JP2014092680A - 変調装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】制御を簡素化すること。
【解決手段】マッハツェンダ変調器121は、分岐部110によって分岐された各光のうち第1の光を位相変調する。マッハツェンダ変調器122は、分岐部110によって分岐された各光のうち第1の光と異なる第2の光を変調する。位相変調器131は、マッハツェンダ変調器121と直列に接続され、第1の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う。位相変調器132は、マッハツェンダ変調器122と直列に接続され、第2の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う。合波部150は、マッハツェンダ変調器121および位相変調器131によって位相変調された第1の光と、マッハツェンダ変調器122および位相変調器132によって位相変調された第2の光と、を異なる強度で合波する。
【選択図】図1−2

Description

本発明は、変調装置に関する。
従来、互いに独立する2つの搬送波の振幅および位相を調整することによってデータを伝達する変調方式としてQAM(Quadrature Amplitude Modulation:直角位相振幅変調)が知られている。たとえば、QAM方式の変調器として、複数のマッハツェンダ型変調器によってそれぞれ多値(たとえば4値)の位相変調を行い、得られた各光信号を合波する構成が知られている(たとえば、下記特許文献1参照)。
特開2009−244682号公報
しかしながら、上述した従来技術では、多値の位相変調を行うマッハツェンダ型変調器はπ/2シフタやバイアス供給部等の制御対象が多いため、制御が複雑であるという問題がある。
1つの側面では、本発明は、制御を簡素化することを目的とする。
本発明の一側面によれば、入力された光を分岐する分岐部と、前記分岐部によって分岐された各光のうち第1の光を位相変調する第1の変調部と、前記分岐部によって分岐された各光のうち前記第1の光と異なる第2の光を変調する第2の変調部と、前記第1の変調部と直列に接続され、前記第1の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第3の変調部と、前記第2の変調部と直列に接続され、前記第2の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第4の変調部と、前記第1の変調部および前記第3の変調部によって位相変調された前記第1の光と、前記第2の変調部および前記第4の変調部によって位相変調された前記第2の光と、を異なる強度で合波する合波部と、を備える変調装置が提案される。
本発明の一態様によれば、制御を簡素化することができるという効果を奏する。
図1−1は、実施の形態1にかかる変調装置の一実施例を示す図である。 図1−2は、図1−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図2は、マッハツェンダ変調器を通過した後の光信号の強度と駆動信号との関係の一例を示す図である。 図3は、位相変調器を通過した後の光信号の強度と駆動信号との関係の一例を示す図である。 図4−1は、Y分岐部を用いた場合のマッハツェンダ変調器の具体的構成の一例を示す図である。 図4−2は、図4−1に示したマッハツェンダ変調器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図5−1は、方向性結合器を用いた場合のマッハツェンダ変調器の具体的構成の一例を示す図である。 図5−2は、図5−1に示したマッハツェンダ変調器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図6−1は、MMI(Multi−Mode Interference)結合器を用いた場合のマッハツェンダ変調器の具体的構成の一例を示す図である。 図6−2は、図6−1に示したマッハツェンダ変調器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図7−1は、位相変調器の具体的構成の一例を示す図である。 図7−2は、図7−1に示した位相変調器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図8−1は、移相器の具体的構成の一例を示す図である。 図8−2は、図8−1に示した移相器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図9−1は、Y分岐部を用いた場合の減衰器の具体的構成の一例を示す図である。 図9−2は、図9−1に示した減衰器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図10−1は、方向性結合器を用いた場合の減衰器の具体的構成の一例を示す図である。 図10−2は、図10−1に示した減衰器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図11−1は、MMI結合器を用いた場合の減衰器の具体的構成の一例を示す図である。 図11−2は、図11−1に示した減衰器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図12−1は、位相変調器の駆動部を制御する構成の一例を示す図である。 図12−2は、図12−1に示した駆動部を制御する構成における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図13は、制御部による位相変調器の駆動部に対する制御処理を示すフローチャートである。 図14−1は、位相変調器の駆動部を制御する構成の他の一例を示す図である。 図14−2は、図14−1に示した駆動部を制御する構成における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図15−1は、実施の形態2にかかる変調装置の具体的構成の一例を示す図である。 図15−2は、図15−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図16−1は、実施の形態2にかかる変調装置の一変形例の構成を示す図である。 図16−2は、図16−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図17−1は、実施の形態3にかかる変調装置の具体的構成の一例を示す図である。 図17−2は、図17−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図18−1は、実施の形態3にかかる変調装置の変形例1の構成を示す図である。 図18−2は、図18−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図19−1は、実施の形態3にかかる変調装置の変形例2の構成を示す図である。 図19−2は、図19−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。 図20−1は、実施の形態4にかかる変調装置の一実施例を示す図である。 図20−2は、図20−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。
以下に添付図面を参照して、本発明にかかる変調装置の実施の形態1〜4を詳細に説明する。
(実施の形態1)
(変調装置の一実施例)
図1−1は、実施の形態1にかかる変調装置の一実施例を示す図である。図1−2は、図1−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図1−1および図1−2に示す変調装置100は、入力された光に対してQAM(Quadrature Amplitude Modulation:直角位相振幅変調)方式の変調を行う。変調装置100にはたとえば外部の光源からのCW(Continuous Wave)レーザー光が入力される。
変調装置100は、分岐部110と、マッハツェンダ変調器(Mach−Zehnder Modulator:MZM)121,122と、駆動部121c,122c,131b,132bと、バイアス供給部121d,122d,141b,142bと、位相変調器(Phase Modulator:PM)131,132と、移相器141と、減衰器142と、合波部150と、を備える。
分岐部110は、変調装置100へ入力された光を分岐する。そして、分岐部110は、分岐した各光をそれぞれマッハツェンダ変調器121,122へ出力する。
