JP2014195015A - パターン構造体の製造方法 - Google Patents

パターン構造体の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014195015A
JP2014195015A JP2013071129A JP2013071129A JP2014195015A JP 2014195015 A JP2014195015 A JP 2014195015A JP 2013071129 A JP2013071129 A JP 2013071129A JP 2013071129 A JP2013071129 A JP 2013071129A JP 2014195015 A JP2014195015 A JP 2014195015A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lift
applicator
substrate
pattern structure
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2013071129A
Other languages
English (en)
Inventor
Tetsuya Murakami
哲也 村上
Takashi Miyagawa
隆 宮川
Hiroyuki Ito
浩之 伊藤
Hidetoshi Ichikawa
秀寿 市川
Seiichi Takigawa
誠一 瀧川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Corp
Mitsubishi Pencil Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Corp
Mitsubishi Pencil Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Corp, Mitsubishi Pencil Co Ltd filed Critical Sumitomo Corp
Priority to JP2013071129A priority Critical patent/JP2014195015A/ja
Priority to PCT/JP2014/058014 priority patent/WO2014157051A1/ja
Priority to TW103111376A priority patent/TW201442066A/zh
Publication of JP2014195015A publication Critical patent/JP2014195015A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/10Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern
    • H05K3/14Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which conductive material is applied to the insulating support in such a manner as to form the desired conductive pattern using spraying techniques to apply the conductive material, e.g. vapour evaporation
    • H05K3/146By vapour deposition
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/0073Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces
    • H05K3/0079Masks not provided for in groups H05K3/02 - H05K3/46, e.g. for photomechanical production of patterned surfaces characterised by the method of application or removal of the mask
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2201/00Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
    • H05K2201/09Shape and layout
    • H05K2201/09009Substrate related
    • H05K2201/09045Locally raised area or protrusion of insulating substrate
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K2203/00Indexing scheme relating to apparatus or processes for manufacturing printed circuits covered by H05K3/00
    • H05K2203/01Tools for processing; Objects used during processing
    • H05K2203/0104Tools for processing; Objects used during processing for patterning or coating
    • H05K2203/0126Dispenser, e.g. for solder paste, for supplying conductive paste for screen printing or for filling holes

Abstract

【課題】リフトオフ材の塗布量を比較的少なくすることができると共に、リフトオフ材の厚みの均一性を高めることができるパターン構造体の製造方法を提供する。
【解決手段】実施形態に係るパターン構造体の製造方法では、筆34を有する塗布装置20を用いて基材10上にリフトオフ材12を形成する。次に、基材10及びリフトオフ材12上に、原子層堆積法により機能膜14を形成する。次に、リフトオフ法によりリフトオフ材12を除去することによって、基材10上に、機能膜14からパターン14aを形成する。
【選択図】図1

