JP2014216466A - Semiconductor package and method of manufacturing the same - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、半導体パッケージおよびその製造方法に関する。 The present invention relates to a semiconductor package and a manufacturing method thereof.
POP(Package On Package)では、各半導体パッケージを積層するために、半導体チップの電極に接続される各外部接続用端子を、封止樹脂の表裏両面に露出させる。
各半導体チップの厚さを薄くするために、各外部接続用端子を、外部接続電極と、半導体チップの電極にワイヤボンディングされる内部電極とを連結部で連結した端子構造とし、内部電極の厚さを外部電極の厚さよりも薄くする構造が知られている。この構造では、すべての外部接続用端子は、半導体チップのいずれかの電極にワイヤボンディングされている(たとえば、特許文献1参照)。
In POP (Package On Package), in order to stack each semiconductor package, each external connection terminal connected to the electrode of the semiconductor chip is exposed on both the front and back sides of the sealing resin.
In order to reduce the thickness of each semiconductor chip, each external connection terminal has a terminal structure in which an external connection electrode and an internal electrode wire-bonded to the electrode of the semiconductor chip are connected by a connecting portion. A structure in which the thickness is made thinner than the thickness of the external electrode is known. In this structure, all the external connection terminals are wire-bonded to any electrode of the semiconductor chip (see, for example, Patent Document 1).
複数個の半導体パッケージデバイスを積層した積層パッケージデバイスにおいては、積層された各パッケージの端子同士が接触して積層されるようになっており、したがって同種の半導体パッケージデバイスの積層のみを対象とするものであった。このような積層パッケージデバイスおよびこの積層のための個々の半導体パッケージの構造では、半導体パッケージの上に更に、配線がデバイスの組み合わせ毎に異なるような、様々な異種のパッケージデバイスあるいは表面実装デバイス等を積層することはできなかった。 In a stacked package device in which a plurality of semiconductor package devices are stacked, the terminals of each stacked package are stacked in contact with each other, and therefore only for stacking the same type of semiconductor package device. Met. In such a stacked package device and the structure of an individual semiconductor package for this stack, various different types of package devices or surface mount devices, etc., in which wiring is different for each combination of devices, are further provided on the semiconductor package. It was not possible to laminate.
(1)請求項1に記載の発明は、半導体チップを樹脂で封止した矩形の半導体パッケージであって、半導体パッケージの4辺に周設された複数のリードを備え、複数のリードは、半導体パッケージの対向する2辺に設けられた複数の第1のリードと、対向する2辺とは別の対向する2辺に設けられた複数の第2のリードとを含み、第1のリードは、半導体パッケージに封止された半導体チップとボンディングワイヤ接続され、複数の第2のリードは、ボンディングワイヤより高くなるように形成され、かつ半導体チップと接続されず、第1のリードのパッケージ下面側の端面およびパッケージ側面側の端面は半導体パッケージの表面に露出し、第2のリードのパッケージ下面側と上面側の端面およびパッケージ側面側の端面は半導体パッケージの表面に露出していることを特徴とする半導体パッケージである。
(2)請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の半導体パッケージの製造方法であって、複数のダイパッドを備え、複数のダイパッドの各々の周囲に複数の第1のリードと複数の第2のリードが周設されたリードフレームを準備する第1の工程と、複数のダイパッドの各々に半導体チップを戴置して、当該半導体チップと複数の第1のリードとをボンディング接続する第2の工程と、第2の工程後、リードフレーム全体を樹脂で封止する第3の工程と、第3の工程後、カッターで個々の半導体パッケージに裁断する第4の工程と、半導体パッケージに別の半導体パッケージあるいはデバイスを積層して第2のリードと接続する第5の工程とを有することを特徴とする半導体パッケージの製造方法である。
(3)請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の半導体パッケージの製造方法であって、複数のダイパッドを備え、複数のダイパッドの各々の周囲に複数の第1のリードと複数の第2のリードが周設されたリードフレームを準備する第1の工程と、複数のダイパッドの各々に半導体チップを戴置して、当該半導体チップと複数の第1のリードとをボンディング接続する第2の工程と、第2の工程後、リードフレーム全体を樹脂で封止する第3の工程と、第3の工程後、半導体チップの上部に別の半導体パッケージあるいはデバイスを積層して第2のリードと接続する第4の工程と、第4の工程後、カッターで個々の半導体パッケージに裁断する第5の工程とを有することを特徴とする半導体パッケージの製造方法である。
(1) The invention described in
(2) The invention according to
(3) The invention described in claim 3 is the method of manufacturing the semiconductor package according to
本発明による半導体パッケージを用いることにより、様々な異種のデバイスやパッケージデバイスを積層した積層デバイスを製造することができる。これにより、小型かつ高密度の積層デバイスを製造することができる。また、本発明では、このような積層デバイスを効率良く製造することができる。 By using the semiconductor package according to the present invention, it is possible to manufacture a stacked device in which various different types of devices and package devices are stacked. Thereby, a small and high-density laminated device can be manufactured. Moreover, in this invention, such a laminated device can be manufactured efficiently.
