JP2014070925A - テストプラグ - Google Patents

Abstract

【課題】不適切なテストターミナルへの誤挿入を回避し、また、テストターミナルへの抜き差しに伴う短絡・地絡の発生を有効に防止するための機構を備えたテストプラグを提供する。
【解決手段】凹凸に形成されたプラグ挿入口（７）を有するテストターミナル（５）に挿入されるテストプラグ（５０）であって、一端にプラグ挿入口に対応する横断面形状の電極部（４７）を、他端にリード線を接続するための複数の端子部（３７）を有し、該複数の端子部にはスライドすることでこれらを覆うことが可能な端子カバー（５２）が備えられており、該端子カバーには、端子部を覆い端子部にリード線の接続が不可能な状態のときにのみテストターミナルのプラグ挿入口への挿入を許容し、該端子カバーがスライドすることで端子部が露出し端子部にリード線の接続が可能な状態のときにはテストターミナルのプラグ挿入口への挿入を禁止する安全接続機構が設けられている。
【選択図】図６

Description

本発明は、不適当なテストターミナルへの誤挿入を回避し、また、テストターミナルへの抜き差しに伴う短絡・地絡の発生を有効に防止するための機構を備えたテストプラグに関する。

変電所内配電盤等には継電器試験等を行うことを前提として、変流器回路や変圧器回路に計器用変圧器テストターミナル（ＰＴ用のテストターミナル）や計器用変流器テストターミナル（ＣＴ用のテストターミナル）と呼ばれる端子台が組み込まれている。継電器試験により電圧・電流の測定は、このテストターミナルに、計器用変圧器テストプラグ（ＰＴ用のテストプラグ）や計器用変流器テストプラグ（ＣＴ用のテストプラグ）である接続端子を挿入した上で行われる。

図７は従来から用いられているテストターミナルを示す縦断面図である。同図に示すように、このテストターミナル５は、開口部であるプラグ挿入口７を形成した箱体６を有しており、この箱体６内には、接点装置１０がＲ，Ｗ，Ｂ相およびＮ相の各相に対応して並設されている。各接点装置１０は、各相に対応する上下一対の可動接触板である電源側導体１１及び負荷側導体２１で構成されている。

一方、図８に斜視図で示したように、継電器試験等を行う際においてテストターミナル５に挿入されるテストプラグ（ＰＴ用のテストプラグ）３０は、その裏面側となる一端に、絶縁支持体３１から突出した絶縁板３２に、各相に対応するとともに、上下に相互に絶縁された各一対の活線側導体３５Ｒ〜３５Ｎ及び非活線側導体４５Ｒ〜４５Ｎが並設された電極部４７を有ており、表面側となる他端に、それらの基端が接続され同軸状に配設された４組の端子部３７を有している。
継電器試験等の際には、これらの各端子部３７を介して所定の試験装置や測定器が接続される。ここで隣接する相の絶縁板３２間は、相間絶縁部材３３で絶縁されている。

このテストターミナル５には、電源側導体１１に変流器（ＣＴ）が接続される場合と、計器用変圧器（ＰＴ）が接続される場合がある。
ここで、電源側導体１１に変流器（ＣＴ）が接続されるＣＴ用のテストターミナルに挿入するテストプラグは、変流器の２次側が開放されるのを避けるため、複数の短絡片により４個の端子部間を連結接続して各活線側導体間を短絡した状態で使用する必要がある。
一方、電源側導体１１に計器用変圧器（ＰＴ）が接続される、ＰＴ用のテストターミナルに挿入するテストプラグ３０では、前述の如く短絡片で４個の端子部３７間を連結接続した状態で使用した場合には計器用変圧器の短絡事故を起してしまう。
そこで、テストプラグはＣＴ用とＰＴ用との２種類が用意されており、ＣＴ用のテストプラグ３０はＣＴ用のテストターミナルのみに、ＰＴ用のテストプラグはＰＴ用のテストターミナルのみに挿入し得るような構成となっている。

