substrate. Here, the ground pattern occupies most of the observation region (the region excluding the upper portion of the positioning hole 23). However, in the region above the positioning hole 23 (the region on the back side of the positioning hole 23 on the mounting surface; the region of the mounting surface facing the positioning hole 23), the wiring 27 made of a metal pattern is not formed. For this reason, the positioning hole 23 is observed from the upper side of the glass substrate 20 through the glass substrate 20. The image processing apparatus analyzes the position of the metal pattern on the upper surface of the glass substrate 20 and the position of the positioning hole 23 on the lower surface of the glass substrate 20 based on the observation image, and calculates the amount of positional deviation between them.

本実施形態では、ガラス基板20の上面には、アライメントマーク27Aが形成されている。アライメントマーク27Aはメタルパターンによって形成されているため、アライメントマーク27Aの位置に基づいて、ガラス基板20の上面の配線27の位置を検査することが可能である。但し、アライメントマーク27Aを形成せずに、観察画像の中の配線27の画像に基づいてガラス基板20の上面の配線27の位置を直接検出しても良い。   In the present embodiment, an alignment mark 27 </ b> A is formed on the upper surface of the glass substrate 20. Since the alignment mark 27A is formed of a metal pattern, the position of the wiring 27 on the upper surface of the glass substrate 20 can be inspected based on the position of the alignment mark 27A. However, the position of the wiring 27 on the upper surface of the glass substrate 20 may be directly detected based on the image of the wiring 27 in the observation image without forming the alignment mark 27A.

アライメントマーク27Aを位置決め穴23の開口径よりも小さくすることによって、位置決め穴23の上方の領域(配線27の形成されていない領域)にアライメントマーク27Aを形成することが可能になる。位置決め穴23の上方にアライメントマーク27Aを形成することによって、位置決め穴23を観察しつつ、アライメントマーク27A(メタルパターン)を観察することが容易になる。但し、アライメントマーク27Aを位置決め穴23の上方とは別の場所に形成しても良い。   By making the alignment mark 27A smaller than the opening diameter of the positioning hole 23, the alignment mark 27A can be formed in a region above the positioning hole 23 (a region where the wiring 27 is not formed). By forming the alignment mark 27A above the positioning hole 23, it is easy to observe the alignment mark 27A (metal pattern) while observing the positioning hole 23. However, the alignment mark 27A may be formed at a location different from the position above the positioning hole 23.

本実施形態では、ガラス基板20は、アライメントマーク27Aが位置決め穴23の中心軸上になるように、設計されている。図19のような観察画像の場合、ガラス基板20の上面のアライメントマーク27Aが下面の位置決め穴23の開口部の中心に位置しているので、ガラス基板20は正常であると判断される。   In the present embodiment, the glass substrate 20 is designed so that the alignment mark 27 </ b> A is on the central axis of the positioning hole 23. In the case of the observation image as shown in FIG. 19, since the alignment mark 27A on the upper surface of the glass substrate 20 is located at the center of the opening of the positioning hole 23 on the lower surface, it is determined that the glass substrate 20 is normal.

次に、光モジュール1を構成する部品を準備する(S202)。準備する部品は、S201の品質検査をパスしたガラス基板20を上面に搭載した回路基板10と、光路変換器40である。そして、ガラス基板20の位置決め穴23に光路変換器40の位置決めピン43を挿入することによって、ガラス基板20と光路変換器40とを位置決めし(S203)、ガラス基板20に対して光路変換器40を固定する(S204)。これらの処理は、既に説明した処理と同様である。   Next, the parts constituting the optical module 1 are prepared (S202). The parts to be prepared are the circuit board 10 on which the glass substrate 20 that has passed the quality inspection of S201 is mounted, and the optical path converter 40. Then, the glass substrate 20 and the optical path converter 40 are positioned by inserting the positioning pin 43 of the optical path converter 40 into the positioning hole 23 of the glass substrate 20 (S203), and the optical path converter 40 with respect to the glass substrate 20 is obtained. Is fixed (S204). These processes are the same as those already described.

