JP2014086609A - Semiconductor device manufacturing method - Google Patents

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Hisanori Nagano
久徳 永野
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To solve a problem in a semiconductor device manufacturing method in the past using a transfer mold method that when the number of cavities is increased, a clamp pressure of an encapsulation mold decreases to produce poor molded appearance caused by resin leakage and when a mold clamping pressure of the encapsulation mold is increased, it becomes necessary to use a large-sized press device thereby to increase cost of a manufacturing device.SOLUTION: In a semiconductor device manufacturing method, a plurality of semiconductor chips are resin encapsulated by providing a first plunger unit 12 and a second plunger unit 14, which join a plurality of plungers 4 provided corresponding to a plurality of pots 16 and performing resin injection by the first plunger unit 12 and resin injection by the second plunger unit with a time difference.

Description

本発明は、半導体装置の製造方法に関し、特にトランスファーモールド法を用いる半導体装置の樹脂封止方法に好適に利用できるものである。   The present invention relates to a method for manufacturing a semiconductor device, and in particular, can be suitably used for a resin sealing method for a semiconductor device using a transfer mold method.

半導体チップをトランスファーモールド法を用いて樹脂封止する半導体装置の樹脂封止において、マルチボットにおける各キャビティへの注入樹脂の成形圧力及び注入速度を個別に制御する方法が特開平8−323799号公報(特許文献1)により知られている。   Japanese Patent Laid-Open No. 8-323799 discloses a method for individually controlling the molding pressure and the injection speed of an injection resin into each cavity in a multibot in the resin sealing of a semiconductor device in which a semiconductor chip is resin-sealed using a transfer molding method. (Patent Document 1).

特開平8−323799号公報JP-A-8-323799

特許文献1に示される半導体装置の製造方法においては、生産効率を上げるために一回の樹脂注入で封止できるキャビィティの数を増やすと封止金型のクランプ面圧が低下し、樹脂モレによる成形外観不良が発生する。この対応策として、封止金型の型締め圧力を大きくすることが考えられるが、大型のプレス装置を使用する必要があり、製造装置の価格や半導体装置製造価格が上昇する。
その他の課題と新規な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう。
In the method of manufacturing a semiconductor device disclosed in Patent Document 1, when the number of cavities that can be sealed by a single resin injection is increased in order to increase production efficiency, the clamping surface pressure of the sealing mold is lowered, and the resin mole causes A molding appearance defect occurs. As a countermeasure, it is conceivable to increase the clamping pressure of the sealing mold, but it is necessary to use a large press device, which increases the price of the manufacturing apparatus and the manufacturing price of the semiconductor device.
Other problems and novel features will become apparent from the description of the specification and the accompanying drawings.

本願において開示される課題を解決するための手段のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば下記の通りである。   Of the means for solving the problems disclosed in the present application, the outline of typical ones will be briefly described as follows.

一実施の形態によれば、複数のポットに対応して設けられる複数のプランジャ間を連結する第1のプランジャユニットと、第2のプランジャユニットを設け、前記第1のプランジャユニットによる樹脂注入と、前記第2のプランジャユニットによる樹脂注入とを時間差をもって行うことにより複数の半導体チップを樹脂封止する。   According to one embodiment, a first plunger unit that connects a plurality of plungers provided corresponding to a plurality of pots, a second plunger unit, resin injection by the first plunger unit, By performing resin injection by the second plunger unit with a time difference, a plurality of semiconductor chips are sealed with resin.

一実施の形態によれば、型締め圧力を大きくすることなく、封止できるキャビティの数を増やすことができるトランスファーモールド法による半導体装置の製造方法を得ることができる。   According to one embodiment, it is possible to obtain a method of manufacturing a semiconductor device by a transfer molding method that can increase the number of cavities that can be sealed without increasing the mold clamping pressure.

実施の形態1に係る、樹脂封止用金型下型の平面図である。3 is a plan view of a lower mold for resin sealing according to Embodiment 1. FIG. 図1のA−A´線に沿った樹脂封止用金型の断面図である。It is sectional drawing of the metal mold | die for resin sealing along the AA 'line of FIG. 図2のB−B´線に沿った樹脂封止用金型の断面図である。It is sectional drawing of the metal mold | die for resin sealing along the BB 'line of FIG. 実施の形態1に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。6 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment. FIG. 図4の下型の平面図である。It is a top view of the lower mold | type of FIG. 実施の形態1に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。6 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment. FIG. 図6の下型の平面図である。It is a top view of the lower mold | type of FIG. 実施の形態1に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。6 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment. FIG. 実施の形態1に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。6 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment. FIG. 実施の形態1に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。6 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment. FIG. 図10の下型の平面図である。It is a top view of the lower mold | type of FIG. 実施の形態1に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。6 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment. FIG. 図12の下型の平面図である。It is a top view of the lower mold | type of FIG. 実施の形態1に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。6 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment. FIG. 実施の形態1に係る半導体装置製造方法の工程の動作タイムチャートである。6 is an operation time chart of a process of the semiconductor device manufacturing method according to the first embodiment. 実施の形態2に係る樹脂封止用金型の断面図である。6 is a cross-sectional view of a resin sealing mold according to Embodiment 2. FIG. 実施の形態2に係る樹脂封止用金型の断面図である。6 is a cross-sectional view of a resin sealing mold according to Embodiment 2. FIG. 実施の形態2に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。11 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the second embodiment. FIG. 図18の下型の平面図である。It is a top view of the lower mold | type of FIG. 実施の形態2に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。11 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the second embodiment. FIG. 図20の下型の平面図である。It is a top view of the lower mold | type of FIG. 実施の形態2に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。11 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the second embodiment. FIG. 実施の形態2に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。11 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the second embodiment. FIG. 実施の形態2に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。11 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the second embodiment. FIG. 図24の下型の平面図である。It is a top view of the lower mold | type of FIG. 実施の形態2に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。11 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the second embodiment. FIG. 図26の下型の平面図である。It is a top view of the lower mold | type of FIG. 実施の形態2に係る半導体装置製造方法の工程を説明する断面図である。11 is a cross-sectional view illustrating a process of the semiconductor device manufacturing method according to the second embodiment. FIG. 実施の形態2に係る半導体装置製造方法の工程の動作タイムチャートである。6 is an operation time chart of a process of the semiconductor device manufacturing method according to the second embodiment.