このための具体的な構成を図９及び図１０に基づき説明する。図９はＰＴ用の組み合わせを示すもので、（ａ）はＰＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はそのＸ−Ｘ断面矢視図、（ｃ）はＰＴ用のテストターミナルの正面図である。また、図１０はＣＴ用の組み合わせを示すもので、（ａ）はＣＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はそのＸ−Ｘ断面矢視図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルの正面図である。なお、両図中、図７及び図８と同一部分には同一番号を付し、重複する説明は省略する。

図９に示すように、ＰＴ用のテストプラグ３０は、その３個の相間絶縁部材３３のうち中央の１個の表面から突出する凸部３３ｂを有している。一方、ＰＴ用のテストターミナル５には、ＰＴ用のテストプラグ３０の挿入の際に凸部３３ｂと干渉しない位置にプラグ挿入口７に突出する凸部７ａ，７ｃが形成してある。
また、図１０に示すように、ＣＴ用のテストプラグ３０は、その３個の相間絶縁部材３３のうち両端の２個の表面から突出する凸部３３ａ，３３ｃを有している。一方、ＣＴ用のテストターミナル５には、ＣＴ用のテストプラグ３０の挿入の際に凸部３３ａ，３３ｃと干渉しない位置にプラグ挿入口７に突出する凸部７ｂが形成してある。

かくして、ＣＴ用のテストプラグ３０をＰＴ用のテストターミナル５に挿入しようとしても凸部３３ａ，３３ｃと凸部７ａ，７ｃとが干渉することでこの挿入を阻止するとともに、ＰＴ用のテストプラグ３０をＣＴ用のテストターミナル５に挿入しようとしても凸部３３ｂと凸部７ｂとが干渉することでこの挿入を阻止するようになっている。

この結果、ＰＴ用のテストターミナルにはＰＴ用のテストプラグのみを、ＣＴ用のテストターミナルにはＣＴ用のテストプラグのみが挿入可能となるため、間違った挿入が物理的に禁止される。

図１１にテストターミナルにテストプラグを挿入する様子を部分断面図で示した。

なお、この種のテストプラグを開示する公知刊行物として次の特許文献１が存在する。

特開２００７−１４７３７２号公報

しかしながら、このようなテストターミナルのプラグ挿入口およびテストプラグの横断面形状の工夫では誤挿入自体は防止できるものの、テストプラグの端子部にリード線を接続したままでの抜き挿しを禁止することができないという問題があった。すなわち、例えばＰＴ用のテストプラグをＰＴ用のテストターミナルに抜き挿しする場合には、短絡および地絡の発生を回避するためにＰＴ用のテストプラグの端子部からリード線は取り外されていなければならないが、従来のＰＴ用のテストプラグにリード線が接続されたままでの抜き挿しを禁止する対策はなされておらず、継電器試験等において短絡や地絡が発生するおそれがあった。

本発明は上記問題を解決するために発案されたものであり、継電器試験等においてテストターミナルへのテストプラグの誤挿入を回避するのみならず、テストプラグにリード線が接続されたままでの抜き挿し等を禁止することが可能なテストプラグを提供することをその目的とする。

上記目的を達成するため本発明は、凹凸に形成されたプラグ挿入口（７）を有するテストターミナル（５）に挿入されるテストプラグ（５０）であって、一端にプラグ挿入口に対応する横断面形状の電極部（４７）を、他端にリード線を接続するための複数の端子部（３７）を有し、該複数の端子部にはスライドすることでこれらを覆うことが可能な端子カバー（５２）が備えられており、該端子カバーには、端子部を覆い端子部にリード線の接続が不可能な状態のときにのみテストターミナルのプラグ挿入口への挿入を許容し、該端子カバーがスライドすることで端子部が露出し端子部にリード線の接続が可能な状態のときにはテストターミナルのプラグ挿入口への挿入を禁止する安全接続機構が設けられている、ことを特徴とするテストプラグを提供する。

ここで、前記テストターミナル（５）のプラグ挿入口（７）に前記電極部（４７）を挿入し、前記端子カバー（５２）をスライドさせて端子部を露出させたときには、テストターミナルからの電極部の引き抜きを禁止する引き抜き禁止機構が設けられている、ことが好ましい。

