JP2013545112A - X線検査ツール - Google Patents

X線検査ツール Download PDF

Info

Publication number
JP2013545112A
JP2013545112A JP2013543171A JP2013543171A JP2013545112A JP 2013545112 A JP2013545112 A JP 2013545112A JP 2013543171 A JP2013543171 A JP 2013543171A JP 2013543171 A JP2013543171 A JP 2013543171A JP 2013545112 A JP2013545112 A JP 2013545112A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ray
ray system
tracks
inspected
support structure
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013543171A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5856624B2 (ja
Inventor
モルテザ サファイ,
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Boeing Co
Original Assignee
Boeing Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Boeing Co filed Critical Boeing Co
Publication of JP2013545112A publication Critical patent/JP2013545112A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5856624B2 publication Critical patent/JP5856624B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/203Measuring back scattering

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

種々の有利な実施形態は、検査対象品の表面を検査する装置と方法を提供する。一つの有利な実施形態では、任意の数のトラック、支持構造体、接続システム、及びコントローラーを備える装置が開示されている。任意の数のトラックは経路に沿って配置されるように構成されている。支持構造体は任意の数のトラック上を移動するように構成されている。X線システムは支持構造体に移動可能に接続されている。X線システムは、検査対象品に向けて複数のX線を送るように構成されており、また支持構造体の中を軸に沿って移動するように構成されている。接続システムは、検査対象品の表面に適用される真空を使って任意の数のトラックを検査対象品に着脱可能に接続するように構成されている。コントローラーは、検査対象品の表面に適用される真空の量に基づいて、X線システムを起動及び停止させるように構成されている。
【選択図】図6

