JP2014203323A - 空間入力装置 - Google Patents

Abstract

【課題】簡素な構造により、高精度且つ高速に奥行き位置を検出することができる空間入力装置を提供する。
【解決手段】所定の光ビームを空間上に投影される画像に向けて出射して２次元的に走査する光ビーム走査部と、検出範囲の一端が前記画像に平行または一致するよう設定され、且つ操作物の前記画像への進入方向から見て前記検出範囲の一端の奥側に前記検出範囲が設けられる光検出部と、前記光ビーム走査部によって走査されて前記操作物で反射され前記光検出部により検出された前記光ビームの数である走査線数を計数し、計数された前記走査線数に基づいて奥行き位置を検出する奥行き検出部と、を備えた構成とする。
【選択図】図４

Description

本発明は、空間入力装置に関する。

従来、仮想的なユーザインタフェースを実現する空間入力装置が知られている。

例えば特許文献１には、マイクロレンズアレイ部の各マイクロレンズに対応する単位領域ごとに配置された表示素子により画像が表示されると、表示された画像はマイクロレンズアレイ部によって空間上の一平面に結像する入出力装置が開示されている。この入出力装置では、指などの指示のための物体からの光がマイクロレンズアレイ部によって集光された後、表示素子と同一面内に配された撮像素子において受光され、物体の撮像データが取得される。この撮像データに基づき、物体の位置が検知される。

特開２０１０−５５５０７号公報

しかしながら、上記特許文献１の入出力装置では、物体の３次元的位置を検知することはできるが、マイクロレンズアレイ部や複数の撮像素子が必要となり、構造が複雑化するという問題があった。

そこで、本発明は、簡素な構造により、高精度且つ高速に奥行き位置を検出することができる空間入力装置を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために本発明の一態様に係る空間入力装置は、所定の光ビームを空間上に投影される画像に向けて出射して２次元的に走査する光ビーム走査部と、検出範囲の一端が前記画像に平行または一致するよう設定され、且つ操作物の前記画像への進入方向から見て前記検出範囲の一端の奥側に前記検出範囲が設けられる光検出部と、前記光ビーム走査部によって走査されて前記操作物で反射され前記光検出部により検出された前記光ビームの数である走査線数を計数し、計数された前記走査線数に基づいて奥行き位置を検出する奥行き検出部と、を備えた構成としている。

このような構成によれば、１つの光検出部を使用して、画像よりも奥に進入させた操作物の奥行き位置を高精度且つ高速に検出できる。従って、簡素な構造により、高精度且つ高速な奥行き位置検出を行うことができる。

また、上記構成において、前記光ビーム走査部による走査において、最後または最初に前記光ビームが前記操作物で反射されて前記光検出部により検出されるタイミングに基づき、前記検出範囲の一端における前記光ビームの照射位置座標をタッチ座標として検出するタッチ座標検出部を更に備えることとしてもよい。

このような構成によれば、奥行き位置に加えて、操作物によって画像をタッチした位置を１つの光検出部を使用して検出でき、コストの低減となる。

また、上記構成において、前記タッチ座標に応じて、前記走査線数と前記奥行き位置との対応関係が変化することとしてもよい。

このような構成によれば、走査位置に応じて走査線の密度が変化する場合でも、タッチ位置による奥行き検出結果のばらつきを抑えることができ、ユーザへの違和感を抑えることができる。

また、上記いずれかの構成において、前記タッチ座標が検出された後、検出された前記奥行き位置が所定の奥行き位置より奥であるか否かに応じて処理を切替える処理部を更に備えることとしてもよい。

このような構成によれば、操作物を画像より奥に進入させて更に操作物を押し込んだ場合と、操作物を所定の奥行き位置までで停止させた場合とで処理を変えることができる。

また、上記構成において、検出された前記奥行き位置が前記所定の奥行き位置より奥であるとき、前記処理部は、検出された前記タッチ座標に所定の画像を移動させることとしてもよい。

このような構成によれば、操作物を画像より奥に進入させて更に操作物を押し込んだ場合、所定の画像を操作物の位置に追従させるドラッグモードへ移行できる。

また、上記いずれかの構成において、複数の前記タッチ座標を検出後、前記光検出部により検出されなくなると、引き出し動作がされたと判定する判定部を更に備えることとしてもよい。