図1〜7を参照して、本発明による半導体パッケージおよびその製造方法の実施形態および変形実施例を説明する。
なお、本発明による半導体パッケージの最終形態の例が図5(a)、図5(b)に示されている。半導体パッケージは図5(c)に図示されるように半導体パッケージ21上にデバイス(上部デバイスと称する)22が搭載された積層デバイス23として構成される。
With reference to FIGS. 1-7, embodiment and modified example of the semiconductor package by this invention and its manufacturing method are described.
An example of the final form of the semiconductor package according to the present invention is shown in FIGS. 5 (a) and 5 (b). The semiconductor package is configured as a laminated device 23 in which a device (referred to as an upper device) 22 is mounted on a
図1は、本発明による半導体パッケージの製造に用いるリードフレーム1の例を示す。ダイパッド2には、図5(a)に図示された半導体チップ6が戴置される(図2参照)。ダイパッド2の周囲の4辺の内、対向する2辺には、半導体チップ6の電極(不図示)とボンディングワイヤで接続されるリード3a〜3fが設けられている。
FIG. 1 shows an example of a
また、別の対向する2辺には、図5(c)で示すようなパッケージデバイス21の上側に積層される上部デバイス22に接続するためのリード4a〜4hが設けられている。したがって、このリード4a〜4hは半導体チップ6の電極とは接続されていない。半導体チップ6の電極(不図示)に接続されるリード3a〜3fは、その高さ(厚さ)はダイパッド2あるいはこのダイパッド2に戴置した半導体チップ6と同程度の高さとなっている。これに対し、リード4a〜4hは、その高さ(厚さ)は、半導体チップ6とリード3a〜3fを接続するボンディングワイヤ7a〜7fの高さよりも高くなるような厚さとなっている。
Moreover, leads 4a to 4h for connecting to the
このように半導体チップ6接続用のリード3a〜3fと上部デバイス22接続用のリード4a〜4hをそれぞれ専用に設けることにより、リードの大きさを小さくでき、積層デバイス23に用いる半導体パッケージ21を小さくすることができる。リード3a〜3fとリード4a〜4hを共に、半導体チップ6あるいは上部デバイスを接続できるような形状、すなわち半導体チップ側で高さが低く、外側で高くなるような2段となったような形状のリード(たとえば特開2008−60652号公報の端子部110のような形状)とすることも可能であるが、このような形状のリードは必然的に大きく(長く)なるため、半導体パッケージ21の小型化に向いていない。
Thus, by providing the
なお、リード3a〜3fおよび4a〜4hの個数は、図1〜6に示されているような個数に限定されるものではない。それぞれ半導体チップ6の接続パッドの数や、上側に積層される上部デバイス22の仕様により適宜変更することが可能である。あるいは、異なる仕様の半導体チップや、積層されるデバイスの自由度を更に確保するため、適宜多めに配置しておいてもよい。また、図1および図2では、対向する2組の辺のそれぞれの2辺で、同数のリードが設けられているが、対向する2辺のそれぞれで異なる数のリードを設けても構わない。
The number of
また、図1から4および6では、説明のため、半導体パッケージ21の4個分の領域のみ示してある。したがって、図1では、ダイパッド2、リード3a〜3fおよび4a〜4h、フレーム部5が一体成形されているリードフレーム1の半導体パッケージ21の4個分の領域が示されている。図1および図2では、説明のため、この4個分の半導体パッケージ21の内、右上の1個について、参照番号を付与して説明しているが、他の3個についても同様な構成となっている。図1、2では、リード3d〜3fがどこにも接続されていないように示されているが、これは説明のために、これらのリードが一体成形されているフレーム部5を省略しているためである。
In FIGS. 1 to 4 and 6, only four regions of the
図2のように半導体チップ6とリード3a〜3fをボンディングワイヤで接続したのち、このような複数の半導体チップ6が戴置されたリードフレーム1全体に、リード4a〜4hの高さまで封止樹脂8を流し込んで硬化させ、図3に示すような形態とする。必要に応じ、上面を研磨し、リード4a〜4hの上面が露出するようにしておく。
After connecting the