Description

本開示は一般にX線システム、より具体的には検査対象品の表面を検査する方法と装置に関するものである。
X線は、物体の表面の画像を生成するために頻繁に使われる。X線は、X線チューブにより、またX線チューブが表面に向けられたときに生成される。ある種のX線は表面で反射し、また他の種のX線は材料に吸収される又は材料を通り抜ける。物体の表面で反射するX線は、後方散乱X線と呼ばれる。後方散乱したX線は、金属表面、または不整合な表面から頻繁に反射する。吸収されたX線は、金属性材料、また他の適した材料によって頻繁に吸収される。後方散乱X線が集まって、表面の画像を生成する。
X線は表面の不整合性を認識するためにも使われる。例えば,X線はX線チューブによって生成され、金属表面の不整合を認識するために金属表面に向けられる。金属表面の一例は、飛行機の胴体の表面である。
X線が金属表面に接触すると、X線検出器は、金属表面からX線検出器に散乱して戻ったX線の一部を受ける。本明細書で使用する、散乱するとは、反射することを意味する。言い換えれば、X線の一部が金属表面で反射してX線検出器に戻ることを意味する。X線が不整合な表面に接触した場合、X線のある部分は表面を通過してX線検出器に反射して戻らないこともある。X線の一部がX線検出器に反射して戻らないため、生成された画像に不整合性が見られる。
ある実施例では、検査する表面積が大きいこともある。X線を使って表面を検査するには、X線を生成するX線チューブと、X線検出器を表面の上で移動させる。X線チューブとX線検出器は、足場に取り付けられている及び/又はロボットアームによって動かされる機構の一部であってよい。足場及びまたロボットアームは、実際に検査されている表面とは違う曲率を持った表面積を検査するために再配置される。
表面積が広くなるほど、表面の種々のエリアを検査するX線検出器の配置を変える回数が増える。広い表面積の場合、検査時間が所望よりも長引くことがある。
したがって、上述した一以上の問題点並びに起こりうるその他の問題点を考慮に入れた方法及び装置を有することが望ましい。
種々の有利な実施形態は、検査対象品の表面を検査する装置と方法を提供する。有利な実施形態の一つには、任意の数のトラック、支持構造体、X線システム、接続システム、及び制御装置を備える装置が開示されている。任意の数のトラックは経路に沿って配置される。支持構造体は任意の数のトラック上を移動するように設定される。X線システムは、支持構造体に可動の状態で接続されており、X線システムは複数のX線を検査対象品に送るように構成され、支持構造体内を軸に沿って動くように構成されている。接続システムは、検査対象品の表面に真空を適用することによって、任意の数のトラックが検査対象品に着脱可能に接続されるよう構成される。コントローラーは、検査対象品の表面に適用される真空量に基づいて、X線システムを作動させたり、停止させたりするように構成される。
特徴、機能及び利点は、本発明の様々な実施形態で別々に実現することが可能であるか、以下の説明及び図面を参照してさらなる詳細が理解され、さらに別の実施形態で組み合わせることが可能である。
新規の機能と考えられる有利な実施形態の特徴は、添付の特許請求の範囲に明記される。しかしながら、有利な実施形態と、好ましい使用モードと、さらにはその目的及び利点とは、添付図面を参照して本発明の有利な一実施形態の以下の詳細な説明を読むことにより最もよく理解されるであろう。
有利な実施形態による航空機の製造及び保守方法を示したものである。 有利な実施形態で実装される航空機を示したものである。 有利な実施形態によるX線検査環境のブロック図を示したものである。 有利な実施形態によるデータ処理システムを示している。 有利な実施形態による航空機を示している。 有利な実施形態によるX線検査ツールを示している。 有利な実施形態による接続システムを示している。 有利な実施形態による画像データを示すスクリーンショットである。 有利な実施形態による検査対象品の表面を検査するプロセスのフロー図を示したものである。 有利な実施形態による検査対象品の表面を検査するプロセスのフロー図を示したものである。
より具体的に図を参照すると、本発明の実施形態は、図1に示す航空機の製造及び保守方法100、及び図2に示す航空機200に照らし説明される。まず図1に注目すると、有利な実施形態による航空機の製造及び保守方法が示されている。製造前の段階では、航空機の製造及び保守方法100は、図2の航空機200の仕様及び設計102、並びに材料の調達104を含む。
製造段階では、図2の航空機200の構成部品及びサブアセンブリの製造106と、システム統合108とが行われる。その後、図2の航空機200は運航112されるために認可及び納品110を経る。顧客により運航112される間に、図2の航空機200は、定期的な整備及び保守114(改造、再構成、改修、及びその他の整備又は保守を含みうる)を受ける。種々の有利な実施形態は、図2の航空機200を様々な製造段階及び整備と保守方法100段階において、検査するために利用されてもよい。例えば、種々の有利な実施形態は、認可及び納入110される前に航空機の不整合を認識するために、認可、及び納入110段階において利用される。他の実施例では、種々の有利な実施形態は、運航112段階において、図2の航空機200の運航時におこりうる不整合を認識するために利用される。
航空機の製造及び保守方法100の各プロセスは、システムインテグレータ、第三者、及び/又はオペレータによって実施又は実行されてもよい。これらの実施例では、オペレータは顧客である。本明細書の目的のために、システムインテグレータは、限定せず、任意の数の航空機メーカー、及び主要システムの下請業者を含むことができ、第三者として、限定せず、任意の数のベンダー、下請業者、及び供給業者を含むことができ、オペレータは、航空会社、リース会社、軍事団体、サービス機関などであってよい。
次に図2を参照すると、有利な実施形態で実装されうる航空機が示されている。この実施例では、航空機200は、図1の航空機の製造及び保守方法100によって製造されたものであり、複数のシステム204及び内装206を有する機体202を含む。システム204の例は、推進システム208、電気システム210、油圧システム212、及び環境システム214のうち一つ又は複数を含む。任意の数の他のシステムが含まれてもよい。航空宇宙産業の例を示したが、自動車産業などの他の産業に種々の有利な実施形態を適用することができる。
種々の有利な実施形態は、航空機200の任意の数の異なるエリアにおいて不整合を認識するために使用される。例えば、種々の有利な実施形態は航空機202の不整合を認識するために使用される。当然ながら、航空機のほかのエリアは種々の有利な実施形態によって検査される。
本明細書で具現化した装置及び方法は、図1の航空機の製造及び保守方法100の少なくとも1つの段階で使用可能である。本明細書において、列挙されたアイテムと共に使用する「〜のうちの少なくとも1つの」という表現は、列挙されたアイテムのうちの一以上からなる様々な組み合わせが使用可能であり、且つ列挙された各アイテムが1つだけあればよいことを意味する。例えば、「アイテムA、アイテムB、及びアイテムCのうちの少なくとも1つ」は、例えば、限定しないが、「アイテムA」、又は「アイテムAとアイテムB」を含む。この例は、「アイテムAとアイテムBとアイテムC」、又は「アイテムBとアイテムC」も含む。
一つの実施例では、図1の構成部品又はサブアセンブリの製造106で製造される構成部品及びサブアセンブリは、図1で航空機200の運航中112に製造される構成部品又はサブアセンブリと同様の方法で作製又は製造される。さらに別の実施例では、任意の数の装置の実施形態、方法の実施形態、又はこれらの組み合わせは、図1の構成部品及びサブアセンブリの製造106並びにシステム統合108などの製造段階で利用可能である。アイテムを参照する際に使用している「任意の数の」は、一つ又は複数のアイテムを意味する。例えば、任意の数の装置の実施形態は一つ又は複数の装置の実施形態を意味する。任意の数の装置の実施形態、方法の実施形態、又はこれらの組み合わせは、図1にあるように航空機200を運航中112、及び/又は整備保守中114の段階で利用できる。任意の数の種々の有利な実施形態の利用により、航空機200の組立てを実質的に効率化すること、及び/又はコストを削減することができる。
種々の有利な実施形態は、任意の数の様々な検討事項を認識し考慮している。例えば,種々の有利な実施形態は、ロボットアーム又は足場を使いX線システムの位置移動をすることは時間がかかりすぎることを認識し考慮している。さらに、検査される表面積のサイズによって人件費が増えることがある。なぜならオペレータがX線の操作を止めてからX線の位置移動をし、またX線システムの操作に戻るからである。これらの実施例では、X線システムは後方散乱X線システムである。言い換えれば、X線システムは、検査される表面から反射するX線を受けるように構成される。
種々の有利な実施形態は、X線システムが任意の数のトラックに位置決めされることも認識し考慮する。トラックは延長が可能で、検査される表面の輪郭に沿って経路を形成している。トラックは、検査対象品に接続されている吸着カップから空気を抜くために、吸着カップと真空システムを使って一時的に検査対象品の表面に接続される。X線システムはトラック上の経路に沿って移動する。X線システムは、表面に2次元画像データを提示するためにトラックの間を移動することもある。
種々の有利な実施形態は、任意の数のトラックで経路形成することで、X線システムがオペレータによって位置移動されなくても表面に沿って移動することができるようになるということも認識し考慮している。オペレータが重いものを持ち上げたり動かしたりしなくてすむため、オペレータの安全性が改善される。人件費も削減される。なぜならX線を位置移動するためにX線システムを停止しなくても表面をスキャンできるからである。
従って、種々の有利な実施形態は検査対象品の表面を検査する装置と方法を提供する。一つの有利な実施形態は、任意の数のトラック、支持構造体、X線システム、接続システム、及びコントローラーを備える装置が開示されている。任意の数のトラックは経路に沿って配置されるように構成される。支持構造体は任意の数のトラック上を移動するように構成される。X線システムは、移動可能に支持構造体に接続されており、X線システムは、複数のX線を検査対象品に向けて送るように、また支持構造体を通して軸に沿って移動するように構成されている。接続システムは、検査対象品の表面に適用される真空を使って、任意の数のトラックを検査対象品に着脱可能に接続する。コントローラーは、検査対象品の表面に適用される真空の量に基づいて、X線システムを起動したり停止したりするように構成される。真空の量の一例は、図3の真空346の量352である。
次の図3においては、X線検査環境のブロック図が有利な実施形態に従って示されている。X線検査環境300は、有利な実施形態で実装されうる環境の一例である。
この有利な実施形態において、X線検査環境300は、X線検査ツール302と検査対象品304を含んでいる。X線検査ツール302は、これらの実施例において、検査対象品304の表面303の不整合を検査する。
X線検査ツール302は、任意の数のトラック306、支持構造体308、X線システム310、接続システム312、コントローラー314、データ処理システム316、他に適切な構成部品を含む。X線システム310は複数のX線320を生成するシステムである。この有利な実施形態において、X線システム310はX線チューブ324とX線検出器326を含む。
