JP2014228351A - 物体認識装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】高精度の物体認識装置を提供する。【解決手段】物体認識装置1において、発光により光ビームA、Bを照射する複数の発光面220a、220bを配列方向に配列してなる発光器22と、各発光面220a、220bに対応して複数の入射面240a、240bが配列方向に配列されてなり、それぞれ対応する発光面220a、220bから個別にそれら各入射面240a、240bへ光ビームA、Bが入射する集光レンズ24と、を備え、集光レンズ24は、各入射面240a、240bを通過することにより集光される光ビームA、B同士を、検出領域3において、配列方向にずらして集光させ、隣接する入射面240a、240b間から、それら各入射面240a、240bにそれぞれ対応する発光面220a、220b間へ向かって伸びることにより、光ビームを遮蔽する遮光部材26をさらに備える。【選択図】図4
Description
本発明は、物体認識装置に関する。
従来、光ビームを射出する検出領域内の物体から反射される反射光を検出することにより、当該物体を認識する物体認識装置が知られている。この種の装置は、例えば、前方車両を検出して警報を発生する装置や、前方車両と所定の車間距離を維持するように車速を制御する装置などに適用され、それらの制御対象としての前方車両の認識に利用されている。
特許文献1に記載された物体認識装置にあっては、マルチストライプ半導体レーザの各発光面を独立に発光させ、かつ当該発光面により照射される光ビームを水平方向に走査(スキャン)させることで、検出領域において水平方向の広角にわたって鉛直方向の分解能を高めて精度を向上させることができる。また、マルチストライプ半導体レーザの複数の発光面間には、非発光の隙間がある。そして、各発光面により照射される光ビームは、例えば入射面を平面、射出面を凸面状の非球面である集光レンズにより集光されて、検出領域へと射出される。
しかしながら、かかる物体認識装置にあっては、発光面間の隙間に対応する方向において光ビームが射出されないため、物体が存在していたとしてもこれを検出することができず、発光面間の隙間に対応して検出領域内に検出不良が生じる。たとえ発光面間の隙間が大きいものでなくとも、物体までの距離に比例して検出領域の検出不良に対応する面積は大きくなるため、無視できない場合がある。
本発明は、以上説明した問題に鑑みてなされたものであって、その目的は、高精度の物体認識装置を提供することにある。
本発明は、光ビームを射出する検出領域内の物体から反射される反射光を検出することにより、物体を認識する物体認識装置において、発光により光ビームを照射する複数の発光面を配列方向に配列してなる発光器と、各発光面に対応して複数の入射面が配列方向に配列されてなり、それぞれ対応する発光面から個別にそれら各入射面へ光ビームが入射する集光レンズと、を備え、集光レンズは、各入射面を通過することにより集光される光ビーム同士を、検出領域において、配列方向にずらして集光させ、隣接する入射面間から、それら各入射面にそれぞれ対応する発光面間へ向かって伸びることにより、光ビームを遮蔽する遮光部材をさらに備えることを特徴とする。
このような本発明によると、集光レンズは、各発光面に対応して複数の入射面が配列方向に配列されてなり、対応する発光面から個別にそれら各入射面へ光ビームが入射する。これによれば、各発光面から照射される光ビームは個別に制御可能となり、隣接する発光面が照射する光ビームは、互いに隙間が生ずることを抑制して射出され得る。また、遮光部材が、隣接する入射面間から、それら各入射面にそれぞれ対応する発光面間へ向かって伸びることにより、光ビームを遮蔽する。これによれば、光ビームは各発光面に対応する入射面にのみ入射して、隣接する光ビームが互いに適切な位置に分けられて(すなわち、互いに重なりを減らして)射出され得る。そして、光ビーム同士は検出領域において配列方向にずれて集光される。以上より、高精度の物体認識装置を提供することができる。
また、本発明のさらなる特徴では、各入射面を通過することにより集光される光ビーム同士は、検出領域において互いに半値幅が重なる。
このような特徴によると、検出領域において互いに半値幅が重なって、隣接する発光面が照射する光ビームは互いに隙間なく射出されるので、確実に検出領域に検出不良の少ない、すなわち高精度の物体認識装置を提供することができる。
また、本発明のさらなる特徴では、各入射面は、対応する発光面に向かって凸となり、配列方向に曲率を有するシリンドリカル面である。