マッハツェンダ変調器121は、RF電極121aと、DC電極121bと、を有する。駆動部121cは、入力されたデータ1に応じた駆動信号を生成してRF電極121aに印加する。バイアス供給部121dは、バイアス電圧をDC電極121bに印加する。
マッハツェンダ変調器121は、分岐部110から出力された光に対して、RF電極121aに印加される駆動信号に応じて2値(0,π)の位相変調を行う。また、バイアス供給部121dからDC電極121bへ印加されるバイアス電圧を制御することにより、マッハツェンダ変調器121における光の透過特性を調整することができる。マッハツェンダ変調器121は、位相変調により得られた光を位相変調器131へ出力する。
マッハツェンダ変調器122は、RF電極122aと、DC電極122bと、を有する。駆動部122cは、入力されたデータ2に応じた駆動信号を生成してRF電極122aに印加する。バイアス供給部122dは、バイアス電圧をDC電極122bに印加する。
マッハツェンダ変調器122は、分岐部110から出力された光に対して、RF電極122aに印加される駆動信号に応じて2値(0,π)の位相変調を行う。また、バイアス供給部122dからDC電極122bへ印加されるバイアス電圧を制御することにより、マッハツェンダ変調器122における光の透過特性を調整することができる。マッハツェンダ変調器122は、位相変調により得られた光を位相変調器132へ出力する。
コンスタレーション161は、マッハツェンダ変調器121,122から出力された光の位相および振幅を、横軸を同相成分I、縦軸を直交成分Qとして示している。コンスタレーション161に示すように、マッハツェンダ変調器121,122から出力された光の位相は0またはπとなる。
位相変調器131は、RF電極131aを有する。駆動部131bは、入力されたデータ3に応じた駆動信号を生成してRF電極131aに印加する。位相変調器131は、RF電極131aに印加される駆動信号に応じて、マッハツェンダ変調器121から出力された光信号の位相を0またはπ/2変化させる位相変調を行う。これにより、4値(0,π/2,π,3π/2)の位相変調を行うことができる。位相変調器131は、位相変調により得られた光を移相器141へ出力する。
位相変調器132は、RF電極132aを有する。駆動部132bは、入力されたデータ4に応じた駆動信号を生成してRF電極132aに印加する。位相変調器132は、RF電極132aに印加される駆動信号に応じて、マッハツェンダ変調器122から出力された光信号の位相を0またはπ/2変化させる位相変調を行う。これにより、4値(0,π/2,π,3π/2)の位相変調を行うことができる。位相変調器132は、位相変調により得られた光を減衰器142へ出力する。
コンスタレーション162は、位相変調器131,132から出力された光信号を示している。コンスタレーション162に示すように、位相変調器131,132から出力された光の位相は、それぞれ0,π/2,πまたは3π/2となる。
なお、マッハツェンダ変調器121,122の後段に位相変調器131,132を配置しているが、これに限らず、位相変調器131,132を前段に配置し、それぞれ後段にマッハツェンダ変調器121,122を配置してもよい。
移相器141は、DC電極141aを有する。バイアス供給部141bは、バイアス電圧をDC電極141aに印加する。移相器141は、位相変調器131から出力された光信号の位相を、バイアス供給部141bからDC電極141aへ印加されるバイアス電圧を制御することにより補正する。これにより、移相器141から合波部150へ出力される光信号と、減衰器142から合波部150へ出力される光信号と、の各シンボルの位相のズレを補正することができる。移相器141は、位相を補正した光信号を合波部150へ出力する。
減衰器142は、位相変調器132から出力された光信号を所定量減衰させる。たとえば、減衰器142は、マッハツェンダ型の減衰器であり、DC電極142aを有する。バイアス供給部142bは、バイアス電圧をDC電極142aに印加する。減衰器142は、バイアス供給部142bからDC電極142aへ印加されるバイアス電圧を制御することにより、位相変調器132から出力された光信号の強度をたとえば6[dB]減衰させる。
コンスタレーション163は、減衰器142から出力された光信号を示している。コンスタレーション163においては、コンスタレーション162に対して、各シンボルの原点からの距離が半分となっている。このように、減衰器142から出力される光信号は、位相変調器132から出力される光信号に対して、1/4の強度となる。減衰器142は、減衰した光信号を合波部150へ出力する。
合波部150は、移相器141から出力された光信号と、減衰器142から出力された光信号とを合波する。コンスタレーション164は、コンスタレーション162,163に示した原点から各シンボルまでを表す各ベクトルを、それぞれ足し合わせたものである。具体的には、コンスタレーション162に示した原点から各シンボルまでの4つのベクトルと、コンスタレーション163に示した原点から各シンボルまでの4つのベクトルと、の各組み合わせについての和(合成)を表している。
これにより、合波部150から出力される光信号は16通りのシンボルとなる16QAMの光信号となる。なお、原点から各シンボルまでの距離が光の強度を表しているため、コンスタレーション164では、16個のシンボルのそれぞれは、3種類の光強度のうちのいずれかをとることとなる。
マッハツェンダ変調器121により、分岐された各光のうち第1の光を位相変調する第1の変調部を実現することができる。マッハツェンダ変調器122により、分岐された各光のうち第1の光と異なる第2の光を変調する第2の変調部を実現することができる。位相変調器131により、第1の変調部と直列に接続され、第1の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第3の変調部を実現することができる。
位相変調器132により、第2の変調部と直列に接続され、第2の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第4の変調部を実現することができる。合波部150により、第1の変調部および第3の変調部によって位相変調された第1の光と、第2の変調部および第4の変調部によって位相変調された第2の光と、を異なる強度で合波する合波部を実現することができる。減衰器142により、合波部によって合波される第1の光および第2の光の強度が異なるように、第1の光と、第2の光と、の少なくともいずれかを減衰させる減衰器を実現することができる。
(マッハツェンダ変調器を通過した後の光信号の強度と駆動信号との関係の一例)
図2は、マッハツェンダ変調器を通過した後の光信号の強度と駆動信号との関係の一例を示す図である。図2において、横軸はマッハツェンダ変調器121,122へ入力される駆動信号の電圧を示し、縦軸はマッハツェンダ変調器121,122を通過した光信号の強度(光強度)を示している。駆動信号202は、マッハツェンダ変調器121,122へ入力される駆動信号を示している。ドライバ振幅203は、駆動信号202の振幅を示している。
透過特性201は、マッハツェンダ変調器121,122へ入力される駆動信号202の電圧に対するマッハツェンダ変調器121,122の光の透過特性を表したものである。また、駆動信号202は、0または1の値をとる。透過特性201に示すように、駆動信号202が0のとき、光信号の位相が0となり光の強度が最大となる。また、駆動信号202が1のとき、光信号の位相がπとなり光の強度が最大となる。
DC電極121b,122bへ印加するバイアス電圧を制御することにより、透過特性201を調整することができる。たとえば製造ばらつきや経時使用などにより、透過特性201が図中の左右にずれて、駆動信号が0,1のときに光強度が最大値とならなくなった場合、バイアス電圧を制御することにより、駆動信号が0,1のときに光強度が最大値となるように調整できる。
(位相変調器を通過した後の光信号の強度と駆動信号との関係の一例)
図3は、位相変調器を通過した後の光信号の強度と駆動信号との関係の一例を示す図である。図3において、横軸は位相変調器131,132へ入力される駆動信号の電圧を示し、縦軸は位相変調器131,132を通過した光信号の強度(光強度)を示している。駆動信号302は、位相変調器131,132へ入力される駆動信号を示している。ドライバ振幅303は、駆動信号302の振幅を示している。
透過特性301は、位相変調器131,132へ入力される駆動信号の電圧に対する位相変調器131,132の光の透過特性を表したものである。透過特性301に示すように、位相変調器131,132へ入力される駆動信号の電圧にかかわらず常に一定(最大)となっている。