封止樹脂8が硬化後、図4に示すように、カッター9を用いて裁断し、個々の半導体パッケージ21を作製する。なお、図4では図示を省略しているが、フレーム部5に一体で成形されたリード3a〜3fおよび4a〜4hをフレーム部5から切り離すために、2つの隣り合う半導体パッケージの間では、カッター9による裁断が実際は2回行われている。
After the sealing resin 8 is cured, as shown in FIG. 4, it is cut using a cutter 9 to produce
図5(a)〜(c)は、上記の製造工程が分かり易いように、図4で示すように個々の半導体パッケージ21に裁断された後の、1個の半導体パッケージ21を示す。
図5(a)は、図2で説明したボンディングワイヤ接続状態が分かるように、図5(b)のように封止された封止樹脂8を透明にして示したものである。
FIGS. 5A to 5C show one
FIG. 5A shows the sealing resin 8 sealed as shown in FIG. 5B in a transparent manner so that the bonding wire connection state described in FIG. 2 can be seen.
この半導体パッケージ21の上に必要に応じて、他の半導体パッケージや、チップ抵抗、チップコンデンサ、チップインダクタ、各種センサのパッケージ、小型PCB等の種々のデバイス22(上部デバイスと称する)を積層して半田等で接続し、図5(c)に示す積層パッケージ23を形成することができる。半導体パッケージ21と上部デバイス22とは、リード4a〜4dが上部デバイス22の一方の電極に接続され、リード4e〜4hが上部デバイス22の他方の電極に接続される。上部デバイス22が3つ以上の電極を有していたり、半導体パッケージ21上に複数のデバイス22を積層する場合には、リード4a〜4hは、それぞれ、上部デバイス22の異なる電極に接続される。この接続は半田以外の導電性接着剤等で行ってもよい。なお、デバイス22として様々のデバイスが戴置されるので、上部デバイス22の半田付け用のリードは省略してある。
If necessary, other semiconductor packages, chip resistors, chip capacitors, chip inductors, various sensor packages, small PCBs, and other various devices 22 (referred to as upper devices) are stacked on the
なお、半導体パッケージ21の大きさは、搭載する半導体チップ6の大きさにより、たとえば数mmから数cm程度である。上部デバイス22に関しても、必要に応じて、その大きさに依存するが、同じあるいは異なるデバイスを複数個搭載することも可能である。
The size of the
以上図1〜5を参照して説明した本発明による半導体パッケージ21の形状は、いわゆるSONタイプのパッケージに類似している。すなわち、半導体パッケージ21に搭載された半導体チップ6に接続されたリードは、パッケージの外部で対向する2辺において、パッケージの下面および側面に外部の回路との接続(半田付け等)のためのリードの端面が露出している。
しかしながら、本発明の半導体パッケージ21では、この半導体パッケージ21において別の対向する2辺に、半導体チップに接続されていないリードがさらに設けられている。このリードは図1〜5で分かるように、半導体パッケージ21の下面と側面だけでなく上面にも露出している。
The shape of the
However, in the
なお、分かり易いように図5(b)には、リード3a〜3cがパッケージ側面側に露出した端面31a〜31cと、ダイパッドサポート部35(図7参照)の端面35a、リード4a〜4hがパッケージ上面側に露出した端面41a〜41h、リード4e〜4hがパッケージ側面側に露出した端面42e〜42hを示してある。これら以外のリードの端面は図では隠れて見えないので省略する。
For ease of understanding, FIG. 5B shows the end surfaces 31a to 31c where the
以上のようにして製造された積層半導体パッケージ23は、これより大型の、たとえばPCB(不図示)に戴置されて、このPCBでの配線により、半導体パッケージ21の半導体チップ6および、積層された上部デバイス22が、所望の回路に組み込まれる。
The laminated semiconductor package 23 manufactured as described above is placed on a larger PCB (not shown), for example, and is laminated with the