このような構成によれば、複数の操作物を画像より奥に進入させてから手前へ引抜く動作を引き出し動作として検出できる。

また、上記構成において、前記光検出部の検出範囲よりも前記操作物の前記画像への進入方向から見て手前側に設定される検出範囲を有した第２の光検出部と、前記引き出し動作がされたと判定されたとき、前記第２の光検出部による検出結果に基づいて引き出し量を算出する算出部と、を更に備えることとしてもよい。

このような構成によれば、引き出し動作がされた場合、引き出し量を算出でき、引き出し量に応じた動作を行うことができる。

本発明によると、簡素な構造により、高精度且つ高速に奥行き位置を検出することができる。

本発明の一実施形態に係る画像表示装置の全体概略斜視図である。 本発明の一実施形態に係る画像表示装置の概略側面図である。 赤外線レーザユニットの構成を示すブロック図である。 光検出器の筐体内部の構成を示す斜視図である。 光検出器の検出範囲の設定例を示す側面図である。 垂直同期信号、水平同期信号、及び光検出器の受光レベルの一例を示すタイミングチャートである。 奥行きをタッチ平面に平行に設定していない例を示す側面図である。 奥行きをタッチ平面に平行に設定した例を示す側面図である。 タッチ座標及び奥行きの検出処理の一例を示すフローチャートである。 奥行き変換テーブルの一例を示す図である。 アイコンのドラッグ操作の様子を示す図である。 ドラッグモードへの移行処理を示すフローチャートである。 ドラッグモードにおける処理を示すフローチャートである。 ２つの光検出器を設ける実施例を示す側面図である。 引き出し動作の様子を示す図である。 引き出し動作判定処理を示すフローチャートである。

以下に本発明の一実施形態について図面を参照して説明する。本発明の一実施形態に係る画像表示装置の全体概略斜視図を図１Ａに示し、概略側面図を図１Ｂに示す。

図１Ａ及び図１Ｂに示す画像表示装置１０は、２面コーナーリフレクタアレイ基板（反射素子集合基板）１と、液晶表示部２と、赤外線レーザユニット３と、光検出器４と、を備えている。

２面コーナーリフレクタアレイ基板１は、液晶表示部２により表示された画像の光学像Ｓを空中に結像させて、それを観察者が見ることができるようにするものである。

２面コーナーリフレクタアレイ基板１は、基板に対して、基板の主面を垂直方向に貫通する正方形状の貫通孔が平面視で千鳥状に配置されて形成される構成となっている。貫通孔の平らな内壁面のうち直交する２つに、それぞれ鏡面を２面コーナーリフレクタとして形成している。

基板の一方の主面Ｆ２側（図１Ｂ）にある空間内に配された点光源から出射された光線は、２面コーナーリフレクタにて２回反射して、屈曲しつつ基板を透過する。点光源から出射されて異なる２面コーナーリフレクタに向かうそれぞれの光線は、２面コーナーリフレクタにて２回反射された後、点光源が配された側の基板の主面Ｆ２と反対側の主面Ｆ１側の空間において１点の光学像に結像される。

画像の光を面発光する液晶表示部２は点光源の集合であると捉えることができる。従って、基板の一方の主面Ｆ２側にある空間（図１Ｂにおける主面Ｆ２の下方の空間）に配された液晶表示部２により面発光された画像光の光線は、２面コーナーリフレクタでの反射により、他方の主面Ｆ１側の空間（図１Ｂにおける主面Ｆ１の上方の空間）において液晶表示部２と対称な位置に光学像Ｓとして結像される。これにより、観察者であるユーザは、空中に画像が表示されている感覚を得ることができる。

画像表示装置１０を仮想的な入力インタフェースとして機能させるため、上記のように２面コーナーリフレクタアレイ基板１により結像された光学像Ｓに対して赤外レーザ光を照射する赤外線レーザユニット３が設けられる。

赤外線レーザユニット３のブロック構成を図２に示す。図２に示すように、赤外線レーザユニット３は、赤外ＬＤ（レーザダイオード）３Ａと、コリメータレンズ３Ｂと、ビームスプリッタ３Ｃと、光検出器３Ｄと、水平ＭＥＭＳ（Micro Electro Mechanical Systems）ミラー３Ｅと、垂直ＭＥＭＳミラー３Ｆと、レーザ制御回路３Ｇと、ミラーサーボ部３Ｈと、アクチュエータ３Ｉと、を備えている。

