JP2014216973A - Imaging unit and imaging device - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve such a problem that, although a technique for directly mounting an imaging chip on a flexible board has also become as known, incident light scatters at a connection where a flexible board and an imaging chip are electrically connected.SOLUTION: There is provided an imaging unit including: an imaging element having an imaging region comprising a plurality of pixels; and a flexible board transmitting output signals from the pixels. The flexible board includes: an opening corresponding to the imaging region and subjected to antireflection processing at a peripheral part; and a folded part where at least a part of the peripheral part is folded in the direction of the imaging region.

Description

本発明は、撮像ユニットおよび撮像装置に関する。   The present invention relates to an imaging unit and an imaging apparatus.

撮像ユニットに入射する入射光が散乱して不要光とならないように、撮像ユニット内に遮光処理を施すことが知られている。
[先行技術文献]
[特許文献]
[特許文献1]特開平10−257510号公報
It is known to perform a light shielding process in the imaging unit so that incident light incident on the imaging unit is not scattered and becomes unnecessary light.
[Prior art documents]
[Patent Literature]
[Patent Document 1] JP-A-10-257510

近時ユニットの小型化が進み、撮像チップをフレキシブル基板に直接実装する技術も知られるようになってきたが、これに伴い、フレキシブル基板と撮像チップを電気的に接続する接続部で入射した被写体光が散乱する問題が浮上してきた。   Recently, the technology of mounting the imaging chip directly on the flexible substrate has been known as the unit has been miniaturized, but along with this, the subject incident at the connection part that electrically connects the flexible substrate and the imaging chip. The problem of light scattering has surfaced.

本発明の第1の態様における撮像ユニットは、複数の画素からなる撮像領域を有する撮像素子と、複数の画素からの出力信号を伝送するフレキシブル基板とを備え、フレキシブル基板は、撮像領域に対応し、周縁部に反射防止加工が施された開口部と、周縁部の少なくとも一部が撮像領域の方向へ折り曲げられた折曲部とを有する。   The imaging unit according to the first aspect of the present invention includes an imaging element having an imaging region composed of a plurality of pixels, and a flexible substrate that transmits output signals from the plurality of pixels, and the flexible substrate corresponds to the imaging region. , An opening having an antireflection process on the peripheral edge, and a bent part in which at least a part of the peripheral edge is bent in the direction of the imaging region.

本発明の第2の態様における撮像装置は、上記の撮像ユニットを備える。   The imaging device in the 2nd aspect of this invention is equipped with said imaging unit.

なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではない。また、これらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。   It should be noted that the above summary of the invention does not enumerate all the necessary features of the present invention. In addition, a sub-combination of these feature groups can also be an invention.

本実施形態に係る撮像ユニットの分解斜視図である。It is a disassembled perspective view of the imaging unit concerning this embodiment. 図1における撮像ユニットのA−A断面図である。It is AA sectional drawing of the imaging unit in FIG. 他の実施形態に係る撮像ユニットの断面図である。It is sectional drawing of the imaging unit which concerns on other embodiment. 更に他の実施形態に係る撮像ユニットの断面図である。It is sectional drawing of the imaging unit which concerns on other embodiment. 反射防止処理領域を示す図である。It is a figure which shows an antireflection process area | region. 本実施形態に係る撮像ユニットを搭載する撮像装置の断面図である。It is sectional drawing of the imaging device carrying the imaging unit which concerns on this embodiment.

以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は特許請求の範囲にかかる発明を限定するものではない。また、実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。   Hereinafter, the present invention will be described through embodiments of the invention, but the following embodiments do not limit the invention according to the claims. In addition, not all the combinations of features described in the embodiments are essential for the solving means of the invention.

