JP2014035311A - ガス濃度測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】窓材やレンズの光学特性を変化させることなく、光学系の汚れを除去できるガス濃度測定装置。
【解決手段】レーザ光を出力するレーザと光源レンズ3とを備える光源部1と、受光側に配置された集光レンズ5と、レーザ光を光源レンズと測定対象ガス10と集光レンズとを介して受光する受光素子6と、受光素子の出力に基づいて測定対象ガスの濃度を測定する信号処理回路と、光源レンズと集光レンズとの少なくとも一方のレンズの測定対象ガス側に設けられ且つ測定対象ガスと接触する表面に形成された光触媒膜4bを有する窓材4と、測定対象ガスに接触しない位置に配置され、光触媒膜を活性化させるための紫外線を発生する紫外線光源14と、紫外線光源からの紫外線を前記窓材に導入する光学部材15とを有する。
【選択図】図4

Description

本発明は、半導体レーザを用いて煙道排ガスの濃度を測定するガス濃度測定装置に関し、環境ガス分析、排ガス計測等の環境計測分野に適用される。
気体の分子は主に分子の振動とその倍音や結合音に起因する固有の吸収スペクトルが赤外線領域で観測される。この吸収の強度は光路上に存在する分子の数に比例する。このことを用いて、ガスの吸収スペクトルに波長を合わせた光源をガスに入射させ、透過した光を観測して吸光度を求めて、ガスの濃度を知ることができる。
しかしながら、対象ガスに含まれる粒子状汚染物質などにより光学系の汚れが発生する。
そこで、光学系の汚れを防止するものとして、例えば特許文献1に記載された技術が知られている。特許文献1に記載された赤外線センサユニットは、図9に示すように、赤外線透過基板102の表面に光触媒膜104を形成し、光触媒膜104に紫外線発光ダイオード132からの紫外線を照射することにより、紫外線透過窓材100に付着した汚れを分解除去している。
特開2006−266827号公報
しかしながら、特許文献1に記載されるように、汚染物質がある側に紫外線光源である紫外線発光ダイオード132を配置しているため、紫外線発光ダイオード132自体が汚染されていた。このため、汚れの防止効果や汚れの除去効果が低下していた。
また、紫外線発光ダイオード132自体が汚染されないように、汚れ防止のための窓材を設けても、窓材の汚れを防止する必要があった。
本発明の課題は、窓材やレンズの光学特性を変化させることなく、光学系の汚れを除去することができるガス濃度測定装置を提供する。
本発明に係るガス濃度測定装置は、上記課題を解決するために、レーザ光を出力するレーザと光源レンズとを備える光源部と、受光側に配置された集光レンズと、前記レーザ光を前記光源レンズと測定対象ガスと前記集光レンズとを介して受光する受光素子と、前記受光素子の出力に基づいて前記測定対象ガスの濃度を測定する信号処理回路と、前記光源レンズと前記集光レンズとの少なくとも一方のレンズの前記測定対象ガス側に設けられ且つ前記測定対象ガスと接触する表面に形成された光触媒膜を有する窓材と、前記測定対象ガスに接触しない位置に配置され、前記光触媒膜を活性化させるための紫外線を発生する紫外線光源と、前記紫外線光源からの紫外線を前記窓材に導入する光学部材とを有することを特徴とする。
また、ガス濃度測定装置は、レーザ光を出力するレーザと光源レンズとを備える光源部と、受光側に配置された集光レンズと、前記レーザ光を前記光源レンズと測定対象ガスと前記集光レンズとを介して受光する受光素子と、前記受光素子の出力に基づいて前記測定対象ガスの濃度を測定する信号処理回路と、前記光源レンズと前記集光レンズとの少なくとも一方のレンズの前記測定対象ガスと接触する表面に形成された光触媒膜と、前記測定対象ガスに接触しない位置に配置され、前記光触媒膜を活性化させるための紫外線を発生する紫外線光源と、前記紫外線光源からの紫外線を前記少なくとも一方のレンズに導入する光学部材とを有することを特徴とする。
本発明によれば、窓材やレンズの光学特性を変化させることなく、光学系の汚れを除去することができるガス濃度測定装置を提供することができる。
実施例1のガス濃度測定装置の概略構成図である。 実施例1のガス濃度測定装置に設けられた発光部の構造図である。 実施例1のガス濃度測定装置に設けられた第2レンズの詳細な構造図である。 実施例2のガス濃度測定装置の構成図である。 実施例2のガス濃度測定装置に設けられた紫外線光源からの光をプリズムを介して光触媒膜を有する窓材に導く様子を示す図である。 実施例3のガス濃度測定装置の構成図である。 実施例4のガス濃度測定装置の構成図である。 実施例5のガス濃度測定装置の構成図である。 従来の赤外線センサユニットの一例を示す図である。