X線検査ツール302が作動中は、X線システム310は複数のX線320を表面303に向けて生成する。X線システム310は次に、複数のX線320の部分322を受け取る。部分322は、複数のX線320のX線が表面303からX線システム310に跳ね返ってきたものである。複数X線320のX線がX線システム310に跳ね返って来ない実施形態においては、部分322が空である。X線検査ツール302は支持構造体308に接続されている。
本明細書で使用しているように、第1の構成部品を第2の構成部品に接続する場合には、任意の追加の構成部品を使用せずに、第1の構成部品を第2の構成部品に接続してもよい。第1の構成部品はまた、一以上の構成部品によって第2の構成部品に接続されてもよい。例えば、1つの電子デバイスは、第1の電子デバイスと第2の電子デバイスとの間に任意の追加の電子デバイスなしで、第2の電子デバイスに接続することができる。場合によっては、互いに接続される2つの電子デバイスの間に別の電子デバイスが存在してもよい。
この実施例では,支持構造体308は軸328に沿って延び、任意の数のトラック306に沿って移動する構造体である。この有利な実施形態では、支持構造体308は一部材である。もちろん、支持構造体308は他の有利な実施形態において、X線システム310が移動するチャネルを有する運搬手段、又は部材であってもよい。
X線システム310は、モーターアセンブリ330によって、支持構造体308の軸328に沿って移動する。モーターアセンブリ330は、X線システム310が任意の数のトラック306にある一つのトラックに到達するまでX線システム310を軸328に沿って移動させる。任意の数のトラック306に2つのトラックが含まれる実施形態では、モーターアセンブリ330はX線システム310を、この二つのトラックの間で軸328に沿って移動させる。
モーターアセンブリ330はX線システム310を軸328に沿った位置に移動させる。それぞれの位置において、X線システム310は、複数のX線320を生成し、部分322を受け取る。X線システム310は部分322を利用して、軸328に沿ったそれぞれの位置に対して、データ336を生成する。
図例によると、データ336は、部分322に含まれるX線の量と、X線システム310の位置データを含む。例えば、データ336には、X線量の値と、軸328と任意の数のトラック306に沿ったX線システム310の位置を示す座標が含まれる。一実施形態において、一組みの座標は一対の座標(x、y)として表示されている。
任意の数のトラック306は、複数のX線320を生成しながら移動するX線システム310を誘導するガイドである。任意の数のトラック306は、経路318を形成するためにオペレータによって設定される。任意の数のトラック306のそれぞれのトラックは、セグメント333を含む。例えば、トラックのセグメント332は真っ直ぐな線を形成しうる。一方で、セグメント334は円弧を形成しうる。セグメント332とセグメント334は、オペレータにより連結器を使用して、セグメント332とセグメント334の内部で接合されうる。同様に、セグメント333の他のセグメントを加えても良い。セグメントは接合されると、X線システム310が移動できる単一のトラックを形成する。
一つの有利な実施形態では、モーターアセンブリ335が、経路318に沿ってX線システム310を任意の数のトラック306上で移動させる。X線システム310は、任意の数のトラック306の一端部において、複数のX線320の生成を開始する。モーターアセンブリ330は、支持構造体308の軸328に沿った位置にX線システム310を移動させる。データ336はそれぞれの位置で生成される。
X線システム310により、軸328に沿ったそれぞれの位置に対して複数X線320が生成されると、モーターアセンブリ335は経路318に沿ったほかの位置に支持構造体308を移動させる。それによって、任意の数のトラック306上の318経路に沿ったそれぞれの位置において、X線システム310は軸328に沿ったそれぞれの位置のデータ336を生成する。
実施例において、経路318は表面303の形態をとる。例えば、表面303が機体のカーブしたセクションとすると、経路318はカーブの形をたどるので、X線システム310が経路318に沿って任意の数のトラック306で移動するときのX線システム310と表面303の間の距離はあまり変わらない。
任意の数のトラック306は接続システム312によって検査対象品304に取り外し可能に接続されている。この有利な実施形態では、接続システム312は、複数の吸着カップ338と真空システム340を備える。少なくともいくつかの接続システム312の構成部品は、表面303と接触する任意の数のトラック306のそれぞれのトラックの側面に関連づけられる。例えば、複数の吸着カップ338は、表面303と接触する任意の数のトラック306のそれぞれのトラックの側面と関連づけられる。
第1の構成部品は、第2の構成部品に対して、固定、結合、締結、及び/又は他の何らかの方法で接続されることにより、第2の構成部品に関連付けられるとみなされる。第1構成部品は、第3構成部品を使用することによって、第2構成部品に接続されてもよい。第1構成部品は、第2構成部品の一部及び/又は延長として形成されることにより、第2構成部品と関連付けられるとみなすことができる。
オペレータは、複数の吸着カップ338を、表面303と接触するように移動させることができる。複数の吸着カップ338は、複数の吸着カップ338が表面303と接触すると、複数の吸着カップ338と表面303の間に挟まれている空気が、複数の吸着カップ338の外の環境に逃げることを防ぐ形をした物質である。
その後、オペレータは真空システム340を起動する。真空システム340は、容積344から実質的にすべての空気342を除去する。容積344は、複数の吸着カップ338と表面303の間にできた空間の領域である。容積344から実質的にすべての空気342を除去することによって、真空346が生成される。真空346とは、空気が実質的に全くない領域の容積である。
真空システム340は、X線システム310が複数のX線320を生成している間、容積344の中に真空346を生成し続ける。複数の吸着カップ338の吸着カップ348が検査対象品304への所望レベルの接続を維持できない場合、オペレータの安全確保のためにX線システム310が停止する。言い換えれば、X線システム310の作業が変わり、複数のX線320の生成が停止するということである。
ある有利な実施形態では、複数の吸着カップ338により、任意の数のスイッチ350を使ってX線システム310の複数のX線320の生成が停止される。そのような有利な実施形態では、任意の数のスイッチ350は、真空346の量352が所定量を超えると任意の数のスイッチ350が起動するように表面303と接触する複数の吸着カップ338の側面に関連づけられている。
例えば、実質的にすべての空気342が容積344から除去されると、任意の数のスイッチ350が起動する。従って、吸着カップ348が検査対象品304への所望レベルの接続を維持できない場合、表面303による圧力がスイッチ354にかからないために、吸着カップ348のスイッチ354が作動停止する。ある有利な実施形態では、真空346の量352が基準の量356未満に減少したときに、任意の数のスイッチ350が作動停止する。
スイッチ354が作動停止したときは、スイッチ354が停止したという信号がコントローラー314に送られる。このような例では、任意の数のスイッチ350は、スイッチ354が作動停止した場合に直列回路が開くように、直列回路でコントローラー314に接続されている。そのため、コントローラー314は回路が開いており、X線システム310の作動を停止させるべきであると認識できる。コントローラー314は、吸着カップ348が再接続されるか、オペレータによって別の処置が行われるまでX線システム310への電力供給を解除しX線システムの作動を停止する。例えば、オペレータはコントローラー314のスイッチを入れて、コントローラー314によってX線システム310を再起動させることができる。
他の有利な実施形態では、任意の数のスイッチ350は存在しない。そのような有利な実施形態では、圧力センサ358がそれぞれの複数の吸着カップ338に配置されている。オペレータがX線システム310を起動すると、圧力センサ358を使用して容積344の気圧360が継続的に認識される。気圧360が圧力閾値362を下回った場合、接続システム312は回路364を開放する。つまり、気圧360は圧力閾値362未満に減少することもあり、そのような場合には表面303への所望レベルの接続が維持できない。そのため、コントローラー314は回路364が開放されたことを認識し、X線システム310への電力供給を解除することにより、X線システム310の停止させる。
コントローラー314は通知システム366も含む。通知システム366は、X線システム310が複数のX線320を生成しているという通知368を、人間のオペレータに発信する。この有利な実施形態では、通知368はライト370も含む。もちろん、他の有利な実施形態において、通知368は音声警告、振動警告、視覚メッセージ、又は他の適当な通知を含むことが有る。
X線システム310がデータ336を生成すると、データ336はデータ処理システム316に送られる。データ336は有線、又は無線接続で送られる。データ処理システム316はデータ336を受信する。図例においては、データ336には、X線システム310の位置データ、その位置でX線システム310に受信される部分322の量、また他の適切な種類のデータが含まれる。
データ処理システム316は、データ336を使用して画像データ372を生成する。画像データ372は、X線ライトで見られるように表面303の2次元画像である。画像データ372の一例は図8のスクリーンショット800に示されている。
データ処理システム316は、図4にあるディスプレイ414のようなディスプレイを用いて画像データ372を表示する。データ処理システム316はまた、画像データ374を画像データ372と共に表示することもある。画像データ374は可視光において示されているように検査対象品304のデジタル画像である。画像データ374はオペレータが使うデジタル画像システムによって生成されうる。もちろん、画像データ374はまた、X線検査ツール302のデジタル画像システム構成部品によっても生成されうる。
ある有利な実施形態では、画像データ372は、画像データ374と同時だがディスプレイの異なった場所に表示される。他の有利な実施形態では、データ処理システム316はオーバーレイ376を表示する。オーバーレイ376は、検査対象品304の位置とサイズが画像データ372と374の両方において同じになるように、画像データ372が画像データ374の上に半透明に提示された表示である。そのため、オペレータは、検査対象品304の同じ場所の可視光画像とX線画像を見ることができる。
図3に表示されているX線検査環境300にあるX線検査ツール302の説明図は、異なる特徴が実施されうる方法を物理的又は構造的に限定するものではない。図示された構成部品に加えて又は代えて、他の構成部品を使用することができる。一部の有利な実施形態では幾つかの構成部品は不要である。また、ブロックは、いくつかの機能的な構成部品を示すために表示されている。種々の有利な実施形態において実施されるとき、これらのブロックの一以上は異なるブロックに合成及び/又は分割することができる。
例えば、いくつかの有利な実施形態では、任意の数のトラック306は単一のトラックを含む。そのような有利な実施形態では、モーターアセンブリ380がなく、X線システム310は軸328に沿って移動しない。その代り、X線システム310は、経路318に沿った任意の数のトラック306の位置に対してのみデータ336を生成する。