レーザ制御回路３Ｇによって制御されたパワーで赤外ＬＤ３Ａは赤外レーザ光を出射する。出射された赤外レーザ光は、コリメータレンズ３Ｂにより平行光とされ、ビームスプリッタ３Ｃに入光する。ビームスプリッタ３Ｃに入光した光は、一部が反射されて光検出器３Ｄにより受光され、一部は透過して水平ＭＥＭＳミラー３Ｅへ向かう。光検出器３Ｄで検出された検出信号に基づき、レーザ制御回路３Ｇが赤外ＬＤ３Ａの出力パワーを制御する。

レーザ光を水平方向に走査するよう偏向可能な水平ＭＥＭＳミラー３Ｅに入射されて反射されたレーザ光は、レーザ光を垂直方向に走査するよう偏向可能な垂直ＭＥＭＳミラー３Ｆに入射されて反射し、赤外線レーザユニット３の筐体外部へ出射される。

赤外線レーザユニット３は、２面コーナーリフレクタアレイ基板１の液晶表示部２が配される主面Ｆ２側（図１Ｂ）にある空間に配置されるため、赤外線レーザユニット３から出射された赤外レーザ光は、２面コーナーリフレクタアレイ基板１の貫通孔を透過して光学像Ｓへ出射される。

水平ＭＥＭＳミラー３Ｅ及び垂直ＭＥＭＳミラー３Ｆの偏向により、赤外線レーザユニット３から出射されるレーザ光は光学像Ｓに対して２次元的に走査される。

ミラーサーボ部３Ｈは、制御部５からの水平同期信号に応じてアクチュエータ３Ｉを駆動して水平ＭＥＭＳミラー３Ｅを偏向させ、制御部５からの垂直同期信号に応じてアクチュエータ３Ｉを駆動して垂直ＭＥＭＳミラー３Ｆを偏向させる。

光検出器４は、赤外線レーザユニット３から出射されて指などの操作物により反射されたレーザ光を検出するためのものであり、２面コーナーリフレクタアレイ基板１の液晶表示部２が配される主面Ｆ２側（図１Ｂ）の空間に配置される。

光検出器４の筐体内部の構成の概略斜視図を図３に示す。図３に示すように、光検出器４の筐体内部には、反射レーザ光の照射を検出する受光素子４Ａと、筐体の窓部から入射した反射レーザ光を集光して受光素子４Ａに導く集光レンズ４Ｂと、受光素子４Ａと集光レンズ４Ｂの間に配置されて受光素子４Ａの一部を覆う高さを有した板状のマスキング部材４Ｃを備えている。

なお、受光素子４Ａは、図２に示すように、制御部５に接続されており、受光素子４Ａによる検出信号が制御部５に送られる。

マスキング部材４Ｃは、受光素子４Ａの幅方向と同方向に幅を有する。そして、マスキング部材４Ｃは、その両端部が中央部より集光レンズ４Ｂ側へ近づいた湾曲形状をしており、受光素子４Ａへの入射角に応じて反射レーザ光を遮蔽して受光素子４Ａに照射されるのを規制する。

受光素子４Ａの幅方向の端部からの反射レーザ光は中央部に比べて、集光レンズ４Ｂにより集光されて受光素子４Ａに照射されるスポットの径が大きくなる。従って、マスキング部材により遮蔽されるべきところが、スポット径の拡大により全てが遮蔽されずに受光素子４Ａで受光されて誤検出の懸念がある。そこで、マスキング部材４Ｃを湾曲形状とすることで、スポット径の大きい端部の反射レーザ光をスポット径が小さいうちに遮蔽できる。

このようなマスキング部材４Ｃの寸法の調整により、光検出器４の検出範囲の調整が可能である。光検出器４の検出範囲の設定例を図４に示す。図４の破線が光検出器４の検出範囲の限界（端部）を表す。図４に示すように、光検出器４の検出範囲の一端が光学像Ｓの近傍で光学像Ｓに対して平行となるよう設定され、この一端が操作物（図４では指）により光学像Ｓをタッチされた位置を検出するためのタッチ平面Ｔとなる。なお、タッチ平面Ｔは、光学像Ｓと一致するようにしてもよい。

そして、操作物の光学像Ｓへの進入方向から見てタッチ平面Ｔの奥側に光検出器４の検出範囲が設けられる。

垂直同期信号及び水平同期信号の一例を図５に示す。図５の例では、垂直同期信号は階段状の信号としており、水平同期信号は垂直同期信号の１ステップごとに増加・減少する三角波の信号としている。このような同期信号によって水平ＭＥＭＳミラー３Ｅ及び垂直ＭＥＭＳミラー３Ｆが偏向されることにより、赤外線レーザユニット３から出射されるレーザ光は水平走査方向（図４）を往復されつつ垂直走査方向（図４）に光学像Ｓ上を走査される。