Description

本発明は、パターン構造体の製造方法に関する。
インクジェット法によりリフトオフ材を基材上に形成した後、原子層堆積法により機能膜をリフトオフ材及び基材上に形成し、リフトオフ法により機能膜からパターンを形成する方法が知られている(例えば特許文献1参照)。
国際公開第2012/161051号
上記方法では、非接触のインクジェット法によりリフトオフ材を基材上に形成するので、通常のディスペンサーを用いた場合に比べ、リフトオフ材の塗布量が過大となるのを抑制するが、半面、リフトオフ材の塗布量が比較的少なくなるため、隠蔽できない部分が生じやすい。また、インクジェットプリンターの導入コスト負担や、インクジェットプリンターから好適に吐出されるようにインク設計を行なう必要がある。
本発明は、ディスペンサー方式と比較して、リフトオフ材の塗布量を比較的少なくすることができると共に、インクジェット方式のように設備投資負担がない簡便な設備で、且つ、インクジェット方式のような複雑なインク設計を必要とせず、リフトオフ材の厚みの均一性を高めることができるパターン構造体の製造方法を提供することを目的とする。
本発明の一側面に係るパターン構造体の製造方法は、接触式塗布部を有する塗布装置を用いて基材上にリフトオフ材を形成する工程と、前記基材及び前記リフトオフ材上に、原子層堆積法により機能膜を形成する工程と、リフトオフ法により前記リフトオフ材を除去することによって、前記基材上に、前記機能膜からパターンを形成する工程と、を含む。
この方法では、接触式塗布部を有する塗布装置を用いているので、基材上に塗布されるリフトオフ材の塗布量を比較的少なくすることができると共に、リフトオフ材の厚みの均一性を高めることができる。
前記接触式塗布部が前記基材に接触することにより、前記塗布装置が変形可能であってもよい。
この場合、接触式塗布部が基材に接触して塗布装置が変形することによって、接触式塗布部から基材に加わる圧力が小さくなる。そのため、接触式塗布部が基材に与えるダメージを小さくすることができる。
前記接触式塗布部が筆を備えてもよい。
この場合、接触式塗布部が基材に与えるダメージをより小さくすることができる。また、塗布面積が可変になる。
前記リフトオフ材が、樹脂と溶媒とを含むインクを前記基材上に塗布した後、前記溶媒を除去することによって形成されてもよい。
前記基材が凸部を有し、前記リフトオフ材が、前記凸部上に形成されてもよい。
前記基材が、ポリマーフィルムであってもよい。
低温プロセスでは、ポリマーフィルムを用いることができる。その結果、各種デバイス、フレキシブルプリント配線基板(FPC)を低コストで製造することができる。
前記リフトオフ材が、溶媒に可溶な材料を含んでもよい。
この場合、溶媒によってリフトオフ材を簡単に除去することができる。
前記パターンを形成した後、前記リフトオフ材を形成する工程に戻ってもよい。
これにより、パターン形成を繰り返すことによって、複数のパターンを基材上に積層させることができる。
本発明によれば、リフトオフ材の塗布量を比較的少なくすることができると共に、リフトオフ材の厚みの均一性を高めることができるパターン構造体の製造方法が提供され得る。
実施形態に係るパターン構造体の製造方法の各工程を模式的に示す図である。 接触式塗布部を有する塗布装置の一例を模式的に示す図である。 図2のIII−III線に沿った塗布装置の断面図である。 図2の塗布装置の塗布具を模式的に示す図である。 図4のV−V線に沿った塗布具の断面図である。 図2の塗布装置のホルダーを模式的に示す図である。 図6のVII−VII線に沿ったホルダーの断面図である。 変形した図2の塗布装置を模式的に示す図である。 接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。 変形した図9の塗布装置を模式的に示す図である。 接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。 図11のXII−XII線に沿った塗布装置の断面図である。 図11の塗布装置の塗布具を模式的に示す図である。 図13のXIV−XIV線に沿った塗布具の断面図である。 変形した図11の塗布装置を模式的に示す図である。 接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。 変形した図16の塗布装置を模式的に示す図である。 接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。 変形した図18の塗布装置を模式的に示す図である。 塗布具の他の例を模式的に示す図である。 図20のXXI−XXI線に沿った塗布具の断面図である。 図20の塗布具の一部を模式的に示す図である。 接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。 図23のXXIV−XXIV線に沿った塗布装置の断面図である。 図23の塗布装置の塗布具を模式的に示す図である。 図25のXXVI−XXVI線に沿った塗布具の断面図である。 接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。 図27のXXVIII−XXVIII線に沿った塗布装置の断面図である。 分解した図27の塗布装置を模式的に示す図である。 接触式塗布部の形状の例を模式的に示す図である。
以下、添付図面を参照しながら本発明の実施形態が詳細に説明される。図面の説明において、同一又は同等の要素には同一符号が用いられ、重複する説明は省略される。
図1は、実施形態に係るパターン構造体の製造方法の各工程を模式的に示す図である。本実施形態に係るパターン構造体の製造方法は、例えば以下のように実施される。
(リフトオフ材形成工程)
まず、図1(a)に示されるように、接触式塗布部としての筆34を有する塗布装置20を用いて基材上にリフトオフ材12を形成する。塗布装置20は、例えばディスペンサ装置である。塗布装置20は、筆34を有する塗布具30と、塗布具30がはめ込まれるホルダー40とを備えてもよい。塗布具30は例えばペン体である。塗布装置20の詳細な構造については後述する。
基材10は凸部10aを有してもよい。リフトオフ材12は、凸部10a上に形成されてもよい。凸部10aは、基材10の表面10bに沿って第1の方向Yに延びている。リフトオフ材12は、基材10の表面10bに沿って第1の方向Yと交差する第2の方向Xに延びるように形成されてもよい。第1の方向Yは、第2の方向Xと直交してもよい。第2の方向Xに垂直な面におけるリフトオフ材12の断面形状は例えば矩形であるが、断面形状はこれに限定されない。第1の方向Yに垂直な面における凸部10aの断面形状は例えば矩形であるが、断面形状はこれに限定されない。凸部10aは、基材10と一体でもよいし、別体でもよい。凸部10aの幅をL、高さをhとしたときに、h/Lは100以下であってもよく、10以下であってもよい。隣接する凸部10a間の距離をWとしたときに、W/hは100以下であってもよく、10以下であってもよい。