また、前記テストターミナル（５）の最深部にまで前記電極部（４７）が挿入されたときにのみ前記端子カバー（５２）のスライドを許容し、端子部（３７）を露出させることでリード線の接続を可能な状態とするスライド許容機構が設けられている、ことが好ましい。

本発明のテストプラグでは、テストプラグの端子部を覆うことができるスライド式の端子カバーを設け、端子部がカバーに覆われておらずリード線を接続可能な状態の時にはテストターミナルのプラグ挿入口にテストプラグを挿入することができないようにする安全接続機構を備えてやることで、テストプラグの誤挿入を防止するとともに、テストプラグの端子部にリード線を接続したままでの抜き挿しを物理的に不可能とし、これにより継電器試験等における短絡や地絡の発生を有効に防止することができる。

ここで、テストターミナルへのテストプラグの挿入が適正に完了した状態で、端子カバーをスライドさせて端子部を露出させた場合に、テストターミナルからのテストプラグの引き抜きを禁止する引き抜き禁止機構を備えてやることで、継電器試験等の実施中に不用意にテストプラグを引き抜いてしまうことを物理的に不可能とし、これにより適正な試験の実施を図ることができる。

また、テストターミナルへのテストプラグの挿入が適正に完了した場合にのみ端子カバーのスライドを許容して端子部にリード線の接続を可能とするスライド許容機構を備えてやることで、不完全な挿入状態でのリード線の接続を物理的に不可能とし、これにより継電器試験等の適正な実施を図ることができる。

本実施例のテストプラグの端子カバーの斜視図である。 端子カバーの構造を示すための一部透視・分解斜視図である。 テストプラグの電極部から活線側導体，非活線側導体を取り去った状態の斜視図である。 （ａ）テストプラグの平面図、（ｂ）Ｙ−Ｙ矢視図および部分拡大図である。 端子カバーのスライドにより長凸部が押し上げられる様子を示した部分断面図である。 端子カバーのスライドにより長凸部が押し上げられる様子を示した斜視図である。 従来から用いられているテストターミナルを示す縦断面図である。 従来から用いられているテストプラグを示す斜視図である。 従来技術に係るＰＴ用のテストプラグとテストターミナルとの組み合わせを示す図で、（ａ）はＰＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はそのＸ−Ｘ断面図、（ｃ）はＰＴ用のテストターミナルの正面図である。 従来技術に係るＣＴ用のテストプラグとテストターミナルとの組み合わせを示す図で、（ａ）はＣＴ用のテストプラグの平面図、（ｂ）はそのＸ−Ｘ断面図、（ｃ）はＣＴ用のテストターミナルの正面図である。 テストターミナルにテストプラグを挿入する様子を示した部分断面図である。

以下本発明の実施の形態を図面に基づき説明する。なお、従来技術と同一の構造については同一番号を付すことで重複する説明を省略する。本実施例ではＰＴ用のテストプラグを例に説明を行うものとする。

図１は本実施例のテストプラグの端子カバーの斜視図であり、図２は端子カバーの構造を示すための一部透視斜視図である。

本実施例のテストプラグは、電極部４７を挿入するための挿入口に凸部７ａ，７ｃが形成された上述した従来のＰＴ用のテストターミナル５に挿入されて使用されるものであり、後述する安全接続機構、引き抜き禁止機構、スライド許容機構が設けられていることをその特徴としている。

図１に示すように、このＰＴ用のテストプラグ５０は、従来と同様に、絶縁支持体３１の一端側に電極部４７を構成する絶縁板３２、相間絶縁部材３３、活線側導体３５Ｒ〜３５Ｎ、非活線側導体４５Ｒ〜４５Ｎと、他端側に端子部３７を有している。そして電極部４７中央の相間絶縁部材３３の上面にはＰＴ用の長凸部５３ｂが形成されている。