たとえば、製造ばらつきや経時使用などにより、透過特性301が図中の左右にずれたとしても、光の強度は不変である。そのため、位相変調器131,132においては、マッハツェンダ変調器121,122(たとえば図2参照)のようにバイアス電圧の制御を行わなくても、駆動信号202が0および1の場合に光強度が最大となる。
(マッハツェンダ変調器の具体的構成の一例)
つぎに、図4−1〜図6−2を用いて、マッハツェンダ変調器121,122について説明する。なお、図4−1〜図6−2に示すマッハツェンダ変調器121,122のうち、いずれか一つの態様のものを用いればよい。実施の形態1においては、たとえば図4−1に示す態様のものを用いている。
図4−1は、Y分岐部を用いた場合のマッハツェンダ変調器の具体的構成の一例を示す図である。図4−2は、図4−1に示したマッハツェンダ変調器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図4−1および図4−2において、図1−1および図1−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。ここではマッハツェンダ変調器121の具体的構成について説明するが、マッハツェンダ変調器122の具体的構成についても同様である。図4−1および図4−2に示すように、マッハツェンダ変調器121は、光導波路401と、Y分岐部410と、光導波路402,403と、Y合波部411と、光導波路404と、を備える。
光導波路401は、分岐部110(たとえば図1−1,図1−2参照)から出力された光を通過させてY分岐部410へ出力する。Y分岐部410は、Y字状に形成された光導波路である。Y分岐部410は、光導波路401から出力された光を、光導波路402と、光導波路403とに分岐する。
光導波路402は、Y分岐部410から出力された光を通過させてY合波部411へ出力する。光導波路403は、Y分岐部410から出力された光を通過させてY合波部411へ出力する。Y合波部411は、Y字状に形成された光導波路である。Y合波部411は、光導波路402から出力された光と、光導波路403から出力された光と、を合波して光導波路404へ出力する。光導波路404は、Y合波部411から出力された光を位相変調器131(たとえば図1−1,図1−2参照)へ出力する。
また、光導波路402上には、たとえば金蒸着などによりRF電極121aが形成されている。RF電極121aの一端は駆動部121cが接続されており、RF電極121aの他端は終端抵抗420を介してグランド接続(GND)されている。
このような構成により、駆動部121cは、入力されたデータ1に応じた駆動信号を生成してRF電極121aに印加し、Y分岐部410から出力されて光導波路402を通過する光を位相変調することができる。これにより、Y合波部411において合波される各光の位相差を制御し、2値の位相変調を行うことができる。
図5−1は、方向性結合器を用いた場合のマッハツェンダ変調器の具体的構成の一例を示す図である。図5−2は、図5−1に示したマッハツェンダ変調器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図5−1および図5−2において、図1−1、図1−2、図4−1および図4−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図5−1および図5−2に示すように、マッハツェンダ変調器121は、図4−1および図4−2に示したY分岐部410およびY合波部411に代えて方向性結合器510,511を備えていてもよい。
方向性結合器510は、光導波路501,502から入力された各光を干渉させ、干渉により得られた各光をそれぞれ光導波路402,403から出力するように設けられている。ただし、ここでは、たとえば光導波路501から光が入力され、光導波路502からは光が入力されない。これにより、光導波路501から入力された光を分岐して光導波路402,403から出力することができる。
方向性結合器511は、光導波路402,403から入力された各光を干渉させ、干渉により得られた各光をそれぞれ光導波路503,504から出力するように設けられている。たとえば、光導波路503から出力された光が位相変調器131へ出力され、光導波路504から出力された光は破棄される。
このような構成により、駆動部121cは、入力されたデータ1に応じた駆動信号を生成してRF電極121aに印加し、方向性結合器510から出力されて光導波路402を通過する光を位相変調することができる。これにより、方向性結合器511から出力される光の位相差を制御し、2値の位相変調を行うことができる。
図6−1は、MMI(Multi−Mode Interference)結合器を用いた場合のマッハツェンダ変調器の具体的構成の一例を示す図である。図6−2は、図6−1に示したマッハツェンダ変調器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図6−1および図6−2において、図1−1、図1−2、図4−1〜図5−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図6−1および図6−2に示すように、マッハツェンダ変調器121は、図4−1および図4−2に示したY分岐部410およびY合波部411に代えてMMI結合器610,611を備えていてもよい。
MMI結合器610は、光導波路501,502から入力された各光を干渉させ、干渉により得られた各光をそれぞれ光導波路402,403から出力するように設けられている。ただし、ここでは、たとえば光導波路501から光が入力され、光導波路502からは光が入力されない。これにより、光導波路501から入力された光を分岐して光導波路402,403から出力することができる。
MMI結合器611は、光導波路402,403から入力された各光を干渉させ、干渉により得られた各光をそれぞれ光導波路503,504から出力するように設けられている。たとえば、光導波路503から出力された光が位相変調器131へ出力され、光導波路504から出力された光は破棄される。
このような構成により、駆動部121cは、入力されたデータ1に応じた駆動信号を生成してRF電極121aに印加し、MMI結合器610から出力されて光導波路402を通過する光を位相変調することができる。これにより、MMI結合器611から出力される光の位相差を制御し、2値の位相変調を行うことができる。
(位相変調器の具体的構成の一例)
図7−1は、位相変調器の具体的構成の一例を示す図である。図7−2は、図7−1に示した位相変調器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図7−1および図7−2において、図1−1および図1−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。ここでは位相変調器131の具体的構成について説明するが、位相変調器132の具体的構成についても同様である。
図7−1および図7−2に示すように、位相変調器131は、光導波路404と、RF電極131aと、を備える。光導波路404上には、たとえば金蒸着などによりRF電極131aが形成されている。RF電極131aの一端は駆動部131bが接続されており、RF電極131aの他端は終端抵抗420を介してグランド接続(GND)されている。位相変調器131によって位相変調された光信号は、移相器141または減衰器142へ出力される。
このような構成により、駆動部131bは、入力されたデータ3に応じた駆動信号を生成してRF電極131aに印加し、光導波路404を通過する光を位相変調することができる。これにより、位相変調器131は、RF電極131aに印加される駆動信号に応じて、マッハツェンダ変調器121から出力された光信号を4値に位相変調することができる。
光導波路404により、電気光学効果を有する一本の光導波路を実現することができる。RF電極131aにより、印加された電圧に応じた電界を光導波路に印加する電極を実現することができる。
(移相器の具体的構成の一例)
図8−1は、移相器の具体的構成の一例を示す図である。図8−2は、図8−1に示した移相器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図8−1および図8−2において、図1−1および図1−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図8−1および図8−2に示すように、移相器141は、光導波路404と、DC電極141aと、を備える。
光導波路404上には、たとえば金蒸着などによりDC電極141aが形成されている。DC電極141aの一端はバイアス供給部141bが接続されている。DC電極141aによってバイアスが印加された光信号は合波部150へ出力される。