図1は、本実施形態に係る撮像ユニット100の分解斜視図である。撮像ユニット100は、主に、撮像素子110、バンプ120、接着枠130、フレキシブル基板140、スペーサ枠150および保護ガラス160により構成されている。   FIG. 1 is an exploded perspective view of the imaging unit 100 according to the present embodiment. The imaging unit 100 mainly includes an imaging element 110, a bump 120, an adhesive frame 130, a flexible substrate 140, a spacer frame 150, and a protective glass 160.

撮像素子110は、複数の画素からなる撮像領域111を有する例えばCMOS撮像センサである。被写体光は、保護ガラス160を通過して撮像領域111に結像し、撮像領域111を構成する例えば2000万個の各画素は、受光した光量に応じた電気信号を出力する。各画素からの出力信号、制御信号、供給電力等は、撮像素子110上に設けられた素子端子112を介して外部回路と授受される。   The imaging element 110 is, for example, a CMOS imaging sensor having an imaging region 111 composed of a plurality of pixels. The subject light passes through the protective glass 160 and forms an image on the imaging region 111. For example, each of 20 million pixels constituting the imaging region 111 outputs an electrical signal corresponding to the amount of received light. An output signal, a control signal, supply power, and the like from each pixel are exchanged with an external circuit via an element terminal 112 provided on the image sensor 110.

素子端子112は、それぞれバンプ120を介して、フレキシブル基板140のフレキ端子141と電気的に接続される。フレキシブル基板140は、さらに外部の回路基板と接続されており、各画素からの出力信号は、フレキシブル基板140に設けられた配線パターンを経由して、外部回路基板上に設けられた画像処理用のASICに伝送される。   The element terminals 112 are electrically connected to the flexible terminals 141 of the flexible substrate 140 via the bumps 120, respectively. The flexible substrate 140 is further connected to an external circuit board, and an output signal from each pixel is for image processing provided on the external circuit board via a wiring pattern provided on the flexible board 140. Transmitted to the ASIC.

接着枠130は、撮像素子110とフレキシブル基板140を接着する接着層を構成する。接着枠130は、バンプ120の少なくとも一部を埋めるように撮像領域111を環囲する。すなわち、接着枠130は、撮像領域111へ入射する被写体光の妨げとならず、かつ、外部から撮像領域111への湿気、塵埃等の進入を防ぐ隔壁の役割を担う。接着枠130には、接着剤として熱硬化性接着剤などが用いられる。   The adhesive frame 130 constitutes an adhesive layer that adheres the image sensor 110 and the flexible substrate 140. The adhesive frame 130 surrounds the imaging region 111 so as to fill at least a part of the bump 120. That is, the adhesive frame 130 serves as a partition wall that does not hinder subject light incident on the imaging region 111 and prevents moisture, dust, and the like from entering the imaging region 111 from the outside. For the adhesive frame 130, a thermosetting adhesive or the like is used as an adhesive.

フレキシブル基板140は、撮像領域111に対応する位置に開口部142を有する。すなわち、開口部142は、撮像領域111へ入射する被写体光を妨げないように、フレキシブル基板140の一部が切除されて設けられている。   The flexible substrate 140 has an opening 142 at a position corresponding to the imaging region 111. In other words, the opening 142 is provided by cutting away a part of the flexible substrate 140 so as not to block subject light incident on the imaging region 111.

特に本実施形態においては、フレキシブル基板140は、被写体光がバンプ120の表面で散乱して迷光とならないように、開口部142の周縁部の一部が撮像領域111の方向へ折り曲げられた折曲部143を有する。折曲部143は、開口部142と撮像領域111を繋ぐ空間と、接着枠130に少なくとも一部が埋め込まれたバンプ120が設置された空間とを分離する役割を担う。すなわち、折曲部143は、バンプ120の表面へ向かう被写体光を遮断する。なお、後述するように、開口部142の周縁部には、反射防止加工が施されている。   In particular, in the present embodiment, the flexible substrate 140 is bent such that a part of the periphery of the opening 142 is bent in the direction of the imaging region 111 so that subject light is not scattered on the surface of the bump 120 and becomes stray light. Part 143. The bent portion 143 serves to separate a space connecting the opening 142 and the imaging region 111 from a space where the bump 120 at least a part of which is embedded in the adhesive frame 130 is installed. That is, the bent portion 143 blocks subject light traveling toward the surface of the bump 120. As will be described later, the peripheral portion of the opening 142 is subjected to antireflection processing.

