JP3602422B2 - Resin sealing device - Google Patents
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Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体装置の樹脂封止に用いる樹脂封止装置及び離型方法に関し、特に半導体装置のリードフレーム面内にて樹脂注入を行うトランスファーモールド方式の樹脂封止装置及び離型方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体装置は、図14の成形品の構造の一例を示す断面図で示すように、リードフレーム32のアイランド33上に半導体素子31が搭載され、半導体素子31のボンディングパッド(図示せず)とリードフレーム32のリード34とがボンディングワイヤ35にて接続されている。そして、半導体素子31、ボンディングワイヤ35、リードフレーム32のアイランド33及びリード34が、外界から保護するため、樹脂封止装置を用い樹脂封止され、樹脂36にて覆われている。
【0003】
ここで、半導体装置の樹脂封止に用いる樹脂封止装置には、半導体装置のリードフレーム(32)面内にて樹脂注入を行うトランスファーモールド方式と、リードフレーム(32)面外から樹脂注入を行うトランスファーモールド方式の、2方式が有る。
【0004】
そして、半導体装置のリードフレーム面内にて樹脂注入を行うトランスファーモールド方式の樹脂封止装置は、構造として、成形金型に樹脂の経路であるランナー部を有していない。これに対し、リードフレーム面外から樹脂注入を行うトランスファーモールド方式の樹脂封止装置は、成形金型にランナー部を有している。そのため、半導体装置のリードフレーム面内にて樹脂注入を行うトランスファーモールド方式の樹脂封止装置は、(リードフレーム面外から樹脂注入を行うトランスファーモールド方式の樹脂封止装置に対し)、樹脂効率が優れており、生産性が向上し、コストを低減できる。
【0005】
従来の半導体装置のリードフレーム面内にて樹脂注入を行うトランスファーモールド方式の樹脂封止装置(以下樹脂封止装置という)及び離型方法は、図8の樹脂封止装置の上金型と下金型とから構成される成形金型の下金型を示す平面図、及び図9乃至図13の離型工程を含むトランスファーモールド工程に於ける成形金型の上下金型の動作を示す断面図で説明される。
【0006】
まず、図8に示すように、樹脂封止装置の成形金型の下金型10には、下金型10上に載置されるリードフレームの半導体素子が搭載された位置に対応した位置に、半導体装置の成形形状に対応した形状の成形用の複数のキャビティ11が形成されている。そして各キャビティ11には、成形品取り出し用のエジェクタピン12が設けられている。
【0007】
そして、各キャビティ11に成形材料である樹脂を注入させるための供給口であるポット13が設けられている。そしてポット13とキャビティ11とを連接し、キャビティ11への樹脂の注入口であるゲート14が設けられている。そして各ポット13内には、供給された樹脂を各キャビティ11に注入するためのプランジャ15が設けられている。このプランジャ15は、成形金型の下金型10に設けられ、下側から動作するのでロアープランジャといわれる。
【0008】
ここで、ポット13及びプランジャ15は複数組設けられていて、マルチプランジャ金型といわれる。そして、1組のポット13及びプランジャ15は、複数のキャビティ11に樹脂を注入する(図8に示す例の場合は、4つのキャビティ11に樹脂を注入する)。
【0009】
そして、樹脂封止装置の成形金型の上下金型の型開き状態を示す図9に示すように、樹脂封止装置の成形金型の上金型20には、下金型10に対向して、下金型10に形成された複数のキャビティ11に対向して、半導体装置の成形形状に対応した形状の成形用の複数のキャビティ21が形成されている。
【0010】
そして各キャビティ21には、下金型10に設けられたエジェクタピン12に対向して、成形品取り出し用のエジェクタピン22が設けられている。また、下金型10の各ポット13(カル)に対応した位置にも、成形品取り出し用のエジェクタピン22aが設けられている。そして、成形金型の上下金型の型締め状態で、対向する下金型(10)上面に当接するエジェクタポスト29が設けられている。
【0011】
そして、エジェクタピン22の上端、エジェクタピン22aの上端及びエジェクタポスト29の上端は、エジェクタピンプレート26に固定されている。そして、エジェクタピン22、エジェクタピン22a及びエジェクタポスト29は、エジェクタピンプレート26ごと、ノックアウトスプリング28により下方に付勢され押し下げられている。
【0012】
そして、成形金型の上下金型が型開き状態では、エジェクタピン22の下端部は、キャビティ21の底面より突出している。また、エジェクタピン22aの下端部及びエジェクタポスト29の下端部は、上金型20の下面より突出している。