このような構成により、バイアス供給部141bは、DC電極141aに印加されるバイアスに応じて、移相器141から合波部150へ出力される光信号と、減衰器142から合波部150へ出力される光信号と、の位相のズレを補正することができる。
(減衰器の具体的構成の一例)
つぎに、図9−1〜図11−1を用いて、減衰器142の具体的構成について説明する。なお、図9−1〜図11−1に示す減衰器142のうち、いずれか一つの態様のものを用いればよい。実施の形態1においては図9−1に示す態様のものを用いている。減衰器142には、たとえばマッハツェンダ型の変調器を用いることができる。
図9−1は、Y分岐部を用いた場合の減衰器の具体的構成の一例を示す図である。図9−2は、図9−1に示した減衰器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図9−1および図9−2において、図1−1および図1−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図9−1および図9−2に示すように、減衰器142は、光導波路404と、Y分岐部910と、光導波路901,902と、Y合波部911と、光導波路903と、を備える。
光導波路404は、位相変調器132(たとえば図1−1,図1−2参照)から出力された光を通過させてY分岐部910へ出力する。Y分岐部910は、Y字状に形成された光導波路である。Y分岐部910は、光導波路404から出力された光を、光導波路901と、光導波路902とに分岐する。
光導波路901は、Y分岐部910から出力された光を通過させてY合波部911へ出力する。光導波路902は、Y分岐部910から出力された光を通過させてY合波部911へ出力する。Y合波部911は、Y字状に形成された光導波路である。Y合波部911は、光導波路901から出力された光と、光導波路902から出力された光と、を合波して光導波路903へ出力する。光導波路903は、Y合波部911から出力された光を合波部150(たとえば図1−1,図1−2参照)へ出力する。
また、光導波路901上には、たとえば金蒸着などによりDC電極142aが形成されている。DC電極142aの一端はバイアス供給部142bが接続されている。このような構成により、バイアス供給部142bは、DC電極142aにバイアスを印加し、Y分岐部910から出力されて光導波路901を通過する光信号の強度を6[dB]減衰させることができる。
図10−1は、方向性結合器を用いた場合の減衰器の具体的構成の一例を示す図である。図10−2は、図10−1に示した減衰器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図10−1および図10−2において、図1−1、図1−2、図9−1および図9−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図10−1および図10−2に示すように、減衰器142は、図9−1および図9−2に示したY分岐部910およびY合波部911に代えて方向性結合器1010,1011を備えていてもよい。
方向性結合器1010は、光導波路1001,1002から入力された各光を干渉させ、干渉により得られた各光をそれぞれ光導波路901,902から出力するように設けられている。ただし、ここでは、たとえば光導波路1001から光が入力され、光導波路1002からは光が入力されない。これにより、光導波路1001から入力された光を分岐して光導波路901,902から出力することができる。
方向性結合器1011は、光導波路1001,1002から入力された各光を干渉させ、干渉により得られた各光をそれぞれ光導波路1003,1004から出力するように設けられている。たとえば、光導波路1003から出力された光が合波部150へ出力され、光導波路1004から出力された光は破棄される。
このような構成により、バイアス供給部142bは、DC電極142aにバイアスを印加し、方向性結合器1010から出力されて光導波路901を通過する光信号の強度を6[dB]減衰させることができる。
図11−1は、MMI結合器を用いた場合の減衰器の具体的構成の一例を示す図である。図11−2は、図11−1に示した減衰器における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図11−1および図11−2において、図1−1、図1−2、図9−1〜図10−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図11−1および図11−2に示すように、減衰器142は、図9−1および図9−2に示したY分岐部910およびY合波部911に代えてMMI結合器1110,1111を備えていてもよい。
MMI結合器1110は、光導波路1001,1002から入力された各光を干渉させ、干渉により得られた各光をそれぞれ光導波路901,902から出力するように設けられている。ただし、ここでは、たとえば光導波路1001から光が入力され、光導波路1002からは光が入力されない。これにより、光導波路1001から入力された光を分岐して光導波路901,902から出力することができる。
MMI結合器1111は、光導波路1001,1002から入力された各光を干渉させ、干渉により得られた各光をそれぞれ光導波路1003,1004から出力するように設けられている。たとえば、光導波路1003から出力された光が合波部150へ出力され、光導波路1004から出力された光は破棄される。
このような構成により、バイアス供給部142bは、DC電極142aにバイアスを印加し、MMI結合器1110から出力されて光導波路901を通過する光信号の強度を6[dB]減衰させることができる。
なお、図9−1〜図11−2においてマッハツェンダ型の減衰器142の構成について説明したが、減衰器142にはマッハツェンダ型に限らず、各種の減衰器を用いることができる。
(位相変調器の駆動部を制御する構成の一例)
図12−1は、位相変調器の駆動部を制御する構成の一例を示す図である。図12−2は、図12−1に示した駆動部を制御する構成における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図12−1および図12−2において、図1−1、図1−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図12−1および図12−2に示すように、変調装置100は、カプラ1201と、PD(Photo Ditector:フォトディテクタ)1202と、AC(Alternating Current)電流検出部1203と、AC電力検出部1204と、制御部1205とを備える。
カプラ1201は、合波部150から出力された光を一部分岐してPD1202に出力する。PD1202は、カプラ1201から出力された光を光電変換する。PD1202は、光電変換によって得た電気信号をAC電流検出部1203へ出力する。
AC電流検出部1203は、PD1202から出力された電気信号の平均AC電流を検出する。AC電流検出部1203は、検出した平均AC電流をAC電力検出部1204へ出力する。AC電力検出部1204は、AC電流検出部1203から出力された平均AC電流に基づく平均AC電力を検出する。AC電力検出部1204は、検出した平均AC電力を制御部1205へ出力する。
制御部1205は、AC電力検出部1204から出力された平均AC電力を用いて、駆動部131b,132bを制御する。制御部1205は、たとえばCPU(Central Processing Unit:中央処理装置)などの制御回路によって実現することができる。PD1202、AC電流検出部1203およびAC電力検出部1204により、合波部によって合波された光に基づいて、第3の変調部および第4の変調部による位相変調量のズレを検出する検出部を実現することができる。
ここで、コンスタレーション1211〜1213を用いて、駆動部131b,132bに対する制御を具体的に説明する。コンスタレーション1211において、各シンボルのπ/2から位相誤差をy[deg]とする。また、コンスタレーション1212において、各シンボルのπ/2からの位相誤差をx[deg]とする。コンスタレーション1213上の16のシンボルがすべて等しい確率で存在すると仮定すると、コンスタレーション1213のシンボル(A)〜(D)および(a)〜(d)においてPD1202およびAC電流検出部1203でモニタされるAC電流および平均AC電流は以下のようになる。
(A)…12=1
(B)…(2−sinx)2+cosx2=5−4sinx
(C)…32=9
(D)…(2+sinx)2+cosx2=5+4sinx
(a)…(2siny−sinx)2+(2cosy−cosx)2=5−4sinxsiny−4cosxcosy
(b)…(2siny+1)2+(2cosy)2=5+4siny
(c)…(2siny+sinx)2+(2cosy+cosx)2=5+4sinxsiny+4cosxcosy
