JP2014188254A - 視野検査装置 - Google Patents
視野検査装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014188254A JP2014188254A JP2013067891A JP2013067891A JP2014188254A JP 2014188254 A JP2014188254 A JP 2014188254A JP 2013067891 A JP2013067891 A JP 2013067891A JP 2013067891 A JP2013067891 A JP 2013067891A JP 2014188254 A JP2014188254 A JP 2014188254A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- fundus
- disappearance
- target
- visual field
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
【課題】 正常部位及び異常部位を含めた眼底全体の視野を計測しづらい点、視野検査の結果とOCT等の他の解析結果との対応付けがしづらい点の少なくとも一つを解決する。
【解決手段】 予め設定された呈示パターンを形成する各測定点に向けて前記刺激視標を投影する視標投影手段を備え、被検者眼の応答結果に基づいて各測定点における閾値感度を計測する視野検査装置であって、眼底断層画像に対する解析によって得られる情報であり視機能に関連する網膜層に関する消失領域の位置を示す層消失情報、及び眼底蛍光画像に対する解析によって得られる情報であり視機能に関連する網膜層に関する萎縮領域の位置を示す層萎縮情報の少なくともいずれかを取得し、層消失情報及び層萎縮情報の少なくともいずれかに基づいて呈示パターンにおける各測定点における刺激視標の初期輝度を設定する。
【選択図】 図10
【解決手段】 予め設定された呈示パターンを形成する各測定点に向けて前記刺激視標を投影する視標投影手段を備え、被検者眼の応答結果に基づいて各測定点における閾値感度を計測する視野検査装置であって、眼底断層画像に対する解析によって得られる情報であり視機能に関連する網膜層に関する消失領域の位置を示す層消失情報、及び眼底蛍光画像に対する解析によって得られる情報であり視機能に関連する網膜層に関する萎縮領域の位置を示す層萎縮情報の少なくともいずれかを取得し、層消失情報及び層萎縮情報の少なくともいずれかに基づいて呈示パターンにおける各測定点における刺激視標の初期輝度を設定する。
【選択図】 図10
Description
眼底の視野を計測するための視野検査装置に関する。
視野検査装置(以下、視野計とする)は、患者の視野を自覚的に計測できる装置であり、被検者が検査視標を視認できたか否かどうかにより視野を計測できる(特許文献1)。特許文献1の装置は、カラー眼底画像を撮影する機能を有し、カラー眼底画像上の眼疾患部に向けて、視標をマニュアルで投影して視野検査を行うことが可能である。
一方、被検眼の所定部位(例えば、眼底、前眼部)における断層画像を非侵襲で撮影することができる眼科撮影装置として、低コヒーレント光を用いた眼科用光断層干渉計(Optical Coherence Tomography:OCT)が知られている。また、近年では、眼科用光断層干渉計と視野計のコンボ機についても提案されている(特許文献2参照)。
しかしながら、特許文献2では、OCT画像を解析して異常部位を求め、異常部位に対応する領域に対して視標を投影する。この手法の場合、異常部位に関する視野を計測できる。そこで、課題の一つとしては、例えば、正常部位及び異常部位を含めた眼底全体の視野を計測しづらい点が挙げられる。また、他の課題の一つとしては、例えば、視野検査の結果と、OCT等の他の解析結果との対応付けがしづらい点が挙げられる。
本発明は、上記課題の少なくとも一つを解決可能な視野検査装置を提供することを技術課題とする。
上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。
(1) 被検眼眼底に刺激視標を投影するための視標投影光学系を有し、前記刺激視標の輝度を変化可能であって、予め設定された呈示パターンを形成する各測定点に向けて前記刺激視標を投影する視標投影手段を備え、前記刺激視標に対する被検者眼の応答結果に基づいて各測定点における閾値感度を計測する視野検査装置であって、
前記被検眼眼底の断層画像に対する解析によって得られる情報であり、前記被検眼眼底の視機能に関連する網膜層に関する消失領域の位置を示す層消失情報、及び前記被検眼眼底の蛍光画像に対する解析によって得られる情報であり、前記被検眼眼底の視機能に関連する網膜層に関する萎縮領域の位置を示す層萎縮情報の少なくともいずれかを取得する取得手段と、
前記取得手段によって取得された前記層消失情報及び前記層萎縮情報の少なくともいずれかに基づいて、前記呈示パターンにおける各測定点における前記刺激視標の初期輝度を設定する設定手段と、を有する。
前記被検眼眼底の断層画像に対する解析によって得られる情報であり、前記被検眼眼底の視機能に関連する網膜層に関する消失領域の位置を示す層消失情報、及び前記被検眼眼底の蛍光画像に対する解析によって得られる情報であり、前記被検眼眼底の視機能に関連する網膜層に関する萎縮領域の位置を示す層萎縮情報の少なくともいずれかを取得する取得手段と、
前記取得手段によって取得された前記層消失情報及び前記層萎縮情報の少なくともいずれかに基づいて、前記呈示パターンにおける各測定点における前記刺激視標の初期輝度を設定する設定手段と、を有する。
本発明によれば、視野検査の利便性を向上できる、又は視野検査の結果と他の解析結果との対応付けがしやすい。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて説明する。図1は本実施形態における視野検査装置の光学系構成図であり、図2は制御系のブロック図である。
図1において、光源1からは赤外光が出射される。ハロゲンランプと赤外光透過フィルタを用いて赤外光束とすることも可能である。光軸L1には、コンデンサレンズ2、コールドミラー3を介してリングスリット4が配置される。光源1からの赤外光束は、コンデンサレンズ2、コールドミラー3を介してリングスリット4を照明する。
リングスリット4からの光束は、リレーレンズ5を介して穴開きミラー6の開口部近傍に中間像を形成する。リングスリット4からの光束は、穴開きミラー6の周辺面で反射される。
