JP2013518489A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013518489A5 JP2013518489A5 JP2012550342A JP2012550342A JP2013518489A5 JP 2013518489 A5 JP2013518489 A5 JP 2013518489A5 JP 2012550342 A JP2012550342 A JP 2012550342A JP 2012550342 A JP2012550342 A JP 2012550342A JP 2013518489 A5 JP2013518489 A5 JP 2013518489A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- single photon
- photon counting
- motomeko
- counter
- circuit according
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 5
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims 2
- 239000000463 material Substances 0.000 claims 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims 1
- 230000000875 corresponding Effects 0.000 claims 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims 1
Claims (9)
- シングルフォトンカウンティングピクセル検出回路であって、前記検出回路は、
a)感光性材料層と、
b)前記感光性材料層に配置されたN×M個の光検出ダイオードのアレイであって、前記光検出ダイオードの各々は、ダイオード出力インタフェースを有するアレイと、
c)N×M個の読出ユニットセルのアレイであって、1つの読出ユニットセルは1つの光検出ダイオード用であるアレイと、
を具え、
d)前記読出ユニットセルは、
d1)前記ダイオード出力インタフェースに接続された入力インタフェースと、高利得電圧増幅手段と、前記高利得電圧増幅手段の出力に接続されたピクセルカウンタと、を具え、
d2)前記ピクセルカウンタは、第1の数のニブルカウンタに分割され、各ニブルカウンタは、個別の数のビットを有し、各ビット用にベーシックカウンタセルが設けられ、前記ベーシックカウンタセルは、カウンティングエレメントと、スイッチと、一時記憶素子と、出力段と、を具え、前記ベーシックカウンタセルはカスケード接続されており、
e)前記検出回路はサイドシフトレジスタをさらに具え、前記サイドシフトレジスタは、前記ニブルカウンタをロー方向に所定数の選択されたニブルローで読み出し、前記選択されたニブルローの一時記憶素子に記憶されたデータは、並列バス上で電流として送信され、並列バスレシーバによってデジタルレベルに変換される、
ことを特徴とするシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。 - 前記一時記憶素子は、キャパシタアレイとして実装され、
前記キャパシタアレイは、前記ピクセルカウンタの上部に物理的に配置されている、
請求項1に記載のシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。 - 所定数のピクセルのカラムは、スーパーカラムを形成するためにグループ化され、
各スーパーカラムは互いに独立しているので、読み出しは、結果として生じたスーパーカラムの数で並列に実行される、
請求項1または2に記載のシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。 - 前記バスレシーバの出力は、スーパーカラムごとに、受信するラッチ内に記憶され、スーパーカラムの読出速度に比べて速い速度でシリアル化される、
請求項1〜3のいずれか1項に記載のシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。 - 前記読出ユニットセルの前記アレイは、P型トランジスタおよびN型トランジスタを、他のトランジスタと共有されていない別個の基板上に設けるトリプルウェル設計で構成されている、
請求項1〜4のいずれか1項に記載のシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。 - 3つの基板領域は、4つの別個のパワードメインに対応し、
電荷増幅トランジスタおよび入出力ドライバは、2つの完全に別個の基板領域およびパワードメインに配置されている、
請求項5に記載のシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。 - アナログピクセル領域を横切るデジタル信号線はシールドされ、
前記デジタル信号線に対応するドライバはスターブされる、
請求項1〜6のいずれか1項に記載のシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。 - LVDS信号は、マスタークロック用に用いられる、
請求項1〜7のいずれか1項に記載のシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。 - ピクセルカウンタのリセット信号、ストア信号およびエクスポーズ信号を含むグローバル信号は、クロストークを回避するように生成され、
前記ピクセルカウンタのリセット信号、ストア信号およびエクスポーズ信号は、汎用信号として生成され、
前記リセット信号は、カラムベース上で分配され、所定数のローの後更新され、
前記ストア信号は、全ビットの内容を前記ぞれぞれの一時記憶素子にコピーするための追加の消費電力を発生させ、前記スイッチを流れる最大電流を制限するために前記スイッチにバイアスをかけ、
前記エクスポーズ信号は、比較器の次のANDゲートでのスイッチング中にVDDからグラウンドに流れる短絡回路電流による高いピーク電流を発生させ、
前記検出回路の周辺に設けた回路は、結果として生ずるイネーブル信号から、前記読出ユニットセルのP側とN側を異なるタイムウィンドウで駆動する2フェーズ信号を生成する、
請求項1〜8のいずれか1項に記載のシングルフォトンカウンティングピクセル検出回路。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP10151685A EP2348704A1 (en) | 2010-01-26 | 2010-01-26 | A single photon counting readout chip with neglibible dead time |
EP10151685.4 | 2010-01-26 | ||
PCT/EP2010/069265 WO2011091896A1 (en) | 2010-01-26 | 2010-12-09 | A single photon counting readout chip with negligible dead time |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013518489A JP2013518489A (ja) | 2013-05-20 |
JP2013518489A5 true JP2013518489A5 (ja) | 2014-01-30 |
JP5701318B2 JP5701318B2 (ja) | 2015-04-15 |
Family
ID=42199005