いくつかの他の有利な実施形態では、複数の吸着カップ338は、任意の数のスイッチ350と圧力センサ358の両方を備える。そのような有利な実施形態では、回路364は、気圧360が圧力閾値362を下回った場合か、又は真空346の量352が閾値量356を下回った場合に開放される。
加えて、データ処理システム316は、データ処理システムとしてではなく、回路としてまたプログラム可能な論理アレイとして実施されてもよい。他の有利な実施形態では、コントローラー314はデータ処理システム316のハードウェア、及び又はソフトウェア構成部品である。
次の図4においては、有利な実施形態に従って図解されたデータ処理システムが示されている。データ処理システム400は、図3に示すデータ処理システム316の実施例である。この実施例では、データ処理システム400は通信ファブリック402を含み、この通信ファブリック402はプロセッサユニット404、メモリ406、固定記憶域408、通信ユニット410、入出力(I/O)ユニット412、及びディスプレイ414の間の通信を行う。
プロセッサユニット404は、メモリ406に読み込まれうるソフトウェアに対する命令を実行するように働く。プロセッサユニット404は、特定の実行形態に応じて、任意の数のプロセッサ、マルチプロセッサコア、又は他の形式のプロセッサであってもよい。本明細書でアイテムに言及して「任意の数の」というとき、一以上のアイテムを意味する。さらに、プロセッサユニット404は、単一チップ上にメインプロセッサと二次プロセッサとが共存する任意の数の異種プロセッサシステムを使用して実施されてもよい。別の例示された実施例では、プロセッサユニット404は同一形式の複数のプロセッサを含む対称型マルチプロセッサシステムであってもよい。
メモリ406及び固定記憶域408は、記憶デバイス416の例である。記憶デバイスは、例えば、限定しないが、データ、機能的な形態のプログラムコード、及び/又は他の適切な情報などの情報を、一時的に及び/又は永続的に保存することができる任意の個数のハードウェアである。記憶デバイス416は、これらの実施例ではコンピュータで読取可能な記憶デバイスと呼ばれることもある。これらの実施例では、メモリ406は例えば、ランダムアクセスメモリ又は他の何らかの適切な揮発性又は不揮発性の記憶デバイスであってもよい。固定記憶域408は具体的な実装に応じて様々な形態をとりうる。
例えば、固定記憶域408は、一以上の構成部品又は装置を含みうる。例えば、固定記憶域408は、ハードドライブ、フラッシュメモリ、書換え型光ディスク、書換え可能磁気テープ、又はそれらの何らかの組み合わせである。固定記憶域408によって使用される媒体は着脱式であってもよい。例えば、着脱式ハードドライブは固定記憶域408に使用することができる。
通信ユニット410はこれらの例では、他のデータ処理システム又は装置との通信を行う。これらの例では、通信ユニット410はネットワークインターフェースカードである。通信ユニット410は、物理的及び無線の通信リンクのいずれか一方又は両方を使用することによって、通信を提供することができる。
入出力ユニット412により、データ処理システム400に接続可能な他の装置によるデータの入力及び出力が可能になる。例えば、入出力ユニット412は、キーボード、マウス、及び/又は他のなんらかの適切な入力デバイスを介してユーザ入力への接続を提供することができる。さらに、入出力ユニット412は出力をプリンタに送ることができる。ディスプレイ414はユーザに情報を表示するメカニズムを提供する。
オペレーションシステム、アプリケーション、及び/又はプログラムについての命令は、記憶デバイス416に配置されており、通信ファブリック402を介してプロセッサ装置404と通信している。これらの実施例では、命令は、固定記憶域408の機能形態である。これらの命令は、プロセッサユニット404によって実行するため、メモリ406に読み込まれうる。種々の実施形態のプロセスは、メモリ406などのメモリに配置されうる命令を実装したコンピュータを使用して、プロセッサユニット404によって実施することができる。
これらの命令は、プログラムコード、コンピュータで使用可能なプログラムコード、又はコンピュータで読取可能なプログラムコードと呼ばれ、プロセッサ装置404内のプロセッサによって読取及び実行することができる。異なる実施形態のプログラムコードは、メモリ406又は固定記憶域408など、異なる物理的な又はコンピュータ可読記憶媒体上に具現化しうる。
プログラムコード418は、選択的に着脱可能でコンピュータ可読記憶媒体420上に機能的な形態で配置され、プロセッサ装置404での実行用のデータ処理システム400に読込み又は転送することができる。プログラムコード418及びコンピュータ可読媒体420は、これらの実施例ではコンピュータプログラム製品422を形成する。1つの実施例では、コンピュータ可読媒体420は、コンピュータで読取可能な記憶媒体424又はコンピュータで読取可能な信号媒体426であってもよい。コンピュータ可読記憶媒体424は、例えば、固定記憶域408の一部であるハードディスクなどのように、記憶デバイス上に転送するための固定記憶域408の一部であるドライブ又は他のデバイスに挿入又は配置される光ディスク又は磁気ディスクなどを含みうる。また、コンピュータ可読記憶媒体424は、データ処理システム400に接続されているハードドライブ、サムドライブ、又はフラッシュメモリなどの固定記憶域の形態をとることができる。場合によっては、コンピュータ可読記憶媒体424は、データ処理システム400から着脱式でなくてもよい。これらの実施例では、コンピュータ可読記憶媒体424は非一時的なコンピュータ可読記憶媒体である。
代替的に、プログラムコード418はコンピュータ可読信号媒体426を用いてデータ処理システム400に転送可能である。コンピュータ可読信号媒体426は、例えば、プログラムコード418を含む伝播データ信号である。例えば、コンピュータ可読信号媒体426は、電磁信号、光信号、及び/又は他の任意の適切な形式の信号である。これらの信号は、無線通信リンク、光ファイバケーブル、同軸ケーブル、有線、及び/又は他の任意の適切な形式の通信リンクなどの通信リンクによって伝送される。すなわち、通信リンク及び/又は接続は、実施例によると物理的なもの又は無線によるものでありうる。
幾つかの有利な実施形態では、プログラムコード418は、データ処理システム400内で使用するため、コンピュータ可読信号媒体426を通して他のデバイス又はデータ処理システムから、ネットワークを介して固定記憶域408へダウンロードすることができる。例えば、サーバーデータ処理システムのコンピュータ可読記憶媒体に保存されたプログラムコードは、ネットワークを介してサーバーからデータ処理システム400にダウンロードすることができる。プログラムコード418を提供するデータ処理システムは、サーバーコンピュータ、クライアントコンピュータ、又はプログラムコード418を保存及び転送することができる他のデバイスであってもよい。
データ処理システム400の例示されている種々の構成要素は、種々の実施形態の実行において、構造上の制限を提示するものとしてみられるべきではない。種々の有利な実施形態は、データ処理システム400の図解されている構成部品に対して追加的又は代替的な構成部品を含むデータ処理システム内に実装することができる。図4に示した他の構成部品は、例示的な実施例と異なることがある。種々の実施形態は、プログラムコードを実行できる任意のハードウェア装置又はシステムを用いて実施することができる。一実施例として、データ処理システムは、無機構成部品と一体化した有機構成部品を含むことができる、及び/又は全体的に人間を除く有機構成部品が含まれえる。例えば、記憶デバイスは、有機半導体で構成されている。
別の例示的な実施例では、プロセッサユニット404は、特定の用途のために製造又は構成された回路を有するハードウェア装置の形態をとってもよい。この種のハードウェアは、工程を実行するように構成された記憶デバイスからメモリにプログラムコードをローディングする必要なく、工程を実施することができる。
例えば、プロセッサユニット404がハードウェアユニットの形態をとる場合、プロセッサユニット404は回路システム、特定用途向け集積回路(ASIC)、プログラム可能論理デバイス、又は任意の数の工程を実施するために構成された他の適切な形式のハードウェアであってもよい。プログラム可能論理デバイスにより、デバイスは任意の数の工程を実施するように構成されている。このデバイスはその後再構成する、又は任意の数の工程を実施するために永続的に構成することができる。プログラム可能論理デバイスの例としては、たとえば、プログラム可能論理アレイ、プログラム可能アレイ論理、フィールドプログラム可能論理アレイ、フィールドプログラム可能ゲートアレイ、及び他の適するハードウェアデバイスが含まれる。この形式の実装により、異なる実施形態のプロセスはハードウェア装置に実装されるため、プログラムコード418は除外されうる。
さらに別の実施例では、プロセッサユニット404は、コンピュータ及びハードウェア装置の中に見られるプロセッサの組み合わせを使用して実装可能である。プロセッサユニット404は、プログラムコード418を実行するように構成されている任意の数のハードウェアユニット及び任意の数のプロセッサを有していてもよい。ここに描かれている実施例では、プロセスの一部は任意の数のハードウェアユニットで実行することが可能であるが、一方、他のプロセスは任意の数のプロセッサで実行可能である。
別の実施例として、データ処理システム400の記憶デバイスは、データを保存できる任意のハードウェア装置である。メモリ406、固定記憶域408、及びコンピュータ可読記憶媒体420は、有形形態の記憶デバイスの例である。
別の実施例では、バスシステムは、通信ファブリック402を実施するために使用することができ、且つ、システムバス又は入出力バスといった一以上のバスを含むことができる。言うまでもなく、バスシステムは、バスシステムに取り付けられた種々の構成部品又は装置の間でのデータ伝送を行う任意の適する種類のアーキテクチャを使用して実施できる。加えて、通信ユニットは、モデム又はネットワークアダプタといったデータの送受信に使用される一以上のデバイスを含むことができる。さらに、メモリは例えば、通信ファブリック402に備わっている場合があるインターフェース及びメモリ制御装置ハブにみられるような、メモリ406又はキャッシュであってもよい。
データ処理システム400は、X線システムからのデータを受信したり保存したりするために、種々の有利な実施形態内で使うことができる。例えば、データ処理システム400は、通信ユニットの第3ユーザ410を使ってデータを受信できる。その後、データ処理システム400は、任意の記憶デバイス416を使ってデータを記憶する。X線システムから受信したデータは、表面の画像データを生成するために使われるデータである。例えば、受信したデータは、任意の量の受信したX線、及び、又はX線システムの位置データが含まれている。
ここで図5を参照すると、有利な実施形態にしたがって、航空機の図が示される。航空機500は、図2の航空機200の一実装形態の一例である。
この実施例によると、航空機500は、不整合の理由で検査中である。具体的に説明すると、航空機500のセクション501は、X線検査ツール502を使ってその不整合を検査中である。X線検査ツール502は、図3のX線検査ツール302の実装の一例を示したものである。
データ処理システム504はデータ処理システム316の実装の一例を示したものである。データ処理システム504はX線検査ツール502からデータを受信し、X線検査ツール502から受信したデータを使って画像データを生成する。
次の図6においては、有利な実施形態に基づいてX線検査ツールの図が示されている。X線検査ツール600は、図5にあるようにX線検査ツール502が拡大された図である。