最後に、光モジュール1の品質検査が行われる(S205)。第3実施形態では、S201の検査をパスしたガラス基板20を用いて光モジュール1が構成されるため、光モジュール1の不良率が低くなる。   Finally, quality inspection of the optical module 1 is performed (S205). In 3rd Embodiment, since the optical module 1 is comprised using the glass substrate 20 which passed the test | inspection of S201, the defect rate of the optical module 1 becomes low.

上記の第3実施形態によれば、光路変換器40のない状態で、ガラス基板20の上側からガラス基板20越しに位置決め穴23をカメラで観察している。第3実施形態によれば、観察画像に基づいてガラス基板20の下面の位置決め穴23の位置を検査して、ガラス基板20の品質を検査することが可能になる。   According to the third embodiment, the positioning hole 23 is observed with the camera from the upper side of the glass substrate 20 through the glass substrate 20 without the optical path changer 40. According to the third embodiment, it is possible to inspect the quality of the glass substrate 20 by inspecting the position of the positioning hole 23 on the lower surface of the glass substrate 20 based on the observation image.

また、第3実施形態によれば、ガラス基板20の上側からガラス基板20越しに位置決め穴23をカメラで観察するときに、ガラス基板20の上面のメタルパターンも観察している。これにより、観察画像に基づいて、ガラス基板20の上面のメタルパターンと、ガラス基板20の下面の位置決め穴23との位置関係を検査することが可能になる。   Further, according to the third embodiment, when the positioning hole 23 is observed with a camera from the upper side of the glass substrate 20 through the glass substrate 20, the metal pattern on the upper surface of the glass substrate 20 is also observed. This makes it possible to inspect the positional relationship between the metal pattern on the upper surface of the glass substrate 20 and the positioning hole 23 on the lower surface of the glass substrate 20 based on the observation image.

また、第3実施形態によれば、メタルパターンによるアライメントマーク27Aが位置決め穴23の上方に形成されている。これにより、ガラス基板20の上面のメタルパターンの位置を検出することが容易になるとともに、位置決め穴23の観察とともにアライメントマーク27Aを観察することが容易になる。   Further, according to the third embodiment, the alignment mark 27 </ b> A made of a metal pattern is formed above the positioning hole 23. Thereby, it becomes easy to detect the position of the metal pattern on the upper surface of the glass substrate 20 and to observe the alignment mark 27 </ b> A together with the observation of the positioning hole 23.

===第4実施形態===
温度変化によって2つの位置決め穴23の間隔と2つの位置決めピン43の間隔がずれることがある。このような場合、位置決めピン43が位置決め穴23に正常に挿入されず、ガラス基板20と光路変換器40との間に想定以上の位置ずれが生じるおそれがある。そこで、第4実施形態では、2つの位置決め穴23の一方を基準穴とし、他方を長穴にしている。
=== Fourth Embodiment ===
The interval between the two positioning holes 23 and the interval between the two positioning pins 43 may be shifted due to a temperature change. In such a case, the positioning pin 43 is not normally inserted into the positioning hole 23, and there is a possibility that a position shift more than expected occurs between the glass substrate 20 and the optical path converter 40. Therefore, in the fourth embodiment, one of the two positioning holes 23 is a reference hole and the other is a long hole.