穴開きミラー6は、光軸L2上に配置される。穴開きミラー6によって反射された光束は、対物レンズ7により眼Eの瞳孔付近で一旦結像する。その後、拡散して被検眼眼底Efを一様に照明する。
コールドミラー3は可視光を反射し、赤外光を透過する特性を有している。撮影用光源8は、フラッシュランプであってもよいし、LED光源であってもよい。撮影用光源8から出射されたフラッシュ光は、コンデンサレンズ9を経た後、コールドミラー3により反射される。その後、リングスリット4、リレーレンズ5、穴開きミラー6、対物レンズ7を介して被検眼Eの眼底を照明する。このような構成により照明光学系が形成される。
眼底Efからの反射光束(赤外光束)は、対物レンズ7、穴開きミラー6、レンズ10,11,12を経た後、ビームスプリッタ13にて反射し、レンズ14に導光され、観察用撮像素子15の受光面に結像する。ビームスプリッタ13は、赤外光を反射し可視光を透過する特性を有してもよい。観察用撮像素子15は、赤外域に感度を有する。
穴開きミラー6の穴は、被検眼瞳孔と共役な位置にあり、撮影絞りを構成する。レンズ11は光軸方向に駆動可能なフォーカシングレンズである。光軸L2上におけるレンズ11の位置が変化されることにより、眼底Efと撮像素子15の受光面とが共役な関係となる。対物レンズ7から撮像素子15によって、観察光学系を兼ねる赤外撮像光学系が形成される。
撮影光学系は、可視光を発し、観察光学系の対物レンズ7からビームスプリッタ13までを共用する。眼底からの可視反射光束は、ビームスプリッタ13を透過する。その後、レンズ16を介して、ミラー17にて反射した後、撮影用撮像素子18に入射し、その受光面に眼底像が結像される。撮影用撮像素子18は、可視域に感度を有する。撮像素子15の受光面は、撮像素子18の受光面及び被検眼眼底と光学的に共役な位置になるように設置されている。可視撮影及び赤外撮影の撮影画角は、例えば、45度であってもよい。
自覚式の視野計測を行うための視標呈示光学系52は、例えば、撮像光学系として用いられる対物レンズ7からレンズ16までを共用し、縮小レンズ19、視野計測用の視標を呈示する(視標呈示用)ディスプレイ20を含む。
縮小レンズ19は、ディスプレイ20の視標呈示領域全体を眼底Efに投影するために用いられる。なお、視野計測時(視標呈示時)には、ミラー17は、光路外に退避される。視標は、ディスプレイ20によって呈示される。呈示された視標は、縮小レンズ19、レンズ16、ビームスプリッタ13、レンズ10〜12、穴開きミラー6、対物レンズ7を経て眼底Efに投影される。ディスプレイ20の中心(光軸L2)には、被検眼の固視目標となる固視標が形成される。また、視野計測用の検査視標(刺激視標)は、例えば、その呈示位置や輝度、大きさを変更できてもよい。
図2において、制御部30は、例えば、眼科装置のシステム全体を制御するために用いられてもよい。また、制御部30は、視野計測時の演算処理を行ってもよい。制御部30は、観察用光源1、撮影用光源8、ディスプレイ20、画像処理部32、画像切換部33、記憶部(メモリ)34、応答スイッチ35、操作部37が接続されている。
応答スイッチ35は、視野計測時に被検者が呈示視標を視認できたときに使用するものである。操作部37は、検者によって操作される。制御部30は、操作部37からの操作信号を受け付ける。操作部37は、例えば、撮影ボタン37a、モード切換ボタン37b、スタートボタン37c等を含んでいても良い。モード切換ボタン37bは、眼底撮影モードと視野計測モードとを切換えるために用いられる。
画像処理部32は、例えば、撮像素子15、撮像素子18にて得られる画像に対して画像処理を行うようにしてもよい。画像切換部33は、モニタ31の表示を、撮像素子15での動画観察画像と、撮像素子18での静止画像との間で切換えても良い。メモリ34は、例えば、撮像素子15,18にて撮影された画像、視野計測において得られた被検者の応答結果を記憶可能である。なお、視野計50には、OCTデバイス100及び眼底蛍光画像撮影装置(以下、撮影装置200)の少なくともいずれかが接続される。
OCTデバイス100は、眼底Efに測定光を投光し、眼底から反射された測定光と,参照光との干渉状態を検出して眼底断層画像を撮像する。OCTデバイス100は、干渉光学系を有する。干渉光学系は、光源から出射された光束を測定光と参照光に分割する。そして、測定光束を眼底に導き,参照光を参照光学系に導く。そして、眼底で反射した測定光と参照光とが合成された光を受光する。また、干渉光学系の測定光路には、測定光を眼底上で走査させるための光スキャナが設けられる。なお、断層画像の取得は、赤外光によって行われるため、赤青緑によるカラー眼底画像の取得に比べて、撮影光量が少なくてすむ。
OCTデバイス100は、OCT制御部110を有する。OCT制御部110は、例えば、CPUを有し、例えば、OCTデバイス100の全体を制御してもよい。OCT制御部110は、取得された断層画像における眼底の各層情報を画像処理により検出してもよい。OCT制御部110は、所定の画像判定条件(判定基準)を基に各層の検出結果を解析してもよい。
OCT制御部110は、例えば、OCT光学系を制御することによって、測定光をXY方向に二次元的に走査させてもよい。二次元的走査の例は、互いに隣接した複数のスキャンからなるラスタースキャン、互いに離間した複数のスキャンからなるマルチスキャン、のいずれかが挙げられる。そして、OCT制御部110は、各走査位置に得られたAスキャン信号に基づいて眼底断層画像の3次元データを取得してもよい。図3は3次元データの測定領域の一例を示す図であり、矩形Kが眼底上における測定領域を示す。
解析結果は、OCTデバイス100のメモリ、又は外部のメモリ(例えば、パーソナルコンピュータのメモリ、サーバーのメモリ)に断層画像と共に記憶される。また、解析結果は、OCTデバイス100に付属する正面眼底像撮像デバイス(例えば、眼底カメラ、SLO(スキャニング・レーザ・オフサルモスコープ))によって得られた眼底正面像と対応付けされてもよい。
眼底蛍光画像撮影装置(以下、撮影装置200)200は、眼底Efの眼底蛍光画像を撮像する撮像光学系を含む。撮影装置200は、撮影制御部210を有する。眼底蛍光画像撮影装置(以下、撮影装置200)200としては、例えば、眼底カメラであってもよいし、走査型レーザ検眼鏡(SLO)であってもよい。