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012550342A Expired - Fee Related JP5701318B2 (ja) | 2010-01-26 | 2010-12-09 | 不感時間を無視できるシングルフォトンカウンティング読出回路 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8766198B2 (ja) |
EP (2) | EP2348704A1 (ja) |
JP (1) | JP5701318B2 (ja) |
AU (1) | AU2010344046B2 (ja) |
WO (1) | WO2011091896A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7438251B2 (ja) | 2015-05-19 | 2024-02-26 | マジック リープ, インコーポレイテッド | セミグローバルシャッタイメージャ |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2490441A1 (en) * | 2011-02-16 | 2012-08-22 | Paul Scherrer Institut | Single photon counting detector system having improved counter architecture |
US8680474B2 (en) * | 2012-03-02 | 2014-03-25 | Luxen Technologies, Inc. | Parallel readout integrated circuit architecture for X-ray image sensor |
US9101273B2 (en) * | 2012-06-22 | 2015-08-11 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Apparatus, detector, and method for applying a pixel by pixel bias on demand in energy discriminating computed tomography (CT) imaging |
JP6108936B2 (ja) * | 2013-04-24 | 2017-04-05 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム、撮像装置の駆動方法 |
EP2871496B1 (en) | 2013-11-12 | 2020-01-01 | Samsung Electronics Co., Ltd | Radiation detector and computed tomography apparatus using the same |
US10084983B2 (en) * | 2014-04-29 | 2018-09-25 | Fermi Research Alliance, Llc | Wafer-scale pixelated detector system |
US10098595B2 (en) * | 2015-08-06 | 2018-10-16 | Texas Instruments Incorporated | Low power photon counting system |
US10117626B2 (en) * | 2015-09-29 | 2018-11-06 | General Electric Company | Apparatus and method for pile-up correction in photon-counting detector |
CN106092339A (zh) * | 2016-06-01 | 2016-11-09 | 南京邮电大学 | 一种用于单光子探测器的模拟计数电路 |
CN110892292B (zh) | 2017-07-26 | 2023-09-22 | 深圳帧观德芯科技有限公司 | 辐射检测器和用于从该辐射检测器输出数据的方法 |
US10151845B1 (en) | 2017-08-02 | 2018-12-11 | Texas Instruments Incorporated | Configurable analog-to-digital converter and processing for photon counting |
CN108254087B (zh) * | 2017-12-28 | 2021-05-21 | 国家电网有限公司 | 一种单光子探测器系统及控制方法 |
US20210021916A1 (en) * | 2018-04-02 | 2021-01-21 | Rensselaer Polytechnic Institute | Cross-connect switch architecture |
US10890674B2 (en) | 2019-01-15 | 2021-01-12 | Texas Instruments Incorporated | Dynamic noise shaping in a photon counting system |
CN111522055B (zh) * | 2020-06-04 | 2024-09-06 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种离子信号在线探测记录系统 |
CN118158339B (zh) * | 2024-05-10 | 2024-07-30 | 中国科学技术大学先进技术研究院 | 像素芯片的数据采集方法、系统、设备、介质及产品 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5475225A (en) * | 1989-03-17 | 1995-12-12 | Advanced Scientific Concepts Inc. | Autoradiographic digital imager |
US5665959A (en) * | 1995-01-13 | 1997-09-09 | The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Adminstration | Solid-state image sensor with focal-plane digital photon-counting pixel array |
US6121622A (en) * | 1995-07-14 | 2000-09-19 | Yeda Research And Development Co., Ltd. | Imager or particle detector and method of manufacturing the same |
US6362484B1 (en) * | 1995-07-14 | 2002-03-26 | Imec Vzw | Imager or particle or radiation detector and method of manufacturing the same |
GB2318411B (en) * | 1996-10-15 | 1999-03-10 | Simage Oy | Imaging device for imaging radiation |
US6362482B1 (en) * | 1997-09-16 | 2002-03-26 | Advanced Scientific Concepts, Inc. | High data rate smart sensor technology |