図21は、第4実施形態の位置決め穴の説明図である。図21は、ガラス基板20の下面を下から見た図である。
ガラス基板20の下面には、基準穴23Aと長穴23Bとが形成されている。基準穴23Aと長穴Bは、前後方向に並んで形成されている。基準穴23Aは、開口部が円形状の非貫通穴であり、これまでの実施形態の位置決め穴23と同じ形状である。長穴23Bは、開口部の長手方向が2つの位置決め穴(基準穴23Aと長穴23B)を結ぶ線に沿っている非貫通穴である。長穴23Bもサンドブラスト加工により形成されているため、奥の窄まった形状になっている。長穴23Bの幅は、基準穴23Aの径と同じ長さである。なお、基準穴23A及び長穴23Bに挿入される2つの位置決めピン43は、前述の実施形態の位置決めピン43と同じ形状である(つまり、2つの位置決めピン43とも円錐台形状である)。
FIG. 21 is an explanatory diagram of the positioning holes of the fourth embodiment. FIG. 21 is a view of the lower surface of the glass substrate 20 as viewed from below.
A reference hole 23 </ b> A and a long hole 23 </ b> B are formed on the lower surface of the glass substrate 20. The reference hole 23A and the long hole B are formed side by side in the front-rear direction. The reference hole 23A is a non-through hole having a circular opening, and has the same shape as the positioning hole 23 of the previous embodiments. The long hole 23B is a non-through hole in which the longitudinal direction of the opening is along a line connecting the two positioning holes (the reference hole 23A and the long hole 23B). Since the long hole 23B is also formed by sandblasting, it has a deep shape. The width of the long hole 23B is the same length as the diameter of the reference hole 23A. Note that the two positioning pins 43 inserted into the reference hole 23A and the long hole 23B have the same shape as the positioning pin 43 of the above-described embodiment (that is, the two positioning pins 43 have a truncated cone shape).

光路変換器40の2つの位置決めピン43の一方は基準穴23Aに挿入され、他方は長穴23Bに挿入されることになる。基準穴23Aの側では、位置決めピン43は、基準穴23Aに対して、位置決めピン43の軸方向に垂直な前後方向及び左右方向(ガラス基板20の表面と平行な方向)に拘束されることになる。一方、長穴23Bの側では、位置決めピン43は、長穴23Bによって左右方向からは拘束されるが、前後方向からは拘束されないことになる。このため、温度変化等の影響により、2つの位置決め穴23の間隔や2つの位置決めピン43の間隔が変化しても、2つの位置決めピン43を基準穴23A及び長穴23Bに挿入し、ガラス基板20に対して光路変換器40を位置決めすることが可能になる。   One of the two positioning pins 43 of the optical path changer 40 is inserted into the reference hole 23A, and the other is inserted into the long hole 23B. On the reference hole 23A side, the positioning pin 43 is restrained in the front-rear direction and the left-right direction (direction parallel to the surface of the glass substrate 20) perpendicular to the axial direction of the positioning pin 43 with respect to the reference hole 23A. Become. On the other hand, on the side of the long hole 23B, the positioning pin 43 is restrained from the left-right direction by the long hole 23B, but is not restrained from the front-rear direction. For this reason, even if the distance between the two positioning holes 23 or the distance between the two positioning pins 43 changes due to the influence of a temperature change or the like, the two positioning pins 43 are inserted into the reference hole 23A and the long hole 23B, and the glass substrate The optical path changer 40 can be positioned with respect to 20.

ガラス基板20の下面に基準穴23Aと長穴23Bを形成する場合であって、ガラス基板20越しに一方の位置決め穴だけを観察する場合には、前後方向及び左右方向の両方向の位置決め精度に寄与する基準穴23Aを観察することが望ましい。例えば、図3に示すように後側の位置決め穴23が上方の駆動素子32に阻まれて上側からガラス基板20越しに観察できない場合には、後側に長穴23Bを配置し、前側に基準穴23Aを配置し、基準穴23Aをガラス基板20越しに上側から観察すると良い。この場合、長穴23Bの上方には、メタルパターンによる配線27を形成しても良いし、発光部31や駆動素子32等の実装部品を配置しても良い。   When the reference hole 23A and the long hole 23B are formed on the lower surface of the glass substrate 20 and only one positioning hole is observed through the glass substrate 20, it contributes to the positioning accuracy in both the front-rear direction and the left-right direction. It is desirable to observe the reference hole 23A. For example, as shown in FIG. 3, when the rear positioning hole 23 is blocked by the upper drive element 32 and cannot be observed from the upper side through the glass substrate 20, the long hole 23B is disposed on the rear side, and the reference is provided on the front side. It is preferable to arrange the hole 23A and observe the reference hole 23A through the glass substrate 20 from above. In this case, a wiring 27 made of a metal pattern may be formed above the elongated hole 23B, and mounting parts such as the light emitting unit 31 and the driving element 32 may be arranged.