基材10は、例えばガラス基板、シリコン基板、ポリマーフィルム、フレキシブル基材又はこれらの組み合わせ等であってもよい。低温プロセスでは、基材10としてポリマーフィルムを用いることができる。その結果、例えばフレキシブルプリント配線基板(FPC)を低コストで製造することができる。基材10は、例えばポリイミドフィルム等の熱硬化性フィルム、例えばポリプロピレンフィルム等の熱可塑性樹脂フィルム、透明ポリエステル基材であってもよい。
リフトオフ材12は、溶媒に可溶な材料を含んでもよい。この場合、後述するパターン形成工程(図1(c)参照)において、溶媒によってリフトオフ材12を簡単に除去することができる。
溶媒としては、例えば、水、有機溶剤等が挙げられる。有機溶剤は、水溶性有機溶剤であってもよいし、水溶性有機溶剤に相溶する有機溶剤であってもよい。溶媒は、例えば、水と、水に無限に又は一部可溶する有機溶剤との混合物であってもよい。または、溶媒は、水に不溶な有機溶剤を単独又は2種以上混合したものでもよい。有機溶剤としては、例えば、アルコール、グリコール、多価アルコール、ケトン類、ピロリドン類、グリコールエーテル類、グリコールジエーテル類、アルキレングリコール類、アルキルエーテル類及びこれらの混合溶媒等が挙げられる。有機溶剤は、例えば、アルコール類、多価アルコール類、グリコールエーテル類、炭化水素類等であってもよい。アルコール類としては、例えば、エタノール、n−プロパノール、イソプロパノール、n−ブタノール、イソブタノール、tert-ブチルアルコール、1−ペンタノール、イソアミルアルコール、sec-アミルアルコール、3−ペンタノール、tert-アミルアルコール、n−ヘキサノール、メチルアミルアルコール、2−エチルブタノール、n-ヘプタノール、2−ヘプタノール、3−ヘプタノール、n−オクタノール、2−オクタノール、2−エチルヘキサノール、3,5,5−トリメチルヘキサノール、ノナノール、n−デカノール、ウンデカノール、n−デカノール、トリメチルノニルアルコール、テトラデカノール、ヘプタデカノール、シクロヘキサノール、2−メチルシクロヘキサノール、ベンジルアルコール、2−フェノキシエタノー等が挙げられる。多価アルコール類としては、例えば、エチレングリコール、ジエチレングリコール、3−メチル−1,3−ブタンジオール、トリエチレングリコール、プロピレングリコール、ジプロピレングリコール、1,3−プロパンジオール、1,3−ブタンジオール、1,5−ペンタンジオール、ヘキシレングリコール、オクチレングリコール、グリセリン等が挙げられる。グリコールエーテル類としては、例えば、メチルイソプロピルエーテル、エチルエーテル、エチルプロピルエーテル、エチルブチルエーテル、イソプロピルエーテル、ブチルエーテル、ヘキシルエーテル、2−エチルヘキシルエーテル、エチレングリコールモノヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールモノブチルエーテル、トリエチレングリコールモノブチルエーテル、テトラエチレングリコールモノブチルエーテル、3−メチル−3−メトキシ−1−ブタノール、3−メトキシ−1−ブタノール、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、プロピレングリコールフェニルエーテル、プロピレングリコールターシャリーブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジプロピレングリコールモノプロピルエーテル、ジプロピレングリコールモノブチルエーテル、トリプロピレングリコールモノメチルエーテル、トリプロピレングリコールモノブチルエーテル、テトラプロピレングリコールモノブチルエーテル等が挙げられる。炭化水素類としては、例えば、シクロヘキサン、キシレン、メチルイソブチルケトン、メチルエチルケトン等が挙げられる。
リフトオフ材12は、例えば樹脂を含む。樹脂としては、例えば、上記溶媒に可溶な材料が挙げられる。樹脂としては、例えば、ケトン樹脂、スルホアミド樹脂、マレイン酸樹脂、テルペン樹脂、テルペンフェノール樹脂、エステルガム、キシレン樹脂、アルキッド樹脂、フェノール樹脂、ロジン、ポリビニルピロリドン、ポリビニルブチラール、ポリビニルアルコール、アクリル系樹脂、メラミン系樹脂、セルロース系樹脂等の天然及び合成樹脂の1種又は2種以上を用いることができる。樹脂は、例えばセルロース系(カルボキシルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース)、合成ポリマー系(ポリアクリル酸ナトリウム、ポリアクリルアミド、ポリビニルアルコール、ポリエチレンイミン、ポリエチレンオキシド、ポリビニルピロリドン、ポリビニルアセタール、酢酸ビニル−ビニルピロリドン共重合体)等であってもよい。これらの中でも、ポリビニルアセタール、酢酸ビニル−ビニルピロリドン共重合体が特に好ましい。
リフトオフ材12は、非硬化型の樹脂を含んでもよい。この場合、硬化することなく溶媒を揮発させるだけで、低温でリフトオフ材12を形成することができる。樹脂のガラス転移温度(Tg)は例えば100℃以下である。この場合、樹脂のガラス転移温度(Tg)以上の温度にリフトオフ材12を加熱することによって、リフトオフ材12の表面の応力が緩和され、表面形状が変化する。その結果、リフトオフが更に容易になる。
リフトオフ材12は、塗膜の識別のための色材を含んでもよい。色材としては、染料、顔料分散体、UV照射等により発光する材料(例えば蛍光材料、蓄光材料)等が挙げられる。
リフトオフ材12は、その他任意の材料を含んでもよい。リフトオフ材12は、例えば、防錆剤、防腐剤、PH調整剤、界面活性剤、保湿剤、糖類、天然多糖類等を含んでもよい。防錆剤としては、例えば、ベンゾトリアゾール、トリルトリアゾール、ジシクロへキシルアンモニウムナイトライト等が挙げられる。防腐剤としては、例えば、フェノール、ナトリウムオマジン、安息香酸ナトリウム、ベンズイミダゾール系化合物等が挙げられる。PH調整剤としては、例えば、トリエタノールアミン、アミノメチルプロパノール等が挙げられる。界面活性剤としては、例えば、フッ素系、アセチレングリコール系、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエステル、ショ糖エステル等が挙げられる。保湿剤としては、例えば、尿素等が挙げられる。糖類としては、例えば、単糖類、二糖類、オリゴ糖、デキストリン、デンプン分解物等が挙げられる。天然多糖類としては、例えば、キサンタンガム、サクシノグリカン、ウェランガム、カラギーナン等が挙げられる。
リフトオフ材12は、硬化プロセスが不要な材料からなってもよい。基材10の表面10bからのリフトオフ材12の高さ(リフトオフ材12の厚み)は、例えば1〜500μmである。
リフトオフ材12は、例えば樹脂と溶媒とを含むインクを基材10上に塗布した後、溶媒を乾燥除去することによって形成される。インクは任意の添加剤等を含んでもよい。インクの溶媒を除去する際に、必ずしも全ての溶媒を除去する必要はない。すなわち、溶媒は、リフトオフ材12中に残存してもよい。溶媒の除去方法としては、例えば、揮発性溶剤の自然乾燥、熱風乾燥等が挙げられる。