【0013】
また、下金型10に設けられたエジェクタピン12は、その下端がエジェクタピンプレート16に固定されている。そして、エジェクタピンプレート16は、ノックアウトロッド17に固定されている。
【0014】
そして、成形金型の上下金型が型開き状態では、エジェクタピン12は、ノックアウトロッド17が下降した位置に位置することにより、下降した位置に位置する。そして、エジェクタピン12の上端は、キャビティ11の底面に位置している。
【0015】
そして、図10に示すように、型開き状態の成形金型の下金型10に、成形材料である樹脂36を供給し、樹脂封止されるリードフレーム32を載置する。まず、下金型10の各ポット13内に、予備加熱され軟化したタブレット状の樹脂36を夫々供給する。そして、下金型10上の所定の位置に、半導体素子(図示せず)が搭載され、ボンディングワイヤ(図示せず)にて接続されたリードフレーム32を載置する。
【0016】
次に、図11に示すように、成形金型の上下金型の型締めを行う。そうすると、成形金型の上金型20と下金型10とは衝合し、リードフレーム32は上金型20と下金型10とで挟持される。
【0017】
この時、上金型20に設けられたエジェクタポスト29の下端が、対向する下金型10の上面に当接する。そして、エジェクタポスト29が固定されているエジェクタピンプレート26を付勢しているノックアウトスプリング28が圧縮されて、エジェクタポスト29はその下端が対向する下金型10の上面に当接したまま押し上げられ、上金型20と下金型10との衝合面に位置する。
【0018】
そしてこの事により、エジェクタピンプレート26に固定されているエジェクタピン22aも押し上げられ、その下端は上金型20の下面に位置する。そして、エジェクタピンプレート26に固定されているエジェクタピン22も押し上げられ、その下端はキャビティ21の底面に位置する。
【0019】
またこの時でも、下金型10に設けられたエジェクタピン12の上端は、キャビティ11の底面に位置したままである。
【0020】
そして、この(型締め)状態に於いて、下金型10のポット13内で加熱溶融した樹脂36を、プランジャ15により、ゲート14を介して各キャビティ11及びキャビティ21に注入する。そして、注入した樹脂36を上金型20及び下金型10により所定時間加熱保持(キュア)し硬化させる。こうして、リードフレーム32に搭載された半導体素子を樹脂封止した、成形品が出来上がる。
【0021】
その後、図12に示すように、成形金型の上下金型の型開きを行う。そうすると、成形金型の上金型20と下金型10とは離隔する。
【0022】
この時、上金型20に設けられ対向する下金型10の上面に当接していたエジェクタポスト29は、固定されているエジェクタピンプレート26ごと、圧縮されていたノックアウトスプリング28により下方に付勢され、下金型10の上面を押し付けながら下金型10から離隔する。
【0023】
そして同時に、エジェクタピン22が、エジェクタポスト29と共に固定されているエジェクタピンプレート26ごと、ノックアウトスプリング28により下方に付勢され、出来上がった成形品37を押し付けながら下金型10から離隔する。
【0024】
そしてまた同時に、エジェクタピン22aが、エジェクタポスト29及びエジェクタピン22と共に固定されているエジェクタピンプレート26ごと、ノックアウトスプリング28により下方に付勢され、ポット13内に残って硬化した樹脂(36)であるカル38を押し付けながら下金型10から離隔する。このようにして、成形品37及びカル38が上金型20より離型される。
【0025】
そして、下金型10に設けられたプランジャ15が、一旦下降し、元の位置に戻る。
【0026】
次に、図13に示すように、下金型10に設けられたエジェクタピン12が、固定されているエジェクタピンプレート16が固定されているノックアウトロッド17が上昇することにより上昇し、成形品37がエジェクタピン22により押し上げられる。そして同時に、プランジャ15が上昇し、カル38がプランジャ15により押し上げられる。このようにして、成形品37及びカル38が下金型10より離型される。
【0027】
そして、上金型20及び下金型10より離型された成形品37及びカル38は、上下金型内から搬送される。
【0028】
そして、エジェクタピン12は、固定されているエジェクタピンプレート16が固定されているノックアウトロッド17が下降することにより下降し、元の位置に戻る。そして、プランジャ15は、下降し、元の位置に戻る。(図9に示す状態に戻る)。
【0029】
【発明が解決しようとする課題】
樹脂封止に使用する樹脂(36)はある一定の工程能力にて製造される為に、出来上がりの重量はある一定のばらつきを有している。ここで、
