JP2013532817A - 標準試料容器を用いて中性子フラックスを計測する中性子活性化分析 - Google Patents
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Abstract
Description
・試料の高さの半分、即ち、中性子源と検出器が置かれた平面内における異なる位置(pi,βi)に、それぞれ1グラムの調査すべき元素が局所的に集まっており、ここで、piは、位置iの半径方向の成分であり、βiは方位角方向の成分であり、
・調査すべき元素に隣接する試料は平均的な厚さdaと平均的な密度ρaの遮蔽構造を有し、
・試料の残りの基質の平均的な密度はρqである、
との仮定の下でシミュレーションすることができる。
半径3.26cmと長さ15cmの500m3の一つの鉛円柱の質量を求める。この円柱は、容器の高さの半分の位置に有る平面内において、容器の中心から半径方向に14cmの位置に有る。計数率は、回転角θの関数として表2に纏められている。R(Eγ,θ)は、試料内の位置(pi,βi)、遮蔽構造の密度ρa及び厚さda、並びに残る試料材料の密度ρqの値に関して、14%の標準偏差でのχ二乗テストによって、テスト変数χ2の最小値を提供する。それぞれ最大値R(Eγ,θ)maxとZ(Eγ,θ)maxで正規化したR(Eγ,θ)とZ(Eγ,θ)の角度依存度の比較結果が図2に図示されている。
半径7.98cmと長さ25cmの5,000m3の一つの鉛円柱の質量を求める。この円柱は、容器の高さの半分の位置に有る平面内において、容器の中心から半径方向に14cmの位置に有る。計数率は、回転角θの関数として、表3に纏められている。正規化した計数率分布のχ二乗適合度が図3に図示されている。それ以外の設定は、例1と同じである。
半径3.26cmと長さ15cmの500m3の二つの鉛円柱の質量を求める。これらの円柱は、容器の高さの半分の位置に有る平面内において、容器の中心から半径方向に14cmの位置に有る。この平面内における二つの円柱の互いの角度位置は、45°である。それ以外の設定は、例1と同じである。計数率は、回転角θの関数として、表4に纏められている。正規化した計数率分布のχ二乗適合度が図4に図示されている。
半径3.26cmと長さ15cmの500m3の二つの鉛円柱の質量を求める。これらの円柱は、容器の高さの半分の位置に有る平面内において、容器の中心から半径方向に14cmの位置に有る。この平面内における二つの円柱は、正確に向き合っている(角度間隔180°)。それ以外の設定は、例1と同じである。計数率は、回転角θの関数として、表5に纏められている。正規化した計数率分布のχ二乗適合度が図5に図示されている。
半径7.97cmと長さ25cmの5,000m3の二つの鉛円柱の質量を求める。これらの円柱は、容器の高さの半分の位置に有る平面内において、容器の中心から半径方向に14cmの位置に有る。この平面内における二つの円柱は、正確に向き合っている(角度間隔180°)。それ以外の設定は、例1と同じである。計数率は、回転角θの関数として、表6に纏められている。正規化した計数率分布のχ二乗適合度が図6に図示されている。
半径2cmと長さ80cmの1,000m3の一つの鉛円柱と半径14cmと長さ1.62cmの1,000m3の一つの鉛円柱の総質量を求める。これらの円柱は、容器の高さの半分の位置に有る平面内において、容器の中心から半径方向に14cmの位置に有る。これらの二つの円柱間の角度間隔は、90°である。それ以外の設定は、例1と同じである。計数率は、回転角θの関数として、表7に纏められている。1点活性度(1P)と2点活性度(2P)を考慮した、正規化した計数率分布のχ二乗適合度が図7に図示されている。
容器の中心から半径方向に14cmの位置に有る半径2cmと長さ80cmの1,000m3の一つの鉛円柱と容器の中心に有る半径7.98cmと長さ25cmの5,000m3の一つの鉛円柱の総質量を求める。これらの円柱は、容器の高さの半分の位置に有る平面内において、容器の中心から半径方向に14cmの位置に有る。それ以外の設定は、例1と同じである。計数率は、回転角θの関数として表9に纏められている。1点活性度を考慮して正規化した計数率分布のχ二乗適合度が図8に図示されている。最良のχ二乗値は、8cmの平均的な半径方向の位置に関して得られた。
Claims (26)
- 大容量の試料の非破壊式元素分析方法であって、
試料に速い中性子をパルス形態で照射し、
試料から放出されるガンマ線を測定し、
試料内に含まれる一つの元素の量を、背景放射信号を除去した後の、その元素が計数率対エネルギーのグラフに生じさせる光電ピークの面積から求める、
方法において、
試料の場所に関する中性子フラックスを計測するために、組成が既知である、試料の部分領域から放出されるガンマ線を求めることを特徴とする方法。 - 当該の部分領域として、試料の金属製の被覆部を選定することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 試料を軸の周りに回転させて、その回転角に応じたガンマ線を測定することを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。
- 当該の回転角に対するガンマ線の依存度から、試料内の元素の回転軸に対して相対的な半径方向の分布を求めることを特徴とする請求項3に記載の方法。