垂直走査方向を上から下に向かって走査する場合、図４の例では、まず指先でレーザ光が反射されて光検出器４により検出され、走査が進むにつれて順次指の底面でレーザ光が反射されて光検出器４により検出され、最後はタッチ平面Ｔ近傍における指の底面でレーザ光が反射されて光検出器４により検出される。このとき、図５に示すように、同期信号の時系列に沿って光検出器４の受光レベルの一群が現れる。制御部５（図２）は、この一群のうち最後に検出された受光レベルに対応する垂直及び水平同期信号の値（即ちＭＥＭＳミラーの位置）に基づき、タッチ平面Ｔにおけるレーザ光の照射位置座標を、操作物によって光学像Ｓがタッチされた位置を示すタッチ座標として検出する。タッチ座標は、垂直座標及び水平座標からなる２次元座標である。

なお、垂直走査方向を下から上へ向かって走査する場合は、受光レベルの一群のうち最初に検出されたタイミングに基づきタッチ座標を検出すればよい。

また、制御部５は、上記一群のうち最後を除いた受光レベルの検出回数、即ち指で反射されたレーザ光の数である走査線数を計数し、計数された走査線数に基づいて奥行き位置を検出する（なお、一群における全ての検出回数を用いてもよい）。例えば、走査線数に対応して奥行きの層レベルを規定したテーブルを予め用意し、このテーブルに基づき奥行きの層レベルを検出すればよい。例えば、走査線数が０〜５本であれば、タッチ平面Ｔを含む層レベル０、走査線数が６〜１０本であれば、層レベル０より奥側の層レベル１、走査線数が１１〜１５本であれば、層レベル１より奥側の層レベル２などと規定できる。

このように本実施形態によれば、１つの光検出器４を用いて、タッチ座標の検出と、多段階の奥行き検出が可能となるので、部品点数が削減されてコストダウンを実現できる。

ここで、赤外線レーザユニット３によってレーザ光の垂直方向の走査を等速で行う場合、図６に示すように、赤外線レーザユニット３とタッチ平面Ｔの距離が短くなるタッチ平面Ｔの下側（垂直走査方向の下側）になる程、走査線は密となる。そのため、一定の走査線数で奥行きを規定すると、図６の一点鎖線に示すように奥行きをタッチ平面Ｔに平行な位置に設定できない。即ち、操作物を同じ奥行きで進入させているのに、光学像Ｓの垂直方向の位置によって奥行きの検出結果が変わるので、ユーザが違和感を感じる可能性がある。

そこで、図８に示す処理による奥行き検出を行ってもよい。図８のステップＳ１で、制御部５がタッチ座標及び走査線数を検出した場合（ステップＳ１のＹ）、ステップＳ２に進む。ステップＳ２で、制御部５は、検出されたタッチ座標のうちの垂直座標、及び計数された走査線数に基づき、予め制御部５に格納された奥行き変換テーブルから奥行きの層レベルを取得する。

奥行き変換テーブルの一例を図９に示す。図９に示すように、垂直座標ごとに走査線数と層レベルの対応関係が規定されている。図９において、垂直座標の値が大きいほど、図６においてタッチ平面Ｔの下側に位置することを示す。そして、垂直座標の値が大きくなる程、同じ層レベルでも走査線数が大きくなるように規定している。これにより、図７において一点鎖線で示すように、奥行きをタッチ平面Ｔに対して平行に設定することができる。従って、同じ奥行きで操作物を進入させた場合に垂直方向位置に依らず、同じ奥行き検出結果となるので、ユーザの違和感を抑制できる。

ステップＳ２の後、ステップＳ３で、制御部５は、検出されたタッチ座標、及び取得された奥行きの層レベルを出力する。そして、図８の処理は終了する。

なお、上記では垂直座標のみ参照したが、水平座標のみ、または垂直座標と水平座標の両方を参照するようにしてもよい。

次に、以上説明したタッチ座標検出及び奥行き検出を用いたアプリケーションの一例を図１０〜図１２を参照して説明する。ここで説明するアプリケーションは、操作物の押し込みによるドラッグモードである。

図１１に示すフローチャートが開始され、まずステップＳ１１で、指などの操作物がタッチ平面Ｔにタッチされ（図１０の（Ａ）の状態）、制御部５がタッチ座標を検出すると（ステップＳ１１のＹ）、ステップＳ１２へ進む。

