JP2014095991A - 接触型icカード用icモジュール及び接触型icカード - Google Patents

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Abstract

【課題】ICモジュールの接触端子が読み書き装置側の接触端子から圧力を受けても、ICモジュール内部の導体パターンが損傷を受けにくいICモジュールを提供すること。
【解決手段】基板1の一方の面に、読み書き装置側の接触用端子と接触するための複数の導体面2を備え、他方の面に、前記導体面とスルーホール接続するスルーホール電極12、フリップチップ接続用パッド6a、及びスルーホール電極12とフリップチップ接続用パッド6aとを結ぶ配線パターン11とを備え、ICチップ7がフリップチップ接続されているICモジュール10であって、ICチップ7がフリップチップ接続されている面の裏面にある一つの導体面2の大きさがICチップ7の大きさより広く、且つICチップ7と基板1との隙間にはアンダーフィル樹脂5が充填されていることを特徴とする接触型ICカード用ICモジュール10である。
【選択図】図1

Description

本発明は、接触型ICカードが、読み書き装置側と電気信号を授受するために内蔵しているICモジュールの内部配線パターンの配置態様に関する。
中央演算処理装置や半導体メモリー等のICチップを内蔵するICカードは、従来の磁気カードに比べて、高度な暗号化による高いセキュリティ性を有し、記憶できるデータ容量が大きいことから、磁気カードに代わって普及し、広く利用されている。
ICカードは、接触型と非接触型の2種類に大別され、接触型ICカードは合成樹脂などを基材とするカード本体に、ICチップが内蔵され表面に露出した接触用端子を有する小型のモジュール基板が嵌め込まれている。読み書き装置のカードスロットにICカードを挿入し、ICカード(モジュール基板)の接触端子と読み書き装置側の接触端子を接触させてデータの授受を行う。接触型ICカードは、大量のデータ交換や決済業務等交信の安全性が求められる用途である、キャッシュカードやクレジットカード等で利用されている。
一方、非接触型ICカードは、カード本体にICチップと通信用アンテナが内蔵されている。ICカードのアンテナと読み書き装置のアンテナ間で無線にて送受信を行うため、カードを抜き差しする手間がなく簡便なことから、鉄道・バスの清算・決済処理等のゲート管理に使用されている。
いずれのタイプのICカードも財布・バッグ等に入れて携帯されることから、外力を受けやすく、外力による曲げ変形によってICモジュール部のICチップが破壊される場合がある。従って、ICカードにはICチップの破壊を防ぐための手段が施されてきた。ICチップが接続用端子とワイヤーボンディングされる場合には、図5(b)に示すようにワイヤーを含めたICチップ全体がモールド樹脂で被覆されるのが普通であった。別の例として、ICモジュールの外周のカード基材に波状に溝を形成することで、外力による変形をこの溝に集中させ、ICモジュールの曲げ変形を軽減させるICカード構造が提案されている(特許文献1参照)。いずれもコストアップを招来するという問題がある。
しかしながら、接触型ICカードには、携帯時の曲げの問題以外に読み書き装置のスロットからの出し入れに伴って、非接触型にはない別の問題が生じる。接触型では、ICカードを読み書き用のスロットに差し込んで、ICカード側の接触用端子と読み書き装置の接触端子とを物理的に接触させる必要がある。具体的には読み書き装置側の金属性ピンをICカード側の面状導体に押し付けて導通が取られている。ピンが押し付けられる範囲内にICカード側の各種導体パターン(導通用スルーホール、ICチップとの接続部及び実際の配線パターン等)が敷設されていると、これらがピン圧力を受けて損傷を被るという問題がある。
特開平11‐296639号公報 特開平4−120744号公報
本発明は、上記の問題点を鑑みてなされたもので、接触型ICカードに内蔵されるICモジュールの曲げ変形に対する耐久性を向上し、かつ、ICモジュールの接触端子が読み書き装置側の接触端子から圧力を受けても、ICモジュール内部の導体パターンが損傷を受けにくい信頼性の高いICモジュールを提供することを目的とした。