インクの粘度は、例えば塗布装置20から好適に吐出される粘度である。インクの粘度は、25℃、せん断速度3.8s−1において、例えば1〜1000mPa・sである。1000mPa・sを超える高粘度を有するインク又はチキソトロピー性を有するインクであっても、加温したり、加圧したりしてインクを吐出させることができる。
(成膜工程)
次に、図1(b)に示されるように、基材10及びリフトオフ材12上に、原子層堆積法により機能膜14を形成する。例えば、まず、機能膜14の第1原料を基材10及びリフトオフ材12上に供給した後、パージガスを供給する。その後、例えば酸化剤等の第2原料を基材10及びリフトオフ材12上に供給した後、パージガスを供給する。このようなサイクルを繰り返すことにより、機能膜14が形成される。
原子層堆積法を用いると、広い面積において機能膜14の膜厚均一性を高めることができると共に、3次元的なコンフォーマリティを有する化学量論組成の機能膜14を形成することができる。また、機能膜14の膜厚を高精度に制御することができる。さらに、ダスト粒子が存在する場合であっても、ダスト粒子の陰になる場所において機能膜14が形成されるので、ダスト粒子の影響を比較的受けにくい。
機能膜14は、例えば導体膜、半導体膜、絶縁膜、無機膜、有機膜、ナノ積層膜、複合酸化物膜、金属酸化膜又はこれらの組み合わせ等であってもよい。機能膜14が金属を含む場合、そのような金属としては、例えばアルミニウム、銅、ハフニウム、ルテニウム、タンタル、チタン、タングステン、亜鉛、ジルコニウム等が挙げられる。機能膜14の第1原料としては、例えばTMA(AL(CH)、TDMAH(Hf[N(CH)、Ru(C−C、(CHCN=Ta(N(C、TDMAT(Ti[N(CH)、((CHCN)W(N(CH、Zn(C、TDMAZ(Zr[N(CH)等をそれぞれ用いることができる。機能膜14は、ITO膜であってもよい。機能膜14は、例えばSiOやAl等からなるパッシベーション膜であってもよい。機能膜14は、例えばZnO半導体、IGZO半導体等からなる導体膜であってもよい。
(パターン形成工程)
次に、図1(c)に示されるように、リフトオフ法によりリフトオフ材12を除去することによって、基材10上に、機能膜14からパターン14aを形成する。これにより、パターン構造体100が製造される。リフトオフ材12は、溶媒を用いて除去されてもよい。溶媒を用いる前に、機能膜14の表面に傷又は穴を形成してもよい。機能膜14の表面に傷又は穴を形成する方法として、例えば、レーザー、超音波、ウォータージェット、ドライアイスブラスト、及びリフトオフ材12と基材10との熱膨張係数の差のうち少なくとも1つが挙げられる。リフトオフ材12と基材10との熱膨張係数の差を用いる場合、熱又は光(例えば紫外線)によりリフトオフ材12を可溶化させることにより、リフトオフ材12を除去することができる。パターン14aを形成した後、上記リフトオフ材形成工程に戻ってもよい。これにより、パターン形成を繰り返すことによって、複数のパターン14aを基材10上に積層させることができる。複数のパターン14aは互いに異なってもよい。パターン14aは、配線パターンであってもよい。
パターン構造体100は、例えば、集積回路、ディスプレイ、太陽電池、撮像装置、センサ、半導体デバイス、電子デバイス、光学デバイス、有機EL素子、無機EL素子、薄膜トランジスタ(TFT)、シフトレジスタ、プリント配線基板、フレキシブルプリント配線基板(FPC)又はこれらの組み合わせ等であってもよい。FPCの場合、基材10として透明ポリエステル基材を用い、パターン14aとしてビット線回路の配線を用い、例えばインクジェット法、スクリーン印刷法等により形成されたワード線回路の配線を用いることができる。TFTの場合、パターン構造体100はシフトレジスタを更に備えてもよく、基材10の幅は300mm以上、長さは2000mm以上と大面積であってもよい。有機EL素子の場合、パターン14aとして有機EL層を用いることができる。
本実施形態に係るパターン構造体の製造方法では、筆34を有する塗布装置20を用いているので、基材10上に塗布されるリフトオフ材12の塗布量を比較的少なくすることができると共に、リフトオフ材12の厚みの均一性を高めることができる。その結果、薄くて均一な厚みを有するリフトオフ材12を形成することができる。さらに、リフトオフ材12が形成される位置を高精度に制御することができる。
また、原子層堆積法では、通常の成膜方法に比べて低温(例えば室温〜400℃)で機能膜14を形成可能である。リフトオフ法では、通常のフォトリソグラフィー法に比べて低温かつ低コストでパターン14aを形成可能である。したがって、熱により損傷を受け易い基材10(例えばポリマーフィルム)を用いることができる。また、通常の原子層堆積法では適用が難しいリフトオフ法によって、パターン構造体100を製造することができる。
さらに、原子層堆積法では、低い圧力でプロセスを行うことができるので、リフトオフ材の塗布及びリフトオフ法との連続プロセスが可能になる。また、基材10を巻いてロールを形成する、いわゆるロールトゥーロール(Roll−to−Roll)プロセスが可能になる。
図2は、接触式塗布部を有する塗布装置の一例を模式的に示す図である。図3は、図2のIII−III線に沿った塗布装置の断面図である。図2及び図3に示される塗布装置20は、図4及び図5に示される塗布具30と、図6及び図7に示されるホルダー40とを備える。
塗布具30は、軸体31と、貯蔵体32と、中継芯33と、筆34と、ホルダー部材35と、尾栓36とを備える。軸体31は例えば円筒形状を有する。軸体31内には、例えば中綿等の貯蔵体32が収容される。貯蔵体32は、毛管作用によってインクを繊維束内に貯蔵可能である。軸体31の前部及び後部には開口が形成されている。軸体31の前部に形成された開口には中継芯33の後部が挿入されている。軸体31の後部に形成された開口は尾栓36によって封止されている。中継芯33の前部は、筆34の後部に接続されている。筆34の後部は、中継芯33に接続されたホルダー部材35によって保持されている。筆34の前部は、ホルダー部材35から外側に突出している。貯蔵体32中のインクは、中継芯33及び筆34を通って基材10上に供給される。
筆34は、多数の繊維を備える。筆34の繊維は、筆34の後部においてリング状部材134に溶着されている。筆34としては、例えば丸筆、平筆、はけ等が挙げられる。
筆34の繊維としては、例えば、合成樹脂繊維、獣毛等が挙げられる。合成樹脂繊維の材料としては、例えば、ポリブチレンテレフタレート、ポリエチレンテレフタレート、ポリメチレンテレフタレート、ポリブチレンナフタレート等のポリエステル系樹脂、ポリエチレン、ポリプロピレン等のポリオレフィン系樹脂、ナイロン6、ナイロン610、ナイロン612等のポリアミド系樹脂、アクリル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリアセタール系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリエーテル系樹脂、ポリフェニレン系樹脂、ポリビニル系樹脂等が挙げられる。獣毛としては、例えば、馬、イタチ、たぬき、リス等の毛が挙げられる。