以下、本発明のガス濃度測定装置のいくつかの実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。
図1は、実施例1のガス濃度測定装置の概略構成図である。図2は、実施例1のガス濃度測定装置に設けられた発光部の構造図である。図1に示すガス濃度測定装置は、レーザ(レーザ素子)を有する光源部1、コリメートレンズ2、第1レンズ3a、第2レンズ3b(光源レンズ)、集光レンズ5、受光素子6を備える。
また、図2に示すように、光源部1、コリメートレンズ2、第1レンズ3a、第2レンズ3b、紫外線光源14、プリズム15は、光源ボックス12に収納されている。光源部1からのレーザ光11に対して略直角方向に測定対象ガス10が充満された煙道9が配置されている。この煙道9は、フランジ7が形成された煙道取付部8により光源ボックス12に取り付けられている。
光源部1は、レーザからのレーザ光11をコリメートレンズ2、第1レンズ3a、第2レンズ3bを介して測定対象ガス10に照射する。光源部1に有するレーザは、レーザ光を発生する波長可変型の半導体レーザからなる。
集光レンズ5は、受光側に配置され、測定対象ガス10を透過した光を集光して、受光素子6に導く。受光素子6は、集光レンズ5からの測定対象ガス10を透過した光を受光し、光を電気信号に変換する。
図示しない信号処理回路は、フォトダイオード6からの電気信号を信号処理して、処理された信号の強度に基づいてガスの濃度を測定する。
測定対象ガス10は、NH3、NO、NO2、SO2、HCL、H2O、CO、CO2、O2、HFなどである。光源部1はDFB−LD(半導体レーザ)やDFB−QCL(量子カスケードレーザ)である。受光素子6は、PD(フォトダイオード)やMCT検出器である。
光源部1からレーザ光が測定対象ガス10に対して照射され、測定対象ガス10を透過した光は、受光素子6により電気信号に変換された後、所定の信号処理が行われ、測定対象ガス10の濃度が測定される。
紫外線光源14およびプリズム15は、光源部側と受光側とのそれぞれに、設けられている。紫外線光源14は、光学部品(図1及び図2に示す例では第2レンズ3b)又はそれ以外の隔壁によって、測定対象ガス10に直接接触しない位置に配置され、光触媒膜32を活性化させるための紫外線を発生する。紫外線光源14は、UVランプ、UV−LED、UV−レーザなどを用いることができる。
光源部側の紫外線光源14は、発生した紫外線をプリズム15を介して第2レンズ3bに導く。受光側の紫外線光源14は、発生した紫外線をプリズム15を介して集光レンズ5に導く。
図3(a)は第2レンズ3bおよび集光レンズ5の側面図、図3(b)は第2レンズ3bおよび集光レンズ5の平面図を示す。第2レンズ3bおよび集光レンズ5は、図3に示すように略円形状の凸レンズからなり、凸面上には光触媒膜32が形成されており、凸面の外周面は、すりガラス31に仕上げられている。
光触媒膜32は、第2レンズ3b及び集光レンズ5の測定対象ガス10と接触する表面に、光触媒材料による薄膜で形成されている。光触媒材料は、例えば、二酸化チタン(TiO2)、酸化ジルコニウム(ZrO2)、酸化亜鉛(ZnO)、酸化鉄(Fe2O3)、酸化タングステン(WO3)などの半導体である。光触媒材料にそのバンドギャップエネルギー以上の光が照射されると、価電子帯にある電子が励起され伝導体に移動する。このとき、価電子帯には正孔ができる。電子と正孔とによって、酸化力、還元力をもつようになる。
ここに、大気や測定ガスに含まれる水分があると、正孔との反応によってヒドロキシルラジカル(・OH)が生成される。これは非常に酸化力が強く、これにより有機物を酸化分解することができる。電子は空気中の酸素を還元し、スーパーオキサイドアニオン(O2-)という非常に酸化力の強い物質となる。スーパーオキサイドアニオン(O2-)も、有機物の酸化分解に寄与する。
光触媒膜32の光学部品への形成方法としては、例えば、ディップ、スプレー、スピンコード、真空蒸着、スパッタ成膜などを例示できる。
また、第2レンズ3bおよび集光レンズ5には、略円形の一部がカットされた入射口33が形成され、この入射口33にプリズム15からの紫外線が入力される。入射口33に入射された紫外線により、レンズ面での反射光やすりガラス31の面での拡散反射光が光触媒膜32に到達し、光触媒膜32は、紫外光であるエバネッセント光によって活性化し、汚れの除去効果を発現する。
このように実施例1のガス濃度測定装置によれば、光触媒膜32が形成された第2レンズ3b及び集光レンズ5により測定対象ガス10が測定用光源側に漏洩することを防止することができる。