上述のように、このＰＴ用の凸部５３ｂは、ＰＴ用のテストプラグ５０の電極部４７をＰＴ用のテストターミナル５（図９（ｃ）参照）の挿入口から挿入する場合、挿入口の内部に形成されたＰＴ用のテストターミナル５の凸部７ａ，７ｃと干渉することなく電極部４７の挿入を通常は許容するが、ＣＴ用のテストターミナル５（図１０（ｃ）参照）の挿入口から挿入しようとする場合、挿入口の内部に形成されたＣＴ用のテストターミナル５の凸部７ｂと干渉して電極部４７の挿入を禁止するものである。

ここで本実施例のＰＴ用のテストプラグ５０には、スライドすることで端子部３７に被さるように覆うことが可能な端子カバー５２が備えられている。そしてこのＰＴ用のテストプラグ５０には、端子カバー５２が端子部３７を覆い、端子部３７に図示しないリード線の接続が不可能な状態のときにのみＰＴ用のテストターミナル５のプラグ挿入口７への挿入を許容し、端子カバー５２がスライドすることで端子部３７が露出し端子部３７にリード線の接続が可能な状態のときにはＰＴ用のテストターミナル５のプラグ挿入口７への挿入を禁止する安全接続機構が設けられている。
またこのＰＴ用のテストプラグ５０には、ＰＴ用のテストターミナル５のプラグ挿入口７に電極部４７を挿入し、端子カバー５２をスライドさせて端子部３７を露出させたときには、ＰＴ用のテストターミナル５からの電極部４７の引き抜きを禁止する引き抜き禁止機構が設けられている。
さらにこのＰＴ用のテストプラグ５０には、ＰＴ用のテストターミナル５のプラグ挿入口７の最深部にまで電極部４７が挿入されたときにのみ端子カバー５２のスライドを許容し、端子部３７を露出させることでリード線の接続を可能な状態とするスライド許容機構が設けられている。

この端子カバー５２は図２に透視斜視図で示したように、直方体形状の絶縁支持体３１の側面外周を覆うように形成された矩形断面の枠体７０と、枠体７０の蓋となりまた端子部３７に対応した位置に丸穴７３が形成された蓋体７１と、枠体７０の左右の壁面をその上下方向中央部分、前後方向後ろ寄り部分で連結する連結棒７２と、連結棒７２の中央部から直角に電極方向（前後方向）に伸長する操作ロッド７４から形成されている。なおこの枠体７０、蓋体７１、連結棒７２、操作ロッド７４はいずれも絶縁材料でできており、これらは一体的に形成されていてもよいし別体形成したものを組み立てたものであってもよい。
端子カバー５２は絶縁支持体３１の側面外周に沿って電極部４７の伸長方向（前後方向）へスライド移動するものであり、枠体７０、蓋体７１やそのスライド移動に伴って前後方向に動く連結棒７２と操作ロッド７４は、安全接続機構、引き抜き禁止機構およびスライド許容機構の一部をなしている。

絶縁支持体３１には、絶縁支持体を左右方向に貫通する前後方向に２ｃｍ程度の長さで伸びる貫通長孔７９がその上下方向中央部分に形成されており、端子カバー５２の連結棒７２がこの貫通長孔７９内を摺動するように伸長することで、絶縁支持体３１の側面に沿った枠体７０の前後方向のスライド移動が所定の範囲に規制される。なお前述のように絶縁支持体３１の前面側には端子部３７が、裏面側には電極部４７が設けられているが、端子部３７と電極部４７の活線側導体および非活線側導体との接続は、連結棒７２と操作ロッド７４の前後方向への移動を妨げないように絶縁支持体３１内部で迂回処理されている。

連結棒７２から直角に伸びる操作ロッド７４は長さが７ｃｍ程度、幅が１ｃｍ程度の薄板であり、枠体７０のスライド移動に伴って、電極部４７の活線側導体間に３つ並列する相間絶縁部材３３のうち中央の相間絶縁部材（「中央上層相間絶縁部材７５」という。）の下層位置で中央上層相間絶縁部材７５の一部と接しながら前後方向に動くようになっている。