(d)…(2siny−1)2+(2cosy)2=5−4siny
平均AC電流=((A)+(B)+(C)+(D)+(a)+(b)+(c)+(d))/8=5
ただし、コンスタレーション1213の半径を1と定義する。また、コンスタレーション1213において各シンボルは原点対称のため、シンボル(A)〜(D)と(a)〜(d)以外のシンボルについては説明を省略する。PD1202およびAC電流検出部1203によって検出される電流が取り得る値は、上述した8つの離散的な値となる。
AC電力検出部1204によってモニタされるAC電力は、上記AC電流から平均AC電流を引いた値を2乗したものを意味する。また、平均AC電力は8つのAC電力の平均を表す。したがって、コンスタレーション1213のシンボル(A)〜(D)および(a)〜(d)においてAC電力検出部1204でモニタされるAC電力および平均電力は以下の比となる。
((A)−5)2…(−4)2=16
((B)−5)2…(−4sinx)2=16sinx2
((C)−5)2…(4)2=16
((D)−5)2…(4sinx)2=16sinx2
((a)−5)2…(4sinxsiny+4cosxcosy)2
((b)−5)2…(4siny)2=16siny2
((c)−5)2…(4sinxsiny+4cosxcosy)2
((d)−5)2…(4siny)2=16siny2
平均AC電力={((A)−5)2+((B)−5)2+((C)−5)2+((D)−5)2+((a)−5)2+((b)−5)2+((c)−5)2+((d)−5)2}/8
=4+4sinx2+4siny2+4sinx2×siny2+4cosx2×cosy2+8sinx×cosx×siny×cosy
=10−2cos2y−2(1−cos2y)×cos2x+2sin2x×sin2y
x,yは、誤差であり、π/4より十分小さいと考えられるため、
1−cos2y>0,cos2x>0,sin2y>0,sin2x>0
となり、上記式の第3項は負数、第4項は正数となる。これにより、AC電力検出部1204によってモニタされる平均AC電力を最小値に制御すると、第3項のcos2xが最大値に、第4項のsin2xが最小値に制御される。つまり、xは0に収束する。上記式はxとyを入れ替えても同じ式のため、yに関しても同様に0に収束する。したがって、AC電力検出部1204によってモニタされる平均AC電力を最小値に制御すると、xとyがともに0に収束し、位相誤差を最小に制御することができる。
(制御部による位相変調器の駆動部に対する制御処理)
図13は、制御部による位相変調器の駆動部に対する制御処理を示すフローチャートである。図13に示すように、まず、制御部1205は、カウンタiを1に設定する(ステップS1301)。つぎに、制御部1205は、iが所望回数p以下であるか否かを判定する(ステップS1302)。所望回数pは、たとえばあらかじめ設定された値である。
iがp以下である場合(ステップS1302:Yes)、制御部1205は、前回の平均AC電力をモニタする(ステップS1303)。つぎに、制御部1205は、駆動部131bが出力する駆動信号の振幅V3[mVpp](たとえば図3に示したドライバ振幅303)を、振幅可変幅Δa増加させる(ステップS1304)。振幅可変幅Δaは、たとえばあらかじめ設定された値である。つぎに、制御部1205は、現在の平均AC電力をモニタする(ステップS1305)。つぎに、制御部1205は、現在の平均AC電力が前回の平均AC電力より小さいか否かを判断する(ステップS1306)。
ステップS1306において、現在の平均AC電力が前回の平均AC電力より小さい場合(ステップS1306:Yes)、制御部1205は、カウンタiに1を加算し(ステップS1307)、ステップS1302の処理に移行する。これにより、ステップS1304によって振幅V3を増加させることによって特性が向上した場合に、増加させた振幅V3を維持することができる。
ステップS1306において、現在の平均AC電力が前回の平均AC電力以上の場合(ステップS1306:No)、制御部1205は、駆動部131bが出力する駆動信号の振幅V3[mVpp]を2Δa減少させ(ステップS1308)、ステップS1307の処理に移行する。これにより、ステップS1304によって振幅V3を増加させることによって特性が劣化した場合に、増加させた振幅V3を、元の振幅V3より低くすることができる。
ステップS1302において、iがpを超えた場合(ステップS1302:No)、制御部1205は、ステップS1309の処理に移行する。すなわち、制御部1205は、カウンタjを1に設定する(ステップS1309)。つぎに、制御部1205は、jが所望回数p以下であるか否かを判定する(ステップS1310)。
jがp以下である場合(ステップS1310:Yes)、制御部1205は、前回の平均AC電力をモニタする(ステップS1311)。つぎに、制御部1205は、駆動部132bの振幅V4[mVpp]を、振幅可変幅Δb増加させる(ステップS1312)。つぎに、制御部1205は、今回の平均AC電力をモニタする(ステップS1313)。つぎに、制御部1205は、今回の平均AC電力が前回の平均AC電力より小さいか否かを判断する(ステップS1314)。
今回の平均AC電力が前回の平均AC電力より小さい場合(ステップS1314:Yes)、制御部1205は、カウンタjに1を加算し(ステップS1315)、ステップS1310の処理に移行する。今回の平均AC電力が前回の平均AC電力以上の場合(ステップS1314:No)、制御部1205は、駆動部132bの振幅V4[mVpp]を2Δb減少させ(ステップS1316)、ステップS1315の処理に移行する。ステップS1310において、jがpを超える場合(ステップS1310:No)、制御部1205は、本フローチャートによる一連の処理を終了する。
以上の各ステップにより、位相変調器131,132へ入力される各駆動信号の振幅を、AC電力検出部1204によってモニタされる平均AC電力が小さくなるように制御することができる。これにより、位相変調器131,132における位相変調の誤差を小さくすることができる。
このように、実施の形態1では、マッハツェンダ変調器121および位相変調器131を直列に接続することにより4値以上の位相変調を行うことができる。また、マッハツェンダ変調器122および位相変調器132を直列に接続することにより4値以上の位相変調を行うことができる。そして、4値以上の位相変調を行った各光信号を異なる強度で合波することにより、16値以上のQAMが可能になる。
位相変調器131および位相変調器132においては光の分岐および干渉を行わないため、位相ズレが生じても透過率が変化しない。これにより、位相変調器131および位相変調器132の制御を簡素化することが可能になる。具体的には、位相変調器131および位相変調器132についてはバイアス制御を行わなくてもよい。このため、変調装置100の制御を簡素化することができる。
また、位相変調器131および位相変調器132では、0またはπ/2の位相変調を行うことができ、π/2シフタを設けなくてもよい。これにより、変調装置100の構成を簡素化することができる。
(位相変調器の駆動部を制御する構成の他の一例)
図14−1は、位相変調器の駆動部を制御する構成の他の一例を示す図である。図14−2は、図14−1に示した駆動部を制御する構成における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図14−1および図14−2において、図12−1および図12−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図14−1および図14−2に示すように、PD1401は、合波部150の逆相光をモニタする。具体的には、PD1401は、合波部150から出力された逆相光を光電変換する。PD1401は、光電変換によって得た電気信号をAC電流検出部1203へ出力する。
ここで、駆動部131b,132bに対する制御を具体的に説明する。逆相光をモニタする場合についても、同相光の場合と同様の方法で制御することができる。コンスタレーション1211において各シンボルのπ/2からの位相誤差y[deg]とし、また、コンスタレーション1212において各シンボルのπ/2からの位相誤差x[deg]とする。また、原点対称のため、(A)〜(D)と(a)〜(d)との計算について説明する。逆相光をモニタする際のAC電流は全光強度から同相光を引いたものになるため、AC電流および平均AC電流は以下のようになる。
(A)…9−12=8
(B)…9−((2−sinx)2+cosx2)=4+4sinx
(C)…9−32=0
(D)…9−((2+sinx)2+cosx2)=4−4sinx