また、第2レンズ3b及び集光レンズ5の測定光源側に光触媒膜32を活性化させるための紫外線光源14を配置したので、紫外線光源14が測定対象ガス10により汚染されることを防止することができる。即ち、光触媒の効力を発揮させる紫外線光源14が測定対象ガス10に含まれるすす等により汚れることなく、ガス濃度測定装置の光学部品の汚れ防止効果を継続的に維持することができる。
また、紫外線光源14が発光する紫外光をプリズム15により、第2レンズ3b及び集光レンズ5内に導入し、第2レンズ3b及び集光レンズ5内部で反射を繰り返しながら進行させる。即ち、入射口33に入射された紫外線により、レンズ面での反射光やすりガラス31の面での拡散反射光が光触媒膜32に到達し、光触媒膜32は、紫外光であるエバネッセント光や反射せずに光触媒膜を透過した紫外光によって活性化し、汚れの除去効果を発現することができる。
図4は、実施例2のガス濃度測定装置の構成図である。図4に示す実施例2のガス濃度測定装置は、図2に示す実施例1のガス濃度測定装置の構成に、さらに、第2レンズ3bと煙道取付部8との間、即ち、第2レンズ3bの測定対象ガス10側に窓材4を設けたことを特徴とする。
なお、受光側において、集光レンズ5の測定対象ガス10側に窓材4を設け、この窓材4に光触媒膜を形成しても良い。
窓材4は光触媒膜を有し、測定対象ガス10が測定用光源側に漏洩するのを防止している。図5は、実施例2のガス濃度測定装置に設けられた紫外線光源14からの光をプリズム15を介して光触媒膜4bを有する窓材4に導く様子を示す図である。窓材4において、平板状のガラスからなる窓母材4aの両面には光触媒膜4bが形成されている。
紫外線光源14からの紫外光は、プリズム15を介して窓材4に導光される。導光された紫外光は、窓材4などの薄い平行平板光学部品では、スラブ導波路として、図5(a)に示すように、窓母材4aと光触媒膜4bの界面で反射を繰り返しながら内部を進行する。窓母材4aと光触媒膜4bの界面で紫外光が反射するとき、紫外光は、図5(b)に示すように、エバネッセント光として光触媒膜4bに染み出す。光触媒膜4bは、この紫外光であるエバネッセント光によって活性化し、汚れの除去能力を発現することができる。また、反射条件を満たさずに光触媒を透過する光も汚れ除去能力を発現させる。
従って、実施例2のガス濃度測定装置においても、実施例1のガス濃度測定装置の効果と同様な効果が得られる。
図6は、実施例3のガス濃度測定装置の構成図である。図6(a)は、シリンドリカルレンズとプリズムとの平面図、図6(b)はシリンドリカルレンズとプリズムとの側面図である。図6に示す実施例3のガス濃度測定装置は、紫外線光源14とプリズム15との間にシリンドリカルレンズ16を配置したことを特徴とする。
シリンドリカルレンズ16は、円筒状のレンズからなり、紫外光を光学部品の辺に沿った形状に広げてからプリズム15を介して窓材4に導く。即ち、シリンドリカルレンズ16によって、図6に示すように、紫外光を平面状に伝播でき、広い面積を照射することができることから、紫外光を窓材4に効率よく導入できる。
図7は、実施例4のガス濃度測定装置の構成図である。図7(a)は、バンドルファイバ17とファイバ18との平面図、図7(b)はバンドルファイバ17とファイバ18との側面図である。図7に示す実施例4のガス濃度測定装置は、バンドルファイバ17とファイバ18とを設けたことを特徴とする。
バンドルファイバ17は、紫外線光源14からの紫外光を複数のファイバ18に導く。複数のファイバ18の各々の一端は、バンドルファイバ17の一端に接続され、複数のファイバ18の各々の他端は、互いに一定距離だけ離間して配置されている。複数のファイバ18の各々は、バンドルファイバ17からの紫外光をプリズム15を介して窓材4に導く。
このような構成によれば、紫外光をファイバ18を用いて窓材4に導くので、紫外線光源14の配置の自由度が大きくなる。また、複数のファイバ18の各々の他端は、互いに一定距離だけ離間して配置されているので、複数のファイバ18により紫外光が紫外光を平面状に伝播でき、広い面積を照射することができることから、紫外光を窓材4に効率よく導入できる。
図8は、実施例5のガス濃度測定装置の構成図である。図8に示す実施例5のガス濃度測定装置では、第2レンズ3cが、略円形状の凸レンズからなり、凸面上には光触媒膜が形成され、凸面の外周面は、すりガラス31に仕上げられている。
また、第2レンズ3cは、略円形の一部がカットされ、略直交する方向に配置された2つの入射口33a,33bを有する。紫外線光源14からの紫外光は2つのファイバ18に導光されて、2つのファイバ18からの紫外光は2つの入射口33a,33bにそれぞれ入力される。