フレキシブル基板140のうち、接着枠130が設けられた面とは反対の面に、開口部142を環囲するスペーサ枠150が接着されている。さらに、スペーサ枠150のうち、フレキシブル基板140が接着された面とは反対の面に、枠内部を塞ぐように保護ガラス160が接着されている。すなわち、保護ガラス160は、スペーサ枠150を介して開口部142を閉塞することにより、撮像領域111との間に密封空間を形成する。   A spacer frame 150 surrounding the opening 142 is bonded to the surface of the flexible substrate 140 opposite to the surface on which the bonding frame 130 is provided. Further, a protective glass 160 is bonded to the surface of the spacer frame 150 opposite to the surface to which the flexible substrate 140 is bonded so as to close the inside of the frame. In other words, the protective glass 160 closes the opening 142 via the spacer frame 150, thereby forming a sealed space with the imaging region 111.

スペーサ枠150は、撮像素子110と保護ガラス160を予め定められた間隔に離間させる役割を担う。撮像素子110と保護ガラス160を離間させることにより、保護ガラス160に塵埃が付着したとしても、撮像領域111に投影される当該塵埃の影はぼけるので、画像形成に与える影響を低減できる。   The spacer frame 150 plays a role of separating the image sensor 110 and the protective glass 160 at a predetermined interval. By separating the image sensor 110 and the protective glass 160, even if dust adheres to the protective glass 160, the shadow of the dust projected on the imaging region 111 is blurred, so that the influence on image formation can be reduced.

図2は、図1に示す撮像ユニット100を組み立てた後の、A−A断面図である。図示するように、撮像ユニット100が組み上げられると、密封空間180が形成される。密封空間180は、接着枠130、スペーサ枠150で囲われ、保護ガラス160に閉塞された、撮像領域111が面する空間である。撮像領域111が面する空間を密封することにより、外部からの湿気、塵埃等の進入を防ぎ、各画素を保護する。   FIG. 2 is a cross-sectional view taken along the line AA after the imaging unit 100 shown in FIG. 1 is assembled. As illustrated, when the imaging unit 100 is assembled, a sealed space 180 is formed. The sealed space 180 is a space that is surrounded by the adhesive frame 130 and the spacer frame 150 and is closed by the protective glass 160 and that faces the imaging region 111. By sealing the space facing the imaging region 111, entry of moisture, dust and the like from the outside is prevented, and each pixel is protected.

また、図示するように、バンプ120は、接着枠130の内部に埋め込まれるように、隔壁の一部を構成する。ここで、フレキシブル基板140の開口部142が、単に矩形に切り取られただけの形状であれば、保護ガラス160を通過した一部の被写体光がバンプ120の表面へ向かい、散乱光が発生し得る。散乱した光の一部は撮像領域111に到達し、ゴースト等の発生原因となる。   Further, as shown in the drawing, the bump 120 constitutes a part of the partition so as to be embedded in the adhesive frame 130. Here, if the opening 142 of the flexible substrate 140 is simply cut into a rectangular shape, a part of the subject light that has passed through the protective glass 160 is directed toward the surface of the bump 120, and scattered light may be generated. . Part of the scattered light reaches the imaging region 111 and causes ghosts and the like.