図３にテストプラグ５０の電極部４７から活線側導体３５Ｒ〜３５Ｎ，非活線側導体４５Ｒ〜４５Ｎを取り去った状態の斜視図を示した。
図に示すように中央上層相間絶縁部材７５は、絶縁板３２および他の相間絶縁部材３３が一塊として形成されているのに対し、その左右に切り込みが入れられることで、長さが７ｃｍ程度で、幅が１ｃｍ弱の薄板状の片持ち梁のごとく形成されており可撓性を有している。また中央上層相間絶縁部材７５の上面には、その先端から基端寄りの部分にかけて３ｍｍ程度の高さで突起する扁平直方体形状の長凸部７８が設けられている（長凸部の形成範囲については後述）。なおこの中央上層相間絶縁部材７５および長凸部７８も安全接続機構、引き抜き禁止機構およびスライド許容機構の一部をなしている。
そして中央上層相間絶縁部材７５の下層に位置する操作ロッド７４の後ろ方向のスライドによって、この中央上層相間絶縁部材７５および長凸部７８が４ｍｍ程度押し上げられるようになっている。

図４（ａ）にテストプラグ５０の平面図、図４（ｂ）にＹ−Ｙ矢視図、図５に端子カバーのスライドにより長凸部７８が押し上げられる様子を部分断面図で、図６に斜視図で示した。なお図６では理解容易のため端子カバー５２の蓋体７１を取り去った状態を表している。
すなわち、図２の斜視図および図５の部分断面図に示すように操作ロッド７４の上面にはその先端部と基端寄りの部分に、操作ロッド７４先端側から基端側に向かって２ｍｍ程度の高さとなるテーパー状に形成された第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂが形成されており、また、中央上層相間絶縁部材７５の下面には、操作ロッド７４が後ろ方向にスライドして差し込まれた際の第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂに対応する位置に、中央上層相間絶縁部材７５の基端側から先端側に向かって２ｍｍ程度の高さとなるテーパー状に形成された第二先端突起７５ａおよび第二基端突起７５ｂが形成され、さらに、操作ロッド７４の下面には絶縁板３２と一体形成された中央下層相間絶縁部材３３’が配されている（これらは安全接続機構等の一部をなしている。）。
そのため、枠体７０を後ろ方向にスライドさせると、操作ロッド７４もこれに伴い移動し、操作ロッド７４のテーパー状に形成された第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂがそれぞれ中央上層相間絶縁部材７５の第二先端突起７５ａおよび第二基端突起７５ｂと接しながらその下側に入り込むことで、中央上層相間絶縁部材７５が撓むようにして４ｍｍ程度押し上げられる。
逆にこの状態から枠体７０を前方向にスライドさせると、操作ロッド７４の第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂが中央上層相間絶縁部材７５の第二先端突起７５ａおよび第二基端突起７５ｂが下側から引き抜かれ、中央上層相間絶縁部材７５の撓みが解消されて直線状となりその押し上げも解消される。

以上のように構成された端子カバー５２およびそのそのスライド移動に伴って前後方向に動く連結棒７２および操作ロッド７４と、操作ロッド７４の操作により上下動する中央上層相間絶縁部材７５および長凸部７８とがどのように安全接続機構、引き抜き禁止機構およびスライド許容機構として機能するかについて以下に説明する。