上記目的を達成するための請求項1に記載の発明は、基板の一方の面に、読み書き装置側の接触用端子と接触するための複数の導体面を備え、他方の面に、前記導体面とスルーホール接続するスルーホール電極、フリップチップ接続用パッド、及びスルーホール電極とフリップチップ接続用パッドとを結ぶ配線パターンとを備え、ICチップがフリップチップ接続されているICモジュールであって、
ICチップがフリップチップ接続されている面の裏面にある一つの導体面は、その大きさがICチップの大きさより広く、且つチップ実装面のIC全体を包含し、更にICチップと基板との隙間にはアンダーフィル樹脂が充填されていることを特徴とする接触型ICカード用ICモジュールとしたものである。
また、請求項2に記載の発明は、前記ICチップは、フリップチップ接続面の反対側の面上に補強板を備えることを特徴とする請求項1に記載の接触型ICカード用ICモジュールとしたものである。
また、請求項3に記載の発明は、前記スルーホール電極と配線パターンは、ICチップ中央部直下のアンダーフィル樹脂が充填されている部分を除き、読み書き装置側の接触用端子が接触する可能性がある導体面の裏面基材上に存在しないことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の接触型ICカード用ICモジュールとしたものである。
また、請求項4に記載の発明は、前記スルーホール電極と配線パターンが存在しない領域が、導体を読み書き装置側の接触用端子が移動する方向に沿って短冊状に3等分した場合、中央の短冊状領域であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の接触型ICカード用ICモジュールとしたものである。
また、請求項5に記載の発明は、請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の接触型ICカード用モジュールを用いたことを特徴とする接触型ICカードとしたものである。
請求項1に記載の発明により、ICチップの実装面の反対面である接触端子面に、上面視で同実装面を包含し、かつそれよりも大きな導体パターンを設けることにより、ICチップ及びICチップ周辺に集まるICチップ実装面側の細かい配線パターンを裏側から補強することが可能となり、これらが故障・断線し、ICモジュールが故障するリスクを低減することができる。
また、請求項2に記載の発明は、ICチップの背中に補強板を貼付けることにより抗折強度を向上させたICチップを使用することにより、従来のICモジュールのように樹脂でチップ実装部周辺全体を覆う補強工程を省くことができ、コスト低減を実現することが可能となる。
請求項3に記載の発明により、接触式ICカードを読み取る際にピンコンタクト部が押し当てられる可能性が高い導体面の裏面側には、ICチップ実装面側の配線パターン及びスルーホールを設けないようにすることにより、繰返し応力による配線パターン及びスルーホールの断線による故障リスクを低減することが可能となる。
尚、前記読み書き装置側の接触用端子が接触する可能性がある導体面とは、図5(b)中
で斜線により具体的に指定される領域のことである。
また、請求項4に記載の発明により、ICカード券面の各接触端子の配列方向に対して端子の幅を3分割した際の特に中央1/3の幅の部分には、接触式ICカードを読み取る際に板バネ状のピンコンタクト部が通過する可能性が高く、実際には前記各接触端子の配列方向に対して垂直となる方向からカード表面を擦るようにして各端子部までスライドすることを経て各端子とそれに対応するコンタクト部間で電気的接続がなされ、データの授受が行われるが、このピンコンタクト部が通過する際に基板が変形する部分、すなわち前記接触端子パッドの中央1/3の幅の部分、且つICチップ直下のアンダーフィル樹脂が充填され、補強されている部分を除いた部分にはICチップ実装面側の配線パターン及びスルーホールを設けないようにすることにより、繰返し応力による配線パターン及びスルーホールの断線による故障リスクを低減することが可能となる。
本発明に係るICモジュール構造の一例を示す図である。(a)断面視の図、(b)裏面上面視の図。 本発明に係るICモジュール構造の別の一例を示す裏面上面視の図である。 ICカードが読み書き装置のスロットに挿入される場合の、金属ピンとICモジュールの導体の接触過程を説明する図面である。(a)挿入中、(b)挿入後。 従来のICモジュールの導体(電極)配置を説明する上面外観図である。(a)裏面、(b)断面。 (a)接触型ICカードにおけるICモジュールの配置を説明する上面視の図である。(b)ICモジュールの導体に対し、読み取り用の金属ピンが接触する可能性がある範囲を示した図面である。
