JP2014021079A - 自動分析装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】測定項目ごとの検出限界と定量限界の少なくとも1方の評価試験を行うための実施条件設定手段と、前記評価試験の判定条件とを設定する判定条件設定手段と、設定された前記実施条件に基づき、前記試料分注機構、前記試薬分注機構、前記測定部とを制御することで、希釈濃度の異なる希釈系列の測定結果を求め、設定された前記判定条件に基づき、前記希釈系列の測定結果から前記評価試験の試験結果を算出する演算部とを備えた。
【選択図】 図1
Description
2 試験実施有無の設定ステップ
3 試験実施間隔の設定ステップ
4 予測値の入力ステップ
5 希釈系列の調製方法の選択ステップ
6 希釈系列の種類の設定ステップ
7 希釈系列の系列数の入力ステップ
8 希釈元試料の濃度の入力ステップ
9 希釈液の設定ステップ
10 理論濃度の入力ステップ
11 繰り返し測定回数の入力ステップ
12 検出限界/定量限界の判定法の入力ステップ
13 項目名の選択ボックス
14 検出限界/定量限界試験の実施有無の設定ボックス
15 検出限界/定量限界試験の実施間隔の設定ボックス
16 希釈系列の調製方法・測定回数の設定ボックス
17 試料ディスク
18 試料
19 試料容器
20 反応ディスク
21 反応容器
22 試料分注機構
23 試薬ディスク
24 試薬
25 試薬容器
26 試薬分注機構
27 撹拌機構
28 恒温槽循環液体
29 透過光測定部
30 散乱光測定部
31 反応容器洗浄機構
32 制御回路
33 透過光測定回路
34 散乱光測定回路
35 PC
36 入力部
37 出力部
Claims (6)
- 試料を反応容器に分注する試料分注機構と、
試薬を前記反応容器に分注する試薬分注機構と、
該試料と該試薬の混合液の光学測定を行う測定部と、
測定項目ごとの検出限界と定量限界の少なくとも1方の評価試験を行うための実施条件設定手段と、
前記評価試験の判定条件を設定する判定条件設定手段と、
設定された前記実施条件に基づき、前記試料分注機構、前記試薬分注機構、前記測定部とを制御することで、希釈濃度の異なる希釈系列の測定結果を求め、
設定された前記判定条件に基づき、前記希釈系列の測定結果から前記評価試験の試験結果を算出する演算部とを備えることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
さらに、前記試験結果を基準とした範囲ごとに、通常検査の検査結果報告時に付与する付与情報を設定する付与情報設定手段とを備え、
前記演算部は、通常検査の測定結果と共に、該測定結果が含まれる前記範囲の前記付与情報を出力することを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2記載の自動分析装置において、
前記範囲は、前記試験結果の値以上と値未満とで区別されることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項2記載の自動分析装置において、
前記評価試験は、測定項目ごとに検出限界と定量限界の両方に対して行われ、前記演算部は、検出限界と定量限界の両方の試験結果を算出し、
前記範囲は、検出限界未満と、検出限界以上かつ定量限界未満と、定量限界未満とで区別されることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
さらに、前記試験結果を基準とした範囲ごとに、通常検査の再検条件を設定する再検設定手段とを備え、
設定された前記再検条件に基づき、同一試料が再検査されることを特徴とする自動分析装置。 - 請求項1記載の自動分析装置において、
さらに、前記試験結果の許容範囲を設定する許容範囲設定手段と、
算出された前記試験結果が該許容範囲を超過し場合にアラームを出力する機能とを備えることを特徴とする自動分析装置。
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