そこで、本実施形態においては、上述の通り、フレキシブル基板140の開口部142周縁に折曲部143を設ける。折曲部143は、開口部142の周縁からバンプ120を境界として撮像領域の方向へ斜めに折り曲げられた傾斜部144と、傾斜部144の先端から撮像領域111の表面と平行な方向へさらに折り曲げられた平行部145とから成る。平行部145は、接着剤170を介して、撮像素子110の表面に接着されている。平行部145は、図示するように傾斜部144の先端から撮像領域111の方向へ折り曲げる場合に限らず、バンプ120の方向へ折り曲げても良い。このように、折曲部143の先端を撮像素子110に固定することにより、折曲部143のバタツキをなくし、想定外の散乱光の発生を抑制することができる。また、折曲部143に傾斜部144を設けることにより、密封空間180において周縁部へ向かう不要光を反射させ、外部に放射することができる。   Therefore, in the present embodiment, as described above, the bent portion 143 is provided on the periphery of the opening 142 of the flexible substrate 140. The bent portion 143 is further bent in the direction parallel to the surface of the imaging region 111 from the tip of the inclined portion 144 and the inclined portion 144 that is obliquely bent in the direction of the imaging region from the periphery of the opening 142 with the bump 120 as a boundary. The parallel part 145 is formed. The parallel part 145 is bonded to the surface of the image sensor 110 via an adhesive 170. The parallel part 145 is not limited to bend in the direction of the imaging region 111 from the tip of the inclined part 144 as shown in the figure, but may be bent in the direction of the bump 120. In this manner, by fixing the tip of the bent portion 143 to the image sensor 110, the flutter of the bent portion 143 can be eliminated, and the occurrence of unexpected scattered light can be suppressed. Further, by providing the inclined portion 144 in the bent portion 143, unnecessary light traveling toward the peripheral portion in the sealed space 180 can be reflected and radiated to the outside.

図3は、他の実施形態に係る撮像ユニット200の断面図である。図3は、図1におけるA−Aに対応する断面図である。図1および図2の実施形態と同様の要素については同一符番を付し、その機能において特に追加、変更がない限り説明を省略する。   FIG. 3 is a cross-sectional view of an imaging unit 200 according to another embodiment. FIG. 3 is a cross-sectional view corresponding to AA in FIG. Elements similar to those in the embodiment of FIG. 1 and FIG.

図1および図2の実施形態においては、スペーサ枠150を設けることにより、撮像領域111と保護ガラス160の距離を確保した。しかし、バンプ120の高さをより柔軟に設定できるのであれば、スペーサ枠150を設けることなく撮像領域111と保護ガラス160の距離を確保できる。この場合、保護ガラス160は、フレキシブル基板140の開口部142を直接的に閉塞するように、フレキシブル基板140の表面に接着される。   In the embodiment of FIG. 1 and FIG. 2, the distance between the imaging region 111 and the protective glass 160 is secured by providing the spacer frame 150. However, if the height of the bump 120 can be set more flexibly, the distance between the imaging region 111 and the protective glass 160 can be secured without providing the spacer frame 150. In this case, the protective glass 160 is bonded to the surface of the flexible substrate 140 so as to directly close the opening 142 of the flexible substrate 140.

また、フレキシブル基板140の折曲部143は、図1および図2の実施形態では設けられた平行部145を有さず、傾斜部144のみを有するように構成されている。このように構成すれば、平行部145に対応する撮像素子110の表面領域が不要となるので、撮像素子110の全体を小型化する場合に有効である。もちろん、スペーサ枠150を設けない構成において、折曲部143が平行部145を有する構成を採用することもできる。   Further, the bent portion 143 of the flexible substrate 140 is configured not to have the parallel portion 145 provided in the embodiment of FIGS. 1 and 2 but to have only the inclined portion 144. If configured in this manner, the surface area of the image sensor 110 corresponding to the parallel portion 145 becomes unnecessary, which is effective when the entire image sensor 110 is downsized. Of course, in the configuration in which the spacer frame 150 is not provided, a configuration in which the bent portion 143 includes the parallel portion 145 may be employed.