X線検査ツール600は、X線システム602を含む。X線システム602は、図3のX線システム310の一実装態様の一例である。これらの例が示すように、X線システムは後方散乱X線システムである。当然ながら、他の実施例では、他の適切なタイプのX線システムが使用されうる。この有利な実施形態では、X線システム602にはX線チューブ607とX線検出器613が含まれる。これらの実例から、X線検出器613は、固体検出器である。しかしながら、他の実施例では、これらのX線検出器613は、光電子倍増管検出器、又は他の適切なタイプの検出器でありうる。
X線システム602は支持システム604によってサポートされている。支持システム604は有利な実施形態の一部である。X線システム602は、モーターアセンブリ605の方向603に支持システム604に沿って移動する。モーターアセンブリ605は、図3にあるように、モーターアセンブリ330の一実装態様の一例である。この有利な実施形態において、モーターアセンブリ605はX線システム602に取り付けられているベルト、またベルトを方向603に動かすモーターを含む。
支持システム604はまた、この有利な実施形態にある被駆動車輪608を含む。被駆動車輪608は、図3にあるようなモーターアセンブリ335のモーターアセンブリの構成部品である。被駆動車輪608は、X線検査ツール600を方向609にトラック606に沿って移動させる。
トラック606は図3にあるように任意の数のトラック306の一実装態様の一例である。トラック606は多数のセグメントから成り立っている。この有利な実施形態において、セグメント611はトラック606に付け加えられたものである。セグメント611は、セグメント611がトラック606の方角に向かって方向612に移動すると、セグメント611がトラック606と関連するようになるメカニズムを含む。
接続システム610は、図3にある接続システム312の一実装態様の一例である。この有利な実施形態では、接続システム610は吸着カップも含んでいる。接続システム610は、図5にある航空機500のセクション501のような検査対象品に着脱可能に取り付けられる。
ライト614は、図3のライト370の一実装態様の一例である。ライト614は、X線システム602が表示されている図例のようにX線を生成するときに光る。ライト614は、X線システム602が作動中であることをオペレータまたは他の労働者へ知らせる計器である。言うまでもなく、他の有利な実施形態において、他の計器が存在してもよい。例えば、音声警告器が備えられてもよい。
図7においては、有利な実施形態に基づいて、接続システムの図が表示されている。接続システム700は、図3にある接続システム312の一実装態様の一例である。
吸着カップ702は、図6にあるトラック606のようなトラックを表面703に接続する。吸着カップ702は、容積705の外側から容積705に流れる空気の動きが減少するように形作られている。容積705は、図3にある容積344の一実装態様の一例である。
吸着カップ702を表面703に接続するために真空システムが起動される。真空システムは、真空ライン704を通して容積705から空気を除去する。容積705から空気が除去されると同時に、容積705の中で増加した気圧が吸着カップ702を表面703の方に圧迫する。それによってスイッチ706が作動する。
スイッチ706が作動すると、X線システムがコントローラーによって起動される。吸着カップ702が表面703から外れたり、又は外れやすい状態になった場合、容積705の気圧が下がるため、スイッチ706が作動停止になる。スイッチ706が作動停止になったら、コントローラーがX線システムの電源をオフにする。
図8を見ると、有利な実施形態に基づいて、画像データのスクリーンショットの図解が示されている。スクリーンショット800は、図3にあるデータ処理システム316、又は図4にあるディスプレイ414のようなデータ処理システムによって生成されうる。
スクリーンショット800は画像データ802と画像データ804を表示する。画像データ802は、検査対象品の可視光デジタル画像を表す。画像データ804は、検査対象品のX線デジタル画像を表す。このために、オペレータは二つの画像を同時に検査できる。同様に、画像データ802と804はオーバーレイとして提示される。言い換えれば、画像データ804は、画像データ802及び804における検査対象品の位置、サイズ、配置が実質的に同じになるように、画像データ802の上に半透明に提示される。
図9においては、有利な実施形態に基づいて、検査対象品の表面を検査するプロセスを描いたフロー図が提示されている。プロセスは、X線検査環境300のX線検査ツール302によって行われる。
このプロセスは、経路に沿って任意の数のトラックを配置することによって開始される(工程902)。任意の数のトラックは任意の数のトラック306であり、経路は図3にあるX線検査ツール302の経路318である。次に、プロセスは、任意の数のトラックを検査対象品に着脱可能に接続するために、検査対象品の表面に真空を適用する。(工程904)真空は、図3にある接続システム312の真空346であってよい。真空は、複数の吸着カップと検査対象品の表面との間の空気が実質的になくなるように適用される。真空により、複数の吸着カップが表面からはずれたり、ずれたりするような動きが妨げられる。
次に、任意の数のトラック上で支持構造体を移動させる。(工程906)。支持構造体は、図3にあるX線検査ツール302の支持構造体308でありうる。一つの有利な実施形態において、支持構造体は、モーターアセンブリによって任意の数のトラック沿いを移動する部材である。モーターアセンブリは任意の数のトラック沿いを移動する車輪でできていてもよい。
次にプロセスは、支持構造体に接続されているX線システムを使用して、検査対象品に向けて複数のX線を送る(工程908)。検査対象品は、X線検査環境300の検査対象品304であり、複数のX線はX線システム310の複数のX線320であり、X線システムは、図3にあるX線検査ツール302のX線システム310である。上記例では、X線システムは後方散乱X線システムである。当然ながら、他の実施例において、他の適切なタイプのX線システムが使われることもある。複数のX線の一部は、X線システムのX線検出器によって受信される。複数のX線の一部には、検査対象品から反射して戻ったX線を含む。
その後、プロセスは、X線システムを支持構造体を通して軸に沿って移動させる(工程910)。軸は、図3にあるように、支持構造体308の軸328である。
最後に、プロセスはX線システムを検査対象品の表面に適用された真空の量に基づいて制御する(工程912)。真空の量は、図3にある接続システム312にある真空346の量352である。一つの有利な実施形態では、X線システムは、真空の量が真空の閾値量未満に減少すると停止する。任意の数のスイッチ、圧力センサ、又は他の適切な装置は、いつ真空の量が真空の閾値量未満に減少したかを認識する。その後、プロセスは終了する。
図10には、検査対象品の表面を検査するプロセスのフロー図のさらなる説明が、有利な実施形態に基づいて提示されている。プロセスは、X線検査環境300のX線検査ツール302によって行われる。
プロセスは、コントローラーと画像プロセッサを作動させることによって開始される(工程1002)。画像プロセッサは、いくつかの有利な実施形態においてはデータ処理システムである。その後、プロセスは、接続システムが検査対象品の表面に接続されているか、いないかを判定する(工程1004)。もしプロセスが、接続システムが検査対象品の表面に接続されていないと判断した場合は、プロセスは終了する。プロセスは、接続システムの回路の開閉を認識することによって工程1004を実施する。
プロセッサが、工程1004において検査対象品の表面に接続システムが接続されていると判定した場合、プロセスはユーザからX線システムの位置座標を受信する(工程1006)。位置座標は、一連の又は範囲(x、y)座標である。その後、プロセスはX線システムを作動させる(工程1008)。これらの例では、X線システムは後方散乱X線システムである。当然ながら、他の実施例では、他の適切なタイプのX線システムが使用される。その後プロセスは、X線システムからデータを受信し、すぐにX線画像を生成し、即時に提示する(工程1010)。
次にプロセスは、要求されている位置座標すべてに対し、データがX線システムから受信されたか否かを判定する(工程1012)。プロセスが、データがすべての要求された位置座標に対して受信されたと判定すると、プロセスは終了する。プロセスが、工程1012において、すべての要求された位置座標に対してデータが受信されなかったと判定した場合、プロセスはX線システムをスキャンされていない位置座標に移動させる(工程1014)。このプロセスはその後、工程1004に戻る。
種々の図解されている実施形態でのフロー図及びブロック図は、実装可能な装置、方法及びコンピュータプログラム製品のアーキテクチャ、機能、及び作業を示している。その際、フロー図及びブロック図の各ブロックは、コンピュータで使用可能又は読取可能なプログラムコードのモジュール、セグメント、又は部分を表わしており、特定の機能又は機能群を実装するための一以上の実行可能な命令を含んでいる。幾つかの代替的な実施では、ブロックに記載された機能又は機能群は、図の中に記載の順序を逸脱して現れることがある。例えば、場合によっては、連続して示す2つのブロックをほぼ同時に実行してもよく、又は時には含まれる機能によってはブロックを逆順に実行してもよい。
例えば、プロセスがすでにユーザから位置座標を受け取っていて、工程1014においてスキャンされていない位置座標にX線システムを移動している場合には、プロセスは工程1006を実行しない。加えて、可視光デジタルカメラが備わった有利な実施形態においては、プロセスはまた工程1008において可視光画像データも生成する。
このように、種々の有利な実施形態は、検査対象品にX線検査が行われている間のオペレータの安全性を強化し、また人件費の削減を提供する。検査対象品の表面からシステムが取れてしまった場合に、X線システムが停止されることにより、安全性が強化されている。加えて、オペレータがX線システムを再配置している間、オペレータはX線システムを一時停止しなくてもよいため、人件費が削減される。
このように、種々の有利な実施形態は、検査対象品の表面を検査する装置と方法を提供する。一つの有利な実施形態では、任意の数のトラック、支持構造体、X線システム、接続システム、コントローラーを備える装置が開示されている。任意の数のトラックは経路に沿って配置されるように構成されている。支持構造体は、任意の数のトラック上を移動するように構成されている。X線システムは、支持構造体に移動可能に接続されており、検査対象品に向けて複数のX線を送るように構成され、また支持構造体の中を軸に沿って移動するように構成されている。接続システムは、検査対象品の表面に適用される真空を使って、任意の数のトラックを検査対象品に着脱可能に接続するように構成されている。コントローラーは、検査対象品の表面に適用される真空の量に基づいて、X線システムを制御するように構成されている。
種々の有利な実施形態の説明は、例示及び説明を目的として提示されているものであり、網羅的な説明であること、又は開示された形態に実施形態を限定することを意図していない。当業者には、多くの修正例及びバリエーション例が明らかであろう。さらに、種々の有利な実施形態は、他の有利な実施形態とは異なる利点を提供することができる。選択された一以上の実施形態は、実施形態の原理、実際の用途を最もよく説明するため、及び他の当業者に対し、様々な実施形態の開示内容と、考慮される特定の用途に適した様々な修正との理解を促すために選択及び記述されている。