(a)…9−((2siny−sinx)2+(2cosy−cosx)2)=4+4sinxsiny+4cosxcosy
(b)…9−((2siny+1)2+(2cosy)2)=4−4siny
(c)…9−((2siny+sinx)2+(2cosy+cosx)2)=4−4sinxsiny−4cosxcosy
(d)…9−((2siny−1)2+(2cosy)2)=4+4siny
平均電流=((A)+(B)+(C)+(D)+(a)+(b)+(c)+(d))/8=4
また、この際のAC電力および平均AC電力を以下に示す。
((A)−4)2…(4)2=16
((B)−4)2…(4sinx)2=16sinx2
((C)−4)2…(−4)2=16
((D)−4)2…(−4sinx)2=16sinx2
((a)−4)2…(4sinxsiny+4cosxcosy)2
((b)−4)2…(−4siny)2=16siny2
((c)−4)2…(4sinxsiny+4cosxcosy)2
((d)−4)2…(4siny)2=16siny2
平均AC電力={((A)−4)2+((B)−4)2+((C)−4)2+((D)−4)2+((a)−4)2+((b)−4)2+((c)−4)2+((d)−4)2}/8
=4+4sinx2+4siny2+4sinx2×siny2+4cosx2×cosy2+8sinx×cosx×siny×cosy
=10−2cos2y−2(1−cos2y)×cos2x+2sin2x×sin2y
つまり平均AC電力としては、同相光の場合と全く同じ計算結果となる。x,yは、誤差であり、π/4より十分小さいと考えられるため、
1−cos2y>0,cos2x>0,sin2y>0,sin2x>0
となり、上記式の第3項は負数、第4項は正数となる。これにより、平均AC電力を最小値に制御すると、第3項のcos2xが最大値に、第4項のsin2xが最小値に制御される。つまり、xは0に収束する。上記式はxとyを入れ替えても同じ式のため、yに関しても同様に0に収束する。したがって、平均AC電力を最小値に制御すると、xとyがともに0に収束し、位相誤差を最小に制御することができる。
このように、逆相光をモニタする場合についても、同相光をモニタする場合と同様に、位相変調器131,132へ入力される各駆動信号の振幅を、AC電力検出部1204によってモニタされる平均AC電力が小さくなるように制御することができる。これにより、位相変調器131,132における位相変調の誤差を小さくすることができる。
(実施の形態2)
つぎに、変調装置の実施の形態2について説明する。実施の形態2においては、実施の形態1と異なる部分について説明を行う。
(実施の形態2にかかる変調装置の具体的構成の一例)
図15−1は、実施の形態2にかかる変調装置の具体的構成の一例を示す図である。図15−2は、図15−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図15−1および図15−2において、図1−1および図1−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
図15−1および図15−2に示すように、実施の形態2にかかる変調装置100は、減衰器142を備えていなくてもよい。分岐部110は、変調装置100へ入力された光を、光の強度を異ならせて分岐する。たとえば、分岐部110は、入力した光を1:1/4の強度比で分岐する。位相変調器132は、位相変調により得られた光を合波部150へ出力する。
合波部150は、移相器141から出力された光信号と、位相変調器132から出力された光信号とを合波する。たとえば、合波部150は、移相器141から出力された光信号と、位相変調器132から出力された光信号とを1:1の強度比で合波する。これにより、マッハツェンダ変調器121および位相変調器131により変調した光信号と、マッハツェンダ変調器122および位相変調器132により変調した光信号と、を1:1/4の強度比にすることができる。このような構成により、合波部150から出力される光信号を16QAMの光信号とすることができる。
(実施の形態2にかかる変調装置の一変形例)
つぎに、実施の形態2にかかる変調装置の一変形例について説明する。実施の形態2にかかる変調装置の変形例では、入力と出力の光の強度比をそれぞれ可変にした場合について説明する。図16−1は、実施の形態2にかかる変調装置の一変形例の構成を示す図である。図16−2は、図16−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図16−1および図16−2において、図15−1および図15−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。図16−1および図16−2に示すように、分岐部110は、変調装置100へ入力された光を、光の強度比を異ならせて分岐する。
具体的には、分岐部110は、入力した光を1:1/2の強度比で分岐する。また、合波部150は、光の強度比を異ならせて、移相器141からの光と位相変調器132からの光とを合波する。たとえば、合波部150は、移相器141から出力された光信号と、位相変調器132から出力された光信号とを1:1/2の強度比で合波する。
これにより、マッハツェンダ変調器121および位相変調器131により変調した光信号と、マッハツェンダ変調器122および位相変調器132により変調した光信号と、を1:1/4の強度比にすることができる。このような構成により、合波部150から出力される光信号を16QAMの光信号とすることができる。
このように、実施の形態2にかかる変調装置100によれば、実施の形態1と同様に、変調装置100の制御および構成を簡素化することができる。特に、実施の形態2にかかる変調装置100では、減衰器142を備えない構成とすることができるため、減衰器142のバイアス制御を行わなくてもよい。これにより、変調装置100の制御および構成をより簡素化することができる。
(実施の形態3)
つぎに、変調装置の実施の形態3について説明する。実施の形態3では、4NQAM(Nは2以上の整数)の光信号を変調する変調装置について説明する。実施の形態3においては、実施の形態1,2と異なる部分について説明を行う。
(実施の形態3にかかる変調装置の具体的構成の一例)
図17−1は、実施の形態3にかかる変調装置の具体的構成の一例を示す図である。図17−2は、図17−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図17−1および図17−2において、図1−1および図1−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
図17−1および図17−2に示すように、変調装置100は、分岐部110と、マッハツェンダ変調器121〜12Nと、位相変調器131〜13Nと、減衰器142〜14Nと、移相器1702〜170Nと、合波部150と、を備える。
分岐部110は、変調装置100へ入力された光をN分岐し、N分岐した各光をそれぞれマッハツェンダ変調器121〜12Nへ出力する。マッハツェンダ変調器121〜12Nのそれぞれは、分岐部110から出力された光に対して2値の位相変調を行い、位相変調により得られた光をそれぞれ位相変調器131〜13Nへ出力する。
位相変調器131〜13Nは、それぞれ、マッハツェンダ変調器121〜12Nから出力された光信号に対して、駆動信号に応じて4値の位相変調を行う。位相変調器131は、位相変調により得られた光を合波部150へ出力する。位相変調器132〜13Nは、位相変調により得られた光をそれぞれ減衰器142〜14Nへ出力する。減衰器142〜14Nは、それぞれ位相変調器132〜13Nから出力された光信号の強度をたとえば6N-1[dB]減衰させる。
減衰器142〜14Nは、減衰させた各光信号を、それぞれ移相器1702〜170Nへ出力する。移相器1702〜170Nは、それぞれ減衰器142〜14Nから出力された光信号の位相のズレを補正し、補正した光信号を合波部150へ出力する。合波部150は、位相変調器131から出力された光信号と、移相器1702〜170Nから出力された各光信号とを合波する。
これにより、マッハツェンダ変調器121および位相変調器131により変調した光信号と、マッハツェンダ変調器122〜12Nおよび位相変調器132〜13Nにより変調した光信号と、をそれぞれ1:1/4:…:1/4N-1の強度比にすることができる。したがって、合波部150から出力される光信号を4NQAMの光信号とすることができる。
このように、実施の形態3にかかる変調装置100によれば、4NQAMの光信号を変調する変調装置100の制御および構成を簡素化することができる。
(実施の形態3にかかる変調装置の変形例1)