［安全接続機構について］
安全接続機構とは、前述のように端子カバー５２が端子部３７を覆い端子部３７にリード線の接続が不可能な状態のときにのみテストターミナル５のプラグ挿入口７への挿入を許容し、端子カバー５２がスライドすることで端子部３７が露出し端子部３７にリード線の接続が可能な状態のときにはテストターミナル５のプラグ挿入口７への挿入を禁止する機構である。
すなわち端子カバー５２が端子部３７を覆っていない状態では連結棒７２は絶縁支持体の後側に位置し、操作ロッド７４も中央上層相間絶縁部材７５の下層の後側にスライドして位置するため、操作ロッド７４の第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂが中央上層相間絶縁部材７５の第二先端突起７５ａおよび第二基端突起７５ｂの下側に入り込むことで、長凸部７８は押し上げられた状態となっている。この状態では、ＰＴ用のテストプラグ５０の電極部４７をＰＴ用のテストターミナル５のプラグ挿入口７に挿入しようとしても、この長凸部７８が挿入口内に形成された凸部７ｂに干渉しその挿入をすることができない。逆に、端子カバー５２を引っ張り端子部３７をこれで覆い、これに伴って操作ロッド７４を中央上層相間絶縁部材７５の下層の手前側にスライドさせて、操作ロッド７４の第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂを中央上層相間絶縁部材７５の第二先端突起７５ａおよび第二基端突起７５ｂの下側から引き抜いてやると、中央上層相間絶縁部材７５や長凸部７８は通常の位置（押し上げられていない位置）となるため、長凸部７８が挿入口内に形成された凸部７ａに干渉することなくその挿入をすることができるようになる。
このように、端子カバー５２が端子部３７を覆った状態のときにのみ、テストプラグ５０の電極部４７のテストターミナル５の挿入口への挿入を可能とすることで、端子部３７にリード線が接続された状態でのテストプラグ５０の挿入を禁止して、短絡および地絡の発生を有効に回避することができる。

［引き抜き禁止機構について］
引き抜き禁止機構とは、テストターミナル５のプラグ挿入口７に電極部４７を挿入し、端子カバー５２をスライドさせて端子部３７を露出させたときには、テストターミナル５からの電極部４７の引き抜きを禁止する機構である。
テストターミナル５のプラグ挿入口７にテストプラグ５０の電極部４７を挿入した後には、テストプラグ５０と試験装置や測定器と接続するために端子部３７にリード線を接続する必要がある。そのため端子カバー５２をテストプラグ５０の絶縁支持体の後側にスライド移動させることで端子部３７が露出される。このとき操作ロッド７４の第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂが中央上層相間絶縁部材７５の第二先端突起７５ａおよび第二基端突起７５ｂが下側に入り込むことで、長凸部７８は押し上げられた状態となる。ここでこの長凸部７８は電極部４７を挿入口からその最深部に差し込んだ状態で、中央上層相間絶縁部材７５の先端近傍からプラグ挿入口７の奥側に形成された凸部７ａの近傍までの形成されているため、長凸部７８が押し上げられた状態でテストプラグ５０の電極部４７をテストターミナル５のプラグ挿入口７から引き抜こうとしても、凸部７ａと長凸部７８とが干渉するため引き抜くことはできない。すなわちテストプラグ５０を引き抜くためには、中央上層相間絶縁部材７５や長凸部７８が通常位置（押し上げられていない位置）にある必要があるため、端子カバー５２を引っ張り端子部３７を端子カバー５２で覆うようにすることで、操作ロッド７４を中央上層相間絶縁部材７５の下層の手前側にスライドさせ、操作ロッド７４の第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂを中央上層相間絶縁部材７５の第二先端突起７５ａおよび第二基端突起７５ｂが下側から引き抜いてやる必要がある。すなわち端子部３７が露出して端子部３７にリード線が接続可能な状態の時に、テストターミナル５からの電極部４７の引き抜きは禁止されるのである。
このように、端子カバー５２が端子部３７を覆っておらず、端子部３７が露出し状態のときに、テストプラグ５０の電極部４７がテストターミナル５から引き抜くことができないようにすることで、端子部３７にリード線が接続されたままでのテストプラグ５０の抜き挿しを禁止して、短絡および地絡の発生を有効に回避することができる。

