JP2014072827A - 論理回路、コード発生回路、半導体装置、認証装置、コード発生方法および認証方法 - Google Patents
論理回路、コード発生回路、半導体装置、認証装置、コード発生方法および認証方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2014072827A JP2014072827A JP2012219351A JP2012219351A JP2014072827A JP 2014072827 A JP2014072827 A JP 2014072827A JP 2012219351 A JP2012219351 A JP 2012219351A JP 2012219351 A JP2012219351 A JP 2012219351A JP 2014072827 A JP2014072827 A JP 2014072827A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- code
- data
- output
- circuit
- input
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Abstract
【解決手段】複数のトランジスタPTr11-PTr81,NTr11-NTr81と、複数の入力ノードA,S,Rと、出力ノードX1,X2と、を有し、複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される出力データを出力ノードに出力し、所定の論理演算によれば、複数の入力データを所定の状態にすると、出力データは論理的には不定状態となり、複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタWP,SP,SN,WNを含み、少なくとも1つの出力データは、論理的には不定状態であっても、複数のトランジスタの駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなる論理回路。
【選択図】図3
Description
実施形態の論理回路、コード発生回路、半導体装置、認証装置、暗号処理装置、コード発生方法および認証方法は、半導体装置の複製を難しくすると共に、認証に必要な秘密認証コードの漏洩を難しくして、より確実な認証を実現する。
RSラッチ回路については広く知られているので詳しい説明は省略するが、出力データX1およびX2は、一方が“H”であれば他方は“L”である相補型データである。出力データX1およびX2が同じ値になる状態、具体的には入力データR=“H”および入力データS=“H”で、X1=“H”およびX2=“H”となるため、前記の相補型データという条件は満たさなくなる。さらに、入力データR=“H”および入力データS=“H”で、X1=“H”およびX2=“H”とした後、入力データR=“L”および入力データS=“L”とすると、出力データがどのような状態になるか一定でないという問題があるため、一般のラッチでは禁止入力とされている。したがって、仕様上では、そのような入力データ(R=“H”およびS=“H”)を入力しないようにすることが求められている。
図2に示すように、第1実施形態の論理回路は、4個のNANDゲートNAND1〜NAND4と、4個のインバータInv1〜Inv4と、を有し、図示のように接続されている。NAND1およびNAND2とInv1およびInv2は、図1の一般的なRSラッチ回路を形成している。NAND3は、入力データSをInv3で反転したデータ/Sとコード出力制御データ“A”を入力とし、/SとAのNANDである出力データをInv1に出力する。また、NAND4は、入力データRをInv3で反転したデータ/Rとコード出力制御データ“A”を入力とし、/RとAのNANDである出力データをInv2に出力する。図2に示した第1実施形態の論理回路を、ここでは拡張版RSラッチ回路と称する。
A=“H”の時、S=“H”、R=“L”で、X1=“H”、X2=“L”となる。これをセット(set)動作と称する。
A=“H”の時、S=“L”、R=“H”で、X1=“L”、X2=“H”となる。これをリセット(reset)動作と称する。
A=“H”の時、S=“L”、R=“L”で、前の情報を保持する。
A=“H”の時、S=“H”、R=“H”にすることは、一般のラッチ動作では禁止されている。
図4および図5は、図3の拡張版RSラッチ回路の認証データ出力動作を説明する図である。図4および図5で、実線は“H”の状態の信号線を、破線は“L” の状態の信号線を、それぞれ示す。
ステップ48では、第1実施形態と同様に、ステップS41からS47を繰り返す。
図26の(A)では、第9実施形態のホスト30は、外部からの認証要求と共に入力される認証コードが正規のコードであるか認証する。ホスト30は、半導体装置31を含み、図示していないが他の半導体装置を含んでもよい。半導体装置31は、基準コード記憶回路32と、認証回路33と、認証制御回路34と、を有し、認証処理機能を実現する。基準コード記憶回路32は、外部から入力される認証コードが正規であるか判定するのに必要な基準コードを記憶しており、基準コードの少なくとも一部は、第1実施形態の拡張版RSラッチ回路を利用したコード記憶回路により記憶されている。
図26の(A)に示した第9実施形態の認証システムでは、基準コード記憶回路32は、第1実施形態の拡張版RSラッチ回路を利用したコード記憶回路により基準コードを記憶している。そのため、通常の回路として動作する部分に対して所定のコード読み出し動作を行うことにより出力されるコードを基準コードとして利用しているため、回路内でコードを記憶している部分の特定が難しい。さらに、動作シーケンスも、メモリからのデータの読み出しに比べて複雑であり、コード読み出しのタイミングの特定も難しい。このような理由で、第9実施形態の認証システムは、秘密の基準コードを、これまで以上の高い秘匿性で保持することが可能である。
(付記1)
複数のトランジスタと、
複数の入力ノードと、
少なくとも1つの出力ノードと、を備え、
前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、
前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、
前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、
前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態でも、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなることを特徴とする論理回路。
(付記2)
前記複数のトランジスタは、注入イオン濃度が異なることにより前記駆動能力が異なる付記1記載の論理回路。
(付記3)
当該論理回路は、RSフリップフロップを含む付記1または2記載の論理回路。
(付記4)
コードを発生するコード発生回路であって、
少なくとも1つのコード要素発生回路を備え、
前記コード要素発生回路は、
複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態であっても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなり、
前記コードを、各コード要素発生回路の前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記少なくとも1つのコード要素発生回路の出力データから生成することを特徴とするコード発生回路。
(付記5)
前記複数のトランジスタは、注入イオン濃度が異なることにより前記駆動能力が異なる付記4記載のコード発生回路。
(付記6)
当該論理回路は、RSフリップフロップを含む付記4または5記載のコード発生回路。
(付記7)
複数のコード要素発生回路を含み、
前記複数のコード要素発生回路の出力データから前記コードを生成する付記4から6のいずれか1項記載のコード発生回路。
(付記8)
付記7記載のコード発生回路を含む半導体装置。
(付記9)
基準コードを記憶する基準コード記憶回路と、
前記複数のコード要素発生回路の出力データから生成した認証コードを、前記基準コードと比較して一致するか判定する判定回路と、を備え、
前記判定回路の判定結果が不一致の場合には、内部機能を停止状態にする付記8記載の半導体装置。
(付記10)
前記複数のコード要素発生回路の出力データをシリアルデータに変換するスキャン回路を備え、前記シリアルデータを外部に出力する付記8記載の半導体装置。
(付記11)
前記コード要素発生回路と同じ回路構成で、前記複数の入力データを所定の状態にしても出力データが不定状態であるダミーコード要素発生回路を備え、
前記スキャン回路は、前記ダミーコード要素発生回路の出力データを含めて前記シリアルデータを生成する付記10記載の半導体装置。
(付記12)
前記複数のコード要素発生回路の出力データをパラレルデータとして外部に出力する付記9記載の半導体装置。
(付記13)
前記コード要素発生回路と同じ回路構成で、前記複数の入力データを所定の状態にしても出力データが不定状態であるダミーコード要素発生回路を備え、
前記パラレルデータには、前記ダミーコード要素発生回路の出力が含まれる付記12記載の半導体装置。
(付記14)
前記複数のコード要素発生回路の出力データを暗号化処理する暗号化回路を、備え、
前記暗号化回路で暗号化した前記複数のコード要素発生回路の出力データを、外部に出力する付記8、10から13のいずれか1項記載の半導体装置。
(付記15)
前記複数のコード要素発生回路の出力データと、外部から入力された乱数をハッシュ関数に乗じて、ハッシュ値を算出するハッシュ関数回路を、備え、
前記ハッシュ関数回路で演算したハッシュ値を外部に出力する付記8、10から13のいずれか1項記載の半導体装置。
(付記16)
付記8、10から13のいずれか1項に記載の半導体装置を認証対象とし、認証対象の半導体装置が正規のものであるか認証する認証装置であって、
基準コードを記憶する基準コード記憶回路と、
前記認証対象の半導体装置の出力する前記複数のコード要素発生回路の出力データと、前記基準コードを比較して一致するか判定する判定回路と、を備える認証装置。
(付記17)
付記14記載の半導体装置を認証対象とし、認証対象の半導体装置が正規のものであるか認証する認証装置であって、
基準コードを記憶する基準コード記憶回路と、
前記認証対象の半導体装置の出力する暗号化した前記複数のコード要素発生回路の出力データを解読して復号する復号化回路と、
復号化した前記複数のコード要素発生回路の出力データと、前記基準コードを比較して一致するか判定する判定回路と、を備える認証装置。
(付記18)
付記15記載の半導体装置を認証対象とし、認証対象の半導体装置が正規のものであるか認証する認証装置であって、
基準コードを記憶する基準コード記憶回路と、
乱数を認証対象の半導体装置に送信する乱数送信回路と、
前記乱数をハッシュ関数に乗じて、基準ハッシュ値を算出するハッシュ値算出回路と、
前記認証対象の半導体装置の出力するハッシュ値と、前記基準ハッシュ値を比較して一致するか判定する判定回路と、を備える認証装置。
(付記19)
基準コードを記憶する基準コード記憶回路と、
外部からの認証要求に応じて、前記基準コード記憶回路から読み出した前記基準コードと、前記認証要求に伴い入力される認証コードを比較して一致するか判定する認証回路と、を備え、
前記基準コード記憶回路は、付記7記載のコード発生回路を含むことを特徴とする認証装置。
(付記20)
前記基準コード記憶回路は、
付記7記載のコード発生回路と、
ユーザが設定したユーザ設定コードを記憶するユーザ設定コード記憶回路と、
前記コード発生回路の出力する固定コードおよび前記ユーザ設定コードを合成して合成コードを出力する合成回路と、を備え、
前記合成コードを前記基準コードとして出力する付記19記載の認証装置。
(付記21)
暗号コードを記憶する暗号コード記憶回路と、
外部からの暗号処理要求に応じて、前記暗号コード記憶回路から読み出した前記暗号コードに基づいて、前記暗号処理要求に伴い入力される暗号データを復号判定する復号処理回路と、を備え、
前記暗号コード記憶回路は、付記7記載のコード発生回路を含むことを特徴とする暗号処理装置。
(付記22)
前記暗号コード記憶回路は、
付記7記載のコード発生回路と、
ユーザが設定したユーザ設定暗号コードを記憶するユーザ設定暗号コード記憶回路と、
前記コード発生回路の出力する固定暗号コードおよび前記ユーザ設定暗号コードを合成して合成暗号コードを出力する合成回路と、を備え、
前記合成暗号コードを前記基準コードとして出力する付記21記載の暗号処理装置。
(付記23)
コードを発生するコード発生方法であって、
複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態であっても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなる少なくとも1つのコード要素発生回路に対して、前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記少なくとも1つのコード要素発生回路の出力データから、前記コードを生成することを特徴とするコード発生方法。
(付記24)
前記複数のトランジスタは、注入イオン濃度が異なることにより前記駆動能力が異なる付記23記載のコード発生方法。
(付記25)
当該論理回路は、RSフリップフロップを含む付記23または24記載のコード発生方法。
(付記26)
複数の前記コード要素発生回路の出力データから前記コードを生成する付記23から25のいずれか1項記載のコード発生方法。
(付記27)
記憶されている基準コードを読み出し、
付記26記載のコード発生方法で、認証コードを発生し、
前記認証コードを、前記基準コードと比較して一致するか判定する認証方法。
(付記28)
付記26記載のコード発生方法で、基準コードを発生し、
入力される認証コードを、前記基準コードと比較して一致するか判定する認証方法。
20 半導体装置
21 メインロジック
24 認証コード判定回路
25 REFCODE記憶回路
26 暗号化回路
27 ハッシュ関数処理回路
29 制御回路
30 ホスト
31 半導体装置
32 基準コード記憶回路
33 認証回路
34 認証制御回路
40 ホスト
41 半導体装置
42 通常処理回路
43 暗号コード記憶回路
44 復号処理回路
45 暗号処理制御回路
221−228 拡張版RSラッチ
231−234 拡張版フリップフロップ
PTr11〜PTr81 Pchトランジスタ
NTr11〜NTr81 Nchトランジスタ
Claims (10)
- 複数のトランジスタと、
複数の入力ノードと、
少なくとも1つの出力ノードと、を備え、
前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、
前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、
前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、
前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態でも、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなることを特徴とする論理回路。 - 前記複数のトランジスタは、注入イオン濃度が異なることにより前記駆動能力が異なる請求項1記載の論理回路。
- 当該論理回路は、R−Sフリップフロップを含む請求項1または2記載の論理回路。
- コードを発生するコード発生回路であって、
少なくとも1つのコード要素発生回路を備え、
前記コード要素発生回路は、
複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態を維持しても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなり、
前記コードを、各コード要素発生回路の前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記少なくとも1つのコード要素発生回路の出力データから生成することを特徴とするコード発生回路。 - 複数のコード要素発生回路と、
基準コードを記憶する基準コード記憶回路と、
前記複数のコード要素発生回路の出力データから生成した認証コードを、前記基準コードと比較して一致するか判定する判定回路と、を備え、
前記各コード要素発生回路は、
複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態を維持しても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなり、
前記認証コードを、前記各コード要素発生回路の前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記各コード要素発生回路の出力データから生成し、
前記判定回路の判定結果が不一致の場合には、内部機能を停止状態にする半導体装置。 - 複数のコード要素発生回路と、
前記複数のコード要素発生回路の出力データをシリアルデータに変換するスキャン回路と、を備え、
各コード要素発生回路は、
複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態を維持しても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなり、
前記各コード要素発生回路の前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記複数の要素発生回路の出力データを前記シリアルデータに変換し、
請求項4記載のコード発生回路であり、
前記シリアルデータを外部に出力する半導体装置。 - 認証対象の半導体装置が正規のものであるか認証する認証装置であって、
前記認証対象の半導体装置は、
複数のコード要素発生回路と、
前記複数のコード要素発生回路の出力データをシリアルデータに変換するスキャン回路と、を備え、
各コード要素発生回路は、
複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態を維持しても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなり、
前記各コード要素発生回路の前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記複数の要素発生回路の出力データを前記シリアルデータに変換し、
前記シリアルデータを外部に出力する半導体装置であり、
基準コードを記憶する基準コード記憶回路と、
前記認証対象の半導体装置の出力する前記複数のコード要素発生回路の出力データと、前記基準コードを比較して一致するか判定する判定回路と、を備える認証装置。 - コードを発生するコード発生方法であって、
複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態であっても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなる少なくとも1つのコード要素発生回路に対して、前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記少なくとも1つのコード要素発生回路の出力データから、前記コードを生成することを特徴とするコード発生方法。 - 複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態であっても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなる複数のコード要素発生回路に対して、前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記複数のコード要素発生回路の出力データから認証コードを発生し、
記憶されている基準コードを読み出し、
前記認証コードを、前記基準コードと比較して一致するか判定する認証方法。 - 暗号コードを記憶する暗号コード記憶回路と、
外部からの暗号処理要求に応じて、前記暗号コード記憶回路から読み出した前記暗号コードに基づいて、前記暗号処理要求に伴い入力される暗号データを復号判定する復号処理回路と、を備え、
前記暗号コード記憶回路は、前記暗号コードの少なくとも一部のコードを発生するコード発生回路を含み、
前記コード発生回路は、
少なくとも1つのコード要素発生回路を備え、
前記コード要素発生回路は、
複数のトランジスタと、複数の入力ノードと、少なくとも1つの出力ノードと、を備え、前記複数の入力ノードに入力される複数の入力データに対して、所定の論理演算により決定される少なくとも1つの出力データを、前記少なくとも1つの出力ノードに出力し、前記所定の論理演算によれば、前記複数の入力データを所定の状態にすると、前記少なくとも1つの出力データは論理的には不定状態となり、前記複数のトランジスタは、駆動能力の異なるトランジスタを含み、前記少なくとも1つの出力データは、前記論理的には不定状態を維持しても、前記複数のトランジスタの前記駆動能力が異なることにより、所定の出力データとなり、
前記暗号コードの少なくとも一部のコードを、各コード要素発生回路の前記複数の入力データを所定の状態にして論理的には不定状態になるようにした時の前記少なくとも1つのコード要素発生回路の出力データから生成する、
ことを特徴とする暗号処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012219351A JP2014072827A (ja) | 2012-10-01 | 2012-10-01 | 論理回路、コード発生回路、半導体装置、認証装置、コード発生方法および認証方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012219351A JP2014072827A (ja) | 2012-10-01 | 2012-10-01 | 論理回路、コード発生回路、半導体装置、認証装置、コード発生方法および認証方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2014072827A true JP2014072827A (ja) | 2014-04-21 |
Family
ID=50747619
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012219351A Pending JP2014072827A (ja) | 2012-10-01 | 2012-10-01 | 論理回路、コード発生回路、半導体装置、認証装置、コード発生方法および認証方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2014072827A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014099676A (ja) * | 2012-11-13 | 2014-05-29 | Renesas Electronics Corp | 認証回路 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10178161A (ja) * | 1996-12-19 | 1998-06-30 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体メモリ |
JP2007282095A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Elpida Memory Inc | フリップフロップを用いたパワーオンリセット回路、及びこれを備えた半導体装置 |
WO2012001796A1 (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | 富士通株式会社 | 個体別情報生成装置及び個体別情報生成方法 |
US20120020145A1 (en) * | 2010-06-22 | 2012-01-26 | Infineon Technologies Ag | Identification Circuit and Method for Generating an Identification Bit |
WO2012014291A1 (ja) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | 学校法人立命館 | 耐タンパ性メモリ集積回路およびそれを利用した暗号回路 |
-
2012
- 2012-10-01 JP JP2012219351A patent/JP2014072827A/ja active Pending
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH10178161A (ja) * | 1996-12-19 | 1998-06-30 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体メモリ |
JP2007282095A (ja) * | 2006-04-11 | 2007-10-25 | Elpida Memory Inc | フリップフロップを用いたパワーオンリセット回路、及びこれを備えた半導体装置 |
US20120020145A1 (en) * | 2010-06-22 | 2012-01-26 | Infineon Technologies Ag | Identification Circuit and Method for Generating an Identification Bit |
WO2012001796A1 (ja) * | 2010-06-30 | 2012-01-05 | 富士通株式会社 | 個体別情報生成装置及び個体別情報生成方法 |
WO2012014291A1 (ja) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | 学校法人立命館 | 耐タンパ性メモリ集積回路およびそれを利用した暗号回路 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6016017761; 山本 大 他: 'ラッチの乱数出力位置を利用したPUFによるID生成/認証システムの信頼性向上手法' 2011年 暗号と情報セキュリティシンポジウム SCIS2011 [CD-ROM] 2D1-1, 20110125, p.1-8, 電子情報通信学会情報セキュリティ研究専門委員会 * |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014099676A (ja) * | 2012-11-13 | 2014-05-29 | Renesas Electronics Corp | 認証回路 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10284368B2 (en) | Secure key storage | |
JP3773431B2 (ja) | 鍵実装システムおよびこれを実現するためのlsi、並びに鍵実装方法 | |
US11516027B2 (en) | Method and apparatus for protecting embedded software | |
US8868923B1 (en) | Multi-factor authentication | |
US8848905B1 (en) | Deterrence of device counterfeiting, cloning, and subversion by substitution using hardware fingerprinting | |
JP5770026B2 (ja) | 半導体装置 | |
US7839278B2 (en) | Volatile device keys and applications thereof | |
US8782396B2 (en) | Authentication with physical unclonable functions | |
JP5839659B2 (ja) | 半導体装置 | |
US10771062B1 (en) | Systems and methods for enhancing confidentiality via logic gate encryption | |
JP2014096771A (ja) | 半導体装置及び情報処理システム | |
JP2014089640A (ja) | 半導体装置及び暗号鍵書き込み方法 | |
JP5112555B1 (ja) | メモリカード、ストレージメディア、及びコントローラ | |
JP2013118531A (ja) | メモリ装置 | |
US7913316B2 (en) | Semiconductor integrated circuit and method for testing semiconductor integrated circuit | |
JP2010252305A (ja) | 半導体集積回路及びその制御方法 | |
JP4372061B2 (ja) | 機密情報実装システム及びlsi | |
JP2013117880A (ja) | ホスト装置、システム、及び装置 | |
JP2014072827A (ja) | 論理回路、コード発生回路、半導体装置、認証装置、コード発生方法および認証方法 | |
JP5986279B2 (ja) | 半導体装置 | |
US20220043900A1 (en) | Method and device for authenticating an fpga configuration | |
CN110995447A (zh) | 一种数据存证方法、装置、设备以及介质 | |
Forbes | Digital Logic Protection Using Functional Polymorphism and Topology Hiding | |
KR101688870B1 (ko) | 지연 시간 기반의 물리적인 반도체칩 복제감별장치 및 방법 | |
CN115878036A (zh) | 一种固件存储方法、固件获取方法及ssd |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20150701 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20160418 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20160517 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20160706 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20161206 |