GB2332585B (en) * | 1997-12-18 | 2000-09-27 | Simage Oy | Device for imaging radiation |
US6552745B1 (en) * | 1998-04-08 | 2003-04-22 | Agilent Technologies, Inc. | CMOS active pixel with memory for imaging sensors |
US6154165A (en) * | 1998-09-16 | 2000-11-28 | Lucent Technologies Inc. | Variable clock rate, variable bit-depth analog-to-digital converter |
WO2004064168A1 (en) | 2003-01-10 | 2004-07-29 | Paul Scherrer Institut | Photon counting imaging device |
US7634061B1 (en) * | 2004-03-26 | 2009-12-15 | Nova R & D, Inc. | High resolution imaging system |
JP5345383B2 (ja) * | 2005-04-22 | 2013-11-20 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ | 検出器画素、放射線検出器および方法、陽電子放出断層撮影システム、撮像検出器およびその較正方法、検出器セルの無効化方法 |
US8395127B1 (en) * | 2005-04-22 | 2013-03-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Digital silicon photomultiplier for TOF PET |
JP2010500597A (ja) * | 2006-08-14 | 2010-01-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 計数電子装置を有する放射線検出器 |
US7829860B2 (en) * | 2006-10-31 | 2010-11-09 | Dxray, Inc. | Photon counting imaging detector system |
JP4870528B2 (ja) | 2006-11-17 | 2012-02-08 | オリンパス株式会社 | 固体撮像装置 |
EP2045816A1 (en) * | 2007-10-01 | 2009-04-08 | Paul Scherrer Institut | Fast readout method and swiched capacitor array circuitry for waveform digitizing |
JP5521721B2 (ja) * | 2009-08-28 | 2014-06-18 | ソニー株式会社 | 撮像素子およびカメラシステム |
-
2010
- 2010-01-26 EP EP10151685A patent/EP2348704A1/en not_active Withdrawn
- 2010-12-09 WO PCT/EP2010/069265 patent/WO2011091896A1/en active Application Filing
- 2010-12-09 AU AU2010344046A patent/AU2010344046B2/en not_active Ceased
- 2010-12-09 JP JP2012550342A patent/JP5701318B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-12-09 US US13/575,349 patent/US8766198B2/en active Active
- 2010-12-09 EP EP10790759.4A patent/EP2529545B1/en not_active Not-in-force
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7438251B2 (ja) | 2015-05-19 | 2024-02-26 | マジック リープ, インコーポレイテッド | セミグローバルシャッタイメージャ |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2013518489A5 (ja) | ||
EP2529545B1 (en) | A single photon counting readout chip with negligible dead time | |
US9040898B2 (en) | Device having a plurality of photosensitive microcells arranged in row or matrix form | |
JP5171158B2 (ja) | 固体撮像装置及び距離画像測定装置 | |
US20130278804A1 (en) | Repartitioned digital pixel | |
JP2012256819A5 (ja) | ||
US20100208112A1 (en) | Ramp generators and image sensors including the same | |
CN103763485A (zh) | 一种用于智能图像传感器的单光子级分辨率图像采集芯片前端电路模块 | |
JP2019165286A (ja) | 光電変換装置及び撮像システム | |
CN109587417B (zh) | 一种3d堆叠的图像传感器 | |
US11792547B2 (en) | Fast readout circuit for event-driven pixel matrix array | |
KR20090111029A (ko) | 데이터의 고속 리드아웃을 위한 이미지 센서 | |
US9876977B2 (en) | Solid-state imaging device | |
JP2012217058A (ja) | 固体撮像装置 | |
US20190221600A1 (en) | Pixel array included in image sensor and image sensor including the same | |
CN113614565A (zh) | 固体摄像装置、摄像系统及摄像方法 | |
JP2012028975A5 (ja) | ||
CN114096879A (zh) | 事件驱动的共享存储器像素 | |
US20230023815A1 (en) | Flag-based readout architecture for event-driven pixel matrix array | |
CN102572323B (zh) | 图像传感器像素电路 | |
US8513760B2 (en) | Image sensor | |
EP2151828A1 (en) | Random access memory circuit | |
WO2023203351A1 (en) | Single photon avalanche diode macropixel | |
US20230221418A1 (en) | Shared readout multiple spad event collision recovery for lidar | |
EP4445168A1 (en) | Time-of-flight circuitry and time-of-flight readout method |