従来の積層パッケージデバイスでは、積層した2つのパッケージデバイスの上側のパッケージデバイスと下側のパッケージデバイスが接続されており、したがって、上側のパッケージデバイスと下側のパッケージデバイスの組み合わせは既に決まった構成の積層パッケージデバイスであった。しかしながら、本発明による半導体パッケージ21を用いた積層デバイスおよびこの製造方法においては、上部デバイス(パッケージデバイスであってもよい)22と下側の半導体パッケージ21を種々の組み合わせとすることができる。特に上部デバイス22として必要に応じ、フレキシブルに異種のデバイスを搭載することが可能である。
In the conventional stacked package device, the upper package device and the lower package device of the two stacked package devices are connected. Therefore, the combination of the upper package device and the lower package device has a predetermined configuration. It was a stacked package device. However, in the stacked device using the
以上の説明をまとめると、本発明による半導体パッケージ21は以下のような構造を有している。
本発明による半導体パッケージ21は、半導体チップ6を封止樹脂8で封止した矩形の半導体パッケージであって、この半導体パッケージ21の4辺に周設された複数のリードを備えている。この複数のリードには、搭載された半導体チップ6とボンディングワイヤで接続される第1のリード3a〜3fと半導体チップと接続されない第2のリード4a〜4hを含んでいる。半導体チップ6に接続される第1のリードは、リードフレーム1のダイパッド2に戴置されている半導体チップ6の高さと同程度の高さとなっており、これらは半導体チップ6を挟んで対向する2辺、すなわち矩形の半導体パッケージ21の対向する2辺に沿って周設されている。この2辺とは別の対向する2辺に沿って、ボンディングワイヤより高くなるように形成された第2のリードが周設されている。第1のリードのパッケージ下面側端面およびパッケージ側面側の端面は、半導体パッケージ21の表面に露出し、第2のリードのパッケージ下面側と上面側の端面およびパッケージ側面側の端面は前記半導体パッケージ21の表面に露出している。
In summary, the
The
以上のような構造の半導体パッケージ21を用いて、この半導体パッケージ21とは異なるパッケージデバイスや種々のデバイス、たとえば表面実装デバイス等を上部デバイス22として半導体パッケージ21の上に積層して、積層デバイス23を構成する。
Using the
また本発明による上記のような構成の半導体パッケージ21の製造方法をまとめると以下のようになる。
本発明の半導体パッケージ21の製造方法では、まず複数のダイパッド2を備え、前記複数のダイパッドの各々の周囲に上記の第1のリードと第2のリードが周設されたリードフレームを準備する(第1の工程)。次にこの複数のダイパッドの各々に前記半導体チップを戴置して、当該半導体チップと複数の第1のリードとをボンディング接続する(第2の工程)。これに続いて、リードフレーム全体を樹脂で封止し硬化させる(第3の工程)。なお、この工程で、樹脂の硬化後必要に応じ、第1のリードと第2のリードの端面がパッケージ外側に十分露出するように研磨または洗浄を行う場合がある。この第3の工程後、カッターで個々の半導体パッケージに裁断する(第4の工程)。
個々の半導体パッケージに裁断後、さらにそれぞれの半導体パッケージ21に別の半導体パッケージあるいはデバイス(上部デバイス22)を積層して第2のリードと半田等で接続する(第5の工程)。
The manufacturing method of the
In the manufacturing method of the
After cutting into individual semiconductor packages, another semiconductor package or device (upper device 22) is further stacked on each
(変形実施例1)
図6は、本発明による半導体パッケージデバイスを用いた積層デバイスの製造方法の変形実施例を示す。
以上の説明では、図4、図5に示すように、個々の半導体パッケージ21を切り出した後で、各半導体パッケージ21の上に別のデバイス22を戴置して半田等で接続・固定する。しかしながら、図6に示す例では、図3に示す状態で、デバイス22をそれぞれの半導体パッケージに対応して戴置して半田ディップ等でまとめて接続・固定したのち、図4のようにカッターで個々の積層デバイス23に裁断する。このように製造することで、工程を省き、製造時間を短縮することができる。
(Modified Example 1)
FIG. 6 shows a modified embodiment of the manufacturing method of the laminated device using the semiconductor package device according to the present invention.