図4は、更に他の実施形態に係る撮像ユニット300の断面図である。図4は、図3と同様に、図1におけるA−Aに対応する断面図である。図1および図2の実施形態と同様の要素については同一符番を付し、その機能において特に追加、変更がない限り説明を省略する。   FIG. 4 is a cross-sectional view of an imaging unit 300 according to still another embodiment. 4 is a cross-sectional view corresponding to AA in FIG. 1, similarly to FIG. 3. Elements similar to those in the embodiment of FIG. 1 and FIG.

図1および図2の実施形態においては、スペーサ枠150をフレキシブル基板140と保護ガラス160の間に介在させて、撮像領域111と保護ガラス160の距離を確保した。しかし、図4に示すように、撮像素子110とフレキシブル基板140の間に介在させても、撮像領域111と保護ガラス160の距離を確保することができる。この場合、保護ガラス160は、フレキシブル基板140の開口部142を直接的に閉塞するように、フレキシブル基板140の表面に接着される。   In the embodiment of FIGS. 1 and 2, the spacer frame 150 is interposed between the flexible substrate 140 and the protective glass 160 to ensure the distance between the imaging region 111 and the protective glass 160. However, as shown in FIG. 4, the distance between the imaging region 111 and the protective glass 160 can be ensured even when interposed between the imaging element 110 and the flexible substrate 140. In this case, the protective glass 160 is bonded to the surface of the flexible substrate 140 so as to directly close the opening 142 of the flexible substrate 140.

また、撮像ユニット300においては、折曲部143の平行部145にフレキ端子141が設けられており、フレキ端子141と撮像素子110の素子端子112は、バンプ120を介して電気的に接続されている。バンプ120の周辺には接着剤131が塗布されている。このように構成すれば、電気的な接続を実現すると共に、折曲部143のバタツキをなくすことができる。   In the imaging unit 300, the flexible terminal 141 is provided in the parallel part 145 of the bent part 143, and the flexible terminal 141 and the element terminal 112 of the imaging element 110 are electrically connected via the bump 120. Yes. An adhesive 131 is applied around the bump 120. If comprised in this way, while being able to implement | achieve an electrical connection, the flapping of the bending part 143 can be eliminated.

つぎに、これまで説明した各実施形態に共通する反射防止処理について説明する。図5は、反射防止処理領域を示す図である。図は、各実施形態に共通するフレキシブル基板140と保護ガラス160を抽出して表した分解斜視図である。   Next, an antireflection process common to the embodiments described so far will be described. FIG. 5 is a diagram showing an antireflection treatment area. The figure is an exploded perspective view showing a flexible substrate 140 and a protective glass 160 that are common to each embodiment.

入射する被写体光束は、さまざまな部材の表面で反射、散乱して不要光となって撮像領域111に到達し得る。そこで、反射の可能性がある箇所に反射防止加工を施すことが好ましい。反射防止加工としては、黒色塗装、植毛紙の貼着、表面の粗面化、遮光線の刻設などを採用し得る。   Incident subject light flux can be reflected and scattered by the surfaces of various members to reach the imaging region 111 as unnecessary light. Therefore, it is preferable to apply antireflection processing to a portion where there is a possibility of reflection. As antireflection processing, black coating, flocking paper sticking, surface roughening, engraving of shading lines, etc. can be adopted.

開口部142の周縁部149は、反射防止加工が施される。周縁部149は、これまで説明してきた折曲部143を含む。折曲部143は、上述の通り、矩形から成る開口部142のうちの短辺から延出する。しかし、短辺から延出するに限らず、長辺から延出する折曲部146を有しても良い。この場合、折曲部146も周縁部149に含まれる。   The peripheral portion 149 of the opening 142 is subjected to antireflection processing. The peripheral portion 149 includes the bent portion 143 described so far. As described above, the bent portion 143 extends from the short side of the rectangular opening 142. However, it is not limited to extending from the short side, but may have a bent portion 146 extending from the long side. In this case, the bent portion 146 is also included in the peripheral portion 149.