筆34の繊維は、例えば、太さが一定なストレート形状、末端に向かって断面積が小さくなるテーパー形状、巻き毛(クリンプ)形状等を有する。筆34の繊維の断面は、円形でもよいし、多角形でもよい。筆34の繊維は、三角形、星形、クローバ型等の異形断面形状を有してもよい。この場合、繊維間に多くの微小な空隙を形成することができる。
筆34の繊維の直径は例えば0.05〜0.3mmである。筆34の繊維の長さは例えば5〜100mmである。
ホルダー40は、ホルダー本体41と、固定部材42と、蓋体43とを備える。塗布具30は、ホルダー本体41内に挿入される。ホルダー本体41は、例えば、軸体31と同軸の円筒形状を有する。ホルダー本体41の前部及び後部には開口が形成されている。ホルダー本体41の前部に形成された開口には、塗布具30を固定するための固定部材42が接続されている。ホルダー本体41の後部に形成された開口は蓋体43によって封止されている。
図8は、変形した図2の塗布装置を模式的に示す図である。図8に示されるように、筆34は、基材10に接触することにより、変形可能である。そのため、筆34から基材10に加わる圧力が小さくなる。よって、筆34が基材10に与えるダメージを小さくすることができる。また、例えば筆34の形状、筆34を基材10に押し付ける力等を変えることによって、インクの塗布面積を変えることができる。さらに、基材10の表面10bの法線方向において塗布装置20に位置ずれが生じても、筆34が変形することによって、位置ずれを補正することができる。
図9は、接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。図9に示される塗布装置20aは、塗布具30aとホルダー40とを備える。塗布具30aは、筆34に代えてペン芯34aを備え、ホルダー部材35に代えて先軸32aを備えること以外は塗布具30と同様の構造を備える。ペン芯34aは、先軸32aによって保持されている。ペン芯34aは、例えば気孔を有する弾性部材である。弾性部材の材料としては、例えばエラストマー、ゴム、スポンジ等が挙げられる。塗布具30a中のインクは、ペン芯34aを通って基材10上に供給される。
図10は、変形した図9の塗布装置を模式的に示す図である。図10に示されるように、ペン芯34aは、基材10に接触することにより、弾性変形可能である。そのため、ペン芯34aから基材10に加わる圧力が小さくなる。よって、ペン芯34aが基材10に与えるダメージを小さくすることができる。塗布装置20aでは、塗布装置20と同様の作用効果が得られる。
図11は、接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。図12は、図11のXII−XII線に沿った塗布装置の断面図である。図11及び図12に示される塗布装置20bは、図13及び図14に示される塗布具30aと、ホルダー40とを備える。塗布具30aはいわゆるバルブ式の塗布具である。
塗布具30aは、本体である後軸31aと、先軸32aと、弁棒33aと、接触式塗布部としてのペン芯34aと、弁座35aと、スプリング36aと、スプリング受け37aと、スポンジ38aを備える。塗布具30aは中継芯を備えていない。後軸31aは例えば中空形状を有する。後軸31aの前部には開口が形成されているが、後部には開口が形成されていない。後軸31a内には、インクが貯蔵され得る。後軸31aの前部は先軸32aの後部内に嵌め込まれている。先軸32aは例えば中空形状を有する。後軸31aの前部に形成された開口には、弁棒33aの後部が挿入されている。弁棒33aの前部はペン芯34aの後部に当接している。ペン芯34aの前部は先軸32aの前部から外側に突出している。先軸32a内において、弁棒33aの前部及びペン芯34aの後部の周囲には、スポンジ38aが配置されている。弁棒33aの周囲にはスプリング36aが配置され、スプリング36aの後端にはスプリング受け37aが配置されている。弁棒33aの中央部には、大径部が形成されている。スプリング36aの前端は、弁棒33aの大径部に当接されている。スプリング36aは、弁棒33aの大径部とスプリング受け37aとの間において伸縮可能である。弁座35aは、弁棒33aの大径部を保持すると共に先軸32aに接続されている。スプリング36aが前後に伸縮することによって、ペン芯34aも前後に伸縮する。
ペン芯34aは、例えば、フェルト、繊維束、焼結体、又は毛管からなってもよい。フェルトは、繊維を圧縮加工した後、樹脂加工することによって得られる。繊維束は、繊維を一定方向に束ねてまとめることによって得られる。焼結体は、プラスチック粉末を接着して焼結することによって得られる。毛管は、樹脂にスリットを設けながら棒状に成形することによって得られる。
ペン芯34aは、例えば、ポリエチレン系樹脂、ポリエステル系樹脂、ポリアセタール系樹脂、ポリアミド系樹脂、アクリル系樹脂、ポリウレタン系樹脂、ポリオレフォイン系樹脂、ポリエーテル系樹脂、ポリフェニレン系樹脂等の一般的な樹脂材料、エラストマーを成型したものでもよい。ペン芯34aは、例えば、上記各種の樹脂材料の繊維、植物性繊維、動物性繊維等の繊維束を樹脂加工等により固定した繊維芯を、切断又は研磨加工したものでもよい。さらには、フェルト、スポンジ、又は、樹脂粒子焼結体、樹脂繊維焼結体等の焼結体等から構成される毛管力を有する多孔質体を適宜加工して使用してもよい。ペン芯34aは、毛筆状のものであってもよい。
図15は、変形した図11の塗布装置を模式的に示す図である。図15に示されるように、ペン芯34aは、基材10に接触することにより、先軸32a内に引っ込む。すなわち、ペン芯34aは、基材10に接触することにより、基材10の表面10bの法線方向において変位する。よって、塗布具30aは、基材10に接触することにより、変形可能である。塗布装置20bでは、塗布装置20aと同様の作用効果が得られる。
図16は、接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。図16に示される塗布装置20cは、塗布具30bとホルダー40aとを備える。塗布具30bは、スプリング36aに関する機構を備えないこと以外は塗布具30aと同様の構造を備える。
図17は、変形した図16の塗布装置を模式的に示す図である。塗布具30bでは、ペン芯34aが基材10に接触しても塗布具30bは変形しない。ホルダー40aは、塗布具30bを変位させる機構(例えばスプリング等)を更に備えること以外はホルダー40と同様の構造を備える。塗布装置20cでは、ペン芯34aが基材10に接触することにより、塗布具30bがホルダー40a内に引っ込む。すなわち、塗布具30bは、基材10に接触することにより、基材10の表面10bの法線方向において変位する。よって、塗布装置20cは、基材10に接触することにより、変形可能である。塗布装置20cでは、塗布装置20bと同様の作用効果が得られる。