つぎに、実施の形態3にかかる変調装置の変形例1について説明する。実施の形態3にかかる変調装置の変形例1では、減衰器142〜14Nを備えない場合について説明する。図18−1は、実施の形態3にかかる変調装置の変形例1の構成を示す図である。図18−2は、図18−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図18−1および図18−2において、図17−1および図17−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
図18−1に示すように、分岐部110は、変調装置100へ入力された光を、それぞれ光の強度比を異ならせてN分岐する。たとえば、分岐部110は、入力した光を1:1/4:…:1/4N-1の強度比で分岐する。
位相変調器132〜13Nは、位相変調により得られた光を、それぞれ移相器1702〜170Nへ出力する。移相器1702〜170Nは、それぞれ、位相変調器132〜13Nから出力された光信号の位相のズレを補正し、補正した光信号を合波部150へ出力する。
合波部150は、位相変調器131から出力された光信号と、移相器1702〜170Nから出力された各光信号とを同じ強度比で合波する。これにより、マッハツェンダ変調器121および位相変調器131により変調した光信号と、マッハツェンダ変調器122〜12Nおよび位相変調器132〜13Nにより変調した光信号と、を1:1/4:…:1/4N-1の強度比にすることができる。このような構成により、実施の形態3と同様に、合波部150から出力される光信号を4NQAMの光信号とすることができる。
このように、実施の形態3の変形例1にかかる変調装置100によれば、上述した実施の形態3にかかる変調装置100と同様に、変調装置100の制御および構成を簡素化することができる。特に、実施の形態3の変形例1にかかる変調装置100では、減衰器142〜14Nを備えない構成とすることができるため、減衰器142〜14Nのバイアス制御を行わなくてもよい。これにより、変調装置100の制御および構成をより簡素化することができる。
(実施の形態3にかかる変調装置の変形例2)
つぎに、実施の形態3にかかる変調装置の変形例2について説明する。実施の形態3にかかる変調装置の変形例2では、入力と出力の光の強度比をそれぞれ可変にした場合について説明する。図19−1は、実施の形態3にかかる変調装置の変形例2の構成を示す図である。図19−2は、図19−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図19−1および図19−2において、図17−1〜図18−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
図19−1および図19−2に示すように、分岐部110は、変調装置100へ入力された光を、光の強度比を異ならせて分岐する。たとえば、分岐部110は、入力した光を1:1/2:…:1/2N-1の強度比で分岐する。
合波部150は、位相変調器131から出力された光信号と、移相器1702〜170Nから出力された各光信号と、それぞれ異なる強度比で合波する。たとえば、合波部150は、移相器1702〜170Nから出力された光信号と、位相変調器131から出力された光信号と、を1:1/2:…:1/2N-1の強度比で合波する。これにより、マッハツェンダ変調器121および位相変調器131により変調した光信号と、マッハツェンダ変調器122〜12Nおよび位相変調器132〜13Nにより変調した光信号と、を1:1/4:…:1/4N-1の強度比にすることができる。このような構成により、実施の形態3と同様に、合波部150から出力される光信号を4NQAMの光信号とすることができる。
このように、実施の形態3の変形例2にかかる変調装置100によれば、実施の形態3の変形例1にかかる変調装置100と同様に、変調装置100の制御および構成を簡素化することができる。
(実施の形態4)
つぎに、変調装置の実施の形態4について説明する。実施の形態4では、マッハツェンダ変調器121,122と位相変調器とを直列配置するのではなく、位相変調器を直列配置した場合について説明する。実施の形態4においては、実施の形態1〜3と異なる部分について説明を行う。
(実施の形態4にかかる変調装置の具体的構成)
図20−1は、実施の形態4にかかる変調装置の一実施例を示す図である。図20−2は、図20−1に示した変調装置における光および電気信号の流れの一例を示す図である。図20−1および図20−2において、図1−1〜図1−2に示した構成と同様の構成については同一の符号を付して説明を省略する。
図20−1および図20−2に示すように、実施の形態4にかかる変調装置100は、実施の形態1に示したマッハツェンダ変調器121,122(たとえば図1−1および図1−2参照)に代わって、位相変調器2001,2011を備えている。具体的には、変調装置100は、実施の形態1に示したマッハツェンダ変調器121,122、駆動部121c、122c、バイアス供給部121d,122dに代わって、位相変調器2001,2011、駆動部2003,2013を備えている。
分岐部110は、変調装置100へ入力された光を分岐し、分岐した各光をそれぞれ位相変調器2001,2011へ出力する。位相変調器2001は、RF電極2002を有する。駆動部2003は、入力されたデータ1に応じた駆動信号を生成してRF電極2002に印加する。
位相変調器2001は、RF電極2002に印加される駆動信号に応じて、分岐部110から出力された光信号の位相を0またはπ変化させる位相変調を行う。これにより、2値(0,π)の位相変調を行うことができる。位相変調器2001は、位相変調により得られた光を位相変調器131へ出力する。
位相変調器2011は、RF電極2012を有する。駆動部2013は、入力されたデータ2に応じた駆動信号を生成してRF電極2012に印加する。位相変調器2011は、RF電極2012に印加される駆動信号に応じて、分岐部110から出力された光信号の位相を0またはπ変化させる位相変調を行う。これにより、2値(0,π)の位相変調を行うことができる。位相変調器2011は、位相変調により得られた光を位相変調器132へ出力する。
位相変調器131は、RF電極131aに印加される駆動信号に応じて、位相変調器2001から出力された光信号の位相を0またはπ/2変化させる位相変調を行う。これにより、4値(0,π/2,π,3π/2)の位相変調を行うことができる。
また、位相変調器132は、RF電極132aに印加される駆動信号に応じて、位相変調器2011から出力された光信号の位相を0またはπ/2変化させる位相変調を行う。これにより、4値(0,π/2,π,3π/2)の位相変調を行うことができる。
このような構成により、実施の形態1と同様に、位相変調器2001および位相変調器131により変調した光信号と、位相変調器2011および位相変調器132により変調した光信号と、を1:1/4の強度比で合波することができる。これにより、合波部150から出力される光信号を16QAMの光信号とすることができる。
また、制御対象を、駆動部131b,132b,2003,2013、バイアス供給部141b,142bの、計6つとすることができ、実施の形態1に比べて、構成および制御をより簡素化することができる。
なお、実施の形態4にかかる変調装置100において、減衰器142を備えない構成としてもよい。具体的には、実施の形態2に示したように(たとえば図15−1〜図16−2参照)、分岐部110が光の強度を異ならせて光を分岐する構成としたり、合波部150が光の強度を異ならせて光を合波する構成としたりしてもよい。
また、実施の形態4にかかる変調装置100は、16QAMの光信号を変調する構成であるが、4NQAMの光信号を変調する構成としてもよい。具体的には、実施の形態4にかかる変調装置100を、実施の形態3に示したように(たとえば図17−1〜図19−2参照)、N≧2とした3段以上の構成としてもよい。
このように、実施の形態4では、位相変調器2001および位相変調器131を直列に接続することにより4値以上の位相変調を行うことができる。また、位相変調器2011および位相変調器132を直列に接続することにより4値以上の位相変調を行うことができる。そして、4値以上の位相変調を行った各光信号を異なる強度で合波することにより、16値以上のQAMが可能になる。
位相変調器131,132,2001,2011においては光の分岐および干渉を行わないため、位相ズレが生じても透過率が変化しない。これにより、位相変調器131,132,2001,2011の制御を簡素化することが可能になる。具体的には、位相変調器131,132,2001,2011についてはバイアス制御を行わなくてもよい。このため、変調装置100の制御を簡素化することができる。
上述した実施の形態1〜4に関し、さらに以下の付記を開示する。
(付記1)入力された光を分岐する分岐部と、