ステップＳ１２で、制御部５が奥行きの層レベルを検出し、検出された層レベルが所定の層レベル以上であると判定し、操作物の押し込みを検出した場合（ステップＳ１２のＹ）、ステップＳ１３へ進む（図１０の（Ｂ）の状態）。ステップＳ１３で、制御部５は、ドラッグモードへ移行する。

一方、ステップＳ１２で、制御部５が、検出された層レベルが所定の層レベルに達しないと判定し、操作物が押し込まれていないことを検出した場合（ステップＳ１２のＮ）、ステップＳ１４へ進む。ステップＳ１４で、制御部５は、タップ操作がなされたとして処理を行う。例えば、図１０の（Ａ）のようにアイコンＩを指でタッチした状態で指を停止させた場合、タップ操作としての動作が行われる。

ドラッグモードへ移行すると、図１２のフローチャートが開始される。ステップＳ１５で、制御部５がタッチ座標を検出すると（ステップＳ１５のＹ）、ステップＳ１６へ進む。ステップＳ１６では、ステップＳ１５でタッチ座標と共に検出された層レベルが所定の層レベル以上であると判定した場合（ステップＳ１６のＹ）、ステップＳ１７へ進む。ステップＳ１７で、制御部５は、ステップＳ１５で検出されたタッチ座標の位置にアイコンを移動させるよう液晶表示部２を表示制御する。移動させるアイコンは、ステップＳ１１（図１１）で検出されたタッチ座標を含むアイコンである。ステップＳ１７の後、ステップＳ１５へ戻る。

図１０の（Ｂ）のように指をアイコンＩに押し込んでドラッグモードへ移行した場合、このようなステップＳ１５〜Ｓ１７の繰り返しにより、指を押し込んだまま移動させるとアイコンＩが追従して移動し、図１０の（Ｃ）のような状態となる。

そして、ステップＳ１５で、制御部５がタッチ座標を検出できない場合（ステップＳ１５のＮ）、またはステップＳ１５でタッチ座標を検出できたが、ステップＳ１６で所定の層レベルに達していない場合（ステップＳ１６のＮ）、ステップＳ１８へ進む。ステップＳ１８で、制御部５は、アイコンを固定するよう液晶表示部２を表示制御する。

これにより、図１０の（Ｃ）のようにアイコンＩをドラッグにより移動させた状態で、図１０の（Ｄ）のように指をアイコンＩから引抜くと、ステップＳ１８によりアイコンＩが固定される（アイコンのドロップ）。

このように本実施形態によるタッチ座標の検出、及び奥行きの検出によって、アイコンを光学像Ｓ上でドラッグできるユーザインタフェースを実現できる。従って、ユーザにとって、より感覚的にアイコンを操作できる。

また次に、アプリケーションの一例として、操作物による引き出し動作を説明する。この実施形態では、図１３に示すように、光検出器４の検出範囲（図１３の破線）よりも操作物の光学像Ｓへの進入方向から見て手前側に設定される検出範囲（図１３の一点鎖線）を有した光検出器１５を別途設ける。光検出器１５は、光検出器４と同様に、受光素子１５Ａ、集光レンズ１５Ｂ、及びそれらの間に配されるマスキング部材（不図示）を備えている。また、受光素子１５Ａからの検出信号は、制御部５（図２）に送られる。

このような構成による引き出し動作処理について、図１４及び図１５を参照して説明する。図１５のフローチャートが開始され、まずステップＳ２１で、制御部５がタッチ座標を２つ検出すると（ステップＳ２１のＹ）、ステップＳ２２へ進む。例えば図１４の（Ａ）のように、２本の指を光学像Ｓにタッチすると、タッチ座標が２つ検出される。

ステップＳ２２で、制御部５が、検出された２つのタッチ座標間の距離が所定距離以内であると判定すると（ステップＳ２２のＹ）、ステップＳ２３へ進む。例えば図１４の（Ａ）の後、（Ｂ）のように２本の指を近付けると、２つのタッチ座標間の距離が所定距離以内となる。

そして、ステップＳ２３で、制御部５は、タッチ座標の検出を継続し、光検出器４によって操作物による反射レーザ光が検出されなくなったと判定すると（ステップＳ２３のＹ）、ステップＳ２４へ進む。

ステップＳ２４で、制御部５が、２つの操作物の先端で反射された各レーザ光が光検出器１５により検出されたタイミングに応じた垂直及び水平同期信号の値に基づき、各レーザ光のタッチ平面Ｔ上の位置座標を検出する。検出された各位置座標間の距離が所定距離以内であれば（ステップＳ２４のＹ）、ステップＳ２５へ進む。ステップＳ２５で、制御部５は、引き出し動作が行われたと判定する。