このような特徴によると、対応する発光面に向かって凸面となり、配列方向に曲率を有するシリンドリカル面である各入射面により、入射面の境界付近に入射した光は、それぞれ対応するシリンドリカル面の頂点方向への集光作用を受けて屈折する。したがって、隣接する発光面が照射する光ビームは、互いに必要以上に重なることなく、適切な位置に分けられて射出される。以上より、高精度の物体認識装置を提供することができる。
以下、本発明の一実施形態を図面に基づいて説明する。
図1に示すように、本実施形態の物体認識装置1は、レーザレーダセンサであり、発光部10、受光部40、処理回路50、及びレーザレーダCPU60等を主要部として構成されている。物体認識装置1は、光ビーム(例えばレーザビーム)A、Bが射出された検出領域3内の物体から反射される反射光を検出することによって、当該物体を認識可能となっている。
発光部10は、図1、2に示すように、発光ユニット20及びスキャナ30を備えている。発光ユニット20は、駆動信号を受けることにより、スキャナ30に向けてレーザビームA、Bを射出する。
スキャナ30は、平面ミラー32及びポリゴンミラー34を有している。平面ミラー32は、合成樹脂ないしはガラスからなる基材の表面に、アルミニウムを蒸着させること等により、平面状に形成されている。平面ミラー32は、発光ユニット20から射出されるレーザビームA、Bをポリゴンミラー34へと反射する。
ポリゴンミラー34は、面倒れ角が異なる6つの反射面340を備えており、図示しないモータの駆動力により回転可能となっている。そして、面倒れ角の範囲で不連続にレーザビームA、Bを走査(スキャン)可能となっている。具体的には、面倒れ角が異なる6つの反射面340を備えるポリゴンミラー34の回転により、図3(a)に示すように、レーザビームA、Bの射出方向が走査される。ポリゴンミラーは、例えばモータにより鉛直方向の回転軸を中心として右回りに回転しており、ミラーからのレーザビームは、6つの反射面340のいずれかに反射される。同一の反射面340に反射されている間では、鉛直方向の回転軸を中心とした回転により、反射角が水平方向に変化するため、レーザビームは水平方向に走査される。そして、次の反射面に移る場合では、面倒れ角が異なるため、レーザビームA、Bの射出方向が鉛直方向にずれるのである。このようにして、検出領域3が、発光部10によりレーザビームA、Bを射出可能な領域として形成される。なお、このモータの回転位置は、モータ回転位置センサ36によって検出され、レーザレーダCPU60に出力される。
受光部40は、受光レンズ42及び受光素子44を備えている。受光レンズ42は、合成樹脂ないしはガラス等からなる透光性の凸レンズである。受光レンズ42は、ポリゴンミラー34により走査された検出領域3内の物体から反射される反射光を集光して、受光素子44に向けて射出する。
受光素子44は、例えば光検出器としてのフォトダイオードである。受光素子44は、反射光の強度に対応する電圧を処理回路50へと出力する。
処理回路50は、増幅器52、コンパレータ54及び時間計測回路56を有している。受光素子44からの出力電圧は、増幅器52により増幅された後、コンパレータ54に出力される。コンパレータ54は、増幅器52の出力電圧が基準電圧を超えたときに所定の受光信号を時間計測回路56へと出力する。
時間計測回路56には、レーザレーダCPU60から光源駆動回路28へ出力される駆動信号も入力される。そして、レーザビームA、Bを照射した時刻と反射光を受信した時刻との時間差を2進デジタル信号に符号化して、レーザレーダCPU60へ出力する。
レーザレーダCPU60は、各種演算処理を実行する中央処理装置であり、時間計測回路56から入力された時間差から物体の距離を計測し、さらにモータ回転位置センサ36から入力されたモータの回転位置に対応するスキャン角度を計測する。これらの値を基にして、検出領域3内の物体の位置データを作成することにより、当該物体を認識することができる。
このような本実施形態の物体認識装置1における、発光ユニット20によるレーザビームA、Bの射出について以下に詳細に説明する。
発光ユニット20は、図4から6に示すように、発光器22、集光レンズ24、及び遮光部材26を有している。発光器22は、2つの発光面220a、220bを有するマルチストライプ半導体レーザである。マルチストライプ半導体レーザは、詳細は図示しないが、1つの下部電極と2つの上部電極22a、22bとの間に、基板、発光層、及び絶縁層が挟まれて形成されている。そして、2つの上部電極22a、22bには隙間が設けられており、例えば、上部電極22aのみに電圧をかけると、発光層において上部電極22aに対応する発光面220aのみからレーザビームAが照射される。また例えば、上部電極22bのみに電圧をかけると、発光層において上部電極22bに対応する発光面220bのみからレーザビームBが照射される。2つの発光面220a、220bは、発光層に沿った配列方向に配列されており、本実施形態において配列方向は、用途及び走査方法を考慮して、鉛直方向Vに設定されている。発光器22の各発光面220a又は220bは独立に発光させる。また、マルチストライプ半導体レーザの2つの発光面220a、220b間には、非発光の隙間224がある。