前記分岐部によって分岐された各光のうち第1の光を位相変調する第1の変調部と、
前記分岐部によって分岐された各光のうち前記第1の光と異なる第2の光を変調する第2の変調部と、
前記第1の変調部と直列に接続され、前記第1の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第3の変調部と、
前記第2の変調部と直列に接続され、前記第2の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第4の変調部と、
前記第1の変調部および前記第3の変調部によって位相変調された前記第1の光と、前記第2の変調部および前記第4の変調部によって位相変調された前記第2の光と、を異なる強度で合波する合波部と、
を備えることを特徴とする変調装置。
(付記2)前記第1の変調部および前記第2の変調部のそれぞれは0またはπの位相変調を行い、
前記第3の変調部および第4の変調部のそれぞれは0またはπ/2の位相変調を行うことを特徴とする付記1に記載の変調装置。
(付記3)前記第3の変調部および前記第4の変調部のそれぞれは、位相変調した光の位相に対して前記位相変調した光の透過特性が一定であることを特徴とする付記1または2に記載の変調装置。
(付記4)前記第3の変調部および前記第4の変調部のそれぞれは、電気光学効果を有する一本の光導波路と、印加された電圧に応じた電界を前記光導波路に印加する電極と、を有することを特徴とする付記1〜3のいずれか一つに記載の変調装置。
(付記5)前記第1の変調部および前記第2の変調部のそれぞれは、入力された光を分岐し、分岐した各光の位相差を制御して合波することにより位相変調を行うことを特徴とする付記1〜4のいずれか一つに記載の変調装置。
(付記6)前記合波部によって合波された光に基づいて、前記第3の変調部および前記第4の変調部による位相変調量のズレを検出する検出部を備え、
前記第3の変調部および前記第4の変調部のそれぞれは、前記検出部による検出結果に基づいて位相変調を行うことを特徴とする付記1〜5のいずれか一つに記載の変調装置。
(付記7)前記検出部は、前記合波部によって合波された光の正相光に基づいて、前記第3の変調部および前記第4の変調部による位相変調量のズレを検出することを特徴とする付記6に記載の変調装置。
(付記8)前記検出部は、前記合波部によって合波された光の逆相光に基づいて、前記第3の変調部および前記第4の変調部による位相変調量のズレを検出することを特徴とする付記6に記載の変調装置。
(付記9)前記第1の変調部および前記第2の変調部のそれぞれは、位相変調した光の位相に対して前記位相変調した光の透過特性が一定であることを特徴とする付記1〜4のいずれか一つに記載の変調装置。
(付記10)前記合波部によって合波される前記第1の光および前記第2の光の強度が異なるように、前記第1の光と、前記第2の光と、の少なくともいずれかを減衰させる減衰器を備えることを特徴とする付記1〜9のいずれか一つに記載の変調装置。
(付記11)前記分岐部は、入力された光を、前記第1の光と、前記第1の光の強度に比べて1/4の強度となる前記第2の光と、に分岐することを特徴とする付記1〜9のいずれか一つに記載の変調装置。
(付記12)前記分岐部は、入力された光を、前記第1の光と、前記第1の光の強度に比べて1/2の強度となる前記第2の光と、に分岐し、
前記合波部は、前記第1の光と、前記第2の光と、を1:1/2の強度比で合波することを特徴とする付記1〜9のいずれか一つに記載の変調装置。
(付記13)前記分岐部によって分岐された各光のうち前記第1の光および前記第2の光と異なる第3の光を位相変調する第5の変調部と、
前記第5の変調部と直列に接続され、前記第3の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第6の変調部と、
を備え、
前記合波部は、前記第1の変調部および前記第3の変調部によって位相変調された前記第1の光と、前記第2の変調部および前記第4の変調部によって位相変調された前記第2の光と、前記第5の変調部および前記第6の変調部によって位相変調された前記第3の光と、を異なる強度で合波することを特徴とする付記1〜12のいずれか一つに記載の変調装置。
100 変調装置
110 分岐部
121,122,12N マッハツェンダ変調器
121a,122a,131a,132a,2002,2012 RF電極
121b,122b,141a,142a DC電極
121c,122c,131b,132b,2003,2013 駆動部
121d,122d,141b,142b バイアス供給部
131,132,13N,2001,2011 位相変調器
141,1702,170N 移相器
142,14N 減衰器
150 合波部

Claims (10)

  1. 入力された光を分岐する分岐部と、
    前記分岐部によって分岐された各光のうち第1の光を位相変調する第1の変調部と、
    前記分岐部によって分岐された各光のうち前記第1の光と異なる第2の光を変調する第2の変調部と、
    前記第1の変調部と直列に接続され、前記第1の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第3の変調部と、
    前記第2の変調部と直列に接続され、前記第2の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第4の変調部と、
    前記第1の変調部および前記第3の変調部によって位相変調された前記第1の光と、前記第2の変調部および前記第4の変調部によって位相変調された前記第2の光と、を異なる強度で合波する合波部と、
    を備えることを特徴とする変調装置。
  2. 前記第1の変調部および前記第2の変調部のそれぞれは0またはπの位相変調を行い、
    前記第3の変調部および第4の変調部のそれぞれは0またはπ/2の位相変調を行うことを特徴とする請求項1に記載の変調装置。
  3. 前記第3の変調部および前記第4の変調部のそれぞれは、位相変調した光の位相に対して前記位相変調した光の透過特性が一定であることを特徴とする請求項1または2に記載の変調装置。
  4. 前記第1の変調部および前記第2の変調部のそれぞれは、入力された光を分岐し、分岐した各光の位相差を制御して合波することにより位相変調を行うことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の変調装置。
  5. 前記合波部によって合波された光に基づいて、前記第3の変調部および前記第4の変調部による位相変調量のズレを検出する検出部を備え、
    前記第3の変調部および前記第4の変調部のそれぞれは、前記検出部による検出結果に基づいて位相変調を行うことを特徴とする請求項1〜4のいずれか一つに記載の変調装置。
  6. 前記第1の変調部および前記第2の変調部のそれぞれは、位相変調した光の位相に対して前記位相変調した光の透過特性が一定であることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の変調装置。
  7. 前記合波部によって合波される前記第1の光および前記第2の光の強度が異なるように、前記第1の光と、前記第2の光と、の少なくともいずれかを減衰させる減衰器を備えることを特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の変調装置。
  8. 前記分岐部は、入力された光を、前記第1の光と、前記第1の光の強度に比べて1/4の強度となる前記第2の光と、に分岐することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の変調装置。
  9. 前記分岐部は、入力された光を、前記第1の光と、前記第1の光の強度に比べて1/2の強度となる前記第2の光と、に分岐し、
    前記合波部は、前記第1の光と、前記第2の光と、を1:1/2の強度比で合波することを特徴とする請求項1〜6のいずれか一つに記載の変調装置。
  10. 前記分岐部によって分岐された各光のうち前記第1の光および前記第2の光と異なる第3の光を位相変調する第5の変調部と、
    前記第5の変調部と直列に接続され、前記第3の光を分岐せずに通過させ、通過させる光の屈折率を制御することにより位相変調を行う第6の変調部と、
    を備え、
    前記合波部は、前記第1の変調部および前記第3の変調部によって位相変調された前記第1の光と、前記第2の変調部および前記第4の変調部によって位相変調された前記第2の光と、前記第5の変調部および前記第6の変調部によって位相変調された前記第3の光と、を異なる強度で合波することを特徴とする請求項1〜9のいずれか一つに記載の変調装置。
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