図18は、接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。図18に示される塗布装置20dは、塗布具30bとホルダー40bとを備える。ホルダー40bは、例えば蛇腹部等の伸縮部44を更に備えること以外はホルダー40と同様の構造を備える。
図19は、変形した図18の塗布装置を模式的に示す図である。塗布装置20dでは、塗布具30bが変形しない。ペン芯34aが基材10に接触することにより、ホルダー40bが変形する。よって、塗布装置20dは、基材10に接触することにより、変形可能である。ペン芯34aが基材10に接触することにより、塗布装置20dにおけるホルダー40b以外の部材が変形可能であってもよい。塗布装置20dでは、塗布装置20cと同様の作用効果が得られる。
図20は、塗布具の他の例を模式的に示す図である。図21は、図20のXXI−XXI線に沿った塗布具の断面図である。図22は、図20の塗布具の一部を模式的に示す図である。図20及び図21に示される塗布具30cは、軸体31bと、貯蔵体(中綿)32bと、中継芯33bと、接触式塗布部としてのペン先34bと、ホルダー部材35と、尾栓36bとを備える。軸体31bは例えば円筒形状を有する。軸体31b内には、例えば中綿等の貯蔵体32bが収容される。貯蔵体32bは、毛管作用によってインクを繊維束内に貯蔵可能である。軸体31bの前部及び後部には開口が形成されている。軸体31bの前部に形成された開口には中継芯33bの後部が挿入されている。軸体31bの後部に形成された開口は尾栓36bによって封止されている。中継芯33bの前部は、ペン先34bに接続されている。中継芯33bの前部及びペン先34bは、ホルダー部材35bによって保持されている。貯蔵体32b中のインクは、中継芯33b及びペン先34bを通って基材10上に供給される。ペン先34bの材料としては、ペン芯34aの材料と同様のものが挙げられる。
塗布具30cは、塗布具30,30a,30bに代えて用いられてもよい。塗布具30cは、接触式塗布部としてのペン先34bを備えているので、基材10上に塗布されるリフトオフ材12の塗布量を比較的少なくすることができると共に、リフトオフ材12の厚みの均一性を高めることができる。さらに、リフトオフ材12が形成される位置を高精度に制御することができる。
図23は、接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。図24は、図23のXXIV−XXIV線に沿った塗布装置の断面図である。図23及び図24に示される塗布装置20eは、図25及び図26に示される塗布具30dと、ホルダー40とを備える。
塗布具30dは、軸体31dと、継手32dと、中継芯33dと、接触式塗布部としてのペン先34dと、コレクター部材(インク保溜体)35dとを備える。軸体31dは例えば中空形状を有する。軸体31dの前部には開口が形成されているが、後部には開口が形成されていない。軸体31d内には、インクが貯蔵され得る。軸体31dの前部には継手32dが接続されている。継手32dは例えば中空形状を有する。軸体31dの前部に形成された開口には、中継芯33d及びコレクター部材35dが挿入されている。コレクター部材35dは、中継芯33dの周囲に配置されている。コレクター部材35dは、軸体31d内の空気の加圧又は減圧によるインクの漏れ出しを抑制する。中継芯33dの前部はペン先34dに当接している。インクは、コレクター部材35dから中継芯33d及びペン先34dを通って基材10上に供給される。
塗布具30dは中継芯33dを備えなくてもよい。その場合、軸体31dの前部に形成された開口にペン先34dの後部が挿入される。塗布具30dは、塗布具30,30a,30b,30cに代えて用いられてもよい。塗布具30dでは、塗布具30cと同様の作用効果が得られる。
図27は、接触式塗布部を有する塗布装置の他の例を模式的に示す図である。図28は、図27のXXVIII−XXVIII線に沿った塗布装置の断面図である。図29は、分解した図27の塗布装置を模式的に示す図である。図27〜図29に示される塗布装置20fは、図29(b)に示される塗布具30eと、図29(a)に示されるホルダー40cとを備える。塗布具30eは、ホルダー40cに取り付けられるアタッチメントである。
塗布具30eは、固定部材31cと、中継芯33cと、筆34cと、ホルダー部材35cとを備える。固定部材31cは、中継芯33cの周囲に配置され、ホルダー40bに着脱可能に固定される。中継芯33cの後部はホルダー40c内に挿入される。中継芯33cの前部は筆34cの後部に接続されている。筆34cの後部は、ホルダー部材35cによって保持されている。ホルダー部材35cは固定部材31cに接続されている。
ホルダー40cは、ホルダー本体41bと、蓋体43bとを備える。ホルダー本体41bは例えば円筒形状を有する。ホルダー本体41bの前部及び後部には開口が形成されている。ホルダー本体41bの前部に形成された開口には、塗布具30eが取り付けられる。ホルダー本体41bの後部に形成された開口は蓋体43bによって封止されている。蓋体43bには、ホルダー本体41bの内部と連通するチューブ50が接続されている。これにより、ホルダー本体41bの内部を加圧又は減圧することができる。
塗布装置20fでは、塗布具30eの交換が容易になる。また、塗布装置20fでは、塗布装置20と同様の作用効果が得られる。筆34cをペン芯34a、ペン先34b又はペン先34dに置き換えてもよい。
図30は、接触式塗布部の形状の例を模式的に示す図である。筆34、ペン芯34a、ペン先34b、ペン先34d、又は筆34cといった接触式塗布部は、任意の形状を有してもよい。図30(a)及び(e)に示されるように、接触式塗布部は、円柱形状の本体部と、曲面を有する先端部とを有してもよい。図30(b)及び(f)に示されるように、接触式塗布部は、円錐形状を有してもよい。図30(c)及び(g)に示されるように、接触式塗布部は、円柱形状を有し、先端の円形の縁が面取りされていてもよい。図30(d)及び(h)に示されるように、接触式塗布部は、直方体形状を有し、4側面を連結する4辺が面取りされていてもよい。
以上、本発明の好適な実施形態について詳細に説明されたが、本発明は上記実施形態に限定されない。上述した塗布装置の構成要素は、互いに任意に組み合わせ得る。
塗布装置は、ディスペンサー装置に限られず、例えば、平版印刷機、凹版印刷機(例えばグラビア印刷機)、凸版印刷機等の印刷機であってもよい。塗布装置の接触式塗布部は、筆、ペン芯又はペン先に限られず、任意の部材であってもよい。
また、基材10は、凸部10aを有しておらず、平坦な表面10bを有してもよい。
10…基材、10a…凸部、10b…基材の表面、12…リフトオフ材、14…機能膜、14a…パターン、20,20a,20b,20c,20d,20e,20f…塗布装置、34,34c…筆(接触式塗布部)、34a…ペン芯(接触式塗布部)、34b,34d…ペン先(接触式塗布部)、100…パターン構造体、X…第2の方向、Y…第1の方向。