In the above description, as shown in FIGS. 4 and 5, after each
(変形実施例2)
以上に説明した、本発明による積層デバイスの製造方法は、図1に示す複数のダイパッド2の各々にそれぞれ異なる半導体チップを搭載し、また上側に積層するデバイス22もそれぞれ必要に応じ異なるデバイスを積層搭載することも可能である(図示省略)。このような製造方法により、1枚のリードフレームから複数の異なる機能の積層デバイスを製造することができる。このような製造方法は、少量多品種の積層パッケージデバイスの製造に極めて適合している。
(Modified Example 2)
In the method for manufacturing a laminated device according to the present invention described above, different semiconductor chips are mounted on each of the plurality of
(変形実施例3)
上記の変形実施例2で説明したような、多品種の積層デバイスを1枚のリードフレームから製造する場合は、図1に示すダイパッド2の表面や、図3の示す樹脂封入後の半導体パッケージ21の上面および下面、更には図5あるいは図6の上部デバイス22に、積層デバイス23のタイプをレーザー等で刻印しておく(図示せず)。このような刻印のデータを製造装置のコンピュータに記憶しておき、この刻印のデータを基に、積層する上部デバイスを選択したり、さらに最終形態の積層パッケージデバイスの種類を判別することができる。このようにして、1枚のリードフレームから、異なる機能の積層デバイスを間違いなく製造することが可能となり、またこのような異なる機能の積層デバイスを分別することも容易となる。
(Modified Example 3)
When manufacturing a variety of stacked devices as described in the above-described modified
(変形実施例4)
以上の説明では、本発明による半導体パッケージは、SONタイプのパッケージに類似していると説明した。しかしながら、本発明は、外部接続のためのリードの外側部分がパッケージの外側部分にさらに延伸しているような種々のパッケージデバイスにも適用できる。ただし上部デバイス22に接続されるリード、すなわち半導体チップ6に接続されないリードの上面部分はパッケージデバイス21の上面に露出した形状となる。
(Modified Example 4)
In the above description, it has been described that the semiconductor package according to the present invention is similar to the SON type package. However, the present invention can also be applied to various package devices in which the outer portion of the lead for external connection extends further to the outer portion of the package. However, the upper surface portion of the lead connected to the
(変形実施例5)
図7は、上記で説明した半導体パッケージにおいて、さらに別の接続用リード34を設けるためのリードフレーム1の構造を示すものである。説明のため、リードフレーム1の半導体パッケージ1個分の範囲のみ示している。
(Modified Example 5)
FIG. 7 shows the structure of the
このリード34は、リード4a〜4hと同様の形状を有しているが、さらに半導体チップ6にもボンディング接続するための半導体チップ接続部34aを有している。
このリード34にたとえば半導体チップのGNDパッド(不図示)を接続しておくことにより、この半導体パッケージ21のGNDと、この半導体パッケージ21に積層された上部デバイス22のGNDとを接続し、さらにこのGNDが積層デバイスの上下の面にリード34の端面として露出される。このような構造により、積層デバイスをマウンタやハンドラで搬送する場合にGND接続を維持することが可能となり、静電気等によるデバイスの破損を防ぐことができる。
The
For example, by connecting a GND pad (not shown) of a semiconductor chip to the
このようなリード34は、ボンディング作業の邪魔とならないように、たとえば図7のように矩形の半導体パッケージ21の隅部に設けておけばよく、各隅部にそれぞれ設けてもよい。また各隅部に複数個備えてもよい。
Such leads 34 may be provided at the corners of the
なお、このようなリード34は、GND接続以外の目的、たとえば積層される上部デバイス22が、図5あるいは図7の状態で半導体チップ6と回路的に接続されるような場合にも用いることができる。
Such a