眼底カメラでは、エキサイタフィルタが照明光学系、バリアフィルタが撮影光学系に挿入された状態で、蛍光による眼底正面画像である眼底蛍光画像が撮影される。SLOの場合、単色のレーザ光(例えば、青色光、緑色光、赤色光、赤外光の少なくともいずれか)が励起光として用いられ、励起光による眼底からの蛍光を、バリアフィルタを介して受光する。これにより、蛍光による眼底正面画像である眼底蛍光画像が撮影される。図4は眼底蛍光画像の一例を示す模式図である。
眼底蛍光画像としては、例えば、蛍光造影剤を必要としない点において、眼底自発蛍光画像(FAF画像)が有利である。もちろん、蛍光造影剤を用いて撮影された眼底蛍光画像(FAG画像、ICG画像)であってもよい。なお、眼底蛍光画像の撮影は、赤青緑によるカラー眼底画像の取得に比べて、撮影光量が少なくてすむ。
図5、図6は本装置の動作の例について説明するフローチャートであり、図5は眼底断層画像に対する解析結果に基づいて視野検査装置を動作させる場合の一例を示す図であり、図6は眼底蛍光画像に対する解析結果に基づいて視野検査装置を動作させる場合の一例を示す図である。
本実施形態では、眼底Efの視機能に関連する網膜層に関する消失領域の位置を示す情報である層消失情報(以下、層消失情報)が取得される。層消失情報は、例えば、視標輝度を変化させて視覚の閾値を求める静的視野測定に利用されうる。層消失情報は、例えば、眼底断層画像に対する解析処理によって取得されてもよい。なお、視機能に関連する網膜層としては、例えば、視細胞層であってもよいし、網膜色素上皮層(以下、RPE層と記載する)であってもよい。
制御部30は、取得された層消失情報に基づいて、予め設定された視標パターンの各投影位置における視標の初期輝度(初期減衰値ともいう)を設定する。制御部30は、各投影位置にて設定された初期輝度を用いて、各投影位置に視標を投影する。
被検者は、固視灯を注視した状態で、各視標の視認状態を応答スイッチ35で応答する。応答スイッチ35からの応答信号は制御部30に転送され、制御部30によって演算処理が行われる。演算処理信号は、測定結果としてモニタ(ディスプレイ)31に出力される。
<眼底断層画像に基づく消失領域の検出>
OCT制御部110は、取得された3次元データを解析処理することによって、層消失情報を求める。例えば、OCT制御部110は、眼底Efの視機能に関連する網膜層の二次元分布を、3次元データから画像処理によって求めてもよい。OCT制御部110は、3次元データを形成する各Aスキャン信号の輝度分布を検出してもよい。OCT制御部110は、検出された輝度分布に基づいて、特定の視機能に関連する網膜層を抽出してもよい。
OCT制御部110は、取得された3次元データを解析処理することによって、層消失情報を求める。例えば、OCT制御部110は、眼底Efの視機能に関連する網膜層の二次元分布を、3次元データから画像処理によって求めてもよい。OCT制御部110は、3次元データを形成する各Aスキャン信号の輝度分布を検出してもよい。OCT制御部110は、検出された輝度分布に基づいて、特定の視機能に関連する網膜層を抽出してもよい。
視細胞層としては、例えば、視細胞内節/外節(以下IS/OSと記載する)が典型的である。図7は、IS/OSと、Aスキャン信号の輝度分布との関係を示す図であり、図7(a)はIS/OSが残存している状態の輝度分布と、図7(b)はIS/OSが消失している状態の輝度分布を示す例である。すなわち、IS/OSが残存している場合、IS/OSに対応するピークが見られるが、IS/OSが消失している場合、IS/OSに対応するピークはなく、RPEに対応するピークが現れる。なお、IS/OSの有無を特定する場合、解剖学的に知られている各層の順序、網膜表面からの距離、IS/OSに対応する強い輝度の立ち上がり、などが利用される。
OCT制御部110は、例えば、IS/OS層に対応する輝度の上昇が検出されたか否かに応じて、IS/OS層の消失状態を判別してもよい。OCT制御部110は、IS/OS層の消失状態を二次元的に求める。各位置でのIS/OS層の消失状態によって、結果として、層消失情報が求められる。
なお、上記説明においては、視細胞層を検出することによって層消失情報を求めたが、これに限定されない。例えば、OCT制御部110は、RPE層の消失状態を検出することによって層消失情報を求めるようにしてもよい。なお、一つの網膜層の有無を判別する処理に限定されず、OCT制御部110は、複数の網膜層(例えば、視細胞層とRPE層からなる複合層)の有無に基づいて層消失情報を求めるようにしてもよい。
上記のようにして取得される層消失情報は、OCTデバイス100の記憶部(メモリ)、又は外部の記憶部(例えば、パーソナルコンピュータの記憶部、サーバーの記憶部)に三次元データと共に記憶される。
図8は解析結果を示す図であり、視機能に関連する網膜層の消失状態を二次元的に示すマップ(以下、解析マップと記載)の一例である。本実施例において、制御部30は、上記のように取得された層消失情報に基づく解析マップ画像を、解析結果データとして生成してもよい。解析マップ画像は、層消失情報を視覚的に表現する画像である。
例えば、図8に示すように、層消失領域を示すグラフィック(ハッチングN参照)が、モニタ上に出力可能であってもよい。例えば、ハッチングNについて、特定の色にて表示される(例えば、赤色)。また、層消失領域がマーカーで囲まれるようにしてもよい。層消失領域として判定されなかった領域(つまり、視機能に関連する網膜層が正常な領域)に関して、識別可能なグラフィックが表示されてもよい。
なお、本実施形態では、OCT制御部110は、解析処理部を兼ねてもよい。もちろん、装置全体を動作させる制御部と、断層画像を解析する解析処理部とが、別であってもよい。また、視野計50が、OCTデバイス100と一体化された装置であってもよく、視野計の制御部30が、OCT制御部110を兼用してもよい。
<眼底蛍光画像に基づく視細胞に関する萎縮領域の検出>
層萎縮情報は、例えば、眼底蛍光画像に対する解析処理によって取得されてもよい。本実施形態における撮影装置200の撮影制御部210は、取得された眼底蛍光画像を解析処理することによって、層萎縮情報を求める。例えば、撮影制御部210は、視機能に関連する網膜層の萎縮状態を二次元的に求めてもよい。
層萎縮情報は、例えば、眼底蛍光画像に対する解析処理によって取得されてもよい。本実施形態における撮影装置200の撮影制御部210は、取得された眼底蛍光画像を解析処理することによって、層萎縮情報を求める。例えば、撮影制御部210は、視機能に関連する網膜層の萎縮状態を二次元的に求めてもよい。
より詳細には、撮影制御部210は、眼底蛍光画像の各画素における輝度情報を検出する。撮影制御部210は、各画素における輝度が許容範囲を満たすか否かを判別することによって、眼底蛍光画像における低蛍光領域を抽出する。
被検眼眼底の自発蛍光画像では、特定の網膜層に貯留する老化物質(主にリポフスチン)の量が捉えられる。なお、一般的には、老化物質が貯留する網膜層は、RPE層であると言われている。老化物質は、加齢と共に視細胞層に蓄積される。老化物質が持つ毒性によって、萎縮による障害が、RPE層に発生する。
ここで、視細胞層の萎縮領域では、自発蛍光が消失、あるいは低下する。したがって、自発蛍光画像では、RPE層が正常な領域は、通常の明るさにて描画される。視細胞層の萎縮領域は暗く写り、低蛍光領域として描画される(図4中のハッチングLO参照)。なお、リポフスチンの量は、視細胞層(例えば、IS/OS層)の活動にも関係するとも言われており、眼底蛍光画像の輝度を評価することによって、結果的に、視細胞層の萎縮状態を判定できる可能性も含んでいる。
そこで、例えば、撮影制御部210は、各位置での輝度が閾値を下回るか否かを判別することによって、低蛍光領域が否かを判別するようにしてもよい。ここで、視機能に関連する網膜層の萎縮領域に対応する低蛍光領域と、正常な蛍光領域とを判別するための閾値が、予め実験等によって設定される。その結果、眼底画像上における低蛍光領域の位置が特定されることによって、結果として、層萎縮情報が取得される。
上記のようにして取得される層萎縮情報は、撮影装置200の記憶部(メモリ)、又は外部の記憶部(例えば、パーソナルコンピュータの記憶部、サーバーの記憶部)に眼底蛍光画像と共に記憶される。
なお、撮影制御部210は、眼底蛍光画像を用いて取得された層萎縮情報に基づく解析マップ画像を、解析結果データとして生成してもよい。解析マップ画像は、層萎縮情報を視覚的に表現する画像である(例えば、図9参照)。なお、解析マップ画像の説明については、眼底断層画像に対する解析結果と同様であるため、説明を省略する。
なお、本実施形態では、撮影制御部210は、解析処理部を兼ねてもよい。もちろん、装置全体を動作させる制御部と、眼底蛍光画像を解析する解析処理部とが、別であってもよい。また、視野計50が、撮影装置200と一体化された装置であってもよく、視野計の制御部30が、撮影制御部210を兼用してもよい。
以下に、上記のように取得される層消失情報又は層萎縮情報を用いた視野検査の例を説明する。
<視標呈示条件の設定>
初めに、視野検査での視標呈示条件が設定される。制御部30は、予め記憶部34に記憶されたデフォルトの条件を、視標呈示条件として設定するようにしてもよい。また、制御部30は、操作部37から出力される出力信号に基づいて、視標呈示条件を、複数の条件から選択できるようにしてもよい。視標呈示条件としては、閾値ストラテジー、視標のパターン、初期輝度(初期減衰値)、視標の大きさ/色、固視標の形状/大きさ/色、背景色等が例示されるが、これに限定されない。
初めに、視野検査での視標呈示条件が設定される。制御部30は、予め記憶部34に記憶されたデフォルトの条件を、視標呈示条件として設定するようにしてもよい。また、制御部30は、操作部37から出力される出力信号に基づいて、視標呈示条件を、複数の条件から選択できるようにしてもよい。視標呈示条件としては、閾値ストラテジー、視標のパターン、初期輝度(初期減衰値)、視標の大きさ/色、固視標の形状/大きさ/色、背景色等が例示されるが、これに限定されない。
閾値ストラテジーは、視標が投影された眼底の各位置での感度の閾値を探索するための様式を意味する。例えば、閾値ストラテジー4−2−1では、初期減衰値(初期輝度)から始めて被検者が視標を認識できなくなるまで、視標輝度が4dbずつ暗くされる。一旦視標を認識できない輝度が判明すると、被検者が視標を視認できるまで、視標輝度を、2dbずつ明るくする。更に視標を認識できる輝度が判明したら、閾値を決めるため、一回につき1dbずつ暗くする。閾値ストラテジー4−2では、前述の4−2−1の最後の工程(1回につき1dbずつ暗くする)を省略したオプションであって、省略した分検査が早く終了される。この方式では、検者が視認できる可能性が高い輝度から計測が開始されるため、検者に安心感を与えることができる。
閾値ストラテジー4−2−1において、明暗の傾向が逆であっても良い。つまり、初期減衰値から始めて被検者が視標を認識できるまで、視標輝度を4db明るくする。一旦視標を認識できる輝度が判明すると、被検者が視標を視認できなくなるまで、視標輝度を、2dbずつ暗くする。更に視標を認識できる輝度が判明したら、閾値を決めるため、一回につき1dbずつ明るくするようにしてもよい。閾値ストラテジー4−2では、前述の4−2−1の最後の工程(1回につき1dbずつ明るくする)を省略したオプションであって、省略した分検査が早く終了される。
なお、閾値ストラテジーは、上記様式に限定されず、他のストラテジーであってもよい。また、閾値ストラテジーが検者に任意に作成できるような構成であってもよい。
視標のパターンは、例えば、視標の投影範囲(投影画角)、投影範囲内における視標の数の少なくともいずれかが異なる複数のパターンから選択される。視標のパターンの具体例としては、標準パターン、病理パターン、広角パターン、ハンフリー10−2パターン等が挙げられる。
標準パターンは、普通の患者に通常使用されるパターンであって、例えば、画角20°の範囲で視標33個からなり、初期減衰値は、初期輝度が16dbに設定される。病理パターンは、加齢黄斑変性(AMD)、糖尿病網膜症、網膜変性、網膜血管病理などのような病理に通常使用されるパターンであって、初期輝度は、標準パターンより高い輝度(例えば、10db)に設定される。病理パターンとしては、例えば、画角20度の範囲で視標29個からなる。
広角パターンは、網膜全体の感受性を計測するのに通常使用されるパターンであって、標準パターンより大きい画角(例えば、40度)を持つ。広角パターンとしては、例えば、画角40度の範囲にで、0dbと20dbの初期減衰値の視標90個からなる。ハンフリー10−2パターンは、一般的な視野測定機器との比較に通常使用されるパターンであって、画角20度の範囲で視標68個からなる。
なお、上記パターンは、あくまでも一例であって、他のパターンであってもよい。なお、視標のパターンを、検者が任意に作成できるような構成であってもよい。
<被検者の設定>
次に、視野検査を行う被検者が設定される。例えば、複数の被検者が列挙された被検者リストが、モニタ31の表示画面に表示される。この画面上において、被検者の新規登録、又は選択が行われ、検査時における被検者の設定が行われる。
次に、視野検査を行う被検者が設定される。例えば、複数の被検者が列挙された被検者リストが、モニタ31の表示画面に表示される。この画面上において、被検者の新規登録、又は選択が行われ、検査時における被検者の設定が行われる。
なお、新規登録の場合には、患者を識別するためのID番号、名前、生年月日などが入力される。被検者情報としては、少なくとも被検者を識別するための識別情報が含まれる。制御部30は、操作部75からの入力信号を受け付けることによって被検者情報を設定するようにしてもよいし、被検者情報を外部のメモリから受け付けることによって、被検者を設定するようにしてもよい。
<視細胞に関する層消失情報又は層萎縮情報を用いた視標呈示条件の変更>
制御部30は、設定された被検者に対応する、視細胞に関する層消失情報を取得してもよい。層消失情報は、例えば、OCTデバイス100(又は撮影装置200)から通信回線を介して視野計に入力される。また、層消失情報を記憶するサーバー等から視野計に入力される場合も考えられる。
制御部30は、設定された被検者に対応する、視細胞に関する層消失情報を取得してもよい。層消失情報は、例えば、OCTデバイス100(又は撮影装置200)から通信回線を介して視野計に入力される。また、層消失情報を記憶するサーバー等から視野計に入力される場合も考えられる。
層消失情報と、視野検査における各視標投影位置(以下、測定点)とは、予め対応付けされ、その対応関係が記憶部34に記憶されている。例えば、視野計での測定点の位置と、OCTデバイス100による測定位置(例えば、測定光の走査位置、前述の解析マップ画像の画素位置)との対応付けが行われる。
また、制御部30は、設定された被検者に対応する、視細胞に関する層萎縮情報を取得してもよい。層萎縮情報は、例えば、撮影装置200から通信回線を介して視野計に入力される。また、層萎縮情報を記憶するサーバー等から視野計に入力される場合も考えられる。
層萎縮情報と、視野検査における各視標投影位置(以下、測定点)とは、予め対応付けされ、その対応関係が記憶部34に記憶されている。例えば、視野計での測定点の位置と、撮影装置200による眼底蛍光画像の画素位置との対応付けが行なわれる。
<眼底観察画像と層消失情報とをマッチング>
制御部30は、視野計50における観察光学系によって取得される眼底観察画像と、層消失情報とをマッチングさせる(レジストレーション)ようにしてもよい。これにより、眼Eの位置のバラツキに対応できる。
制御部30は、視野計50における観察光学系によって取得される眼底観察画像と、層消失情報とをマッチングさせる(レジストレーション)ようにしてもよい。これにより、眼Eの位置のバラツキに対応できる。
より詳細には、制御部30は、3次元OCTデータから生成されるOCT正面像と、観察光学系によって取得される観察正面画像とを、画像処理によってマッチングしてもよい。これにより、3次元OCTデータと観察正面画像とが対応付けされる。3次元OCTデータは、層消失情報における消失領域の位置座標と一対の関係にあるため、結果として、眼底観察画像が、層消失情報とマッチング(レジストレーション)される。なお、上記マッチング結果は、層消失情報を用いて視標を投影する際に利用される。また、上記マッピング処理は、観察正面画像のライブ画像に対してリアルタイムで実行されてもよいし、観察正面画像の静止画像に対して実行されてもよい。
なお、OCT正面像は、例えば、3次元OCTデータにおける深さ方向の積算画像であってもよいし、3次元OCTデータの基となる干渉スペクトルによって生成される干渉画像であってもよい。
また、制御部30は、視野計50における観察光学系によって取得される眼底観察画像と、層萎縮情報とをマッチングさせる(レジストレーション)ようにしてもよい。これにより、眼Eの位置のバラツキに対応できる。
制御部30は、眼底蛍光画像と、観察光学系によって取得される観察正面画像とを、画像処理によってマッチングしてもよい。これにより、眼底蛍光画像と、観察正面画像とが対応付けされる。眼底蛍光画像は、層萎縮情報における萎縮領域の位置座標と一対の関係にあるため、結果として、眼底観察画像が、層萎縮情報とマッチング(レジストレーション)される。なお、上記マッチング結果は、層萎縮情報を用いて視標を投影する際に利用される。
<視細胞に関する層消失情報を用いた視標呈示条件の変更>
制御部30は、層消失情報における消失領域の位置座標に基づいて、今回の検査における視標呈示条件の少なくとも一部を変更する。
制御部30は、層消失情報における消失領域の位置座標に基づいて、今回の検査における視標呈示条件の少なくとも一部を変更する。
例えば、制御部30は、消失領域(図8、図9のハッチングN参照)の位置座標に対応する測定点に関して、初期輝度を、予め設定された初期輝度に対して高い初期輝度に設定する。つまり、制御部30は、前述のように設定される初期輝度から、消失領域のために設定された初期輝度に変更すればよい。
消失領域に対応しない他の検査点においては、予め設定された初期輝度が用いられる。この場合、消失領域がない領域に対応する測定点における初期輝度に対し、消失領域に対応する測定点における初期輝度の方が、少なくとも明るい輝度に設定される。
ここでは、消失領域のために設定された初期輝度が、暗点感度(本視野計において設定可能な最大輝度)であることが好ましい。なお、暗点感度に近い感度であればよく、前述の閾値ストラテジーを実行する際に、各測定点において、3ステップ以内の輝度調整によって閾値測定が完了する初期輝度が好ましい。もちろん、これに限定されず、予め設定された初期輝度に対して高い初期輝度に設定されれば、本実施形態の目的の一つである検査の効率化は達成される。
より詳細な条件の一つを示すと、例えば、視標呈示条件の設定において、図10に示すように、画角20°の範囲で、初期輝度が16dbである標準パターンPAに設定されてもよい。この場合、消失領域に対応する測定点(黒円)については、初期輝度が0db(暗点感度)に設定され、消失領域に対応しない他の測定点(白円)については、初期輝度が、予め設定された16dbに設定されてもよい。
<感度検査の実行>
上記のようにして各測定点での初期輝度を含む視標呈示条件が設定された後、検査開始のトリガに応じて、感度検査が開始される。なお、本検査では、制御部30は、視標を連続的に同一位置に投影せずに1回の投影毎に、他の視標位置に移動して視標を投影する。
上記のようにして各測定点での初期輝度を含む視標呈示条件が設定された後、検査開始のトリガに応じて、感度検査が開始される。なお、本検査では、制御部30は、視標を連続的に同一位置に投影せずに1回の投影毎に、他の視標位置に移動して視標を投影する。
制御部30は、ディスプレイ20を制御し、前述のように設定された初期輝度にて、各測定点に対して視標を順次投影する。本実施形態では、視標のパターンでの各測定点の初期輝度について、消失領域(以下、第1の領域)に対応する測定点については第1の初期輝度(例えば、暗点感度)に設定され、消失領域に対応しない領域(第2の領域)に対応する測定点については第1の初期輝度よりも暗い第2の初期輝度(例えば、16db)に設定される。つまり、各測定点に投影される初期輝度は、消失領域に対応するか否かにより異なる。
各測定点での測定の際において、制御部30は、応答スイッチ35からの応答信号(視標を視認できたことを示す信号)の有無を、測定点に対応付けて記憶部34に記憶していく。そして、制御部30は、設定された閾値ストラテジーに基づき、検者からの応答結果に応じて、各測定点における視標の輝度を、初期輝度に対して増減させていく。そして、制御部30は、各測定点での閾値を順次取得する。各測定点での閾値は、記憶部34に記憶される。制御部30は、各測定点での閾値測定結果を、モニタ31上に表示してもよい。また、制御部30は、前述の解析マップ画像と、閾値測定結果を同時に表示するようにしてもよい。制御部は、解析マップ画像に、閾値測定結果を重畳して表示するようにしてもよい。
ここで、第1の領域に対応する測定点について、視機能に関連する網膜層が消失している可能性が高い位置に、視標が投影される。この測定点では、網膜感度が非常に低い或いはほとんどない可能性が高い。よって、初期輝度の視標を視認できない可能性、若しくは、初期輝度の視標が視認できたとしても、数回の輝度調整にて視標が視認できなくなる可能性が高い。なお、第1の初期輝度が、暗点感度に設定されている場合、視標が視認できない応答信号が得られると、その測定点に関する視標投影が完了されてもよい。このようにすれば、消失領域に関して初期輝度が高く設定されることによって、暗い視標が呈示されるときの検査時間が省略され、検査時間が短縮される。
また、第2の領域に対応する測定点について、視機能に関連する網膜層が残存している可能性が高い位置に、視標が投影される。この測定点では、網膜感度が残存している可能性が高い。そこで、第1の初期輝度よりも暗い第2の初期輝度にて、視標を投影することによって、閾値をスムーズに取得しやすい。
以上をまとめると、本実施形態の利点の一つは、予め設定された視標呈示パターンの各測定点に視標を投影する際に、視標呈示パターンに基づく包括的な測定結果を取得できる共に、視機能に関する網膜層の消失領域に対応する測定点での検査をスムーズ行うことができる点である。
また、本実施形態の利点の一つは、視標呈示パターンに基づく各測定点での測定結果と、視機能に関する網膜層の消失領域の関する位置情報とが、対応付けできる点である。検者は、消失領域と他の領域における視野の計測結果を比較できる。
なお、上記説明では、(眼底断層画像に対する解析によって得られる情報である)層消失情報における消失領域の位置座標に基づいて、今回の検査における視標呈示条件の少なくとも一部を変更する例を示したが、もちろん(眼底蛍光画像に対する解析によって得られる情報である)層萎縮情報における萎縮領域の位置座標に基づいて、今回の検査における視標呈示条件の少なくとも一部を変更するようにしてもよい。
<層消失又は層萎縮の面積に応じた初期輝度の変更>
なお、視野計において、各測定点に対して投影される視標は、眼底上において一定の面積を持つ。その面積は、例えば、画角2度以下であってもよい。そこで、制御部30は、1つの測定点による眼底上での視標の投影領域内に占める消失領域又は萎縮領域の割合に応じて、その測定点における視標の初期輝度を設定するようにしてもよい。これにより、投影領域に対する消失領域又は萎縮領域の割合と、閾値感度との相関性に基づき、初期輝度が設定されるため、より適正な初期輝度を設定しやすくなる。制御部30は、予め設定された各測定点においてそれぞれ消失領域又は萎縮領域の割合を求め、その算出結果に基づいて初期輝度を設定するようにしてもよい。なお、投影領域内に占める消失領域と萎縮領域との合計面積の割合に応じて、視標の初期輝度を設定するようにしてもよい。
なお、視野計において、各測定点に対して投影される視標は、眼底上において一定の面積を持つ。その面積は、例えば、画角2度以下であってもよい。そこで、制御部30は、1つの測定点による眼底上での視標の投影領域内に占める消失領域又は萎縮領域の割合に応じて、その測定点における視標の初期輝度を設定するようにしてもよい。これにより、投影領域に対する消失領域又は萎縮領域の割合と、閾値感度との相関性に基づき、初期輝度が設定されるため、より適正な初期輝度を設定しやすくなる。制御部30は、予め設定された各測定点においてそれぞれ消失領域又は萎縮領域の割合を求め、その算出結果に基づいて初期輝度を設定するようにしてもよい。なお、投影領域内に占める消失領域と萎縮領域との合計面積の割合に応じて、視標の初期輝度を設定するようにしてもよい。
例えば、制御部30は、消失領域の割合が許容範囲(例えば、50%以上、好ましくは75%以上)を超える測定点(図10のP1参照)については、第1の初期輝度(例えば、暗点感度)に設定するようにしてもよい。制御部30は、消失領域の割合が許容範囲(例えば、50%以上、好ましくは75%以上)を超えない測定点(図10のP2参照)については、第2の初期輝度(第1の初期輝度よりも暗い)に設定するようにしてもよい。第1の初期輝度は、消失領域に対応して設定された初期輝度であってもよく、第2の初期輝度は、標準的に使用され、予め設定された初期輝度であってもよい。
また、制御部30は、消失領域の割合に応じて、視標の初期輝度を段階的に設定するようにしてもよい。例えば、制御部30は、消失領域の割合が第1許容範囲(例えば、75%以上)を超える測定点については、第1の初期輝度(例えば、暗点感度)に設定するようにしてもよい。
制御部30は、消失領域の割合が、第1の許容範囲より低い第2許容範囲(例えば、50%以上75%未満)を超える測定点については、第2の初期輝度(第1の初期輝度よりも暗い)に設定するようにしてもよい。
制御部30は、消失領域の割合が、第2許容範囲(例えば、50%以上75%未満)を超えない測定点については、第3の初期輝度(第2の初期輝度よりも暗い)に設定するようにしてもよい。
消失領域の割合を求める場合、制御部30は、層消失情報の位置座標と各測定点とが対応付けし、各測定点の投影領域内における割合によって視標輝度を設定するようにしてもよい。また、制御部30は、層消失状態を示す二次元分布データを、複数のエリアに分割し、各エリアにおける消失領域の割合を予め求めておくようにしてもよい。その後、制御部30は、各エリアと各測定点とを対応づけ、各エリアにおける消失領域の割合によって視標輝度を設定するようにしてもよい。
<変容例>
上記説明においては、検者によって予め設定された各測定点での初期輝度(あるいはデフォルトの視標輝度)に対して、消失領域に関する測定点での初期輝度を変更したが、消失領域に関する測定点での初期輝度が予め設定された後、消失領域に対応しない測定点での初期輝度が設定されるようにしてもよい。また、消失領域に関する測定点での初期輝度においても、検者が任意に設定できるようにしてもよい。
上記説明においては、検者によって予め設定された各測定点での初期輝度(あるいはデフォルトの視標輝度)に対して、消失領域に関する測定点での初期輝度を変更したが、消失領域に関する測定点での初期輝度が予め設定された後、消失領域に対応しない測定点での初期輝度が設定されるようにしてもよい。また、消失領域に関する測定点での初期輝度においても、検者が任意に設定できるようにしてもよい。
なお、上記説明においては、視標を連続的に同一位置に投影しない手法であったが、制御部30は、閾値が判明するまで、視標を同位置にて投影の都度、輝度(減衰値)を代えて投影してもよい。
なお、上記説明においては、ディスプレイ20を用いて視標を眼底に投影したが、これに限定されず、視野計測用の視標を被検眼眼底に投影する構成であればよい。例えば、LED等の点光源がマトリクス状に配列された構成であってもよいし、光源からの光を光スキャナを用いて走査させ、光源の点灯制御により視標の投影位置を調整する構成であってもよい。
また、上記説明においては、マイクロペリメータの視野計を用いることによって、眼底観察像が得られるため、消失領域又は萎縮領域とが好適に対応付けられる。ただし、本実施形態は、一般的な視野計であっても適用可能であり、一般的な視野計としては、ハンフリー視野計であってもよいし、ゴールドマン視野計であってもよい。
30 制御部
50 視野計
52 視標呈示光学系
100 OCTデバイス
200 眼底蛍光画像撮影装置
50 視野計
52 視標呈示光学系
100 OCTデバイス
200 眼底蛍光画像撮影装置
Claims (5)
- 被検眼眼底に刺激視標を投影するための視標投影光学系を有し、前記刺激視標の輝度を変化可能であって、予め設定された呈示パターンを形成する各測定点に向けて前記刺激視標を投影する視標投影手段を備え、
前記刺激視標に対する被検者眼の応答結果に基づいて各測定点における閾値感度を計測する視野検査装置であって、
前記被検眼眼底の断層画像に対する解析によって得られる情報であり、前記被検眼眼底の視機能に関連する網膜層に関する消失領域の位置を示す層消失情報、及び前記被検眼眼底の蛍光画像に対する解析によって得られる情報であり、前記被検眼眼底の視機能に関連する網膜層に関する萎縮領域の位置を示す層萎縮情報の少なくともいずれかを取得する取得手段と、
前記取得手段によって取得された前記層消失情報及び前記層萎縮情報の少なくともいずれかに基づいて、前記呈示パターンにおける各測定点における前記刺激視標の初期輝度を設定する設定手段と、を有することを特徴とする視野検査装置。 - 前記層消失情報は、前記被検眼眼底のIS/OS層に関する消失領域の位置を示し、前記IS/OS層に関する消失領域が、前記断層画像に対する画像処理によって特定されることを特徴とする請求項1の視野検査装置。
- 前記層萎縮情報は、前記蛍光画像としての前記被検眼眼底の自発蛍光画像に含まれる閾値よりも輝度が低い低蛍光領域が、前記自発蛍光画像に対する画像処理によって特定されることによって得られることを特徴とする請求項1の視野検査装置。
- 前記設定手段は、前記各測定点に関し、前記被検眼眼底上での前記刺激視標の投影領域内に占める前記消失領域及び前記萎縮面積の少なくともいずれかの割合に応じて、前記測定点における前記刺激視標の初期輝度を設定する請求項1〜3のいずれかの視野検査装置。
- 前記設定手段は、前記消失領域又は前記萎縮領域に対応する測定点での初期輝度を暗点感度に設定し、前記消失領域又は前記萎縮領域に対応しない測定点での初期輝度を、暗点感度より暗い輝度に設定する請求項1〜4のいずれかの視野検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013067891A JP2014188254A (ja) | 2013-03-28 | 2013-03-28 | 視野検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2013067891A JP2014188254A (ja) | 2013-03-28 | 2013-03-28 | 視野検査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014188254A true JP2014188254A (ja) | 2014-10-06 |
Family
ID=51835187
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2013067891A Pending JP2014188254A (ja) | 2013-03-28 | 2013-03-28 | 視野検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014188254A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016131881A (ja) * | 2015-01-15 | 2016-07-25 | 株式会社トプコン | 地図状萎縮の同定および測定 |
JP2019024735A (ja) * | 2017-07-27 | 2019-02-21 | 株式会社ニデック | 眼科システムおよび眼科システム制御プログラム |
JP2020099736A (ja) * | 2017-10-05 | 2020-07-02 | 株式会社Qdレーザ | 視覚検査装置 |
US11129527B2 (en) | 2016-06-09 | 2021-09-28 | Qd Laser, Inc. | Visual field/visual acuity examination system, visual field/visual acuity examination device, visual field/visual acuity examination method, visual field/visual acuity examination program, and server device |