- 当該の元素の有効光電ピークを計測するために、その元素から構成される遮蔽された点光源として試料を近似することを特徴とする請求項1から4までのいずれか一つに記載の方法。
- 当該の試料の近似のために、試料内の元素の回転軸に対して相対的な半径方向の予め決定された分布を用いることを特徴とする請求項1から5までのいずれか一つに記載の方法。
- 試料内に含まれるガンマ線を遮蔽する構造を仮定して、当該の光電ピーク面積を計算し、その仮定の有効性の尺度として、前記の面積と測定結果から得られた面積との比較結果を求めることを特徴とする請求項1から6までのいずれか一つに記載の方法。
- 当該の計算した光電ピーク面積と測定結果から得られた光電ピーク面積との間の偏差のχ二乗テストによって、当該の仮定の有効性を求めることを特徴とする請求項7に記載の方法。
- 試料内に含まれるガンマ線を遮蔽する構造の作用に関するパラメータ設定式に基づき、当該の光電ピーク面積を計算し、そのパラメータを変化させることによって、特に、χ二乗法に基づき、前記の面積と測定結果から得られた面積との偏差を最小化することを特徴とする請求項1から8までのいずれか一つに記載の方法。
- 当該のガンマ線を遮蔽する構造のパラメータの限定又は決定のために、事前に実施した定性的な元素分析からの知見を用いることを特徴とする請求項9に記載の方法。
- 当該の仮定又はパラメータ設定式において、試料内の調査すべき元素の異なるガンマ線によって生じる、光電ピーク面積の期待される比率を考慮することを特徴とする請求項7から10までのいずれか一つに記載の方法。
- 試料を回転させて、試料内に局所的に集まっている元素の位置に関する仮定に基づき、試料から放出されるガンマ線の角度依存度を計算することと、
前記の仮定の有効性の尺度として、前記の角度依存度と測定結果から得られた角度依存度との比較結果を求めることと、
を特徴とする請求項1から11までのいずれか一つに記載の方法。 - 計算した角度依存度と測定結果から得られた角度依存度との間の偏差のχ二乗テストによって、当該の仮定の有効性を求めることを特徴とする請求項12に記載の方法。
- 試料内の局所的に集まっている元素の位置に関するパラメータ設定式に基づき、当該の試料から放出されるガンマ線の角度依存度を計算して、そのパラメータを変化させることによって、特に、χ二乗法に基づき、前記の角度依存度と測定結果から得られた角度依存度との偏差を最小化することを特徴とする請求項1から13までのいずれか一つに記載の方法。
- 元素から成る球体が試料内の元素が局所的に集まっている位置に収容されており、その放出されるガンマ線の測定した角度依存度を表すと仮定した場合の球体の直径を計算して、
その球体の直径と、質量が既知である、元素から成る基準球体の直径との比較結果から、試料内の局所的に集まっている元素の総質量mを求める、
ことを特徴とする請求項12から14までのいずれか一つに記載の方法。 - 当該の基準球体として、その球体が試料内の元素が局所的に集まっている位置に収容されており、その測定したガンマ線の角度依存度がそこに存在する所定の幾何学的形状の元素から成る円柱と同じ角度依存度を示すと仮定した球体を選定することを特徴とする請求項15に記載の方法。
- 中性子パルスから、そのパルスの中性子の少なくとも50%が100eV〜1KeVのエネルギーに減衰する時間間隔後に、当該のガンマ線を測定することを特徴とする請求項1から16までのいずれか一つに記載の方法。
- 中性子パルスから、そのパルスの中性子の少なくとも50%が1eVのエネルギーに減衰する時間間隔後に、当該のガンマ線を測定することを特徴とする請求項1から17までのいずれか一つに記載の方法。
- 10MeV以上のエネルギーの中性子を試料に照射することを特徴とする請求項1から18までのいずれか一つに記載の方法。
- 試料を通過する中性子の少なくとも一部を試料内で反射させることを特徴とする請求項1から19までのいずれか一つに記載の方法。
- 請求項1から20までのいずれか一つに記載の方法を実施するための装置であって、
調査すべき試料を収容する試料空間と、試料に照射するためのパルス式中性子源と、試料から放出されるガンマ線の検出器とを備えた装置において、
この試料空間が、中性子を反射する材料によって取り囲まれており、その材料が、試料によって吸収されなかった中性子を試料空間内に反射できることを特徴とする装置。 - 当該の中性子を反射する材料がグラファイトであることを特徴とする請求項21に記載の装置。
- 検出器から見て高々0.6ステラジアンの立体角内に試料が入るように、当該の検出器が試料空間に対して相対的に配置されていることを特徴とする請求項21又は22に記載の装置。
- 試料のための回転テーブルが配備されていることを特徴とする請求項21から23までのいずれか一つに記載の装置。
- 当該の検出器が、試料から放出されるガンマ線のための主検出器と、主検出器を少なくとも部分的に取り囲む副検出器と、主検出器と副検出器の競合防止回路手段とを備えていることを特徴とする請求項21から24までのいずれか一つに記載の装置。
- 当該の検出器が、6Liから成る中性子遮蔽体を備えていることを特徴とする請求項21から25までのいずれか一つに記載の装置。
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