集光レンズ24は、合成樹脂ないしはガラス等からなる透光性のレンズであり、発光器22とスキャナ30の平面ミラー32との間に配置されている。集光レンズ24は、発光器22側の2つの入射面240a、240b及び平面ミラー32側の射出面246を有しており、発光器22から各入射面240a、240bへ入射するレーザビームA、Bを集光整形して、射出面246から平面ミラー32に向けて射出する。
2つの入射面240a、240bは、各発光面220a、220bに対応して発光面220a、220bの配列方向に配列されている。そして、2つの入射面240a、240b間には、境界としての溝242が形成されている。そして、各入射面240a、240bは、対応する発光面220a、220bに向かって凸となる、配列方向である鉛直方向Vに曲率Ra、Rbを有するシリンドリカル面となっている。換言すると、各入射面240a、240bは、配列方向に沿った断面において湾曲している。ここで、本実施形態におけるシリンドリカル面とは、円筒面とも呼ばれ、配列方向に曲率をもち当該配列方向の垂直方向には曲率をもたない面であるが、例えば箇所によって非球面的に曲率が変化するような、シリンドリカル面に準じた面を含む意義である。また、隣接する入射面240a、240bは、配列方向に、各シリンドリカル面の頂点244a、244bの間の距離として定義される頂点間隔D1を有している。
射出面246は、2つの入射面240a、240bに対して共通の1つのシリンドリカル面である。より詳細には、射出面246は、検出領域3及び平面ミラー32に向かって凸となっており、配列方向の垂直方向である水平方向Hに曲率を有する。
遮光部材26は、例えば黒色等の遮光性を有する板状ないしはシート状の部材であり、隣接する入射面240a、240b間から、当該各入射面240a、240bにそれぞれ対応する発光面220a、220b間へ向かって伸びている。かかる配置により、遮光部材26は、図4に示すように、各発光面220a、220bからのレーザビームA、Bが混合しないように、発光面220aから照射されて遮光部材26に入射するレーザビームAを遮蔽し、また、発行面220bから照射されて遮光部材26に入射するレーザビームBを遮蔽する。換言すれば、遮光部材26は、入射するレーザビームA、Bを吸収ないしは反射するものであればよいが、後述する不要光の発生を抑制するため、吸収率がより高くかつ反射率がより低い部材である方が好適である。また、本実施形態における半導体レーザのように、単色光が照射される場合では、当該単色光を遮蔽するものであればよく、外観上は半透明なものであってもよい。
このようにして、発光器22の各発光面220a、220bから照射される各レーザビームA、Bは、一部が遮光部材26により遮光され、残りの一部は各発光面220a、220bに個別に対応する各入射面240a、240bのみに入射する。
各レーザビームA、Bは、それぞれ対応する発光面220a、220bから個別にそれら各入射面240a、240bへ入射することとなるので、後述する不要光の発生を抑制しつつ、集光される。具体的には、配列方向である鉛直方向Vに曲率Ra、Rbを有するシリンドリカル面により、各レーザビームA、Bがそれぞれ対応するシリンドリカル面の頂点244a、244b方向への集光作用を受けて屈折し、配列方向の射出角及び配列方向のビーム幅が調整される。
各入射面240a、240bにより配列方向のビーム位置及び配列方向のビーム幅が調整された各レーザビームは、射出面においてさらに集光される。具体的には、配列方向の垂直方向である水平方向Hに湾曲し、各発光面に対して共通の1つのシリンドリカル面により、各レーザビームA、Bが当該シリンドリカル面の頂点方向への集光作用を受けて屈折し、配列方向の垂直方向のビーム幅が調整される。以上より、集光レンズ24は、レーザビームA、Bを集光しつつ、射出する。
なお、図4から6に示す光線は、図の見易さを考慮して、各発光面220a、220bから照射されるレーザビームA、Bのうち一部のみを示しており、射出されるレーザビームA、Bの全体では例えば図7に示す強度分布となる。
図7(b)に示すように、集光レンズ24の2つの入射面240a、240bを通過することにより集光されるレーザビームA、B同士は、配列方向にずれて集光されている。より詳細には、各レーザビームA、Bは、配列方向において、ピーク4a、4b強度の半分以上の強度をもつ射出角の範囲として定義される半値幅Wa、Wbを有しており、レーザビームA、B同士は、互いに半値幅Wa、Wbが重なっている。さらに、各レーザビームA、Bは、半値幅Wa、Wbの中心となる射出角として定義されるビーム位置Pa、Pbを有しており、レーザビームA、B同士は、互いにビーム位置Pa、Pbがずれて射出される。