重量=密度*体積*比重 であり、密度及び比重は一定である。その為、使用する樹脂(36)のタブレットの大きさ(体積)は、その重量のばらつきに応じて一定のばらつきを有している。
【0030】
そして、このような樹脂36のタブレットを用いて、樹脂封止装置において樹脂封止を行う為、樹脂封止装置の成形金型の下金型10のポット13内で加熱溶融した樹脂36は、成形金型の上金型20のキャビティ21及び下金型10のキャビティ11には隅々まで注入され、下金型10のゲート14にも十分に注入されているが、下金型10のポット13内に残った樹脂(36)つまりカル38の樹脂量(体積)はばらついている。その為、出来上がったカル38の厚さは、その樹脂36の重量のばらつきに応じて、ばらついていて、変化することは避けられない。
【0031】
従って、従来の樹脂封止装置及び離型方法に於いては、厚さの変化しない成形品37部と厚さが変化するカル38部の離型動作に於いて、同時に行う離型タイミングにズレが発生してしまう。この、離型タイミングのズレは成形品37に過大な応力を与える為に、成形品37が機械的ダメージを受けてしまい樹脂クラックが発生する等品質の低下を招いてしまうという問題がある。
【0032】
従って、本発明の目的は、成形品とカルの同時離型を可能とし、成形品の品質を向上させる半導体装置のリードフレーム面内にて樹脂封止を行うトランスファーモールド方式の樹脂封止装置を提供することにある。
【0033】
【課題を解決するための手段】
本発明の樹脂封止装置は、少なくとも1つ以上のポットと前記ポットから樹脂を注入される切欠部とを有する成形金型と、前記切欠部に設けられ前記切欠部に注入され硬化した前記樹脂を押し出すエジェクタピンと、を有し、各々の前記ポットには少なくとも2つ以上の切欠部が接続して設けられ、各々の前記切欠部は、唯 1 つのポットに接続し、その他のポットから樹脂が注入されることが無いように独立しており、かつ前記唯1つのポットを間に介して対になって対向して配置されていることを特徴とする。
【0034】
また、切欠部の深さは、成形金型に形成されたキャビティの深さと同程度である。
【0035】
さらに、切欠部に設けられたエジェクタピンは、成形金型に形成されたキャビティに設けられたエジェクタピンが固定されているプレートと同一のプレートに固定されている。
【0036】
本発明の離型方法は、樹脂突起部とカルとを一体的に形成し、前記樹脂突起部を成形金型から離型させることにより、前記カルを前記成形金型から離型させることを特徴とする。
【0037】
本発明の離型方法は、樹脂突起部とカルとを一体的に形成し、前記樹脂突起部を成形品と同時に成形金型から離型させることにより、前記カルを前記成形品と同時に前記成形金型から離型させることを特徴とする。
【0038】
また、形成した前記樹脂突起部の樹脂量は一定であり、形成した前記樹脂突起部の厚さは一定である。
【0039】
この様な本発明によれば、厚さが一定で変化しない樹脂突起部を形成し、樹脂突起部を離型させることによりカルを離型させている。
【0040】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態について図面を参照して詳細に説明する。図1は本発明の第1の実施形態の樹脂封止装置の上金型と下金型とから構成される成形金型の下金型を示す平面図、図2乃至図6は図1の第1の実施形態の離型工程を含むトランスファーモールド工程に於ける成形金型の上下金型の動作を示す断面図である。
【0041】
まず、図1に示すように、本実施形態の樹脂封止装置の成形金型の下金型10には、下金型10上に載置されるリードフレームの半導体素子が搭載された位置に対応した位置に、半導体装置の成形形状に対応した形状の成形用の複数のキャビティ11が形成されている。そして各キャビティ11には、成形品取り出し用のエジェクタピン12が設けられている。
【0042】
そして、各キャビティ11に成形材料である樹脂を注入させるための供給口であるポット13が設けられている。そしてポット13とキャビティ11とを連接し、キャビティ11への樹脂の注入口であるゲート14が設けられている。そして各ポット13内には、供給された樹脂を各キャビティ11に注入するためのプランジャ15が設けられている。
【0043】
そして、ポット13とゲート14とに列接し、ポット13から樹脂を注入させる切欠である切欠部1が設けられている。そして各切欠部1には、成形品取り出し用のエジェクタピン2が設けられている。
【0044】
ここで、ポット13及びプランジャ15は複数組設けられていて、1組のポット13及びプランジャ15は、複数のキャビティ11に樹脂を注入する。図1に示す例の場合は、4つのキャビティ11に樹脂を注入する。
【0045】
そして、1組のポット13とゲート14とに列接し、複数の切欠部1が設けられている。図1に示す例の場合は、ポット13を間に介して、一対の切欠部1が対向して設けられている。
