JP2014035378A - マッハツェンダ型マルチチップモジュールおよびその実装方法 - Google Patents

マッハツェンダ型マルチチップモジュールおよびその実装方法 Download PDF

Info

Publication number
JP2014035378A
JP2014035378A JP2012175405A JP2012175405A JP2014035378A JP 2014035378 A JP2014035378 A JP 2014035378A JP 2012175405 A JP2012175405 A JP 2012175405A JP 2012175405 A JP2012175405 A JP 2012175405A JP 2014035378 A JP2014035378 A JP 2014035378A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveguide
optical
waveguides
spectrum
input port
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012175405A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5839585B2 (ja
Inventor
Satomi Katayose
里美 片寄
Yasuaki Hashizume
泰彰 橋詰
Yusuke Nasu
悠介 那須
Mikitaka Itou
幹隆 井藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2012175405A priority Critical patent/JP5839585B2/ja
Publication of JP2014035378A publication Critical patent/JP2014035378A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5839585B2 publication Critical patent/JP5839585B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Optical Integrated Circuits (AREA)

Abstract

【課題】異種材料からなるマルチチップ光デバイスにおける、ギャップによる位相誤差を抑制し、かつ反射戻り光の影響が抑制された低コストかつ簡便に実装可能な光デバイスとその実装方法を提供すること。
【解決手段】2本の導波路のそれぞれに設けられた位相シフタ103を備えたシリコン光回路101、その両端に接続された第1の方向性結合器106aを備えた石英系PLC102a、および第2の方向性結合器106aを備えた石英系PLC102bの3チップ構成の光スイッチである。シリコン光回路101、石英系PLC102a、102bの入出力ポート付近の各導波路は、基板端面に対して垂直に形成され、伝搬光を基板端面に対して垂直に出射する。また、シリコン光回路101、石英系PLC102a、102bは、石英と同等の屈折率を有する接着剤107によってギャップ108a〜108dが等しくなるよう接合されている。
【選択図】図1