ここで、図7(a)を用いて、半値幅としてのビーム幅Wa、Wb及びビーム位置Pa、Pbの制御方法について説明する。各入射面240a、240bが配列方向に有する曲率Ra、Rbを調整することにより、主としてビーム幅Wa、Wbを制御することができる。例えば、曲率Ra、Rbを大きくした場合、集光レンズ24の配列方向における屈折力は大きくなり、ビーム幅Wa、Wbは小さくなる。逆に曲率Ra、Rbを小さくした場合、集光レンズ24の鉛直方向における屈折力は小さくなり、ビーム幅Wa、Wbは大きくなる。
また、隣接する入射面240a、240bが配列方向に有する頂点間隔D1を調整することにより、主としてビーム位置Pa、Pbを制御することができる。すなわち、隣接するレーザビームA、Bのビーム位置Pa、Pbの間の射出角空間上の距離として定義されるビーム間隔D2を制御することができる。本実施形態のように、発光面220a、220bから照射されるレーザビームが、配列方向においてそれぞれ対応するシリンドリカル面の頂点244a、244bよりも遮光部材26寄りに入射する場合を考える。例えば、頂点間隔D1を大きくした場合、各シリンドリカル面の頂点244a、244bから距離の離れた箇所への入射となるので、配列方向においてそれぞれ対応するシリンドリカル面の頂点244a、244b方向へと大きく屈折して、ビーム間隔D2は大きくなる。逆に頂点間隔D1を小さくした場合、各シリンドリカル面の頂点244a、244bから距離の近い箇所への入射となるので、配列方向においてそれぞれ対応するシリンドリカル面の頂点244a、244b方向へと小さく屈折して、ビーム間隔D2は小さくなる。なお、本実施形態のように、配列方向において、入射面240a、240bの頂点での接線が射出面246の頂点での接線に対して傾きを与えられることによっても、ビーム位置Pa、Pbを制御することができる。
このように、入射面240a、240bの曲率Ra、Rbや頂点間隔D1を調整することにより、射出されるレーザビームA、Bのビーム幅Wa、Wb及びビーム位置Pa、Pbを、要求仕様に合わせて、個別かつ任意に制御することが可能となるのである。
かかるレーザビームA、Bは、2つの発光面220a、220bが配列方向に配列されることにより、発光面220aからのレーザビームAと発光面220bからのレーザビームBとが1セットとなった状態で走査される。そして、レーザビームA、Bは、図3(b)に示されるような検出領域3を形成する。すなわち、鉛直方向におけるライン数は、ポリゴンミラー34の反射面340数に発光器22の発光面220a、220b数を乗じた12ラインとなる。
そして、レーザビームA、B同士は、図7に示された強度分布を保持したまま走査されることにより、検出領域3においても、配列方向にずれて集光されるとともに、互いに半値幅Wa、Wbが重なる。検出領域3内の図3(b)に破線で示されているレーザビームAとレーザビームBとの間において、検出不良が生じることが抑制される。したがって、レーザビームAとレーザビームBとの間において物体が存在する場合でも、当該物体は認識されるのである。
(作用効果)
以上説明した本実施形態の作用効果を以下に説明する。
以上説明した本実施形態の作用効果を以下に説明する。
本実施形態によると、このような本発明によると、集光レンズ24は、各発光面220a、220bに対応して複数の入射面240a、240bが配列方向に配列されてなり、対応する発光面220a、220bから個別にそれら各入射面240a、240bへ光ビームA、Bが入射する。これによれば、各発光面220a、220bから照射される光ビームA、Bは個別に制御可能となり、隣接する発光面220a、220bが照射する光ビームは、互いに隙間が生ずることを抑制して射出され得る。また、遮光部材26が、隣接する入射面240a、240b間から、それら各入射面240a、240bにそれぞれ対応する発光面220a、220b間へ向かって伸びることにより、光ビームA、Bを遮蔽する。これによれば、光ビームA、Bは各発光面220a、220bに対応する入射面240a、240bにのみ入射して、隣接する光ビームA、Bが互いに適切な位置に分けられて(すなわち、互いに重なりを減らして)射出され得る。そして、光ビームA、B同士は検出領域3において配列方向にずれて集光される。以上より、高精度の物体認識装置1を提供することができる。