Claims (10)

  1. 経路(318)に沿って配置されるように構成されている任意の数のトラック(306)と、
    前記任意の数のトラック(306)上を移動するように構成されている支持構造体(308)と、
    前記支持構造体(308)に移動可能に接続され、検査対象品(304)に向かって複数のX線(320)を送るように構成されており、また前記支持構造体(308)を通して軸(328)に沿って移動するように構成されているX線システム(310)と、
    前記検査対象品の表面(303)に適用される真空(346)を使用して、前記任意の数のトラック(306)を前記検査対象品(304)に着脱可能に接続するように構成されている接続システム(312)と、
    前記検査対象品の前記表面(303)に適用される真空の量に基づいて前記X線システム(310)を起動及び停止させるように構成されているコントローラー(314)と、
    前記X線システム(310)で生成されたデータ(336)を受信するように構成されているデータ処理システム(316)と
    を備える装置。
  2. 前記接続システム(312)が、
    前記任意の数のトラック(306)を前記検査対象品(304)に着脱可能に接続するように構成されている複数の吸着カップ(338)と、
    前記複数の吸着カップ(338)と前記検査対象品(304)それぞれによって制約されている容積(344)から空気(342)を除去するように構成されている真空システム(340)と、
    前記容積(344)に位置し、前記容積(344)から実質的に全ての空気(342)が除去されたときに起動するように構成されている任意の数のスイッチ(350)と
    を備える、請求項1に記載の装置。
  3. 前記検査対象品の前記表面(303)に適用される真空の量に基づいて、前記X線システム(310)を起動及び停止させるように構成されている前記コントローラー(314)が、真空(352)の量が真空の閾値量(356)未満に減少したときに、前記X線システム(310)の前記複数のX線(320)の生成を中断させるように構成されているコントローラーからなる、請求項1に記載の装置。
  4. 前記支持構造体(308)が、前記支持構造体(308)に沿って前記X線システム(310)を移動させるように構成されているモーターアセンブリ(330)を備える、請求項1に記載の装置。
  5. 前記データ処理システム(316)が、前記データ(336)を使って、前記検査対象品(304)の画像データ(372)を生成するようにさらに構成されている、請求項1に記載の装置。
  6. 検査対象品(304)の表面(303)を検査する方法であって、
    経路(318)に沿って任意の数のトラック(318)を位置づけ(902)することと、
    前記任意の数のトラック(318)を前記検査対象品(304)に着脱可能に接続するために、前記検査対象品(304)の前記表面(303)に真空を適用(904)することと、
    前記任意の数のトラック(318)上で支持構造体(308)を移動(906)させることと、
    前記支持構造体(308)に接続されているX線システム(310)を使って、前記検査対象品(304)に向かって複数のX線(320)を送る(908)ことと、
    前記支持構造体(308)を通して軸に沿って前記X線システム(310)を移動させる(910)ことと、
    前記検査対象品(304)の前記表面に適用された真空(352)の量に基づいて、前記X線システム(310)を起動及び停止させることと
    を含む方法。
  7. 前記任意の数のトラック(318)を前記検査対象品に着脱可能に接続する,ために前記検査対象品(304)の前記表面(303)に前記真空(904)を適用するステップが、
    複数の吸着カップ(338)と前記検査対象品(304)それぞれに制約された容積(344)から空気(342)を除去することと、
    前記容積の気圧が閾値圧力(356)を上回っているか否かを判定することと、
    前記容積(344)の前記気圧(360)が前記閾値圧力(362)を上回っているという判定に応じて、回路(364)を開くことと
    を含む、請求項6に記載の方法。
  8. モーターアセンブリ(330)を使用して、前記支持構造体(318)に沿って前記X線システム(310)を移動させる(910)こと
    をさらに含む、請求項6に記載の方法。
  9. 前記X線システム(310)が前記複数のX線(320)を生成する時に、通知(368)を生成すること
    をさらに含む、請求項6に記載の方法
  10. 前記X線システム(310)から受信したデータ(336)を利用して、前記X線システム(310)の第1の画像データ(804)を生成することと、
    前記検査対象品の前記表面の前記第1の画像データ(804)と、前記検査対象品の前記表面の第2の画像データ(802)とを含むオーバーレイ(376)を提示することであって、前記第2の画像データ(802)は可視光を使用して生成される、オーバーレイ(376)を提示することと
    をさらに含む、請求項6に記載の方法。
JP2013543171A 2010-12-10 2011-10-26 X線検査ツール Active JP5856624B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12/965,159 2010-12-10
US12/965,159 US8396187B2 (en) 2010-12-10 2010-12-10 X-ray inspection tool
PCT/US2011/057892 WO2012078257A1 (en) 2010-12-10 2011-10-26 X-ray inspection tool moving on tracks fixed to an aircraft by use of suction cups