Description

本発明は、ROADM(Reconfigurable Optical Add Drop Multiplexing)システム用の光スイッチに関するものであり、マッハツェンダ干渉計型マルチチップモジュールとその実装方法に関する。
今日、光通信や光信号処理の高度化に伴い、高機能な光回路の実現が求められている。高機能な動作を実現する手段の1つは、異種材料の導波路を組み合わせた構成にすることである。
図5に、従来のマルチチップ光回路の構成図を示す。この光回路は、ニオブ酸リチウム(LN:LiNbO)導波路501と石英系導波路からなる平面光波回路(PLC:Planar Lightwave Circuit)502a、502bを組み合わせた多値変調器である。
ここでは、位相シフタ503部分にのみLN基板に導波路を形成したLN導波路501を用い、引き回しのための光導波路には石英系のPLC502a、502bを用いている。電気光学効果を用いた高速変調機能の実績があるLN回路と、パッシブな光導波路として実績のある石英系PLCとを組み合わせて高機能化や多チャネル化を図っており、今後、このような高機能回路の実用化が進んでいくと予想する。
例えば、光スイッチとしては、シリコン光回路と石英系PLCを組み合わせた構成が有力である。構成としては、マッハツェンダ型の干渉計型を用い、位相シフタ部分にのみシリコン導波路を用い、他の部分の光導波路には石英系のPLCを用いる。シリコンは石英に比べ約20倍大きな熱光学係数を有しているため、石英のみで構成された熱光学光スイッチに比べ消費電力を約1/20に抑えることができる。また、光ファイバ接続部や方向性結合器(カプラー)には石英系PLCを用いるため、シリコン導波路のみで構成されたスイッチに比べ挿入損失を低減することができる。
図6に、LN導波路と石英系PLCを組み合わせてLN−PLCデバイスとするための実装方法の説明図を示す。LN−PLCデバイスでは、それぞれの基板を接続する際、あらかじめ各基板の両端にカプラーのない直線のリファレンス回路603を設け、入力ポート(導波路の入力口)から入射した光信号608の出力光を大口径PD607で受け、両端のリファレンス回路603の出力がそれぞれ最大になる位置で調芯した後、UV接着剤605によりLN導波路601と石英系PLC602とを接合する。
また、LN導波路601と石英系PLC602との接続部においては、光入射端部や光出射端部などの光導波路端部からの反射戻り光が光源へ与える影響を小さく抑えるために、図5に示すように、上面から見たときに、接続端面に対して導波路を斜めとする斜め入射導波路504とすることが一般的である。あるいは、図7に示すように、導波路に対して接続端面を斜め研磨加工して導波路を接続することにより反射を防止する構造を取ることもある。
図8に、LN−PLCマルチチップデバイスの実装方法をシリコン光回路801と石英系PLC802を組み合わせた光スイッチに適用した場合の説明図を示す。シリコンは屈折率が高いためシリコン光回路801のモードフィールド径が小さい。
したがって、シリコン光回路801と石英系PLC802との接続損失は、位置ずれに敏感で、リファレンス回路803を用いての調芯では十分な接続精度が得られず、位置ずれにより接続損失が大きくなる。
加えて、図8に示すように、シリコン光回路801のポートと石英系PLC802のポートとが接着剤を介して突き合わされたポート対毎に、異なるギャップ809a、809bが生じて位相誤差が発生するという課題があった。そのため、リファレンス回路ではなく、本回路である導波路804〜806において出力を測定しながら調芯する必要がある。
しかしながら、シリコン光回路801と石英系PLC802との接続の際、カプラー806で分岐し位相シフタ805へ結合した光は、シリコン光回路801の両ポートから大口径PD812に出力されるが、同一面上におけるポート間の間隔が狭いために、各ポートの光信号出力を分別することが難しく、本回路の調芯が困難であるという課題があった。
また、シリコン光回路801と石英系PLC802の間では、図7に示すように反射戻り光の抑制のため端面を斜めにし、導波路を接続している。しかしながら、シリコン−PLCデバイスでは、シリコンの屈折率が3.5、石英系PLCの屈折率が1.45と材料間の屈折率差が大きいため反射戻り光が大きく、端面を斜めにしても反射戻り光の再結合が発生するため、端面の斜め加工に加え、端面に反射防止膜の形成が必要など、プロセスおよび実装が煩雑となる課題があった。
そのため、本回路の光信号をモニタしながらの高精度で低損失な接続が可能な実装方法、および異種材料間の屈折率差が大きい場合の反射戻り光の抑制方法の提案が望まれていた。