===その他===
上記の実施形態は、本発明の理解を容易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、その趣旨を逸脱することなく、変更・改良され得ると共に、本発明には、その等価物が含まれることは言うまでもない。特に、以下に述べる形態であっても、本発明に含まれる。
=== Others ===
The above-described embodiments are for facilitating the understanding of the present invention, and are not intended to limit the present invention. The present invention can be modified and improved without departing from the gist thereof, and it goes without saying that the present invention includes equivalents thereof. In particular, the embodiments described below are also included in the present invention.

<位置決め穴と位置決めピン>
前述の位置決め穴23は、サンドブラスト加工により形成された奥の窄まった非貫通穴であったが、他の加工方法によって形成された位置決め穴でも良く、他の形状の位置決め穴でも良い。例えば、位置決め穴23がドリル加工により形成され径が一定の寸胴形状の穴であっても良い。
前述の位置決めピン43は、テーパ面43Aを有する円錐台形状であったが、他の形状でも良い。例えば、位置決めピンは、円錐形状でも良いし、径が一定の寸胴形状でも良い。但し、既に説明したように、位置決めピンがテーパ面を有する場合、上側から見たときに、位置決めピン43の根元の角部が位置決め穴23の開口部の縁よりも外側に位置するので、両者を識別しやすくなる。
<Positioning hole and positioning pin>
The positioning hole 23 described above is a deep non-through hole formed by sandblasting, but may be a positioning hole formed by another processing method or a positioning hole of another shape. For example, the positioning hole 23 may be a hole having a constant diameter and formed by drilling.
The positioning pin 43 described above has a truncated cone shape having a tapered surface 43A, but may have other shapes. For example, the positioning pin may have a conical shape or a cylindrical shape with a constant diameter. However, as described above, when the positioning pin has a tapered surface, the corner of the base of the positioning pin 43 is located outside the edge of the opening of the positioning hole 23 when viewed from above. Makes it easier to identify.

<光路変換器について>
前述の実施形態では、光路変換器(光学部品)は樹脂製であった。但し、位置決めピンを有する光学部品は、樹脂製でなくても良い。
<About optical path converter>
In the above-described embodiment, the optical path changer (optical component) is made of resin. However, the optical component having the positioning pin may not be made of resin.

<光モジュールについて>
前述の実施形態では、QSFPタイプの光モジュールを用いて説明したが、このタイプに限定されるものではない。他のタイプ(例えばCXPタイプやSFPタイプなど)の光モジュールに適用することも可能である。
<About optical modules>
In the above embodiment, the QSFP type optical module has been described. However, the present invention is not limited to this type. It is also possible to apply to other types of optical modules (for example, CXP type and SFP type).

1 光モジュール、1A ハウジング、
2 ケージ、2A コネクタ、3 ヒートシンク、
10 回路基板、11 接続部、
12 収容窓、13 回路基板側電極、
20 ガラス基板(透明基板)、21 貫通ビア、
22 ガラス基板側電極、23 位置決め穴、
23A 基準穴、23B 長穴、
27 配線、27A アライメントマーク、28 保護膜、
31 発光部、31A 発光部側電極、31B 発光面、32 駆動素子、
40 光路変換器(支持部材)、41 レンズ部、42 反射部、
43 位置決めピン、43A テーパ面、43B 凹部、
44 アライメントマーク、
50 光ファイバ、65 接着剤
1 optical module, 1A housing,
2 cage, 2A connector, 3 heat sink,
10 circuit boards, 11 connections,
12 receiving window, 13 circuit board side electrode,
20 glass substrate (transparent substrate), 21 through via,
22 glass substrate side electrode, 23 positioning hole,
23A reference hole, 23B oblong hole,
27 wiring, 27A alignment mark, 28 protective film,
31 light emitting part, 31A light emitting part side electrode, 31B light emitting surface, 32 drive element,
40 optical path changer (supporting member), 41 lens part, 42 reflecting part,
43 positioning pin, 43A taper surface, 43B recess,
44 alignment marks,
50 optical fiber, 65 adhesive