また、図示は省略するが、このようなリード34をGND接続のためだけに用いるのであれば、当初よりこのリード34がたとえばダイパッドと連接されたような構造としておくことも可能である。あるいは、このリード34が、図7でダイパッド2がフレーム枠と接続しているダイパッドサポート部35と連接されるように、リードフレームを最初から形成しておいてもよい。
Although not shown, if such a
以上の説明は本発明の実施形態の例であり、本発明はこれらの実施形態や実施例に限定されない。当業者であれば、本発明の特徴を損なわずに様々な変形実施が可能である。 The above description is an example of embodiments of the present invention, and the present invention is not limited to these embodiments and examples. Those skilled in the art can implement various modifications without impairing the features of the present invention.
1・・・リードフレーム
2・・・ダイパッド
3a〜3f・・・半導体チップ接続用リード
4a〜4h・・・上部デバイス接続用リード
5・・・リードフレーム枠
6・・・半導体チップ(ダイ)
7a〜7f・・・ボンディングワイヤ
8・・・封入樹脂
9・・・カッター
21・・・半導体パッケージ
22・・・上部デバイス
23・・・積層デバイス
31a〜31c・・・リード3a〜3cのパッケージ側面側端面
34・・・接続用リード
34a・・・接続用リード34の半導体チップ接続部
35・・・ダイパッドサポート部
41a〜41h・・・リード4a〜4hのパッケージ上面側端面
42e〜42h・・・リード4e〜4hのパッケージ側面側端面
DESCRIPTION OF
7a to 7f: bonding wire 8 ... encapsulating resin 9 ...
22 ... Upper device
23 ...
Claims (5)
前記半導体パッケージの4辺に周設された複数のリードを備え、
前記複数のリードは、前記半導体パッケージの対向する2辺に設けられた複数の第1のリードと、前記対向する2辺とは別の対向する2辺に設けられた複数の第2のリードとを含み、
前記第1のリードは、前記半導体パッケージに封止された前記半導体チップとボンディングワイヤ接続され、
前記複数の第2のリードは、前記ボンディングワイヤより高くなるように形成され、かつ前記半導体チップと接続されず、
前記第1のリードのパッケージ下面側の端面およびパッケージ側面側の端面は前記半導体パッケージの表面に露出し、
前記第2のリードのパッケージ下面側と上面側の端面およびパッケージ側面側の端面は前記半導体パッケージの表面に露出していることを特徴とする半導体パッケージ。 A rectangular semiconductor package in which a semiconductor chip is sealed with resin,
A plurality of leads provided around the four sides of the semiconductor package;
The plurality of leads include a plurality of first leads provided on two opposing sides of the semiconductor package, and a plurality of second leads provided on two opposing sides different from the two opposing sides. Including
The first lead is connected to the semiconductor chip sealed in the semiconductor package with a bonding wire,
The plurality of second leads are formed to be higher than the bonding wire and are not connected to the semiconductor chip,
An end surface on the package lower surface side and an end surface on the package side surface of the first lead are exposed on the surface of the semiconductor package,
The semiconductor package according to claim 1, wherein an end surface on the lower surface side and an upper surface side of the second lead and an end surface on the side surface of the package are exposed on the surface of the semiconductor package.