本発明は、このような課題に鑑みてなされたもので、その目的とするところは、異種材料からなるマルチチップ光デバイスにおける、ギャップによる位相誤差を抑制し、かつ反射戻り光の影響が抑制された低コストかつ簡便に実装可能な光デバイスとその実装方法を提供することにある。
上記の課題を解決するために、請求項1に記載の発明は、方向性結合器を構成する材料Aからなる第1の導波路を備えた第1の光回路と、位相シフタを備えた材料Bからなる第2の導波路を備えた第2の光回路と、方向性結合器を構成する材料Aからなる第3の導波路を備えた第3の光回路とを結合したマッハツェンダ型マルチチップモジュールであって、前記第1ないし第2の導波路の各々が、光路長が等しく、伝搬光を前記平面光回路の端面に対して垂直に出射する2本の光導波路からなり、前記第1の導波路の2本の光導波路と前記第2の導波路の光導波路とが、同じ厚みの材料Aと同等の屈折率を有する接着剤によって接合され、前記第2の導波路の2本の光導波路と前記第3の導波路の2本の光導波路とが、同じ厚みの材料Aと同等の屈折率を有する接着剤によって接合されたことを特徴とする。
請求項2に記載の発明は、請求項1に記載のマッハツェンダ型マルチチップモジュールにおいて、前記材料Aは石英ガラスであり、前記材料Bはシリコンであることを特徴とする。
請求項3に記載の発明は、マルチチップモジュールの実装方法であって、前記マルチチップモジュールが、方向性結合器を構成する材料Aからなる第1の導波路を備えた第1の光回路と、材料Bからなる第2の導波路を備えた第2の光回路とを結合したものであり、前記第1および第2の導波路の各々が、光路長が等しく、伝搬光を前記平面光回路の端面に対して垂直に出射する2本の光導波路からなる場合、前記第1の導波路単体で、前記第1の導波路の一方の入力ポートから光を入射し、前記第1の導波路の他方の入力ポートから出射される、前記第1の導波路と空気との界面での反射戻り光のスペクトルの波長依存性を計測し、前記第1の導波路の2本の光導波路と前記第2の導波路の2本の光導波路とを材料Aと同等の屈折率を有する接着剤によって接合するとき、前記第1の導波路の一方の入力ポートから光を入射し、前記第1の導波路の他方の入力ポートから出射される光のスペクトルを測定し、前記出力光信号の強度が最大、かつ前記第1の導波路単体でのスペクトルの波長依存性が前記反射戻り光のスペクトルの波長依存性に最も近くなるように調芯することを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、請求項3に記載のマルチチップモジュールの実装方法において、前記マルチチップモジュールが、方向性結合器を構成する材料Aからなる第3の導波路を前記第2の導波路にさらに結合したものであり、前記第3の導波路が、光路長が等しく、伝搬光を前記平面光回路の端面に対して垂直に出射する2本の光導波路からなる場合、前記第3の導波路単体で、前記第3の導波路の一方の入力ポートから光を入射し、前記第3の導波路の他方の入力ポートから出射される、前記第3の導波路と空気との界面での反射戻り光のスペクトルの波長依存性を計測し、前記第2の導波路の2本の光導波路と前記第3の導波路の2本の光導波路とを材料Aと同等の屈折率を有する接着剤によって接合するとき、前記第3の導波路の一方の入力ポートから入力光信号を入射し、前記第3の導波路の他方の入力ポートから出射される光のスペクトルを測定し、前記出力光信号の強度が最大、かつ前記スペクトルの波長依存性が前記第3の導波路単体での反射戻り光のスペクトルの波長依存性に最も近くなるように調芯することを特徴とする。
請求項5に記載の発明は、請求項3又は4に記載のマルチチップモジュールの実装方法において、前記材料Aは石英ガラスであり、前記材料Bはシリコンであることを特徴とする。
本発明は、反射戻り光の影響が無視でき、端面の斜め加工や反射防止膜の形成をせずとも、原理的に反射減衰量を無限大にする効果を奏する。
本発明の一実施形態に係るマッハツェンダ型マルチチップ光スイッチの回路構成図である。 シリコン−PLCマルチチップデバイスにおける反射戻り光を示す図である。 石英導波路単体で発生する反射戻り光のスペクトル測定方法の説明図である。 石英導波路とシリコン導波路とを接合した回路で発生する反射戻り光のスペクトル測定方法の説明図である。 従来のマルチチップ光回路の構成図である。 LN導波路と石英系PLCを組み合わせてLN−PLCデバイスとするための実装方法の説明図である。 LN−PLCマルチチップデバイスの斜め端面接続の概略図である。 LN−PLCマルチチップデバイスの実装方法をシリコン光回路と石英系PLCを組み合わせた光スイッチに適用した場合の説明図である。