［スライド許容機構について］
スライド許容機構とは、テストプラグ５０の電極部４７がテストターミナル５の最深部にまで挿入されたときにのみ端子カバー５２のスライドを許容し、端子部３７を露出させることでリード線の接続を可能な状態とする機構である。
テストターミナル５のプラグ挿入口７にテストプラグ５０の電極部４７を挿入していくとき、すなわち端子カバー５２が端子部３７を覆っており、中央上層相間絶縁部材７５や長凸部７８が通常位置（押し上げられていない位置）にある状態では凸部７ａと長凸部７８とは干渉することはないが、近接しまたは接触した状態となっている。そのためこの状態で端子カバー５２をスライドさせ、操作ロッド７４の第一先端突起７４ａおよび第一基端突起７４ｂが中央上層相間絶縁部材７５の第二先端突起７５ａおよび第二基端突起７５ｂが下側に入り込ませようとしても、長凸部７８は凸部７ａに邪魔されて押し上げることができず、結果として端子カバー５２の押し込み方向へのスライド移動が禁止される。しかしながら、電極部４７がテストターミナル５の最深部にまで挿入されると、長凸部７８は凸部７ａの下を通り抜けるため、この状態であれば長凸部７８は凸部７ａに邪魔されずに押し上げられることができる。
このように、テストプラグ５０が完全にテストターミナル５に挿入されたときにのみ、端子カバー５２の押し込み方向のスライドを許容して端子部３７を露出させリード線の接続を可能とすることで、確実な接続を担保してテストの適正な実施を図ることができる。

以上説明したように、本発明のテストプラグでは、従来のテストターミナルに改変を要することなく、テストプラグのみの改変により、安全接続機構、引き抜き禁止機構、スライド許容機構を備えてやることで、テストターミナルへのテストプラグの不適切な状態での抜き差しを物理的に禁止して短絡・地絡の発生を有効に防止し、試験の適正な実施を担保することができる。

なお以上の説明ではＰＴ用のテストプラグを例として説明したが、テストプラグはこれに限られるものではなく、ＣＴ用のテストプラグなどについても本発明を応用して適用することができるのは勿論である。

５ テストターミナル
６ 箱体
７ プラグ挿入口
７ａ，７ｂ，７ｃ 凸部
１０ 接点装置
１１ 電源側導体
２１ 負荷側導体
３０ テストプラグ
３１ 絶縁支持体
３２ 絶縁板
３３ 相間絶縁部材
３３’ 中央下層相間絶縁部材
３３ａ，３３ｂ，３３ｃ 凸部
３５Ｒ〜３５Ｎ 活線側導体
４５Ｒ〜４５Ｎ 非活線側導体
３７ 端子部
４７ 電極部
５０ テストプラグ
５２ 端子カバー
５３ｂ 凸部
７０ 枠体
７１
７２ 連結棒
７３
７４ 操作ロッド
７４ａ 第一先端突起
７４ｂ 第一基端突起
７５ 中央上層相間絶縁部材
７５ａ 第二先端突起
７５ｂ 第二基端突起
７８ 長凸部
７９ 貫通長孔

Claims (3)

1. 凹凸に形成されたプラグ挿入口（７）を有するテストターミナル（５）に挿入されるテストプラグ（５０）であって、
   一端にプラグ挿入口に対応する横断面形状の電極部（４７）を、他端にリード線を接続するための複数の端子部（３７）を有し、
   該複数の端子部にはスライドすることでこれらを覆うことが可能な端子カバー（５２）が備えられており、
   該端子カバーには、端子部を覆い端子部にリード線の接続が不可能な状態のときにのみテストターミナルのプラグ挿入口への挿入を許容し、該端子カバーがスライドすることで端子部が露出し端子部にリード線の接続が可能な状態のときにはテストターミナルのプラグ挿入口への挿入を禁止する安全接続機構が設けられている、ことを特徴とするテストプラグ。
2. 前記テストターミナル（５）のプラグ挿入口（７）に前記電極部（４７）を挿入し、前記端子カバー（５２）をスライドさせて端子部を露出させたときには、テストターミナルからの電極部の引き抜きを禁止する引き抜き禁止機構が設けられている、ことを特徴とする請求項１に記載のテストプラグ。
3. 前記テストターミナル（５）の最深部にまで前記電極部（４７）が挿入されたときにのみ前記端子カバー（５２）のスライドを許容し、端子部（３７）を露出させることでリード線の接続を可能な状態とするスライド許容機構が設けられている、ことを特徴とする請求項１又は２に記載のテストプラグ。