【0046】
そして、樹脂封止装置の成形金型の上下金型の型開き状態を示す図2に示すように、本実施形態の樹脂封止装置の成形金型の上金型20には、下金型10に対向して、下金型10に形成された複数のキャビティ11に対向して、半導体装置の成形形状に対応した形状の成形用の複数のキャビティ21が形成されている。
【0047】
そして各キャビティ21には、下金型10に設けられたエジェクタピン12に対向して、成形品取り出し用のエジェクタピン22が設けられている。また、下金型10の各ポット13(カル)に対応した位置にも、成形品取り出し用のエジェクタピン22aが設けられている。そして、成形金型の上下金型の型締め状態で、対向する下金型(10)上面に当接するエジェクタポスト29が設けられている。
【0048】
そして、エジェクタピン22の上端、エジェクタピン22aの上端及びエジェクタポスト29の上端は、エジェクタピンプレート26に固定されている。そして、エジェクタピン22、エジェクタピン22a及びエジェクタポスト29は、エジェクタピンプレート26ごと、ノックアウトスプリング28により下方に付勢され押し下げられている。
【0049】
そして、成形金型の上下金型が型開き状態では、エジェクタピン22の下端部は、キャビティ21の底面より突出している。また、エジェクタピン22aの下端部及びエジェクタポスト29の下端部は、上金型20の下面より突出している。
【0050】
また、下金型10に設けられたエジェクタピン12及びエジェクタピン2は、夫々その下端がエジェクタピンプレート16に固定されている。そして、エジェクタピンプレート16は、ノックアウトロッド17に固定されている。
【0051】
そして、成形金型の上下金型が型開き状態では、エジェクタピン12及びエジェクタピン2は、ノックアウトロッド17が下降した位置に位置することにより、夫々下降した位置に位置する。そして、エジェクタピン12の上端は、キャビティ11の底面に位置している。そしてエジェクタピン2の上端は、切欠部1の底面に位置している。
【0052】
そして、図3に示すように、型開き状態の成形金型の下金型10に、成形材料である樹脂36を供給し、樹脂封止されるリードフレーム32を載置する。まず、下金型10の各ポット13内に、予備加熱され軟化したタブレット状の樹脂36を夫々供給する。そして、下金型10上の所定の位置に、半導体素子(図示せず)が搭載され、ボンディングワイヤ(図示せず)にて接続されたリードフレーム32を載置する。
【0053】
次に、図4に示すように、成形金型の上下金型の型締めを行う。そうすると、成形金型の上金型20と下金型10とは衝合し、リードフレーム32は上金型20と下金型10とで挟持される。
【0054】
この時、上金型20に設けられたエジェクタポスト29の下端が、対向する下金型10の上面に当接する。そして、エジェクタポスト29が固定されているエジェクタピンプレート26を付勢しているノックアウトスプリング28が圧縮されて、エジェクタポスト29はその下端が対向する下金型10の上面に当接したまま押し上げられ、上金型20と下金型10との衝合面に位置する。
【0055】
そしてこの事により、エジェクタピンプレート26に固定されているエジェクタピン22aも押し上げられ、その下端は上金型20の下面に位置する。そして、エジェクタピンプレート26に固定されているエジェクタピン22も押し上げられ、その下端はキャビティ21の底面に位置する。
【0056】
またこの時でも、下金型10に設けられたエジェクタピン12の上端は、キャビティ11の底面に位置したままである。そして、エジェクタピン2の上端は、切欠部1の底面に位置したままである。
【0057】
そして、この(型締め)状態に於いて、下金型10のポット13内で加熱溶融した樹脂36を、プランジャ15により、ゲート14を介して各キャビティ11及びキャビティ21に注入する。そしてこの時同時に、ポット13内で加熱溶融した樹脂36を、プランジャ15により、切欠部1にも注入する。なおこの時、切欠部1には、樹脂36が隅々まで注入される。そして、注入した樹脂36を上金型20及び下金型10により所定時間加熱保持(キュア)し硬化させる。こうして、リードフレーム32に搭載された半導体素子を樹脂封止した、成形品が出来上がる。
【0058】
その後、図5に示すように、成形金型の上下金型の型開きを行う。そうすると、成形金型の上金型20と下金型10とは離隔する。
【0059】
この時、上金型20に設けられ対向する下金型10の上面に当接していたエジェクタポスト29は、固定されているエジェクタピンプレート26ごと、圧縮されていたノックアウトスプリング28により下方に付勢され、下金型10の上面を押し付けながら下金型10から離隔する。
【0060】
そして同時に、エジェクタピン22が、エジェクタポスト29と共に固定されているエジェクタピンプレート26ごと、ノックアウトスプリング28により下方に付勢され、出来上がった成形品37を押し付けながら下金型10から離隔する。