第2レンズ3cの外周面に到達した紫外光は、すりガラス31により拡散反射してガラス内面に広く拡散され、第2レンズ3cの中央に配置されたレーザ光透過領域36に紫外光が集束されるので、レーザ光透過領域36の紫外線強度を高めることができる。また、表面に形成された光触媒膜に到達する光量も増加するので、さらに汚れを除去できる。
なお、集光レンズ5も第2レンズ3cの構成と同じ構成に形成するようにしても良い。
また、2つのファイバ18を用いる代わりに、2つの入射口33a,33bの各方向の導入用に2つの紫外線光源14を設けるようにしても良い。
このように、図8に示す構成により紫外光を供給することにより、測定用のレーザ光透過領域36の紫外線強度を高めることができる。
なお、本発明は、実施例1乃至5のガス濃度測定装置に限定されるものではない。実施例1乃至5のガス濃度測定装置では、窓材4とは別にプリズム15を設けたが、プリズム15を窓材4と一体化した窓材を用いても良い。一体化された窓材では、プリズムに対応するガラス部分を楔状に研磨して用いることができる。これにより、窓材4のコストを低減することができる。
また、実施例1,2のでは、ガス濃度測定装置では、第2レンズ3b及び集光レンズ5に光触媒膜32を形成したが、例えば、第2レンズ3b又は集光レンズ5に光触媒膜32を形成してもよい。
本発明に係るガス濃度測定装置は、火力発電所や廃棄物焼却施設の煙道ガス成分の濃度を測定するガス濃度測定装置に適用可能である。
1‥光源部、2‥コリメートレンズ、3‥ビームエキスパンダ、3a‥第1レンズ、3b‥第2レンズ、3c‥レンズ、4‥窓、4a‥窓母材、4b‥光触媒膜、5‥集光レンズ、6‥受光素子、7‥フランジ、8‥煙道取付部、9‥煙道、10‥測定対象ガス、11‥レーザ光、12‥光源ボックス、13‥受光ボックス、14‥紫外線光源、15‥プリズム、16‥シリンドリカルレンズ、17‥バンドルファイバ、18‥ファイバ、31‥すりガラス、32‥光触媒膜、33‥入射口、35‥拡散反射光、36‥レーザ光透過領域。

Claims (7)

  1. レーザ光を出力するレーザと光源レンズとを備える光源部と、
    受光側に配置された集光レンズと、
    前記レーザ光を前記光源レンズと測定対象ガスと前記集光レンズとを介して受光する受光素子と、
    前記受光素子の出力に基づいて前記測定対象ガスの濃度を測定する信号処理回路と、
    前記光源レンズと前記集光レンズとの少なくとも一方のレンズの前記測定対象ガス側に設けられ且つ前記測定対象ガスと接触する表面に形成された光触媒膜を有する窓材と、
    前記測定対象ガスに接触しない位置に配置され、前記光触媒膜を活性化させるための紫外線を発生する紫外線光源と、
    前記紫外線光源からの紫外線を前記窓材に導入する光学部材と、
    を有することを特徴とするガス濃度測定装置。
  2. レーザ光を出力するレーザと光源レンズとを備える光源部と、
    受光側に配置された集光レンズと、
    前記レーザ光を前記光源レンズと測定対象ガスと前記集光レンズとを介して受光する受光素子と、
    前記受光素子の出力に基づいて前記測定対象ガスの濃度を測定する信号処理回路と、
    前記光源レンズと前記集光レンズとの少なくとも一方のレンズの前記測定対象ガスと接触する表面に形成された光触媒膜と、
    前記測定対象ガスに接触しない位置に配置され、前記光触媒膜を活性化させるための紫外線を発生する紫外線光源と、
    前記紫外線光源からの紫外線を前記少なくとも一方のレンズに導入する光学部材と、
    を有することを特徴とするガス濃度測定装置。
  3. 前記光学部材は、プリズムであることを特徴とする請求項1又は請求項2記載のガス濃度測定装置。
  4. 前記光学部材は、前記窓材に一体化されて形成されていることを特徴とする請求項1又は請求項3記載のガス濃度測定装置。
  5. 前記紫外線光源からの紫外線を前記光学部材に導くシリンドリカルレンズを設けたことを特徴とする請求項1又は請求項3又は請求項4記載のガス濃度測定装置。
  6. 前記紫外線光源からの紫外線を前記光学部材に導く光ファイバを設けたことを特徴とする請求項1又は請求項3又は請求項4記載のガス濃度測定装置。
  7. 前記少なくとも一方のレンズは、前記紫外線を導入する面以外の外周面がすりガラス状に加工されていることを特徴とする請求項2又は請求項3記載のガス濃度測定装置。
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