ここで、図8の比較例を用いて、遮光部材26による作用効果に関して補足説明する。図8(a)に示すように、本実施形態の発光ユニット20から遮光部材26を除去した構成では、各発光面220a、220bから照射される各レーザビームA、Bは、遮光部材26に遮蔽されることなく、入射面240a、240bへと入射する。換言すると、一部が各発光面220a、220bに個別に対応する各入射面240a、240bに入射せずに、個別に対応する各入射面240a、240bと隣り合う入射面240b、240aへも入射する。これら一部は、不要光として、意図しない射出角にて射出される。
図8(b)に示すレーザビームA、Bの強度分布では、各レーザビームA、Bが、図7に示されるピーク4a、4bに加えて、他のピーク4c、4dを有している。かかる他のピーク4c、4dは、前述の不要光としての一部によるものであり、もし不要光の射出角方向に物体が存在した場合、当該物体の反射光が受光部40により判定されて、図7に示される射出角方向に物体が存在するものとして誤認される場合があるのである。
なお、不要光の発生は、遮光部材26が設けられている場合でも起こりうる。例えば、遮光部材26の反射率が高い場合、発光器22の各発光面220a、220bから照射される各レーザビームA、Bの一部が遮光部材26により反射されて、意図しない入射角で各発光面220a、220bに個別に対応する各入射面240a、240bに入射することにより、不要光として射出される場合がある。
また、本実施形態によると、検出領域3において互いに半値幅Wa、Wbが重なって、隣接する発光面220a、220bが照射する光ビームA、Bは互いに隙間なく射出されるので、確実に検出領域3に検出不良の少ない、すなわち高精度の物体認識装置1を提供することができる。
また、本実施形態によると、対応する発光面220a、220bに向かって凸面となり、配列方向に曲率Ra、Rbを有するシリンドリカル面である各入射面240a、240bにより、入射面240a、240bの境界付近に入射した光は、それぞれ対応するシリンドリカル面の頂点244a、244b方向への集光作用を受けて屈折する。したがって、隣接する発光面220a、220bが照射する光ビームA、Bは、互いに必要以上に重なることなく、適切な位置に分けられて射出される。以上より、高精度の物体認識装置1を提供することができる。
また、本実施形態によると、配列方向の垂直方向に湾曲するシリンドリカル面である射出面246により、射出面246において、光ビームA、Bは、配列方向成分の影響を殆ど受けず、かつ、配列方向の垂直方向のビーム幅を調整することができる。したがって、高精度の物体認識装置1を容易に設計することができる。
また、本実施形態によると、直進性のよいレーザビームA、Bを照射することにより、光の拡散が抑制されるので、距離の離れた物体を認識する場合であっても、高精度に物体を認識することができる。
(他の実施形態)
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、当該実施形態に限定して解釈されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の実施形態に適用することができる。
以上、本発明の一実施形態について説明したが、本発明は、当該実施形態に限定して解釈されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々の実施形態に適用することができる。
具体的に変形例1では、図9に示すように、発光面220は、複数であればよく、3つ以上であってもよい。
変形例2では、図10に示すように、発光面220は2次元に配列されていてもよい。この例では、集光レンズ24は、各発光面220に対応して複数の入射面240が2次元の配列方向に配列されてなり、それぞれ対応する発光面220から個別にそれら各入射面240へ光ビームが入射する。また、各入射面240は、対応する発光面220に向かって凸となる球面となっており、全ての入射面240が2次元に配列されるレンズアレイ状の表面を形成している。また、遮光部材26は、光ビームA、Bを四方から遮断するように格子状に形成されている。そして、この例では、スキャナ30を用いて光ビームA、Bを走査しない場合であっても、水平方向及び鉛直方向に分解能を高めて物体を認識することができる。なお、図10における破線は、各入射面240における等高線を示している。
変形例3では、入射面240a、240bを通過することにより集光される光ビームA、B同士は、互いに半値幅Wa、Wbが重なっていなくてもよい。
変形例4では、射出面は、発光面220a、220bの配列方向の垂直方向に曲率を有し、複数の入射面240a、240bに対して共通の1つのシリンドリカル面でなくてもよい。
変形例5では、発光面220a、220bからの光ビームA、Bは、レーザビームでなくてもよい。