【0061】
そしてまた同時に、エジェクタピン22aが、エジェクタポスト29及びエジェクタピン22と共に固定されているエジェクタピンプレート26ごと、ノックアウトスプリング28により下方に付勢され、ポット13内に残って硬化した樹脂(36)であるカル38を押し付けながら下金型10から離隔する。このようにして、成形品37及びカル38が上金型20より離型される。
【0062】
そして、下金型10に設けられたプランジャ15が、一旦下降し、元の位置に戻る。
【0063】
次に、図6に示すように、下金型10に設けられたエジェクタピン12及びエジェクタピン2が、夫々固定されているエジェクタピンプレート16が固定されているノックアウトロッド17が上昇することにより上昇する。そして、成形品37がエジェクタピン22により押し上げられる。そして同時に、切欠部1に注入され硬化された樹脂36(以下これを樹脂突起部39という)がエジェクタピン2により押し上げられる事により、樹脂突起部39に一体的に形成されているカル38が押し上げられる。このようにして、成形品37及びカル38が下金型10より離型される。
【0064】
ここで、樹脂突起部39の厚さは、エジェクタピン2により押し上げられる時に、機械的に十分な強度を有すれば良い。それゆえ、樹脂突起部39の厚さつまり下金型10に設けられた切欠部1の深さは、例えば、下金型10に形成されたキャビティ11の深さと同程度でも良い。
【0065】
そして、上金型20及び下金型10より離型された成形品37及びカル38は、上下金型内から搬送される。
【0066】
そして、エジェクタピン12及びエジェクタピン2は、夫々固定されているエジェクタピンプレート16が固定されているノックアウトロッド17が下降することにより下降し、元の位置に戻る。(図2に示す状態に戻る)。
【0067】
図7は本発明の第2の実施形態の樹脂封止装置の成形金型の下金型を示す平面図である。図7に示すように、本実施形態の樹脂封止装置は、図1に示す第1の実施形態では、ポット13を間に介して、一対の切欠部1が対向して設けられているのに対し、ポット13を間に介して、2対の切欠部1が夫々対向して設けられているものである。なお、切欠部1には、夫々エジェクタピン2が設けられている。
【0068】
【発明の効果】
以上述べたように、本発明によれば、厚さの変化しない樹脂突起部を形成し、樹脂突起部を離型させることにより厚さが変化するカルを離型させるので、厚さの変化しない成形品とカルの同時離型が可能になり、離型動作時成形品に与えられる応力を低減することができ、成形品の品質を向上させるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態の樹脂封止装置の成形金型の下金型を示す平面図である。
【図2】図2乃至図6は、図1の第1の実施形態の離型工程を含むトランスファーモールド工程に於ける成形金型の上下金型の動作を示す断面図である。そして、図2は成形金型の上下金型の型開き状態を示す断面図である。
【図3】型開き状態の成形金型の下金型に、樹脂を供給し、リードフレームを載置した状態を示す断面図である。
【図4】型締め状態の成形金型の上下金型に、樹脂を注入した状態を示す断面図である。
【図5】成形金型の上下金型の型開き状態を示し、成形品及びカルが上金型より離型された状態を示す断面図である。
【図6】型開き状態の成形金型の上下金型に於いて、成形品及びカルが下金型より離型された状態を示す断面図である。
【図7】本発明の第2の実施形態の樹脂封止装置の成形金型の下金型を示す平面図である。
【図8】従来の樹脂封止装置の成形金型の下金型を示す平面図である。
【図9】図9乃至図13は、図8の従来の離型工程を含むトランスファーモールド工程に於ける成形金型の上下金型の動作を示す断面図である。そして、図9は成形金型の上下金型の型開き状態を示す断面図である。
【図10】型開き状態の成形金型の下金型に、樹脂を供給し、リードフレームを載置した状態を示す断面図である。
【図11】型締め状態の成形金型の上下金型に、樹脂を注入した状態を示す断面図である。
【図12】成形金型の上下金型の型開き状態を示し、成形品及びカルが上金型より離型された状態を示す断面図である。
【図13】型開き状態の成形金型の上下金型に於いて、成形品及びカルが下金型より離型された状態を示す断面図である。
【図14】半導体装置の成形品の構造の一例を示す断面図である。
【符号の説明】
1 切欠部
2,12,22,22a エジェクタピン
10 下金型
11,21 キャビティ
13 ポット
14 ゲート
15 プランジャ
16,26 エジェクタピンプレート
17 ノックアウトロッド
20 上金型
28 ノックアウトスプリング
29 エジェクタポスト
31 半導体素子
32 リードフレーム
33 アイランド
34 リード
35 ボンディングワイヤ
36 樹脂