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2013545112A true JP2013545112A (ja) 2013-12-19
JP5856624B2 JP5856624B2 (ja) 2016-02-10

Family

ID=44993891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013543171A Active JP5856624B2 (ja) 2010-12-10 2011-10-26 X線検査ツール

Country Status (6)

Country Link
US (1) US8396187B2 (ja)
EP (1) EP2649435B1 (ja)
JP (1) JP5856624B2 (ja)
CN (1) CN103270407B (ja)
AU (1) AU2011338971B2 (ja)
WO (1) WO2012078257A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017040651A (ja) * 2015-08-17 2017-02-23 ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company 構造体の片側から後方散乱3次元撮像を行うためのシステム及び方法

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8503610B1 (en) 2010-11-23 2013-08-06 The Boeing Company X-ray inspection tool
US9151721B2 (en) 2011-06-20 2015-10-06 The Boeing Company Integrated backscatter X-ray system
US8761338B2 (en) 2011-06-20 2014-06-24 The Boeing Company Integrated backscatter X-ray system
US10137651B2 (en) 2011-08-11 2018-11-27 The Boeing Company Heating system for composite rework of aircraft
US10160163B2 (en) 2011-08-11 2018-12-25 The Boeing Company Heating system for composite rework of aircraft
US8588262B1 (en) 2011-09-07 2013-11-19 The Boeing Company Quantum dot detection
US8855268B1 (en) 2011-11-01 2014-10-07 The Boeing Company System for inspecting objects underwater
WO2013093749A1 (en) * 2011-12-23 2013-06-27 Koninklijke Philips Electronics N.V. Portable connector for securing portable medical devices
US9689813B2 (en) * 2015-02-27 2017-06-27 The Boeing Company Detecting gaps between fasteners and openings
US9823160B2 (en) * 2015-04-02 2017-11-21 The Boeing Company Apparatus and methods for testing suction cups mounted to a track
US10712292B2 (en) 2018-03-29 2020-07-14 The Boeing Company Backscatter x-ray inspection system for pipes
US10648931B2 (en) 2018-03-29 2020-05-12 The Boeing Company X-ray inspection system and method for pipes
CN109613031A (zh) * 2019-01-04 2019-04-12 清华大学 背散射检查系统和背散射检查方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5429009A (en) * 1993-05-20 1995-07-04 Carnegie Mellon University Robot with cruciform geometry
JPH10185842A (ja) * 1996-12-20 1998-07-14 Toshiba Fa Syst Eng Kk X線検査装置
JPH11211703A (ja) * 1998-01-21 1999-08-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 探傷装置
JP2001264271A (ja) * 2000-01-07 2001-09-26 General Electric Co <Ge> 航空機の胴体の高速ディジタル放射線写真検査
JP2002257752A (ja) * 2001-01-26 2002-09-11 General Electric Co <Ge> 局部的なデジタル式放射線探傷検査のための方法及び装置