複数のダイパッドを備え、前記複数のダイパッドの各々の周囲に前記複数の第1のリードと前記複数の第2のリードが周設されたリードフレームを準備する第1の工程と、
前記複数のダイパッドの各々に前記半導体チップを戴置して、当該半導体チップと前記複数の第1のリードとをボンディング接続する第2の工程と、
前記第2の工程後、前記リードフレーム全体を樹脂で封止する第3の工程と、
前記第3の工程後、カッターで個々の半導体パッケージに裁断する第4の工程と、
前記半導体パッケージに別の半導体パッケージあるいはデバイスを積層して前記第2のリードと接続する第5の工程とを有することを特徴とする半導体パッケージの製造方法。 A method of manufacturing a semiconductor package according to claim 1,
A first step of providing a lead frame comprising a plurality of die pads, wherein the plurality of first leads and the plurality of second leads are provided around each of the plurality of die pads;
A second step of placing the semiconductor chip on each of the plurality of die pads and bonding-connecting the semiconductor chip and the plurality of first leads;
After the second step, a third step of sealing the entire lead frame with resin;
After the third step, a fourth step of cutting into individual semiconductor packages with a cutter;
5. A method of manufacturing a semiconductor package, comprising: a fifth step of stacking another semiconductor package or device on the semiconductor package and connecting to the second lead.
複数のダイパッドを備え、前記複数のダイパッドの各々の周囲に前記複数の第1のリードと前記複数の第2のリードが周設されたリードフレームを準備する第1の工程と、
前記複数のダイパッドの各々に前記半導体チップを戴置して、当該半導体チップと前記複数の第1のリードとをボンディング接続する第2の工程と、
前記第2の工程後、前記リードフレーム全体を樹脂で封止する第3の工程と、
前記第3の工程後、前記半導体チップの上部に別の半導体パッケージあるいはデバイスを積層して前記第2のリードと接続する第4の工程と、
前記第4の工程後、カッターで個々の半導体パッケージに裁断する第5の工程とを有することを特徴とする半導体パッケージの製造方法。 A method of manufacturing a semiconductor package according to claim 1,
A first step of providing a lead frame comprising a plurality of die pads, wherein the plurality of first leads and the plurality of second leads are provided around each of the plurality of die pads;
A second step of placing the semiconductor chip on each of the plurality of die pads and bonding-connecting the semiconductor chip and the plurality of first leads;
After the second step, a third step of sealing the entire lead frame with resin;
A fourth step of stacking another semiconductor package or device on top of the semiconductor chip and connecting to the second lead after the third step;
And a fifth step of cutting each semiconductor package with a cutter after the fourth step.
前記第2のリードと同じ高さを有し、前記第1のリードと同程度の高さであって前記半導体チップとボンディング接続可能な接続部を有する第3のリードを備えることを特徴とする半導体パッケージ。 The semiconductor package according to claim 1,
A third lead having the same height as the second lead, the same height as the first lead, and having a connecting portion capable of being bonded to the semiconductor chip is provided. Semiconductor package.
2. A laminated device comprising: a semiconductor package according to claim 1; and another semiconductor package or device placed thereon and connected to the second lead.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013092263A JP5968827B2 (en) | 2013-04-25 | 2013-04-25 | Semiconductor package and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014216466A true JP2014216466A (en) | 2014-11-17 |
JP5968827B2 JP5968827B2 (en) | 2016-08-10 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013092263A Active JP5968827B2 (en) | 2013-04-25 | 2013-04-25 | Semiconductor package and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5968827B2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11373937B2 (en) | 2020-03-19 | 2022-06-28 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6283131B1 (en) | 2017-01-31 | 2018-02-21 | 株式会社加藤電器製作所 | Electronic device and method for manufacturing electronic device |
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2013
- 2013-04-25 JP JP2013092263A patent/JP5968827B2/en active Active
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US11764132B2 (en) | 2020-03-19 | 2023-09-19 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP5968827B2 (en) | 2016-08-10 |
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