37 成形品
38 カル
39 樹脂突起部[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to a resin sealing device and a mold releasing method used for resin sealing of a semiconductor device, and more particularly to a transfer molding type resin sealing device and a mold releasing method for injecting a resin in a lead frame surface of a semiconductor device.
[0002]
[Prior art]
In the semiconductor device, as shown in a cross-sectional view showing an example of the structure of a molded product in FIG. 14, a semiconductor element 31 is mounted on an
[0003]
Here, the resin sealing device used for resin sealing of the semiconductor device includes a transfer molding method in which the resin is injected within the surface of the lead frame (32) of the semiconductor device, and a resin injection from outside the surface of the lead frame (32). There are two transfer molding methods.
[0004]
In addition, a transfer molding type resin encapsulating device that injects resin within a lead frame surface of a semiconductor device does not have a runner portion, which is a resin path, in a molding die as a structure. On the other hand, a transfer-molding type resin encapsulation device that injects resin from outside the lead frame surface has a runner portion in a molding die. Therefore, the transfer molding type resin encapsulating device that injects resin within the lead frame surface of the semiconductor device has a higher resin efficiency (as compared to the transfer molding type resin encapsulating device that injects resin from outside the lead frame surface). Excellent, productivity can be reduced, and costs can be reduced.
[0005]
A conventional transfer molding type resin sealing device (hereinafter referred to as a resin sealing device) and a mold releasing method for injecting a resin in a lead frame surface of a semiconductor device are described in FIG. 9 is a plan view showing a lower mold of a molding die composed of a metal mold and a cross-sectional view showing an operation of upper and lower molds of the molding die in a transfer molding process including a releasing process of FIGS. 9 to 13. It is explained in.