すなわち、折曲部143、146に限らず、保護ガラス160と対向する領域も含めた周縁部149に対して、反射防止加工が施されている。特に周縁部149の外縁は、保護ガラス160に対応する外縁であることが好ましい。このように反射防止加工を施すことにより、保護ガラス160の表面との間で複数回反射するような不要光を適切に減衰させることができる。   That is, not only the bent portions 143 and 146 but also the peripheral portion 149 including the region facing the protective glass 160 is subjected to antireflection processing. In particular, the outer edge of the peripheral edge 149 is preferably an outer edge corresponding to the protective glass 160. By performing antireflection processing in this manner, unnecessary light that is reflected a plurality of times from the surface of the protective glass 160 can be appropriately attenuated.

保護ガラス160の側面161は、反射防止加工が施される。このように側面161に反射防止加工を施すことにより、内面を通過して側面に到達する不要光を適切に減衰させることができる。なお、反射防止加工が施される側面161は、全部の側面でなくても良い。開口部142に対して近い側面と遠い側面がある場合には、遠い側の側面に対する反射防止加工を省略しても良い。   The side surface 161 of the protective glass 160 is subjected to antireflection processing. In this way, by applying antireflection processing to the side surface 161, it is possible to appropriately attenuate unnecessary light that passes through the inner surface and reaches the side surface. In addition, the side surface 161 to which antireflection processing is applied may not be all the side surfaces. When there are a side surface close to the opening 142 and a side surface far from the opening 142, the antireflection processing for the side surface on the far side may be omitted.

図6は、本実施形態に係る撮像ユニット100を搭載する撮像装置の一例としての一眼レフカメラ400の断面図である。搭載する撮像ユニットは、撮像ユニット100に限らず、上述の各実施形態で説明したいずれでも良いし、それぞれの特徴を組み合わせた撮像ユニットであっても良い。   FIG. 6 is a cross-sectional view of a single-lens reflex camera 400 as an example of an imaging apparatus equipped with the imaging unit 100 according to the present embodiment. The image pickup unit to be mounted is not limited to the image pickup unit 100, and any of the image pickup units described in the above-described embodiments may be used, or an image pickup unit in which the respective features are combined.

一眼レフカメラ400は、カメラボディ600にレンズユニット500が装着されてカメラとしての機能を発揮する。レンズユニット500は、鏡筒内に配列された複数のレンズを備え、入射する被写体光束をカメラボディ600の撮像ユニット100へ導く。   The single-lens reflex camera 400 exhibits a function as a camera with the lens unit 500 mounted on the camera body 600. The lens unit 500 includes a plurality of lenses arranged in a lens barrel, and guides an incident subject light beam to the imaging unit 100 of the camera body 600.

カメラボディ600は、メインミラー672およびサブミラー674を備える。メインミラー672は、レンズユニット500から入射した被写体光束に斜設される斜設位置と、被写体光束から退避する退避位置との間で回動可能に軸支される。サブミラー674は、メインミラー672に対して回動可能に軸支される。   The camera body 600 includes a main mirror 672 and a sub mirror 674. The main mirror 672 is pivotally supported between an oblique position obliquely provided to the subject light beam incident from the lens unit 500 and a retracted position retracted from the subject light beam. The sub mirror 674 is pivotally supported with respect to the main mirror 672 so as to be rotatable.

メインミラー672が斜設位置にある場合、レンズユニット500を通じて入射した被写体光束の多くはメインミラー672に反射されてピント板652に導かれる。ピント板652は、撮像素子110の受光面と共役な位置に配されて、レンズユニット500の光学系が形成した被写体像を可視化する。ピント板652に形成された被写体像は、ペンタプリズム654を通じてファインダ650から観察される。   When the main mirror 672 is in the oblique position, most of the subject light beam incident through the lens unit 500 is reflected by the main mirror 672 and guided to the focus plate 652. The focus plate 652 is disposed at a position conjugate with the light receiving surface of the image sensor 110 to visualize the subject image formed by the optical system of the lens unit 500. The subject image formed on the focus plate 652 is observed from the viewfinder 650 through the pentaprism 654.