以下図面を参照しながら、実施の形態について詳細に説明する。
以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明する。しかし、特に明示した場合を除き、それらはお互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、応用例、詳細説明、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態に
おいて、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でもよい。ただし、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除く。
Hereinafter, embodiments will be described in detail with reference to the drawings.
In the following embodiment, when it is necessary for the sake of convenience, the description will be divided into a plurality of sections or embodiments. However, unless otherwise specified, they are not irrelevant to each other, and one is related to some or all of the other, such as modifications, application examples, detailed explanations, and supplementary explanations. In the following embodiments, when referring to the number of elements (including the number, numerical value, quantity, range, etc.), the number is not limited to the specific number, and may be greater than or equal to the specific number. . However, the case where it is clearly specified and the case where it is clearly limited to a specific number in principle is excluded.

さらに、以下の実施の形態において、その構成要素(要素ステップ等も含む)は、特に明示した場合および原理的に明らかに必須であると考えられる場合等を除き、必ずしも必須のものではない。同様に、以下の実施の形態において、構成要素等の形状、位置関係等に言及するときは、実質的にその形状等に近似または類似するもの等を含むものとする。ただし、特に明示した場合および原理的に明らかにそうでないと考えられる場合等を除く。このことは、上記数等(個数、数値、量、範囲等を含む)についても同様である。   Furthermore, in the following embodiments, the constituent elements (including element steps and the like) are not necessarily indispensable unless otherwise specified and apparently essential in principle. Similarly, in the following embodiments, references to shapes, positional relationships, and the like of components and the like include those that are substantially similar or similar to the shapes and the like. However, this excludes the case where it is clearly indicated and the case where it is not clearly apparent in principle. The same applies to the above numbers and the like (including the number, numerical value, quantity, range, etc.).

なお、実施の形態を説明するための全図において、同一の機能を有する部材には同一または関連する符号を付し、その繰り返しの説明は原則省略する。また、以下の実施の形態では、特に必要なとき以外は同一または同様な部分の説明を原則として繰り返さない。   Note that components having the same function are denoted by the same or related reference symbols throughout the drawings for describing the embodiments, and the repetitive description thereof will be omitted in principle. In the following embodiments, the description of the same or similar parts will not be repeated in principle unless particularly necessary.

<実施の形態1>
図1は実施の形態1に係る、トランスファーモールド法による樹脂封止に用いられる樹脂封止用金型下型の平面図である。同図に示すように、下型3は、長方形状の平面を有する。そして、複数のポット16が前記長方形状の長辺に沿って列状に設けられ、この設けられた複数のポットの列の延長線上は前記長方形状の短辺のほぼ真ん中を横切るように前記複数のポットの列は配置されている。前記複数のポット16は図1からわかるように、第1のポット16−1、第2のポット16−2、第3のポット16−3、第4のポット16−4、第5のポット16−5、第6のポット16−6の6つのポットから成る。そして、この複数のポット16それぞれからランナ17が延びて複数のキャビティ7に接続されている。そして、下型3表面には、短冊状のリードフレーム5が二枚前記複数のキャビティ7上を覆って設けられている。
<Embodiment 1>
FIG. 1 is a plan view of a lower mold for resin sealing used for resin sealing by a transfer molding method according to the first embodiment. As shown in the figure, the lower mold 3 has a rectangular plane. A plurality of pots 16 are provided in a row along the long side of the rectangular shape, and the plurality of pots 16 extend across the middle of the short side of the rectangular shape on the extended line of the row of the provided pots. The pot rows are arranged. As can be seen from FIG. 1, the plurality of pots 16 are a first pot 16-1, a second pot 16-2, a third pot 16-3, a fourth pot 16-4, and a fifth pot 16. -5, 6th pot 16-6, consisting of 6 pots. A runner 17 extends from each of the plurality of pots 16 and is connected to the plurality of cavities 7. Two strip-shaped lead frames 5 are provided on the surface of the lower mold 3 so as to cover the plurality of cavities 7.

図2は図1のA?A´に該当する上型2も含めた樹脂封止用金型の断面図である。同図からわかるように、上型2と下型3とで複数のキャビティ7が形成される。そして、この複数のキャビティの真ん中に第3のポット16−3が位置している。さらに第3のポット16−3に対応する第3のプランジャ4−3とそれに連結する第1のプランジャユニット13が記載されている。この第1のプランジャユニット13は矢印13方向に上昇可能となっている。また後程述べるように、前記第3のプランジャ4−3とは別のプランジャに連結する第2のプランジャユニット14が前記第1のプランジャユニット13よりも下方に位置している。この第2のプランジャユニット14も矢印15方向に上昇可能となっている。8は型締めプレスの圧力加圧力を示す。   FIG. 2 is a cross-sectional view of the resin sealing mold including the upper mold 2 corresponding to A? A 'in FIG. As can be seen from the figure, the upper mold 2 and the lower mold 3 form a plurality of cavities 7. The third pot 16-3 is located in the middle of the plurality of cavities. Further, a third plunger 4-3 corresponding to the third pot 16-3 and a first plunger unit 13 connected thereto are described. The first plunger unit 13 can be raised in the direction of arrow 13. Further, as will be described later, a second plunger unit 14 connected to a plunger different from the third plunger 4-3 is located below the first plunger unit 13. The second plunger unit 14 can also be raised in the direction of the arrow 15. 8 indicates the pressure applied by the clamping press.

つぎに、図3は、図2のB−B´線に沿った樹脂封止用金型の断面図である(下型では図1のB―B′断面)。同図に示すように、複数のポット16−1?16−6それぞれに対応する複数のプランジャ4すなわち第1のプランジャ4−1乃至第6のプランジャ4−6を有している。そして、第1のプランジャ4−1、第3のプランジャ4−3、第5のプランジャ4−5が第1のプランジャユニット12により連結されてそれらが一体に上下動可能となっている。また、第2のプランジャ4−2、第4のプランジャ4−4、第6のプランジャ4−6が第2のプランジャユニット14により連結されてそれらが一体に上下動可能となっている。   Next, FIG. 3 is a cross-sectional view of the resin sealing mold along the line BB ′ in FIG. 2 (in the lower mold, the BB ′ cross section in FIG. 1). As shown in the figure, a plurality of plungers 4 corresponding to the plurality of pots 16-1 to 16-6, that is, first plunger 4-1 to sixth plunger 4-6 are provided. And the 1st plunger 4-1, the 3rd plunger 4-3, and the 5th plunger 4-5 are connected by the 1st plunger unit 12, and they can move up and down integrally. The second plunger 4-2, the fourth plunger 4-4 and the sixth plunger 4-6 are connected by the second plunger unit 14 so that they can move up and down integrally.

本実施の形態では、前記した第1のプランジャユニット12と第2のプランジャユニット14それぞれにより複数のプランジャの時間差による分割動作を行なうことにより、複数のポット16を介した複数のキャビティへの樹脂注入を分割して行なうものである。   In the present embodiment, the first plunger unit 12 and the second plunger unit 14 described above perform the dividing operation based on the time difference between the plurality of plungers, thereby injecting resin into the plurality of cavities via the plurality of pots 16. Is performed in a divided manner.

次に前記図1乃至図3に示す樹脂封止用金型を用いたトランスファーモールド法による樹脂封止方法を図4乃至図15を基に説明する。   Next, a resin sealing method by a transfer molding method using the resin sealing mold shown in FIGS. 1 to 3 will be described with reference to FIGS.

(1−1)最初に図4に示すように樹脂封止用金型の上型2と下型3を開くいわゆる型開きを行う。図4は樹脂封止用金型の断面図であり、図2のB―B′断面である。また下型3は図1のB―B′断面でもある。図4からわかるように第1のプランジャユニット12に連結する第1、第3、第5プランジャは第2のプランジャユニット14に連結する他の第2、第4、第6プランジャよりも上方に位置した状態となっている。このような上型2と下型3はあらかじめヒーター(図示せず)で加熱しておく。   (1-1) First, as shown in FIG. 4, so-called mold opening is performed to open the upper mold 2 and the lower mold 3 of the resin sealing mold. FIG. 4 is a cross-sectional view of the resin sealing mold, which is a cross-section taken along the line BB ′ of FIG. The lower die 3 is also a BB ′ cross section of FIG. As can be seen from FIG. 4, the first, third, and fifth plungers connected to the first plunger unit 12 are positioned above the other second, fourth, and sixth plungers connected to the second plunger unit 14. It has become a state. The upper mold 2 and the lower mold 3 are heated in advance with a heater (not shown).

(1−2)次にこの型開き状態で下型3表面に2枚の短冊状のリードフレーム5を設置する。図5に示すようにリードフレーム5は複数のポットが配列された箇所は除いた領域にキャビティ7上を覆うように設置する。図5は下型3の平面図である。前記リードフレーム5には、複数の半導体チップが搭載され、ワイヤボンディングされている(図示せず)。   (1-2) Next, two strip-shaped lead frames 5 are installed on the surface of the lower mold 3 in this mold open state. As shown in FIG. 5, the lead frame 5 is installed so as to cover the cavity 7 in a region excluding a portion where a plurality of pots are arranged. FIG. 5 is a plan view of the lower mold 3. A plurality of semiconductor chips are mounted on the lead frame 5 and wire-bonded (not shown).

(1−3)次に図6に示すように、エポキシ樹脂等から成る樹脂タブレット6を前記各プランジャ(全プランジャ)4上に投入する。図6の断面では前記リードフレーム5は見えないため図6の断面では示されない。図7は図6の下型3の平面図である。この状態で樹脂タブレット6は下型3から熱を与えられる。   (1-3) Next, as shown in FIG. 6, a resin tablet 6 made of an epoxy resin or the like is put on each plunger (all plungers) 4. Since the lead frame 5 is not visible in the cross section of FIG. 6, it is not shown in the cross section of FIG. FIG. 7 is a plan view of the lower mold 3 of FIG. In this state, the resin tablet 6 is given heat from the lower mold 3.

(1−4)そして、図8に示すように、下型3を上型2方向に上昇10させ型締めする。図9は、上型2と下型3とが合わさり型締めされた状態の断面図である。同図に示すように、第1のプランジャユニット12に連結された第1、第3、第5プランジャ上に投入された樹脂タブレット6は、第2のプランジャユニット14に連結される第2、第4、第6プランジャ上に投入された樹脂タブレット6よりも上方に位置している。この型締めにより樹脂タブレット6は上型2、下型3から熱を与えられ溶融する。   (1-4) Then, as shown in FIG. 8, the lower mold 3 is raised 10 in the direction of the upper mold 2 and clamped. FIG. 9 is a cross-sectional view of a state in which the upper mold 2 and the lower mold 3 are clamped together. As shown in the figure, the resin tablet 6 put on the first, third, and fifth plungers connected to the first plunger unit 12 is connected to the second plunger unit 14. 4. It is located above the resin tablet 6 put on the sixth plunger. By this clamping, the resin tablet 6 is melted by applying heat from the upper mold 2 and the lower mold 3.

(1−5)次に図10に示すように、第1のプランジャユニット12を矢印13方向に上昇させて前記溶融された樹脂タブレット6をポット16を介してランナ17から複数のキャビティ7の一部キャビティ7へと注入する。すなわち、樹脂タブレット6は上型2、下型3により加熱され溶融した樹脂状態でポット16を介してランナ17からキャビティ7へと注入される。図11の平面図に前記樹脂が注入された状態を示す、同図において、縦直線で示す箇所が樹脂が注入された箇所である。金型は型締めされたままの状態で型締め圧力を保ちながら注入された樹脂を所定時間硬化させる(保圧硬化)。   (1-5) Next, as shown in FIG. 10, the first plunger unit 12 is raised in the direction of the arrow 13, and the molten resin tablet 6 is moved from the runner 17 through the pot 16 to one of the cavities 7. Inject into the partial cavity 7. That is, the resin tablet 6 is injected from the runner 17 into the cavity 7 through the pot 16 in a resin state heated and melted by the upper mold 2 and the lower mold 3. The plan view of FIG. 11 shows the state where the resin is injected. In the same figure, the part indicated by the vertical straight line is the part where the resin is injected. The mold cures the injected resin for a predetermined time while maintaining the mold clamping pressure with the mold being clamped (holding pressure curing).

(1−6)次に図12に示すように、第2のプランジャユニット14を矢印15方向に上昇させて残りの第2のプランジャ4−2、第4のプランジャ4−4、第6のプランジャ4−6それぞれに投入され溶融した樹脂タブレット6をランナ17から複数のキャビティ7の他部へと注入する。すなわち、樹脂タブレット6は上型2、下型3により加熱され溶融した樹脂状態でポット16を介してランナ17からキャビティ7へと注入される。図13はこの状態を示す平面図であり、すべてのキャビティ7に樹脂が注入される、そして型締め状態のまま型締め圧力を保ちながら注入された樹脂を所定時間硬化させる(保圧硬化)。   (1-6) Next, as shown in FIG. 12, the second plunger unit 14 is raised in the direction of the arrow 15 to leave the remaining second plunger 4-2, fourth plunger 4-4, and sixth plunger. The resin tablet 6 that has been charged and melted into each of 4-6 is injected from the runner 17 to the other portions of the plurality of cavities 7. That is, the resin tablet 6 is injected from the runner 17 into the cavity 7 through the pot 16 in a resin state heated and melted by the upper mold 2 and the lower mold 3. FIG. 13 is a plan view showing this state, in which resin is injected into all the cavities 7, and the injected resin is cured for a predetermined time while maintaining the clamping pressure in the clamping state (holding pressure curing).

(1−7)次に図14のように下型3を所定位置まで下降11させて型開きを行ない、樹脂で封止された半導体チップ(図示せず)をリードフレーム5といっしょに取り出す。これにより半導体装置の樹脂封止は完了する。   (1-7) Next, as shown in FIG. 14, the lower die 3 is lowered 11 to a predetermined position to open the die, and a semiconductor chip (not shown) sealed with resin is taken out together with the lead frame 5. Thereby, the resin sealing of the semiconductor device is completed.

図15は実施の形態1のトランスファーモールド法を用いる半導体装置の樹脂封止方法の動作タイムチャートを示す。同図に示すように、下原点の異なる第1のプランジャユニット12と第2のプランジャユニット14を有する金型が型開きした状態、すなわち図4の状態において、樹脂タブレット6が投入され(図6、図7)、下型3を上昇させて上型2とともに型締めし(図9)、型締めされた後第1のプランジャユニット12を上昇させてこれに連結されている第1のプランジャ4−1、第3のプランジャ4−3、第5のプランジャ4−5を上昇させる。それにより、それららに対応する第1ポット16−1、第3ポット16−3、第5ポット16−5を介して複数のキャビティに樹脂を注入する(図11)。そして、金型の上型2と下型3が型締めされた状態のまま型締め圧力を保ち、注入された樹脂を所定時間硬化させる(保圧硬化)。   FIG. 15 shows an operation time chart of the resin sealing method of the semiconductor device using the transfer molding method of the first embodiment. As shown in the figure, the resin tablet 6 is loaded in a state where the mold having the first plunger unit 12 and the second plunger unit 14 having different lower origins is opened, that is, in the state shown in FIG. 7), the lower mold 3 is raised and clamped together with the upper mold 2 (FIG. 9), and after the mold clamping, the first plunger unit 12 is lifted and connected to the first plunger 4 −1, the third plunger 4-3 and the fifth plunger 4-5 are raised. Thereby, resin is inject | poured into a some cavity via the 1st pot 16-1, the 3rd pot 16-3, and the 5th pot 16-5 corresponding to them (FIG. 11). Then, the mold clamping pressure is maintained while the upper mold 2 and the lower mold 3 are clamped, and the injected resin is cured for a predetermined time (pressure-holding curing).

そして、前記保圧硬化の状態で第2のプランジャユニット14を上昇させてこれに連結されている第2のプランジャ4−2、第4のプランジャ4−4、第6のプランジャ4−6も上昇させ、それらに対応する第2ポット16−2、第4ポット16−4、第6ポット16−6を介して複数のキャビティ7に樹脂を注入する(図12、図13)。そして、金型の上型2と下型3が型締めされた状態のまま型締め圧力を保ち、注入された樹脂を所定時間硬化させる(保圧硬化)。   And the 2nd plunger 4-2, the 4th plunger 4-4, and the 6th plunger 4-6 which raise the 2nd plunger unit 14 in the state of the above-mentioned pressure retention hardening and are connected to this also raise. The resin is injected into the plurality of cavities 7 through the second pot 16-2, the fourth pot 16-4, and the sixth pot 16-6 corresponding to them (FIGS. 12 and 13). Then, the mold clamping pressure is maintained while the upper mold 2 and the lower mold 3 are clamped, and the injected resin is cured for a predetermined time (pressure-holding curing).

その後下型3を下降して型開きを行なう。第1のプランジャユニット12、第2のプランジャユニット14も下原点まで戻す。   Thereafter, the lower mold 3 is lowered and the mold is opened. The first plunger unit 12 and the second plunger unit 14 are also returned to the lower origin.

ここで、必要な型締め圧力は、「(樹脂注入面積(キャビィティの数)+樹脂止めのクランプ面積)×単位面積当たりの注入圧力」で表わされる。実施の形態1においては、第1のプランジャユニットでの樹脂注入(第1回)と第2のプランジャユニットでの樹脂注入(第2回)の2回に分け、しかも時間差を持って樹脂注入している。それぞれにおける樹脂止めのクランプ面積と単位面積当たりの注入圧力は同一である。しかし、1回あたりの樹脂注入面積は半分になるため、必要な型締め圧力は従来方法で必要とされる圧力の1/2になる。すなわち、生産効率を上げるために樹脂注入で封止するキャビィティの数を増やしても封止金型の型締め圧力を大きくする必要はなく(従来必要とされる半分)、大型のプレス装置を使用する必要がない。   Here, the necessary mold clamping pressure is represented by “(resin injection area (number of cavities) + resin clamp area) × injection pressure per unit area”. In the first embodiment, resin injection with the first plunger unit (first time) and resin injection with the second plunger unit (second time) are divided into two times, and the resin is injected with a time difference. ing. The clamp area of the resin stopper and the injection pressure per unit area in each are the same. However, since the resin injection area per time is halved, the necessary clamping pressure is ½ of the pressure required in the conventional method. In other words, even if the number of cavities to be sealed by resin injection is increased in order to increase production efficiency, it is not necessary to increase the clamping pressure of the sealing mold (half required in the past), and a large press device is used. There is no need to do.

上記のような半導体装置の製造方法によれば、型締め圧力を大きくすることなく、封止できるキャビティの数を増やすことができるため、樹脂モレによる成形外観不良を発生することなく、また、大型のプレス装置を使用することもなく、生産効率を向上することができる。   According to the semiconductor device manufacturing method as described above, the number of cavities that can be sealed can be increased without increasing the mold clamping pressure. The production efficiency can be improved without using the press device.

<実施の形態2>
本実施の形態では前記実施の形態1の図1?図3に示す樹脂封止用金型を用いる。
<Embodiment 2>
In this embodiment, the resin sealing mold shown in FIGS. 1 to 3 of the first embodiment is used.

(2−1)最初に、この金型を図16、図17に示すように、第2のプランジャユニット14を上昇15させてそれに連結されている第2のプランジャ4−2、第4のプランジャ4−4、第6のプランジャ4−6それぞれの上部位置を第1のプランジャユニット12に連結されている第1のプランジャ4−1、第3のプランジャ4−3、第5のプランジャ4−5それぞれの上部位置と同じ位置になるようにする。このような上型2と下型3はあらかじめヒーター(図示せず)で加熱しておく。   (2-1) First, as shown in FIGS. 16 and 17, the second plunger unit 14 is lifted 15 and the second plunger 4-2 and the fourth plunger connected thereto are connected to the mold. 4-4, the sixth plunger 4-6, the first plunger 4-1, the third plunger 4-3, the fifth plunger 4-5 connected to the first plunger unit 12 at the upper position of each It should be the same position as each upper position. The upper mold 2 and the lower mold 3 are heated in advance with a heater (not shown).

(2−2)次に図18のように前記樹脂封止用金型を型開きして、半導体チップが搭載されワイヤボンディングされた(図示せず)リードフレーム5を前記下型3の上面に設置する。図18の断面には前記リードフレーム5はないため記載していない。図19はこの状態の下型3の平面図である。同図からわかるように、前記リードフレーム5は2枚の短冊状のリードフレーム5であり、複数のポット16が配列された箇所以外の領域のキャビティ7上を覆うように設置する。   (2-2) Next, as shown in FIG. 18, the resin sealing mold is opened, and a lead frame 5 (not shown) on which a semiconductor chip is mounted and wire-bonded is placed on the upper surface of the lower mold 3. Install. The lead frame 5 is not shown in the cross section of FIG. FIG. 19 is a plan view of the lower mold 3 in this state. As can be seen from the figure, the lead frame 5 is two strip-shaped lead frames 5 and is installed so as to cover the cavity 7 in a region other than the place where the plurality of pots 16 are arranged.

(2−3)図20に示すように、硬化時間の異なる例えばエポキシ樹脂等から成る複数の樹脂タブレット6を前記複数のポット16に投入して各ポット16に対応する複数のプランジャ4(4−1、4−2、4−3、4−4、4−5、4−6)それぞれの上部に前記硬化時間の異なる複数の樹脂タブレット6を搭載する。この樹脂タブレット6は硬化時間の早い樹脂タブレット6−1と硬化時間の遅い樹脂タブレット6−2とから成る。硬化時間の早い樹脂タブレット6−1は第1のプランジャユニット12に連結されている第1のプランジャ4−1、第3のプランジャ4−3、第5のプランジャ4−5それぞれの上部に搭載される。また、硬化時間の遅い樹脂タブレット6−2は第2のプランジャユニット14に連結されている第2のプランジャ4−2、第4のプランジャ4−4、第6のプランジャ4−6それぞれの上部に搭載される。図21は前記2種類の樹脂タブレット6(6−1、6−2)を投入した状態の下金型3の平面図である。この状態で樹脂タブレット6は下型3から熱を与えられる。   (2-3) As shown in FIG. 20, a plurality of resin tablets 6 made of, for example, epoxy resin having different curing times are put into the plurality of pots 16 and a plurality of plungers 4 (4- 1, 4-2, 4-3, 4-4, 4-5, 4-6) A plurality of resin tablets 6 having different curing times are mounted on the respective upper portions. The resin tablet 6 is composed of a resin tablet 6-1 having a fast curing time and a resin tablet 6-2 having a slow curing time. The resin tablet 6-1 having a fast curing time is mounted on the upper portions of the first plunger 4-1, the third plunger 4-3, and the fifth plunger 4-5 connected to the first plunger unit 12, respectively. The Further, the resin tablet 6-2 having a slow curing time is placed on the upper part of each of the second plunger 4-2, the fourth plunger 4-4, and the sixth plunger 4-6 connected to the second plunger unit 14. Installed. FIG. 21 is a plan view of the lower mold 3 with the two types of resin tablets 6 (6-1, 6-2) inserted therein. In this state, the resin tablet 6 is given heat from the lower mold 3.

(2−4)図22に示すように、下金型3を上昇10させて、図23に示すように、上型2と下型3とで型締めをする。この型締めによりリードフレーム5はクランプされる。図23の断面にはリードフレーム5は無いため記載していない。この段階で樹脂タブレット6(6−1、6−2)は上型2、下型3から熱を与えられ溶融する。そして、同図に示すように、第1のプランジャユニット12と第2のプランジャユニット14を同時に上昇13、15させる。このとき第1のプランジャユニット12の単位時間当たりの上昇量が前記第2のプランジャユニット14のそれよりも大きい条件でこれらを上昇させる。   (2-4) The lower mold 3 is raised 10 as shown in FIG. 22, and the upper mold 2 and the lower mold 3 are clamped as shown in FIG. The lead frame 5 is clamped by this clamping. Since the lead frame 5 is not provided in the cross section of FIG. At this stage, the resin tablet 6 (6-1, 6-2) is melted by applying heat from the upper mold 2 and the lower mold 3. And as shown in the figure, the 1st plunger unit 12 and the 2nd plunger unit 14 are raised 13 and 15 simultaneously. At this time, the first plunger unit 12 is raised under the condition that the amount of increase per unit time is larger than that of the second plunger unit 14.

(2−5)そして、図24に示すように、前記上昇量の違いにより、まずは、第1のプランジャユニット12に連結されている第1のプランジャ4−1、第3のプランジャ4−3、第5のプランジャ4−5それぞれの上部に搭載され溶融状態の樹脂タブレット6−1(溶融樹脂)を第1のポット16−1、第3のポット16−3、第5のポット16−5の3つのポットそれぞれを介してランナ17から複数のキャビティ7の一部のキャビティ7−1へ注入する。第2のプランジャユニット14の単位時間当たりの上昇量は第1のプランジャユニット12のそれよりも小さいため、第2のプランジャユニット14の上昇による残りの他のキャビティ7−2への樹脂注入は、第1のプランジャユニット12による樹脂注入よりも遅くなる。   (2-5) And, as shown in FIG. 24, first, due to the difference in the amount of increase, first plunger 4-1 connected to first plunger unit 12, third plunger 4-3, A molten resin tablet 6-1 (molten resin) mounted on the upper part of each of the fifth plungers 4-5 is placed in the first pot 16-1, the third pot 16-3, and the fifth pot 16-5. Injection is performed from the runner 17 to some of the cavities 7-1 through the three pots. Since the rising amount per unit time of the second plunger unit 14 is smaller than that of the first plunger unit 12, the resin injection into the remaining other cavities 7-2 due to the rising of the second plunger unit 14 is as follows. This is slower than the resin injection by the first plunger unit 12.

図25はこの状態の下型3の平面図である。同図の縦直線で示す箇所が溶融樹脂が注入される箇所である。同図に示すように、硬化時間の早い溶融状態の樹脂タブレット6−1(溶融樹脂)は第1のキャビティ7−1へ充分に注入されるが、一方硬化時間の遅い溶融状態の樹脂タブレット6−2(溶融樹脂)の第2のキャビティ7−2への注入はまだ不十分な状態である
そして、金型は型締めされたままの状態で型締め圧力を保ちながらキャビティ7−1へ注入された樹脂を所定時間硬化させる(保圧硬化)。
FIG. 25 is a plan view of the lower mold 3 in this state. A portion indicated by a vertical straight line in the figure is a portion where molten resin is injected. As shown in the figure, the molten resin tablet 6-1 (molten resin) having a fast curing time is sufficiently injected into the first cavity 7-1, while the molten resin tablet 6 having a slow curing time is used. -2 (molten resin) is still insufficiently injected into the second cavity 7-2, and the mold is injected into the cavity 7-1 while maintaining the clamping pressure while the mold is still clamped. The cured resin is cured for a predetermined time (holding pressure curing).

(2−6)次に図26に示すように、第2のプランジャユニット14を所定位置まで上昇15させ、硬化時間の遅い樹脂タブレット6−2を第2のポット16−2、第4のポット16−4、第6のポット16−6それぞれを介してランナ17から複数のキャビティ7の残りの他のキャビティ7−2へ注入する。図27はこの状態の下型3の平面図である。同図の縦直線で示す箇所が溶融樹脂が注入される箇所である。同図に示すように、前記図25に示した注入不十分のキャビティ7−2へも樹脂注入が十分に行われ、すべてのキャビティ7(7−1、7−2)への樹脂注入が完了する。ここで、硬化時間の遅い樹脂タブレット6−2を注入する第2のプランジャユニット14は、硬化時間の早い樹脂タブレット6−1の注入保圧硬化に合わせてゆっくり上昇して樹脂注入を行なう。そして、金型は型締めされたままの状態で型締め圧力を保ちながら注入された樹脂を所定時間硬化させる(保圧硬化)。   (2-6) Next, as shown in FIG. 26, the second plunger unit 14 is raised 15 to a predetermined position, and the resin tablet 6-2 having a slow curing time is placed in the second pot 16-2 and the fourth pot. 16-4 and the sixth pot 16-6 are respectively injected from the runner 17 into the remaining cavities 7-2 of the plurality of cavities 7. FIG. 27 is a plan view of the lower mold 3 in this state. A portion indicated by a vertical straight line in the figure is a portion where molten resin is injected. As shown in the figure, the resin is sufficiently injected into the insufficiently injected cavity 7-2 shown in FIG. 25, and the resin injection into all the cavities 7 (7-1, 7-2) is completed. To do. Here, the 2nd plunger unit 14 which inject | pours the resin tablet 6-2 with slow curing time raises slowly according to the injection | pouring pressure holding hardening of the resin tablet 6-1 with early curing time, and performs resin injection | pouring. The mold is cured for a predetermined time while maintaining the mold clamping pressure with the mold being clamped (holding pressure curing).

(2−7)次に図28に示すように下型3を所定位置まで下降11させて型開きを行ない、樹脂で封止された半導体チップ(図示せず)をリードフレーム5といっしょに取り出す、これにより半導体装置の樹脂封止は完了する。   (2-7) Next, as shown in FIG. 28, the lower mold 3 is lowered 11 to a predetermined position to open the mold, and a semiconductor chip (not shown) sealed with resin is taken out together with the lead frame 5. This completes the resin sealing of the semiconductor device.

図29は実施の形態2のトランスファーモールド法を用いる半導体装置の樹脂封止方法の動作タイムチャートを示す。   FIG. 29 shows an operation time chart of the resin sealing method of the semiconductor device using the transfer molding method of the second embodiment.

同図に示すように、まずは、第1のプランジャ4−1、第3のプランジャ4−3、第5のプランジャ4−5と第2のプランジャ4−2、第4のプランジャ4−4、第6のプランジャ4−6それぞれの上部位置とが同じ位置になるようにする(図17)この状態を下原点とする。そして、金型を型開きする(図18)。そして、この型開きした状態において、硬化時間の異なる樹脂タブレット6−1、6−2を投入する(図20)。そして、下型3を上昇させて上型2とともに型締めする(図23)。型締めされた後、単位時間当たりの上昇量が異なる第1のプランジャユニット12と第2のプランジャユニット14を上昇させる。第1のプランジャユニット12は単位時間当たりの上昇量が第2のプランジャユニット14よりも大きいため、硬化時間の早い第1の樹脂タブレット6−1(溶融した樹脂)が硬化時間の遅い第2の樹脂タブレット6−2(溶融した樹脂)よりも先にキャビティ7の一部である第1のキャビティ7−1に注入される(図24、図25)。そして、金型は型締めされたままの状態で型締め圧力を保ちながら注入された樹脂を所定時間硬化させる(保圧硬化)。   As shown in the figure, first, the first plunger 4-1, the third plunger 4-3, the fifth plunger 4-5, the second plunger 4-2, the fourth plunger 4-4, The upper position of each of the plungers 4-6 is set to the same position (FIG. 17). Then, the mold is opened (FIG. 18). Then, in this opened state, resin tablets 6-1 and 6-2 having different curing times are put in (FIG. 20). Then, the lower mold 3 is raised and clamped together with the upper mold 2 (FIG. 23). After the mold is clamped, the first plunger unit 12 and the second plunger unit 14 having different rising amounts per unit time are raised. Since the first plunger unit 12 has a larger amount of increase per unit time than the second plunger unit 14, the first resin tablet 6-1 (molten resin) having a fast curing time has a second curing time that is slow. Prior to the resin tablet 6-2 (molten resin), it is injected into the first cavity 7-1 which is a part of the cavity 7 (FIGS. 24 and 25). The mold is cured for a predetermined time while maintaining the mold clamping pressure with the mold being clamped (holding pressure curing).

そして、前記保圧硬化時、第2のプランジャユニット12が所定の高さまで上昇する。これにより、複数の他の第2のキャビティ7−2に硬化時間の遅い第2の樹脂タブレット6−2(溶融した樹脂)が注入される(図26、図27)。そして、金型の上型2と下型3が型締めされた状態のまま型締め圧力を保ち、前記注入された樹脂を所定時間硬化させる(保圧硬化)。   And at the time of the said holding pressure hardening, the 2nd plunger unit 12 raises to predetermined | prescribed height. Thereby, the 2nd resin tablet 6-2 (molten resin) with a late hardening time is inject | poured into several other 2nd cavity 7-2 (FIG. 26, FIG. 27). The mold clamping pressure is maintained while the upper mold 2 and the lower mold 3 of the mold are clamped, and the injected resin is cured for a predetermined time (pressure-holding curing).

その後下型3を下降して型開きを行ない(図28)、第1のプランジャユニット12、第2のプランジャユニット14も下原点まで戻す。   Thereafter, the lower mold 3 is lowered to open the mold (FIG. 28), and the first plunger unit 12 and the second plunger unit 14 are also returned to the lower origin.

このような実施の形態2においては、第1のプランジャユニット12の単位時間当たりの上昇量を第2のプランジャユニット14の単位時間当たりの上昇量よりも大きくしているため、第1のプランジャユニット12と第2のプランジャユニット14を同時に上昇させても、キャビティ7への樹脂注入を2段階に分けて行うことができる。しかも、注入される樹脂は硬化時間の早い第1の樹脂タブレット6−1と硬化時間の遅い第2の樹脂タブレット6−2を用いるため、キャビティ7までへの到達時間に差があっても、すなわち第2の樹脂タブレット6−2のポット16からキャビティ7への到達時間が第1の樹脂タブレット6−1のそれよりも長くなっても途中で硬化することもなくキャビティ7−2へ充分に注入される   In the second embodiment, the first plunger unit 12 is increased in the amount of increase per unit time than the amount of increase in the second plunger unit 14 per unit time. Even if 12 and the second plunger unit 14 are raised at the same time, the resin can be injected into the cavity 7 in two stages. Moreover, since the injected resin uses the first resin tablet 6-1 with a fast curing time and the second resin tablet 6-2 with a slow curing time, even if there is a difference in arrival time to the cavity 7, That is, even if the arrival time from the pot 16 of the second resin tablet 6-2 to the cavity 7 is longer than that of the first resin tablet 6-1, it does not harden in the middle and is sufficiently transferred to the cavity 7-2. Injected

本実施の形態2においても、必要な型締め圧力は、実施の形態1に記載したように、「(樹脂注入面積(キャビィティの数)+樹脂止めのクランプ面積)×単位面積当たりの注入圧力」で表わされる。従って、1回あたりの樹脂注入面積は半分になるため、必要な型締め圧力は従来方法で必要とされる圧力の1/2になる。すなわち、生産効率を上げるために樹脂注入で封止するキャビィティの数を増やしても封止金型の型締め圧力を大きくする必要はなく(従来必要とされる半分)、大型のプレス装置を使用する必要がない。   Also in the second embodiment, the necessary clamping pressure is “(resin injection area (number of cavities) + clamp area of resin stopper) × injection pressure per unit area” as described in the first embodiment. It is represented by Therefore, since the resin injection area per one time is halved, the necessary clamping pressure is ½ of the pressure required in the conventional method. In other words, even if the number of cavities to be sealed by resin injection is increased in order to increase production efficiency, it is not necessary to increase the clamping pressure of the sealing mold (half required in the past), and a large press device is used. There is no need to do.

上記のような半導体装置の製造方法によれば、型締め圧力を大きくすることなく、封止できるキャビティの数を増やすことができるため、樹脂モレによる成形外観不良を発生することなく、また、大型のプレス装置を使用することもなく、生産効率を向上することができる。   According to the semiconductor device manufacturing method as described above, the number of cavities that can be sealed can be increased without increasing the mold clamping pressure. The production efficiency can be improved without using the press device.

以上、本発明者によってなされた発明を実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であることは言うまでもない。
例えば上型2と下型3との位置関係を逆にしても良い。また、型締めは、上型2を下降させてもよく、型開きは、上型2を上昇させても良い。
As mentioned above, the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiment. However, the present invention is not limited to the embodiment, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.
For example, the positional relationship between the upper mold 2 and the lower mold 3 may be reversed. Further, the mold clamping may lower the upper mold 2, and the mold opening may raise the upper mold 2.

1:型締めプレス
1a:型締めプレス上型
1b:型締めプレス下型
2:封止金型の上型
3:封止金型の下型
4:プランジャ
4−1:第1のプランジャ
4−2:第2のプランジャ
4−3:第3のプランジャ
4−4:第4のプランジャ
4−5:第5のプランジャ
4−6:第6のプランジャ
5:リードフレーム
6:樹脂タブレット
6−1:第1の樹脂タブレット
6−2:第2の樹脂タブレット
7:キャビティ
7−1:第1のキャビティ
7−2:第2のキャビティ
8:加圧力
9:プランジャユニットの上昇方向
10:型締めプレス下型の上昇方向
11:型締めプレス下型の下降方向
12:第1のプランジャユニット
13:第1のプランジャユニットの上昇方向
14:第2のプランジャユニット
15:第2のプランジャユニットの上昇方向
16:ポット
16−1:第1ポット
16−2:第2ポット
16−3:第3ポット
16−4:第4ポット
16−5:第5ポット
16−6:第6ポット
17:ランナ
1: mold clamping press 1a: mold clamping press upper mold 1b: mold clamping press lower mold 2: sealing mold upper mold 3: sealing mold lower mold 4: plunger 4-1: first plunger 4- 2: Second plunger 4-3: Third plunger 4-4: Fourth plunger 4-5: Fifth plunger 4-6: Sixth plunger 5: Lead frame 6: Resin tablet 6-1 1st resin tablet 6-2: 2nd resin tablet 7: Cavity 7-1: 1st cavity 7-2: 2nd cavity 8: Pressurizing force 9: Ascending direction of plunger unit 10: Under clamping press Die ascending direction 11: Clamping press lower die descending direction 12: First plunger unit 13: First plunger unit ascending direction 14: Second plunger unit 15: Ascending direction of second plunger unit 16: pot 6-1: The first pot 16-2: second pot 16-3: 3 Pot 16-4: 4 Pot 16-5: 5 Pot 16-6: 6 Pot 17: runner

Claims (6)

第1、第2の金型と、列状に形成された複数のポットと該複数のポットにランナを介して接続される複数のキャビティとを有する樹脂封止用金型の前記第1の金型は前記複数のポットに対応する複数のプランジャを有し、該複数のプランジャの一部は第1のプランジャユニットに連結し、前記複数のプランジャの他部は第2のプランジャユニットに連結し、前記第1のプランジャユニットにより前記複数のポットの一部を介して前記複数のキャビティの1部に樹脂を注入する第1の工程と、
前記第2のプランジャユニットにより前記複数のポットの他部を介して前記複数のキャビティの他部に樹脂を注入する第2の工程と、
前記樹脂が注入された金型を所定時間保圧して前記樹脂の硬化を進めることにより複数の半導体チップを樹脂封止する第3の工程とを有する半導体装置の製造方法。
The first mold of a resin sealing mold having first and second molds, a plurality of pots formed in a row, and a plurality of cavities connected to the plurality of pots via runners The mold has a plurality of plungers corresponding to the plurality of pots, a part of the plurality of plungers is connected to a first plunger unit, and the other part of the plurality of plungers is connected to a second plunger unit, A first step of injecting resin into a part of the plurality of cavities through a part of the plurality of pots by the first plunger unit;
A second step of injecting resin into the other parts of the plurality of cavities through the other parts of the plurality of pots by the second plunger unit;
And a third step of resin-sealing a plurality of semiconductor chips by holding the mold into which the resin has been injected for a predetermined time to advance the curing of the resin.
前記複数のキャビティの1部に樹脂を注入する第1の工程及び前記複数のキャビティの他部に樹脂を注入する第2の工程は前記樹脂封止用金型の第1の金型と第2の金型が型締めされている状態で行なわれる前記請求項1記載の半導体装置の製造方法。   A first step of injecting resin into one part of the plurality of cavities and a second step of injecting resin into the other part of the plurality of cavities include a first mold and a second mold of the resin sealing mold. 2. The method of manufacturing a semiconductor device according to claim 1, wherein the method is performed in a state in which the metal mold is clamped. 前記複数のキャビティの1部に樹脂を注入する第1の工程は前記複数のキャビティの他部に樹脂を注入する第2の工程よりも先に樹脂注入を開始する前記請求項1記載の半導体装置の製造方法。   2. The semiconductor device according to claim 1, wherein the first step of injecting resin into one part of the plurality of cavities starts the resin injection before the second step of injecting resin into the other part of the plurality of cavities. Manufacturing method. 前記第1のプランジャユニットに連結する複数のプランジャの一部と前記第2のプランジャユニットに連結する複数のプランジャの他部は互い違いに配置されている請求項1に記載の半導体装置の樹脂封止方法。   2. The resin sealing of a semiconductor device according to claim 1, wherein a part of the plurality of plungers connected to the first plunger unit and the other part of the plurality of plungers connected to the second plunger unit are alternately arranged. Method. 前記第1のプランジャユニットにより前記複数のポットの一部を介して前記複数のキャビティの1部に注入される樹脂と、前記第2のプランジャユニットにより前記複数のポットの他部を介して前記複数のキャビティの他部に注入される樹脂は硬化時間が異なる請求項1に記載の半導体装置の樹脂封止方法。   Resin injected into a part of the plurality of cavities through a part of the plurality of pots by the first plunger unit, and the plurality of parts through the other part of the plurality of pots by the second plunger unit. The resin sealing method for a semiconductor device according to claim 1, wherein the resin injected into the other part of the cavity has a different curing time. 前記樹脂はエポキシ樹脂である請求項1に記載の半導体装置の樹脂封止方法。   The resin sealing method for a semiconductor device according to claim 1, wherein the resin is an epoxy resin.
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