[0006]
First, as shown in FIG. 8, the
[0007]
Each
[0008]
Here, a plurality of sets of the
[0009]
Then, as shown in FIG. 9 showing the upper and lower molds of the molding die of the resin sealing device, the
[0010]
Each of the
[0011]
The upper end of the
[0012]
When the upper and lower dies of the molding dies are open, the lower end of the
[0013]
The lower end of the
[0014]
When the upper and lower dies of the molding dies are open, the
[0015]
Then, as shown in FIG. 10, a
[0016]
Next, as shown in FIG. 11, the upper and lower dies of the molding dies are clamped. Then, the
[0017]
At this time, the lower end of the
[0018]
As a result, the
[0019]
Also at this time, the upper end of the
[0020]
Then, in this (mold-clamped) state, the
[0021]
Thereafter, as shown in FIG. 12, the upper and lower dies of the molding dies are opened. Then, the
[0022]
At this time, the
[0023]
At the same time, the
[0024]
At the same time, the
[0025]
Then, the
[0026]
Next, as shown in FIG. 13, the ejector pins 12 provided on the
[0027]
Then, the molded
[0028]
Then, the
[0029]
[Problems to be solved by the invention]
Since the resin (36) used for resin encapsulation is manufactured with a certain process capability, the finished weight has a certain variation. here,
Weight = density * volume * specific gravity, where density and specific gravity are constant. Therefore, the size (volume) of the tablet of the resin (36) to be used has a certain variation according to the variation of the weight.
[0030]
Then, in order to perform resin sealing in the resin sealing device using such a tablet of the
[0031]
Accordingly, in the conventional resin sealing apparatus and the mold release method, the mold release operation of the molded
[0032]
Accordingly, an object of the present invention enables the simultaneous release of the molded article and cull, resin sealing equipment transfer molding method in which resin sealing at the lead frame surface of the semiconductor device to improve the quality of molded products Is to provide.
[0033]
[Means for Solving the Problems]
The resin sealing device of the present invention includes a molding die having at least one or more pots and a cutout into which resin is injected from the pot, and the resin injected into the cutout provided in the cutout and cured. An ejector pin for extruding, and at least two or more notches are connected to each of the pots, and each of the notches is connected to only one of the pots, and resin from the other pots is provided. It is characterized in that it is independent so as not to be poured, and is arranged facing each other in a pair with only the one pot interposed therebetween.
[0034]
Further, the depth of the notch is substantially equal to the depth of the cavity formed in the molding die.
[0035]
Further, the ejector pins provided in the notch are fixed to the same plate as the plate to which the ejector pins provided in the cavity formed in the molding die are fixed.
[0036]
The mold release method of the present invention is characterized in that the resin projection and the cull are integrally formed, and the cull is released from the molding die by releasing the resin projection from the molding die. And
[0037]
The mold release method of the present invention is characterized in that the resin protrusion and the cull are integrally formed, and the resin protrusion is released from a molding die at the same time as a molded product, whereby the cull is molded simultaneously with the molded product. It is characterized in that it is released from the mold.
[0038]
Further, the resin amount of the formed resin protrusion is constant, and the thickness of the formed resin protrusion is constant.
[0039]
According to the present invention, a resin projection having a constant thickness and not changing is formed, and the cull is released by releasing the resin projection.
[0040]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a plan view showing a lower die of a molding die composed of an upper die and a lower die of a resin sealing device according to a first embodiment of the present invention, and FIGS. FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating the operation of the upper and lower dies of the molding dies in the transfer molding process including the release process of the first embodiment.