以下、本発明の実施の形態について、詳細に説明する。
(構成)
図1に、本発明の一実施形態に係るマッハツェンダ型マルチチップ光スイッチの回路構成図を示す。このマッハツェンダ型マルチチップ光スイッチは、光ファイバ109から回路に入力された光信号を所望の出力ポート(導波路の出力口)に出力する機能を有する。
このマッハツェンダ型マルチチップ光スイッチは、2本の導波路のそれぞれに設けられた位相シフタ103を備えたシリコン光回路101、その両端に接続された第1の方向性結合器106aを備えた石英系PLC102a、および第2の方向性結合器106bを備えた石英系PLC102bの3チップ構成の光スイッチである。
シリコン光回路101、石英系PLC102a、102bの入出力ポート付近の各導波路は、基板端面に対して垂直に形成され、伝搬光を基板端面に対して垂直に出射する。また、シリコン光回路101、石英系PLC102a、102bは、石英と同等の屈折率を有する接着剤107によって、ギャップ108a、108bが等しく、ギャップ108c、108dが等しくなるよう接合されている。ギャップ108a、108bとギャップ108c、108dは必ずしも等しい必要はない。
石英系PLC102aの2本の入力導波路104から入射した光は、第1の方向性結合器106aで合分波され、シリコン光回路101の2本の導波路のそれぞれに設けられた位相シフタ103に導波される。位相シフタ103であるシリコン導波路を伝搬した光は、石英系PLC102bの第2の方向性結合器106bで合分波されて2本の出力導波路105から光ファイバ110に出射される。
尚、図1では図示していないが、位相シフタ103はシリコン導波路上部に薄膜ヒータを装荷した構成である。
ここで、図2に、シリコン−PLCマルチチップデバイスにおける反射戻り光を示す。方向性結合器204aを構成する光路長が等しい2本の導波路からなる、第2の導波路端面へ結合する第1の導波路と、位相シフタ203を構成する第2の導波路との界面付近で発生する反射戻り光206a、206bについて考える。
石英系PLC202aの第1の導波路とシリコン光回路201の第2の導波路間のギャップが両ポート対で等しければ、入力ポート1(208)から光を入射した場合、方向性結合器204aで分岐されシリコン導波路201の端面と接着剤との界面で反射した光は全て再び元の導波路に結合し、石英系PLC202aの導波路間でその位相差が0となるため、反射戻り光は第1の導波路の入力ポート2(209)のみから出力される。
従って、方向性結合器204aを構成する2本の導波路長が等しく、石英系PLC202aの第1の導波路とシリコン光回路201の第2の導波路間のギャップが両ポート対で等しければ、反射戻り光の影響が無視でき、端面の斜め加工や反射防止膜の形成をせずとも、原理的に反射減衰量を無限大にすることが可能である。
また同様に、方向性結合器204aを構成する2本の導波路長に加え、位相シフタ203を構成する2本の導波路長が等しい場合、位相シフタ203を構成する第2の導波路と第2の導波路と第3の導波路を接続する接着剤界面で発生する反射戻り光206c、206dについて考える。
入力ポート1から光を入射した場合、方向性結合器204aで分岐され位相シフタ203であるシリコン導波路を伝搬し、接着剤と第2の導波路との界面で反射した光は全て再び元の導波路に結合し、第2の導波路の導波路間でその位相差が0となるため、反射戻り光は第1の導波路の入力ポート2にのみ出力される。
従って、方向性結合器204aを構成する2本の導波路長に加え、第1の導波路と第2の導波路間のギャップが両ポートで等しく、位相シフタ203を構成する2本の導波路長が等しければ、反射戻り光の影響が無視でき、端面の斜め加工や反射防止膜の形成をせずとも、原理的に反射減衰量を無限大にすることが可能である。
ここで、第1の導波路と第2の導波路の接続時、および第2の導波路と第3の導波路の接続時、基板と基板のギャップは第1、第3の導波路(石英系導波路)と同等の屈折率を有する接着剤で満たされており、接着剤の厚みに等しい。このため接着剤と第1、第3の導波路との界面での反射は抑制され、生じる反射は接着材と第2の導波路との界面において主に生じる。
再び図1を参照して、本実施形態の回路の動作原理を説明する。