Claims (8)

  1. 接触式塗布部を有する塗布装置を用いて基材上にリフトオフ材を形成する工程と、
    前記基材及び前記リフトオフ材上に、原子層堆積法により機能膜を形成する工程と、
    リフトオフ法により前記リフトオフ材を除去することによって、前記基材上に、前記機能膜からパターンを形成する工程と、
    を含む、パターン構造体の製造方法。
  2. 前記接触式塗布部が前記基材に接触することにより、前記塗布装置が変形可能である、請求項1に記載のパターン構造体の製造方法。
  3. 前記接触式塗布部が筆を備える、請求項2に記載のパターン構造体の製造方法。
  4. 前記リフトオフ材が、樹脂と溶媒とを含むインクを前記基材上に塗布した後、前記溶媒を除去することによって形成される、請求項1〜3のいずれか一項に記載のパターン構造体の製造方法。
  5. 前記基材が凸部を有し、
    前記リフトオフ材が、前記凸部上に形成されている、請求項1〜4のいずれか一項に記載のパターン構造体の製造方法。
  6. 前記基材が、ポリマーフィルムである、請求項1〜5のいずれか一項に記載のパターン構造体の製造方法。
  7. 前記リフトオフ材が、溶媒に可溶な材料を含む、請求項1〜6のいずれか一項に記載のパターン構造体の製造方法。
  8. 前記パターンを形成した後、前記リフトオフ材を形成する工程に戻る、請求項1〜7のいずれか一項に記載のパターン構造体の製造方法。
JP2013071129A 2013-03-29 2013-03-29 パターン構造体の製造方法 Pending JP2014195015A (ja)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013071129A JP2014195015A (ja) 2013-03-29 2013-03-29 パターン構造体の製造方法
PCT/JP2014/058014 WO2014157051A1 (ja) 2013-03-29 2014-03-24 パターン構造体の製造方法
TW103111376A TW201442066A (zh) 2013-03-29 2014-03-27 圖案構造體之製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013071129A JP2014195015A (ja) 2013-03-29 2013-03-29 パターン構造体の製造方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2014195015A true JP2014195015A (ja) 2014-10-09