Claims (11)

(1)一方の面に非貫通の位置決め穴が形成され、他方の面に光電変換素子が搭載され、前記光電変換素子の発光した光、若しくは前記光電変換素子の受光する光を透過可能な透明基板と、
位置決めピンを有し、光ファイバを支持し、前記光電変換素子と前記光ファイバとの間の光路を前記透明基板とともに形成する支持部材と、
を準備する準備工程と、
(2)前記透明基板の前記位置決め穴に前記支持部材の前記位置決めピンを挿入して、前記透明基板と前記支持部材とを位置決めする位置決め工程と、
(3)前記位置決め穴のある面とは反対側から透明基板越しに前記位置決め穴を観察する観察工程と、
を有することを特徴とする光モジュールの製造方法。
(1) A non-penetrating positioning hole is formed on one surface, a photoelectric conversion element is mounted on the other surface, and the light that is emitted from the photoelectric conversion element or the light that is received by the photoelectric conversion element is transparent. A substrate,
A support member having a positioning pin, supporting an optical fiber, and forming an optical path between the photoelectric conversion element and the optical fiber together with the transparent substrate;
A preparation process to prepare,
(2) a positioning step of positioning the transparent substrate and the support member by inserting the positioning pins of the support member into the positioning holes of the transparent substrate;
(3) an observation step of observing the positioning hole through the transparent substrate from the side opposite to the surface with the positioning hole;
A method for manufacturing an optical module, comprising:
請求項1に記載の光モジュールの製造方法であって、
前記位置決め工程の後に行われた前記観察工程の観察画像に基づいて、前記透明基板と前記支持部材との位置決め精度を検査する
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
It is a manufacturing method of the optical module of Claim 1, Comprising:
A method for manufacturing an optical module, comprising: inspecting positioning accuracy between the transparent substrate and the support member based on an observation image of the observation step performed after the positioning step.
請求項2に記載の光モジュールの製造方法であって、
前記位置決めピンはテーパ面を有しており、
前記観察画像における前記位置決め穴と前記位置決めピンの根元との位置関係に応じて、前記位置決め精度が検査される
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
It is a manufacturing method of the optical module according to claim 2,
The positioning pin has a tapered surface;
The method of manufacturing an optical module, wherein the positioning accuracy is inspected according to a positional relationship between the positioning hole and the base of the positioning pin in the observation image.
請求項3に記載の光モジュールの製造方法であって、
前記位置決めピンの根元の周りに凹部が形成されている
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
It is a manufacturing method of the optical module according to claim 3,
A method of manufacturing an optical module, wherein a recess is formed around a root of the positioning pin.
請求項1〜4のいずれかに記載の光モジュールの製造方法であって、
前記観察工程の観察画像に基づいて前記透明基板と前記支持部材とを前記透明基板の前記面に平行な方向に位置合わせした後に、前記位置決め工程が行われる
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
It is a manufacturing method of the optical module in any one of Claims 1-4,
An optical module manufacturing method, wherein the positioning step is performed after aligning the transparent substrate and the support member in a direction parallel to the surface of the transparent substrate based on an observation image of the observation step. .
請求項5に記載の光モジュールの製造方法であって、
前記位置決めピンの頂部にアライメントマークが形成されており、
前記観察画像における前記位置決め穴と前記アライメントマークとの位置関係に応じて、前記透明基板と前記支持部材との位置合わせが行われる
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
It is a manufacturing method of the optical module according to claim 5,
An alignment mark is formed on the top of the positioning pin,
The method for manufacturing an optical module, wherein the transparent substrate and the support member are aligned according to a positional relationship between the positioning hole and the alignment mark in the observation image.
請求項1〜6のいずれかに記載の光モジュールの製造方法であって、
前記観察工程の観察画像に基づいて前記透明基板における前記位置決め穴の位置が検査され、検査後の前記透明基板が前記準備工程で準備される
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
It is a manufacturing method of the optical module in any one of Claims 1-6,
The method of manufacturing an optical module, wherein the position of the positioning hole in the transparent substrate is inspected based on an observation image in the observation step, and the transparent substrate after the inspection is prepared in the preparation step.
請求項7に記載の光モジュールの製造方法であって、
前記光電変換素子への配線とともに形成されたアライメントマークが前記一方の面に形成されており、
前記観察画像における前記位置決め穴と前記アライメントマークとの位置関係に応じて、前記光電変換素子に対する前記位置決め穴の位置が検査される
ことを特徴とする光モジュールの製造方法。
It is a manufacturing method of the optical module according to claim 7,
An alignment mark formed together with the wiring to the photoelectric conversion element is formed on the one surface,
The method of manufacturing an optical module, wherein the position of the positioning hole with respect to the photoelectric conversion element is inspected according to a positional relationship between the positioning hole and the alignment mark in the observation image.
光電変換素子が搭載される搭載面にメタルパターンによる配線が形成され、前記搭載面とは反対側の面に非貫通の位置決め穴が形成され、前記光電変換素子の発光した光、若しくは前記光電変換素子の受光する光を透過可能な透明基板と、
位置決めピンを有し、光ファイバを支持し、前記光電変換素子と前記光ファイバとの間の光路を前記透明基板とともに形成する支持部材と、
を有する光モジュールであって、
前記搭載面における前記位置決め穴の裏側の領域には前記配線は形成されておらず、前記搭載面の側から前記位置決め穴を観察可能である
ことを特徴とする光モジュール。
A wiring with a metal pattern is formed on a mounting surface on which the photoelectric conversion element is mounted, a non-penetrating positioning hole is formed on a surface opposite to the mounting surface, and the light emitted from the photoelectric conversion element or the photoelectric conversion A transparent substrate capable of transmitting light received by the element;
A support member having a positioning pin, supporting an optical fiber, and forming an optical path between the photoelectric conversion element and the optical fiber together with the transparent substrate;
An optical module comprising:
The optical module is characterized in that the wiring is not formed in a region of the mounting surface on the back side of the positioning hole, and the positioning hole can be observed from the mounting surface side.
請求項9に記載の光モジュールであって、
前記搭載面における前記位置決め穴の裏側の領域に、前記配線とともに形成されたアライメントマークが形成されている
ことを特徴とする光モジュール。
The optical module according to claim 9,
An optical module, wherein an alignment mark formed together with the wiring is formed in a region on the back surface of the positioning hole on the mounting surface.
請求項9又は10に記載の光モジュールであって、
前記位置決め穴として基準穴及び長穴が形成されており、
前記長穴は、その長手方向が前記基準穴と前記長穴とを結ぶ線に沿うように形成されており、
前記搭載面における前記基準穴の裏側の領域には前記配線は形成されておらず、前記搭載面の側から前記基準穴を観察可能である
ことを特徴とする光モジュール。
The optical module according to claim 9 or 10, wherein
A reference hole and a long hole are formed as the positioning hole,
The long hole is formed such that its longitudinal direction is along a line connecting the reference hole and the long hole,
The optical module is characterized in that the wiring is not formed in a region of the mounting surface on the back side of the reference hole, and the reference hole can be observed from the mounting surface side.
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