斜設位置にあるメインミラー672に入射した被写体光束の一部は、メインミラー672のハーフミラー領域を透過しサブミラー674に入射する。サブミラー674は、ハーフミラー領域から入射した光束の一部を、焦点検出センサ682に導く。焦点検出センサ682は、検出結果をCPU622へ出力する。   Part of the subject light beam incident on the main mirror 672 at the oblique position passes through the half mirror region of the main mirror 672 and enters the sub mirror 674. The sub mirror 674 guides a part of the light beam incident from the half mirror region to the focus detection sensor 682. The focus detection sensor 682 outputs the detection result to the CPU 622.

ピント板652、ペンタプリズム654、メインミラー672、サブミラー674は、構造体としてのミラーボックス670に支持される。撮像ユニット100は、フレキシブル基板140が固定されるブラケット684を介してミラーボックス670に取り付けられる。フレキシブル基板140は、ボディ基板620へ電気的に接続される。   The focus plate 652, the pentaprism 654, the main mirror 672, and the sub mirror 674 are supported by a mirror box 670 as a structure. The imaging unit 100 is attached to the mirror box 670 via a bracket 684 to which the flexible substrate 140 is fixed. Flexible substrate 140 is electrically connected to body substrate 620.

ボディ基板620には、CPU622、画像処理ASIC624等の電子回路が実装される。撮像素子110の出力信号は、フレキシブル基板140を介して当該出力信号を処理する処理チップである画像処理ASIC624へ引き渡される。   Electronic circuits such as a CPU 622 and an image processing ASIC 624 are mounted on the body substrate 620. The output signal of the image sensor 110 is delivered to the image processing ASIC 624 that is a processing chip that processes the output signal via the flexible substrate 140.

なお、以上説明した各撮像ユニットは、カメラボディ600に搭載されるので、カメラボディ600を撮像装置として捉えても良い。カメラボディ600は、さまざまな実施形態を採用し得る。上述の例以外にも、ミラーユニットを備えないミラーレスタイプのカメラボディであっても良い。また、撮像装置は、レンズ一体型カメラであっても良い。   Since each imaging unit described above is mounted on the camera body 600, the camera body 600 may be regarded as an imaging device. The camera body 600 may employ various embodiments. In addition to the above example, a mirrorless type camera body that does not include a mirror unit may be used. The imaging device may be a lens-integrated camera.

以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、特許請求の範囲の記載から明らかである。   As mentioned above, although this invention was demonstrated using embodiment, the technical scope of this invention is not limited to the range as described in the said embodiment. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications or improvements can be added to the above-described embodiment. It is apparent from the scope of the claims that the embodiments added with such changes or improvements can be included in the technical scope of the present invention.

100、200、300 撮像ユニット、110 撮像素子、111 撮像領域、112 素子端子、120 バンプ、130 接着枠、140 フレキシブル基板、141 フレキ端子、142 開口部、143、146 折曲部、144 傾斜部、145 平行部、150 スペーサ枠、160 保護ガラス、161 側面、170 接着剤、180 密封空間、400 一眼レフカメラ、500 レンズユニット、600 カメラボディ、620 ボディ基板、622 CPU、624 画像処理ASIC、650 ファインダ、652 ピント板、654 ペンタプリズム、670 ミラーボックス、672 メインミラー、674 サブミラー、682 焦点検出センサ、684 ブラケット 100, 200, 300 Imaging unit, 110 Imaging element, 111 Imaging area, 112 Element terminal, 120 Bump, 130 Adhesive frame, 140 Flexible substrate, 141 Flexible terminal, 142 Opening part, 143, 146 Bent part, 144 Inclined part, 145 Parallel part, 150 Spacer frame, 160 Protective glass, 161 Side surface, 170 Adhesive, 180 Sealed space, 400 Single-lens reflex camera, 500 Lens unit, 600 Camera body, 620 Body substrate, 622 CPU, 624 Image processing ASIC, 650 Finder , 652 Focus plate, 654 Penta prism, 670 Mirror box, 672 Main mirror, 674 Sub mirror, 682 Focus detection sensor, 684 Bracket