変形例6では、配列方向は、鉛直方向V以外の他の方向であってもよい。
変形例7では、物体認識装置以外の照明等に、本発明を適用可能である。例えば、発光ユニット20は、各発光面220a、220bから照射する光ビームA、Bの色をそれぞれ設定することにより、信号機に適用可能である。
1 物体認識装置、3 検出領域、22 発光器、220、220a、220b 発光面、24 集光レンズ、240、240a、240b 入射面、246 射出面、26 遮光部材、Ra、Rb 曲率、Wa、Wb 半値幅(ビーム幅)、A、B 光ビーム(レーザビーム)
Claims (5)
- 光ビーム(A、B)を射出する検出領域(3)内の物体から反射される反射光を検出することにより、前記物体を認識する物体認識装置において、
発光により前記光ビームを照射する複数の発光面(220、220a、220b)を配列方向に配列してなる発光器(22)と、
各前記発光面に対応して複数の入射面(240、240a、240b)が前記配列方向に配列されてなり、それぞれ対応する前記発光面から個別にそれら各前記入射面へ前記光ビームが入射する集光レンズ(24)と、を備え、
前記集光レンズは、各前記入射面を通過することにより集光される前記光ビーム同士を、前記検出領域において、前記配列方向にずらして集光させ、
隣接する前記入射面間から、それら各前記入射面にそれぞれ対応する前記発光面間へ向かって伸びることにより、前記光ビームを遮蔽する遮光部材(26)をさらに備えることを特徴とする物体認識装置。 - 各前記入射面を通過することにより集光される前記光ビーム同士は、前記検出領域において互いに半値幅(Wa、Wb)が重なることを特徴とする請求項1に記載の物体認識装置。
- 各前記入射面は、対応する前記発光面に向かって凸となり、前記配列方向に曲率(Ra、Rb)を有するシリンドリカル面であることを特徴とする請求項1又は2に記載の物体認識装置。
- 前記検出領域に向かって凸となり、前記集光レンズにおいて前記光ビームを射出させる射出面(246)は、前記配列方向の垂直方向に曲率を有し、複数の前記入射面に対して共通の1つのシリンドリカル面であることを特徴とする請求項3に記載の物体認識装置。
- 前記遮光部材は、前記光ビームとしてのレーザビームを遮蔽することを特徴とする請求項1から4のいずれか1項に記載の物体認識装置。
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JP2013107306A JP2014228351A (ja) | 2013-05-21 | 2013-05-21 | 物体認識装置 |
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JP2013107306A JP2014228351A (ja) | 2013-05-21 | 2013-05-21 | 物体認識装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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JP2014228351A true JP2014228351A (ja) | 2014-12-08 |
Family
ID=52128325
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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Country | Link |
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JP (1) | JP2014228351A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101868293B1 (ko) * | 2017-11-10 | 2018-07-17 | 주식회사 아이티티 | 차량용 라이다 장치 |
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2013
- 2013-05-21 JP JP2013107306A patent/JP2014228351A/ja active Pending
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR101868293B1 (ko) * | 2017-11-10 | 2018-07-17 | 주식회사 아이티티 | 차량용 라이다 장치 |
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