入力導波路に入射した光信号は、石英系PLC102aの第1の導波路の方向性結合器106aにおいて2つの導波路に分岐され、シリコン光回路101の第2の導波路のアーム導波路に結合する。次に、シリコン光回路101の導波路上部に薄膜ヒータを装荷したシリコンからなる位相シフタ103において、それぞれ光信号に所望の位相差が与えられ、石英系PLC102bの第3の導波路の方向性結合器106bで合波される。あたえられた位相差から、方向性結合器106bの2本の出力導波路のいずれかから出力させることができる。
このとき重要なのは、方向性結合器106aを構成する2本の導波路、位相シフタ103を構成する2本の導波路、方向性結合器106bを構成する2本の導波路の光路長がそれぞれ等しく、石英系PLC102aとシリコン光回路101の両ポート対におけるギャップ、シリコン光回路101と石英系PLC102bの両ポート対におけるギャップがそれぞれ等しいことである。
(実装方法)
方向性結合器を含むマルチチップモジュールの実装方法とその効果について、シリコン−PLCマルチチップ光スイッチをもとに説明する。
石英系PLCの第1の導波路とシリコン光回路の第2の導波路の接続の際、信号光を第1の導波路の入力ポート1から入射し、第1の導波路の入力ポート2から出力される信号光のスペクトルをモニタする。
ここで、図3に、石英導波路単体で発生する反射戻り光のスペクトル測定方法を示す。事前に第1の導波路単体で入力ポート1(304)から光307を入射し、石英と空気の界面で反射された光303a、303bの内、入力ポート2(305)から出射される光303cのスペクトルをスペクトルアナライザ309でモニタし、スペクトルの波長依存性を計測する。
図4に、石英導波路とシリコン導波路とを接合した回路で発生する反射戻り光のスペクトル測定方法を示す。石英系PLCの第1の導波路とシリコン光回路の第2の導波路の接続の際は、ギャップは第1の導波路を構成する部材である石英と同等の屈折率を有する接着剤405で満たしておき、第1の導波路の入力ポート1(407)から光410を入射し、第1の導波路と第2の導波路を接着している接着剤と第2の導波路のシリコンとの界面で反射された光406a、406b、および第2の導波路のシリコンと空気との界面で反射された光406c、406dの内、入力ポート2(408)から出射される光406eのスペクトルをスペクトルアナライザ411でモニタ、スペクトルの波長依存性を計測する。
ここで、光出力が最大かつ、スペクトルの波長依存性が石英基板単体で計測したスペクトルと最も近くなるよう調芯することで、基板間のギャップは等しくなり、第1の導波路と第2の導波路における反射戻り光はすべて第1の導波路の入力ポート2から出力され、ポート対間のギャップの差異に起因する位相誤差も解消される。
次に、第1の導波路と第2の導波路を上記のように接続したチップに、さらに石英系PLCの第3の導波路を接続する方法について説明する。
第3の導波路接続時も同様に、事前に石英系PLCの第3の導波路単体で入力ポート1から光を入射し、石英と空気の界面で反射された光のスペクトルを入力ポート2でモニタし、計測されたスペクトルの波長依存性を使用する。
第3の導波路と第2の導波路の接続の際は、ギャップは第3の導波路を構成する部材である石英と同等の屈折率を有する接着剤で満たしておき、第3の導波路の入力ポート1から光を入射し、第2の導波路と第3の導波路を接着している接着剤と第2の導波路のシリコンとの界面、および第2の導波路のシリコンと第1の導波路と第2の導波路を接着している接着剤との界面で反射された光のスペクトルを第3の導波路の入力ポート2でモニタする。
ここで、光出力が最大かつ、スペクトルの波長依存性が石英基板単体で計測したスペクトルと最も近くなるよう第2の導波路と第3の導波路を調芯することで、基板間のギャップは等しくなり、第2の導波路と第3の導波路における反射戻り光はすべて第3の導波路の入力ポート2から出力され、ポート対間のギャップの差異に起因する位相誤差も解消される。
101、201、401 シリコン光回路
102、202、301、502 石英系PLC
103、203、403、503、805 位相シフタ
104 入力導波路
105 出力導波路
106、204、302、404 方向性結合器
107、205、405、505、605、810 接着剤
108 ギャップ
109、207、306、409、506、606、811 光ファイバ
206、303、406 反射戻り光
208、209、304、305、407、408、807、808 ポート
210、307、410、608、813 入射光
309、411 スペクトルアナライザ
501 LN導波路
504 斜め入射導波路
603、803 リファレンス回路
604、804 本回路
607、812 大口径PD
609、814 出射光