Claims (10)

複数の画素からなる撮像領域を有する撮像素子と、
前記複数の画素からの出力信号を伝送するフレキシブル基板と
を備え、
前記フレキシブル基板は、
前記撮像領域に対応し、周縁部に反射防止加工が施された開口部と、
前記周縁部の少なくとも一部が前記撮像領域の方向へ折り曲げられた折曲部と
を有する撮像ユニット。
An imaging device having an imaging region composed of a plurality of pixels;
A flexible substrate that transmits output signals from the plurality of pixels,
The flexible substrate is
Corresponding to the imaging region, an opening having an antireflection process on the peripheral edge;
An imaging unit having a bent portion in which at least a part of the peripheral edge portion is bent in the direction of the imaging region.
前記撮像素子と前記フレキシブル基板は、バンプを介して電気的に接続されており、
前記折曲部は、前記バンプを境界として折り曲げられている請求項1に記載の撮像ユニット。
The imaging element and the flexible substrate are electrically connected via bumps,
The imaging unit according to claim 1, wherein the bent portion is bent with the bump as a boundary.
前記バンプの少なくとも一部を埋めるように前記撮像領域を環囲して前記撮像素子と前記フレキシブル基板を接着する接着層を備える請求項2に記載の撮像ユニット。   The imaging unit according to claim 2, further comprising an adhesive layer that surrounds the imaging region so as to fill at least a part of the bump and adheres the imaging element and the flexible substrate. 前記折曲部とは異なる領域で前記フレキシブル基板と接して、前記撮像素子と前記フレキシブル基板とを離間させるスペーサを備える請求項1から3のいずれか1項に記載の撮像ユニット。   The imaging unit according to any one of claims 1 to 3, further comprising a spacer that contacts the flexible substrate in a region different from the bent portion and separates the imaging element and the flexible substrate. 前記スペーサは、前記撮像領域を環囲する請求項4に記載の撮像ユニット。   The imaging unit according to claim 4, wherein the spacer surrounds the imaging area. 前記開口部を閉塞して前記撮像領域との間に密封空間を形成する保護ガラスを備える請求項1から5のいずれか1項に記載の撮像ユニット。   The imaging unit according to claim 1, further comprising a protective glass that closes the opening and forms a sealed space with the imaging region. 前記保護ガラスの少なくとも一つの側面は、反射防止加工が施されている請求項6に記載の撮像ユニット。   The imaging unit according to claim 6, wherein at least one side surface of the protective glass is subjected to antireflection processing. 前記フレキシブル基板は、前記保護ガラスと対向する領域にも反射防止加工が施されている請求項6または7に記載の撮像ユニット。   The imaging unit according to claim 6 or 7, wherein the flexible substrate is also subjected to antireflection processing in a region facing the protective glass. 前記折曲部は、前記撮像領域の方向へ折り曲げられた先の前記開口部方向において、前記撮像領域が設けられた平面と平行な方向にさらに折り曲げられて、前記撮像素子と接着されている請求項1から8のいずれか1項に記載の撮像ユニット。   The bent portion is further bent in a direction parallel to a plane on which the imaging region is provided in the direction of the opening that is bent in the direction of the imaging region, and is bonded to the imaging element. Item 9. The imaging unit according to any one of Items 1 to 8. 請求項1から9のいずれか1項に記載の撮像ユニットを備えた撮像装置。   The imaging device provided with the imaging unit of any one of Claim 1 to 9.
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