Family Cites Families (46)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5466605A (en) 1993-03-15 1995-11-14 Arizona Board Of Regents Method for detection of chemical components
US5411890A (en) 1994-06-23 1995-05-02 Westvaco Corporation Method for measuring atmospheric corrosion
US5482890A (en) 1994-10-14 1996-01-09 National Science Council Method of fabricating quantum dot structures
US5763886A (en) 1996-08-07 1998-06-09 Northrop Grumman Corporation Two-dimensional imaging backscatter probe
US6564620B1 (en) 1998-06-29 2003-05-20 Conditions Incorporated Visually indicating corrosion sensing
US6576155B1 (en) 1998-11-10 2003-06-10 Biocrystal, Ltd. Fluorescent ink compositions comprising functionalized fluorescent nanocrystals
JP4029420B2 (ja) 1999-07-15 2008-01-09 独立行政法人科学技術振興機構 ミリ波・遠赤外光検出器
US20030068824A1 (en) 1999-12-21 2003-04-10 Gerald S. Frankel Corrosion-sensing composition and method of use
AU2001274810A1 (en) 2000-04-17 2001-10-30 Virginia Commonwealth University Defect reduction in gan and related materials
US6421418B1 (en) 2000-08-15 2002-07-16 Northrop Grumman Corporation Method and system for detecting hidden edges
GB2367826B (en) 2000-10-03 2003-07-16 Luminous Technologies Ltd Luminescent paint
US6507635B2 (en) 2001-03-30 2003-01-14 General Electric Company Method and apparatus for radiographic inspection of aircraft fuselages
US6379622B1 (en) 2001-04-11 2002-04-30 Motorola, Inc. Sensor incorporating a quantum dot as a reference
DE60144014D1 (de) 2001-07-19 2011-03-24 Max Planck Gesellschaft Chemische Sensoren aus Nanopartikel-Dendrimer-Komposit-Materialen
US7005669B1 (en) 2001-08-02 2006-02-28 Ultradots, Inc. Quantum dots, nanocomposite materials with quantum dots, devices with quantum dots, and related fabrication methods
US6710366B1 (en) 2001-08-02 2004-03-23 Ultradots, Inc. Nanocomposite materials with engineered properties
US20030160182A1 (en) 2002-02-25 2003-08-28 Emerge Interactive, Inc. Apparatus and method for detecting fecal and ingesta contamination using a hand held illumination and imaging device
US6717664B2 (en) 2002-06-14 2004-04-06 The Boeing Company System and method for inspecting a beam using micro fiber-optic technology
US7304305B2 (en) 2002-06-19 2007-12-04 The Boeing Company Difference-frequency surface spectroscopy
US7026641B2 (en) 2002-08-15 2006-04-11 Sarnoff Corporation Electrically tunable quantum dots and methods for making and using same
JP4384045B2 (ja) 2002-10-11 2009-12-16 テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン(パブル) Wcdmaシステムにおける信号対妨害比(sir)を推定するための方法及び装置
EP1592824B1 (en) 2003-01-10 2017-03-08 Henkel AG & Co. KGaA A coating composition
GB2399971B (en) 2003-01-22 2006-07-12 Proneta Ltd Imaging sensor optical system
US7002079B2 (en) 2003-08-14 2006-02-21 Electric Power Research Institute Indicators for early detection of potential failures due to water exposure of polymer-clad fiberglass
US7345596B2 (en) 2004-02-12 2008-03-18 Morton L. Wallach Smart polymeric multilayer sensors
US7306823B2 (en) 2004-09-18 2007-12-11 Nanosolar, Inc. Coated nanoparticles and quantum dots for solution-based fabrication of photovoltaic cells
US20060152706A1 (en) 2004-03-19 2006-07-13 Butland Charles L Multi-modal authentication, anti-diversion and asset management and method
US20050277710A1 (en) 2004-06-14 2005-12-15 Joyce Richard P Tagged resin, method of making a tagged resin, and articles made therefrom
US7534489B2 (en) 2004-09-24 2009-05-19 Agency For Science, Technology And Research Coated composites of magnetic material and quantum dots
US7780913B2 (en) 2005-08-26 2010-08-24 Lawrence Livermore National Security, Llc Paint for detection of corrosion and warning of chemical and radiological attack
US7528372B2 (en) 2005-10-19 2009-05-05 Csi Technology, Inc. Apparatus and method for infrared imaging with performance algorithm
US7513941B2 (en) 2005-11-14 2009-04-07 3M Innovative Properties Company Pavement marking, reflective elements, and methods of making micospheres
US7649976B2 (en) 2006-02-10 2010-01-19 The Boeing Company System and method for determining dimensions of structures/systems for designing modifications to the structures/systems
US20070194297A1 (en) 2006-02-17 2007-08-23 The Programmable Matter Corporation Quantum Dot Switching Device
US7342235B1 (en) 2006-04-27 2008-03-11 Metrosol, Inc. Contamination monitoring and control techniques for use with an optical metrology instrument
US7976726B2 (en) 2006-04-27 2011-07-12 Siluria Technologies, Inc. Prevention of quantum dot quenching on metal surfaces
US7529343B2 (en) 2006-05-04 2009-05-05 The Boeing Company System and method for improved field of view X-ray imaging using a non-stationary anode
US7508910B2 (en) 2006-05-04 2009-03-24 The Boeing Company System and methods for x-ray backscatter reverse engineering of structures
US7807265B2 (en) 2006-05-12 2010-10-05 University Of Central Florida Research Foundation, Inc. Partially passivated quantum dots, process for making, and sensors therefrom
US7535990B2 (en) 2006-12-22 2009-05-19 The Boeing Company Low profile vision system for remote x-ray inspection
US7925452B2 (en) 2007-06-15 2011-04-12 The Boeing Company Method and apparatus for nondestructive corrosion detection using quantum dots
US7599471B2 (en) 2007-10-24 2009-10-06 The Boeing Company Method and apparatus for rotating an anode in an x-ray system
US7567649B1 (en) 2008-06-25 2009-07-28 The Boeing Company Flexible detector for x-ray applications
US7955858B2 (en) 2008-12-16 2011-06-07 The Boeing Company Quantum dot-based environmental indicators
US7902524B2 (en) 2009-02-23 2011-03-08 The Boeing Company Portable corrosion detection apparatus
US8503610B1 (en) 2010-11-23 2013-08-06 The Boeing Company X-ray inspection tool

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5429009A (en) * 1993-05-20 1995-07-04 Carnegie Mellon University Robot with cruciform geometry
JPH10185842A (ja) * 1996-12-20 1998-07-14 Toshiba Fa Syst Eng Kk X線検査装置
JPH11211703A (ja) * 1998-01-21 1999-08-06 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 探傷装置
JP2001264271A (ja) * 2000-01-07 2001-09-26 General Electric Co <Ge> 航空機の胴体の高速ディジタル放射線写真検査
JP2002257752A (ja) * 2001-01-26 2002-09-11 General Electric Co <Ge> 局部的なデジタル式放射線探傷検査のための方法及び装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017040651A (ja) * 2015-08-17 2017-02-23 ザ・ボーイング・カンパニーThe Boeing Company 構造体の片側から後方散乱3次元撮像を行うためのシステム及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
AU2011338971A1 (en) 2013-03-28
AU2011338971B2 (en) 2015-03-26
US20120148026A1 (en) 2012-06-14
CN103270407A (zh) 2013-08-28
WO2012078257A1 (en) 2012-06-14
JP5856624B2 (ja) 2016-02-10
EP2649435A1 (en) 2013-10-16
CN103270407B (zh) 2016-04-13
EP2649435B1 (en) 2019-05-01
US8396187B2 (en) 2013-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5856624B2 (ja) X線検査ツール
US8930042B2 (en) Mobilized sensor network for structural health monitoring
US8812154B2 (en) Autonomous inspection and maintenance
US9234904B2 (en) Autonomous non-destructive evaluation system for aircraft structures
EP2625105B1 (en) Automated visual inspection system
US8503610B1 (en) X-ray inspection tool
CN107132277B (zh) 结构的检查
AU2013263434B2 (en) Contamination identification system
JP6931528B2 (ja) 複合材検査
JP6840526B2 (ja) 複合材検査
US8588262B1 (en) Quantum dot detection
CA2792703C (en) Non-destructive inspection apparatus having an ergonomic grip and associated method
Hamilton et al. Efficient data acquisition and reconstruction for air-coupled ultrasonic robotic NDE
JP2022055153A (ja) ささくれ傷検出システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20140903

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20150527

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20150623

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20150915

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20151117

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20151211

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5856624

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250