以下、本発明に係るICモジュールについて図面を用いて具体的に説明する。
図5(a)は、接触型ICカード20におけるICモジュール10の凡その位置と大きさを説明するための外観図である。ICモジュール10は、約11mm×12mm角程度の角が丸みを帯びた正方形の樹脂基材1からなり、プラスチック基材からなるICカード20本体の所定の位置に形成された開口部に互いの表面が面一になるように嵌め込まれて固定されている。そのICモジュール10の一方の表面には、図4、図5(b)に示すように区画された複数の金属性導体2が概ね対称に配置されており、これらの導体面2により読み書き装置側の接触用端子(金属ピン)と電気的接触が図られるようになっている。スロットからの出し入れで導体面2の表面には線状の接触痕が残ることがある。
図4(a)は、従来のICモジュール10単体の表面及び裏面からの上面視外観図であるが、該モジュール基板10の裏面、即ちIC実装面中央にはICチップ7が搭載され、金線ワイヤー17によりICチップ7の接続用端子6bと所定の導体面2とがワイヤーボンディングされて、金線ワイヤー17を含めたICチップ7全体が樹脂モールド16されていたものである。その断面構造を図4(b)に示した。
本発明の対象となるICモジュールは、ICチップ7の搭載態様が、従来のワイヤーボンディングタイプとは異なり、図1(a)に示すようにICチップ7の接続が樹脂基板1側で行われるようにICチップ7の表裏が反転された状態で搭載されている。ICチップ7は、樹脂基材1裏面に形成された接続部6を介してフリップチップ接続されるため表裏を逆にして搭載されるのである。接続部6は、詳しくは樹脂基材1上に形成された接続用パッド6aとICチップの接続用端子6bが図示しないはんだ等により接続されたものである。
樹脂基材1表面の区画された各導体面2と読み書き装置側との電気的接続は、規格で決まっておりワイヤーボンディング方式もフリップチップ接続方式も同じである。使用されるICチップ7の接続用端子6bの並び方も方式による違いはなく同一である。個々の導体面2は、図1(b)に示すように導体面2直下に削孔された導電性スルーホール4を介して樹脂基材1裏面側の配線層3(具体的には電極で、以下スルーホール電極12と記す。)と1:1に接続されている。
ICチップ7の接続用端子6bとスルーホール電極12は、ワイヤーボンディングしやすいような位置関係にあるが、フリップチップ接続になるとICチップ7の表裏が反転しているので接続用端子6bとスルーホール電極間12では配線を引き回す必要が出てくる。ICチップ7の表裏を反転すると、反転の仕方によって端子配置の上下もしくは左右の反転が生じる。
この場合、スルーホール電極12の敷設の仕方とスルーホール電極12と接続用端子6bとを結ぶ配線パターン11については特別な配慮が必要となり、本発明はこれらの点に関するものである。基本的には、読み書き装置側の接触用端子と接触する導体面の裏側には、スルーホール電極12と配線パターン11を敷設しないようにするということである。
<第一の実施形態>
第一の実施形態は、ICチップの実装をワイヤーボンディングからフリップチップに変更し、フリップチップ接続された接続部分6の接続強度の向上とICチップ7の曲げ耐性向上に関するものである。
ICモジュール基板10は、可とう性のある樹脂基材1の一方の面に、読み書き装置側の接触用端子と接触するための区画された複数の導体面2を備えている。樹脂基材1としては、FR−4、ポリイミド、PET、PENに代表される樹脂などの非導電性材料から板状に構成されたものを使用する。区画された導体面2は少なくとも片面に銅箔が付いた前記樹脂からなる厚みが20μm〜200μm程度の樹脂積層板に定法のフォトリソ法を適用して形成する。
導体面2は、導体面2ごとに樹脂基材1の所定位置にスルーホール4が形成され、該スルーホール4は、他方の面に形成された電極(スルーホール電極12)と接続している。スルーホール4は、樹脂基材1を直接ドリリングするか、銅箔付き積層板であれば、レーザ(CO、UV、エキシマ)により樹脂層を、下層の銅箔が露出すまでアブレーションして形成できる。
区画された導体面2のうち中央にある導体面2a(図1(b)参照)に対応する裏面側にICチップ7が搭載されるのが好ましく、ICチップ7の接続用端子6bと同じ配置の接続用パッド6aを樹脂基材1の裏面側に備えている。スルーホール電極12と接続用パッド6aとはパターン化された配線11により接続される。前記中央の導体面2aは、ICチップ7の大きさより広く、上面視でICチップ7全体を包含する大きさを有しているのが好ましい。導体面2aは大きいほうが曲げ抵抗が大きく半導体チップ7自体の変形が抑制されるからである。
スルーホール4は、導電性ペーストを使って裏側からスクリーン印刷により充填するか、銅箔を電極として電解めっき法により充填できる。スルーホールめっきは、先ず所定の前処理、すなわち脱脂、鋭敏化および活性化処理をしてから、硫酸銅を含む所定の電解銅めっき液を用いることにより、銅めっき層を形成する。電解めっきを採用する場合には、スルーホール4を銅で充填すると同時に銅箔が得られるので、スルーホール電極12とつながる配線パターン11と接続用パッド6aが、セミアディティブ法やサブトラクティブ法を適用して同時形成することも可能である。
はんだ接続に供される接続用パッド6a及び樹脂基材1表面の導体面2については金めっき等所定の表面処理を施すことができる。表面処理は、Au/Ni、Au/Pd/Ni等から適宜選択できる。めっき前処理をしてから、スルファミンニッケルめっき槽で、電解ニッケルめっきを電流密度2A/dm で2分間程度施してから、ニッケルめっき層の上にパラジウムめっき層を、更にその上に金めっき層を形成する。ニッケルめっき層は、厚さが約1.0μm〜6.0μm程度、パラジウムめっき層は0.1μm〜0.2μm程度、金めっき層は0.02μm〜0.1μm程度が好ましい。
次いで、接続パッド6aとICチップ7の接続用端子6bを位置合わせしてから、超音波・はんだ又はACP・NCP・ACF・NCFを用いた工法によりフリップチップ接続する。このうち、超音波又ははんだを用いた工法によりフリップチップ接続された電極部分6は外力に弱いので、ICチップ7裏面と樹脂基材1にできる50μm程度の隙間にはアンダーフィル樹脂5が充填される。アンダーフィリングの方法としては、熱硬化性の封止樹脂をディスペンサから充填するCUF(Capillary UnderFill;キャピラリーアンダーフィル)工法が適用できる。アンダーフィル樹脂には、Namics製U8410−119などを使用し、樹脂の硬化は、恒温オーブン内で165℃、2時間加熱する。
このようにして接触型ICカード20に使用する用ICモジュール10が得られる。
ICカードは、携帯時に曲げ作用を受けても、曲げ耐性が向上するようにICチップ7の背中上面に概ね同じ大きさの補強板8を貼り付けることができる。これにより、繰り返し疲労や点圧による、ICチップ7の不良発生を抑止できる。
接触型ICカード20本体を組成する基材は、厚さが0.20mm程度の平板形状の上質紙やプラスチック樹脂などであって、少なくとも表層が非導電性物質からなるPET−G,PVC等が好ましい。図5(a)に示すように、プラスチック基材の所定位置にICモジュール10が収容できる凹部を設けてからICモジュール10を嵌め込んで接着すれば接触型ICカード20が得られる。
<第二の実施形態>
接触型ICカードは、読み書き用のスロットに挿入してデータ交換する際に、互いの電極同士を接触させる必要がある。この際、電極同士を押し付けあうため、樹脂基材1側のスルーホール4とスルーホール電極12、配線パターン11、及びICチップ端子と接続用パッド間のはんだ接続部6等の導体パターンをやみくもに配置すると、これらが圧力により損傷し破断するおそれがある。
そこで本実施形態は、電極同士が接触する部位直下に対応する樹脂基材1内部から裏面にかけて、スルーホール4とスルーホール電極12、配線パターン11を圧力の影響が強い範囲内に敷設しないようにしたものである。接続用端子6については、ICチップ7の端子の配列上難しい面があるが、アンダーフィル樹脂5の充填に加え可能な限り同じ対策をとるのが望ましい。
図3(a)に、電極同士が接触する前の、読み書き装置側の接触用電極15(実際には金属ピン)と、ICモジュール20側の導体面2の位置関係を模式的に示した。スロットにICカードが挿入されて、図3(b)に示すように、中央6個の導体面2のほぼ中央に対応する金属ピン15が接触すると、金属ピン15が導体2表面に押し付けられて、相互
通信が可能になる。接触する可能性のある領域は図5(b)の斜線を引いた領域14であるが、該領域では、金属ピン15は、挿入時には導体上を若干滑りつつ固定されるので接触痕が導体2上に残る。この領域の裏面側には、スルーホール4とスルーホール電極12、配線パターン11を敷設しないのが望ましい。
図2は、スルーホール電極12とICチップ7の接続用パッド6aを配線パターン11で結んだ様子をICチップ側から見た図である。見やすくするためにスルーホールを介してスルーホール電極12と直接つながる導体パターン2a、2b、2c等も描いてある。図2を用いて、スルーホール4とスルーホール電極12、配線パターン11を敷設しないのがより好ましい領域を説明する。
図3(a)の接触用電極15の圧力が及ぶ範囲と、各導体面2b、2c、2dの大きさを考慮すると、導体面2を、接触用金属ピンが移動する方向に沿って(図2、図3では横方向)短冊状に3等分した場合、概ね各導体面中央の帯状領域14aにはスルーホール4とスルーホール電極12、配線パターン11を敷設しないのがより好ましい。この範囲に特に接触圧力が加わるからである。配線パターン11については、ICチップ7の左(右)側の端子が、右(左)がわの導体面から下ろしたスルーホール電極12を結ぶように敷設する必要があるが、これらの配線11は、上面視で導体幅を3等分した上下1/3の範囲内に敷設するのが好ましい。
接触型ICカードは、意匠性を付与した紙基材あるいはプラスチック基材の規定位置に開口部を設けてから、表面が面一になるように、該開口部に上記のICモジュールを収容して固定し、多面付けであればカード抜きを行うと接触型ICカードを製造することができる。
1、樹脂基材
2、導体(片)
2a、区画された導体面
2b、区画された導体面
2c、区画された導体面
2d、区画された導体面
3、配線層
4、スルーホール
5、アンダーフィル樹脂
6、接続部(ICチップ用)
6a、接続用パッド
6b、接続用端子(ICチップの)
6c、はんだ
7、ICチップ
8、補強板
10、ICモジュール
11、配線自体もしくはそれらパターン
12、スルーホール電極
14、接触可能領域
14a、中央の帯状領域
15、接触用電極(金属ピン)
16、樹脂モールド
17、ワイヤーボンディング用金線
20、接触型ICカード

Claims (5)

  1. 基板の一方の面に、読み書き装置側の接触用端子と接触するための複数の導体面を備え、他方の面に、前記導体面とスルーホール接続するスルーホール電極、フリップチップ接続用パッド、及びスルーホール電極とフリップチップ接続用パッドとを結ぶ配線パターンとを備え、ICチップがフリップチップ接続されているICモジュールであって、
    ICチップがフリップチップ接続されている面の裏面にある一つの導体面は、その大きさがICチップの大きさより広く、且つチップ実装面のIC全体を包含し、更にICチップと基板との隙間にはアンダーフィル樹脂が充填されていることを特徴とする接触型ICカード用ICモジュール。
  2. 前記ICチップは、フリップチップ接続面の反対側の面上に補強板を備えることを特徴とする請求項1に記載の接触型ICカード用ICモジュール。
  3. 前記スルーホール電極と配線パターンは、ICチップ中央部直下のアンダーフィル樹脂が充填されている部分を除き、読み書き装置側の接触用端子が接触する可能性がある導体面の裏面基材上に存在しないことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の接触型ICカード用ICモジュール。
  4. 前記スルーホール電極と配線パターンが存在しない領域が、導体を読み書き装置側の接触用端子が移動する方向に沿って短冊状に3等分した場合、中央の短冊状領域であることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1項に記載の接触型ICカード用ICモジュール。
  5. 請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の接触型ICカード用モジュールを用いたことを特徴とする接触型ICカード。
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