JP2022033126A (ja) * | 2018-12-20 | 2022-02-28 | オプトス ピーエルシー | 眼の画像内における病変の検知 |
JP7426078B2 (ja) | 2020-03-27 | 2024-02-01 | 国立大学法人福井大学 | 受容器検査装置、受容器検査プログラム及び受容器検査方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012100713A (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-31 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
-
2013
- 2013-03-28 JP JP2013067891A patent/JP2014188254A/ja active Pending
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012100713A (ja) * | 2010-11-05 | 2012-05-31 | Nidek Co Ltd | 眼科装置 |
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016131881A (ja) * | 2015-01-15 | 2016-07-25 | 株式会社トプコン | 地図状萎縮の同定および測定 |
US11129527B2 (en) | 2016-06-09 | 2021-09-28 | Qd Laser, Inc. | Visual field/visual acuity examination system, visual field/visual acuity examination device, visual field/visual acuity examination method, visual field/visual acuity examination program, and server device |
JP2019024735A (ja) * | 2017-07-27 | 2019-02-21 | 株式会社ニデック | 眼科システムおよび眼科システム制御プログラム |
JP7024240B2 (ja) | 2017-07-27 | 2022-02-24 | 株式会社ニデック | 眼科システムおよび眼科システム制御プログラム |
JP2020099736A (ja) * | 2017-10-05 | 2020-07-02 | 株式会社Qdレーザ | 視覚検査装置 |
JP2022033126A (ja) * | 2018-12-20 | 2022-02-28 | オプトス ピーエルシー | 眼の画像内における病変の検知 |
US11503994B2 (en) | 2018-12-20 | 2022-11-22 | Optos Plc | Detection of pathologies in ocular images |
JP7279291B2 (ja) | 2018-12-20 | 2023-05-23 | オプトス ピーエルシー | 眼の画像内における病変の検知 |
JP7426078B2 (ja) | 2020-03-27 | 2024-02-01 | 国立大学法人福井大学 | 受容器検査装置、受容器検査プログラム及び受容器検査方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US9649022B2 (en) | Control method of a fundus examination apparatus | |
JP6141140B2 (ja) | 眼科撮影装置 | |
JP5850292B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP4458935B2 (ja) | 視野計 | |
JP5941761B2 (ja) | 眼科撮影装置及び眼科画像処理装置 | |
JP2015033472A (ja) | 眼科撮影装置 | |
US20150002811A1 (en) | Image processing apparatus and image processing method | |
JP2014188254A (ja) | 視野検査装置 | |
JP5727198B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP2016140428A (ja) | 眼科装置、画像処理方法およびプログラム | |
JP2010233978A (ja) | 視機能検査装置 | |
JP6407631B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP6392408B2 (ja) | 眼科装置 | |
JP6099782B2 (ja) | 眼科撮影装置 | |
JP7430082B2 (ja) | 眼科装置及びその作動方法 | |
JP2017064547A (ja) | 眼底観察装置 | |
JP7264177B2 (ja) | 画像処理方法、画像表示方法、画像処理装置、画像表示装置、画像処理プログラム、及び画像表示プログラム | |
JP6254729B2 (ja) | 眼科撮影装置 | |
JP5160958B2 (ja) | 眼底撮影装置及び眼底画像処理装置 | |
JP6106300B2 (ja) | 眼科撮影装置 | |
JP6422529B2 (ja) | プログラムおよび眼科システム | |
JP6106299B2 (ja) | 眼科撮影装置及び眼科画像処理装置 | |
JP2023148522A (ja) | 眼科画像処理装置、眼科画像処理プログラム | |
JP2021154105A (ja) | 眼科装置及びその作動方法 | |
JP2018187037A (ja) | 視機能検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20160114 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20161124 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20170105 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20170628 |