Claims (5)

  1. 方向性結合器を構成する材料Aからなる第1の導波路を備えた第1の光回路と、位相シフタを構成する材料Bからなる第2の導波路を備えた第2の導波路と、方向性結合器を構成する材料Aからなる第3の導波路を備えた第3の光回路とを結合したマッハツェンダ型マルチチップモジュールであって、
    前記第1ないし第2の導波路の各々が、光路長が等しく、伝搬光を前記平面光回路の端面に対して垂直に出射する2本の光導波路からなり、
    前記第1の導波路の2本の光導波路と前記第2の導波路の光導波路とが、同じ厚みの材料Aと同等の屈折率を有する接着剤によって接合され、
    前記第2の導波路の2本の光導波路と前記第3の導波路の2本の光導波路とが、同じ厚みの材料Aと同等の屈折率を有する接着剤によって接合されたことを特徴とするマッハツェンダ型マルチチップモジュール。
  2. 前記材料Aは石英ガラスであり、前記材料Bはシリコンであることを特徴とする請求項1に記載のマッハツェンダ型マルチチップモジュール。
  3. マルチチップモジュールの実装方法であって、
    前記マルチチップモジュールが、方向性結合器を構成する材料Aからなる第1の導波路を備えた第1の光回路と、材料Bからなる第2の導波路を備えた第2の光回路とを結合したものであり、前記第1および第2の導波路の各々が、光路長が等しく、伝搬光を前記平面光回路の端面に対して垂直に出射する2本の光導波路からなる場合、
    前記第1の導波路単体で、前記第1の導波路の一方の入力ポートから光を入射し、前記第1の導波路の他方の入力ポートから出射される、前記第1の導波路と空気との界面での反射戻り光のスペクトルの波長依存性を計測し、
    前記第1の導波路の2本の光導波路と前記第2の導波路の2本の光導波路とを材料Aと同等の屈折率を有する接着剤によって接合するとき、前記第1の導波路の一方の入力ポートから光を入射し、前記第1の導波路の他方の入力ポートから出射される光のスペクトルを測定し、前記出力光信号の強度が最大、かつ前記スペクトルの波長依存性が前記第1の導波路単体での反射戻り光のスペクトルの波長依存性に最も近くなるように調芯することを特徴とするマルチチップモジュールの実装方法。
  4. 前記マルチチップモジュールが、方向性結合器を構成する材料Aからなる第3の導波路を前記第2の導波路にさらに結合したものであり、前記第3の導波路が、光路長が等しく、伝搬光を前記平面光回路の端面に対して垂直に出射する2本の光導波路からなる場合、
    前記第3の導波路単体で、前記第3の導波路の一方の入力ポートから光を入射し、前記第3の導波路の他方の入力ポートから出射される、前記第3の導波路と空気との界面での反射戻り光のスペクトルの波長依存性を計測し、
    前記第2の導波路の2本の光導波路と前記第3の導波路の2本の光導波路とを材料Aと同等の屈折率を有する接着剤によって接合するとき、前記第3の導波路の一方の入力ポートから入力光信号を入射し、前記第3の導波路の他方の入力ポートから出射される光のスペクトルを測定し、前記出力光信号の強度が最大、かつ前記スペクトルの波長依存性が前記第3の導波路単体での反射戻り光のスペクトルの波長依存性に最も近くなるように調芯することを特徴とする請求項3に記載のマルチチップモジュールの実装方法。
  5. 前記材料Aは石英ガラスであり、前記材料Bはシリコンであることを特徴とする請求項3又は4に記載のマルチチップモジュールの実装方法。
JP2012175405A 2012-08-07 2012-08-07 マッハツェンダ型マルチチップモジュールの実装方法 Expired - Fee Related JP5839585B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012175405A JP5839585B2 (ja) 2012-08-07 2012-08-07 マッハツェンダ型マルチチップモジュールの実装方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012175405A JP5839585B2 (ja) 2012-08-07 2012-08-07 マッハツェンダ型マルチチップモジュールの実装方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2014035378A true JP2014035378A (ja) 2014-02-24
JP5839585B2 JP5839585B2 (ja) 2016-01-06