[0041]
First, as shown in FIG. 1, the
[0042]
Each
[0043]
In addition, a
[0044]
Here, a plurality of sets of the
[0045]
A plurality of
[0046]
As shown in FIG. 2 showing the upper and lower molds of the molding die of the resin sealing device, the
[0047]
Each of the
[0048]
The upper end of the
[0049]
When the upper and lower dies of the molding dies are open, the lower end of the
[0050]
The lower ends of the ejector pins 12 and the ejector pins 2 provided on the
[0051]
Then, when the upper and lower dies of the molding dies are open, the ejector pins 12 and the ejector pins 2 are respectively located at the positions where the
[0052]
Then, as shown in FIG. 3, a
[0053]
Next, as shown in FIG. 4, the upper and lower molds of the molding die are clamped. Then, the
[0054]
At this time, the lower end of the
[0055]
As a result, the ejector pins 22a fixed to the
[0056]
Also at this time, the upper end of the
[0057]
Then, in this (mold-clamped) state, the
[0058]
Thereafter, as shown in FIG. 5, the upper and lower dies of the molding dies are opened. Then, the
[0059]
At this time, the
[0060]
At the same time, the
[0061]
At the same time, the
[0062]
Then, the
[0063]
Next, as shown in FIG. 6, the ejector pins 12 and the ejector pins 2 provided on the
[0064]
Here, the thickness of the resin projecting portion 39 only needs to have sufficient mechanical strength when pushed up by the
[0065]
Then, the molded
[0066]
Then, the
[0067]
FIG. 7 is a plan view showing a lower mold of a molding die of the resin sealing device according to the second embodiment of the present invention. As shown in FIG. 7, in the resin sealing device of the present embodiment, in the first embodiment shown in FIG. 1, a pair of
[0068]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, a resin projection having a thickness that does not change is formed, and since a cull whose thickness changes by releasing the resin projection is released, the thickness does not change. Simultaneous release of the molded product and the cull becomes possible, the stress applied to the molded product during the release operation can be reduced, and the effect of improving the quality of the molded product can be obtained.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a plan view showing a lower mold of a molding die of a resin sealing device according to a first embodiment of the present invention.
FIGS. 2 to 6 are cross-sectional views showing the operation of upper and lower dies of a molding die in a transfer molding process including a releasing process of the first embodiment of FIG. FIG. 2 is a cross-sectional view showing the open state of the upper and lower molds of the molding die.
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a state in which a resin is supplied to a lower mold of a molding mold in an opened state and a lead frame is mounted.
FIG. 4 is a cross-sectional view showing a state in which a resin is injected into upper and lower dies of a molding die in a clamped state.
FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which upper and lower molds of a molding die are opened, and a state in which a molded product and a cull are released from an upper mold.
FIG. 6 is a cross-sectional view showing a state in which a molded product and a cull are separated from a lower mold in upper and lower molds of the mold in an opened state.
FIG. 7 is a plan view showing a lower mold of a molding die of a resin sealing device according to a second embodiment of the present invention.
FIG. 8 is a plan view showing a lower mold of a molding die of a conventional resin sealing device.
FIGS. 9 to 13 are cross-sectional views showing the operation of upper and lower dies of a molding die in a transfer molding process including a conventional release process of FIG. FIG. 9 is a cross-sectional view showing the open state of the upper and lower molds of the molding die.
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a state in which a resin is supplied to a lower die of a molding die in an open state, and a lead frame is placed thereon.
FIG. 11 is a cross-sectional view showing a state in which a resin is injected into upper and lower dies of a molding die in a clamped state.
FIG. 12 is a cross-sectional view showing a state in which the upper and lower molds of the molding die are opened, and showing a state in which the molded product and the cull are released from the upper mold.
FIG. 13 is a cross-sectional view showing a state in which a molded product and a cull are separated from a lower mold in upper and lower molds of the mold in an opened state.
FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating an example of the structure of a molded product of a semiconductor device.
[Explanation of symbols]
1
Claims (3)
前記切欠部に設けられ前記切欠部に注入され硬化した前記樹脂を押し出すエジェクタピンと、An ejector pin that is provided in the notch and extrudes the cured resin injected into the notch;
を有し、Has,
各々の前記ポットには少なくとも2つ以上の切欠部が接続して設けられ、Each of the pots is provided with at least two notches connected thereto,
各々の前記切欠部は、唯Each of the notches is only 1One つのポットに接続し、その他のポットから樹脂が注入されることが無いように独立しており、かつ前記唯1つのポットを間に介して対になって対向して配置されていることConnected to two pots, are independent so that resin is not injected from the other pots, and are arranged facing each other with the only one pot interposed therebetween.
を特徴とする樹脂封止装置。A resin sealing device.
Priority Applications (1)
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