例えば図１４の（Ｂ）の後、（Ｃ）のように２本の指を近付けたまま手前側に引き出すと、ステップＳ２３、Ｓ２４の処理の後、ステップＳ２５で引き出し動作が行われたと判定される。

ステップＳ２５では、制御部５は、操作物の先端で反射されたレーザ光が光検出器１５により検出されたタイミングに応じた垂直及び水平同期信号の値に基づき、レーザ光のタッチ平面Ｔ上の位置座標を検出する。そして、この検出された位置座標と、ステップＳ２３にてタッチ座標の検出を継続したときの最後に検出されたタッチ座標に基づき、操作物の引き出し量を算出する。

制御部５は、例えば引き出し量に応じて、光学像Ｓにおける画像の拡大・縮小を行うよう液晶表示部２を表示制御する。

このように本実施形態によれば、２つの操作物により引き出す動作によって操作を行えるユーザインタフェースを実現でき、ユーザにとって、より感覚的な操作感を与えることができる。

以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明の趣旨の範囲内であれば、実施形態は種々変形が可能である。

例えば、２次元的に走査する光ビームは赤外線に限らず、可視光としてもよい。これによれば、指などの操作物で可視光が反射するとユーザには色が見えるので、光ビームの走査範囲に操作物が確実に位置していることをユーザに知らせることができる。

１ ２面コーナーリフレクタアレイ基板
２ 液晶表示部
３ 赤外線レーザユニット
３Ａ 赤外レーザダイオード
３Ｂ コリメータレンズ
３Ｃ ビームスプリッタ
３Ｄ 光検出器
３Ｅ 水平ＭＥＭＳミラー
３Ｆ 垂直ＭＥＭＳミラー
３Ｇ レーザ制御回路
３Ｈ ミラーサーボ部
３Ｉ アクチュエータ
４ 光検出器
４Ａ 受光素子
４Ｂ 集光レンズ
４Ｃ マスキング部材
５ 制御部
１０ 画像表示装置
１５ 光検出器
１５Ａ 受光素子
１５Ｂ 集光レンズ
Ｓ 光学像
Ｔ タッチ平面
Ｉ アイコン

Claims (7)

1. 所定の光ビームを空間上に投影される画像に向けて出射して２次元的に走査する光ビーム走査部と、
   検出範囲の一端が前記画像に平行または一致するよう設定され、且つ操作物の前記画像への進入方向から見て前記検出範囲の一端の奥側に前記検出範囲が設けられる光検出部と、
   前記光ビーム走査部によって走査されて前記操作物で反射され前記光検出部により検出された前記光ビームの数である走査線数を計数し、計数された前記走査線数に基づいて奥行き位置を検出する奥行き検出部と、
   を備えた空間入力装置。
2. 前記光ビーム走査部による走査において、最後または最初に前記光ビームが前記操作物で反射されて前記光検出部により検出されるタイミングに基づき、前記検出範囲の一端における前記光ビームの照射位置座標をタッチ座標として検出するタッチ座標検出部を更に備えることを特徴とする請求項１に記載の空間入力装置。
3. 前記タッチ座標に応じて、前記走査線数と前記奥行き位置との対応関係が変化することを特徴とする請求項２に記載の空間入力装置。
4. 前記タッチ座標が検出された後、検出された前記奥行き位置が所定の奥行き位置より奥であるか否かに応じて処理を切替える処理部を更に備えることを特徴とする請求項２または請求項３に記載の空間入力装置。
5. 検出された前記奥行き位置が前記所定の奥行き位置より奥であるとき、前記処理部は、検出された前記タッチ座標に所定の画像を移動させることを特徴とする請求項４に記載の空間入力装置。
6. 複数の前記タッチ座標を検出後、前記光検出部により検出されなくなると、引き出し動作がされたと判定する判定部を更に備えることを特徴とする請求項２〜請求項５のいずれか１項に記載の空間入力装置。
7. 前記光検出部の検出範囲よりも前記操作物の前記画像への進入方向から見て手前側に設定される検出範囲を有した第２の光検出部と、
   前記引き出し動作がされたと判定されたとき、前記第２の光検出部による検出結果に基づいて引き出し量を算出する算出部と、を更に備えることを特徴とする請求項６に記載の空間入力装置。

Images