Family

ID=51624026

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013071129A Pending JP2014195015A (ja) 2013-03-29 2013-03-29 パターン構造体の製造方法

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JP2014195015A (ja)
TW (1) TW201442066A (ja)
WO (1) WO2014157051A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2556331A (en) * 2016-09-14 2018-05-30 British American Tobacco Investments Ltd A container

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6069636U (ja) * 1983-10-21 1985-05-17 アルプス電気株式会社 ペン式記録装置
JPS62171169A (ja) * 1986-01-23 1987-07-28 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 薄膜パタ−ン形成方法
JPH05326645A (ja) * 1992-05-19 1993-12-10 Hitachi Cable Ltd Tab用フィルムキャリアテープの製造方法
JP2001009349A (ja) * 1999-06-29 2001-01-16 Sony Corp レジスト膜描画装置と薄膜パターンの形成方法およびそれによる光学部品
JP2004151548A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Seiko Epson Corp 電気光学装置及び電子機器
WO2012161051A1 (ja) * 2011-05-20 2012-11-29 住友商事株式会社 パターン構造体の製造方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6069636U (ja) * 1983-10-21 1985-05-17 アルプス電気株式会社 ペン式記録装置
JPS62171169A (ja) * 1986-01-23 1987-07-28 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd 薄膜パタ−ン形成方法
JPH05326645A (ja) * 1992-05-19 1993-12-10 Hitachi Cable Ltd Tab用フィルムキャリアテープの製造方法
JP2001009349A (ja) * 1999-06-29 2001-01-16 Sony Corp レジスト膜描画装置と薄膜パターンの形成方法およびそれによる光学部品
JP2004151548A (ja) * 2002-10-31 2004-05-27 Seiko Epson Corp 電気光学装置及び電子機器
WO2012161051A1 (ja) * 2011-05-20 2012-11-29 住友商事株式会社 パターン構造体の製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
TW201442066A (zh) 2014-11-01
WO2014157051A1 (ja) 2014-10-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ES2138694T3 (es) Soporte de impresion, procedimiento para su fabricacion y metodo de impresion por chorros de tinta que utiliza dicho soporte.
CN106536439A (zh) 对玻璃基材的边缘进行强化的方法
WO2014157051A1 (ja) パターン構造体の製造方法
JP2011011392A (ja) 出没式ボールペン
JP2023060354A (ja) 筆記具
CN102756548A (zh) 用于印刷头面板表面的辅助维护
US11427027B2 (en) Writing implement
CN100471693C (zh) 可擦防滑笔芯
CN102824694A (zh) 一种用于放疗精确划线的记号笔
KR101712183B1 (ko) 전도성 패턴을 형성하는 광소결 시스템
JP2016067969A (ja) 塗布具
US7806616B2 (en) Writing instrument barrel including a painted inner surface
JP5457695B2 (ja) 化粧料の塗布具
JP2013132753A (ja) クリーニング部材、クリーニングシステム、クリーニング方法及び印刷装置
MX2007012691A (es) Metodos y aparatos para utilizar en plumas de inyeccion de tinta.
JP6902357B2 (ja) 塗布具
JP6140421B2 (ja) 筆記具
JP6403983B2 (ja) 筆記具用レフィル及びそれを装着した筆記具
JP2021104619A (ja) 液体吐出具
JP5388011B2 (ja) 筆記体
CN201143829Y (zh) 可擦防滑笔芯
JP7370853B2 (ja) 液体吐出具
JP2016032916A (ja) 塗布具用ペン先部材
CN211222727U (zh) 一种新型可调节水笔
KR101746262B1 (ko) 메탈 메쉬 오프셋 인쇄용 블랭킷

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20160317

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20160418

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20160418

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20161025

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20161220

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20170530

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20180109