Family

ID=50284408

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012175405A Expired - Fee Related JP5839585B2 (ja) 2012-08-07 2012-08-07 マッハツェンダ型マルチチップモジュールの実装方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5839585B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109416466A (zh) * 2016-07-11 2019-03-01 三菱电机株式会社 光线路、光扫描器、光合波分波器、波长监视器、光合波分波器模块和波长监视器模块

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110595527B (zh) * 2019-09-10 2021-04-20 中国人民解放军国防科技大学 光芯片上多级交错马赫曾德干涉仪中可控相移器标定方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07159114A (ja) * 1993-12-10 1995-06-23 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 微小変位計
JP2000241121A (ja) * 1999-02-17 2000-09-08 Lasertec Corp 段差測定装置並びにこの段差測定装置を用いたエッチングモニタ装置及びエッチング方法
JP2003195239A (ja) * 2001-12-25 2003-07-09 Nec Corp 集積型光導波路デバイス
JP2007264470A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Furukawa Electric Co Ltd:The 光回路モジュール
JP2008268121A (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Yamatake Corp 光干渉式測定装置
JP2011102819A (ja) * 2009-11-10 2011-05-26 Furukawa Electric Co Ltd:The ハイブリッド集積光モジュール
JP2012181343A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Sumitomo Electric Ind Ltd 光導波体、レーザ光照射装置およびレーザ光照射装置組立方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07159114A (ja) * 1993-12-10 1995-06-23 Sumitomo Metal Mining Co Ltd 微小変位計
JP2000241121A (ja) * 1999-02-17 2000-09-08 Lasertec Corp 段差測定装置並びにこの段差測定装置を用いたエッチングモニタ装置及びエッチング方法
JP2003195239A (ja) * 2001-12-25 2003-07-09 Nec Corp 集積型光導波路デバイス
JP2007264470A (ja) * 2006-03-29 2007-10-11 Furukawa Electric Co Ltd:The 光回路モジュール
JP2008268121A (ja) * 2007-04-24 2008-11-06 Yamatake Corp 光干渉式測定装置
JP2011102819A (ja) * 2009-11-10 2011-05-26 Furukawa Electric Co Ltd:The ハイブリッド集積光モジュール
JP2012181343A (ja) * 2011-03-01 2012-09-20 Sumitomo Electric Ind Ltd 光導波体、レーザ光照射装置およびレーザ光照射装置組立方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109416466A (zh) * 2016-07-11 2019-03-01 三菱电机株式会社 光线路、光扫描器、光合波分波器、波长监视器、光合波分波器模块和波长监视器模块
CN109416466B (zh) * 2016-07-11 2020-11-06 三菱电机株式会社 光线路、光扫描器、光合波分波器、波长监视器、光合波分波器模块和波长监视器模块

Also Published As

Publication number Publication date
JP5839585B2 (ja) 2016-01-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20180284350A1 (en) Optical coupler for optical communications transceiver
US7228013B1 (en) Polymer phase modulator
JP3800594B2 (ja) 光変調器
US10613274B2 (en) Method and system for integrated multi-port waveguide photodetectors
JP2019040213A (ja) 光変調器
WO2008099950A1 (ja) 光変調器用部品および光変調器
JP2013080009A (ja) 光変調器
JP2017026988A (ja) 光モジュール、及びこれを用いた光送信機
US10598862B2 (en) Optical modulator
CN112835215A (zh) 一种铌酸锂薄膜电光调制器芯片以及调制器
JP5839585B2 (ja) マッハツェンダ型マルチチップモジュールの実装方法
KR102637475B1 (ko) 포토닉 회로 제조에서의 손실 모니터링
JP6228064B2 (ja) 光モジュール
WO2020059639A1 (ja) 光回路および光接続構造体
Gunn Fully integrated VLSI CMOS and photonics" CMOS photonics"
JP2018072605A (ja) 光変調器及び光モジュール
JP2016045256A (ja) 偏波合波器及びそれを用いた光送信器
JP2004198461A (ja) 導波路型可変光減衰器
US7239765B1 (en) Polymer phase modulator
La Porta et al. Scalable optical coupling between silicon photonics waveguides and polymer waveguides
JP6225072B2 (ja) 半導体mz光変調器および半導体mz光変調器を用いた方法
JP2012128277A (ja) 導波路型光変調器の性能評価装置および性能評価方法
Zheng et al. High speed, low voltage polarization controller based on heterogeneous integration of silicon and lithium niobate
US20240159970A1 (en) Optical waveguide element, and optical modulation device and optical transmission device which use same
CN217007775U (zh) 硅光芯片、光模块及交换机

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140709

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150525

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150609

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150807

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151104

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151106

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5839585

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees